DE19517128A1 - Verfahren und Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit Off-set-Faraday-Rotation zur Temperaturkompensation - Google Patents
Verfahren und Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit Off-set-Faraday-Rotation zur TemperaturkompensationInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zum
Messen eines magnetischen Wechselfeldes. Unter einem magneti
schen Wechselfeld wird dabei ein Magnetfeld verstanden, das
in seinem Frequenzspektrum nur von Null verschiedene Fre
quenzanteile aufweist.
Es sind optische Meßverfahren und Meßanordnungen zum Messen
eines Magnetfeldes bekannt, bei denen der magnetooptische
Faraday-Effekt ausgenutzt wird. Unter dem Faraday-Effekt ver
steht man die Drehung der Polarisationsebene von linear pola
risiertem Licht in Abhängigkeit von dem Magnetfeld. Der Dreh
winkel ist dabei proportional zum Wegintegral über dem Ma
gnetfeld entlang des von dem Licht zurückgelegten Weges mit
der Verdet-Konstanten als Proportionalitätskonstanten. Die
Verdet-Konstante ist abhängig von dem Material, in dem das
Licht verläuft, von der Temperatur in diesem Material und von
der Wellenlänge des Lichts. In dem zu messenden Magnetfeld
wird eine den Faraday-Effekt zeigende Sensoreinrichtung ange
ordnet, die aus einem optisch transparenten Material und im
allgemeinen aus Glas besteht und mit einem oder mehreren, ei
nen Lichtpfad bildenden massiven Körpern oder auch mit einem
Lichtwellenleiter gebildet sein kann. Durch die Sensorein
richtung wird linear polarisiertes Licht geschickt. Die vom
Magnetfeld bewirkte Drehung der Polarisationsebene des Lich
tes in der Sensoreinrichtung wird als Maß für die Stärke des
Magnetfeldes ausgewertet.
Diese bekannten Meßverfahren und Meßvorrichtungen können auch
zum Messen elektrischer Ströme eingesetzt werden, indem die
Faraday-Sensoreinrichtung in der Nähe des den elektrischen
Strom führenden Stromleiters und damit im magnetischen Induk
tionsfeld des Stromes angeordnet wird. Im allgemeinen umgibt
die Sensoreinrichtung den Stromleiter, so daß das polari
sierte Licht den Stromleiter in einem quasi geschlossenen Weg
umläuft. In diesem Fall ist der Betrag des Polarisationsdreh
winkel s in guter Näherung direkt proportional zur Amplitude
des Meßstromes.
In einer aus Journal of Lightwave Technology, Vol. 7, No. 12,
December 1989, Seiten 2084 bis 2094 bekannten Meßvorrichtung
zum Messen eines elektrischen Stromes ist die Faraday-Sensor
einrichtung mit einer optischen Monomode-Faser gebildet, die
den Stromleiter in Form einer Spule umgibt. Das an einem
ersten Ende der Faser eingekoppelte polarisierte Meßlicht
umläuft den Stromleiter daher bei einem Durchlauf N-mal, wenn
N die Anzahl der Windungen der Meßspule ist. Beim sogenannten
Transmissionstyp durchläuft das Meßlicht die Faserspule nur
einmal und wird am zweiten Ende der Faser wieder ausgekop
pelt. Beim sogenannten Reflexionstyp ist dagegen am zweiten
Ende der Faser ein Spiegel vorgesehen, so daß das Meßlicht
nach einem ersten Durchlauf die Meßspule ein zweites Mal in
umgekehrter Richtung durchläuft und am ersten Ende der Faser
ausgekoppelt wird. Wegen der Nicht-Reziprokität des Faraday-
Effekts ist der Drehwinkel beim Reflexionstyp bei gleicher
Meßwicklung doppelt so groß wie beim Transmissionstyp. Eine
reziproke zirkulare Doppelbrechung (optische Aktivität) in
der Faser wird dagegen beim Reflexionstyp kompensiert. In
einer besonderen Ausführung des Reflexionstyps ist zwischen
dem zweiten Ende der Faser und dem Spiegel ein im Magnetfeld
eines Permanentmagneten angeordnet er Faraday-Rotator angeord
net, der das Meßlicht bei jedem Durchlauf um einen festen
Drehwinkel von 45° dreht ("orthoconjugate reflector"). Das
aus dem ersten Ende der Faser ausgekoppelte Meßlicht wird mit
einem polarisierenden Strahlteiler in zwei senkrecht zueinan
der polarisierte Lichtteilsignale aufgespalten. Diese beiden
Lichtteilsignale werden von jeweils einem Photodetektor in
jeweils ein elektrisches Intensitätssignal I1 bzw. I2 umge
wandelt, das der Intensität des zugehörigen Lichtsignals ent
spricht. Aus den beiden Intensitätssignalen I1 und I2 wird
der Quotient (I1-I2)/(I1+I2) als Meßsignal für den Strom ge
bildet. Dieses Meßsignal ist unabhängig von Intensitäts
schwankungen der Lichtquelle oder Dämpfungen in den optischen
Zuleitungen.
Ein Problem bei den genannten optischen Meßverfahren und Meß
vorrichtungen zur Magnetfeld- oder Strommessung stellen Tem
peratureinflüsse dar. Temperaturänderungen in der Sensorein
richtung können insbesondere wegen der dadurch hervorgerufe
nen zusätzlichen linearen Doppelbrechung zu einer unerwünsch
ten Änderung des Arbeitspunktes und wegen der Temperatur
abhängigkeit der Verdet-Konstanten zu Änderungen der Meß
empfindlichkeit führen.
Bei einem aus WO 94/24572 bekannten Meßverfahren zum Messen
eines elektrischen Wechselstromes in einem Stromleiter wird
linear polarisiertes Meßlicht durch ein dem Stromleiter zuge
ordnet es Faraday-Element gesendet und nach Durchlaufen des
Faraday-Elements von einem polarisierenden Strahlteiler in
zwei im allgemeinen senkrecht zueinander polarisierte Licht
teilsignale aufgespalten. Diese beiden Lichtteilsignale wer
den von photoelektrischen Wandlern in entsprechende elektri
sche Intensitätssignale umgewandelt. Jedes elektrische Inten
sitätssignal wird mit Hilfe von Filtern in einen Wechsel
signalanteil und einen Gleichsignalanteil zerlegt. Die Wech
selsignalanteile enthalten die Informationen über den Wech
selstrom und sind ferner noch temperaturabhängig. Die Gleich
signalanteile sind dagegen nur von der Temperatur im Faraday-
Element, nicht jedoch vom elektrischen Wechselstrom abhängig.
Aus den Gleichsignalanteilen wird als Temperatursignal ein
Winkelgleichanteil hergeleitet, der einer Arbeitspunktdrift
durch die temperaturabhängige lineare Doppelbrechung in dem
Faraday-Element entspricht. Aus den Wechselsignalanteilen
wird ein Winkelwechselanteil abgeleitet, der der Faraday-
Rotation infolge des Wechselstroms entspricht. Dieser Winkel
wechselanteil weist zwar keine durch Temperaturänderungen be
dingte Arbeitspunktdrift auf, ist jedoch wegen der Tempera
turabhängigkeit der den Faraday-Effekt bestimmenden Verdet-
Konstanten noch temperaturabhängig. Mit dem Temperatursignal
wird deshalb mit Hilfe einer vorab ermittelten Wertetabelle
oder einer Eichkurve eine effektive, temperaturunabhängige
Verdet-Konstante ermittelt. Es wird nun ein temperaturkompen
siertes Meßsignal für den Wechselstrom hergeleitet, das dem
Quotienten aus dem Winkelwechselanteil und der ermittelten
effektiven Verdet-Konstanten entspricht. Dieses aus WO
94/24572 bekannte Verfahren nutzt die Arbeitspunktverschie
bung im Meßlicht und den beiden Lichtteilsignalen durch die
temperaturabhängige lineare Doppelbrechung im Faraday-Element
aus, um die Temperatur im Faraday-Element zu bestimmen. Mit
der Information über die Temperatur wird dann die Temperatur
abhängigkeit der Meßempfindlichkeit korrigiert. Bei Faraday-
Elementen mit einer vernachlässigbaren linearen Doppelbre
chung wie beispielsweise getemperten Fasern (Annealed Fibres)
ist eine Temperaturkompensation mit diesem bekannten Verfah
ren nicht möglich.
Aus EP-A-0 390 581 ist eine Meßanordnung zum gleichzeitigen
Messen eines magnetischen Wechselfeldes und einer Temperatur
bekannt, bei der ein Faraday-Element und ein temperatur
empfindliches optisches Element optisch in Reihe zwischen
einen Polarisator und einen Analysator geschaltet sind. Das
temperaturempfindliche optische Element ist ein optischer
Rotator mit einer temperaturempfindlichen optischen Aktivität
oder ein doppelbrechendes Material mit einer temperaturabhän
gigen Doppelbrechung. Durch die Reihenschaltung eines opti
schen Rotators und eines Faraday-Elements wird vom Polarisa
tor linear polarisiertes Meßlicht gesendet. Nach einmaligem
Durchlaufen der Reihenschaltung wird der vom Analysator
durchgelassene Anteil des Meßlichts über eine optische Faser
zu einem Photodetektor übertragen und dort in ein elektri
sches Intensitätssignal umgewandelt. In einer Ausführungsform
dieser bekannten Meßanordnung wird das elektrische Intensi
tätssignal in eine Wechselsignalkomponente (AC-Komponente)
und eine Gleichsignalkomponente (DC-Komponente) zerlegt. Aus
der Gleichsignalkomponente wird ein Temperatursignal herge
leitet. Das Meßsignal wird entweder mit der Wechselsignal
komponente allein oder zur Kompensation von Lichtintensitäts
änderungen in der optischen Faser mit dem Quotienten aus
Wechselsignalkomponente und Gleichsignalkomponente gebildet.
Die Gleichsignalkomponente und damit das Temperatursignal
können jedoch ebenfalls durch Intensitätsänderungen in der
optischen Übertragungsfaser beeinflußt werden. Eine Kompen
sation dieser Intensitätsabhängigkeit des Temperatursignals
ist mit dieser aus EP-A-0 390 581 bekannten Meßanordnung
nicht möglich.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
und eine Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfel
des mit Hilfe einer den Faraday-Effekt zeigenden Sensorein
richtung in einer Reflexionsanordnung anzugeben, bei denen
Temperatureinflüsse auf das Meßsignal weitgehend kompensiert
werden.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung gelöst mit den Merk
malen des Anspruchs 1 bzw. des Anspruchs 14. Eine weitere
Lösung der genannten Aufgabe wird mit den Merkmalen des An
spruchs 2 bzw. des Anspruchs 15 angegeben.
Die Erfindung beruht auf der Überlegung, der Faraday-Rotation
der Polarisationsebene von linear polarisiertem Meßlicht
durch ein zu messendes magnetisches Wechselfeld eine weitere,
vom magnetischen Wechselfeld unabhängige Faraday-Rotation zu
überlagern, die durch ein zusätzliches, im wesentlichen kon
stantes Magnetfeld eingestellt wird. Es wird nun ausgenutzt,
daß die zusätzliche Faraday-Rotation nicht-reziprok ist und
sich bei einer Reflexionsanordnung daher nicht heraushebt im
Gegensatz zu einer Polarisationsdrehung durch optische Akti
vität und daß ferner die zusätzliche Faraday-Rotation einen
temperaturempfindlichen Arbeitspunkt definiert. Der Arbeits
punkt entspricht der Polarisationsebene des Meßlichts bei
nicht vorhandenem magnetischem Wechselfeld. Dieser Arbeits
punkt ist wegen der Temperaturabhängigkeit der Verdet-Kon
stanten bei der zusätzlichen Faraday-Rotation des Meßlichts
selbst temperaturabhängig. Verschiedene Temperaturen entspre
chen deshalb unterschiedliche Arbeitspunkte. Diese tempera
turabhängige Drift des Arbeitspunkts wird zur Temperaturkom
pensation des Meßsignals ausgewertet.
Ausgehend von dieser Überlegung werden nun bei der Lösung ge
mäß dem Anspruch 1 bzw. 14 in dem zu messenden magnetischen
Wechselfeld eine Faraday-Sensoreinrichtung und in einem im
wesentlichen konstanten Magnetfeld wenigstens ein Faraday-Ro
tator angeordnet. Der Faraday-Rotator ist mit der Faraday-
Sensoreinrichtung optisch in Reihe geschaltet und in räumli
cher Nähe zu der Faraday-Sensoreinrichtung angeordnet, so daß
sich die Temperaturen in der Faraday-Sensoreinrichtung und
dem Faraday-Rotator praktisch nicht unterscheiden. Durch
diese optische Reihenschaltung aus Faraday-Sensoreinrichtung
und dem wenigstens einen Faraday-Rotator wird linear polari
siertes Meßlicht gesendet. Nach einem ersten Durchlauf der
Reihenschaltung wird das Meßlicht von lichtreflektierenden
Mitteln wieder in die Reihenschaltung zurückreflektiert und
durchläuft die Reihenschaltung ein zweites Mal in umgekehrter
Richtung. Die Reihenschaltung aus Faraday-Sensoreinrichtung
und Faraday-Rotator wird somit in einer Reflexionsanordnung
betrieben. Nach dem zweiten Durchlauf durch die Reihenschal
tung wird das zurückreflektierte Meßlicht von einem Analysa
tor in zwei linear polarisierte Lichtteilsignale mit unter
schiedlichen Polarisationsebenen aufgeteilt. Diese beiden
Lichtteilsignale werden von photoelektrischen Wandlern
jeweils in ein elektrisches Intensitätssignal umgewandelt.
Jedes dieser beiden elektrischen Intensitätssignale wird in
jeweils einen Wechselsignalanteil und einen Gleichsignal
anteil zerlegt, wobei die Wechselsignalanteile im wesentli
chen alle Frequenzanteile des magnetischen Wechselfeldes ent
halten. Die Wechselsignalanteile enthalten somit praktisch
alle Informationen über das magnetische Wechselfeld, sind
aber wegen der Temperaturabhängigkeit der Verdet-Konstanten
des Faraday-Effekts in der Faraday-Sensoreinrichtung noch
abhängig von der Temperatur in der Faraday-Sensoreinrichtung.
Die erhaltenen beiden Gleichsignalanteile sind unabhängig vom
magnetischen Wechselfeld und enthalten jeweils die vollstän
dige Information über eine Arbeitspunktdrift des Meßlichts
als Maß für die Temperatur in dem Faraday-Rotator und damit
auch für die Temperatur in der Faraday-Sensoreinrichtung. Aus
wenigstens einem der Wechselsignalanteile und wenigstens
einem der Gleichsignalanteile wird ein zumindest weitgehend
temperaturunabhängiges Meßsignal für das magnetische Wechsel
feld hergeleitet.
Ausgehend von der genannten Überlegung wird bei der weiteren
Lösung der genannten Aufgabe gemäß dem Anspruch 2 bzw. dem
Anspruch 15 eine Faraday-Sensoreinrichtung in dem zu messen
den magnetischen Wechselfeld und zugleich in einem im wesent
lichen konstanten Magnetfeld angeordnet. Durch die Faraday-
Sensoreinrichtung wird linear polarisiertes Meßlicht gesen
det. Nach einem ersten Durchlauf der Faraday-Sensoreinrich
tung wird das Meßlicht von lichtreflektierenden Mitteln wie
der in die Faraday-Sensoreinrichtung zurückreflektiert und
durchläuft die Faraday-Sensoreinrichtung ein zweites Mal in
umgekehrter Richtung. Die Faraday-Sensoreinrichtung wird so
mit in einer Reflexionsanordnung betrieben. Nach dem zweiten
Durchlauf durch die Faraday-Sensoreinrichtung wird das zu
rückreflektierte Meßlicht von einem Analysator in zwei linear
polarisierte Lichtteilsignale mit unterschiedlichen Polarisa
tionsebenen aufgeteilt. Diese beiden Lichtteilsignale werden
von photoelektrischen Wandlern jeweils in ein elektrisches
Intensitätssignal umgewandelt. Jedes dieser beiden elektri
schen Intensitätssignale wird in jeweils einen Wechselsi
gnalanteil und einen Gleichsignalanteil zerlegt, wobei die
Wechselsignalanteile im wesentlichen alle Frequenzanteile des
magnetischen Wechselfeldes enthalten. Wie bei der erstgenann
ten Lösung enthalten die Wechselsignalanteile im wesentlichen
alle Informationen über das magnetische Wechselfeld, sind
aber wegen der Temperaturabhängigkeit der Verdet-Konstanten
des Faraday-Effekts in der Faraday-Sensoreinrichtung noch ab
hängig von der Temperatur in der Faraday-Sensoreinrichtung.
Die beiden Gleichsignalanteile sind unabhängig vom magneti
schen Wechselfeld und enthalten jeweils die vollständige In
formation über eine Arbeitspunktdrift des Meßlichts als Maß
für die Temperatur in der Faraday-Sensoreinrichtung selbst.
Aus wenigstens einem der Wechselsignalanteile und wenigstens
einem der Gleichsignalanteile wird nun ein zumindest weitge
hend temperaturunabhängiges Meßsignal für das magnetische
Wechselfeld abgeleitet.
Vorteilhafte Ausgestaltungen des Meßverfahrens und der Meß
anordnung gemäß der Erfindung ergeben sich aus den jeweils
abhängigen Ansprüchen.
In einer besonders vorteilhaften Ausführungsform wird wenig
stens aus einem der beiden Wechselsignalanteile ein Auswerte
signal abgeleitet und aus wenigstens einem der Gleichsignal
anteile ein Temperatursignal abgeleitet. Mit dem Temperatur
signal wird die Temperaturempfindlichkeit des Auswertesignals
korrigiert, und es wird aus dem Auswertesignal und dem Tempe
ratursignal das temperaturkompensierte Meßsignal ermittelt.
Das Temperatursignal wird in einer ersten Ausführungsform mit
einem Quotienten aus einem der beiden Gleichsignalanteile und
der Summe der beiden Gleichsignalanteile und in einer zweiten
Ausführungsform mit einem Quotienten aus einer Differenz der
beiden beiden Gleichsignalanteile und der Summe der beiden
Gleichsignalanteile gebildet. In diesen beiden Ausführungs
formen ist das Temperatursignal im wesentlichen unabhängig
von Intensitätsänderungen der Lichtquelle zum Erzeugen des
Meßlicht s und in den optischen Übertragungsstrecken für das
Meßlicht bis zum Analysator.
Das Temperatursignal kann aber auch mit einer Differenz der
beiden Gleichsignalanteile oder einem Quotienten der beiden
Gleichsignalanteile gebildet werden. Schließlich kann das
Temperatursignal auch aus einem der Gleichsignalanteile al
lein hergeleitet werden.
Das Temperatursignal oder ein daraus gebildeter Temperatur
meßwert können vorzugsweise an einem dafür vorgesehenen Aus
gang abgegriffen werden.
Für das Auswertesignal kann einer der beiden Wechselsignalan
teile allein oder eine Differenz der beiden Wechselsignalan
teile verwendet werden.
In einer vorteilhaften Ausführungsform wird das Auswertesi
gnal mit einem Quotienten aus einer Differenz der beiden
Wechselsignalanteile und der Summe der beiden Gleichsignalan
teile gebildet. Das Auswertesignal ist dann im wesentlichen
unabhängig von Intensitätsänderungen im Meßlicht in der
Lichtquelle und den Übertragungsleitungen bis zum Analysator.
In einer besonders vorteilhaften Ausführungsform wird als
Auswertesignal ein Quotient aus dem Wechselsignalanteil und
dem Gleichsignalanteil eines der beiden elektrischen Intensi
tätssignale hergeleitet. Dieser Quotient ist nicht nur von
Intensitätsänderungen der Lichtquelle und in den Übertra
gungsstrecken bis zum Analysator im wesentlichen befreit,
sondern auch unabhängig von Intensitätsverlusten beim Über
tragen des entsprechenden Lichtteilsignals vom Analysator zum
zugehörigen photoelektrischen Wandler.
Das Meßsignal wird aus dem wenigstens einen Gleichsignalan
teil und dem wenigstens einen Wechselsignalanteil bzw. aus
dem Auswertesignal und dem Temperatursignal vorzugsweise mit
Hilfe einer vorab ermittelten Wertetabelle oder Eichkurve
hergeleitet.
In einer bevorzugten Ausführungsform ist die Faraday-Sensor
einrichtung mit wenigstens einer Lichtleitfaser gebildet ist,
die eine reziproke zirkulare Doppelbrechung und eine gegen
über dieser reziproken zirkularen Doppelbrechung vernachläs
sigbare lineare Doppelbrechung aufweist.
Das Verfahren und die Anordnung sind auch zum Messen eines
elektrischen Wechselstromes geeignet, indem die Faraday-Sen
soreinrichtung im vom Wechselstrom induktiv erzeugten magne
tischen Wechselfeld angeordnet wird.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird auf die Zeichnung
Bezug genommen, in deren
Fig. 1 eine Anordnung zum Messen des magnetischen Wechselfel
des eines elektrischen Wechselstromes mit einem in
einem konstanten Magnetfeld angeordneten Faraday-Rota
tor als Temperatursensor und
Fig. 2 eine Anordnung zum Messen des magnetischen Wechselfel
des eines elektrischen Wechselstromes mit einer in dem
Wechselfeld und in einem konstanten Magnetfeld angeord
neten Faraday-Sensoreinrichtung
schematisch veranschaulicht sind. Einander entsprechende
Teile sind mit denselben Bezugszeichen versehen.
Fig. 1 zeigt eine Ausführungsform der Anordnung zum Messen
eines magnetischen Wechselfeldes H, das von einem elektri
schen Wechselstrom I in einem Stromleiter 2 erzeugt wird. Mit
dieser und allen anderen Ausführungsformen kann selbstver
ständlich auch ein magnetisches Wechselfeld H direkt gemessen
werden, ohne damit einen Wechselstrom zu messen. Dem Strom
leiter 2 ist eine den magnetooptischen Faraday-Effekt zei
gende Sensoreinrichtung 3 zugeordnet, die unter dem Einfluß
des von dem elektrischen Wechselstrom I erzeugten zeitlich
veränderlichen Magnetfeldes H die Polarisation von in die
Sensoreinrichtung 3 eingestrahltem linear polarisierten Meß
licht L in Abhängigkeit von dem elektrischen Wechselstrom I
ändert.
Die Sensoreinrichtung 3 ist vorzugsweise mit einer optischen
Faser gebildet, die den Stromleiter 2 in einer Meßwicklung
mit wenigstens einer Meßwindung umgibt (Faserspule). Insbe
sondere weist die optische Faser eine im Vergleich zur
Faraday-Rotation (nicht-reziproke zirkulare Doppelbrechung)
vernachlässigbare lineare Doppelbrechung auf. Ein Beispiel
für eine solche Faser ist eine getemperte Faser (Annealed
Fibre). Besonders vorteilhaft ist eine optische Faser mit
einer reziproken zirkularen Doppelbrechung und einer gegen
über dieser reziproken zirkularen Doppelbrechung vernachläs
sigbaren linearen Doppelbrechung. Beispiele für Fasern mit
einer solchen Eigenschaft sind unter einem starken Drehmoment
stehende tordierte oder verdrillte Fasern (Twisted Fibres),
vorzugsweise mit einer niedrigen linearen Doppelbrechung
(Twisted LoBi Fibres) oder auch sogenannte Spun-HiBi-Fasern
die aus einem Material mit einer vergleichsweise hohen linea
ren Doppelbrechung und einer durch einen speziellen Herstell
prozeß eingeprägten, besonders hohen intrinsischen zirkularen
Doppelbrechung bestehen.
Als Sensoreinrichtung 3 können jedoch auch ein oder mehrere
massive Körper aus Faraday-Materialien vorgesehen sein, die
einen vorzugsweise geschlossenen Lichtpfad um den Stromleiter
2 bilden, beispielsweise ein Glasring. Die Sensoreinrichtung
3 muß den Stromleiter 2 aber nicht in einem geschlossenen
Lichtpfad umgeben, sondern kann auch nur in räumliche Nähe
neben dem Stromleiter 2 angeordnet sein.
Die Sensoreinrichtung 3 ist mit wenigstens einem Faraday-
Rotator 8 optisch in Reihe geschaltet. Der Faraday-Rotator 8
ist in räumlicher Nähe zu der Faraday-Sensoreinrichtung 3
angeordnet. Die Temperatur T* im Faraday-Rotator 8 unter
scheidet sich somit praktisch nicht von der Temperatur T in
der Sensoreinrichtung 3. Die optische Reihenschaltung aus
Sensoreinrichtung 3 und Faraday-Rotator 8 ist über Kopplungs
mittel 7, beispielsweise einen optischen Koppler oder Strahl
teiler, sowohl mit einer Lichtquelle 4 als auch mit einem
Analysator 11 optisch gekoppelt. In der dargestellten Aus
führungsform ist die Sensoreinrichtung 3 im Lichtweg zwischen
die Lichtquelle 4 und den Faraday-Rotator 8 geschaltet. Die
Reihenfolge der Sensoreinrichtung 3 und des Faraday-Rotators
8 in der Reihenschaltung kann jedoch auch vertauscht werden.
Die Reihenschaltung aus Sensoreinrichtung 3 und Faraday-
Rotator 8 ist optisch zwischen die Lichtquelle 4 und licht
reflektierende Mittel 6 geschaltet. Mit der Reihenschaltung
aus Sensoreinrichtung 3 und Faraday-Rotator 8 ist somit eine
Meßanordnung vom Reflexionstyp realisiert.
Der Faraday-Rotator 8 besteht aus einem den Faraday-Effekt
zeigenden Material. Die Temperaturempfindlichkeit der Verdet-
Konstanten V* des Faraday-Rotators 8 wird vorzugsweise mög
lichst groß gewählt, typischerweise wenigstens 0,1%/°C.
Geeignete Materialien für den Faraday-Rotator 8 sind bei
spielsweise Quarz, ein Glas mit dem Handelsnamen SF 56 oder
Yttrium-Eisen-Granat (YIG). Der Faraday-Rotator 8 ist in
einem im wesentlichen konstanten Magnetfeld HB angeordnet.
Zum Erzeugen dieses statischen Magnetfeldes HB ist wenigstens
eine Magnetfeldquelle 9 vorgesehen, die mit wenigstens einem
Permanentmagneten oder wenigstens einer Induktionsspule ge
bildet sein kann. Insbesondere sind Ringmagnete in Kombina
tion mit einem zylindrischen Faraday-Rotator 8 als Magnet
feldquelle 9 geeignet. Es können statt einem Faraday-Rotator
8 auch mehrere Faraday-Rotatoren in Reihe geschaltet sein.
Linear polarisiertes Meßlicht L der Lichtquelle 4 wird nun
über die Kopplungsmittel 7 in die Sensoreinrichtung 3 einge
koppelt und durchläuft zunächst die Sensoreinrichtung 3 und
dann den Faraday-Rotator 8 ein erstes Mal. Nach dem ersten
Durchlauf wird das Meßlicht L von den lichtreflektierenden
Mitteln 6 in den Faraday-Rotator 8 zurückreflektiert und
durchläuft die Reihenschaltung aus Sensoreinrichtung 3 und
Faraday-Rotator 8 ein zweites Mal, jedoch in umgekehrter
Richtung wie beim ersten Mal. Die lichtreflektierenden Mittel
6 können mit einem Spiegel oder mit einer reflektierenden
Beschichtung des Faraday-Rotators 8 gebildet sein.
In der dargestellten Ausführungsform ist eine selbst polari
sierende Lichtquelle 4, beispielsweise eine Laserdiode, vor
gesehen. Die Sensoreinrichtung 3 und die Kopplungsmittel 7
sind dann zum Übertragen des Meßlichts L vorzugsweise über
einen polarisationserhaltenden Lichtleiter, beispielsweise
eine Monomode-Lichtfaser wie eine HiBi (High-Birefringence)-
Faser oder eine polarisationsneutrale LoBi (Low-Birefrin
gence)-Faser, optisch verbunden. In der dargestellten Ausfüh
rungsform sind die Sensoreinrichtung 3 und diese optische
Übertragungsstrecke mit derselben optischen Faser gebildet.
Zum Erzeugen des linear polarisierten Meßlichts L können aber
auch eine einfache Lichtquelle und zugeordnete, nicht darge
stellte polarisierende Mittel (z. B. Polarisator) vorgesehen
sein. Die Kopplungsmittel 7 und die Sensoreinrichtung 3 kön
nen dann auch über eine Multimodefaser, beispielsweise eine
in der Telekommunikation verwendete Lichtleitfaser, verbunden
werden. Das Licht der Lichtquelle wird dann direkt vor dem
Einkoppeln in die Sensoreinrichtung 3 von den polarisierenden
Mitteln linear polarisiert.
Das zeitlich veränderliche magnetische Wechselfeld H des
elektrischen Wechselstromes I im Stromleiter 2 bewirkt bei
jedem Durchlauf durch die Sensoreinrichtung 3 eine ebenfalls
zeitlich veränderliche Polarisationsdrehung (Faraday-Rota
tion) der Polarisationsebene des Meßlichts L um einen Meßwin
kel αM, für den
αM(T,H) = V(T)·f(H) (1)
gilt mit der im allgemeinen von der Temperatur T in der Sen
soreinrichtung 3 abhängigen Verdet-Konstanten V(T) der
Faraday-Drehung in der Sensoreinrichtung 3 und der Funktion
f(H) des magnetischen Wechselfeldes, die dem Wegintegral über
das magnetische Wechselfeld H entlang des vom Meßlicht L in
der Sensoreinrichtung 3 zurückgelegten Wegs entspricht. In
der dargestellten Ausführungsform ist αM = V(T)·N·I mit
der Anzahl N der Windungen der Faserspule bzw. der Umläufe
des Meßlichts L um den Stromleiter 2. Der Meßwinkel αM(T) ist
abhängig von der Temperatur T in der Sensoreinrichtung 3.
Das konstante Magnetfeld HB der Magnetfeldquelle 9 bewirkt
eine zusätzliche statische Polarisationsdrehung der Polari
sationsebene des Meßlichts L bei jedem Durchlauf durch den
Faraday-Rotator 8 um einen Off-set-Drehwinkel
αOS(T*,HB) = V*(T*)·f(HB) (2)
mit der von der Temperatur T* im Faraday-Rotator 8 abhängen
den Verdet-Konstanten V*(T*) der Faraday-Rotation im Faraday-
Rotator 8 und der Funktion f (HB), die dem Wegintegral über
das statische Magnetfeld HB entlang des vom Meßlicht L in dem
Faraday-Rotator 8 zurückgelegten Wegs entspricht. Dieser Off
set-Drehwinkel αOS(T*) ist somit selbst von der Temperatur T*
im Faraday-Rotator 8 abhängig. Da die Sensoreinrichtung 3 und
der Faraday-Rotator 8 keinen großen Abstand voneinander auf
weisen, sind ihre Temperaturen T und T* im wesentlichen
gleich, also T = T*.
Das zurückreflektierte Meßlicht LR weist nun nach dem zweiten
Durchlaufen der Reihenschaltung eine Polarisationsdrehung
seiner Polarisationsebene um einen gesamten Drehwinkel
α(T) = 2·αM(T,H) + 2·αOS(T,HB) (3),
auf, der wegen der Nicht-Reziprokität des Faraday-Effekts der
doppelten Summe des Meßwinkels und des Off-set-Drehwinkels
entspricht und von der Temperatur T abhängt. Die reziproke
zirkulare Doppelbrechung in der Faser der Sensoreinrichtung 3
fällt wegen der Reflexionsanordnung gerade heraus.
Nach dem zweiten Durchlauf durch die Reihenschaltung wird das
zurückreflektierte, nun mit LR bezeichnete Meßlicht über die
Kopplungsmittel 7 dem Analysator 11 zugeführt. Vom Analysator
11 wird das Meßlicht LR in zwei linear polarisierte Licht
teilsignale L1 und L2 zerlegt, deren Polarisationsebenen ver
schieden voneinander sind. Vorzugsweise sind die Polarisa
tionsebenen der beiden Lichtteilsignale L1 und L2 senkrecht
zueinander gerichtet (orthogonale Zerlegung). Als Analysator
11 können ein polarisierender Strahlteiler, beispielsweise
ein Wollaston-Prisma, oder auch zwei um einen entsprechenden
Winkel und vorzugsweise um 90° gekreuzte Polarisationsfilter
und ein einfacher Strahlteiler mit einem teildurchlässigen
Spiegel vorgesehen sein.
Die beiden Lichtteilsignale L1 und L2 werden vom Analysator
11 über eine Freistrahlanordnung oder vorzugsweise über je
weils einen Lichtleiter jeweils einem photoelektrischen Wand
ler 12 bzw. 13 zugeführt. In den Wandlern 12 und 13 werden
die beiden Lichtteilsignale L1 und L2 jeweils in ein elektri
sches Intensitätssignal S1 bzw. S2 umgewandelt, das ein Maß
für die Intensität des zugehörigen Lichtteilsignals L1 bzw.
L2 ist.
Die beiden elektrischen Intensitätssignale S1 und S2 werden
nun jeweils in einen Wechselsignalanteil A1 bzw. A2 und einen
Gleichsignalanteil D1 bzw. D2 zerlegt. Im Ausführungsbeispiel
der Fig. 1 sind als Mittel zum Zerlegen der Intensitätssignale
S1 und S2 in ihre jeweiligen Wechselsignalanteile A1 bzw. A2
und ihre jeweiligen Gleichsignalanteile D1 bzw. D2 zwei Hoch
paßfilter 16 und 17 und zwei Tiefpaßfilter 14 und 15 vorge
sehen. Dem Hochpaßfilter 16 und dem Tiefpaßfilter 14 wird vom
Ausgang des ersten photoelektrischen Wandlers 12 das erste
Intensitätssignal S1 zugeführt. Das Hochpaßfilter 16 filtert
den Wechselsignalanteil A1 dieses Intensitätssignals S1 her
aus und das Tiefpaßfilter 14 den Gleichsignalanteil D1. Dem
weiteren Hochpaßfilter 17 und dem weiteren Tiefpaßfilter 15
wird vom Ausgang des zweiten photoelektrischen Wandlers 13
das zweite Intensitätssignal S2 zugeführt. Das Hochpaßfilter
17 bildet aus diesem Intensitätssignal S2 den Wechselsignal
anteil A2 und das Tiefpaßfilter 15 den Gleichsignalanteil D2.
Die Trennfrequenzen der Filter 14 bis 17 sind so gewählt, daß
die Wechselsignalanteile A1 und A2 der Intensitätssignale S1
bzw. S2 im wesentlichen alle Informationen über den zu mes
senden Wechselstrom I bzw. das zu messende magnetische Wech
selfeld H enthalten. Insbesondere wird die Trennfrequenz
kleiner als die Grundfrequenz des Wechselstromes I gewählt.
In einer nicht dargestellten Ausführungsform können auch nur
jeweils ein Filter für jedes Intensitätssignal S1 und S2 zum
Bilden des Wechselsignalanteils A1 bzw. A2 oder des Gleich
signalanteils D1 bzw. D2 und ein Subtrahierer zum Ableiten
des komplementären Gleichsignalanteils D1 = S1-A1 bzw. D2 =
S2-A2 oder des komplementären Wechselsignalanteils A1 =
S1-D1 bzw. A2 = S2-D2 als Mittel zum Zerlegen der Inten
sitätssignale S1 und S2 in ihre Wechselsignalanteile A1 bzw.
A2 und ihre Gleichsignalanteile D1 bzw. D2 vorgesehen sein.
Die beiden Wechselsignalanteile A1 und A2 sowie die beiden
Gleichsignalanteile D1 und D2 werden nun Mitteln 20 zum Er
mitteln eines zumindest annähernd temperaturkompensierten
Meßsignals M für den elektrischen Wechselstrom I bzw. das
magnetische Wechselfeld H zugeführt. Das Meßsignal M ist vor
zugsweise eine Funktion M = M(A1, A2, D1, D2) der beiden Wech
selsignalanteile A1 und A2 und der beiden Gleichsignalanteile
D1 und D2. In einer weiteren Ausführungsform kann das Meß
signal M aber auch nur eine Funktion von einem oder zwei
Wechselsignalanteilen und nur einem Gleichsignalanteil oder
nur einem Wechselsignalanteil und einem oder zwei Gleich
signalanteilen sein. Es müssen dann auch nur die entsprechen
den Wechselsignalanteile und Gleichsignalanteile den Mitteln
20 zugeführt werden.
In einer ersten Ausführungsform wird das Meßsignal M mit
Hilfe einer vorab ermittelten, gespeicherten Wertetabelle
oder Eichkurve direkt aus den betreffenden Wechselsignal
anteilen A1 und A2 und Gleichsignalanteilen D1 und D2 abge
leitet.
In einer vorteilhaften, zweiten Ausführungsform werden von
den Mitteln 20 ein elektrisches Auswertesignal S gemäß einer
der arithmetischen Beziehungen
(i) S = A1
(ii) S = A2
(iii) S = A1-A2
(iv) S = (A1-A2)/(D1+D2)
(v) S = A1/D1
(vi) S = A2/D2
(ii) S = A2
(iii) S = A1-A2
(iv) S = (A1-A2)/(D1+D2)
(v) S = A1/D1
(vi) S = A2/D2
und ein Temperatursignal T gemäß einer der Beziehungen
(vii) T = D1
(viii) T = D2
(ix) T = D1-D2
(x) T = D1/(D1+D2)
(xi) T = D2/(D1+D2)
(xii) T = (D1-D2)/(D1+D2)
(xiii) T = D1/D2
(viii) T = D2
(ix) T = D1-D2
(x) T = D1/(D1+D2)
(xi) T = D2/(D1+D2)
(xii) T = (D1-D2)/(D1+D2)
(xiii) T = D1/D2
abgeleitet.
Das Meßsignal M wird nun aus dem Auswertesignal S und dem
Temperatursignal T als Funktion M = M(S,T) ermittelt. Diese
Funktion M(S,T) wird vorzugsweise durch eine Eichmessung oder
auch eine theoretische Approximation durch Fit-Funktionen er
mittelt und kann in Form einer Wertetabelle oder einer Eich
kurve abgelegt sein. Zur Strommessung kann insbesondere mit
Hilfe des Temperatursignals T eine temperaturkorrigierte
effektive Verdet-Konstante Veff abgeleitet werden und das
Meßsignal M für den Wechselstrom I gemäß M = S/(N·Veff) er
mittelt werden.
Für die auszuführenden arithmethischen Operationen können in
allen Ausführungsformen entsprechende analoge Bauelemente wie
Addierer, Subtrahierer und Dividierer oder auch digitale Kom
ponenten wie ein Analog/Digitalwandler zusammen mit einem
digitalen Signalprozessor (DSP) oder einem Mikroprozessor
vorgesehen sein.
Im in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel der Meßanord
nung fehlt der Faraday-Rotator 8. Statt dessen ist die
Faraday-Sensoreinrichtung 3 selbst im konstanten Magnetfeld
HB der Magnetfeldquelle 9 angeordnet. Das Meßlicht L steht
somit beim Durchlaufen der Sensoreinrichtung 3 unter dem Ein
fluß eines Gesamtmagnetfelds, das sich als vektorielle Summe
HB + H aus dem konstanten Magnetfeld HB der Magnetfeldquelle
9 und dem zeitlich veränderlichen Magnetfeldes H des elektri
schen Wechselstromes I im Stromleiter 2 zusammensetzt. Die
Magnetfeldquelle 9 kann mit über die Sensoreinrichtung 3 ge
schobenen Ringmagneten gebildet sein. Es sind wieder licht
reflektierende Mittel 6 vorgesehen, die das Meßlicht L nach
einem ersten Durchlauf der Sensoreinrichtung 3 wieder in die
Sensoreinrichtung 3 zurückreflektieren und mit einem Spiegel
oder einer lichtreflektierenden Beschichtung des Faserendes
ausgebildet sein können. Das zurückreflektierte Meßlicht ist
wieder mit LR bezeichnet und durchläuft die Sensoreinrichtung
3 ein zweites Mal in umgekehrter Richtung.
Das zurückreflektierte Meßlicht LR weist nun nach dem zweiten
Durchlaufen der Sensoreinrichtung 3 eine um den Faraday-Dreh
winkel
α(T,H,HB) = 2·V(T)·f(H + HB) =
= 2·V(T)·(f(H) + f(HB)) =
= 2·αM(T,H) + 2·α=s(T,HB) (4)
= 2·V(T)·(f(H) + f(HB)) =
= 2·αM(T,H) + 2·α=s(T,HB) (4)
gedrehte Polarisationsebene auf. V(T) ist die von der Tempe
ratur T in der Sensoreinrichtung 3 abhängige Verdet-Konstan
ten der Faraday-Drehung in der Sensoreinrichtung 3. Die Funk
tion f entspricht dem Wegintegral über das entsprechende
Magnetfeld entlang des vom Meßlicht L in der Sensoreinrich
tung 3 zurückgelegten Wegs. Der Drehwinkel α(T,H,HB) ent
spricht wegen der Nicht-Reziprokität des Faraday-Effekts der
doppelten Summe des nur vom zeitlich veränderlichen Wechsel
feld H abhängigen Meßwinkels
αM(T,H) = V(T)·f(H)
und einem nur vom konstanten Magnetfeld HB der Magnetfeld
quelle 9 abhängigen Off-set-Drehwinkel
αOS(T,HB) = V(T)·f(HB).
Der Meßwinkel αM(T,H) und der Off-set-Drehwinkel αOS(T,HB)
und damit der gesamte Drehwinkel α(T,H,HB) sind jeweils
abhängig von der Temperatur T in der Sensoreinrichtung 3. In
dieser Ausführungsform ist deshalb a priori nur die Tempera
tur T in der Sensoreinrichtung 3 bei der Polarisationsdrehung
des Meßlichts L bzw. LR zu berücksichtigen. Die Temperatur
empfindlichkeit der Verdet-Konstanten V(T) liegt vorzugsweise
bei wenigstens 0,1%/°C. Die reziproke zirkulare Doppelbre
chung in der Faser der Sensoreinrichtung 3 fällt wegen der
Reflexionsanordnung wieder gerade heraus.
Die Auswertung der Polarisationsdrehung des Meßlichts LR kann
nun wieder gemäß einer der bereits beschriebenen Ausführungs
formen erfolgen. In der Fig. 2 sind die Mittel zum Zerlegen
der beiden Intensitätssignale S1 und S2 in jeweils einen
Wechselsignalanteil A1 bzw. A2 und einen Gleichsignalanteil
D1 bzw. D2 mit 30 bezeichnet. Die Mittel 20 zum Ermitteln des
Meßsignals M enthalten mit den Mitteln 30 verbundene Mittel
31 zum Ableiten des Auswertesignals S und des Temperatur
signals T gemäß einer der vorbeschriebenen Ausführungsformen
und weitere Mittel 32 zum Bilden des Meßsignals M für das
magnetische Wechselfeld H bzw. für den elektrischen Wechsel
strom I aus dem Auswertesignal S und dem Temperatursignal T.
Außerdem kann an einem Ausgang 20A der Mittel 20 das Tempera
tursignal T oder ein aus dem Temperatursignal T von den Mit
teln 20 ermittelter Temperaturmeßwert abgegriffen werden, um
die aktuelle Temperatur in der Sensoreinrichtung 3 anzuzei
gen. Ein solcher zusätzlicher Ausgang 20A zum Anzeigen der
Temperatur kann auch in einer Ausführungsform gemäß Fig. 1
vorgesehen sein.
Claims (27)
1. Verfahren zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes (H),
bei dem
- a) linear polarisiertes Meßlicht (L) eine optische Reihen schaltung aus einer in dem magnetischen Wechselfeld (H) angeordneten Faraday-Sensoreinrichtung (3) und wenigstens einem in einem im wesentlichen konstanten Magnetfeld (HB) und in räumlicher Nähe zur Faraday-Sensoreinrichtung (3) angeordneten Faraday-Rotator (8) ein erstes Mal durch läuft, von lichtreflektierenden Mitteln (6) wieder in die Reihenschaltung zurückreflektiert wird und die Reihen schaltung ein zweites Mal in umgekehrter Richtung durch läuft,
- b) das Meßlicht (LR) nach dem zweiten Durchlauf durch die Reihenschaltung in zwei linear polarisierte Lichtteil signale (L1, L2) mit unterschiedlichen Polarisationsebenen aufgeteilt wird,
- c) die beiden Lichtteilsignale (L1, L2) jeweils in ein elek trisches Intensitätssignal (S1, S2) umgewandelt werden,
- d) jedes der beiden elektrischen Intensitätssignale (S1, S2) in einen Wechselsignalanteil (A1, A2) und einen Gleich signalanteil (D1, D2) zerlegt wird derart, daß die Wech selsignalanteile (A1, A2) im wesentlichen alle Frequenz anteile des magnetischen Wechselfeldes (H) enthalten,
- e) mit wenigstens einem der beiden Wechselsignalanteile (A1, A2) und wenigstens einem der Gleichsignalanteile (D1, D2) der beiden Intensitätssignale (S1, S2) ein zumin dest weitgehend temperaturunabhängiges Meßsignal (M) für das magnetische Wechselfeld (H) abgeleitet wird.
2. Verfahren zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes (H),
bei dem
- a) linear polarisiertes Meßlicht (L) eine in dem magneti schen Wechselfeld (H) und ferner in einem vorgegebenen, im wesentlichen konstanten Magnetfeld (HB) angeordnete Faraday-Sensoreinrichtung (3) ein erstes Mal durchläuft, von lichtreflektierenden Mitteln (6) wieder in die Faraday-Sensoreinrichtung (3) zurückreflektiert wird und die Faraday-Sensoreinrichtung (3) ein zweites Mal in um gekehrter Richtung durchläuft,
- b) das Meßlicht (LR) nach dem zweiten Durchlauf durch die Faraday-Sensoreinrichtung (3) in zwei linear polarisierte Lichtteilsignale (L1, L2) mit unterschiedlichen Polarisa tionsebenen aufgeteilt wird,
- c) die beiden Lichtteilsignale (L1, L2) jeweils in ein elek trisches Intensitätssignal (S1, S2) umgewandelt werden,
- d) jedes der beiden elektrischen Intensitätssignale (S1, S2) in einen Wechselsignalanteil (A1, A2) und einen Gleich signalanteil (D1, D2) zerlegt wird derart, daß die Wech selsignalanteile (A1, A2) im wesentlichen alle Frequenz anteile des magnetischen Wechselfeldes (H) enthalten,
- e) mit wenigstens einem der beiden Wechselsignalanteile (A1, A2) und wenigstens einem der Gleichsignalanteile (D1, D2) der beiden Intensitätssignale (S1, S2) ein zumin dest weitgehend temperaturunabhängiges Meßsignal (M) für das magnetische Wechselfeld (H) abgeleitet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, bei dem
- a) wenigstens aus einem der beiden Wechselsignalanteile (A1, A2) ein elektrisches Auswertesignal (S) abgeleitet wird,
- b) aus wenigstens einem der beiden Gleichsignalanteile (D1, D2) ein Temperatursignal (T) abgeleitet wird,
- c) mit dem Temperatursignal (T) und dem Auswertesignal (S) das Meßsignal (M) ermittelt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, bei dem das Temperatursignal
(T) mit einem Quotienten (D1/(D1+D2), D2/(D1+D2), (D1-
D2)/(D1+D2)) aus einem der beiden Gleichsignalanteile (D1, D2)
oder einer Differenz der beiden beiden Gleichsignalanteile
(D1, D2) einerseits und der Summe der beiden Gleichsignal
anteile (D1, D2) andererseits gebildet wird.
5. Verfahren nach Anspruch 3, bei dem das Temperatursignal
(T) mit einer Differenz (D1-D2) der beiden Gleichsignalan
teile (D1 und D2) gebildet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 3, bei dem das Temperatursignal
(T) mit einem Quotienten (D1/D2) der beiden Gleichsignalan
teile (D1 und D2) gebildet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 3, bei dem das Temperatursignal
(T) aus einem der beiden Gleichsignalanteile (D1 oder D2) ge
bildet wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 7, bei dem für
das Auswertesignal (S) einer der beiden Wechselsignalanteile
(A1 oder A2) verwendet wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 7, bei dem das
Auswertesignal (S) mit einer Differenz (A1-A2) der beiden
Wechselsignalanteile (A1, A2) gebildet wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 7, bei dem das
Auswertesignal (S) mit einem Quotienten ((A1-A2)/D1+D2)) aus
einer Differenz (A1-A2) der Wechselsignalanteile (A1, A2) und
der Summe (D1+D2) der Gleichsignalanteile (D1, D2) gebildet
wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 7, bei dem das
Auswertesignal (S) mit einem Quotienten (A1/D1, A2/D2) aus
dem Wechselsignalanteil (A1, A2) und dem Gleichsignalanteil
(D1, D2) eines der beiden elektrischen Intensitätssignale
(S1, S2) gebildet wird.
12. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei
dem das Meßsignal (M) mit Hilfe einer vorab ermittelten Wer
tetabelle oder Eichkurve ermittelt wird.
13. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche zum
Messen eines elektrischen Wechselstromes (I), bei dem die
Faraday-Sensoreinrichtung (3) im vom Wechselstrom (I) erzeug
ten magnetischen Wechselfeld (H) angeordnet wird.
14. Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit
- a) einer optischen Reihenschaltung aus einer im magnetischen Wechselfeld (H) angeordneten Faraday-Sensoreinrichtung (3) und wenigstens einem Faraday-Rotator (8), der in einem im wesentlichen konstanten Magnetfeld (HB) und in räumlicher Nähe zur Faraday-Sensoreinrichtung (3) ange ordnet ist;
- b) Mitteln (4) zum Einkoppeln von linear polarisiertem Meß licht (L) in die optische Reihenschaltung;
- c) lichtreflektierenden Mitteln (6), die das ein erstes Mal durch die Reihenschaltung gelaufene Meßlicht (L) wieder in die Reihenschaltung zurückreflektieren;
- d) einem Analysator (11) zum Zerlegen des zurückreflektier ten und ein zweites Mal in umgekehrter Richtung durch die Reihenschaltung gelaufenen Meßlichts (LR) in zwei Licht teilsignale (L1, L2) mit unterschiedlichen Polarisations ebenen;
- e) photoelektrischen Wandlern (12, 13) zum Umwandeln der bei den Lichtteilsignale (L1, L2) in jeweils ein elektrisches Intensitätssignal (S1, S2);
- f) Mitteln (14, 15, 16, 17) zum Zerlegen der beiden Intensi tätssignale (S1, S2) in jeweils einen Wechselsignalanteil (A1, A2) und einen Gleichsignalanteil (D1, D2) derart, daß die Wechselsignalanteile (A1, A2) alle Frequenzanteile des magnetischen Wechselfeldes (H) enthalten;
- g) Mitteln (20) zum Ermitteln eines weitgehend temperaturun abhängigen Meßsignal s (M) für das magnetische Wechselfeld (H) aus wenigstens einem der beiden Gleichsignalanteile (D1, D2) und aus wenigstens einem der beiden Wechsel signalanteile (A1, A2).
15. Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit
- a) einer Faraday-Sensoreinrichtung (3), die in dem magneti schen Wechselfeld (H) und zugleich in einem im wesentli chen konstanten Magnetfeld (HB) angeordnet ist;
- b) Mitteln (4) zum Einkoppeln von linear polarisiertem Meß licht (L) in die Faraday-Sensoreinrichtung (3);
- c) lichtreflektierenden Mitteln (6), die das ein erstes Mal durch die Faraday-Sensoreinrichtung (3) gelaufene Meß licht (L) wieder in die Faraday-Sensoreinrichtung (3) zu rückreflektieren;
- d) einem Analysator (11) zum Zerlegen des zurückreflektier ten und ein zweites Mal in umgekehrter Richtung durch die Faraday-Sensoreinrichtung (3) gelaufenen Meßlichts (LR) in zwei Lichtteilsignale (L1, L2) mit unterschiedlichen Polarisationsebenen;
- e) photoelektrischen Wandlern (12, 13) zum Umwandeln der bei den Lichtteilsignale (L1, L2) in jeweils ein elektrisches Intensitätssignal (S1, S2);
- f) Mitteln (14, 15, 16, 17) zum Zerlegen der beiden Intensi tätssignale (S1, S2) in jeweils einen Wechselsignalanteil (A1, A2) und einen Gleichsignalanteil (D1, D2) derart, daß die Wechselsignalanteile (A1, A2) alle Frequenzanteile des magnetischen Wechselfeldes (H) enthalten;
- g) Mitteln (20) zum Ermitteln eines weitgehend temperaturun abhängigen Meßsignals (M) für das magnetische Wechselfeld (H) aus wenigstens einem der beiden Wechselsignalanteile (A1, A2) und aus wenigstens einem der beiden Gleichsignal anteile (D1, D2)
16. Anordnung nach Anspruch 14 oder Anspruch 15, bei der
die Mittel (20) zum Ermitteln des Meßsignals (M) aus wenig
stens einem Gleichsignalanteil (D1, D2) ein elektrisches Tem
peratursignal (T) ableiten, wenigstens aus einem der beiden
Wechselsignalanteile (A1, A2) ein elektrisches Auswertesignal
(S) ableiten und das Meßsignal (M) aus dem Auswertesignal (S)
und dem Temperatursignal (T) ermitteln.
17. Anordnung nach Anspruch 16, bei der die Mittel (20) zum
Ermitteln des Meßsignals (M) aus dem Temperatursignal (T) und
dem Auswertesignal (S) eine gespeicherte Wertetabelle oder
Eichkurve enthalten.
18. Anordnung nach Anspruch 16 oder 17, bei der die Mittel
(20) zum Ermitteln des Meßsignals (M) das Temperatursignal
(T) mit einem Quotienten (D1/(D1+D2), D2/(D1+D2), (D1-D2)/
(D1+D2)) aus einem der beiden Gleichsignalanteile (D1, D2)
oder einer Differenz der beiden Gleichsignalanteile (D1, D2)
und der Summe der beiden beiden Gleichsignalanteile (D1, D2)
bilden.
19. Anordnung nach Anspruch 16 oder 17, bei der die Mittel
(20) zum Ermitteln des Meßsignals (M) das Temperatursignal
(T) mit einer Differenz (D1-D2) oder einem Quotienten (D1/D2)
der beiden Gleichsignalanteile (D1 und D2) ableiten.
20. Anordnung nach Anspruch 16 oder 17, bei der die Mittel
(20) zum Ermitteln des Meßsignals (M) das Temperatursignal
(T) mit einem der beiden Gleichsignalanteile (D1 und D2)
bilden.
21. Anordnung nach einem der Ansprüche 16 bis 20, bei der die
die Mittel (20) zum Ermitteln des Meßsignals (M) das Auswer
tesignal (S) mit einem der beiden Wechselsignalanteile (A1
oder A2) bilden.
22. Anordnung nach einem der Ansprüche 16 bis 20, bei der die
Mittel (20) zum Ermitteln des Meßsignals (M) das Auswerte
signal (S) mit einer Differenz (A1-A2) der beiden Wechsel
signalanteile (A1, A2) bilden.
23. Anordnung nach einem der Ansprüche 16 bis 20, bei der die
Mittel (20) zum Ermitteln des Meßsignals (M) das Auswerte
signal (S) mit einem Quotienten (A1/D1, A2/D2) aus dem Wech
selsignalanteil (A1, A2) und dem Gleichsignalanteil (D1, D2)
eines der beiden elektrischen Intensitätssignale (S1, S2) bil
den.
24. Anordnung nach einem der Ansprüche 16 bis 20, bei der die
Mittel (20) zum Ermitteln des Meßsignals (M) das Auswerte
signal (S) mit einem Quotienten ((A1-A2)/(D1+D2)) aus einer
Differenz (A1-A2) der beiden Wechselsignalanteile (A1, A2) und
der Summe (D1+D2) der beiden Gleichsignalanteile (D1, D2) bil
den.
25. Anordnung nach einem der Ansprüche 14 bis 24, bei der das
Temperatursignal (T) oder ein daraus ermittelter Temperatur
meßwert (TX) an einem Ausgang (20A) ansteht.
26. Anordnung nach einem der Ansprüche 14 bis 25, bei der die
Faraday-Sensoreinrichtung (3) mit wenigstens einer Lichtleit
faser gebildet ist, die eine reziproke zirkulare Doppelbre
chung und eine gegenüber dieser reziproken zirkularen Doppel
brechung vernachlässigbare lineare Doppelbrechung aufweist.
27. Anordnung nach einem der Ansprüche 14 bis 26 zum Messen
eines elektrischen Wechselstromes (I), bei der die Faraday-
Sensoreinrichtung (3) im vom Wechselstrom (I) erzeugten
magnetischen Wechselfeld (H) angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995117128 DE19517128A1 (de) | 1995-05-10 | 1995-05-10 | Verfahren und Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit Off-set-Faraday-Rotation zur Temperaturkompensation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995117128 DE19517128A1 (de) | 1995-05-10 | 1995-05-10 | Verfahren und Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit Off-set-Faraday-Rotation zur Temperaturkompensation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19517128A1 true DE19517128A1 (de) | 1996-11-14 |
Family
ID=7761556
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995117128 Withdrawn DE19517128A1 (de) | 1995-05-10 | 1995-05-10 | Verfahren und Anordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit Off-set-Faraday-Rotation zur Temperaturkompensation |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19517128A1 (de) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998008105A1 (en) * | 1996-08-01 | 1998-02-26 | The Texas A & M University System | Fiber optics apparatus and method for accurate current sensing |
WO1998012570A1 (de) * | 1996-09-20 | 1998-03-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur gewinnung eines temperaturgangkompensierten ausgangssignals bei einem optischen strommessensor |
US6023331A (en) * | 1997-06-19 | 2000-02-08 | The Texas A&M University System | Fiber optic interferometric sensor and method by adding controlled amounts of circular birefringence in the sensing fiber |
US6188811B1 (en) | 1998-10-31 | 2001-02-13 | The Texas A&M Universtiy System | Fiber optic current sensor |
US6307632B1 (en) | 1999-03-24 | 2001-10-23 | The Texas A&M University System | Magnetic field integrated fiber optic sensor with improved sensitivity |
US6392583B1 (en) | 1998-03-31 | 2002-05-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and configuration for processing at least one analog signal containing a number of frequency ranges |
EP1804066A1 (de) * | 2004-08-25 | 2007-07-04 | The Tokyo Electric Power Company Incorporated | Verfahren zur verringerung des temperaturabhängigen fehlers in einem fotostromsensor und fotostrom-sensoreinrichtung |
EP3076192A1 (de) * | 2015-04-01 | 2016-10-05 | General Electric Company | Optischer stromwandler mit offsetunterdrückung und stromlinearisierung |
EP3076191A1 (de) * | 2015-04-01 | 2016-10-05 | General Electric Company | Optischer stromwandler mit offsetunterdrückung |
Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3115433A1 (de) * | 1981-04-16 | 1982-11-11 | Philips Kommunikations Industrie AG, 8500 Nürnberg | "messvorrichtung zur magneto-optischen strommessung" |
US4370612A (en) * | 1979-07-24 | 1983-01-25 | Thomson-Csf | Interferometric optical fiber electric current measuring device |
EP0088419B1 (de) * | 1982-03-08 | 1986-06-25 | Hitachi, Ltd. | Vorrichtung zur optischen Messung eines Stromes |
DE3726411A1 (de) * | 1987-08-07 | 1989-02-16 | Siemens Ag | Faseroptischer magnetfeldsensor |
US4933629A (en) * | 1988-07-09 | 1990-06-12 | Ngk Insulators, Ltd. | Method and apparatus for optically measuring electric and magnetic quantities having an optical sensing head exhibiting the Pockel's and Faraday effects |
EP0390581A2 (de) * | 1989-03-31 | 1990-10-03 | Ngk Insulators, Ltd. | Instrument zur gleichzeitigen optischen Messung von thermischen und elektrischen Grössen |
DE3931543A1 (de) * | 1989-09-21 | 1991-04-04 | Siemens Ag | Polarimeteranordnung |
US5051577A (en) * | 1990-03-20 | 1991-09-24 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Faraday effect current sensor having two polarizing fibers at an acute angle |
EP0477415A1 (de) * | 1990-09-28 | 1992-04-01 | Asea Brown Boveri Ag | Optischer Stromwandler |
US5136235A (en) * | 1989-12-01 | 1992-08-04 | Asea Brown Boveri Ltd. | Rugged fiber-optical current sensor based on the faraday effect |
DE4312184A1 (de) * | 1993-04-14 | 1994-10-20 | Siemens Ag | Optisches Meßverfahren zum Messen eines elektrischen Wechselstromes mit Temperaturkompensation und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE4312183A1 (de) * | 1993-04-14 | 1994-10-20 | Siemens Ag | Optisches Meßverfahren zum Messen eines elektrischen Wechselstromes mit Temperaturkompensation und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE4342410A1 (de) * | 1993-12-13 | 1995-06-14 | Abb Research Ltd | Verfahren zur magnetooptischen Strommessung und magnetooptische Strommeßeinrichtung |
-
1995
- 1995-05-10 DE DE1995117128 patent/DE19517128A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4370612A (en) * | 1979-07-24 | 1983-01-25 | Thomson-Csf | Interferometric optical fiber electric current measuring device |
DE3115433A1 (de) * | 1981-04-16 | 1982-11-11 | Philips Kommunikations Industrie AG, 8500 Nürnberg | "messvorrichtung zur magneto-optischen strommessung" |
EP0088419B1 (de) * | 1982-03-08 | 1986-06-25 | Hitachi, Ltd. | Vorrichtung zur optischen Messung eines Stromes |
DE3726411A1 (de) * | 1987-08-07 | 1989-02-16 | Siemens Ag | Faseroptischer magnetfeldsensor |
US4933629A (en) * | 1988-07-09 | 1990-06-12 | Ngk Insulators, Ltd. | Method and apparatus for optically measuring electric and magnetic quantities having an optical sensing head exhibiting the Pockel's and Faraday effects |
US5053617A (en) * | 1989-03-31 | 1991-10-01 | Ngk Insulators, Ltd. | Instrument for concurrently optically measuring thermal and electric quantities |
EP0390581A2 (de) * | 1989-03-31 | 1990-10-03 | Ngk Insulators, Ltd. | Instrument zur gleichzeitigen optischen Messung von thermischen und elektrischen Grössen |
DE3931543A1 (de) * | 1989-09-21 | 1991-04-04 | Siemens Ag | Polarimeteranordnung |
US5136235A (en) * | 1989-12-01 | 1992-08-04 | Asea Brown Boveri Ltd. | Rugged fiber-optical current sensor based on the faraday effect |
US5051577A (en) * | 1990-03-20 | 1991-09-24 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Faraday effect current sensor having two polarizing fibers at an acute angle |
EP0477415A1 (de) * | 1990-09-28 | 1992-04-01 | Asea Brown Boveri Ag | Optischer Stromwandler |
DE4312184A1 (de) * | 1993-04-14 | 1994-10-20 | Siemens Ag | Optisches Meßverfahren zum Messen eines elektrischen Wechselstromes mit Temperaturkompensation und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE4312183A1 (de) * | 1993-04-14 | 1994-10-20 | Siemens Ag | Optisches Meßverfahren zum Messen eines elektrischen Wechselstromes mit Temperaturkompensation und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
WO1994024572A1 (de) * | 1993-04-14 | 1994-10-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Optisches messverfahren zum messen eines elektrischen wechselstromes mit temperaturkompensation und vorrichtung zur durchführung des verfahrens |
DE4342410A1 (de) * | 1993-12-13 | 1995-06-14 | Abb Research Ltd | Verfahren zur magnetooptischen Strommessung und magnetooptische Strommeßeinrichtung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
BARGMANN,W.-D., WINTERHOFF,H.: Meßverfahren zur Strommessung in Hochspannungsanlagen (Faraday- Effekt in Lichtwellenleitern). In: Technisches Messen 50.Jg., 1983, H.2, S.69-77 * |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998008105A1 (en) * | 1996-08-01 | 1998-02-26 | The Texas A & M University System | Fiber optics apparatus and method for accurate current sensing |
WO1998012570A1 (de) * | 1996-09-20 | 1998-03-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur gewinnung eines temperaturgangkompensierten ausgangssignals bei einem optischen strommessensor |
US6417660B2 (en) | 1996-09-20 | 2002-07-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Method to obtain a temperature coefficient-compensated output signal in an optical current measuring sensor |
US6023331A (en) * | 1997-06-19 | 2000-02-08 | The Texas A&M University System | Fiber optic interferometric sensor and method by adding controlled amounts of circular birefringence in the sensing fiber |
US6392583B1 (en) | 1998-03-31 | 2002-05-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and configuration for processing at least one analog signal containing a number of frequency ranges |
US6188811B1 (en) | 1998-10-31 | 2001-02-13 | The Texas A&M Universtiy System | Fiber optic current sensor |
US6307632B1 (en) | 1999-03-24 | 2001-10-23 | The Texas A&M University System | Magnetic field integrated fiber optic sensor with improved sensitivity |
EP1804066A1 (de) * | 2004-08-25 | 2007-07-04 | The Tokyo Electric Power Company Incorporated | Verfahren zur verringerung des temperaturabhängigen fehlers in einem fotostromsensor und fotostrom-sensoreinrichtung |
EP1804066A4 (de) * | 2004-08-25 | 2008-12-31 | Tokyo Electric Power Co | Verfahren zur verringerung des temperaturabhängigen fehlers in einem fotostromsensor und fotostrom-sensoreinrichtung |
EP3076192A1 (de) * | 2015-04-01 | 2016-10-05 | General Electric Company | Optischer stromwandler mit offsetunterdrückung und stromlinearisierung |
EP3076191A1 (de) * | 2015-04-01 | 2016-10-05 | General Electric Company | Optischer stromwandler mit offsetunterdrückung |
US10473697B2 (en) | 2015-04-01 | 2019-11-12 | General Electric Company | Current transducer with offset cancellation |
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