DE69511921T2 - Thermoelektrisches Halbleitermaterial - Google Patents

Thermoelektrisches Halbleitermaterial

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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/851Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
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  • Inorganic Chemistry (AREA)
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Description

    Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein thermoelektrisches Halbleitermaterial, insbesondere ein thermoelektrisches Material, das zur Verwendung als Peltier- Kühlelement, Stromerzeugungselement oder dergleichen angepaßt ist und welches den Peltier-Effekt zeigt, bei dem unter Verwendung von elektrischer Energie ein Temperaturunterschied erzeugt wird, oder den Seebeck-Effekt zeigt, bei dem unter Verwendung eines Temperaturunterschiedes elektrische Energie erzeugt wird.
  • Beschreibung des Standes der Technik
  • Das thermoelektrische Verhalten eines derartigen thermoelektrischen Materials, das den Peltier-Effekt oder den Seebeck-Effekt zeigt, wird durch die Gütezahl Z (Dimension: K&supmin;¹) bewertet, welche durch die folgende Gleichung abgeschätzt wird. Je größer der Wert der Gütezahl Z wird, desto besser ist das thermoelektrische Verhalten.
  • Z = α²σ/K
  • worin a der Seebeck-Koeffizient (uV/K) ist, a die elektrische Leitfähigkeit ((mΩ)&supmin;¹) ist und κ die Wärmeleitfähigkeit (W/mK) ist. Um ein thermoelektrisches Material mit hoher thermoelektrischer Leistung zu erhalten, ist es deshalb notwendig, ein Material auszuwählen, das einen großen Seebeck-Koeffizienten α, eine große elektrische Leitfähigkeit σ und eine geringe Wärmeleitfähigkeit κ aufweist.
  • Allgemein ist ein Metallmaterial oder ein Halbleitermaterial als thermoelektrisches Material bekannt. Da das Wiedemann-Franz-Gesetz, welches besagt, daß das Verhältnis der elektrischen Leitfähigkeit σ zur Wärmeleitfähigkeit κ bei einer Temperatur nicht von der Art des Metalles abhängt und deshalb in jeglicher Art von Metall einen konstanten Wert aufweist, für ein Metallmaterial gilt, besteht eine geringe Chance des Erhalts eines thermoelektrischen Materials mit einer hohen thermoelektrischen Leistung durch Auswahl einer speziellen Metallart.
  • Im Gegensatz dazu gilt das oben beschriebene Gesetz nicht notwendigerweise in Halbleitermaterialien, und es ist möglich, ein spezielles Material mit einer großen elektrischen Leitfähigkeit σ und einer kleinen Wärmeleitfähigkeit κ auszuwählen. Da der Wert des Seebeck-Koeffizienten α eines Halbleütermaterials gewöhnlich das etwa Zehn- bis mehrere Hundertfache desjenigen eines Metallmaterials beträgt, besteht eine gute Chance, ein thermoelektrisches Material mit einer hohen thermoelektrischen Leistung zu erhalten. Deshalb sind verschiedene Arten von Halbleitermaterialien als thermoelektrische Materialien entwickelt worden.
  • Übergangssilicid, das für die thermoelektrische Energieerzeugung bei hoher Temperatur verwendet wird, und Chalkogenid, das als Material für Peltier-Kühlung verwendet wird, sind repräsentative thermoelektrische Halbleitermaterialien, die herkömmlich entwickelt wurden. In diesen Materialien zeigt ein Chalkogenid-Material des Bi&sub2;Te&sub3;-Systems, z. B. Bi&sub2;Te&sub3;, Sb&sub2;Te&sub3;, TbTe oder GeTe, das als thermoelektrische Kühlvorrichtung verwendet wird, gewöhnlich die beste thermoelektrische Leistung in der Nähe von Raumtemperatur und weist einen hohen Z-Wert von mehr als 10&supmin;³ K&supmin;¹ auf. Jedoch ist die thermoelektrische Leistung bei von Raumtemperatur verschiedenen Temperaturen stark verringert. Insbesondere kann dieses Chalkogenid-Material nicht über einen breiten Temperaturbereich verwendet werden, da der Z-Wert bei mehr als etwa 250ºC etwa 10&supmin;&sup5; K&supmin;¹ beträgt und bei hoher Temperatur Oxidation und Zersetzung auftritt.
  • Im allgemeinen können andere Halbleitermaterialien als das Chalkogenid-Material des Bi&sub2;Te&sub3;-Systems nur in einem sehr engen Temperaturbereich als thermoelektrisches Material verwendet werden.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung umfaßt ein thermoelektrisches Halbleitermaterial ein Doppeloxid und ein Spurenadditiv, wobei das Doppeloxid eine normale Spinell- Kristallstruktur, die durch Cdln&sub2;O&sub4; verkörpert wird, oder eine inverse Spinell-Kristallstruktur, die durch Mgln&sub2;O&sub4; verkörpert wird, aufweist und worin das Spurenadditiv 0,01-5,0 Atom-% des thermoelektrischen Halbleitermaterials beträgt, wobei das Additiv aus mindestens einem Element besteht, das aus denjenigen in der Gruppe 1a, IIa, IVa, Ib, IIIb oder IVb in der zweiten bis sechsten Periode des Periodensystems, 3d-Übergangselementen und Seltenerdelementen ausgewählt ist.
  • Das neue Material kann einen guten Z-Wert über einen breiten Temperaturbereich zeigen, z. B. im Bereich von 100 K (etwa -173ºC) bis 1000 K (etwa 727ºC), welcher nicht stark schwankt.
  • Die vorliegende Erfindung beruht auf der Überlegung, daß nicht nur die elektrische Leitfähigkeit eines Festkörpers, welche die Leistung eines Peltier-Elements definiert, sondern auch der Seebeck-Koeffizient durch das Atom, welches eine Kristallstruktureinheit des festen Materials bildet, und durch die Struktur derselben, d. h. die Bindungsentfernung zwischen Kationen, den Koordinationswinkel und die Überlappung von Elektronenorbitalen, die durch die dreidimensionale Anordnung der Sauerstoff-Liganden definiert wird, und dergleichen festgelegt wird.
  • Die Spinell-Struktur, welche als eine Rutil-Kette angesehen wird, bei der es sich um eine normale Kette handelt, die sich eine Kante eines Oktaeders parallel zu [110] teilt, welche verknüpfte tetraedrisch koordinierende Kationen aufweist, und in der freie Elektronen in das Leitfähigkeitsband übertragen werden können, welches durch das s-Orbital des zentralen Ions in einem Sauerstoff-Oktaeder gebildet wird, kann demgemäß als Wirts-Oxidkristall wirksam sein.
  • Weiter kann die Konzentration an freien Elektronen oder Löchern durch Zugabe der Spurenverunreinigung zu dem Wirts-Oxidkristall gesteuert werden. Demgemäß können die elektrische Leitfähigkeit und der Seebeck-Koeffizient des Materials gesteuert werden.
  • Beschreibung der Erfindung
  • Bei dem Spurenadditiv kann es sich beispielsweise um ein Element der Gruppe 1a, IIa, IVa, Ib, IIIb oder IVb in der zweiten bis sechsten Periode des Periodensystems, z. B. Zink (Zn), Gallium (Ga), Germanium (Ge), Zinn (Sn) oder Blei (Pb), ein 3d- Übergangselement, z. B. Eisen (Fe), Cobalt (Co) oder Nickel (Ni), oder ein Seltenerdelement, z. B. Scandium (Sc), Yttrium (Y) oder ein Lanthanoid mit einer Ordnungszahl von 57-71, handeln. Das Additiv kann ein Element des ersten Typs und mindestens ein 3d-Übergangs- oder Seltenerdelement umfassen.
  • Es wurde gefunden, daß, wenn die Konzentration des Spurenadditivs höher als die obere Grenze oder geringer als die untere Grenze ist, der spezifische Widerstand des Materials ansteigt, so daß es schwierig ist, ein Halbleitermaterial an Luft herzustellen. Für eine gute elektrische Leitfähigkeit wird es bevorzugt, daß die Konzentration des Spurenadditivs nicht mehr als 1,0 Atom-%, bevorzugter nicht mehr als 0,5 Atom-%, beträgt.
  • Das Doppeloxid kann durch ein herkömmliches Sinterverfahren hergestellt werden. Das Verfahren erfordert keine spezielle Atmosphäre, und die Temperatur, die zum Sintern des Doppeloxids erforderlich ist, ist relativ niedrig, d. h. ungefähr 1000ºC - 1500ºC, verglichen mit derjenigen, die für andere Keramiken erforderlich ist.
  • Alternativ können eine herkömmliche physikalische oder chemische Dampfabscheidung, z. B. Sputtern oder ein CVD-Verfahren, eine flüssige Abscheidung, einschließlich eines Sol-Gel-Verfahrens, oder ein Schmelzverfahren verwendet werden. Das Material kann als Klumpen oder als Dünnfilm erhalten werden, abhängig vom Wachstumsverfahren.
  • Die folgenden Ausführungsformen dienen dazu, die Erfindung zu erläutern.
  • [Ausführungsform 1]
  • Äquimolare Mengen von MgO oder CdO und In&sub2;O&sub3; wurden in einem Mörser gemischt. Jede Mischung wurde in ein zylindrisches Formwerkzeug mit einem Durchmesser von 20 mm gegeben, und ein uniaxialer Druck von 600 kg/cm² wurde angewendet. Die Mischung wurde im Fall von Mg bei 1200ºC und im Fall von Cd bei 850ºC 5 Stunden unter Atmosphärendruck gehalten und danach natürlich abgekühlt und kalziniert. Jeder gesinterte Körper, der kalziniert worden war, wurde zermahlen und in das Formwerkzeug gegeben. Dieses wurde unter einem Druck von 800 kg/cm² gepreßt und weiter unter einem Druck von 3 Tonnen/cm² durch isostatisches Pressen kompressionsgeformt. Der geformte Körper wurde im Fall von Mg bei 1500ºC und im Fall von Cd bei 1020ºC 10 Stunden unter Atmosphärendruck gehalten, natürlich abgekühlt und dann kalziniert.
  • Die Kristallstrukturen, die aus der elektrischen Ladung und dem Ionenradius jeder Probe gemäß Shannons Ionenradius-Daten (R. D. Shannon et al., Acta Cryst. B25: 925-946 (1969)) angenommen werden können, und die Werte der Ionenradien in tetraedrischer Koordination und oktaedrischer Koordination sind in Tabelle 1 aufgeführt. TABELLE 1
  • Röntgenstrahlbeugungen (XRD) wurden bei den Proben Nr. 1 (Mgln&sub2;O&sub4;) und 2 (Cdln&sub2;O&sub4;) durchgeführt. Die jeweiligen Beugungsmuster sind in den Fig. 1 und 2 gezeigt. Die Analyse zeigte an, daß jede Probe ein kubisches System war. Mgln&sub2;O&sub4; wies eine inverse Spinell-Kristallstruktur mit einer Kristall-Gitterkonstanten von 0,8865 nm (8,865 Å) auf und Cdln&sub2;O&sub4; wies eine normale Spinell-Kristallstruktur mit einer Kristall-Gitterkonstanten von 0,9160 nm (9,160 Å) auf.
  • Bei den Proben Nr. 1 (Mgln&sub2;O&sub4;) und 2 (Cdln&sub2;O&sub4;) wurden der Seebeck-Koeffizient α, die elektrische Leitfähigkeit σ und die Wärmleitfähigkeit κ bei Raumtemperatur gemessen, und die jeweiligen Werte Z wurden auf der Basis dieser Werte berechnet, wie in Tabelle 2 aufgeführt.
  • Es wurde gefunden, daß es bei 13 anderen Elementen M, d. h. Ca, Sr, Ba, Eu, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Sn und Pb, unmöglich war, einen Kristall mit einer Spinell- Struktur und guter elektrischer Leitfähigkeit ohne beispielsweise Herstellung unter einer abgeschlossenen Unterdruck-Atmosphäre zu erhalten.
  • [Ausführungsform 2]
  • Indiumoxid, Magnesiumoxid und Bleioxid wurden so abgemessen, daß In in Mgln&sub2;O&sub4; der Probe Nr. 1 durch Pb mit Konzentrationen von 0,25 Atom-% (Probe Nr. 1-1), 0,50 Atom-% (Probe Nr. 1-2) und 1,0 Atom-% (Probe Nr. 1-3) ersetzt wurde, und sie wurden anschließend gesintert, wodurch man 3 Arten von Proben mit verschiedenen Bleikonzentrationen unter der gleichen Bedingung wie in der obigen Ausführungsform 1 erhielt. XRD wurde bei jeder Probe durchgeführt, und demzufolge wurde gefunden, daß jede Kristallstruktur ein Spinell war. Als Ergebnis einer Verfeinerung der Gitterkonstante jeder Probe wurde gefunden, daß, wenn die Mengen an eingesetztem Blei gesteigert wurden, die Gitterkonstante größer wurde und daß gemischte Bleiionen als Ionen in dem Kristallgitter eingebaut wurden.
  • Bei den Proben Nr. 1-1, 1-2 und 1-3 wurden der Seebeck-Koeffizient α, die elektrische Leitfähigkeit σ und die Wärmeleitfähigkeit κ bei Raumtemperatur gemessen, und die jeweiligen Gütezahlen Z wurden auf der Grundlage dieser Werte berechnet, wie in Tabelle 3 aufgeführt. In Tabelle 3 ist zum Vergleich auch die Gütezahl Z bei Raumtemperatur der Probe Nr. 1 aufgeführt.
  • Man versteht, daß durch die Blei-Zugabe diese Proben eine hohe thermoelektrische Leistung zeigen, d. h. die Gütezahl Z ist das Zehn- und Mehrfache bis das Dreißig- und Mehrfache derjenigen einer Probe ohne Blei, was mehr als 10&supmin;³ K&supmin;¹ ist, was als gut angesehen wird, wie in Tabelle 3 gezeigt.
  • Als nächstes wurden bei der Probe Nr. 1-1 (Bleikonzentration: 0,25 Atom-%) der Seebeck-Koeffizient α, die elektrische Leitfähigkeit cx und die Wärmeleitfähigkeit K bei Temperaturen von 100 K, 300 K (etwa 27ºC, d. h. Raumtemperatur), 400 K (etwa 127ºC), 600 K (etwa 327ºC), 800 K (etwa 527ºC), 900 K (etwa 627ºC) und 1000 K (etwa 727ºC) gemessen, und die jeweiligen Gütezahlen Z wurden auf der Grundlage dieser Werte berechnet, wie in Tabelle 4 aufgeführt.
  • Man versteht, daß die Probe eine Gütezahl Z aufweist, die höher als 10&supmin;³ K&supmin;¹ ist, und deshalb eine hohe thermoelektrische Leistung in einem breiten Temperaturbereich von 100 K - 1000 K aufweist und daß weiter die Schwankung derselben eng ist, wie in Tabelle 4 gezeigt. TABELLE 2 TABELLE 3 TABELLE 4
  • [Ausführungsform 3]
  • Indiumoxid, Magnesiumoxid, Galliumoxid, Germaniumoxid und Lanthanoxid wurden so abgemessen, daß Cd in Cdln&sub2;O&sub4; der Probe Nr. 2 durch Ga mit Konzentrationen von 1,0 Atom-% (Probe Nr. 2-1) und 5,0 Atom-% (Probe Nr. 2-2); durch Ge mit Konzentrationen von 1,0 Atom-% (Probe Nr. 2-3) und 5,0 Atom-% (Probe Nr. 2-4); und durch La mit einer Konzentration von 0,1 Atom-% (Probe Nr. 2-5) ersetzt wurde; und sie wurden anschließend gesintert, wodurch man 5 Arten von Proben mit verschiedenen substituierenden Atomen und unterschiedlichen Konzentrationen derselben unter der gleichen Bedingung wie in der obigen Ausführungsform 1 erhielt. XRD wurde bei jeder Probe durchgeführt, und als Folge wurde gefunden, daß jede Kristallstruktur ein Spinell war. Als Ergebnis einer Verfeinerung der Gitterkonstante von jeder Probe wurde gefunden, daß, als die Mengen der substituierenden Atome erhöht wurden, die Gitterkonstante zunahm und daß gemischte substituierende Ionen als Ionen in dem Kristallgitter eingebaut wurden.
  • Bei den Proben Nr. 2-1, 2-2, 2-3, 2-4 und 2-5 wurden der Seebeck-Koeffizient α, die elektrische Leitfähigkeit σ und die Wärmeleitfähigkeit κ bei Raumtemperatur gemessen, und die jeweiligen Gütezahlen Z wurden auf der Grundlage dieser Werte berechnet, wie in Tabelle 5 aufgeführt. In der Tabelle ist zum Vergleich auch die Gütezahl Z bei Raumtemperatur der Probe Nr 2 aufgeführt.
  • Man versteht, daß durch den Zusatz von Ga, Ge oder La diese Proben eine hohe thermoelektrische Leistung zeigen, d. h. eine Gütezahl Z vom Mehrfachen bis zum Zehn- und Mehrfachen derjenigen einer Probe ohne ein derartiges Additiv, was mehr als 10&supmin;³ K&supmin;¹ ist, was als gut angesehen wird, wie in Tabelle 5 gezeigt.
  • Als nächstes wurden bei der Probe Nr. 2-1 (Ga-Konzentration: 1,0 Atom-%), Probe Nr. 2-3 (Ge-Konzentration: 1,0 Atom-%) und Probe Nr. 2-5 (La-Konzentration: 0,1 Atom-%) der Seebeck-Koeffizient α, die elektrische Leitfähigkeit σ und die Wärmeleitfähigkeit κ bei Temperaturen von 100 K, 300 K, 400 K, 600 K, 800 K, 900 K und 1000 K gemessen, und die jeweiligen Gütezahlen Z wurden auf der Grundlage dieser Werte berechnet, wie in den Tabellen 6, 7 und 8 gezeigt.
  • Es ist offensichtlich, daß die Z-Werte hoch sind, höher als 10&supmin;³ K&supmin;¹, und daß sie innerhalb eines engen Bereiches schwanken. TABELLE 5 TABELLE 6 TABELLE 7 TABELLE 8

Claims (5)

1. Thermoelektrisches Halbleiter-Material, das ein Doppeloxid und ein Spurenadditiv umfaßt, wobei das Doppeloxid eine normale Spinell-Kristallstruktur, die durch Cdln&sub2;O&sub4; verkörpert wird, oder eine inverse Spinell-Kristallstruktur, die durch Mgln&sub2;O&sub4; verkörpert wird, aufweist und wobei das Spurenadditiv 0,01 bis 5,0 Atom-% des thermoelektrischen Halbleitermaterials beträgt, wobei das Additiv aus mindestens einem Element besteht, welches aus den Gruppen Ia, IIa, IVa, Ib, IIIb und IVb in der zweiten bis sechsten Periode des Periodensystems, 3d-Übergangselementen und Seltenerdelementen ausgewählt ist.
2. Material nach Anspruch 1, in dem das Spurenadditiv Blei ist.
3. Material nach Anspruch 1, in dem das Spurenadditiv Ga oder Ge ist.
4. Material nach Anspruch 1, in dem das Spurenadditiv La ist.
5. Verwendung eines Materials nach irgendeinem vorangehenden Anspruch bei der thermoelektrischen Umwandlung.
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