DE69126694T2

DE69126694T2 - Integrierte Halbleiterschaltung mit ECL-Eingangs- Ausgangspuffern

Info

Publication number: DE69126694T2
Application number: DE69126694T
Authority: DE
Inventors: Kenji Sakaue
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Microelectronics Corp
Current assignee: Toshiba Corp; Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Priority date: 1990-10-26
Filing date: 1991-10-25
Publication date: 1997-11-27
Anticipated expiration: 2011-10-26
Also published as: JP2609756B2; DE69126694D1; KR920008765A; KR950009395B1; EP0482658B1; EP0482658A2; JPH04167619A; US5266845A; EP0482658A3

Description

STAND DER TECHNIK

Die vorliegende Erfindung betrifft eine integrierte Halbleiterschaltung. In PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, Band 9, Nr. 315, (E-365), 11. Dezember 1985, & JP-A-60 148 135 ist eine integrierte Halbleiterschaltung beschrieben, welche einen Eingangspuffer aufweist, eine interne Logikschaltung, sowie einen Ausgangspuffer, die gemeinsam an eine erste externe Stromversorgungsklemme angeschlossen sind. Eine Testschaltung, die mit einer zweiten Stromversorgungsklemme verbunden ist, ist ebenfalls an die interne Logikschaltung angeschlossen. In dem normalen Betriebszustand der integrierten Schaltung wird Strom nur der ersten externen Klemme zugeführt, so daß die Testschaltung außer Betrieb gesetzt ist.
Die US-A-4 586 242 beschreibt eine integrierte Halbleiterschaltung, die einen stärker integrierten Schaltungschip aufweist, bei welchem ein Chipschaltungsabschnitt einen Teil bildet. Der Chipabschnitt weist eine erste Anzahl erster Verbindungsanschlußflächen auf, die jeweils getrennt an einen Puffer einer ersten Art angeschlossen sind, der mit einer ersten Versorgungsspannung arbeitet. Der größere Chip - abgesehen von dem Chipabschnitt - weist eine zweite Anzahl zweiter Verbindungsanschlußflächen auf, die jeweils getrennt an einen Puffer einer zweiten Art angeschlossen sind, der mit einer zweiten Spannung arbeitet, die sich von der ersten Spannung unterscheidet. Jeder Puffer der zweiten Art ist getrennt an eine getrennte, entsprechende erste Verbindungsanschlußfläche angeschlossen. Der Chipabschnitt kann erste elektrische Operationen in Reaktion auf erste Signale durchführen, die an die ersten Verbindungsanschlußflächen angelegt werden, und kann zweite Operationen in Reaktion auf zweite Signale durchführen, welche an die zweiten Verbindungsanschlußflächen angelegt werden. Nachdem zumindest eine der zweiten Operationen dadurch durchgeführt wurde, daß die zweiten Signale an die zweiten Verbindungsanschlußflächen angelegt wurden, wird zumindest einer der Puffer der zweiten Art von seiner entsprechenden ersten Anschlußfläche abgetrennt, durch körperliches Durchschneiden des entsprechenden, elektrisch leitfähigen Pfades. Sämtliche Puffer der zweiten Art können von sämtlichen entsprechenden ersten Anschlußflächen abgetrennt werden, und der Chipabschnitt kann vollständig von dem größeren Chip mit Ausnahme des Chipabschnitts abgetrennt werden. Die erste Operation stellt den Normalbetrieb dar, wogegen die zweite Operation eine Testoperation für die integrierte Schaltung ist.
Zur Erleichterung des Verständnisses der vorliegenden Erfindung wird deren technischer Hintergrund nachstehend kurz erläutert.

HINTERGRUND DER ERFINDUNG

Die Erfindung betrifft eine integrierte Halbleiterschaltung, die mit Eingangs-/Ausgangspuffern in Emitter gekoppelter Logik (nachstehend als ECL bezeichnet) versehen ist, und betrifft insbesondere eine integrierte Halbleiterschaltung, die mit ECL- Eingangs-/Ausgangspuffern versehen ist, welche den Stromverbrauch verringern können.
Im allgemeinen werden bei der Eingabe eines Eingangssignals des ECL-Pegels von außen in ein Gerät wie beispielsweise ein SRAM oder eine CPU usw., und zur Ausgabe eines Ausgangssignals des ECL-Pegels von dem voranstehend erwähnten Gerät nach außen ein ECL-Eingangspuffer bzw. ein ECL-Ausgangspuffer verwendet.
Ein derartiger ECL-Eingangspuffer bzw. ECL-Ausgangspuffer sind in Figur 1 bzw. 2 dargestellt. Der in Figur 1 gezeigte ECL- Eingangspuffer dient dazu, ein Eingangssignal auf dem ECL-Pegel in ein Ausgangssignal auf dem CMOS-Pegel umzuwandeln. Dieser ECL-Eingangspuffer weist eine CMOS-Schaltung auf, die aus Dioden 3a und 3b besteht, eine Widerstand 3c, Transistoren 4a, 4b, 4c, 5a, 5b und 5c, einem Transistor 6a, Widerständen 6b und 6c, und Transistoren 7a und 7b, sowie eine CMOS-Schaltung, die aus Transistoren 8a und 8b besteht, und wird von einer ersten Stromversorgung (beispielsweise einer Stromversorgungsspannung von 0 Volt) getrieben, die an die Klemme 1 angeschlossen ist, sowie von einer zweiten Stromversorgung (beispielsweise einer Stromversorgungsspannung von -5,0 Volt), die an die Klemme 2 angeschlossen ist.
Andererseits dient der in Figur 2 gezeigte ECL-Ausgangspuffer zur Umwandlung eines Eingangssignals des CMOS-Pegels in ein Ausgangssignal des ECL-Pegels. Dieser ECL-Ausgangspuffer weist Transistoren 13a, 13b und 13d auf, Widerstände 13c und 15a, Transistoren 14a, 14b, 15b und 16a, einen Widerstand 16b, sowie Dioden 17a und 17b, und wird durch eine erste Stromversorgung getrieben, die an die Klemme 11 angeschlossen ist, sowie durch eine zweite Stromversorgung, die an die Klemme 12 angeschlossen ist. Zusätzlich zu dem Eingangs-/Ausgangspuffer der voranstehend geschilderten Art ist ein ECL- Eingangs-/Ausgangspuffer jener Art bekannt, welcher ein Eingangssignal auf dem ECL-Pegel empfängt, um ein Ausgangssignal auf dem ECL-Pegel auszugeben. Weiterhin ist ein ECL-Eingangs-/Ausgangspuffer jener Art bekannt, der durch eine Anzahl m (≥ 2) von Stromversorgungen getrieben wird.
Eine konventionelle integrierte Halbleiterschaltung, welche einen derartigen ECL-Eingangs-/Ausgangspuffer aufweist, ist in Figur 3 gezeigt. Diese integrierte Halbleiterschaltung ist auf dem Chip 20 einer hochintegrierten Schaltung (LSI) vorgesehen. Diese integrierte Halbleiterschaltung weist ECL-Eingangspuffer 21&sub1;, ..., 21n auf, die verwendet werden, wenn sich die Schaltung nach Einbau in das System in einem normalen Betriebszustand befindet, ECL-Ausgangspuffer 22&sub1;, ..., 22n, die verwendet werden, wenn sich die Schaltung entsprechend in dem üblichen Betriebszustand befindet, nachdem sie in das System eingebaut wurde, Test-ECL-Eingangspuffer 23&sub1;, ..., 23n, die nur dann verwendet werden, wenn die Schaltung in das System eingebaut wird und getestet wird, sowie Test-ECL-Ausgangspuffer 24&sub1;, ..., 24n, die nur dann verwendet werden, wenn die Schaltung in das System eingebaut wird, und entsprechend getestet wird. Im Betrieb wird die Eingangspufferschaltung 21i (i = 1, ..., n) von einer ersten Stromversorgungsspannung getrieben, die durch eine Stromversorgungsanschlußfläche 25a geliefert wird, sowie durch eine zweite Stromversorgungsspannung, die über eine Stromversorgungsanschlußfläche 25b geliefert wird, um eine Pegelumwandlung oder eine Signalformung bei einem Eingangssignal auf dem ECL-Pegel durchzuführen, welches über eine Anschlußfläche 26i (i = 1, ..., n) eingegeben wird, wenn die Schaltung sich im normalen Betriebszustand befindet, nach dem Zusammenbau, um es an ein Gerät (beispielsweise eine CPU usw.) 27 zu schicken, welches in dem Kernabschnitt vorgesehen ist. Weiterhin wird die Ausgangspufferschaltung 22i (i = 1, ..., n) durch eine erste Stromversorgungsspannung getrieben, die über eine Stromversorgungsanschlußfläche 28a geliefert wird, sowie durch eine zweite Stromversorgungsspannung, die über eine Stromversorgungsanschlußfläche 28b geliefert wird, um eine Pegelumwandlung bei einem Signal durchzuführen, welches von dem Gerät geschickt wird, wenn sich die Schaltung nach dem Zusammenbau in dem Betriebszustand befindet, um ein Ausgangssignal auf dem ECL-Pegel zur Verfügung zu stellen, und dieses nach außen über eine Stromversorgungsanschlußfläche 29i auszugeben.
Andererseits wird die Testeingangspufferschaltung 23i (i = 1, ..., n) durch eine erste Stromversorgungsspannung getrieben, die über eine Stromversorgungsanschlußfläche 30a geliefert wird, sowie durch eine zweite Stromversorgungsspannung, die über eine Stromversorgungsanschlußfläche 30b geliefert wird, um eine Pegelumwandlung oder eine Signalformung bei einem Eingangssignal des ECL-Pegels durchzuführen, welches über eine Stromversorgungsanschlußfläche 31i (i = 1, ..., n) eingegeben wird, um es an das Gerät 27 zu schicken. Weiterhin wird eine Testausgangspufferschaltung 24i (i = 1, ..., n) über eine erste Stromversorgungsspannung getrieben, die über eine Stromversorgungsanschlußfläche 32a geliefert wird, sowie durch eine zweite Stromversorgungsspannung, die über eine Stromversorgungsanschlußfläche 32b geliefert wird, um eine Pegelumwandlung bei einem Signal durchzuführen, welches von dem Gerät 27 ausgegeben wird, wenn die Schaltung getestet wird, um ein Ausgangssignal auf dem ECL-Pegel zur Verfügung zu stellen, und dieses nach außen über eine Stromversorgungsanschlußfläche 33i (i = 1, ..., n) auszugeben. Jeweilige Anschlußklemmen, an welche die ersten Stromversorgungsspannungen angelegt werden, der Eingangspuffer 21&sub1;, ..., 21n, der Ausgangspuffer 22&sub1;, ..., 22n, der Testeingangspuffer 23&sub1;, ..., 23n und der Testausgangspuffer 24&sub1;, ..., 24n sind gemeinsam an eine Stromversorgungsleitung 34a angeschlossen, und jeweilige Anschlußklemmen, an welche die zweiten Stromversorgungsspannungen angelegt werden, der voranstehend erwähnten Puffer sind gemeinsam an eine Stromversorgungsleitung 34b angeschlossen.
Wie aus den Figuren 1 und 2 hervorgeht, ist die ECL- Eingangs-/Ausgangspufferschaltung so aufgebaut, daß in ihr so lange ein Strom fließt, wie an sie irgendeine Treiberspannung angelegt wird. Bei der konventionellen integrierten Halbleiterschaltung, die mit den Test-ECL- Eingangs-/Ausgangspuffern versehen ist, trat daher die Schwierigkeit auf, daß selbst dann, nachdem eine derartige integrierte Halbleiterschaltung in das System eingebaut wurde, in den Test-ECL-Eingangs-/Ausgangspuffern Strom fließt, so daß unnötig Strom verbraucht wird.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Die vorliegende Erfindung wurde angesichts der voranstehend geschilderten Schwierigkeiten entwickelt, und ihr Ziel besteht in der Bereitstellung einer integrierten Halbleiterschaltung, deren Stromverbrauch so klein wie möglich ist.
Eine integrierte Halbleiterschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung weist die im unabhängigen Patentanspruch 1 aufgeführten Merkmale auf. Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung sind in den abhängigen Patentansprüchen 2 bis 8 angegeben.
Bei der so aufgebauten integrierten Halbleiterschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung werden nur dann, wenn die Schaltung in das System eingebaut wird, und getestet wird, die Test-ECL- Eingangspufferschaltung und die Test-ECL- Ausgangspufferschaltung durch normale Stromversorgungsspannungen getrieben. Wenn sich die Schaltung in dem normalen Benutzungszustand befindet, nachdem sie in das System eingebaut wurde, ist die Anzahl m an Treiberspannungen zum Treiben der Test-ECL-Eingangs-/Ausgangspuffer gleich. Daher fließt kein Strom in der Test-ECL-Eingangspufferschaltung und der Test-ECL-Ausgangspufferschaltung. Dies führt dazu, daß ein nutzloser Stromverbrauch verhindert werden kann, verglichen mit der konventionellen integrierten Halbleiterschaltung. Daher kann der Stromverbrauch so klein wie möglich sein.
Daher kann gemäß der vorliegenden Erfindung eine Erhöhung des Stromverbrauchs verhindert werden.

KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

In den beigefügten Zeichnungen zeigt:
Fig. 1 ein Schaltbild des Aufbaus eines Eingangspuffers, der in integrierten Halbleiterschaltungen nach dem Stand der Technik und gemäß der vorliegenden Erfindung vorgesehen ist;
Fig. 2 ein Schaltbild des Aufbaus eines Ausgangspuffers, der in integrierten Halbleiterschaltungen nach dem Stand der Technik und gemäß der vorliegenden Erfindung vorgesehen ist;
Fig. 3 ein Schaltbild des grundsätzlichen Aufbaus einer konventionellen integrierten Halbleiterschaltung, die mit Eingangs-/Ausgangspuffern versehen ist;
Fig. 4 ein Schaltbild des grundsätzlichen Aufbaus einer integrierten Halbleiterschaltung, die mit Eingangs- /Ausgangspuffern gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung versehen ist; und
Fig. 5 ein Schaltbild des grundsätzlichen Aufbaus einer integrierten Halbleiterschaltung, die mit Eingangs- /Ausgangspuffern gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung versehen ist.

DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN

Bevorzugte Ausführungsformen einer integrierten Halbleiterschaltung, die mit Eingangs-/Ausgangspuffern gemäß der vorliegenden Erfindung versehen ist, werden nachstehend unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen geschildert.
Eine erste Ausführungsform einer integrierten Halbleiterschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung ist in Figur 4 dargestellt. Die integrierte Halbleiterschaltung gemäß dieser Ausführungsform ist auf einem LSI-Chip 40 vorgesehen. Diese integrierte Halbleiterschaltung weist ECL-Eingangspuffer 21&sub1;, ..., 21n auf, die verwendet werden, wenn sich die Schaltung in einem normalen Betriebszustand befindet, nachdem sie in das System eingebaut wurde, ECL-Ausgangspuffer 22&sub1;, ..., 22n, die verwendet werden, wenn sich die Schaltung entsprechend in dem normalen Betriebszustand befindet, nachdem sie in das System eingebaut wurde, Test-ECL-Eingangspuffer 23&sub1;, ..., 23n die nur dann verwendet werden, wenn die Schaltung in das System eingebaut wird und getestet wird, sowie Test-ECL-Ausgangspuffer 24&sub1;, ..., 24n, die nur dann verwendet werden, wenn die Schaltung in das System eingebaut wird, und entsprechend getestet wird. Diese integrierte Halbleiterschaltung unterscheidet sich von der konventionellen integrierten Halbleiterschaltung darin, daß Treiberspannungsversorgungsleitungen, durch welche Treiberspannungen zum Treiben der ECL-Eingangspuffer 21&sub1;, ..., 21n, der ECL-Ausgangspuffer 22&sub1;, ..., 22n, der Test-Eingangs- ECL-Puffer 23&sub1;, ..., 23n und der Test-ECL-Ausgangspuffer 24&sub1;, ..., 24n geliefert werden, jeweils getrennt auf dem LSI-Chip 40 vorgesehen sind. Es werden nämlich erste und zweite Treiberspannung zum Treiben der ECL-Eingangspuffer 21&sub1;, ..., 21n an die ECL-Eingangspuffer 21&sub1;, ..., 21n jeweils über eine Stromversorgungsanschlußfläche 25a und eine erste Treiberspannungsversorgungsleitung 41a geliefert, und eine Stromversorgungsanschlußfläche 25b und eine zweite Treiberspannungsversorgungsleitung 41b, um die ECL- Eingangspuffer 21&sub1;, ..., 21n zu treiben. Weiterhin werden erste und zweite Treiberspannungen an die ECL-Ausgangspuffer 22&sub1;, ..., 22n jeweils über eine Stromversorgungsanschlußfläche 28a und eine dritte Treiberspannungsversorgungsleitung 42a geliefert, sowie über eine Stromversorgungsanschlußfläche 28b und eine vierte Treiberspannungsversorgungsleitung 42b. Andererseits werden zwei Treiberspannungen zum Treiben der Test-ECL-Eingangspuffer 23&sub1;, ..., 23n an die Test-ECL- Eingangspuffer 23&sub1;, ..., 23n jeweils über eine Stromversorgungsanschlußfläche 30a und eine fünfte Treiberspannungsversorgungsleitung 43a geliefert, und über eine Stromversorgungsanschlußfläche 30b und eine sechste Treiberspannungsversorgungsleitung 43b, und es werden zwei Treiberspannungen zum Treiben der Test-ECL-Ausgangspuffer 24&sub1;, ..., 24n an die Test-ECL-Ausgangspuffer 24&sub1;, ..., 24n jeweils über eine Stromversorgungsanschlußfläche 32a und eine siebte Treiberspannungsversorgungsleitung 44a geliefert, bzw. über eine Stromversorgungsanschlußfläche 32b und eine achte Treiberspannungsversorgungsleitung 44b. Weiterhin sind die jeweiligen ersten bis achten Treiberspannungsversorgungsleitungen 41a, 41b, 42a, 42b, 43a, 43b, 44a und 44b getrennt auf dem LSI-Chip 40 vorgesehen.
Bei der integrierten Halbleiterschaltung gemäß der ersten Ausführungsform ist die Drahtverbindung so durchgeführt, daß nur dann, wenn diese integrierte Halbleiterschaltung in das System eingebaut wird, und getestet wird, die erste 32a geliefert wird, und die zweite Treiberspannung an die Stromversorgungsanschlußflächen 30b und 32b geliefert wird, und dann, wenn sich die integrierte Halbleiterschaltung im normalen Benutzungszustand befindet, nachdem sie in das System eingebaut wurde, die erste Treiberspannung an die Stromversorgungsanschlußflächen 25a und 28a geliefert wird, und die zweite Treiberspannung an die Stromversorgungsanschlußflächen 25b, 28b, 30a, 30b, 32a und 32b geliefert wird. Durch eine derartige Ausführung der Drahtverbindungsanschlüsse sind dann, wenn sich die integrierte Halbleiterschaltung in einem Betriebszustand abgesehen vom Testzustand befindet (nachdem sie zusammengebaut wurde), zwei Spannungen zum Treiben der Test-ECL-Eingangspuffer 23&sub1;, ..., 23n und der Test-ECL-Ausgangspuffer 24&sub1;, ..., 24n einander gleich. Dies führt dazu, daß kein Strom in den Test-ECL- Eingangspuffern 23&sub1;, ..., 23n und den Test-ECL-Ausgangspuffern 24&sub1;, ..., 24n fließt. Daher kann ein nutzloser Stromverbrauch verringert werden. Es wird darauf hingewiesen, daß bei der voranstehend geschilderten Ausführungsform Anschlußflächen 31&sub1;, ..., 31n sowie Anschlußflächen 33&sub1;, ..., 33n keine Drahtverbindung in Bezug auf die externen Anschlußflächen haben, so daß daher die Anschlußflächen 31&sub1;, ..., 31n auf unbestimmtem Potential liegen, und die Anschlußflächen 33&sub1;, ..., 33n in einen offenen Zustand versetzt werden.
Eine zweite Ausführungsform einer integrierten Halbleiterschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung ist in Figur 5 dargestellt. Die integrierte Halbleiterschaltung gemäß dieser Ausführungsform wird nachstehend erläutert. Bei der konventionellen integrierten Halbleiterschaltung gemäß Figur 3 ist die Treiberspannungsversorgungsleitung 34a zum Liefern der ersten Treiberspannung an den normalen ECL-Eingangspuffer 21i (i = 1, ..., n), den normalen ECL-Ausgangspuffer 22i (i = 1, ..., n), den Test-ECL-Eingangspuffer 23i (i = 1, ..., n) und ..., n), den Test-ECL-Eingangspuffer 23i (i = 1, ..., n) und den Test-ECL-Ausgangspuffer 24i (i = 1, ..., n) getrennt auf dem Chip 50 vorgesehen, um eine erste Gruppe von Treiberspannungsversorgungsleitungen 41a, 42a, 43a und 44a zur Verfügung zu stellen. Daher wird bei der vorliegenden Ausführungsform eine derartige Anordnung getroffen, daß diese erste Gruppe von Treiberspannungsversorgungsleitungen 41a, 42a, 43a und 44a jeweils denen gemäß der ersten Ausführungsform entspricht, und die andere Treiberspannungsversorgungsleitung 34b jener des Stands der Technik gemäß Figur 3 entspricht. Wenn diese integrierte Halbleiterschaltung getestet wird, wird die erste Treiberspannung an die Stromversorgungsanschlußflächen 30a und 32a angelegt, und wird die zweite Treiberspannung an die Stromversorgungsanschlußflächen 30b und 32b angelegt, so daß jeweilige Spannungen über die Spannungsversorgungsleitungen 43a und 34b geliefert werden. Dies führt dazu, daß der Test- ECL-Eingangspuffer 23i (i = 1, ..., n) und der Test-ECL- Ausgangspuffer 24i (i = 1, ..., n) betriebsfähig werden. Auf diese Weise wird ein Signal auf dem ECL-Pegel, welches von außen über die Anschlußfläche 31i geliefert wird, an das Gerät 27 (beispielsweise eine CPU und dergleichen) geschickt, welches auf dem Kernabschnitt vorgesehen ist, über den ECL- Eingangspuffer 32i. Weiterhin wird ein Signal von dem voranstehend erwähnten Gerät 27 in ein Signal auf dem ECL-Pegel umgewandelt, durch den ECL-Ausgangspuffer 24i über die Treiberspannungsversorgungsleitungen 34b und 44a, und wird nach außen über die Anschlußfläche 33i ausgegeben. Auf diese Weise wird der Test der integrierten Halbleiterschaltung durchgeführt.
Weiterhin ist die Drahtverbindung so ausgeführt, daß dann, wenn sich diese integrierte Halbleiterschaltung im normalen Benutzungszustand befindet, also nach dem Einbau in das System, die erste Stromversorgungsspannung an die Stromversorgungsanschlußflächen 25a und 28a angelegt wird, und die zweite Stromversorgungsspannung an die Stromversorgungsanschlußflächen 25b, 28b, 30a, 30b, 32a und 32b angelegt wird. Durch eine derartige Ausführung der Drahtverbindungen wird, nachdem die integrierte Halbleiterschaltung in das System eingebaut wurde, die Treiberspannung über die Treiberspannungsversorgungsleitungen 41a und 42a und die Treiberspannungsversorgungsleitung 34b geliefert. Daher fließt kein Strom in der Test-ECL- Eingangspuffer 23i (i = 1, ..., n) sowie der Test-ECL- Ausgangspuffer 24i (i = 1, ..., n). Dies führt dazu, daß ein nutzloser Stromverbrauch verringert werden kann. Daher kann eine Erhöhung des Stromverbrauchs in höherem Ausmaß verringert werden als bei der konventionellen integrierten Halbleiterschaltung.
Es wird darauf hingewiesen, daß zwar in Bezug auf die voranstehend geschilderten Ausführungsformen beschrieben wurde, daß die Anzahl an Stromversorgungen für die normalen Eingangs-/Ausgangspuffer und die Test-Eingangs-/Ausgangspuffer gleich 2 ist, jedoch die nachstehend geschilderte Vorgehensweise eingesetzt werden kann, wenn die Anzahl an Treiber-Stromversorgungen gleich m (≥ 2) ist:
a) Anschluß einer unter einer Anzahl m von Test- Treiberspannungsversorgungsleitungen zum Liefern von Treiberspannungen an Test-ECL-Eingangspuffer gemeinsam an eine entsprechende einer Anzahl m üblicher Treiberspannungsversorgungsleitungen zum Liefern von Treiberspannungen an die üblichen ECL-Eingangspuffer, oder Bereitstellung von Test-Treiberspannungsversorgungsleitungen unabhängig von den normalen Treiberspannungsversorgungsleitungen, und
b) Anschluß einer unter einer Anzahl m von Test- Treiberspannungsversorgungsleitungen zum Liefern von Treiberspannungen an Test-ECL-Ausgangspuffer gemeinsam an eine entsprechende einer Anzahl m üblicher Treiberspannungsversorgungsleitungen zum Liefern von Treiberspannungen an die normalen ECL-Ausgangspuffer, oder Bereitstellung von Test-Treiberspannungsversorgungsleitungen unabhängig von den normalen Treiberspannungsversorgungsleitungen. Wenn sich die integrierte Halbleiterschaltung im normalen Benutzungszustand nach dem Einbau in das System befindet, wird darüber hinaus eine solche Vorgehensweise verwendet, daß dieselben Spannungen an die Test- Treiberspannungsversorgungsleitungen zum Liefern von Treiberspannungen an die Test-ECL-Eingangspuffer bzw. die Test- ECL-Ausgangspuffer geschickt werden. Selbstverständlich können auch dann, wenn diese Vorgehensweise eingesetzt wird, Effekte und/oder Vorteile erzielt werden, die jenen bei den voranstehend geschilderten Ausführungsformen gleichen.
Bezugszeichen in den Patentansprüchen sollen zur Erleichterung des Verständnisses dienen, und nicht den Schutzumfang einschränken.

Claims

1. Integrierte Halbleiterschaltung (40, 50), welche aufweist:

mehrere ECL-Eingangspuffer (21&sub1;-21n) zur Eingabe eines Signals auf den ECL-Pegel von außen, welche erste und zweite Treiberspannungsversorgungsleitungen (41a, 41b) aufweisen;

mehrere ECL-Ausgangspuffer (22&sub1;-22n) zur Ausgabe eines Signals auf den ECL-Pegel nach außen, welche dritte und vierte Treiberspannungsversorgungsleitungen (42a, 42b) aufweisen;

mehrere Test-ECL-Eingangspuffer (23&sub1;-23n) zur Eingabe eines Testsignals auf dem ECL-Pegel von außen, wenn die integrierte Halbleiterschaltung zusammengebaut wird, welche fünfte und sechste Treiberspannungsversorgungsleitungen (43a, 43b) aufweisen;

mehrere Test-ECL-Ausgangspuffer (24&sub1;-24n) zur Ausgabe eines Testsignals auf dem ECL-Pegel nach außen, wenn die integrierte Halbleiterschaltung (40, 50) zusammengebaut wird, welche siebte und achte Treiberspannungsversorgungsleitungen (44a, 44b) aufweisen;

mehrere Stromversorgungen zum Liefern einer ersten Treiberspannung und einer zweiten Treiberspannung an die Puffer, um diese zu treiben;

wobei in einem normalen Benutzungszustand nach dem Zusammenbau der integrierten Halbleiterschaltung (40, 50) die erste Treiberspannung an die ersten und dritten Treiberspannungsversorgungsleitungen (41a, 42a) geliefert wird, und die zweite Treiberspannung an die zweiten, vierten, fünften, sechsten, siebten und achten Treiberspannungsversorgungsleitungen (41b, 42b, 43a, 43b, 44a, 44b) durch ausgeführte Drahtverbindungen geliefert wird;

wogegen dann, wenn die integrierten Halbleiterschaltung (40, 50) zusammengebaut und getestet wird, die erste Treiberspannung an die fünften und siebten Treiberspannungsversorgungsleitungen (43a, 44a) geliefert wird, und die zweite Treiberspannung an die sechsten und achten Treiberspannungsversorgungsleitungen (43b, 44b) geliefert wird.

2. Integrierte Halbleiterschaltung (50) nach Anspruch 1, bei welcher die zweiten, vierten, sechsten und achten Treiberspannungsversorgungsleitungen eine gemeinsame Treiberspannungsversorgungsleitung (34b) bilden.

3. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, bei welcher entweder die fünfte oder die sechste Treiberspannungsversorgungsleitung gemeinsam mit einer entsprechenden unter den ersten und zweiten Treiberspannungsversorgungsleitungen ausgeführt ist.

4. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, bei welcher entweder die siebte oder die achte Treiberspannungsversorgungsleitung gemeinsam mit einer entsprechenden unter den dritten und vierten Treiberspannungsversorgungsleitungen ausgeführt ist.

5. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, bei welcher die fünften und sechsten Treiberspannungsversorgungsleitungen (43a, 43b) getrennt auf einer hochintegrierten Schaltung (40) unabhängig von den ersten und zweiten Treiberspannungsversorgungsleitungen (41a, 41b) vorgesehen sind.

6. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, bei welcher die siebten und achten Treiberspannungsversorgungsleitungen (44a, 44b) getrennt auf einer hochintegrierten Schaltung (40) unabhängig von den dritten und vierten Treiberspannungsversorgungsleitungen (42a, 42b) vorgesehen sind.

7. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, bei welcher die mehreren Stromversorgungen zwei Stromversorgungen zum Treiben der ECL-Eingangspuffer (21&sub1;- 21n) und der Test-ECL-Eingangspuffer (23&sub1;-23n) umfassen, und bei welcher die mehreren Stromversorgungen weiterhin zwei Stromversorgungen zum Treiben der ECL-Ausgangspuffer (22&sub1;-22n) und der Test-ECL-Ausgangspuffer (24&sub1;-24n) umfassen.

8. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, bei welcher die ECL-Eingangspuffer (21&sub1;-21n) und/oder die Test-ECL-Eingangspuffer (23&sub1;-23n) eine logische Operation mit dem Signal auf dem ECL-Pegel durchführen, welches in sie eingegeben wird, um auf diese Weise ein Signal auf dem CMOS-Pegel auszugeben, und bei welcher die ECL- Ausgangspuffer (22&sub1;-22n) und/oder die Test-ECL- Ausgangspuffer (24&sub1;-24n) eine logische Operation bei einem Signal auf dem CMOS-Pegel durchführen, welches in sie eingegeben wird, um auf diese Weise das Signal auf dem ECL-Pegel auszugeben.