DE60307934T2 - Pilotton Multiplexierung der Polarisationszustände in der Heterodynanalyse eines optischen Elements - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 83
- 230000010287 polarization Effects 0.000 title claims description 78
- 230000000638 stimulation Effects 0.000 claims description 23
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 23
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 238000003012 network analysis Methods 0.000 description 3
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 3
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US174778 | 2002-06-18 | ||
| US10/174,778 US6894780B2 (en) | 2002-06-18 | 2002-06-18 | Pilot tone multiplexing of polarization states in heterodyne optical component analysis |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE60307934D1 DE60307934D1 (de) | 2006-10-12 |
| DE60307934T2 true DE60307934T2 (de) | 2007-04-26 |
Family
ID=29717812
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE60307934T Expired - Fee Related DE60307934T2 (de) | 2002-06-18 | 2003-03-19 | Pilotton Multiplexierung der Polarisationszustände in der Heterodynanalyse eines optischen Elements |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6894780B2 (enExample) |
| EP (1) | EP1376091B1 (enExample) |
| JP (1) | JP2004020567A (enExample) |
| DE (1) | DE60307934T2 (enExample) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4725778B2 (ja) * | 2005-05-31 | 2011-07-13 | 横河電機株式会社 | 光学特性測定装置 |
| DE102006025122A1 (de) | 2005-05-31 | 2006-12-07 | Yokogawa Electric Corporation, Musashino | Vorrichtung zur Messung einer optischen Charakteristik |
| US7924025B2 (en) * | 2005-07-25 | 2011-04-12 | University Of Florida Research Foundation, Inc. | System, device, and method for embedded S-parameter measurement |
| JP5186993B2 (ja) * | 2008-04-30 | 2013-04-24 | 富士通株式会社 | 偏波多重光送受信装置 |
| JP5405853B2 (ja) * | 2009-02-24 | 2014-02-05 | 日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 | 投写型映像表示装置 |
| WO2010131323A1 (ja) * | 2009-05-11 | 2010-11-18 | 三菱電機株式会社 | 偏波多重分離装置 |
| CN102045127B (zh) * | 2009-10-23 | 2014-12-10 | 华为技术有限公司 | 光解偏振复用的接收装置、发送装置、系统及方法 |
| US9473948B2 (en) | 2012-05-28 | 2016-10-18 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Method and apparatus for analyzing pilot pollution |
| JP2017026989A (ja) * | 2015-07-28 | 2017-02-02 | 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 | 光送信機、及び光変調器の制御方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01147334A (ja) | 1987-12-03 | 1989-06-09 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 偏波保持光ファイバの複屈折率測定装置 |
| US5227623A (en) * | 1992-01-31 | 1993-07-13 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for measuring polarization mode dispersion in optical devices |
| US5371597A (en) | 1993-11-23 | 1994-12-06 | At&T Corp. | System and method for measuring polarization dependent loss |
| US6380533B1 (en) | 1999-02-19 | 2002-04-30 | Lucent Technologies Inc. | Method for measurement of first-and second-order polarization mode dispersion vectors in optical fibers |
| US6144450A (en) * | 1999-09-13 | 2000-11-07 | Lucent Technologies | Apparatus and method for improving the accuracy of polarization mode dispersion measurements |
| US6362874B1 (en) * | 2000-03-08 | 2002-03-26 | Lucent Technologies Inc. | Polarization mode dispersion measurement using phase-sensitive sideband detection |
| US6239873B1 (en) * | 2000-11-13 | 2001-05-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Apparatus for simultaneous measurement of two polarization states of scattered light |
-
2002
- 2002-06-18 US US10/174,778 patent/US6894780B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-03-19 DE DE60307934T patent/DE60307934T2/de not_active Expired - Fee Related
- 2003-03-19 EP EP03006075A patent/EP1376091B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-06-11 JP JP2003165854A patent/JP2004020567A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20030231311A1 (en) | 2003-12-18 |
| JP2004020567A (ja) | 2004-01-22 |
| EP1376091A2 (en) | 2004-01-02 |
| EP1376091A3 (en) | 2004-12-29 |
| DE60307934D1 (de) | 2006-10-12 |
| EP1376091B1 (en) | 2006-08-30 |
| US6894780B2 (en) | 2005-05-17 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |