DE69211791T2 - Funktionstester für die Luftfahrtelektronik - Google Patents

Funktionstester für die Luftfahrtelektronik

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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/005Testing of electric installations on transport means
    • G01R31/008Testing of electric installations on transport means on air- or spacecraft, railway rolling stock or sea-going vessels

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung mit einem Kerntester zum Testen einer zu prüfenden elektronischen oder elektromechanischen Einheit nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1; sie betrifft außerdem ein Verfahren zum funktionellen Testen einer zu prüfenden elektronischen oder elektromechanischen Einheit.
  • In dem Maße, in dem technologische Systeme wie z.B. Luftfahrtelektronik- oder Waffensysteme, zunehmend auf hochentwickelten elektronischen oder elektromechanischen Komponenten beruhen, erhöhen sich die Anzahl und die Komplexität von Testprozeduren, die erforderlich sind, um diese Systeme zu stützeq. Es wurden automatische Testanlagen entwickelt, die es einer Organisation ermöglichen, ein System in einer diesem gerecht werdender Weise unter Einsatz von Personal mit relativ niedrigem Ausbildungsstand zu prüfen, wenn allerdings das System komplexer wird, haben die mit automatischen Testanlagen gefahrenen konventionellen, sequentiell organisierten, parametrischen Testprogramme die Neigung, eine beträchtliche Länge zu erreichen. Die eskalierenden Kosten automatischer Prüfanlagen und konventioneller Prüfprogramme haben in Verbindung mit den in Stunden zu messenden Prüfzeiten dieses Verfahren der Systemunterstützung in zunehmendem Maße und in vielfältigem Zusammenhang weniger wünschenswert gemacht.
  • Ein in Verbindung mit Luftfahrtelektronik früh eingesetztes System war das Versatile Avionics Shop Tester (VAST), welches zum Prüfen von Luftfahrtelektronikteilen von Flugzeugen entwickelt wurde, die von der Grumman Corporation gebaut wurden. VAST war ein komplexes und hochentwickeltes System, und der erste Versuch der Navy mit einer Mehrzweck-Teststation. Das baulich umfangreiche System bestand aus neun Gestellen, die mit elektronischen Instrumenten gefüllt waren, die von einem digitalen Subsystem bis zu einem Synchro-Resolver-Standard reichten. Die hohe Leistungsaufnahme und Wärmeentwicklung erforderten den Einsatz einer Zwangs-Luftkühlung.
  • Die für den VAST entwickelten Testprogrammpakete besaßen lange Laufzeiten und komplexe Fehlerisolierwege. Die Programme beinhalteten häufig ein rigoroses Prüfen, was aus jetziger Sicht für den Anwendungsfall unangemessen erscheint. Stromversorgungsausgange beispielsweise wurden häufig bezüglich extrem enger Toleranzen auch für Parameter wie Langzeitdrift und Wechselstrom-Welligkeit getestet. Die Parameter für die zu prüfende Einheit (UUT = "unit under test") wurden häufig bezüglich der Vorgabe-Genauigkeiten geprüft, allerdings jenseits ihres funktionellen Einsatzes. Einige dieser Tests waren für eine "akzeptierbarkeit"-Testprozedur angemessen, bei der ein Entwurf hinsichtlich der Erfüllung von Spezifikationen getestet wird.
  • Die "Einsatzerprobung" unterscheidet sich von der Akzeptierbarkeitsprüfung beträchtlich. Einsatzprobleme sind kaum geringfügige Verluste von Toleranzen, sondern vielmehr vollständige Ausfälle. Aus einem Flugzeug in Verbindung mit einem Problem der Energieversorgung entfernte Einheiten beispielsweise leiden mit viel größerer Wahrscheinlichkeit an einem kompletten Verlust der Versorgungsspannungsausgabe als daran, daß der Ausgang 1 % des Nennwertes übersteigt. Luftfahrtelektronik-Einheiten werden aus einem Fluggerät während der routinemäßigen Wartungsarbeiten deshalb entfernt, weil sie schwerwiegende Mängel aufweisen oder sie vorübergehende Mängel aufweisen, nicht aber deshalb, weil sie bloß außerhalb des Spezifikationsbereichs arbeiten.
  • Die Art von Prüfung, in der eine Einheit hinsichtlich ihrer Entwurfs parameter geprüft wird, wird als "parametrisches" Testen bezeichnet. Parametrisches Testen ist gekennzeichnet durch ein hohes Maß an Prüfumfang, welches in einigen Fällen möglicherweise auch übertrieben ist, ferner durch üblicherweise sequentielles Anlegen von Reizsignalen, verbunden mit der Auswertung des Ansprechverhaltens; durch extensive Fehlereingrenzung, die lediglich durch Prüfanschlußverbinder-Zugriff beschränkt wird; und durch vergleichsweise lange Prüfzeiten. Parametrisches Testen kann in einigen Fällen dann ein Problem aufzeigen, wenn tatsächlich kein Problem vorhanden ist. Beispielsweise könnte eine Einheit bloß deshalb geprüft werden, weil sie gerade empfangen oder aus dem Lagerbestand entnommen wurde und der Wartungsleiter bestimmen muß, ob sie einsatzbereit ist. Möglicherweise erfüllt die UUT das Prüfprogramm deshalb nicht, weil eine bezüglich einer Toleranz zu prüfende Ausgangsgröße jenseits ihres funktionellen Einsatzes liegt. In das Flugzeug eingebaut hingegen würde dieselbe Einheit als betriebsfähig erscheinen und der bordeigene, eingebaute Test (BIT = builtin test) würde kein Problem anzeigen.
  • In dieser Situation wird ein unnötiger und unerwünschter Konflikt erzeugt, indem der sich zwischen beiden Seiten befindende Kunde entweder der Einheit mißtraut oder - was wahrscheinlicher ist - sein Vertrauen in das Testprogramm verliert. In diesem Fall wird das Testprogramm nicht mehr benutzt, und der Mangel an Vertrauen könnte so weit gehen, daß es auch weitere Programme betrifft. Obschon dieses Szenario nicht bedeutet, daß ein Testprogramm nebensächlich oder überflüssig ist, so wird dennoch deutlich, daß ein intelligenter Kompromiß erreicht werden muß.
  • Das Konzept der funktionellen Erprobung ist eine Antwort auf diese Erprobungsrätsel. Funktionelle Tests prüfen eine UUT nach Maßgabe von deren funktioneller Verwendung, und nicht gemäß rigorosen Kriterien, gemäß denen die Einheit entworfen und akzeptiert wurde. Funktionelle Tests basieren auf Toleranzgrößen, die für einen zufriedenstellen den Betrieb in einem Fluggerät oder einem anderen Waffensystem sorgen. Funktionelle Tests benötigen beträchtlich weniger Zeit zur Durchführung als parametrische Tests und machen in stärkerem Maße Gebrauch von bzw. basieren in stärkerem Maße auf internen Prüfschaltungen und interner Software einer zu prüfenden Einheit. Ein funktioneller Vertrauenstest einer UUT sollte zur Ausführung nicht mehr als eine halbe Stunde benötigen.
  • Zu testende Einheiten besitzen im allgemeinen interne Mikroprozessoren, die, wenn sie entsprechend instruiert werden, eingebaute Diagnose-BIT- Programme durchlaufen. Die BIT-Hardware und -Software, mit der die Einheit ausgestattet ist, läßt sich analysieren, um festzustellen, welche Schaltkreise von dem BIT nicht geprüft werden, so daß im Bedarfsfall dem Programm eine Zusatzprüfung hinzugefügt werden kann.
  • Die Mehrheit neuer Waffensysteme besitzen verbesserte BIT-Programme und -Hardware, und sie sind um eine Standard-Bus-Architektur herum entworfen. Eine konventionelle automatische Prüfeinrichtungs-Hardware sowie Testprograrnme sind nicht dazu ausgelegt, die Verbesserungen der Waffensysteme bestmöglich zu nutzen. Andererseits stellt das funktionelle Testen ein kostenwirksames Mittel dar, um moderne elektronische und elektromechanische Waffensysteme zu unterstützen. Es ist benutzerfreundlich, billig und erfordert minimale Bedienerschulung; es macht Gebrauch von nicht zu teueren Testprogrammen, die die Prüfzeiten verkürzen. Der Tester muß zur Fehlererkennung und Fehleraufspürung von entweder "black boxes" oder elektronischen Modulen aus einem umfangreichen Bereich von Waffensystemen in der Lage sein.
  • Der Unterschied zwischen konventionellem Testen und der vorgeschlagenen funktionellen Vorgehensweise besteht im wesentlichen darin, daß das klassische automatische Testen parametrische Tests mit einer festen Abfolge durchführt, was zahlreiche hochpräzise Instrumente und lange Prüfzeiten erfordert, wohingegen das funktionelle Testen funktionelle Prüfprogramme mit veränderlicher Abfolge verwendet, die von jeglicher Information einschließlich Eingangs-/Ausgangs-Aktivität bestmöglichen Nutzen zieht, während das BIT-Programm der UUT abgearbeitet wird. Diese Vorgehensweise erfordert weniger hochgenaue Instruktionen und verkürzt die Testzeiten.
  • In jüngerer Zeit wurde ein sehr leistungsfahiger, relativ kompakter Typ einer klassischen automatischen Testanlage entwickelt, bekannt als das Screening or Small Computerized Automatic Tester (SCAT), welches eine Anzahl von hardware- und softwaremäßigen Weiterentwicklungen beinhaltet, obschon in Verbindung mit parametrischem, und nicht mit funktionellem Tests. Hauptmerkmale des SCAT sind, daß es in einem Gehäuse enthalten ist, welches mühelos transportierbar ist, und daß es eine Anzahl von innovativen Entwurfskonzepten beinhaltet, einschließlich eines Smart-Schalters, der den Weg durch einen Hochleistungs Rückebenen-Bus sucht, daß der Testprogrammspeicher von einsteckbaren Blasenspeicher-Kassetten Gebrauch macht, und daß hochleistungsfahige, auf Karte montierte Instrumente vorgesehen sind, die jeweils mit der System-Rückebene kompatibel sind, und deren Aufbau deshalb einfach dadurch variiert werden kann, daß man andere Karten für jeden Typ von zu testendem System installiert. Die in dem Blasenspeicher gespeicherten Testprogramme verwenden die vom Verteidigungsministerium vorgeschriebene Standard-Testsprache IEEE-716 ATLAS (Atlas) und ein mit dem Hauptrahmen kompatibles Betriebssystem. Ein Beispiel eines SCAT-Systems ist in dem der Anmelderin gehörenden US-Patent 4 760 329 offenbart.
  • Das Herz des SCAT-Systems ist die Familie von hochleistungsfahigen, auf Karten befindlichen Instrumenten, die in den Industrie-Normbus IEEE-796 eingesteckt werden. Die auf Karte befindlichen Instrumente können ein Digital-Mehrfachmeßgerät, einen Zähler/Timer, einen Funktionsgenerator und dergleichen beinhalten. Jedes SCAT-Instrument ist als eigenständige Einheit auf einer einzigen Einsteckkarte ausgebildet. Diese in hohem Maße modulare Architektur bietet mehrere wichtige Vorteile. Das Testgerät wird in einfacher Weise für den Kunden spezifiziert, um spezielle Analog-, Digital- oder Hybrid-Anforderungen zu erfüllen, und es ist einfach nachzurüsten, um Testanforderungen der nächsten Generation zu entsprechen, indem man neue Instrumente hinzufügt, welche die jüngste verfügbare Technologie beinhalten.
  • Eine Vorrichtung und ein Verfahren der oben genannten Art sind aus der US-A-4 707 834 bekannt, aus der der Oberbegriff des Anspruchs 1 hergeleitet ist. Dieser Stand der Technik wird im wesentlichen für das parametrische Testen benutzt, wobei ein Rechner mehrere individuelle Testinstrumente auf der Grundlage eines gemeinsamen Systemtaats steuert.
  • Die vorliegende Erfindung macht von zahlreichen Weiterentwicklungen Gebrauch, die in dem SCAT verwirklicht sind, einschließlich des Kon zepts der auf Karte montierten Instrumente und der Hochleistungs-Rückebene, der busorientierten Architektur, sie paßt das System jedoch an für den Einsatz als funktionellen Tester im Gegensatz zu einem parametrischen Tester.
  • Im Hinblick auf die obige Diskussion der jeweiligen Vorteile und Nachteile einer automatischen Prüfeinrichtung im allgemeinen und das in jüngerer Zeit entwickelte SCAT-System ist es ein Ziel der Erfindung, eine verbesserte, rechnergestützte Testvorrichtung ähnlich dem SCAT zu schaffen, die allerdings zur Durchführung von funktionellen Testprozeduren ausgebildet ist, um so die Testanlage zu vereinfachen und schnellere Prüfprogramme bereitzustellen.
  • Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, eine funktionelle Testvorrichtung anzugeben, insbesondere für Luftfahrtelektronik-Anwendungen, wobei die Verbindung mit der zu prüfenden Einheit unter Verwendung von Standard-Kabeln und einer Bus-Schnittstelleneinheit erfolgen kann, die in der Lage ist, sowohl als Bussteuerungs-Fernterminal oder als Monitor zu arbeiten, um die Anzahl verschiedener Systeme zu maximieren, mit denen die Schnittstelleneinheit kompatibel ist, während gleich zeitig die Komplexität jeglicher Weiterentwicklungen minimiert wird, die notwendig sind, um die Testvorrichtung an ein spezifisches System anzupassen.
  • Es ist ein weiteres Ziel der Erfindung, eine funktionelle Testvorrichtung anzugeben, die eine verbesserte Bus-Schnittstelleneinheit besitzt, die als Bussteuerung, Fern-Terminal oder als Monitor arbeiten kann, die die Fähigkeit für Bus-Tests und Analysen gemäß militärischem Standard aufweist, und die eine verbesserte Atlas-Testsprachen-Syntax verwendet, um eine bessere Anpassungsfähigkeit und vereinfachte Programmierung zu erreichen.
  • Erreicht werden diese Ziele erfindungsgemäß durch die Merkmale der Ansprüche 1 bzw. 23, d.h. dadurch, daß in die bevorzugte Testvorrichtung eine Bus-Schnittstelleneinheit (BIU = bus interface unit) einbezogen wird, die kompatibel ist mit dem MIL-STD-1553 Aircraft Internal Time Division Command/Response Multiplex Data Bus, bei dem es sich um den am meisten verwendeten Datenbus in modernen Waffensystemen handelt. Die Erfindung enthält eine BIU, die die Fähigkeit für Bus-Tests und -Analyse gemaß MIL-STD-1553A und MIL-STD-15538 aufweist und als Bussteuerung, Fern-Terminal oder Monitor arbeiten kann, um Kompatibilität mit einer maximalen Anzahl unterschiedlicher Systeme und eingebauter Testprogramme zu erreichen. Darüber hinaus macht das bevorzugte System in vorteilhafter Weise Gebrauch von einer neuen Atlas-Standard-Testsprachen-Syntax, die es dem Prüfprogrammierer ermöglicht, unter Verwendung einfacher, englischsprachiger Atlas-Anweisungen die BIU zu steuern. Schließlich kann die BIU in vorteilhafter Weise eingesetzt werden, ohne eine getrennte Tafel-Schnittstelle bezüglich entweder der UUT oder der Berührtafel-Anzeige, über die die Testvorrichtung programmiert wird.
  • Diese sowie weitere Verbesserungen werden in Verbindung mit einer speziellen Ausführungsform der Erfindung, die sich besonders zur Luftfahrtelektronik-Prüfung eignet, detailliert beschrieben, obschon es sich versteht, daß die Erfindung nicht auf das Testen von Luftfahrtelektroniksystemen beschränkt ist.
  • Im Gegensatz zu der Philosophie der SCAT-Testvorrichtung des parametrischen Testens macht der funktionelle Tester der bevorzugten Ausführungsform Gebrauch von funktionellem Testen, um Fehler zu isolieren. Die Modifikationen, Verbesserungen und Neuentwicklungen, die die auf Karte ausgebildeten Instrumente, die Software und die Unterbringung der SCAT-Testvorrichtung zur Erzielung des funktionellen Testens betreffen, werden aus der folgenden Beschreibung deutlich.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Fig. 1 ist ein Blockdiagramm einer funktionellen Testvorrichtung gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung, einschließlich einer funktionellen Schnittstelleneinheit und einer Kern-Prüfvorrichtung, bestehend aus einer Gattungs-Teststeuerung (GTC = generic test controller), einer Bedienerschnittstelle und einer UUT-Schnittstelle, wobei die GTC eine Bus- Schnittstelleneinheit (BIU) beinhaltet.
  • Fig. 2(a) ist ein Blockdiagramm einer bevorzugten Bus-Schnittstelleneinheit für den Einsatz in dem in Fig. 1 gezeigten funktionellen Kerntester.
  • Fig. 2b) ist ein funktionelles Blockdiagramm, welches die Anwendung der bevorzugten Bus-Schnittstelleneinheit aus Fig. 2(a) darstellt.
  • Fig. 3 ist ein Blockdiagramm einer speziell zugeschnittenen funktionellen Schnittstelleneinheit (FIU) für den Ein-Satz in Verbindung mit der in Fig. 1 gezeigten bevorzugten Kerntestvorrichtung.
  • Fig. 4 ist eine schematische Ansicht einer Teststation, welche die funktionelle Testvorrichtung nach den Fig. 1 bis 3 beinhaltet.
  • Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen Fig. 1 ist ein Blockdiagramm der Gesamtanordnung für die funktionelle Luftfahrtelektronik-Kerntestvorrichtung (FACT) gemaß der bevorzugten Ausführungsform Wenngleich die bevorzugte funktionelle Testvorrichtung in Verbindung mit einer Luftfahrtelektronik-Testvorrichtung beschrieben wird, soll die Erfindung nicht auf die Luftfahrtelektronik oder Waffensysteme beschränkt sein, vielmehr ist sie als kostenwirksame Einrichtung vorgesehen, die dazu dient, eine große Vielfalt moderner elektronischer und elektromechanischer Systeme zu stützen.
  • Das in Fig. 1 gezeigte beispielhafte bevorzugte System ist eine relativ kompakte funktionelle Testvorrichtung, die eine effiziente Schnittstelle bildet bezüglich moderner Waffensysteme, und die unter Einsatz funktioneller Testmethoden die Vorteile der BIT-Schaltungen von Waffensystemen und der weiterentwickelten Architektur bestmöglich nutzt. Man wird sehen, daß die bevorzugte funktionelle Testvorrichtung möglicherweise speziell an das zu prüfende jeweilige Waffensystem angepaßt werden muß, daß aber die Erfindung eine Architektur und eine Schnittstelle bereitstellt, mit deren Hilfe diese Anpassung in einfacher Weise vom Fachmann vorgenommen werden kann.
  • Im wesentlichen macht die Erfmdung Gebrauch von Norm-Bussen und einem flexiblen Steuersystem, um das Waffensystem oder die UUT abzufragen und die verschiedenen erforderlichen funktionellen Tests durchzuführen, indem die waffensystemeigenen BIT-Schaltungen benutzt werden. Die Testroutinen und die erforderliche Bus-Hardware hängen von dem zu prüfenden Waffensystem ab, wenn aber das zu prüfende Waffensystem erst einmal bekannt ist, laßt sich die Anpassung der bevorzugten Testvorrichtung von jedem Fachmann durchführen.
  • Wie in Fig. 4 gezeigt ist, ist die funktionelle Testvorrichtung derart ausgebildet, daß sie als kompakte Teststation 1 in einem Gehäuse untergebracht ist. Die Teststation verwendet einen modularen Aufbau. Die beiden Bus-Schnittstelleneinheiten, die in Fig. 2(a) im einzelnen gezeigt sind, sind in vorteilhafter Weise auf zwei Karten ausgebildet, die in zwei Schlitze eingeschoben sind, beispielsweise in einer Vordemische 2 eines Schubladenschranks 3. Die Station enthält außerdem in einer Nische 4 Kartenschlitze für eine funktionelle Schnittstelleneinheit (FIU) zur Aufnahme von Verstärkungskarten, die speziell für die zu prüfende Anlage ausgelegt sind. Andere Abschnitte der Teststation beinhalten modulare Stromversorgungen und Präzisions-Gleichstromquellen 5 sowie programmierbare Laden 6. Steuerprogramme, welche die Routinen zur Realisierung der funktionellen Tests beinhalten, sind vorzugsweise in Kassettenspeichereinheiten 7 abgespeichert, beispielsweise solchen, wie sie in dem derzeit zum Testen von Waffen eingesetzten SCAT-System verwendet werden, und wie sie in der US-A-4 760 329 beschrieben sind. Schließlich enthält die Teststation vorzugsweise eine Berührtafel-Anzeige 8.
  • Obschon eine spezielle, freistehende Teststation dargestellt ist, so ist dennoch erkennbar, daß von einer Vielfalt von Gehäusegestaltungen in Verbindung mit der erfindungsgemäßen Schaltung Gebrauch gemacht werden kann. Somit soll die Erfindung auch tragbare Geräte ebenso wie ortsfeste Geräte umfassen. Ein wichtiges Merkmal der in Fig. 4 dargestellten Teststation 1 besteht darin, daß die Verbindungshardware, einschließlich sämtlicher benötigter Busse, in die Station eingebaut ist. Um die Station für den Einsatz bei speziellen Waffensystemen anzupassen, ist es lediglich notwendig, Verstärkungskarten in den zwei Nischen 2 und 4 auszutauschen oder hinzuzufügen, wozu das Konzept der Instrumente-auf-Karte des SCAT in Verbindung mit einem gemeinsamen BIU eingesetzt wird, wie es im folgenden beschrieben wird.
  • Erneut auf Fig. 1 Bezug nehmend, enthält das System sowohl die Kerntestvorrichtung (einschließlich der Gattungs-Teststeuerung (GTC) 10, eine Bedienerschnittstelle 14 und der UUT-Schnittstelle) und eine Verstärkungseinheit oder funktionelle Schnittstelleneinheit FIU (11). Die Kerntestvorrichtung hat Grund-Reizimpuls- und Ansprechfähigkeit, was vielen Testerfordernissen entgegenkommt. Spezielle, anwendungsspezifische Erfordernisse werden durch die Verstärkungseinheit 11 erfüllt, die relativ einfache Schaltungen enthält, die sich in einzigartiger Weise zum funktionellen Testen eines spezifischen Systems eignen.
  • Sowohl die Karten der Gattungsteststeuerung (GTC) als auch der funktionellen Schnittstelleneinheit (FIU) sind über mit Masse abgeschlossene Kabel 19 an die UUT-Schnittstellentafel 12 angeschlossen. Darüber hinaus sind die BIU-Karten (Teil der GTC) über einen zweifach redundanten Standardbus, beispielsweise den MIL-STD- 1553 Aircraft Internal Time Division Command/Response Multiplex Data Bus, an die UUT- Schnittstellentafel angeschlossen. Die einzige externe Hardware, die für die Verbindung zwischen der funktionellen Luftfahrtelektronik-Kerntestvorrichtung und der UUT erforderlich ist, ist ein Satz von Kabeln. Eine separate externe Schnittstellenvorrichtung wird deshalb nicht benötigt.
  • Die GTC und die FIU kommunizieren miteinander über einen IEEE- 488-Bus mit Hilfe eines internen Kabels. Die GTC ist außerdem an eine in die Station eingearbeitete Bedienerschnittstelle 14 angeschlossen, die Kassettenspeicherhalter 7, eine Berührtafelanzeige 8 und einen Drucker enthält, wenn dies erwünscht ist.
  • Die Kerntestvorrichtung nach der bevorzugten Ausführungsform macht Gebrauch von dem STAD-Konzept, indem eine Karte (oder Platine) für jedes Instrument vorgesehen ist. Jede Karte steckt in einem Norm-Bus IEEE 796, der in der Rückebene der Station vorgesehen ist. Jedes Instrument ist für sich auf einer einzigen Einsteckkarte ausgebildet und ersetzt eine vollständige Schublade in dem Gestell- und Stapelsystem. Gemäß der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung jedoch wurde eine Hauptverbesserung durchgeführt, um das SCAT-System in die Lage zu versetzen, als Prototyp für das FACT zu fungieren. Diese Verbesserung bestand in dem Hinzufügen einer leistungsstarken Waffensystem-Bus-Schnittstelle.
  • Der in modernen Waffensystemen am meisten verwendete Datenbus ist der MIL-STD 1553 Aircraft Internal Time Division Command/Response Multiplex Data Bus. Dieser MIL-STD 1553-Bus wird derzeit in Waffensystemen der Air Force, der Navy, der Army und der Marine eingesetzt. Die Bus-Schnittstelleneinheit 36, die Teil der GTC 10 gemäß der Erfindung ist, stellt sowohl für den MIL-STD-1553A- als auch den MIL-STD-15538-Bus Test- und Analysekapazität bereit. Die ETC enthält zwei BIU-Steckkarten, was die Kapazität von zwei doppelt redundanten Bussen 18,18', 18" und 18"' gemäß Fig. 2(b) ergibt.
  • Wie in dem funktionellen Blockdiagramm der Fig. 2(b) gezeigt ist, kann die BIU als Bussteuerung (BC), als Fern-Terminal (RT) oder als Monitor arbeiten. Software stellt die Testprogrammsteuerung der BIU 36 bereit und sorgt für eine Analyse von durch die zu testende Einrichtung 13 aufgenommenen Daten.
  • Wie in Fig. 1 gezeigt ist, enthält die bevorzugte Kerntestvorrichtung eine Mikrocomputersteuerung 22, die von einem Mikroprozessor INTEL 80286 Gebrauch macht. Eine Berührtafelanzeige 8 kommuniziert mit dem Prozessor über eine genormte RS-232-Verbindung 23. Die bevorzugte Massenspeichereinrichtung enthält zwei Steck-Kassetten-Speichereinheiten 7, wenngleich zahlreiche andere Speichereinheiten stattdessen verwendet werden können, darunter Bandgeräte sowie optische oder magnetische Plattenspeicher. Ein Kassettenspeicher 26 dient für das Betriebssystem sowie Testausführungsprogramme, ein zweiter Kassettenspeicher 25 wird für funktionelle Testprogramme reserviert. Beide Kassettenspeichereinheiten kommunizieren mit dem Hauptprozessor über eine genormte Small Computer System Interface (SCSI)-Verbindung 24. Ferner ist eine Centronics-Parallelschnittstelle 27 oder eine ähnliche Schnittstelle für den optional vorgesehenen Drucker 15 vorgesehen, außerdem gibt es ein zu der UUT führendes Versorgungskabel 52. Die programmierbare Mikrocomputersteuerung 22 kommuniziert mit verschiedenen auf Platine montierten Grund-Prüfinstrumenten über einen IEEE-796-Bus 28. Die GTC 10 enthält zwei Impuisgeber 30, ein Digital-Mehrfachmeßgerät 31, einen Funktionsgenerator 32, einen Zähler/Timer 33, eine Leistungssteuerplatine 34 zum Programmieren digitaler Anschlußstift-Logikpegel, eine digitale Schnittstelle 35 mit dynamischen digitalen Schnittstellen-Anschlußstiften und Takt-Steuer- Stiften, und zwei Bus-Schnittstelleneinheiten 36, die zwei doppelt redundante MIL-STD-1553-Bus-Schnittstellenkanäle bilden. Die Busschnittstelle 36 kann die Form der in der US-A-4 453 229 beschriebenen Schnittstelleneinheit aufweisen.
  • Die interne Schnittstelle für diese Instrumente bezüglich der UUT verläuft über eine interne Koppelmatrix und universelle Anschlußstifte, die an der Schalt-Eingangs/Ausgangs-Steckkarte (SI/O) 37 vorgesehen sind. Jeder der Eingangs-lausgangs-Stifte der internen Koppelmatrix an der UUT-Schnittstelle kann mit jedem beliebigen der Analoginstrumente über die interne Koppelmatrix verbunden werden, wie dies in den US- Patenten 4 719 459 und 4 763 124 beschrieben ist. Die GTC dient außerdem als interne IEEE-488-Bus-Schnittstelle 38 für die Übertragung von Daten. Die Versorgungs/Steuer-Platine 34 stellt eine Präzisions- Gleichspannungsquelle dar und liefert programmierbare Spannungen an die digitale Schnittstelle 35, wodurch logische Pegel der digitalen Stifte in 24er-Gruppen programmiert werden können. Zusätzlich kann eine RS-232-Verbindung 39 zu einem VAX oder einem ähnlichen Mini- oder Hauptrechner vorgesehen sein.
  • Der Fachmann sieht, daß die spezielle Ausgestaltung der oben angegebenen Instrumente diversen Modifizierungen zugänglich ist. Die Liste der Instrumente soll eine spezielle Ausführungsform der Erfindung veranschaulichen, während die Erfindung selbst aber nicht auf den Einsatz irgendwelcher spezieller Instrumente beschränkt ist, sondern das breite Konzept abdeckt, gemäß dem eine Kerntestvorrichtung geschaffen wird, welche eine Vielfalt von Instrumenten beinhaltet, die die größtmögliche Anwendung findet, um an das Testen spezifischer Waffensysteme einfach angepaßt werden zu können. Außerdem sieht der Fachmann, daß jedes Instrument verschiedene Form aufweisen kann. Beispiele für geeignete Instrumente sind in den folgenden US-Patenten enthalten: 4 316 259, 4 066 882, 4 507 740, 4 799 220, 4 791 312 und 4 792 951, sämtlich der Grumman Aerospace Corporation gehörig.
  • Jedes der oben angegebenen Instrumente ist ein elektronisches Instrument, welches in einer Vielzahl von Testprozeduren unter der Steuerung des Prozessors 22 und des in dem Kassettenspeicher 25 abgespeicherten Testprogramms eingesetzt werden kann. Andererseits ist die Verstärkungs- oder funktionelle Schnittstelleneinheit (FIU) 11 gemaß Fig. 1 derart ausgestaltet, daß sie die Kerntestvorrichtung ergänzt, indem sie spezifische, für spezielle Anwendungszwecke ausgelegte Instrumente enthält. Deshalb läßt sich die Kerntestvorrichtung bei einer Vielfalt von zu prüfenden Einheiten einsetzen, während die FIU 11 spezifisch für einen speziellen Typ von zu prüfender Einheit ist. Gemeinsam bilden die Kerntestvorrichtung und die FIU 11 eine neue Architektur, die sich speziell für das funktionelle Testen eignet.
  • Ein Beispiel einer speziellen FIU für den Einsatz in Verbindung mit der Kerntestvorrichtung ist in Fig. 3 gezeigt. Diese Schnittstelle ist lediglich dargestellt, um ein Beispiel zu geben, während die hier vorgestellte Liste von Instrumenten durch die Erfordernisse der zu prüfenden Einheit vorgegeben ist. Der in Fig. 3 dargestellte Aufbau wurde im Hinblick auf die Erfordernisse der austauschbaren Waffensystem (WRA) eines F-14- Kampfflugzeugs zugeschnitten. Eine weitere zu prüfende Einheit würde von anderen Schnittstelleneinheiten aufgenommen.
  • Die funktionelle Schnittstelleneinheit 11 enthält eine statische digitale Schnittstelle 43 mit 192 Stiften, von denen jeder entweder als Treiber oder als Empfänger programmiert werden kann, einen Analog-Reizsignalgeber 44 mit dreiadrigen Synchro/Resolver-Ausgängen und Wechselstrom/Gleichstrom-Reizsignal-Ausgängen, die sich auf eine Spannungsspitze +/- programmieren lassen, eine Analog-Antwort 45, die Gleichstrom-Eingangskanäle für Gleichstrom-Antwort-Messungen enthält, von denen jeder unabhängig programmierbar ist, und Wechselstrom-Eingangskanäle für eine Wechselstrom-Antwort-Messung, von denen jeder ebenfalls unabhängig programmierbar ist. Die FIU enthält außerdem spezielle Zeitgeberschaltungen 47, wie sie von der F-14-WZA benötigt werden, funktionelle Lasten 6, eine spezielle Digital-Schnittstelle 48, welche gleichzeitig Daten senden und empfangen kann und Daten mit verschiedenen, wählbaren Geschwindigkeit zu übertragen vermag, deren sechs Extraschlitze in der Nische 4 der Teststation 1 übrigbleiben. Die Einheit 11 verwendet einen IEEE 796-Rückebenen- Bus 28', ähnlich dem Bus 28 in der Nische 2 für interne Kommunikationen zwischen den Instrumenten und einem Mikrocomputer, welcher emen Mikroprozessor 42 vom Typ INTEL 80286 enthält. Ferner kommuniziert eine RS-232-Schnittstelle 50 mit Lasten 6, eine RS-232- Schnittstelle 51 mit der UUT.
  • Die in der Kassettenspeichereinheit 25 abgespeicherten Prüfprogramme sind vorzugsweise in der höheren Prüfsprache IEEE-716-Atlas geschrieben. Die Programme können in der Station über eine RS-232-Verbindung zu einem Mini- oder Hauptrechner in der Station editiert und kompiliert werden. Der Aflas-Compiler fungiert als gleichzeitig arbeitendes Interpretiersystem mit eingebauten Editier- und Datei-Verwaltungsmöglichkeiten. Die Aflas-Quellenanweisungen werden in das System eingegeben und kompiliert, um eine Atlas-Quellenbilddatei und eine ausführbare interpretierende Code-Datei zu erzeugen. Wenn eine Atlas- Anweisung editiert wird, werden sowohl die Quellen- als auch die IC- Bilder automatisch und gleichzeitig in einem einzigen Vorgang aktualisiert, der für den Benutzer transparent ist. Damit der Testprogrammierer die BIU mit minimalem Schulungsaufwand programmieren kann, wurde eine neue Atlas-Syntax entwickelt. Die BIU liefert die richtige elektrische Schnittstelle für das funktionelle Testen von zu prüfenden Einheiten, die eine Verbindung über den NIL- STD-1553-Bus benötigen. Zwei unabhängige doppelt-redundante Karten stehen zur Verfügung. Jede Karte kann unabhängig unter Verwendung der modifizierten Atlas-Syntax programmiert werden, entweder als Bus- Steuerung zur Steuerung des Datenaustausches zwischen der Testvorrichtung und der zu prüfenden Einheit, als Fernterminal, in welchem der Bus-Verkehr von der zu prüfenden Einheit gesteuert wird, oder als Monitor.
  • Ein Beispiel für ein Testprogramm zum Betreiben der BIU in einer Bus- Steuerungs-Betriebsart ist im Anhang I angegeben. Die Anweisung "begin" in der Zeile 000001 setzt die Bus-Schnittstelleneinheit in der Bus-Steuerung in den "master"-Betrieb. Die Anweisung "REQUIRE" in der Zeile 000010 dient dann zur Festlegung und Bezeichnung einer Summe von Kennwerten, die von einer Test-Resource gebraucht werden. Eine anschließende Bezugnahme auf die Test-Resourcen erfolgt über die Bezeichnung, in diesem Fall "BIU 1", die in der Anweisung "REQUIRE" auftaucht. Eine getrennte Anweisung "REQUIRE" wird für jede Bus-Schnittstelleneinheit in der Teststation benötigt. Die Parameter für die verschiedenen Variablen werden über die Anweisungen "DECLARE" in den Zeilen 000020-000028 gesendet.
  • Die Anweisung FILL in der Zeile 000030 erstellt eine Datenliste DATLST, welche die Befehle und die Daten enthält, welche die Bus- Schnittstelleneinheit abzusenden hat, und zwar in der abzusendenden Reihenfolge. Jeder Eintrag in die variable Daten- und Antwort-Liste entspricht einem einzelnen Wort. Die Anzahl von übertragenen Nachrichten muß gleich der Anzahl empfangener Nachrichten sein, Fehlerfreiheit vorausgesetzt, jedoch braucht die Anzahl von gesendeten Wörtern nicht gleich der Anzahl empfangener Wörter zu sein.
  • Die Anweisung FILL wird auch in der Zeile 000032 zur Erstellung einer Lücken-Liste GAPLST verwendet, wodurch die vorbestimmten Verzögerungen zwischen den Datenkommunikationen für jeden Schritt des Testprogramms vorgegeben werden. Schließlich dokumentiert im Schritt 1000000 die Anweisung SETUP die Betriebsparameter der BIU.
  • Der nächste Abschnitt des Programms lenkt die Nachrichtenverbindungen zwischen der Bus-Schnittstelleneinheit und der zu testenden Einheit. Die Anweisung CONNECT in der Zeile 100, 100 verbindet die BIU Datenbussignale mit den spezifizierten Stiften über den Datenbuskoppler MIL-STD-1553, und setzt den verbundenen Kanal in einen Ruhezustand zurück. Die Wörter PULSED DC USING sind Teil des allgemeinen Formats der Anweisung, woran sich die Bezeichnung anschließt, in diesem Fall BIU1. Die Buchstaben XB1 und XB-1 in dem Beispiel sind spezielle Stift-Nummern.
  • Die aktuelle Kommunikation erfolgt über die Anweisung DO,EXCHANGE in der Zeile 100200, die ein Teil der IEEE-Norm- Atlas-Syntax ist, beschrieben in der IEEE-Norm 716-1989, Abschnitt 13.3. Die Anweisung DO,EXCHANGE beschreibt den Ablauf von Austauschvorgängen, die den gesamten, für den durchgeführten Test interessierenden Schriftverkehr definieren. Die Anweisung spezifiziert außerdem die Testanlagen-Teilnahme beim nächsten Austausch. Insbesondere legt die Anweisung DO,EXCHANGE tatsächlich die laufende Ausführung der verschiedenen auf den Bus bezogenen Operationen fest und verleiht den Operationen die Prioritäten. Die Ausführung der Anweisung DO,EXCHANGE hält an, bis jede Operation abgeschlossen ist, oder bis MAX-TIME FIELD erscheint, je nachdem, was von beiden zuerst auftritt. Im Gegensatz jedoch zu der Anweisung DO,EXCHANGE, wie sie in dem Beispiel in der IEEE-Normschrift beschrieben ist, verwendet die Anweisung DO,EXCHANGE in ihrer Verwendung des bevorzugten Testprogramms die durch die Anweisung FILL aufgestellte Daten- und Lücken-Liste.
  • Nach Empfang von Daten werden die Daten von den Anweisungen READ in den Zeilen 100300, 100330 und 100360 in einem Puffer gespeichert und aufgerufen. Ein von der getesteten Einheit in die Variable STATUS INTO ansprechend auf die Anweisung READ, STATUS zurückgezogenes Status-Bit enthält beispielsweise die folgende Information: das Bit 0 bedeutet, daß der Empfänger-Eingangspuffer übergelaufen ist. Das Bit 1 bedeutet einen Nachrichtenfehler. Bit 2 zeigt an, daß der aktuelle Befehl nicht dem erwarteten Befehl entspricht, und es wird ausschließlich in der Betriebsart SLAVE oder der Fernterminal-Betriebs art verwendet, in der die Bus-Schnittstelleneinheit Befehle von der geprüften Einheit empfängt und durch diese gesteuert wird. Bit 5 gibt an, daß in einem vorbestimmten Zeitintervall, welches durch die Zeitvariable RESP eingestellt wird, wenn sich die Bus-Schnittstelleneinheit in der Betriebsart MASTER befindet, keine Antwortnachricht empfangen wur de. Bit 6 bedeutet, daß ein Kanal aufgrund eines Hardware-Fehlers nicht in Betrieb ist, und Bit 7 bedeutet, daß der Kanal noch mit der Verarbeitung von Daten beschäftigt ist. Bit 8 gibt an, daß MAX-TIME verstrichen ist, wenn die Bus-Schnittstelle sich in der SLAVE-Betriebsart befindet. Schließlich bedeutet Bit 9, daß über den MIL-STD-1553-Bus eine zulässige Antwort empfangen wurde. Man sieht, daß die in Verbindung mit der Anweisung READ in den Zeilen 100320-100340 verwendete Anweisung WHILE ein Standard-Atlas-Befehl zum Einrichten einer Schleife zwischen WHILE und END ist.
  • In ihrer Bussteuerungsbetriebsart arbeitet unter Verwendung der obigen Befehle und des Programms gemäß Anhang I die BIU folgendermaßen:
  • Zunächst werden ein Befehl und dazugehörige Datenwörter aus den Datenlisten-Elementen gesendet. Anschließend wartet die Schnittstellen einheit eine vorbestimmte Zeit, RESP-TIME, auf eine Antwort von der getesteten Einheit, welche dann in einem Antwortpufferelement gespeichert wird. Wenn innerhalb der vorbestimmten Zeitspanne (12 Mikrosekunden) im Beispiel gemäß Anhang A, keine Nachricht empfangen wird, wird in dem BIU-Statuswort ein Antwort-Zeitfehlerbit 5 gesetzt, und es erfolgt eine Fehlerroutine. Die Verzögerung für die Zeitlücke zwischen den Nachrichten wird in dem zugehörigen Element der Lücken-Zeit- Liste festgelegt. Für jeden Nachrichteneintrag in der Datenliste gibt es einen entsprechenden Eintrag in der Lücken-Zeit-Liste.
  • Anschließend wird das nächste Befehlswort aus der Datenliste gesendet. Wiederum wartet das System eine vorbestimmte Zeit auf eine Antwort seitens der geprüften Einheit, die dann in Antwortpufferelementen gespeichert wird. Wenn innerhalb der vorbestimmten Antwortzeit keine Nachricht empfangen wird, wird in dem BIU-Statuswort das Antwort- Zeitfehlerbit gesetzt, und das Steuerprogramm geht zum Schritt 1 zurück. Dann spezifiziert das System eine Verzögerung für die Lückenzeit in dem zugehörigen Element der Lücken-Zeit-Liste.
  • Dieser Ablauf wird für das nächste Befehiswort aus dem Datenlisten- Element wiederholt, wobei die Antwort in einem weiteren Antwortpufferelement 4 gespeichert wird. Wenn der Eintrag der Lücken-Zeit- Liste für die nächste Nachricht von Null verschieden ist, verzögert das System für die spezifizierte Lücken-Zeit und geht dann zum Schritt 1.
  • Wenn die Lücken-Zeit Null beträgt, wird unmittelbar an das BIU-Statuswort das Antwort-Datenzulässigkeitsbit gesendet. Wenn der obige Ablauf nicht vervollständigt werden kann, wird das entsprechende Bit in dem BIU-Statuswort gesetzt, um anzuzeigen, daß der Austausch nicht beendet wurde. Der Atlas-Programmierer muß eine Status-Lese-Anweisung ausführen, um das BIU-Statuswort und den Antwortpuffer zu erhalten. Ein Steuerprogramm zum Betreiben der Bus-Schnittstelleneinheit in der Fernterminal-Betriebsart ist im Anhang II dargestellt. In der Fernterminal-Betriebsart besteht das Format der Datenliste in den Befehlen, welche die BIU zu sehen erwartet, zusammen mit den Status- und Datenwörtern, mit denen sie antwortet. Die Befehle müssen in der Reihenfolge vorliegen, in der sie erwartet werden, nicht der Reihenfolge entsprechende Befehle werden als Fehler markiert. Wenn das Befehlswort ein 1553-Befehl "Empfangen" oder ein Betriebsart-Code mit Daten bei zurückgesetztem TIR-Bit ist, sind in der Liste keine Datenwörter enthalten. Die Befehle sind die gleichen, wie sie in Verbindung mit dem Anhang I erläutert wurden mit der Ausnahme, daß die Betriebsart (Mode) von dem Programmierer nicht auf MASTER sondern auf SLAVE eingestellt ist.
  • Als Fernterminal arbeitet die BIU folgendermaßen:
  • Die Schnittstelleneinheit wartet auf eine Nachricht von der geprüften Einheit und speichert sie in dem Antwortpuffer. Sie wartet dann eine Anzahl von Sekunden lang, wie dies durch den Befehl RESP-DELAY festgelegt wird, um dann ein 1553-Status-Word und, falls erforderlich, Daten aus der Datenliste zu senden. Wenn es keine Daten-Nachrichten mehr in der Datenliste gibt, geht das Steuerprogramm zum Schritt 000001 zurück. Ansonsten setzt es die entsprechenden Bits in dem BIU- Statusword. Wenn die obige Ablauffolge nicht innerhalb eines spezifizierten Zählerstands MAX-TIME abgeschlossen werden kann, werden die laufenden Teil-Daten und der Status mit dem gesetzten Bit 8 des Statusworts zurückgesendet, um anzuzeigen, daß der Austausch nicht in der vorprogrammierten Zeitspanne MAX-TIME abgeschlossen wurde. Der Atlas-Programmierer muß dann einen Befehl Status-Lesen ausführen, um das BIU-Statuswort und den Antwortpuffer abzufragen.
  • Die im Anhang III dargestellte Situation "keep alive" stellt eine beson ders günstige Modifizierung der Adas-Programmiersprache IEEE-STD 716-1989 für die BIU dar. In der Betriebsart "keep alive" wird eine Sequenz von Nachrichten alle paar Millisekunden von der geprüften Einheit abgesendet. Ohne die Nachrichten-Sequenz "keep alive" nehmen zahlreiche der neuen WRAs an, daß ein Systemfehler vorliegt, um folg lich automatisch ihre Betriebsart zu ändern, so daß eine Fortsetzung des Testens unmöglich wird. Die Betriebsart "keep alive" ähnelt dem Betrieb in der regulären Bus-Steuerungsbetriebsart insofern, als die "keep alive"- Nachrichten in der DATLST enthalten sind und die Zeiten zwischen den Nachrichten in der GAPLST spezifiert sind. Wenn allerdings ein spezifisches Statuswort REF STATUS "VALUE" von der geprüften Einheit gesendet wird, erkennt die BIU das Statuswort und beginnt mit der Ausführung einer weiteren Folge von Nachrichten innerhalb einer vorbestimmten Zeitspanne BLOCK-GAP-TIME. Diese zweite Sequenz von Nachrichten ist in einer zweiten Datenliste DATA2 enthalten (Zeile 100200). Die Zeiten zwischen den Nachrichten sind in der Liste GAP- TIME 2 spezifiziert. Der Atlas-Programmierer führt die Befehle READ, STATUS aus, um das BIU-Statuswort und die zwei Antwortpuffer anzufragen. Der Befehl REMOVE dient zum Beendigen der Schleife.
  • In der Praxis würde die oben beschriebene Atlas-Syntax natürlich auch Editier- und Fehlersuch-Merkanale sowie weitere konventionelle Programmierhilfen umfassen. Außerdem wären verschiedene Schablonen und Menü-Treiber enthalten, um den Betrieb der Schnittstelleneinheit weiter zu vereinfachen. All diese zusätzlichen Varianten sowohl bezüglich BIU-Hardware als auch der BIU-Software liegen im Schutzumfang der vorliegenden Erfindung. Nachdem also detailliert eine einzige beispielhafte bevorzugte Ausführungsform der Erfindung beschrieben wurde, ist für den Fachmann dennoch ersichtlich, daß die Erfindung nicht durch die oben beschriebene Ausführungsform beschränkt wird, sondern lediglich durch die beigefügten Patentansprüche. APPENDIX I MASTER PROGRAMMING EXAMPLE APPENDIX II MASTER PROGRAMMING EXAMPLE APPENDIX III KEEP ALIVE PROGRAMMING EXAMPLE APPENDIX III

Claims (27)

1. Vorrichtung mit einer Kern-Testvorrichtung (10, 14) zum Testen einer zu testenden elektronischen oder elektromechanischen Einheit, wobei die Kerntestvorrichtung (10, 14) eine programmierbare Mikrocomputersteuerung (22), eine Mehrzahl von Testinstrumenten (30-35), eine programmierbare Bus-Schnittstelleneinheit (36) und eine erste Buseinrichtung mit einem ersten Bus (28) zum Verbinden der Testinstrumente (30-35) mit der Bus-Schnittstelleneinheit (36) und der programmierbaren Mikrocomputersteuerung (22) aufweist; dadurch gekennzeichnet, daß
eine zweite Buseinrichtung mit einem zweiten Bus (18) vorgesehen ist, um die Bus-Schnittstelleneinheit (36) mit einer zu prüfenden Einheit zu verbinden, daß eine funktionelle Schnittstelleneinheit (11) vorgesehen ist, die eine für die zu testende Einheit spezifische Testausrüstung (43 - 49) aufweist,
die Kerntestvorrichtung (10, 14) eine Einrichtung (7, 8, 24 - 26) aufweist, um die programmierbare Mikrocomputersteuerung (22) zu veranlassen, die Bus-Schnittstelleneinheit (36) so zu programmieren, daß sie als Bussteuerung (BC), oder als Fernterminal (RT) zum Empfangen und Senden von Busverkehr mit Anweisung seitens der zu prüfenden Einheit, oder als Monitor arbeitet, und um die programmierbare Mikrocomputersteuerung (22) so zu programmieren, daß sie den Verkehr zwischen den Testinstrumenten (30 - 35) und der zu prüfenden Einheit leitet.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Programmiereinrichtung (7, 8) eine "keep alive"-Einrichtung aufweist, um die Bus-Schnittstelleneinheit (36) so zu programmieren, daß sie alle paar Millisekunden eine Sequenz von Nachrichten über dem zweiten Bus (18) zu der zu testenden Einheit sendet.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Bus (18) ein MIL-STD-1553A Aircraft Internal Time Division Commandlresponse Multiplex Data Bus ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Bus (18) ein MIL-STD-15538 Aircraft Internal Time Division Command/Response Multiplex Data Bus ist.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Programmiereinrichtung (7, 8) eine Einrichtung zum Interpretieren eines in Atlas-Sprache geschriebenen Testprogramms enthält.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Bus-Schnittstelleneinheit (36) zwei Karten enthält, mit denen der zweite Bus (18) direkt verbunden ist, wodurch eine getrennte Tafel- Schnittstelle entfallen kann.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Programmiereinrichtung eine Berührtafelanzeige (8) aufweist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Berührtafelanzeige (8) von einer RS-232-Verbindung (23) direkt mit der programmierbaren Mikrocomputersteuerung (22) verbunden wird.
9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Programmiereinrichtung eine Einrichtung mit Kassettenspeichereinheiten (25) zur Speicherung von Testprogrammen aufweist.
10. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zwei separate Bus-Schnittstelleneinheiten (36) vorgesehen sind, von denen jede Bus-Schnittstelleneinheit (36) auf einer einzelnen Karte ausgebildet ist.
11. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung eine modulare Station (1) aufweist, in der die Testinstrumente (30 - 35), die Bus-Schnittstelleneinheit (36) und die programmierbare Mikrocomputersteuerung (22) auf in der Station (1) installierten, herausnehmbaren Karten angebracht sind, wobei sämtliche Verbindungs-Hardware einschließlich sämtlicher Busse in die Station (1) eingebaut ist.
12. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jedes der Instrumente (30 - 35) auf einer getrennten Karte angeordnet ist.
13. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Bus ein IEEE-796-Bus ist, der in der Rückebene der Station vorgesehen ist.
14. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die programmierbare Mikrocomputersteuerung (22) einen Mikroprozessor enthält.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Mikroprozessor ein Intel-80286-Mikroprozessor ist.
16. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Testinstrumente (30 - 35) mindestens einen Impuisgenerator (30), ein Digital-Mehrfachmeßgerät (31), einen Funktionsgenerator (32), einen Zähler/Timer (33) und eine Einrichtung mit einer Leistungssteuerungsplatine (34) zum Programmieren digitaler Stift-Logikpegel aufweisen, wobei die programmierbare Mikrocomputersteuerung (22) direkt über den ersten Bus (28) an jedes der Testinstrumente (30 - 35) angeschlossen ist.
17. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die programmierbare Mikrocomputersteuerung (22) einen ersten Mikroprozessor aufweist, und die funktionelle Schnittstelleneinheit (11) einen zweiten Mikroprozessor (42) aufweist.
18. Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß der erste und der zweite Mikroprozessor miteinander über einen IEEE-488-Bus verbunden sind.
19. Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Testausrüstung mit dem zweiten Mikroprozessor über einen in eine Teststations-Rückebene eingebauten IEEE-796-Bus (28') verbunden ist.
20. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kerntestvorrichtung (10, 14) mit der zu testenden Einheit über einen MIL-STD-1553A-Bus (18) verbunden ist.
21. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Kerntestvorrichtung (10, 14) mit der zu prüfenden Einheit über ein MIL-STD-15538-Bus (18) verbunden ist.
22. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kerntestvorrichtung (10,14) zwei unabhängig programmierbare doppelt redundate Schnittstellenkarten enthält.
23. Verfahren zum funktionellen Testen einer elektronischen oder elektromechanischen zu prüfenden Einheit, umfassend die Schritte des Bereitstellens einer Mehrzahl von Testinstrumenten (30 - 35), des Bereitstellens einer programmierbaren Bus-Schnittstelleneinheit (36) und einer programmierbaren Mikrocomputersteuerung (22); des Bereitstellens einer ersten Buseinrichtung mit einem ersten Bus (28) zum Verbinden der Testinstrumente (30 - 35) mit der programmierbaren Mikrocomputersteuerung (22);
wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist:
Bereitstellen einer zweiten Buseinrichtung mit einem zweiten Bus (18) zum Verbinden der Bus-Schnittstelleneinheit mit einer zu testenden Einheit;
Bereitstellen einer funktionellen Schnittstelleneinheit (11), die eine für die zu testende Einheit spezifische Testausrüstung (43 - 49) aufweist, und
Programmieren der Bus-Schnittstelleneinheit (36) in der Weise, daß sie als Bussteuerung (BC) arbeitet, wie es durch die MIL-STD-1553 definiert wird, oder als Fernterminal (RT) zum Empfangen und Senden von Busverkehr unter Leitung der zu testenden Einheit arbeitet, wie es durch die MIL-STD-1553 definiert wird, oder als Monitor arbeitet.
24. Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß der Schritt des Programmierens das Programmieren der Bus-Schnittstelleneinheit (36) unter Verwendung einer Atlas-Test-Programmiersprache umfaßt.
25. Verfahren nach Anspruch 23 oder 24, dadurch gekennzeichnet, daß der Schritt des Programmierens folgende Schritte aufweist:
Erstellen einer Datenliste mit Befehlen und Daten, die von der Bus- Schnittstelleneinheit (36) in der Reihenfolge zu übertragen ist, in der sie ausgesendet werden, Beenden einer Kommunikation mit der zu testenden Einheit durch Übertragen der Daten und der Befehle zu der zu testenden Einheit sowie Empfangen und Speichern von Antworten seitens der zu testenden Einheit in einem Puffer, sowie Lesen der Antworten sowie eines Status-Bits, welches den Status der Kommunikation angibt.
26. Verfahren nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß der Programmierschritt außerdem den Schritt des Erstellens einer Zeitlücken-Liste beinhaltet, welche eine Liste von vorbestimmten Zeitintervallen zwischen Übertragungen von Daten und Befehlen beinhaltet.
27. Verfahren nach einem der Ansprüche 23 bis 26, gekennzeichnet durch den Schritt des Programmierens der Bus-Schnittstelleneinheit (36) in der Weise, daß diese in der Betriebsart "keep alive" arbeitet, in der alle paar Millisekunden eine Sequenz von Nachrichten über den zweiten Bus (18) zu der zu testenden Einheit gesendet wird, um die zu testende Einheit in einem gewünschten Betriebszustand zu halten.
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Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5644777A (en) * 1992-03-04 1997-07-01 Rockwell International Corporation Field reconfiguration data bus cabinet computer system
USH1590H (en) * 1992-04-23 1996-09-03 Douglass; Darrell C. Portable aircraft instrumentation data simulator
US5490254A (en) * 1992-11-04 1996-02-06 United Technologies Corporation MIL-STD-1553 interface device having autonomous operation in all modes
US5325359A (en) * 1992-11-04 1994-06-28 United Technologies Corporation MIL-STD-1553 interface device having concurrent remote terminal and monitor terminal operation
US5367641A (en) * 1992-11-04 1994-11-22 United Technologies Corporation MIL-STD-1553 interface device having a bus controller minor frame timer
US5552984A (en) * 1993-09-16 1996-09-03 Trw Inc. Diagnostic system for complex systems using virtual components
US5774644A (en) * 1993-12-17 1998-06-30 International Business Machines Corporation Method and apparatus for generating a pair of interoperating communications programs
US5543727A (en) * 1994-04-05 1996-08-06 Bellsouth Corporation Run-in test system for PC circuit board
US5499187A (en) * 1995-04-03 1996-03-12 Arinc Research Corporation Voltage sensing, autoselecting aircraft power supply interface
US5793218A (en) * 1995-12-15 1998-08-11 Lear Astronics Corporation Generic interface test adapter
US6014504A (en) * 1996-08-27 2000-01-11 Raytheon Company VME fault insertion and test apparatus
US6219626B1 (en) * 1998-09-08 2001-04-17 Lockheed Corp Automated diagnostic system
US6269319B1 (en) * 1999-01-29 2001-07-31 The Mcdonnell Douglas Corporation Reconfigurable integration test station
US7093168B2 (en) * 2002-01-22 2006-08-15 Honeywell International, Inc. Signal validation and arbitration system and method
GB0210450D0 (en) * 2002-05-07 2002-06-12 Bae Systems Plc Test apparatus
US6839649B2 (en) * 2002-07-19 2005-01-04 Honeywell International Inc. Hardware device testing with fast abstract scripting tool
US6842713B1 (en) * 2003-02-24 2005-01-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Rapid diagnostic multi data retrieval apparatus and method for using the same
US7801702B2 (en) 2004-02-12 2010-09-21 Lockheed Martin Corporation Enhanced diagnostic fault detection and isolation
US7584420B2 (en) * 2004-02-12 2009-09-01 Lockheed Martin Corporation Graphical authoring and editing of mark-up language sequences
US20060120181A1 (en) * 2004-10-05 2006-06-08 Lockheed Martin Corp. Fault detection and isolation with analysis of built-in-test results
US20060085692A1 (en) * 2004-10-06 2006-04-20 Lockheed Martin Corp. Bus fault detection and isolation
US20080052281A1 (en) * 2006-08-23 2008-02-28 Lockheed Martin Corporation Database insertion and retrieval system and method
US7343558B2 (en) * 2005-03-31 2008-03-11 Teradyne, Inc. Configurable automatic-test-equipment system
US7427025B2 (en) * 2005-07-08 2008-09-23 Lockheed Marlin Corp. Automated postal voting system and method
US7765356B2 (en) 2006-04-11 2010-07-27 Raytheon Company System for modifying data in a bus buffer
FR2918759B1 (fr) * 2007-07-13 2009-09-18 Eurocopter France Procede de test d'un systeme electronique
US7626398B2 (en) * 2007-09-21 2009-12-01 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy System for isolating faults between electrical equipment
US20100076716A1 (en) * 2008-09-19 2010-03-25 Honeywell International Inc. Portable electromechanical actuator test system
DE102009041599A1 (de) 2009-09-15 2011-04-14 Airbus Operations Gmbh Steuervorrichtung, Ein-/Ausgabevorrichtung, Verbindungsschaltevorrichtung und Verfahren für ein Flugzeug-Steuersystem
FR2950449A1 (fr) * 2009-09-23 2011-03-25 Eurocopter France Simulation en temps reel hautement representative d'un systeme avionique
US20120242357A1 (en) * 2011-03-23 2012-09-27 Hamilton Sundstrand Corporation Automatic fault insertion, calibration and test system
CN103279397B (zh) * 2013-04-25 2015-09-23 北京空间飞行器总体设计部 一种星载延时指令全部保存与恢复的实现方法
CN104656632B (zh) * 2014-11-06 2017-05-31 中国运载火箭技术研究院 飞行器半物理仿真试验的集成接口测试系统及检测方法
US9672127B2 (en) * 2015-04-16 2017-06-06 Teradyne, Inc. Bus interface system for interfacing to different buses

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4066882A (en) * 1976-08-16 1978-01-03 Grumman Aerospace Corporation Digital stimulus generating and response measuring means
US4316259A (en) * 1980-03-18 1982-02-16 Grumman Aerospace Corporation Programmable function generator
US4402055A (en) * 1981-01-27 1983-08-30 Westinghouse Electric Corp. Automatic test system utilizing interchangeable test devices
US4397021A (en) * 1981-06-15 1983-08-02 Westinghouse Electric Corp. Multi-processor automatic test system
US4507740A (en) * 1981-09-08 1985-03-26 Grumman Aerospace Corporation Programmable signal analyzer
US4453229A (en) * 1982-03-11 1984-06-05 Grumman Aerospace Corporation Bus interface unit
JPS6125263A (ja) * 1984-07-13 1986-02-04 Sony Corp 電子機器制御システム
US4707834A (en) * 1985-09-17 1987-11-17 Tektronix, Inc. Computer-based instrument system
US4763124A (en) * 1986-03-06 1988-08-09 Grumman Aerospace Corporation Signal distribution system hybrid relay controller/driver
US4719459A (en) * 1986-03-06 1988-01-12 Grumman Aerospace Corporation Signal distribution system switching module
US4760330A (en) * 1986-06-06 1988-07-26 Northern Telecom Limited Test system with shared test instruments
US4792951A (en) * 1986-09-11 1988-12-20 Grumman Aerospace Corporation Apparatus and method of stimulating an equipment
US4799220A (en) * 1987-02-19 1989-01-17 Grumman Aerospace Corporation Dynamic system for testing an equipment
US4760329A (en) * 1987-04-23 1988-07-26 Grumman Aerospace Corporation Programmable tester with bubble memory
US4791312A (en) * 1987-06-08 1988-12-13 Grumman Aerospace Corporation Programmable level shifting interface device
US5036479A (en) * 1989-04-20 1991-07-30 Trw Inc. Modular automated avionics test system
US5023791A (en) * 1990-02-12 1991-06-11 The Boeing Company Automated test apparatus for aircraft flight controls

Also Published As

Publication number Publication date
US5223788A (en) 1993-06-29
EP0532017B1 (de) 1996-06-26
EP0532017A1 (de) 1993-03-17
DE69211791D1 (de) 1996-08-01

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