DE69202616T2 - Gerät zum fortlaufenden und berührungslosen Messen der Dicke einer dünnen, leitenden Schicht auf einem isolierenden Träger, zum Beispiel einer vorbeilaufenden Fiber oder Folie. - Google Patents

Gerät zum fortlaufenden und berührungslosen Messen der Dicke einer dünnen, leitenden Schicht auf einem isolierenden Träger, zum Beispiel einer vorbeilaufenden Fiber oder Folie.

Info

Publication number
DE69202616T2
DE69202616T2 DE69202616T DE69202616T DE69202616T2 DE 69202616 T2 DE69202616 T2 DE 69202616T2 DE 69202616 T DE69202616 T DE 69202616T DE 69202616 T DE69202616 T DE 69202616T DE 69202616 T2 DE69202616 T2 DE 69202616T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
thickness
cavity
spiral
fiber
insulating support
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69202616T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69202616D1 (de
Inventor
Jean-Yves Boniort
Georges Roussy
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alcatel Lucent NV
Original Assignee
Alcatel NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Alcatel NV filed Critical Alcatel NV
Publication of DE69202616D1 publication Critical patent/DE69202616D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69202616T2 publication Critical patent/DE69202616T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more
    • G01N22/02Investigating the presence of flaws

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur kontinuierlichen und berührungslosen Messung der Dicke einer dünnen, leitenden Schicht auf einem durchlaufenden isolierenden Träger der Art einer Faser oder eines Bandes.
  • Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf die Messung einer Kohlenstoffschicht, deren Dicke etwa 0,1 um beträgt und die sich auf einer Glasfaser eines Durchmessers von 125 um befindet, wobei diese Faser entlang ihrer Achse im Faserziehgerät mit einer Geschwindigkeit zwischen einigen 10 und einigen 100 Metern pro Minute durchläuft.
  • Es ist ein berührungsloses optisches Verfahren zur Messung des Durchmessers einer Lichtleitfaser bekannt, die durch einen Laserstrahl verläuft. Die Genauigkeit der Messung liegt bei etwa ±0,2 um. Ein solches Verfahren könnte für Schichten mit einer Dicke größer als 1 um, nicht aber für die im Rahmen der Erfindung in Betracht gezogenen Dicken benutzt werden.
  • Das Patent US-A-4 952 226 beschreibt ein derartiges Verfahren, das auf der Erfassung des Lichts eines durch die Faser gebrochenen Laserstrahls beruht, aber das Ergebnis einer solchen Messung wird stark durch die seitlichen Verschiebungen der Faser gestört, die in der Praxis im Ziehgerät nicht vermieden werden können.
  • Außerdem sind im Handel verfügbare Meßgeräte bekannt, deren Meßprinzip auf der Induktion von Foucault-Strömen sehr hoher Frequenz beruht. Diese Vorrichtungen erlauben die Messung von Schichtdicken größer als 5 um auf Trägern eines Durchmessers von mindestens einem Millimeter. Die Extrapolation der in diesen Geräten eingesetzten Meßmethode auf Gegenstände kleineren Durchmessers und dünnere Schichten kann technisch nicht in Betracht gezogen werden.
  • Schließlich ist aus dem Patent US-A-2 548 598 eine Vorrichtung zur Erfassung von Fehlern eines Leiterdrahts bekannt. Diese Vorrichtung enthält einen zylindrischen Mikrowellenraum, durch den der Metalldraht verläuft. Die Merkmale des Hohlraums verändern sich, wenn der Draht Mängel, wie z.B. Oberflächenfehler eines höheren spezifischen Widerstands als der Draht selbst oder Risse, aufweist.
  • Ziel der vorliegenden Erfindung ist es, eine industriell anwendbare Vorrichtung vorzuschlagen, die auf einer durchlaufenden Faser eine berührungslose Messung erlaubt, ohne die mechanische Widerstandsfähigkeit der Faser zu beeinträchtigen.
  • Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung zur kontinuierlichen und berührungslosen Messung eines Kennwerts eines leitenden Körpers,
  • - mit einem Mikrowellengenerator, der über Koppelmittel mit einem Resonanzhohlraum gekoppelt ist, durch den der Körper verläuft,
  • - mit Mitteln zum Koppeln des Hohlraums an eine Vorrichtung zur Erfassung des Übertragungsfaktors des Hohlraums, dadurch gekennzeichnet, daß, falls der Kennwert eine Dicke und der Körper eine dünne leitenden Schicht auf einem isolierenden Träger von der Art einer Faser oder eines Bandes ist, der Hohlraum einen Metalldraht in Spiralform aufweist, der mit seinen Enden an zwei Metallplatten befestigt ist, wobei der isolierende Träger im wesentlichen entlang der Achse der Spirale verläuft, und daß der Übertragungsfaktor unmittelbar von der Dicke abhängt, wobei die Messung bei konstanter Frequenz erfolgt.
  • Man stellt mit großer Überraschung fest, daß die Resonanzfrequenz des Hohlraums konstant bleibt, wenn der Träger, und insbesondere eine Lichtleitfaser, innerhalb der Spirale mit ihrer dünnen leitenden Schicht verläuft. Nur die Amplitude des Signals variiert abhängig von der Dicke der Schicht. Es ist daher nicht notwendig, die Frequenz des Generators automatisch während der Messung nachzuregeln, was komplexe Mittel erfordern würde.
  • Vorzugsweise ist die Spirale abgeschirmt, d.h. in einen metallischen Behälter eingeschlossen.
  • Für eine Lichtleitfaser eines Durchmessers von 125 um, deren Kohlenstoffschicht eine Dicke in der Größenordnung von 0,1 bis 0,05 um besitzt, kann man eine Spirale einer Länge von etwa zehn Zentimetern aus einem Metalldraht verwenden, deren Innendurchmesser in der Größenordnung von 3 mm und deren Windungssteigung in der Größenordnung von 2 bis 3 mm liegt.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform enthält der Mikrowellengenerator einen Koaxialleiter, der in einer bipolaren oder homopolaren Sendeantenne endet, die in der mit der Resonanz kompatiblen Richtung des elektrischen Felds der Spirale aussenden kann. Die Vorrichtung zur Erfassung enthält eine Empfangsantenne einer Struktur, die der der Sendeantenne gleicht.
  • Andere Merkmale und Vorzüge der vorliegenden Erfindung werden in der nachfolgenden Beschreibung von nicht beschränkend zu verstehenden Ausführungsbeispielen anhand der beiliegenden Zeichnungen näher erläutert.
  • Figur 1 zeigt ein sehr einfaches Schema der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
  • Figur 2 zeigt schematisch und im Schnitt einen Resonzanzhohlraum, der zur Vorrichtung gemäß Figur 1 gehört.
  • Figur 3 zeigt das Signal S (in mV), das am Ausgang des erfindungsgemäßen Hohlraums gemessen wird, in Abhängigkeit von der Frequenz f (in GHz) des Mikrowellengenerators für Fasern, die Kohlenstoffschichten unterschiedlicher Dicken besitzen.
  • Figur 4 zeigt die Veränderungen des Signals S (in mV), die gemessen werden, wenn eine Faser durch den erfindungsgemäßen Hohlraum läuft.
  • Figur 5 zeigt schematisch eine Variante der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
  • In Figur 1 ist ein Mikrowellengenerator 1 gekoppelt an einen Resonanzhohlraum 2 gezeigt, dessen Übertragungsfaktor mit Hilfe eines Detektors 3 gemessen wird, wobei dessen Ausgang mit einem Millivoltmeter 4 verbunden ist.
  • Der Resonanzhohlraum 2, der im einzelnen in Figur 2 zu sehen ist, enthält eine Spirale 10, die eine Achse 15 aufweist und von einem Metalldraht aus Silber oder versilbertem Messing eines Durchmessers von 0,3 mm gebildet wird. Der Innendurchmesser der Spirale beträgt 3 mm und der Windungsgang etwa 2 mm sowie die Gesamtlänge 10 cm. Die Enden 11 und 12 der Spirale sind an zwei Metallplatten 13 und 14 fixiert, die Kurzschlußplatten sind und in denen Öffnungen 17 und 18 eines Durchmessers von 2 bis 3 mm für den Durchlaß einer Lichtleitfaser 6 entlang der Achse 15 vorgesehen sind. Es ist nützlich, die Spirale 10 abzuschirmen, d.h. in einem Metallbehälter mit einer Wand 19 einzuschließen, beispielsweise einem Zylinder eines Durchmessers von 30 mm.
  • Der Mikrowellengenerator enthält einen koaxialen Leiter 20, der in einer monopolaren Antenne 21 endet, deren Ende parallel zur Achse 15 ausgerichtet ist. Diese Antenne 21 induziert ein elektrisches Feld in der dem gewünschten Resonanzmodus entsprechenden Richtung innerhalb des Hohlraums. Durch diese Anordnung konzentriert sich das Feld in dem Bereich, in dem die Faser 6 innerhalb der Spirale verläuft. Dieser Parameter ist besonders wichtig für die Genauigkeit der Messung.
  • Der Detektor 3 enthält einen Koaxialanschluß 22 mit einer Empfangsantenne 23 gleich dem Koaxialleiter 20 und der Antenne 21. Es empfiehlt sich, die Antennen 21 und 23 in gleicher Weise einzukoppeln. Das Meßergebnis läßt sich am Millivoltmeter 4 ablesen.
  • Bringt man in die Spirale 10 statisch Lichtleitfasern 6 ein, die Kohlenstoffschichten unterschiedlicher Dicken e tragen und verändert man die Frequenz f des Generators, dann läßt sich ein Signal S (in mV) gemäß Figur 3 ablesen.
  • Die Kurve A entspricht dem Hohlraum ohne Faser, während die Kurven B, C und D solchen Dicken e der Kohlenstoffschicht entsprechen, daß der Längswiderstand 2500 kΩ/cm bzw. 70 kΩ/cm bzw. 16 kΩ/cm beträgt.
  • Man beobachtet entgegen den Erwartungen, daß sich dieselbe Resonanzfrequenz ergibt mit und ohne Faser im Hohlraum. Diese Frequenz wird auch nicht durch die Dicke der Kohlenstoffschicht auf der Faser verändert. Außerdem stellt man fest, daß die Amplitude des Signals nicht von der seitlichen Position der Faser in der Spirale 10 bezüglich der Achse 15 abhängt. Diese Amplitude hängt also nur von der Dicke e der Schicht ab. Die Messung erfordert keine Frequenzregelung, was die Schaltung erheblich vereinfacht.
  • Figur 4 zeigt eine Aufzeichnung des Signals S (in mV) abhängig von der Zeit t beim Durchlauf der Faser. Auf einer zweiten Ordinatenachse ist das Signal S in Dickeneinheiten e (in nm) umgewandelt.
  • Wenn die Faser durchläuft, zeigt der Meßwert den Mittelwert der Dicke über die Länge der Faser an, die sich in der Spirale 10 befindet. Bei einer Durchlaufgeschwindigkeit von 5 m pro Minute erfolgt die Messung etwa über 20 cm der Faser. Um diese Definition bei großer Durchlaufgeschwindigkeit beizubehalten, muß man ein Voltmeter mit einem breiten Durchlaßband verwenden, nämlich größer als 100 Hz für Messungen bei etwa 500 m pro Minute.
  • In dem in Figur 4 gezeigten Beispiel beträgt die mittlere Dicke der gemessenen Schicht etwa 30 nm. Dann ergibt sich eine plötzliche Vergrößerung der Schichtdicke bis zu 70 nm, die zu einem deutlichen Abfall des Signals S führt.
  • Die Messung ist sehr empfindlich im Dickenbereich von etwa 50 nm entsprechend einem Längswiderstand von 10 bis 30 kΩ/cm.
  • Es ist möglich, die Empfindlichkeit der Messung weiter zu erhöhen, indem die Vorrichtung aus Figur 5 eingesetzt wird.
  • Diese Vorrichtung empfiehlt sich zur Messung des komplexen Übertragungsfaktors des Hohlraums 2 (Amplitude und Phase des Signals S).
  • 5Das aus dem Generator 1 kommende Signal wird in zwei Signale 31 und 32 mit Hilfe eines Richtkopplers 30 aufgeteilt. Das erste Signal 31 gelangt in den Amplitudenmodulator 35, der an einen Oszillator 33 (mit zum Beispiel 1 kHz) angeschlossen ist, und wird dann in den Hohlraum 2 eingespeist.
  • Das zweite Signal 32, das als Bezugssignal dient, sowie das Signal 34, das am Ausgang des Hohlraums 2 gemessen wird, gelangen zu einer doppelten, abgeglichenen Mischstufe 36. Die Ausgangssignale 37 und 38 dieser Stufe werden von zwei Synchrondetektoren 39 und 40 ausgewertet, aus denen zwei Signale S sinφ und S cosφ austreten, die die Amplitude und die Phase des Signals S bestimmen. Die Amplitude S kann unmittelbar in einer analogen Schaltung 41 erhalten werden.
  • Natürlich ist die Erfindung nicht auf die oben beschriebenen Ausführungsformen beschränkt, sowohl hinsichtlich der Verarbeitung des Signals als auch hinsichtlich der Form der Spirale.
  • So kann die Spirale Windungen rechteckiger Form besitzen und kann durch äquivalente Mittel ersetzt sein, die an den Querschnitt des sie durchquerenden isolierenden Trägers angepaßt sind.

Claims (4)

1. Vorrichtung zur kontinuierlichen und berührungslosen Messung eines Kennwerts eines leitenden Körpers,
- mit einem Mikrowellengenerator (1), der über Koppelmittel (20) mit einem Resonanzhohlraum (2) gekoppelt ist, durch den der Körper verläuft,
- mit Mitteln (22) zum Koppeln des Hohlraums (2) an eine Vorrichtung (3) zur Erfassung des Übertragungsfaktors des Hohlraums (2),
dadurch gekennzeichnet, daß, falls der Kennwert eine Dicke und der Körper eine dünne leitenden Schicht auf einem isolierenden Träger von der Art einer Faser oder eines Bandes ist, der Hohlraum (2) einen Metalldraht (10) in Spiralform aufweist, der mit seinen Enden an zwei Metallplatten (13, 14) befestigt ist, wobei der isolierende Träger (6) im wesentlichen entlang der Achse (15) der Spirale (10) verläuft, und daß der Übertragungsfaktor unmittelbar von der Dicke abhängt, wobei die Messung bei konstanter Frequenz erfolgt.
2. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Mikrowellengenerator (1) einen koaxialen Leiter (20) aufweist, der in einer bipolaren oder homopolaren Sendeantenne (21) endet, die in der mit der Resonanz kompatiblen Richtung des elektrischen Felds der Spirale (10) aussenden kann.
3. Meßvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Erfassungsvorrichtung (3) eine Empfangsantenne (23) der gleichen Struktur wie die Sendeantenne (21) enthält.
4. Meßvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß für eine Lichtleitfaser (6) eines Durchmessers von 125 um, deren Kohlenstoffschicht eine Dicke zwischen 0,1 und 0,05 um aufweist, die Spirale (10) von einem Metalldraht gebildet ist und einen Innendurchmesser von etwa 3 mm sowie einen Windungsgang von etwa 2 bis 3 mm sowie eine Länge in der Größenordnung von etwa zehn Zentimetern besitzt.
DE69202616T 1991-03-29 1992-03-26 Gerät zum fortlaufenden und berührungslosen Messen der Dicke einer dünnen, leitenden Schicht auf einem isolierenden Träger, zum Beispiel einer vorbeilaufenden Fiber oder Folie. Expired - Fee Related DE69202616T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9103878A FR2674623B1 (fr) 1991-03-29 1991-03-29 Dispositif de mesure en continu et sans contact de l'epaisseur d'une mince couche conductrice sur un support isolant, du genre fibre ou ruban, qui defile.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69202616D1 DE69202616D1 (de) 1995-06-29
DE69202616T2 true DE69202616T2 (de) 1995-09-21

Family

ID=9411299

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69202616T Expired - Fee Related DE69202616T2 (de) 1991-03-29 1992-03-26 Gerät zum fortlaufenden und berührungslosen Messen der Dicke einer dünnen, leitenden Schicht auf einem isolierenden Träger, zum Beispiel einer vorbeilaufenden Fiber oder Folie.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5241279A (de)
EP (1) EP0508854B1 (de)
JP (1) JP2592564B2 (de)
CA (1) CA2064372C (de)
DE (1) DE69202616T2 (de)
FI (1) FI921371A (de)
FR (1) FR2674623B1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10102578A1 (de) * 2001-01-20 2002-08-01 Univ Braunschweig Tech Resonanter Mikrowellensensor

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5440238A (en) * 1991-11-07 1995-08-08 Sandia Corporation Surface property detection apparatus and method
GB2271637B (en) * 1992-10-15 1996-01-03 Marconi Gec Ltd Measurement of gas and water content in oil
US5372622A (en) * 1993-04-30 1994-12-13 At&T Corp. Large aperture device for controlling thickness of conductive coatings on optical fibers
DE19650112C1 (de) * 1996-12-03 1998-05-20 Wagner Int Einrichtung und Verfahren zum Messen eines Pulver-Massestromes
IL122273A (en) 1997-11-21 2001-07-24 Sela Semiconductor Eng Laboratories Remote resistivity measurement
US20040227524A1 (en) * 2003-05-12 2004-11-18 Boris Kesil Method and system for measuring thickness of thin films with automatic stabilization of measurement accuracy
DE102005008880A1 (de) * 2004-09-09 2006-07-13 Mts Mikrowellen-Technologie Und Sensoren Gmbh Mikrowellensensor zur hochgenauen Niveaumessung in einer Luftfeder
CZ303181B6 (cs) * 2010-07-02 2012-05-16 Ceské vysoké ucení technické v Praze Fakulta elektrotechnická Bezkontaktní mikrovlnný meric malých diferencí tlouštek reflexních vrstev
EP2620741A1 (de) * 2012-01-24 2013-07-31 Johann Hinken Verfahren zum Messen der Dicke einer Beschichtung
US10520302B2 (en) * 2015-10-02 2019-12-31 Honeywell International Inc. Monitoring thickness uniformity

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2491418A (en) * 1946-04-04 1949-12-13 Socony Vacuum Oil Co Inc Automatic inspection device
US2548598A (en) * 1950-02-17 1951-04-10 Gen Electric Apparatus for detection of flaws by means of microwaves
GB1106185A (en) * 1964-05-29 1968-03-13 Nils Bertil Agdur Device for measuring a property of a material
US3401333A (en) * 1965-08-25 1968-09-10 Western Electric Co Coupled-line apparatus for measuring the thickness of thin films
US3710243A (en) * 1971-08-18 1973-01-09 Lockheed Aircraft Corp Microwave gage for monitoring thickness of a conductive workpiece, flaws therein or displacement relative thereto
DE3107675C2 (de) * 1981-02-28 1985-06-20 Elektro-Physik Hans Nix & Dr.-Ing. E. Steingroever KG, 5000 Köln Verfahren und Vorrichtung zur elektronischen Messung der Dicke sehr dünner elektrisch leitfähiger Schichten auf nichtleitendem Trägermaterial
US4571544A (en) * 1983-11-10 1986-02-18 Aluminum Company Of America Microwave examination of semiconductive shields
US4841223A (en) * 1987-06-17 1989-06-20 The Institute Of Paper Chemistry Method and apparatus for measuring fiber orientation anisotropy
FI80542C (fi) * 1988-10-27 1990-06-11 Lk Products Oy Resonatorkonstruktion.
DE3927394A1 (de) * 1989-08-19 1991-02-28 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zur dickenmessung

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10102578A1 (de) * 2001-01-20 2002-08-01 Univ Braunschweig Tech Resonanter Mikrowellensensor
DE10102578C2 (de) * 2001-01-20 2003-01-09 Univ Braunschweig Tech Resonanter Mikrowellensensor
US6798216B2 (en) 2001-01-20 2004-09-28 Technische Universitat Braunschweig Carolb-Wilhelmina Resonant microwave sensor

Also Published As

Publication number Publication date
US5241279A (en) 1993-08-31
FI921371A0 (fi) 1992-03-27
EP0508854A1 (de) 1992-10-14
CA2064372A1 (fr) 1992-09-30
DE69202616D1 (de) 1995-06-29
JPH0599645A (ja) 1993-04-23
JP2592564B2 (ja) 1997-03-19
EP0508854B1 (de) 1995-05-24
FR2674623B1 (fr) 1993-06-04
FI921371A (fi) 1992-09-30
CA2064372C (fr) 1996-05-14
FR2674623A1 (fr) 1992-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69013236T2 (de) Messanordnung für Oberflächen-Widerstand.
DE69202616T2 (de) Gerät zum fortlaufenden und berührungslosen Messen der Dicke einer dünnen, leitenden Schicht auf einem isolierenden Träger, zum Beispiel einer vorbeilaufenden Fiber oder Folie.
DE69115773T2 (de) System zur Lokalisierung von Fehlerstellen in einem elektrischen Leistungskabel mit Hilfe einer Anordnung zum Verlegen von optischen Fasern
EP0082560B1 (de) Anordnung zur Messung der Feuchte
DE3328225A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der beschichtungsdicke
DE2539212A1 (de) Kapazitive laengen- oder dickenmesseinrichtung
DE2410067A1 (de) Verfahren zur beruehrungslosen messung von leitfaehigkeit und/oder temperatur an metallen mittels wirbelstroeme
DE3415610A1 (de) Mikrowellen-feuchtigkeitsfuehler
DE3522401A1 (de) Probenkopf fuer die nmr-tomographie
DE3309089A1 (de) Vorrichtung zum ermitteln der stellung eines beweglichen koerpers, insbesondere bei einem kernkraftreaktor
DE3335766A1 (de) Anordnung zur elektrischen messung von schichtdicken an laufenden baendern
DE2512771A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen messung der breite von laenglichen elementen
DE1911687B2 (de) Verfahren der angewandten Geophysik zur Messung der Verformung eines in den Erdboden eindringenden elektromagnetischen Wechselfeldes sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE19833276A1 (de) Wirbelstromprüfsonde zum Überprüfen von Kanten metallischer Gegenstände
DE2819731C2 (de) Anordnung zur kapazitiven Füllstandsmessung in einem Behälter
DE1673268C3 (de) Sonde für Resonanzspektrometer
EP0942291B1 (de) Vorrichtung zur Messung der Kapazität von elektrischen Adern
DE2939554A1 (de) Feuchteprofil-messanordnung mit mikrowellen
DE2657957C2 (de) Vorrichtung zur Ultraschallprüfung von Werkstücken
DE1448760B2 (de) Anwendung einer Hallplatte zur Feststellung der Auslenkung eines ein Magnetfeld aufweisenden Objektes aus einer Normallage
DE2516619C2 (de) Vorrichtung zum Messen eines elektrischen oder magnetischen Feldes
DE7533531U (de) Teilbare spulenanordnung zur erzeugung eines magnetfeldes in einem laenglichen pruefling
DE2641798B2 (de) Verfahren und Einrichtung zum berührungslosen Ermitteln physikalischer oder geometrischer Eigenschaften
DE10120822C2 (de) Induktiver Wegmessaufnehmer mit linearem Kennlinienverhalten
DE2606504C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen, kontaktlosen Prüfung eines langgestreckten, wenigstens teilweise aus Supraleitermaterial bestehenden Leiters

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee