DE68905965D1 - Verfahren und anordnung zur optischen messung von elektrischen und magnetischen groessen. - Google Patents

Verfahren und anordnung zur optischen messung von elektrischen und magnetischen groessen.

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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0670653B2 (ja) * 1989-03-31 1994-09-07 日本碍子株式会社 光温度・電気量測定装置
GB2261503A (en) * 1991-10-08 1993-05-19 Novacare Products Limited Monitoring a parameter of a magnetic or electromagnetic field
US5280173A (en) * 1992-01-31 1994-01-18 Brown University Research Foundation Electric and electromagnetic field sensing system including an optical transducer
US5889609A (en) * 1992-07-31 1999-03-30 Fujitsu Limited Optical attenuator
US5451863A (en) * 1992-10-30 1995-09-19 International Business Machines Corporation Fiber optic probe with a magneto-optic film on an end surface for detecting a current in an integrated circuit
US5596447A (en) * 1993-01-25 1997-01-21 Tokin Corporation Magnetooptical element
US5461307A (en) * 1994-03-03 1995-10-24 General Electric Company Electro-optical current sensing system and method for sensing and avoiding thermally induced measurement error therein
US6084396A (en) * 1994-03-31 2000-07-04 Intel Corporation Method for performing quantitative measurement of DC and AC current flow in integrated circuit interconnects by the measurement of magnetic fields with a magneto optic laser probe
DE4436181A1 (de) * 1994-10-10 1996-04-11 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zum Messen einer elektrischen Wechselgröße mit Temperaturkompensation durch Fitting
DE19517128A1 (de) * 1995-05-10 1996-11-14 Siemens Ag Verfahren und Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit Off-set-Faraday-Rotation zur Temperaturkompensation
JP3667827B2 (ja) * 1995-08-29 2005-07-06 富士通株式会社 ファラデー回転子
JP3739471B2 (ja) 1996-03-01 2006-01-25 富士通株式会社 光可変減衰器
DE19634251A1 (de) * 1996-08-26 1998-03-05 Abb Patent Gmbh Spannungswandler
JP3773601B2 (ja) * 1996-09-18 2006-05-10 富士通株式会社 ファラデー回転子
JPH10161076A (ja) * 1996-11-29 1998-06-19 Fujitsu Ltd 磁気光学効果を利用した光デバイス
DE29707379U1 (de) * 1997-04-24 1997-06-19 PMK Mess- und Kommunikationstechnik GmbH, 63150 Heusenstamm Gerät zur Messung von Hochspannung an Hochspannungsleitungen
US6441955B1 (en) 1998-02-27 2002-08-27 Fujitsu Limited Light wavelength-multiplexing systems
US6496300B2 (en) 1998-02-27 2002-12-17 Fujitsu Limited Optical amplifier
JP2002528707A (ja) 1998-10-21 2002-09-03 ジー． ダンカン，ポール 希土類鉄ガーネットを用いて光の波面の偏光回転を光学的に測定するための装置および方法
JP2004093257A (ja) * 2002-08-30 2004-03-25 Oki Electric Ind Co Ltd 光センサユニット
JP4585740B2 (ja) * 2002-09-13 2010-11-24 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ 磁気記録再生装置
FR2856791B1 (fr) * 2003-06-27 2005-11-04 Centre Nat Rech Scient Procede et dispositif d'imagerie magneto-optique
CN103149404B (zh) * 2013-02-28 2015-05-20 哈尔滨工业大学 外卡式光学电流互感器及其抗外磁场干扰方法和温漂抑制方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2812188A1 (de) * 1978-03-20 1979-09-27 Siemens Ag Verfahren zur magnetooptischen strommessung
JPH0237545B2 (ja) * 1981-12-08 1990-08-24 Sumitomo Electric Industries Hikarinyorudenkai*jikaisokuteiki
JPS5950369A (ja) * 1982-09-14 1984-03-23 Yokogawa Hokushin Electric Corp 電気量測定装置

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Publication number Publication date
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EP0351171B1 (de) 1993-04-14
EP0351171A2 (de) 1990-01-17
JPH0670651B2 (ja) 1994-09-07
JPH0221272A (ja) 1990-01-24
DE68905965T2 (de) 1993-10-07
EP0351171A3 (en) 1990-08-16

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