DE69725770T2 - Chemischer Halbleitersensor - Google Patents

Chemischer Halbleitersensor Download PDF

Info

Publication number
DE69725770T2
DE69725770T2 DE69725770T DE69725770T DE69725770T2 DE 69725770 T2 DE69725770 T2 DE 69725770T2 DE 69725770 T DE69725770 T DE 69725770T DE 69725770 T DE69725770 T DE 69725770T DE 69725770 T2 DE69725770 T2 DE 69725770T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
heating
semiconductor
horizontal cross
section
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69725770T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69725770D1 (de
Inventor
Lionel Lescouzeres
Alain Seube
Anne-Marie Gue
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NXP USA Inc
Original Assignee
Motorola Semiconducteurs SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Motorola Semiconducteurs SA filed Critical Motorola Semiconducteurs SA
Publication of DE69725770D1 publication Critical patent/DE69725770D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69725770T2 publication Critical patent/DE69725770T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/12Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Recrystallisation Techniques (AREA)

Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Ein Chemiesensor ist eine Vorrichtung, welche die Konzentration eines gegebenen chemischen Stoffes in einer Flüssigkeit oder einem Gas überwacht. Chemiesensoren werden verwendet, um beispielsweise unsichere Pegel von giftigen oder explosiven Gasen in den Arbeits- und Heimumgebungen zu ermitteln.
  • Unter Verwendung von Hybridtechnolgie ausgebildete Chemiesensoren, wie zum Beispiel auf keramischen Trägermaterialien ausgebildete Sensoren, sind wohlbekannt. Einen Halbleiter-Chemiesensor auf einem Halbleiterträgermaterial auszubilden, ist ebenfalls bekannt. Diese Erfindung befasst sich mit Halbleiter-Chemiesensoren.
  • Typischerweise weisen Chemiesensoren eine empfindliche Schicht auf, die empfindlich für bestimmte chemische Sorten ist, die durch den Sensor zu ermitteln sind. Die Reaktion der empfindlichen Schicht auf die zu ermittelnden chemischen Sorten hat eine Veränderung in den physikalischen Eigenschaften der empfindlichen Schicht, z. B. spezifischer Widerstand oder Oberflächenpotential, zur Folge. Diese Veränderung kann durch Überwachen des Spannungssignals über die empfindliche Schicht erfasst werden. Da die Reaktion der empfindlichen Schicht durch thermodynamische Beziehungen geregelt wird, spielt Temperatur bei der Optimierung der Ausgabe der Sensorvorrichtung, z. B. Empfindlichkeit und Trennschärfe, eine wichtige Rolle.
  • Einige Sensoren enthalten eine Heizung zur Erhöhung der Temperatur der empfindlichen Schicht, um die Empfindlichkeit und Trennschärfe des Sensors zu erhöhen. Je nach der zu ermittelnden chemischen Sorte kann es sein, dass Chemiesensoren auf ziemlich hohe Temperaturen, zum Beispiel in dem Bereich von 250–650°C, erwärmt werden müssen. Bei unter Verwendung der Dünnschichttechnologie ausgebildeten Halbleiter-Chemiesensoren weist die Heizung typischerweise einen Polywiderstand auf, der mit der Dünnschichttechnologie kompatibel ist. Die Verwendung von Platindrahtheizungen ist ebenfalls bekannt, aber solche Heizungen sind mit CMOS-Prozessen inkompatibel. Die Heizung wird im Allgemeinen in der Mitte der empfindlichen Schicht angebracht, um Energieverbrauch zu reduzieren. Die Geometrie der Heizung kann die Temperaturhomogenität über die empfindliche Schicht und daher die Trennschärfe des Sensors beeinflussen.
  • Es ist bekannt, eine Poly-Heizung in einer S-Form auszubilden, wobei sich die Heizungskontakte an jedem Ende des 'S' befinden. Jedoch liefert eine solche Heizung schlechte Temperaturhomogenität über die empfindliche Schicht (ungefähr 40%). Zudem herrscht an den Heizungskontakten eine hohe Temperatur, was zu Siliziummigration in die Metallkontakte führen kann. Siliziummigration kann den Widerstand der Heizungskontakte verändern, was zur Auswirkung hat, dass eine Drift in der Grundlinie der empfindlichen Schicht verursacht wird; das heißt, der Pegel des Spannungssignals über die empfindliche Schicht, wenn keine chemischen Sorten vorhanden sind, verändert sich.
  • Ein Artikel mit dem Titel 'SI Planar Pellistor/Designs for Temperature Modulated Operation', verfasst von Robert Aigner, Markus Dietl, Rainer Katterloher, Veit Klee und veröffentlicht an dem Lehrstuhl für Technische Elektronik, Technische Universität München, beschreibt ein spiralförmiges, aus Platindraht gebildete Heizung. Diese Heizungsanordnung weist verbesserte Homogenität auf, ist aber mit CMOS-Prozessen nicht kompatibel. Des Weiteren kann die Heizung unter überhitzten Stellen an den Heizungskontakten leiden, was, wie oben erörtert, zu Siliziummigration führen kann. Wenn die Spiralform auf eine Polywiderstands-Heizung anzuwenden wäre, würde der Widerstand einer derartigen Heizung sehr hoch sein. Eine solche Heizung würde deshalb eine hohe Speisespannung benötigen, die für die meisten Anwendungen, wo eine Speisespannung von weniger als 5 Volt erforderlich ist, zu hoch sein würde.
  • Das US Patent Nr. 5,345,213 offenbart einen Chemiesensor, der eine harmonikaförmige Heizung und eine zum Wirken als Wärmesenke über die Heizung ausgebildete leitfähige Wärmeverteilungsplatte aufweist. Die leitfähige Wärmeverteilungsplatte verteilt die Wärme von der Heizung gleichmä ßig, um gute Temperaturhomogenität über die empfindliche Schicht des Sensors zu schaffen. Jedoch vermeidet diese Anordnung überhitzte Stellen nicht vollständig, und da sie zwei zusätzliche Foto- und Sedimentierungsschritte erfordert, ist sie eine komplexere Lösung.
  • Deshalb ist es wünschenswert, eine verbesserte Heizung für eine Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung bereitzustellen, in dem die obigen Probleme entschärft werden.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung stellt eine wie in den beigefügten Ansprüchen beschriebene Halbleitervorrichtung bereit.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Nun wird mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen lediglich als Beispiel eine Halbleitervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung beschrieben. Es zeigen:
  • 1 ein vergrößertes vereinfachtes Diagramm einer Draufsicht einer bekannten Heizung;
  • 2 ein vergrößertes vereinfachtes Diagramm einer Draufsicht eines Teils einer Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung;
  • 3 ein vergrößertes vereinfachtes Diagramm einer Öffnung der Heizung gemäß der vorliegenden Erfindung mit einem kreisrunden horizontalen Querschnitt;
  • 4 ein vergrößertes vereinfachtes Diagramm einer Öffnung der Heizung gemäß der vorliegenden Erfindung mit einem rhombischen horizontalen Querschnitt;
  • 5 ein vergrößertes vereinfachtes Diagramm einer Öffnung der Heizung gemäß der vorliegenden Erfindung mit einem rechteckig gestalteten horizontalen Querschnitt mit runden Ecken;
  • 6 das vergrößerte vereinfachte Diagramm eines in der X-Richtung genommenen Querschnitts des Halbleiter-Chemiesensors von 2; und
  • 7 das vergrößerte vereinfachte Diagramm eines in der Y-Richtung genommenen Querschnitts des Halbleiter-Chemiesensors von 2.
  • Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform
  • 1 zeigt eine Draufsicht der oben erwähnten bekannten S-förmigen Heizung 2, das zum Erwärmen einer empfindlichen Schicht 4 einer Chemiesensorvorrichtung verwendet wird. Die Heizung 2 umfasst einen aus Polysiliziummaterial ausgebildeten, in ein S gestalteten Heizungsbereich 3 und zwei Metallkontakte 6 und 8 an den jeweiligen Enden des S. Die empfindliche Schicht 4 ist über einen signifikanten Teil des Heizungsbereichs 3 ausgebildet.
  • Die Heizung 2 leidet unter einer Reihe von Problemen. In Anbetracht der Form des Heizungsbereichs 3 liefert die Heizung 2 eine einheitliche Temperatur über nur 40% des Bereichs der empfindlichen Schicht 4. Eine derart schlechte Temperaturhomogenität hat schlechte Sensorempfindlichkeit zur Folge. Ein weiteres Problem mit diesem Typ der Heizung 2 ist, das die Metallkontakte 6 und 8 im Gebrauch hohe Temperaturen aufweisen, was zu Siliziummigration in die Metallkontakte führen kann.
  • Die vorliegende Erfindung stellt eine Heizung zur Verfügung, die diese Probleme des Standes der Technik beseitigt oder zumindest entschärft.
  • Mit Bezug auf 2 wird nun eine Draufsicht eines Teils einer Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung 50 gemäß der vorliegenden Erfindung gezeigt. Die Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung 50 umfasst eine Heizung 20 gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zur Verwendung beim Erwärmen einer empfindlichen Schicht 22. Die Heizung 20 ist über eine Halbleiterbasis (nicht gezeigt) aus leitfähigem Material ausgebildet, das in der bevorzugten Ausführungsform Polysiliziummaterial ist. Die Heizung 20 umfasst erste 24 und zweite 26 Arme und einen Heizungsbereich 28. Der erste Arm 24 und der zweite Arm 26 erstrecken sich von dem Heizungsbereich 28 aus über die Halbleiterbasis (nicht gezeigt). Ein erster Heizungskontakt 30 ist mit dem Ende des ersten Arms 24 gekoppelt und ein zweiter Heizungskontakt 32 ist mit dem Ende des zweiten Arms 26 gekoppelt.
  • Die Heizung 20 umfasst weiterhin eine sich vertikal durch den Heizungsbereich 28 erstreckende Öffnung 34. Die empfindliche Schicht 22 ist über die Öffnung 34 und den Heizungsbereich 28 ausgebildet, und die empfindliche Schicht 22 und die Öffnung 34 sind so angeordnet, dass sich eine vertikale Achse durch das Zentrum 36 der Öffnung 34 durch das Zentrum 36 der empfindlichen Schicht 22 erstreckt. Kontakte 38 und 40 sind mit zwei einander gegenüberliegenden Enden der empfindlichen Schicht 22 gekoppelt. Das Spannungssignal über die Kontakte 38 und 40 liefert eine Anzeige des Vorhandenseins spezieller Chemikalien.
  • Die Öffnung 34 weist einen horizontalen Querschnitt auf, der um die durch das Zentrum 36 führende vertikale Achse herum eine symmetrische Form hat. Die Öffnung 34 vergrößert die Temperaturverteilung über die empfindliche Schicht 22 in alle Richtungen senkrecht zu der vertikalen Achse. Da die Öffnung 34 um die vertikale Achse herum symmetrisch ist und die Zentren 36 der Öffnung und der empfindlichen Schicht 22 übereinstimmen, ist die Temperaturverteilung über die empfindliche Schicht 22 im Wesentlichen gleichmäßig. Vorzugsweise ist das Zentrum des Heizungsbereichs 28 entlang der vertikalen Achse mit den Zentren der Öffnung 34 und der empfindlichen Schicht 22 ausgerichtet.
  • Der erste Arm 24 erstreckt sich eine erste Länge 25 in eine Richtung von dem Heizungsbereich 28 zu dem ersten Heizungskontakt 30, und der zweite Arm erstreckt sich eine zweite Länge 27 in einer zu der einen Richtung im Wesentlichen entgegengesetzten Richtung von dem Heizungsbereich 28 zu dem zweiten Heizungskontakt 32. Jede der ersten und zweiten Längen ist größer als 100 Mikron.
  • Vorzugsweise weisen die ersten 24 und zweiten 26 Arme beide rechtwinklige horizontale Querschnitte auf. Die Längen der Querschnitte der ersten 24 und zweiten 26 Arme sind die ersten bzw. zweiten Längen, und die Breiten der Querschnitte sind gleich. Da die Heizungskontakte 30 und 32 über die ersten 24 und zweiten 26 Arme mit dem Heizungsbereich 28 gekoppelt sind, wird die Temperatur an den Heizungskontakten 30 und 32 reduziert. Die Temperaturreduzierung hängt von den ersten 25 und zweiten 27 Längen der ersten 24 bzw. zweiten 26 Arme ab. In der bevorzugten Ausführungsform sind die ersten und zweiten Längen bei 200 Mikrometer die gleichen. Somit reduzieren die ersten 24 und zweiten 26 Arme die durch überhitzte Stellen und Siliziummigration verursachten Probleme.
  • Der Heizungsbereich 28 weist vorzugsweise einen rechteckig gestalteten horizontalen Querschnitt mit einer Breite gleich den Breiten der ersten und zweiten Arme auf. Ein rechteckig gestalteter Heizungsbereich 28 und rechtwinklig gestaltete erste 24 und zweite 26 Arme bedeuten, dass die Heizung 20 einen niedrigen Widerstand hat, was sicherstellt, dass eine niedrige Speisespannung (weniger als 5 Volt) zur Versorgung der Heizung 20 verwendet werden kann. Jedoch kann der Heizungsbereich 28 eine rechtwinklige Form oder irgendeine andere Form haben, die einen niedrigen Widerstand hat.
  • In 2 wird die Öffnung 34 mit einem rechteckig gestalteten horizontalen Querschnitt gezeigt. Jedoch kann der horizontale Querschnitt der Öffnung andere Formen annehmen, wie zum Beispiel jene in 3-5 gezeigten. 3 zeigt eine Öffnung 42 mit einem kreisrunden horizontalen Querschnitt. 4 zeigt eine Öffnung 44 mit einem rhombischen horizontalen Querschnitt. 5 zeigt eine Öffnung 46 mit einem rechteckig gestalteten horizontalen Querschnitt mit runden Ecken. Andere mögliche Formen für den horizontalen Querschnitt der Öffnung schließen einen hexagonal gestalteten oder einen sternförmigen oder einen zwölfeckig gestalteten Querschnitt ein.
  • Nun wird ebenfalls auf 6 Bezug genommen, welche eine vergrößerte Ansicht eines in der X-Richtung genommenen Querschnitts des Halbleiter-Chemiesensors 50 von 2 zeigt.
  • Die Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung 50 weist eine als Brücke und vorzugsweise aus Siliziummaterial ausgebil dete Halbleiterbasis 52 auf. Eine erste Isolierschicht 54 ist auf der Halbleiterbasis 52 ausgebildet. Eine Schicht aus leitfähigem Material ist auf der ersten Isolierungsschicht 54 ausgebildet. Die Schicht aus leitfähigem Material ist gemustert und geätzt, wie in der Technik wohlbekannt ist, um den Heizungsbereich 28 mit der sich zu der Isolierschicht 54 erstreckenden Öffnung 34 und die sich von dem Heizungsbereich 28 aus ausdehnenden ersten 24 und zweiten 26 Arme (in 6 nicht gezeigt) zu bilden. Eine zweite Isolierschicht 56 ist über den Heizungsbereich 28 und die erste Isolierschicht 54 ausgebildet. Eine Schicht aus empfindlichem Material ist über die zweite Isolierschicht 56 ausgebildet, welche Schicht dann gemustert und geätzt wird, um die empfindliche Schicht 22 über den Heizungsbereich 28 auszubilden. Dann wird Metall abgelagert, um die Kontakte 38, 40 an der empfindlichen Schicht 22 auszubilden.
  • In der bevorzugten Ausführungsform ist die erste Isolierschicht 54 aus Siliziumdioxid-Material ausgebildet, und die zweite Isolierschicht 56 ist aus TEOS-Material ausgebildet. Der Typ von empfindlichem Material, der zum Ausbilden der empfindlichen Schicht 22 verwendet wird, kann von Metall zu dotierten-/Verbindungs-Materialien variieren und hängt ab von den Anwendungen und dem Typ von Chemikalien, welche die Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung erfassen soll. Die empfindliche Schicht 22 kann zum Abfühlen von Hydridgasen aus einer Goldschicht oder einer Gold-Palladium-Legierungsschicht ausgebildet sein. Für eine Kohlenstoffmonoxid-Sensorvorrichtung kann das Abfühlelement 22 eine Zinnoxidschicht umfassen.
  • Nun wird ebenfalls auf 7 Bezug genommen, welche eine vergrößerte Ansicht eines in der Y-Richtung genommenen Querschnitts des Halbleiter-Chemiesensors 50 von 2 zeigt. Die ersten 24 und zweiten 26 Arme sind aus der Schicht leitfähigen Materials gemustert und geätzt, wie oben beschrieben. Die empfindliche Schicht 22 ist über den Heizungsbereich 28 und die Öffnung 34 ausgebildet. In die zweite Isolierschicht 56 werden an den Enden der ersten 24 und zweiten 26 Armen Öffnungen angebracht und Metall wird darin abgelagert, um die ersten 30 und zweiten 32 Heizungskontakte auszubilden. Die empfindliche Schicht 22 kann vor oder nach der Ausbildung der Kontaktöffnungen ausgebildet werden.
  • Folglich kann die Halbleitervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung unter Anwendung bekannter Prozessschritte und durch einfaches Modifizieren der Maske für die Heizung gefertigt werden, so dass sie ein gemäß der vorliegenden Erfindung gestaltete Heizung erzeugt. Es wird deshalb klar sein, dass die Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung ohne das Erfordernis von zusätzlichen komplexen Prozessschritten gefertigt werden kann.
  • Zusammengefasst stellt die vorliegende Erfindung eine Heizung bereit, das verbesserte Temperatureinheitlichkeit über die empfindliche Schicht schafft und das die Probleme der Polymetallmigration durch Reduzierung der Temperatur an den Heizungskontakten verringert. Der Heizungsbereich weist eine niedrige Widerstandsform auf, die vorzugsweise rechtwinklig oder rechteckig ist. Die Heizung kann unter Verwendung wohlbekannter Prozesse und ohne das Erfordernis von zusätzlichen komplexen Schritten ausgebildet werden. Die vorliegende Erfindung ist deshalb mit CMOS-Prozessen kompatibel.
  • Obwohl die bevorzugte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf eine Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung beschrieben worden ist, kann die Heizung gemäß der vorliegenden Erfindung in irgendeiner Halbleitervorrichtung verwendet werden, die eine Heizung zum Erwärmen einer Schicht benötigt.

Claims (12)

  1. Halbleitervorrichtung (50), die folgendes umfasst: eine Halbleiterbasis (52); eine über der Halbleiterbasis aus leitfähigem Material ausgebildete Heizung (20), wobei die Heizung erste (24) und zweite (26) Arme aufweist, wobei ein Heizungsbereich (28) eine erste Fläche und eine gegenüberliegende zweite Fläche umfasst, wobei sich die ersten und zweiten Arme (24, 26) von dem Heizungsbereich aus über die Halbleiterbasis (52) ausdehnen; einen mit einem Ende des ersten Armes (24) gekoppelten ersten Heizungskontakt (30); einen mit einem Ende des zweiten Armes (26) gekoppelten zweiten Heizungskontakt (32); eine zum Erwärmen durch die Heizung angeordnete Schicht (22); dadurch gekennzeichnet, dass sich eine Öffnung (34) vertikal von der ersten Fläche zu der zweiten Fläche durch den Heizungsbereich erstreckt und die Schicht über der Öffnung (34) und dem Heizungsbereich (28) ausgebildet ist, wobei sich eine vertikale Achse durch das Zentrum (36) der Öffnung (34) durch das Zentrum (36) der Schicht (22) erstreckt und wobei die Öffnung einen horizontalen Querschnitt aufweist, der um die Achse eine symmetrische Form hat.
  2. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, wobei der horizontale Querschnitt der Öffnung (34) irgendeine der folgenden Formen aufweist: ein Rechteck, ein Kreis, ein Rhombus, ein Rechteck mit runden Ecken und ein Rhombus mit runden Ecken.
  3. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei das Zentrum des Heizungsbereichs (28) mit den Zentren der Öffnung (34) und der Schicht (22) entlang der vertikalen Achse ausgerichtet ist.
  4. Halbleitervorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Heizungsbereich (28) einen rechteckig gestalteten horizontalen Querschnitt aufweist.
  5. Halbleitervorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei mindestens einer der ersten und zweiten Arme (24, 26) einen vierseitig gestalteten horizontalen Querschnitt aufweist.
  6. Halbleitervorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die ersten und zweiten Arme (24, 26) gleich gestaltete horizontale Querschnitte aufweisen.
  7. Halbleitervorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei sich der erste Arm (24) eine erste Länge in einer Richtung von dem Heizungsbereich (28) zu dem ersten Heizungskontakt (30) erstreckt und sich der zweiten Arm (26) eine zweite Länge von dem Heizungsbereich (28) in einer im Wesentlichen zu der einen Richtung entgegengesetzten Richtung zu dem zweiten Heizungskontakt (32) erstreckt, wobei jede der ersten und zweiten Längen größer als 100 Mikrometer ist.
  8. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 7, wobei die ersten und zweiten Arme (24, 26) beide einen rechtwinklig gestalteten horizontalen Querschnitt aufweisen, wobei die Länge des horizontalen Querschnitts des ersten Armes (24) die erste Länge ist und die Länge des horizontalen Querschnitts des zweiten Armes (26) die zweite Länge ist.
  9. Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung nach Anspruch 8, wobei jede der ersten und zweiten Längen 200 Mikrometer beträgt.
  10. Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, wobei die horizontalen Querschnitte der ersten und zweiten Arme (24, 26) die gleiche Breite aufweisen und der Heizungsbereich (28) eine Breite aufweist, die senkrecht zu den ersten und zweiten Längen ist und die gleiche ist, wie die Breiten der ersten und zweiten Arme (24, 26).
  11. Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Heizung (20) aus Polysiliziummaterial ausgebildet ist.
  12. Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Halbleitervorrichtung eine Halbleiter-Chemiesensorvorrichtung (50) umfasst und die Schicht (22) zum Erwärmen durch die Heizung eine empfindliche Schicht zum Erfassen spezifischer Chemikalien umfasst.
DE69725770T 1996-03-14 1997-02-19 Chemischer Halbleitersensor Expired - Lifetime DE69725770T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9603216A FR2746183B1 (fr) 1996-03-14 1996-03-14 Dispositif capteur chimique a semiconducteur et procede de formation d'un dispositif capteur chimique a semiconducteur
FR9603216 1996-03-14

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69725770D1 DE69725770D1 (de) 2003-12-04
DE69725770T2 true DE69725770T2 (de) 2004-05-13

Family

ID=9490185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69725770T Expired - Lifetime DE69725770T2 (de) 1996-03-14 1997-02-19 Chemischer Halbleitersensor

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5786608A (de)
EP (1) EP0795747B1 (de)
JP (1) JP3949771B2 (de)
KR (1) KR970067765A (de)
DE (1) DE69725770T2 (de)
FR (1) FR2746183B1 (de)
TW (1) TW359888B (de)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3553613B2 (ja) * 1996-10-10 2004-08-11 サムソン・エレクトロニクス・カンパニー・リミテッド ガスセンサのハイブリッド集積回路
DE69731604D1 (de) 1997-01-31 2004-12-23 St Microelectronics Srl Herstellungsverfahren für integrierte Halbleitervorrichtung mit einem chemoresistiven Gasmikrosensor
FR2765967B1 (fr) * 1997-07-11 1999-08-20 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'analyse a puce comprenant des electrodes a chauffage localise
EP0947245B1 (de) 1998-02-05 2004-04-07 Motorola Semiconducteurs S.A. Verfahren zur Herstellung von Metallenthaltenden Kolloidalen und Verfahren zur Herstellung von Metalloxyden enthaltenden empfindlichen Schichten für chemisches Sensorgerät
US6387724B1 (en) * 1999-02-26 2002-05-14 Dynamics Research Corporation Method of fabricating silicon-on-insulator sensor having silicon oxide sensing surface
DE10011562C2 (de) * 2000-03-09 2003-05-22 Daimler Chrysler Ag Gassensor
DE10119405A1 (de) * 2001-04-20 2002-10-24 Bosch Gmbh Robert Gassensor und Verfahren zu dessen Herstellung
EP1273908B1 (de) * 2001-07-05 2004-04-07 Microchemical Systems S.A. Chemischer Gassensor
KR100529233B1 (ko) * 2003-09-06 2006-02-24 한국전자통신연구원 센서 및 그 제조 방법
DE102004017750B4 (de) * 2004-04-06 2006-03-16 Flechsig, Gerd-Uwe, Dr. rer. nat. Analyse-Array mit heizbaren Elektroden
DE102006006347B3 (de) * 2006-02-07 2007-08-23 Universität Rostock Sensorvorrichtung für ein elektrochemisches Messgerät und Verfahren zur Durchführung elektrochemischer Messungen
US7759957B2 (en) * 2007-07-27 2010-07-20 United Microelectronics Corp. Method for fabricating a test structure
US9863901B2 (en) * 2013-12-06 2018-01-09 Robert Bosch Gmbh Semiconductor sensor having a suspended structure and method of forming a semiconductor sensor having a suspended structure
WO2017205146A1 (en) * 2016-05-27 2017-11-30 Carrier Corporation Gas detection device and method of manufacturing the same
US10094802B2 (en) 2016-06-01 2018-10-09 EXIAS Medical GmbH Heating system for a measurement cell
TWI679782B (zh) * 2017-12-19 2019-12-11 財團法人工業技術研究院 感測裝置及其製造方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5618750A (en) * 1979-07-25 1981-02-21 Ricoh Co Ltd Gas detector
CA1216330A (en) * 1983-02-07 1987-01-06 Junji Manaka Low power gas detector
US4967589A (en) * 1987-12-23 1990-11-06 Ricoh Company, Ltd. Gas detecting device
FI82774C (fi) * 1988-06-08 1991-04-10 Vaisala Oy Integrerad uppvaermbar sensor.
DE3941837C2 (de) * 1989-12-19 1994-01-13 Bosch Gmbh Robert Widerstandsmeßfühler zur Erfassung des Sauerstoffgehaltes in Gasgemischen und Verfahren zu seiner Herstellung
US5250170A (en) * 1990-03-15 1993-10-05 Ricoh Company, Ltd. Gas sensor having metal-oxide semiconductor layer
JPH04212048A (ja) * 1990-06-11 1992-08-03 Ricoh Co Ltd ガスセンサ
US5345213A (en) * 1992-10-26 1994-09-06 The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce Temperature-controlled, micromachined arrays for chemical sensor fabrication and operation
JP3452409B2 (ja) * 1994-08-10 2003-09-29 株式会社リコー マイクロブリッジヒータ

Also Published As

Publication number Publication date
DE69725770D1 (de) 2003-12-04
JP3949771B2 (ja) 2007-07-25
TW359888B (en) 1999-06-01
EP0795747A1 (de) 1997-09-17
EP0795747B1 (de) 2003-10-29
FR2746183B1 (fr) 1998-06-05
JPH10260150A (ja) 1998-09-29
KR970067765A (ko) 1997-10-13
FR2746183A1 (fr) 1997-09-19
US5786608A (en) 1998-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69725770T2 (de) Chemischer Halbleitersensor
DE69724486T2 (de) Chemischer Halbleitersensor
DE19527861B4 (de) Massenflusssensor sowie Verfahren zur Herstellung
DE69729017T2 (de) Verfahren zur Feststellung von einem chemischen Stoff und Sensor dafür
DE2407374B2 (de) Halbleiter-Widerstandselement als Temperaturfühler
DE19836547C2 (de) Bidirektionale Erfassungsvorrichtung für eine Luftströmung
DE3877795T2 (de) Stroemungssensor.
DE3724966A1 (de) Sensor
DE10146321B4 (de) Sensorbaustein mit einem Sensorelement, das von einem Heizelement umgeben ist
DE4424342C1 (de) Sensorarray
DE19753642C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Widerstands
DE19639627C2 (de) Kompensation für räumliche und zeitliche Temperaturschwankungen in einem Wärmeleitfähigkeitsdetektor
DE10245947A1 (de) Mikrogasanalysesystem mit beheizbarem Filter und Verfahren zur Gasanalyse
CH669263A5 (de) Anordnung mit einer messzelle zur messung der waermeleitfaehigkeit von gasen.
DE10001347B4 (de) Wärmeempfindlicher Durchsatzsensor
DE4439222C2 (de) Massenflußsensor mit Druckkompensation
DE19916797C2 (de) Halbleiter-Gassensor mit Gehäuse und Verfahren zur Messung von Gaskonzentrationen
DE3235062C2 (de)
DE69635160T2 (de) Vorrichtung zur vergrösserung der sensorselektivität
DE4008150A1 (de) Katalytischer gassensor
DE69112251T2 (de) Membransensor.
DE60004843T2 (de) Aus metalloxid bestehender chemischer gassensor und zugehöriges herstellungsverfahren
DE102018119212A1 (de) Sensorvorrichtung und elektronische Anordnung
DE3617770A1 (de) Thermischer durchfluss-sensor
DE19808248A1 (de) Meßvorrichtung zur Messung der Masse eines strömenden Mediums

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC., AUSTIN, TEX., US