DE692373C - Elektrischer Belichtungsmesser - Google Patents
Elektrischer BelichtungsmesserInfo
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- DE692373C DE692373C DE1934M0128934 DEM0128934D DE692373C DE 692373 C DE692373 C DE 692373C DE 1934M0128934 DE1934M0128934 DE 1934M0128934 DE M0128934 D DEM0128934 D DE M0128934D DE 692373 C DE692373 C DE 692373C
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
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- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
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Description
- Elektrischer Belichtungsmesser Es ist ein lichtelektrischer Belichtungsmesser bekannt, bei dem dem Lichteiement der zu messende Lichtstrom mittels einer reflektierenden Fläche indirekt zugeführt wird. Gemäß der Erfindung wird ein Belichtungsmesser dieser Art in der Weise ausgebildet, daß die reflektierende Fläche unterhalb des in dem Gehäuse eingebauten Lichtelementes angeordnet ist und mit diesem einen nach vorne geöffneten spitzen Winkel bildet. Diese Anordnung hat den Vorteil, daß bei ihr der Bilawinkel insbesondere nach oben stark begrenzt ist, so daß das schädliche Oberlicht vom Lichtelement ferngehalten wird. Weiterhin leignet sich die Erfindung besonders für die Bauart von Belichtungs messern, bei der die Systemachse des Meßgerätes während der Messung senkrecht steht, wobei die Ableseskala eine waagerechte tder annähernd waagerechte Lag e einnimmt, eine Anordnung, die mit Rücksicht auf Idie Empfindlichkeit des M,eßwerkes vorteilhaft ist. Die Begrenzung der Blldwinkel Lichts elektrischer Belichtungsmesser, insbesondere nach loben, ist bekannt. Ebenfalls sind lichtelektrische Belichtungsmesser bekannt, bei denen die Systemachse des Meßgeräbes während der Messung senkrecht steht, wobei die Ableseskala eine waagerechte Lage einnimmt.
- Bei einer weiteren Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung wird ebenfalls der Bildwinkel seitlich begrenzt, und zwar dadurch, daß die Begrenzung durch an dem Spiegel beiderseits hochstehende Wände gebildet wird. Gemaß einer weiteren Verbesserung der Erfindung ist der Spiegel vor der Lichteintrittsöffnung herausklappb ar angebracht, so daß er in der Gebrauchsstellung gegen die Ebene des Lichtelementes geneigt liegt.
- Zur Erzielung eines günstigen Bildwinkels wird die reflektierende Fläche gekrümmt ausgebildet.
- Es sind lichtelektrische Belichtungsmesser bekannt, bei denen das Lichtelement ismerhalb des Gehäuses hinter der an der Stirnseite des Gehäuses befindlichen Lichteintrittsöffnung angeordnet ist. Wird die vorliegende Erfindung bei einem solchen Belichtungsmesser angewendet, so wird gemäß weiterer erfindungsgemäßer Ausgestaltung die reflektierende Fläche ebenfalls innerhalb des Gehäuses hinter der Lichteintrittsöffnung angeordnet.
- Es ist ferner bekannt, den Meßbereich der lichtelektrischen Belichtungsmesser durch die Lichtzufuhr auf das Photo element drossende Vorrichtungen zu ändern. Gesnäß einer weiteren Verbesserung wird zur Meßbereichänderung der Spiegel so angeordnet, daß er in verschiedene, verschiedenen Meßbereichen entSprechende Winkeleinstellungen gebracht werden kann.
- Ausführungsbeispieie der Erfindung wer.-den an Hand der Abbildungen beschrieben;"-Abb. I zeigt einen an sich bekannten lichtungsmesser in runder Form, bei dem Spiegel 1 durch einen Deckel gebildet wird der in der geöffneten Stellung einen Wink von 45° bildet. Bei der Messung wird das Gerät in der dargestellten Lage gehalten, in der der Spiegel nach dem Objekt zu gerichtet ist und die Ableseskala 2 waagerecht liegt. Der Strahlengang vom Objekt über den Spiegel 1 zum Lichteiement 3 zeigt die Pfeillinie L.
- Abb. 2 zeigt eine andere Ausführung, bei der das Element 3 und die Skala 2 nicht übereinander, sondern nebeneinander liegen.
- Bei dieser Ausführung läßt sich wiederum ein um ßj° aufklappbarer, den Spiegel 1 tragender Deckel anbringen (s. Abb.i). Das Seitenlicht wird um so weniger stören, je breiter die untere waagerechte Fläche im Verhältnis zum Durchmesser des Elements bzw. Spiegels ist. Erforderlichenfalls können Seitenwände 4 nach Abb. 3 vorgesehen werden, durch die der Lichtzutritt auf eine Hauptrichtung beschränkt wird. Natürlich ist man aber nicht an eine rechtwinklige abgebogene Ausführung gebunden, sondern kann der unteren Fläche jeden beliebigen Umriß geben (vgl. Abb. 4). Sie kann beispielsweise wie die Mantelfläche eines schräg durchschnittenen Zylinders oder eines Kegelstumpfes ausgebildet sein. Auch die Verwendung des Stückes einer Kugeifläche ist denkbar.
- Endlich ist es möglich, zur .Erreichung eines günstigen Bildwinkels den Spiegel 1 entsprechend zu krümmen, wobei natürlich die Krümmung und die Entfernung des Spiegels 1 vom Element 3 in einem bestimmten Verhältnis stehen müssen, damit das Lichtelement 3 auf seiner ganzen Fläche belichtet wird (Abb. 5).
- Die Anbringung des Spiegels 1 außerhalb des Gehäuses hat den Nachteil, daß durch Blindwerden oder Beschädigungen, Verkratzen usw. des Spiegels zusätzliche Lichtverluste entstehen, die die Messung beeinträchtigen Zweckmäßiger ist es, die Spiegelung ähnlich wie - bei Kameras im Inneren des Gerätegehäuses 5 anzubringen (vgl. Abb. 6).
- Gegebenenfalls kann der Spiegel, wenn das Gerät nicht gebraucht wird, so in die Ebene des Gehäuses zurückgedreht werden, daß er den rohrförmigen Lichtschacht des Elementes schließt und das Element schützt.
- Zur Erzielung eines Bruchteils der Belichtung - es Elementes zur Meßbereichänderung ist 91. ein etwas größerer oder kleinerer Drehglkel als 450 erfordlerlich, so daß die Dreh-Bewegung des Spiegels zweckmäßig als Ju-S*érvorrichtung zur Herstellung des geunsciiten Skalenverhältnisses, z. B. 1 IO, benutzt werden kann.
- Die Erfindung umfaßt auch Anordnungen, bei denen das Instrument nicht in genau waagerechter, sondern in etwas geneigter Lage abgelesen wird, um die Ablesung der Skala L noch bequemer zu machen. In dilesen Fällen muß man den Winkel zwischen dem Spie gel I und der Horizontalen kleiner als 45° wählen (vgl. Abb. 7).
Claims (6)
- PATENTA NSPRÜCHE: 1. Elektrischer Belichtungsmesser, bei dem dem Lichtelement der zu messende Lichtstrom mittels einer reflektierenden Fläche indirekt zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die reflektierende Fläche unterhalb des in dem Gehäuse eingebauten Lichtelementes angeordnet ist und mit diesem einen nach vorne geöffneten spitzen Winkel bildet.
- 2. Gerät nach Anspruch I mit seitlicher Begrenzung des Bildwinkels, dadurch gekennzeichnet, daß die Begrenzung durch an dem Spiegel beiderseits hochstehende Wände gebildet wird.
- 3. Gerät nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegel vor der Lichteintrittsöffnung herausklappbar argebracht ist, so daß er in der Gebrauchsstellung gegen die Ebene des Lichtelementes geneigt liegt.
- 4. Gerät nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die reflektierende Fläche gekrümmt ist.
- 5. Gerät nach Anspruch I, bei dem das Lichtelement innerhalb des Gehäuses hinter der an der Stirnseite des Gehäuses befindlichen Lichteintrittsöffnung angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß die reflektierende Fläche ebenfalls innerhalb des Gehäuses hinter der Lichteintrittsöffnung angeordnet ist.
- 6. Gerät nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch eine solche Anordnung, daß der Spiegel in verschiedene, yerschiedenen Meßbereichen entsprechende Winkeleinstellungen gedreht werden kann.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1934M0128934 DE692373C (de) | 1934-10-25 | 1934-10-25 | Elektrischer Belichtungsmesser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1934M0128934 DE692373C (de) | 1934-10-25 | 1934-10-25 | Elektrischer Belichtungsmesser |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE692373C true DE692373C (de) | 1940-06-19 |
Family
ID=7331608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1934M0128934 Expired DE692373C (de) | 1934-10-25 | 1934-10-25 | Elektrischer Belichtungsmesser |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE692373C (de) |
-
1934
- 1934-10-25 DE DE1934M0128934 patent/DE692373C/de not_active Expired
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