DE60306439T2 - Komparator mit Hysterese - Google Patents

Komparator mit Hysterese Download PDF

Info

Publication number
DE60306439T2
DE60306439T2 DE60306439T DE60306439T DE60306439T2 DE 60306439 T2 DE60306439 T2 DE 60306439T2 DE 60306439 T DE60306439 T DE 60306439T DE 60306439 T DE60306439 T DE 60306439T DE 60306439 T2 DE60306439 T2 DE 60306439T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
transistor
comparator
voltage
input
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE60306439T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60306439D1 (de
Inventor
Janardhanan S. 92604 Irvine Ajit
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Broadcom Corp
Original Assignee
Broadcom Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Broadcom Corp filed Critical Broadcom Corp
Application granted granted Critical
Publication of DE60306439D1 publication Critical patent/DE60306439D1/de
Publication of DE60306439T2 publication Critical patent/DE60306439T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356113Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/3565Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/01Details
    • H03K3/013Modifications of generator to prevent operation by noise or interference

Landscapes

  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Komparator, spezieller auf einen Komparator mit Hysterese.
  • Es besteht der Wunsch, eine Eingangsschaltung mit Hysterese zu entwerfen, um die Auswirkungen von Rauschen von einem ungeregelten Eingangssignal abzumildern, welches an dem Eingang (Pad) empfangen wird. Es ist vorteilhaft, wenn die Eingangsschaltung eine genaue Steuerung des Eingangsschaltpunktes aufweist.
  • Des Weiteren werden integrierte Schaltkreise (ICs = Integrated Circuits) mit einer Technologie für eine reduzierte Ausbildungsgröße und mit reduziertem Kern-Spannungspegeln in dem Bereich von 1,2 V hergestellt. Diese ICs müssen vielleicht an Eingangssignale mit höheren Spannungspegeln ankoppeln.
  • US-A-5 087 841 bezieht sich auf Pufferschaltungen, welche TTL zu CMOS Pegeln umwandeln, wobei sie mehrere Stufen mit Rückwärts- und Vorwärtskopplungen zwischen den Stufen einschließen, welche einen statischen Strom beseitigen, wenn ein TTL Datensignal mit hohem Leistungspegel an den Eingang der Pufferschaltung angelegt wird.
  • Die obigen und weitere Probleme werden durch den Komparator mit Hysterese gemäß Patentanspruch 1 erfindungsgemäß gelöst. Vorteilhafte Ausführungsformen sind in den abhängigen Unteransprüchen definiert.
  • Die vorliegende Erfindung schließt eine Eingangsschaltung mit Hysterese ein, um die Auswirkungen von Eingangsrauschen abzuschwächen. Die Eingangsschaltung empfängt ein analoges Eingangssignal und ermittelt, ob das ungeregelte analoge Eingangssignal eine hohe oder eine niedrige Spannung aufweist. Die Eingangsschaltung gibt eine geregelte niedrige Spannung (d.h. "0") für ein niedriges Eingangssignal aus und gibt eine geregelte hohe Spannung (d.h. "1") für ein hohes Eingangssignal aus.
  • Die Eingangsschaltung schließt einen Komparator ein, welcher eine Hysterese-Eigenschaft aufweist, wobei der Ausgabeübergang von niedrig zu hoch eine höhere Eingangsspannung erfordert als der Übergang von hoch zu niedrig. In anderen Worten, der Komparator ist dafür ausgebildet, zwei Auslösespannungen zu besitzen. Damit die Ausgabe von niedrig zu hoch übergeht, muss die Eingangsspannung über eine erste Schwellenspannung steigen. Damit die Ausgabe von hoch zu niedrig übergeht, muss die Eingangsspannung unter eine zweite Schwellenspannung fallen, wobei die erste Schwellenspannung höher ist als die zweite Schwellenspannung. Die zwei getrennten Schwellenwerte helfen dabei, zu verhindern, dass Rauschen auf dem Eingangssignal versehentlich bewirkt, dass die Eingangsschaltung ihren Zustand ändert. Des Weiteren schließt der Komparator einen Rückführungspfad von einem Ausgang des Komparators zu einem Eingang des Komparators ein. Der Rückführungspfad bewirkt eine gewisse Verzögerung jedes Ausgabespannungsübergangs (d.h. hoch-zu-niedrig Ausgabeübergang oder niedrig-zu-hoch Übergang), was den Hysterese-Effekt weiter verstärkt und eine Unempfindlichkeit gegenüber Rauschen verbessert.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Schaltung koppelt an Eingangssignale mit hoher Spannung (z.B. 5 V) und gibt Ausgabesignale mit niedriger Spannung (z.B. 1,2 V) aus. Mit anderen Worten, die Eingangsschaltung liefert auch einen Spannungsübergang, während sie die niedrig-zu-hoch und hoch-zu-niedrig Übergänge detektiert.
  • Die vorliegende Erfindung wird unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen beschrieben. In den Zeichnungen zeigen gleiche Bezugszeichen identische oder funktional ähnliche Elemente an. Zusätzlich gibt/geben die Ziffer(n) ganz links von einem Bezugszeichen die Zeichnung an, in welcher das Bezugszeichen zuerst auftritt.
  • 1 erläutert eine Eingangsschaltung mit einem Komparator mit Hysterese gemäß Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung.
  • 2 erläutert eine Tabelle 200, welche die Arbeitsweise des Komparators in 1 beschreibt.
  • 3 erläutert eine Eingangsschaltung mit Hysterese und auch mit Spannungsbegrenzung/-schutz gemäß Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung.
  • 4 erläutert eine Eingangsschaltung mit Hysterese und auch mit Spannungsbegrenzung/-Schutz gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 5 erläutert eine Eingangsschaltung mit Hysterese und auch mit Spannungsbegrenzung/-schutz gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 1 erläutert eine Eingangsschaltung 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Eingangsschaltung 100 empfängt ein ungeregeltes Eingangssignal an dem Eingangs-Pad 109 und ermittelt, ob das ungeregelte Eingangssignal eine hohe oder niedrige Spannung darstellt, basierend auf der Amplitude. Die Eingangsschaltung 100 gibt eine regulierte hohe Spannung an dem Ausgang 101 aus, wenn die unregulierte Eingangsspannung höher als eine erste Schwellenspannung (z.B. ein vorbestimmter Wert) ist, und gibt eine regulierte niedrige Spannung an dem Ausgangs-Pad 101 aus, wenn die ungeregelte Eingangsspannung niedriger als eine zweite Schwellenspannung (z.B. ein vorbestimmter Wert) ist. Die Eingangsschaltung 100 besitzt eine Hysterese-Eigenschaft, wobei der Ausgabe-Übergang von niedrig zu hoch eine höhere Eingangsspannung erfordert als der Übergang von hoch zu niedrig. Mit anderen Worten, es existieren zwei Auslösespannungen. Damit die Ausgabe von niedrig zu hoch übergeht, muss die Eingangsspannung am Pad 109 über eine erste Schwellenspannung steigen. Damit die Ausgabe von hoch zu niedrig übergeht, muss die Eingabe unter eine zweite Schwellenspannung fallen, wobei die erste Schwellenspannung höher als die zweite Schwellenspannung ist. Die zwei getrennten Schwellwerte unterstützen ein Verbessern einer Rauschtoleranz auf dem Eingangssignal und reduzieren die Wahrscheinlichkeit, dass Rauschen versehentlich bewirkt, dass die Eingangsschaltung 100 ihren Zustand ändert.
  • Die Eingangsschaltung 100 schließt eine optionale Strom-/Spannungsbegrenzungsstufe 108 ein, eine optionale elektrostatische Entladungs-(ESD = Electro-Static Discharge)-Schutzstufe 106, einen Komparator 104 und einen Ausgangspuffer/Inverter 102 ein. Die Strom-/Spannungsbegrenzungsstufe 108 und die ESD-Schutzstufe 106 stellen Strom- und Spannungsschutz für den Komparator 104 bereit, wie für dem Fachmann zu erkennen ist. Der Komparator 104 detektiert Spannungsübergänge (hoch-zu-niedrig und niedrig-zu-hoch) in einem am Pad 109 empfangenen Eingangssignal und erzeugt eine Spannungsausgabe am Knoten 120, welche die Eingangsspannung (und beliebige Spannungsübergänge) an dem Eingangs-Pad 109 darstellt. Der Puffer/Inverter 102 invertiert die Ausgabe des Komparators 104 und liefert eine geregelte Ausgabespannung an den Ausgangs-Pad 101, wobei die Amplitude der geregelten Ausgabespannung von den Versorgungsspannungen VSSC und VDDC bestimmt wird. Als solche kann die Spannungsversorgung VDDC relativ zu der Versorgungsspannung VDDO erhöht oder reduziert werden. Zum Beispiel, wenn die mit dem Ausgangs-Pad 101 verbundene Schaltung eine Schaltung mit niedriger Spannung ist, kann die Spannungsversorgung VDDC für eine Kompatibilität auf eine niedrigere Versorgungsspannung (z.B. 1,2 V) gesetzt werden. Wohingegen die Spannungsversorgung VDDO auf einer höheren Versorgungsspannung (3,3 V) gehalten werden kann, um Eingangssignale mit höherer Spannung aufzunehmen. Demgemäß kann die Eingangsspannung eine Spannungspegelverschiebung von einem Eingangssignal mit höherer Spannung zu einem Ausgangssignal mit niedrigerer Spannung (z.B. 5 V zu 1,2 V) umsetzen.
  • Der Komparator 104 schließt einen N-Typ-Feldeffekttransistor (NFET = N-Type Field Effect Transistor) 114 und eine NFET 118 ein, deren jeweilige Gate-Anschlüsse durch einen Inverter 116 miteinander verbunden sind. Der Gate-Anschluss von NFET 114 empfängt direkt das Eingangssignal vom Eingangs-Pad 109 und der Gate-Anschluss von NFET 118 empfängt eine invertierte Ausgabe des Eingangssignals von dem Inverter 116. Die Source-Anschlüsse der NFETs 114 und 118 sind mit VSSC verbunden, welche eine relativ niedrige Versorgungsspannung darstellt. Zum Beispiel könnte VSSC in Ausführungsbeispielen der Erfindung Masse oder sogar eine negative Spannung sein. Die Drain-Anschlüsse der NFETs 114 und 118 sind mit entsprechenden P-Typ-Feldeffekttransistoren (PFETs = P-Type Field Effect Transistors) 110 und 112 an entsprechenden Knoten 120 und 122 verbunden. Spezieller, ist der Drain-Anschluss von NFET 114 mit dem Drain-Anschluss von PFET 110 am Knoten 120 verbunden und der Drain-Anschluss von NFET 118 ist mit dem Drain-Anschluss von PFET 112 am Knoten 122 verbunden. Die Source-Anschlüsse der PFETs 110 und 112 sind mit einer relativ hohen Versorgungsspannung VDDO (z.B. 3,3 Volt) verbunden.
  • Der Komparator 104 schließt einen Rückführungspfad von dem Ausgang zu dem Eingang ein. Spezieller, wird der Ausgangsknoten 120 zurück zu dem Gate-Anschluss von NFET 118 durch den Rückführungspfad 124 geführt. Wie hierin weiter erläutert wird, verursacht dieser Rückführungspfad 124 eine Verzögerung der Zustandsänderung des Komparators 104, wo durch der gewünschte Hysterese-Effekt und eine verbesserte Rauschunempfindlichkeit bereitgestellt wird.
  • In Ausführungsbeispielen der Erfindung sind die NFETs und PFETs MOSFETs, welche unter Verwendung von Standard CMOS Verfahren hergestellt werden. Andere Verfahren und Transistorstrukturen könnten verwendet werden, wie ein Fachmann ersehen kann, basierend auf der hierin gegebenen Erläuterung.
  • 2 erläutert eine Tabelle 200, welche die Arbeitsweise des Komparators 104 weiter beschreibt. Spezieller beschreibt die Tabelle 200 den stationären Zustand der Komparatorelemente für sowohl eine hohe Eingabe als auch eine niedrige Eingabe an den Pad 109. Die Tabelle 200 wird für hohe und niedrige Eingangsspannungen unten erläutert.
  • Für eine hohe Eingangsspannung im stationären Zustand wird der NFET 114 AN-geschaltet, weil die hohe Eingangsspannung an den Gate-Anschluss des NFET 114 angelegt wird. Wenn der NFET 114 leitfähig ist, wird der Knoten 120 auf das Niveau von VSSC gesenkt. Der Inverter 116 invertiert die hohe Eingangsspannung und legt die resultierende niedrige Spannung an den Gate-Anschluss von NFET 118 an, wodurch NFET 118 AUS-geschaltet wird. Die VSSC-Spannung am Knoten 120 wird an den Gate-Anschluss von PFET 112 angelegt und schaltet den PFET 112 AN, was den Knoten 122 auf das Niveau von VDDO erhöht. Die VDDO-Spannung an dem Knoten 122 wird an den Gate-Anschluss von PFET 110 angelegt, sodass der PFET 110 AUS-geschaltet wird. Als Ergebnis gibt der Ausgangsknoten 120 des Komparators 104 eine niedrige Spannung VSSC für eine hohe Eingangsspannung an den Pad 109 aus. Die niedrige Spannung VSSC wird durch den Puffer/Inverter 112 invertiert, um eine geregelte hohe Spannung VDDC an dem Ausgang 101 auszugeben.
  • Für eine niedrige Spannung wird der NFET 114 ausgeschaltet, weil die niedrige Eingangsspannung an seinem Gate-Anschluss angelegt wird. Inverter 116 invertiert die niedrige Eingangsspannung und legt die resultierende hohe Spannung an den Gate-Anschluss von NFET 118 an, wodurch der NFET 118 AN-geschaltet wird. Der leitende NFET 118 bewirkt, dass der Knoten 122 auf das Niveau von VSSC gesenkt wird. Die VSSC-Spannung an dem Knoten 122 wird an den Gate-Anschluss des PFET 110 angelegt, wodurch bewirkt wird, dass der PFET 110 leitfähig ist, was die Spannung am Knoten 120 auf das Niveau von VDDO erhöht. Die VDDO-Spannung am Knoten 120 wird an den Gate-Anschluss von PFET 112 angelegt, sodass der PFET 112 AUS-geschaltet wird. Als Ergebnis gibt der Ausgangsknoten 120 des Komparators 104 eine hohe Spannung VDDO für eine niedrige Eingangsspannung aus. Die hohe Spannung VDDO wird von dem Puffer/Inverter 102 invertiert, um eine geregelte niedrige Spannung VSSC am Ausgang 101 auszugeben.
  • Der gewünschte Hysterese-Effekt wird durch den Rückführungspfad 124 von dem Ausgangsknoten 120 zu dem Gate-Anschluss des NFET 118 verwirklicht. Dies ist zu erkennen, indem man die Arbeitsweise des Komparators 104 während eines Übergangs von einer niedrigen Eingangsspannung zu einer hohen Eingangsspannung (d.h. niedrig-zu-hoch Übergang) und umgekehrt (d.h. hoch-zu-niedrig Übergang) genauer betrachtet.
  • Wie oben erläutert, besteht die Komparator-Stufe 104 aus NFET 114 und NFET 118. Abhängig von dem Pegel des Signals an dem Eingang (Pad) 109 und der Art des Signals (steigend/fallend) ist der Ausgang des Komparators 104 hoch oder niedrig. Für steigende Eingaben ist der Umschaltpunkt (oder Schwellwert) des Komparators 104 (Vsw,r) größer als der Umschaltpunkt (oder Schwellwert) des Komparators 104 (Vsw,f) für fallende Eingaben. Der Unterschied zwischen Vsw,r und Vsw,f ist die Hysterese des Komparators 104. Der Umschaltpunkt des Komparators 104 kann hauptsächlich durch ein Verändern des Verhältnisses von NFET 114 zu NFET 118 verändert werden, was deren jeweilige Schwellenspannungen verändert.
  • Vor einem niedrig-zu-hoch Übergang ist der Knoten 120 auf einer hohen Spannung (siehe Tabelle 200), welche auch an den Gate-Anschluss von NFET 118 durch den Rückführungspfad 124 angelegt wird. Sobald die hohe Eingangsspannung von dem Eingangs-Pad 109 eintrifft, legt der Inverter 116 eine niedrige Spannung an den Gate-Anschluss des NFET 118 an. Jedoch kollidiert die neue niedrige Spannung (temporär) mit der hohen Spannung von dem Knoten 120, welche sich bereits an dem Gate-Anschluss des NFET 118 befindet. Daher ändert der NFET 118 (und der Komparator 104) nicht sofort seinen Zustand. Stattdessen tritt eine gewisse Verzögerung auf, bis die Auswirkung der neuen Eingabe zum Komparator 104 gelangt. Als Folge ändert der Komparator nicht seinen Zustand, wenn die neue hohe Eingangsspannung Rauschen ist, welches schnell wieder zu niedrig zurückgeht. Mit anderen Worten, wenn die neue Eingangsspannung Rauschen ist, bleibt die Rückführungsspannung von dem Ausgangsknoten 120 beherrschend und der Komparator 104 ändert nicht seinen Zustand.
  • Vor einem hoch-zu-niedrig Übergang befindet sich Knoten 120 auf einer niedrigen Spannung (siehe Tabelle 200), welche an den Gate-Anschluss von FET 118 durch den Rückführungspfad 124 angelegt wird. Sobald die niedrige Spannung von dem Eingangs-Pad 109 eintrifft, legt der Inverter 116 eine hohe Spannung an den Gate-Anschluss des NFET 118 an. Die neue hohe Spannung kollidiert (temporär) mit der niedrigen Spannung von dem Knoten 120, welche sich bereits an dem Gate-Anschluss von NFET 118 befindet. Daher ändert der NFET 118 (und der Komparator 104) nicht sofort seinen Zustand. Stattdessen tritt eine gewisse Verzögerung auf, bis die Auswirkung der neuen Eingabe zum Komparator 104 gelangt. Als Folge ändert der Komparator 104 nicht seinen Zustand, wenn die neue niedrige Spannung Rauschen ist, welches schnell wieder hoch wird.
  • Das Gesamtergebnis ist, dass der Spannungsschwellwert für einen niedrig-zu-hoch Übergang höher ist als der Spannungsschwellwert für einen hoch-zu-niedrig Übergang. Diese verschiedenen Schwellwerte schwächen die Auswirkungen von Eingabe-Rauschen ab, wie oben erläutert.
  • 3 erläutert ein Ausführungsbeispiel 300 der Erfindung zum Ankoppeln an Eingangssignale mit hoher Spannung (z.B. 5 Volt) und mit Signalen niedriger Spannung (z.B. 1,2 V) an dem Ausgang. Die am Pad 109 empfangenen Eingangssignale gelangen zu einem NFET 304. Der Gate-Anschluss des NFET 304 ist mit VDDP (z.B. 2,5 V) verbunden und daher ist die maximale Spannung an dem Ausgang des NFET 304 VDDP-Vtn (d.h. VDDP-Schwellenspannung für NFET). Zum Beispiel, wenn der Gate-Anschluss von NFET 304 mit 2,5 V verbunden ist, dann wandelt der NFET 304 eine 5 V Schwankung an dem Eingangs-Pad 109 zu einer 2 V Schwankung um, welche von dem Komparator 302 empfangen wird. Alternativ kann der Gate-Anschluss von NFET 304 mit VDDO_L (z.B. 3,3 V) oder VDDO_L-Vtn verbunden sind, wobei in diesen Fällen die maximale Spannung an dem Ausgang des NFET VDDO_L-Vtn bzw. VDDO-L-Vtn-Vtn beträgt. Die Ausgabe des NFET 304 geht durch eine Komparatorstufe 302, um zu ermitteln, ob die Eingabe eine hohe oder eine niedrige ist, wie oben beschrieben.
  • Wie oben erläutert, besteht die Komparatorstufe 302 aus NFET 114 und NFET 118. Abhängig von dem Pegel des Signals an dem Eingang (Pad) 109 und der Art des Signals (steigend/fallend) ist die Ausgabe des Komparators 302 hoch oder niedrig. Für steigende Eingaben ist der Umschaltpunkt (oder Schwellwert) des Komparators 302 (Vsw,r) größer als der Umschaltpunkt (oder Schwellwert) des Komparators 302 (Vsw,f) für fallende Eingaben. Der Unterschied zwischen Vsw,r und Vsw,f ist die Hysterese des Komparators 302. Der Umschaltpunkt des Komparators 302 kann hauptsächlich durch ein Verändern des Verhältnisses von NFET 114 zu NFET 118 verändert werden.
  • Die zusätzlichen PFETs 306 und 308 liefern einen Spannungsabfall für die entsprechenden PFETs 110 und 112, um die Gates-Anschlüsse dieser PFETs zu schützen. Die PFETs 306 und 308 werden auf VDDC-Vtp (d.h., VDDC-Schwellenspannung für PFET) vorgespannt, welche ungefähr 1 V beträgt. Die Gate-Spannungen der PFETs 110 und 112 werden daher auf ungefähr 2,5 V begrenzt.
  • 4 erläutert ein Ausführungsbeispiel der Erfindung mit einem zusätzlichen Spannungsschutz-Merkmal. Die NFETs 406 und 408 in Komparator 402 stellen einen Spannungsbegrenzungsschutz für die Gate-Anschlüsse der NFETs 114 und 118 bereit.
  • 5 erläutert eine Eingangsschaltung 500, welche eine Abänderung des Ausführungsbeispiels von 4 ist, wobei die Spannungsschutz-NFETs und PFETs bezüglich der Schaltung in 4 vertauscht sind. Die jeweiligen Gate-Anschlüsse der NFETs 506 und 508 sind mit BIAS_A verbunden und die Gate-Anschlüsse der PFETs 507 und 508 sind mit BIAS_B verbunden. BIAS_A könnte beispielsweise VDDO_L, VDDO_L-Vtn oder VDDP sein. BIAS_B könnte beispielsweise 0, VDDC-Vtp oder VDDC sein. Die NFETs 506 und 508 begrenzen die maximale Spannung an ihren jeweiligen Source-Anschlüssen auf BIAS_A-Vtn und die PFETs 507 und 509 begrenzen die minimale Spannung an ihren jeweiligen Source-Anschlüssen auf BIAS_B + Vtp.
  • Fazit
  • Beispielhafte Ausführungsformen der Verfahren, Systeme und Komponenten der vorliegenden Beschreibung sind hierin beschrieben worden. Wie an anderer Stelle angemerkt, sind diese beispielhaften Ausführungsformen nur zu erläuternden Zwecken beschrieben worden und sind nicht einschränkend. Andere Ausführungsbeispiele sind möglich und von der Erfindung abgedeckt. Derartige andere Ausführungsbeispiele sind für den entsprechenden Fachmann, basierend auf den hierin enthaltenen Lehren, ersichtlich. Daher soll die Breite und der Schutzumfang der vorliegenden Erfindung nicht durch eines der oben beschriebenen beispielhaften Ausführungsformen begrenzt werden, sondern sollte nur gemäß den folgenden Ansprüchen und ihren Äquivalenten definiert werden.

Claims (16)

  1. Komparator (104) mit Hysterese, aufweisend: einen Eingangsknoten und einen Ausgangsknoten (120); ein erstes Transistorpaar (114, 118), welches einen ersten Transistor (114) und einen zweiten Transistor (118) einschließt, wobei jeweilige Source-Anschlüsse des ersten Transistorpaares (114, 118) mit einer ersten Versorgungsspannung verbunden sind, ein Gate-Anschluss des ersten Transistors (114) mit dem Eingangsknoten und ein Drain-Anschluss des ersten Transistors (114) mit dem Ausgangsknoten (120) verbunden ist; einen Inverter (116), dessen Eingang mit dem Gate-Anschluss des ersten Transistors (114) verbunden ist und dessen Ausgang mit einem Gate-Anschluss des zweiten Transistors (118) verbunden ist; und ein zweites Transistorpaar (110, 112), welches einen dritten Transistor (110) und einen vierten Transistor (112) einschließt, wobei jeweilige Source-Anschlüsse des zweiten Transistorpaares (110, 112) mit einer zweiten Versorgungsspannung verbunden sind, ein Gate-Anschluss des dritten Transistors (110) mit einem Drain-Anschluss des vierten Transistors (112) verbunden ist, ein Gate-Anschluss des vierten Transistors (112) mit einem Drain-Anschluss des dritten Transistors (110) verbunden ist und Drain-Anschlüsse des zweiten Transistorpaares (110, 112) jeweils mit Drain-Anschlüssen des ersten Transistorpaares (114, 118) verbunden sind; dadurch gekennzeichnet, dass der Komparator ferner einen Rückführungspfad (124) von dem Ausgangsknoten (120) zu dem Ausgang des Inverters (116) aufweist.
  2. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei die Transistoren (110, 112, 114, 118) MOSFET Transistoren sind.
  3. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei das erste Transistorpaar (114, 118) n-Typ MOSFETs sind und das zweite Transistorpaar (110, 112) p-Typ MOSFETs sind.
  4. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei während eines Spannungsübergangs eines an dem Eingangsknoten empfangenen Eingangssignals, eine Spannung an dem Gate-Anschluss des zweiten Transistors (118) temporär mit einer bereits an dem Ausgangsknoten (120) vorhandenen Spannung kollidiert, welcher über den Rückführungspfad (124) mit dem Gate-Anschluss des zweiten Transistors (118) verbunden ist, wodurch eine Verzögerung in einem Spannungsübergang des Ausgangsknotens (120) bewirkt wird.
  5. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei der erste Transistor (114) in der Größe relativ zu dem zweiten Transistor (118) skaliert ist.
  6. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei der erste Transistor (114) eine erste Schwellenspannung aufweist und der zweite Transistor (118) eine zweite Schwellenspannung aufweist.
  7. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei der Komparator auf ein an dem Eingangsknoten empfangenes Signal reagiert und ein tief-zu-hoch Übergang des Komparators (104) an einer ersten Schwellenspannung auftritt und ein hoch-zu-tief Übergang an einer zweiten Schwellenspannung auftritt.
  8. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei der Komparator ferner ein Schutztransistorpaar aufweist, welches einen ersten Schutztransistor, welcher zwischen den Drain-Anschluss des dritten Transistors (110) und den Drain-Anschluss des ersten Transistors (114) geschaltet ist, und einen zweiten Schutztransistor einschließt, welcher zwischen den Drain-Anschluss des vierten Transistors (112) und den Drain-Anschluss des zweiten Transistors (118) geschaltet ist, wodurch eine an die Gate-Anschlüsse des zweiten Transistorpaares (110, 112) angelegte Spannung begrenzt wird.
  9. Komparator (104) gemäß Anspruch 8, wobei der Komparator ferner ein zweites Schutztransistorpaar aufweist, welches einen dritten Schutztransistor, welcher in Reihe zwischen den ersten Schutztransistor und den Drain-Anschluss des ersten Transistors (114) geschaltet ist, und einen vierten Schutztransistor einschließt, welcher in Reihe zwischen den zweiten Schutztransistor und den Drain-Anschluss des zweiten Transistors (118) geschaltet ist, wodurch eine Spannung an den Gate-Anschlüssen des ersten Transistorpaares (114, 118) begrenzt wird.
  10. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei eine Pufferstufe mit dem Ausgangsknoten (120) verbunden ist.
  11. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei die Pufferstufe mit einer dritten und vierten Versorgungsspannung vorgespannt wird, um eine Spannungspegelverschiebung an einem Ausgang der Pufferstufe zu implementieren.
  12. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei eine Strombegrenzungsstufe mit dem Eingangsknoten verbunden ist.
  13. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei eine ESD Schutzstufe mit dem Eingangsknoten verbunden ist.
  14. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei während eines niedrig-zu-hoch Übergangs eines an dem Eingangsknoten empfangenen Eingangssignals der erste Transistor (114) aktiviert wird und die erste Versorgungsspannung mit dem Ausgangsknoten (120) verbindet und der zweite Transistor (118) von dem Ausgang des Inverters (116) deaktiviert wird, wobei die erste Versorgungsspannung temporär mit einer bereits an dem Gate-Anschluss des zweiten Transistors (118) vorhandenen Spannung aufgrund des Rückführungspfads (124) kollidiert.
  15. Komparator (104) gemäß Anspruch 14, wobei der Ausgangsknoten (120) den vierten Transistor (112) aktiviert und die zweite Versorgungsspannung mit dem Gate-Anschluss des dritten Transistors (110) verbindet, wodurch der dritte Transistor deaktiviert wird (110).
  16. Komparator (104) gemäß Anspruch 1, wobei während eines hoch-zu-niedrig Übergangs eines an dem Eingangsknoten empfangenen Eingangssignals der erste Transistor (114) deaktiviert wird, so dass die erste Versorgungsspannung von dem Ausgangsknoten (120) getrennt wird, und der zweite Transistor (118) von dem Ausgang des Inverters (116) aktiviert wird und die erste Versorgungsspannung mit dem Gate-Anschluss des dritten Transistors (110) verbunden wird und der dritte Transistor (110) von der ersten Versorgungsspannung aktiviert wird und die zweite Versorgungsspannung mit dem Ausgangsknoten verbindet, wobei die zweite Versorgungsspannung temporär mit einer bereits an dem Gate-Anschluss des zweiten Transistors (118) vorhandenen Spannung aufgrund des Rückführungspfads (124) kollidiert.
DE60306439T 2002-03-01 2003-03-03 Komparator mit Hysterese Expired - Lifetime DE60306439T2 (de)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US255577 1988-10-07
US36017402P 2002-03-01 2002-03-01
US360174P 2002-03-01
US10/255,577 US6741112B2 (en) 2002-03-01 2002-09-27 Input circuit with hysteresis

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60306439D1 DE60306439D1 (de) 2006-08-10
DE60306439T2 true DE60306439T2 (de) 2007-02-01

Family

ID=27807609

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60306439T Expired - Lifetime DE60306439T2 (de) 2002-03-01 2003-03-03 Komparator mit Hysterese

Country Status (3)

Country Link
US (2) US6741112B2 (de)
EP (1) EP1349277B1 (de)
DE (1) DE60306439T2 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8150936B2 (en) * 2006-01-30 2012-04-03 Emc Corporation Methods and apparatus to manage shadow copy providers
US7292083B1 (en) * 2006-04-18 2007-11-06 Etron Technology, Inc. Comparator circuit with Schmitt trigger hysteresis character
KR100859832B1 (ko) * 2006-09-21 2008-09-23 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 내부전위 모니터 장치 및 모니터방법
US8482329B2 (en) * 2008-08-08 2013-07-09 Lsi Corporation High voltage input receiver with hysteresis using low voltage transistors
CN101932157B (zh) * 2010-06-24 2015-04-01 深圳市中庆微科技开发有限公司 一种led恒流驱动芯片输入电路
US8930591B2 (en) 2012-06-30 2015-01-06 Silicon Laboratories Inc. Apparatus for improved signal communication in electronic circuitry and associated methods

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4097772A (en) * 1977-06-06 1978-06-27 Motorola, Inc. MOS switch with hysteresis
US4256974A (en) 1978-09-29 1981-03-17 Rockwell International Corporation Metal oxide semiconductor (MOS) input circuit with hysteresis
JPS62171216A (ja) 1986-01-22 1987-07-28 Nec Corp 半導体論理回路
US4733107A (en) * 1986-07-10 1988-03-22 Western Digital Corporation Low current high precision CMOS schmitt trigger circuit
US5087841A (en) 1990-04-09 1992-02-11 National Semiconductor Corporation TTL to CMOS translating circuits without static current
KR930008554A (ko) * 1991-10-25 1993-05-21 김광호 콤페레이터
US5216299A (en) 1992-02-13 1993-06-01 Standard Microsystems Corporation Low power noise rejecting TTL to CMOS input buffer
US5463339A (en) * 1993-12-29 1995-10-31 International Business Machines Incorporated Amorphous, thin film transistor driver/receiver circuit with hysteresis
US5736869A (en) 1996-05-16 1998-04-07 Lsi Logic Corporation Output driver with level shifting and voltage protection
US6130556A (en) 1998-06-16 2000-10-10 Lsi Logic Corporation Integrated circuit I/O buffer with 5V well and passive gate voltage
US6288575B1 (en) * 1999-08-24 2001-09-11 Micron Technology, Inc. Pseudo-differential current sense amplifier with hysteresis
US6281731B1 (en) * 1999-10-27 2001-08-28 International Business Machines Corporation Control of hysteresis characteristic within a CMOS differential receiver
US6781428B2 (en) 2001-06-27 2004-08-24 Intel Corporation Input circuit with switched reference signals
US6566926B1 (en) * 2002-06-25 2003-05-20 Intel Corporation Hysteretic self-biased amplifier

Also Published As

Publication number Publication date
EP1349277A3 (de) 2004-01-21
US20040207438A1 (en) 2004-10-21
US6914466B2 (en) 2005-07-05
EP1349277A2 (de) 2003-10-01
EP1349277B1 (de) 2006-06-28
DE60306439D1 (de) 2006-08-10
US20030164725A1 (en) 2003-09-04
US6741112B2 (en) 2004-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69839067T2 (de) Regelwandlerschaltung und integrierte Halbleiterschaltung, in der diese verwendet wird
DE69927663T2 (de) Über- oder unterspannungstolerantes Transfergatter
DE69528542T2 (de) Ausgangsschaltung zur Verwendung in einer integrierten Halbleiterschaltung
DE69129642T2 (de) Anpassungsschaltung für Übertragungsleitungen
DE60110289T2 (de) Pegelschieberschaltung
DE69121871T2 (de) CMOS-Ausgangspufferschaltung mit reduzierten Prellen auf den Masseleitungen
DE10047451B4 (de) Datenausgabeschaltkreis für ein Halbleiterbauelement
DE69128674T2 (de) Integrierte Schaltung mit verringerter Empfindlichkeit für Spannungsübergänge
DE69420570T2 (de) Schutz fur puffer gegen ausgangspannungsveranderungen
DE4344307C2 (de) Ausgangsschaltung einer integrierten Halbleiterschaltkreisvorrichtung
DE69214327T2 (de) CMOS-Ausgangspufferschaltung
DE69404726T2 (de) Schnittstellenschaltung
DE10033035A1 (de) Einschalt-Rücksetzschaltung für ein Dualversorgungssystem
EP0496018B1 (de) Integrierte Schaltung zur Erzeugung eines Reset-Signals
DE69612007T2 (de) Ausgangspuffer mit gemeinsam genutzten zwischenknoten
WO2006072292A1 (de) Schaltungsanordnung und verfahren zum schutz einer schaltung vor elektrostatischen entladungen
DE10155526C2 (de) LVDS-Treiber für kleine Versorungsspannungen
DE69725829T2 (de) Halbleiterausgangpufferschaltung
DE69121169T2 (de) Schnelle Schaltung zur Unterdrückung von Überschwingungen
DE60306439T2 (de) Komparator mit Hysterese
DE10297334B4 (de) Digitaler Pegelschieber mit verringerter Verlustleistung und Sperrung von Fehlübertragungen
DE68920208T2 (de) Konfiguration für TTL-Ausgangstreibergatter.
DE102017223241A1 (de) Hochspannungs-pegelverschiebungsschaltung und treibervorrichtung
DE68916612T2 (de) ECL/CMOS-Pegelwandler.
DE69504265T2 (de) Ausgangschaltung für eine Sende-/Empfangslogik vom Typ "gunning"

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: BOSCH JEHLE PATENTANWALTSGESELLSCHAFT MBH, 80639 M