DE602006000742T2 - Herstellungsverfahren für piezoelektrisches Bauelement - Google Patents

Herstellungsverfahren für piezoelektrisches Bauelement Download PDF

Info

Publication number
DE602006000742T2
DE602006000742T2 DE200660000742 DE602006000742T DE602006000742T2 DE 602006000742 T2 DE602006000742 T2 DE 602006000742T2 DE 200660000742 DE200660000742 DE 200660000742 DE 602006000742 T DE602006000742 T DE 602006000742T DE 602006000742 T2 DE602006000742 T2 DE 602006000742T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
electrode
cover
piezoelectric
glass film
take
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE200660000742
Other languages
English (en)
Other versions
DE602006000742D1 (de
Inventor
Shinya Aoki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Publication of DE602006000742D1 publication Critical patent/DE602006000742D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE602006000742T2 publication Critical patent/DE602006000742T2/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/01Manufacture or treatment
    • H10N30/03Assembling devices that include piezoelectric or electrostrictive parts
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • H03H9/1064Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices
    • H03H9/1092Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices the enclosure being defined by a cover cap mounted on an element forming part of the surface acoustic wave [SAW] device on the side of the IDT's
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/08Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02992Details of bus bars, contact pads or other electrical connections for finger electrodes
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/42Piezoelectric device making
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49126Assembling bases
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49128Assembling formed circuit to base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49155Manufacturing circuit on or in base
    • Y10T29/49156Manufacturing circuit on or in base with selective destruction of conductive paths
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49789Obtaining plural product pieces from unitary workpiece
    • Y10T29/49798Dividing sequentially from leading end, e.g., by cutting or breaking

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Description

  • Hintergrund
  • Technisches Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer piezoelektrischen Vibrationsvorrichtung, die ein periodisches elektrisches Signal unter Ausnutzung des piezoelektrischen Effekts erzeugt.
  • Stand der Technik
  • Es war eine Struktur in einer Oberflächenakustikwellenvorrichtung bekannt, die eine der piezoelektrischen Vibrationsvorrichtungen ist. In der Struktur ist ein anodischer Bindungsteil auf einem piezoelektrischen Substrat ausgebildet, das eine Elektrode eines interdigitalen Wandlers (IDT) und eine Herausnahmeelektrode aufweist, die elektrisch mit der IDT-Elektrode verbunden ist, so dass die Herausnahmeelektrode und die IDT-Elektrode umgangen werden. Eine Glasplatte, die eine Durchgangsöffnung aufweist, die an einem Teil gegenüber der Herausnahmeelektrode des piezoelektrischen Substrats ausgebildet ist, ist mit dem piezoelektrischen Substrat an dem anodischen Bindungsteil verbunden. Eine Außenelektrode, die zur Herausnahmeelektrode des piezoelektrischen Substrats durch die Durchgangsöffnung der Glasplatte verläuft, wird durch eine Filmausbildungstechnik, wie beispielsweise ein Spritzverfahren ausgebildet. Es wird auf ein erstes Beispiel aus dem Stand der Technik Bezug genommen.
  • In dem Beispiel, das in dem ersten Beispiel aus dem Stand der Technik beschrieben ist, wird die Bindung zwischen einem piezoelektrischen Substrat und einer Glasplatte lediglich durch einen anodischen Bindungsteil beibehalten, während die Dichtung einer Fortpflanzungsoberfläche, wo sich eine Oberflächenwelle fortpflanzt, auf dem piezoelektrischen Substrat und eine elektrische Leitung zur Herausnahmeelektrode durch eine Außenelektrode beibehalten wird, die auf der Herausnahmeelektrode des piezoelektrischen Substrats durch eine Durchgangsöffnung der Glasplatte ausgebildet ist. Allerdings finden Risse oder Brüche in einer solchen Außenelektrode aufgrund von Belastungen, die sich leicht an den Randbereichen der Durchgangsöffnung und der Herausnahmeelektrode konzentrieren leicht statt. Das heißt, das Beispiel, das in dem ersten Beispiel aus dem Stand der Technik beschrieben ist, weist ein ungelöstes Problem darin auf, dass es schwierig ist, die Zuverlässigkeit der Luftdichtungseigenschaft innerhalb einer Dichtung oder die Zuverlässigkeit der elektrischen Leitung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Außenelektrode zu verbessern.
  • Eine Struktur, die das Problem lösen kann, wird im Folgenden gezeigt: In einem Schalter eines mikroelektromechanischen Systems (MEMS), bei dem Siliziumsubstrate anodisch mit einem Glasfilm dazwischen verbunden sind, ist eine Durchgangsöffnung, in der eine Elektrode vorgesehen ist, die mit dem MEMS-Schalter elektrisch verbunden ist, an dem anodisch gebundenen Teil ausgebildet; und der Umfangsbereich der Durchgangsöffnung ist auch anodisch verbunden. Es wird auf ein zweites Beispiel aus dem Stand der Technik Bezug genommen. In der Struktur, die in dem zweiten Beispiel aus dem Stand der Technik beschrieben ist, kann, selbst wenn eine Außenelektrode durch die Durchgangsöffnung ausgebildet ist, die Belastung, die an der Außenelektrode auftritt verringert werden, da der Umfangsbereich der Durchgangsöffnung anodisch mit dem Siliziumsubstrat, das den MEMS-Schalter aufweist, verbunden ist.
  • Die JP-A-8-213874 ist das erste Beispiel aus dem Stand der Technik. Die JP-A-2005-125447 ist das zweite Beispiel aus dem Stand der Technik.
  • In dem Beispiel, das in dem zweiten Beispiel aus dem Stand der Technik beschrieben ist, sind der Glasfilm und das Siliziumsubstrat anodisch verbunden. Beispielsweise ist es in einem Fall, bei dem ein Glasfilm und ein Quarz, der als ein piezoelektrisches Substrat dient, anodisch verbunden sind, notwendig, ein Metall zwischen den Quarz und den Glasfilm einzubringen, da der Quarz und der Glasfilm nicht direkt anodisch verbunden sein können. Das heißt, das anodische Verbinden wird durch Anlegen einer Spannung zwischen dem Glasfilm und dem Metall durchgeführt, während der Glasfilm und das Metall miteinander in Kontakt gebracht werden.
  • Folglich weist eine piezoelektrische Vibrationsvorrichtung, die einen Quarz als ein piezoelektrisches Substrat aufweist, ein ungelöstes Problem darin auf, dass das Metall an dem anodischen Teil und die Herausnahmeelektrode elektrisch kurz geschlossen sind, wenn die Struktur, die in dem zweiten Beispiel aus dem Stand der Technik beschrieben ist, für eine piezoelektrische Vibrationsvorrichtung verwendet wird.
  • Zusammenfassung
  • Ein Vorteil der Erfindung besteht darin, ein Verfahren zur Herstellung einer piezoelektrischen Vibrationsvorrichtung bereitzustellen, das die Zuverlässigkeit einer Luftdichtungseigenschaft in einer Dichtung und eine elektrische Leitung zwischen einer Herausnahmeelektrode und einer Außenelektrode ohne einen elektrischen Kurzschluss zwischen der Herausnahmeelektrode und dem Metall an dem anodischen Verbindungsteil verbessern kann.
  • Ein Verfahren zur Herstellung einer piezoelektrischen Vibrationsvorrichtung der Erfindung enthält: (a) Ausbilden einer Bindungselektrode auf einem Teil eines piezoelektrischen Substrats, mit der eine Abdeckung einen Kontakt herstellt, so dass sich die Bindungselektrode entlang einer Außengestalt des piezoelektrischen Substrats erstreckt und elektrisch mit einer Herausnahmeelektrode verbunden ist, die sich kontinuierlich von einer Erregungselektrode auf dem piezoelektrischen Substrat erstreckt, wobei das piezoelektrische Substrat eine Vibration basierend auf einem Antriebssignal, das in die Erregungselektrode eingegeben wird, erzeugt; (b) Ausbilden eines Teils, der eine Durchgangsöffnung der Abdeckung definiert, so dass ein Profil einer Kante einer Öffnung der Durchgangsöffnung an einer ersten Oberfläche der Abdeckung in einer Draufsicht innerhalb einer Außengestalt der Herausnahmeelektrode angeordnet ist, wenn sich die Abdeckung und das piezoelektrische Substrat überlappen, so dass die erste Oberfläche einen Teil, der die Vibration des piezoelektrischen Substrats erzeugt, abdeckt, um zu verhindern, dass eine Erzeugung der Vibration durch die Abdeckung behindert wird und eine relative Position der Abdeckung und des piezoelektrischen Substrats ausgerichtet ist; (c) Ausbilden eines ersten Glasfilms auf der ersten Oberfläche der Abdeckung, so dass der erste Glasfilm einen Gesamtumfang der Kante der Öffnung der Durchgangsöffnung an der ersten Oberfläche umgibt und ein Gesamtumfang eines Innenumfangs des ersten Glasfilms mit der Herausnahmeelektrode einen Kontakt herstellt, wenn die relative Position ausgerichtet wird; (d) Ausbilden eines zweiten Glasfilms auf der ersten Oberfläche der Abdeckung, so dass der zweite Glasfilm einen Kontakt mit der Bindungselektrode herstellt und eine Lücke zwischen der Abdeckung und der Bindungselektrode abdichtet, wenn die relative Position ausgerichtet wird; (e) Binden sowohl des ersten Glasfilms an die Herausnahmeelektrode als auch des zweiten Glasfilms an die Bindungselektrode durch Erzeugen eines elektrischen Felds, so dass eine vorbestimmte Potenzialdifferenz zwischen der Bindungselektrode, die als eine positive Elektrode festgelegt wird, und den ersten und zweiten Glasfilmen, die als eine negative Elektrode festgelegt werden, angelegt wird, während eine relative Position des piezoelektrischen Substrats, auf dem die Bindungselektrode ausgebildet ist, und der Abdeckung, auf der der erste und zweite Glasfilm ausgebildet sind, ausgerichtet wird; und (f) Trennen einer elektrischen Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode nach Schritt (e). Hier enthält das piezoelektrische Substrat eine Vielzahl von piezoelektrischen Substraten, während die Abdeckung eine Vielzahl von Abdeckungen enthält.
  • In der Erfindung kann der erste Glasfilm, der auf dem Umfangsteil der Öffnung der Durchgangsöffnung an der ersten Oberfläche ausgebildet ist, mit der Herausnahmeelektrode verbunden werden. Dadurch wird es möglich, eine piezoelektrische Vibrationsvorrichtung herzustellen, bei der eine verringerte Belastung in der Außenelektrode auftritt. Ferner wird die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode nach Schritt (e) getrennt. Dadurch wird es möglich, eine piezoelektrische Vibrationsvorrichtung herzustellen, bei der die Herausnahmeelektrode und die Bindungselektrode nicht kurzgeschlossen sind.
  • In diesem Fall kann die Abdeckung Licht-transparent sein, und in Schritt (f) kann die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode mittels einer Strahlung eines Laserlichts durch die Abdeckung getrennt werden.
  • Als Folge kann die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode getrennt werden.
  • In diesem Fall können in Schritt (a) ein verengter breiter Teil, der eine Breite aufweist, die enger als eine Breite der Herausnahmeelektrode ist, in einer Draufsicht, zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode ausgebildet werden, um die Bindungselektrode mit der Herausnahmeelektrode elektrisch zu verbinden, und in Schritt (f) die elektrische Verbindung durch Trennen des verengten breiten Teils durch eine Bestrahlung von Laserlicht auf den verengten breiten Teil getrennt werden.
  • In dem Verfahren wird die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode mittels der Strahlung von Laserlicht auf den verengten breiten Teil zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode getrennt. Das ermöglicht eine Verkürzung der Zeit, die zum Trennen bzw. Schneiden benötigt wird, verglichen mit einem Fall, bei dem ein Teil, der eine größere Breite als die des verengten breiten Teils aufweist, getrennt wird. Folglich kann das Trennen bzw. Schneiden effizient durchgeführt werden.
  • Die Erfindung kann ferner enthalten: Ausbilden der Erregerelektrode, der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode in einer pauschalen Vielzahl bzw. großen Stückzahl (in a plurality of numbers in a lump sum) auf einem piezoelektrischen Waver, der eine Fläche größer als eine Fläche des piezoelektrischen Substrats in einer Draufsicht aufweist, so dass jede Herausnahmeelektrode und jede Bindungselektrode elektrisch verbunden ist, und jede Erregerelektrode, jede Herausnahmeelektrode und jede Verbindungselektrode jedem der Vielzahl der piezoelektrischen Substrate entspricht; Ausbilden der ersten und zweiten Glasfilme in einer pauschalen Vielzahl auf einem Abdeckwaver, der eine größere Fläche als eine Fläche der Abdeckung in einer Draufsicht aufweist, so dass jeder erste Glasfilm und jeder zweite Glasfilm jedem der Vielzahl der Abdeckungen entspricht; und Ausbilden der Durchgangsöffnung in einer Vielzahl auf dem Abdeckwaver, auf dem jeder erste Glasfilm und jeder zweite Glasfilm ausgebildet ist, so dass jede Durchgangsöffnung jeder der Vielzahl der Abdeckungen entspricht. In Schritt (e) werden der piezoelektrische Waver, auf dem die Erregerelektrode, die Herausnahmeelektrode und die Bindungselektrode ausgebildet sind, und der Abdeckwaver, auf dem die Durchgangsöffnung ausgebildet ist, überlappt, so dass eine relative Position jedes der Vielzahl der piezoelektrischen Substrate und jeder der Vielzahl der Abdeckungen ausgerichtet werden, und jeder erste Glasfilm und jeder zweite Glasfilm, die auf dem Abdeckwaver ausgebildet sind, und jede Herausnahmeelektrode und jede Bindungselektrode, die auf dem piezoelektrischen Waver ausgebildet sind, jeweils pauschal verbunden sind, wobei in Schritt (f) die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode in jeder der Vielzahl der piezoelektrischen Substrate nach Schritt (e) getrennt wird, und nach Schritt (f) eine Außenelektrode, die elektrisch mit der Herausnahmeelektrode verbunden ist und sich zu einer zweiten Oberfläche gegenüber der ersten Oberfläche der Abdeckung von der Herausnahmeelektrode durch die Durchgangsöffnung erstreckt, in einer pauschalen Vielzahl auf dem Abdeckwaver ausgebildet wird, und der Abdeckwaver und der piezoelektrische Waver bei jedem piezoelektrischen Substrat unterteilt sind.
  • In dem Verfahren werden der piezoelektrische Waver und der Abdeckwaver pauschal verbunden, und anschließend wird jede elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode getrennt. Anschließend wird die Außenelektrode pauschal ausgebildet, und die verbundenen Waver werden an jedem piezoelektrischen Substrat unterteilt. Auf dem piezoelektrischen Waver werden die Erregungselektrode, die Herausnahmeelektrode und die Bindungselektrode, die jedem der Vielzahl piezoelektrischer Substrate entsprechen, in einer Vielzahl pauschal ausgebildet, während auf dem Abdeckwaver die ersten und zweiten Glasfilme, die jedem der Vielzahl von Abdeckungen entsprechen, in einer Vielzahl pauschal ausgebildet werden. Das heißt, eine Vielzahl von piezoelektrischen Vibrationsvorrichtungen wird pauschal auf einer Per-Waver-Basis hergestellt. Das ermöglicht eine effektive Herstellung der piezoelektrischen Vibrationsvorrichtung verglichen mit einem Fall, bei dem jede piezoelektrische Vibrationsvorrichtung einzeln hergestellt wird.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Die Erfindung wird mit Bezug auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben, wobei gleiche Zahlen gleiche Elemente bezeichnen.
  • 1 ist eine Vorderansicht, die eine Oberflächenakustikwellenvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung darstellt.
  • 2 ist eine Draufsicht, die ein Oberflächenakustikwellenelement der Oberflächenakustikwellenvorrichtung gemäß der Ausführungsform der Erfindung darstellt.
  • 3A und 3B sind Ansichten, die eine Struktur einer Abdeckung der Oberflächenakustikwellenvorrichtung gemäß der Ausführungsform der Erfindung erläutern.
  • 4A und 4B sind Ansichten, die eine Struktur der Oberflächenakustikwellenvorrichtung gemäß der Ausführungsform der Erfindung erläutern.
  • 5A, 5B und 5C sind Ansichten, die ein Herstellungsverfahren eines Elementrohmaterialsubstrats der Oberflächenakustikwellenvorrichtung gemäß der Ausführungsform der Erfindung erläutern.
  • 6A, 6B und 6C sind Ansichten eines Herstellungsverfahrens der Abdeckung der Oberflächenakustikwellenvorrichtung gemäß der Ausführungsform der Erfindung.
  • 7A und 7B sind Ansichten, die ein Verbindungsverfahren der Oberflächenakustikwellenvorrichtung gemäß der Ausführungsform der Erfindung erläutern.
  • 8A und 8B sind Ansichten, die ein Trennverfahren der Oberflächenakustikwelleneinrichtung gemäß der Ausführungsform der Erfindung erläutern.
  • 9A bis 9F sind Ansichten, die ein weiteres Herstellungsverfahren der Oberflächenakustikwellenvorrichtung gemäß der Ausführungsform der Erfindung erläutern.
  • Beschreibung der beispielhaften Ausführungsformen
  • Es wird eine Ausführungsform der Erfindung einer Oberflächenakustikwelleneinrichtung, die eine der piezoelektrischen Vorrichtungen ist, als ein Beispiel mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben.
  • Eine Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 gemäß der Ausführungsform der Erfindung enthält ein Oberflächenakustikwellenelement 2, das eine Oberflächenakustikwelle erzeugt, eine Abdeckung 3, die einen Oberflächenwellenfortpflanzungsteil des Oberflächenakustikwellenelements 2 abdichtet, und eine Außenelektrode 4, die auf der oberen Oberfläche der Abdeckung 3 ausgebildet ist, wie es in 1, die eine Draufsicht ist, gezeigt ist.
  • Das Oberflächenakustikwellenelement 2 enthält ein Elementsubstrat 21, das aus Quarz gefertigt ist, wie es in 1 gezeigt ist. Auf der oberen Oberfläche des Elementsubstrats 21 sind verschiedene Elektroden ausgebildet, die später beschrieben werden.
  • Die Abdeckung 3, die aus Quarz, der eine Lichtdurchlässigkeit bzw. Transparenz aufweist, hergestellt ist, wie es in 1 gezeigt ist, enthält ein Abdeckungssubstrat 31, bei dem eine Durchgangsöffnung 32 ausgebildet ist. Die Öffnung für die Durchgangsöffnung 32 verringert deren Größe von der oberen Seite zur unteren Seite, wie es in 1 gezeigt ist. Auf der unteren Oberfläche, wie es in 1 gezeigt ist, des Abdeckungssubstrats 31 sind eine Reihe von Glasfilmen, die später beschrieben werden, ausgebildet.
  • Die Außenelektrode 4 ist ausgebildet, wie es in 1 gezeigt ist, um die Durchgangsöffnung 32 des Abdeckungssubstrats 31 von der oberen Seite, wie es in 1 gezeigt ist, abzudecken.
  • Anschließend wird die oben beschriebene Struktur im Detail beschrieben.
  • Das Oberflächenakustikwellenelement 2 enthält eine IDT-Elektrode 22, eine Herausnahmeelektrode 23, eine Reflektorelektrode 24 und eine Bindungselektrode 25, wie es in 2, die eine Draufsicht ist, gezeigt ist. Die IDT-Elektrode 22 regt eine Oberflächenakustikwelle in dem Oberflächenakustikwellenelement 2 an, wenn eine Antriebsspannung angelegt wird. Die Herausnahmeelektrode 23 ist elektrisch mit der IDT-Elektrode 22 als eine Erweiterung der IDT-Elektrode 22 verbunden. Die Reflektorelektrode 24 ist an beiden Seiten der IDT-Elektrode 22 so ausgebildet, dass die Oberflächenakustikwelle, die von der IDT-Elektrode 22 angeregt wird, reflektieren wird. Die Bindungselektrode 25 ist entlang des gesamten Umfangs der Außenkante des Elementsubstrats 21 so ausgebildet, dass sich diese in der Außengestalt des Elements 21 befindet.
  • In der Abdeckung 3 ist jede Durchgangsöffnung 32 an einer Position ausgebildet, die entsprechend jeder Herausnahmeelektrode 23 des Abdeckungssubstrats 31, wie es in 3A, die eine Draufsicht ist, gezeigt ist, gegenüberliegt.
  • Das Abdeckungssubstrat 31 enthält eine erste Oberfläche 311 und eine zweite Oberfläche 312, wie es in 3B, die eine Querschnittsansicht genommen entlang der Linie A-A' in 3A ist, gezeigt ist. Die erste Oberfläche 311 ist die Oberfläche, die dem Oberflächenakustikwellenelement 2 gegenüberliegt, während die zweite Oberfläche 312 die Oberfläche ist, die der ersten Oberfläche 311 gegenüberliegt. In 3A und 3B ist eine erste Öffnung 321 die Öffnung jeder Durchgangsöffnung 32 an der ersten Oberfläche 311, während eine zweite Öffnung 322 die Öffnung jeder Durchgangsöffnung 32 an der zweiten Oberfläche 312 ist.
  • Die Durchgangsöffnung 32, die in dem Abdeckungssubstrat 31 ausgebildet ist, weist die folgende abgeschrägte Gestalt, wie es in 3B gezeigt ist, auf: die erste Öffnung 321 ist kleiner als die zweite Öffnung 322 hinsichtlich der Größe, und der Querschnitt der Durchgangsöffnung 32 ist von der zweiten Öffnung 322 zur ersten Öffnung 321 zugespitzt. Die Durchgangsöffnung 32 ist ferner so ausgebildet, dass das Profil der ersten Öffnung in der Außengestalt der Herausnahmeelektrode 23 angeordnet ist, wie es in 3A gezeigt ist.
  • Die Abdeckung 3 enthält ferner einen Randglasfilm 33 und ein Durchgangsöffnungsglasfilm 34, wie es in 3A gezeigt ist. Der Randglasfilm 33 ist entlang des gesamten Umfangs der Außenkante des Abdeckungssubstrats 31 ausgebildet, um sich in der Außengestalt des Abdeckungssubstrats 31 zu befinden. Jeder Durchgangsöffnungsglasfilm 34 ist um jede Durchgangsöffnung 32 ausgebildet. Der Randglasfilm 33 und der Durchgangsöffnungsglasfilm 34 sind auf der ersten Oberfläche 311 des Abdeckungssubstrats 31, wie es in 3B gezeigt ist, ausgebildet. Der Durchgangsöffnungsglasfilm 34 ist auch entlang des gesamten Umfangs der Kante der ersten Öffnung 321 ausgebildet.
  • Jede Außenelektrode 4 ist so ausgebildet, dass diese jede Durchgangöffnung 32 des Abdeckungssubstrats 31 von der Seite abdeckt, die der zweiten Oberfläche 312 des Abdeckungssubstrats 31 benachbart ist, wie es in 4A, die eine Draufsicht der Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 ist, gezeigt ist. Jede Außenelektrode 4 ist mit jeder Herausnahmeelektrode 23 des Oberflächenakustikwellenelements 2 durch jede Durchgangsöffnung 32 verbunden, wie es in 4B, die eine Querschnittsansicht genommen entlang der Linie B-B in 4A ist, gezeigt ist.
  • In der Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1, die wie oben aufgebaut ist, ist der Oberflächenakustikwellenfortpflanzungsteil des Oberflächenakustikwellenelements 2 mit der Abdeckung 3 abgedichtet. Wenn ein Antriebssignal zur Außenelektrode 4 eingegeben wird, wird das Antriebssignal zur IDT-Elektrode 22 durch die Herausnahmeelektrode 23 so übertragen, dass eine Oberflächenakustikwelle angeregt wird.
  • Als nächstes wird ein Verfahren zur Herstellung der Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 der Ausführungsform beschrieben. Das Herstellungsverfahren wird im Wesentlichen in die folgenden Verfahrensschritte eingeteilt. Ein Verfahrensschritt der Herstellens eines Elementrohmaterialsubstrats, der später beschrieben wird, das als ein Rohmaterial für das Oberflächenakustikwellenelement 2 dient, ein Verfahrensschritt der Herstellung der Abdeckung 3, ein Bindungsverfahrensschritt, um das Elementrohmaterialsubstrat und die Abdeckung 3 zu binden bzw. zu verbinden, ein Trennungsverfahrensschritt, der später beschrieben wird, um die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Bindungselektrode 25 zu trennen, und ein Verfahrensschritt des Ausbildens der Außenelektrode 4. In diesem Zusammenhang kann der Verfahrensschritt der Herstellung des Elementrohmaterialsubstrats für das Oberflächenakustikwellenelement 2 und der Verfahrensschritt zur Herstellung der Abdeckung 3 einzeln und gleichzeitig durchgeführt werden, so dass die Reihenfolge zweier Verfahrensschritte, ob entweder einer zunächst ausgeführt wird oder nicht, nicht beachtet wird bzw. nicht wesentlich ist.
  • Der Verfahrensschritt der Herstellung des Elementrohmaterialsubstrats, das als ein Rohmaterial für das Oberflächenakustikwellenelement 2 dient, wird mit Bezug auf die 5A bis 5C beschrieben.
  • In dem Verfahrensschritt der Herstellung des Elementrohmaterialsubstrats wird zunächst ein Metallfilm 26, der hauptsächlich aus Aluminium besteht, auf dem Elementsubstrat 21 unter Ausnutzung von Techniken, wie beispielsweise einer Spritztechnik, einer Aufdampfungstechnik, einem chemischen Aufdampfen (CVD), wie es in 5A gezeigt ist, ausgebildet.
  • Anschließend werden die IDT-Elektrode 22, die Herausnahmeelektrode 23, die Reflektorelektrode 24 und die Bindungselektrode 25 ausgebildet, um das Elementrohmaterialsubstrat 28 zu erhalten, wie es in 5B gezeigt ist, unter Ausnutzung beispielsweise einer Fotolithographietechnik und einer Ätztechnik. In diesem Zusammenhang wird eine Verbindung zwischen Elektroden 27 zwischen jeder Herausnahmeelektrode 23 und der Bindungselektrode 25 in dem Elementrohmaterialsubstrat 28, wie es in 5C gezeigt ist, ausgebildet. Die Verbindung zwischen Elektroden 27 verbindet jede Herausnahmeelektrode 23 mit der Bindungselektrode 25 elektrisch.
  • Der Verfahrensschritt zur Herstellung der Abdeckung 3 wird mit Bezug auf die 6A bis 6C beschrieben.
  • In dem Verfahrensschritt zur Herstellung der Abdeckung 3 wird zunächst ein Glasfilm 35, der aus Borosilikatglas zusammengesetzt ist, auf der ersten Oberfläche 311 des Abdeckungssubstrats 31, wie es in 6A gezeigt ist, unter Ausnutzung einer Spritztechnik ausgebildet.
  • Anschließend werden der Randglasfilm 33 und der Durchgangsöffnungsglasfilm 34, wie es in 6B gezeigt ist, unter Ausnutzung beispielsweise einer Fotolithographietechnik und einer Ätztechnik ausgebildet. In diesem Zusammenhang wird der Durchgangsöffnungsglasfilm 34 ausgebildet, um den Teil, bei dem die erste Öffnung 321 der Durchgangsöffnung 32 ausgebildet wird, zu öffnen, wie es in 6C, die eine Draufsicht des Abdeckungssubstrats 31 ist, gezeigt ist. Der Durchgangsöffnungsglasfilm 34 wird ferner so ausgebildet, dass das Profil einer Öffnung 331 des Durchgangsöffnungsglasfilms 34 innerhalb der Außengestalt der Herausnahmeelektrode 23 positioniert ist. In diesem Zusammenhang kann sich das Profil des Durchgangsöffnungsglasfilms 34 außerhalb der Außengestalt der Herausnahmeelektrode 23 befinden.
  • Anschließend wird die Durchgangsöffnung 32 beim Abdeckungssubstrat 31 ausgebildet, um die Abdeckung 3, wie es in 3 gezeigt ist, unter Ausnutzung beispielsweise einer Fotolithographietechnik und einer Ätztechnik abzuschließen.
  • Der Bindungsverfahrensschritt zum Binden des Elementrohmaterialsubstrats 28 und der Abdeckung 3 wird mit Bezug auf die 7A und 7B beschrieben. In dem Bindungsverfahrensschritt wird zunächst die erste Oberfläche 311 des Abdeckungssubstrats 31 in der Abdeckung 3 der Oberfläche zugewandt angeordnet, auf der die Bindungselektrode 25 des Elementrohmaterialsubstrats 28 ausgebildet ist, und anschließend werden die Abdeckung 3 und das Elementrohmaterialsubstrat 28 in Überlappung gebracht.
  • Als nächstes werden, wie es in 7A gezeigt ist, die Abdeckung 3 und das Elementrohmaterialsubstrat 28 relativ hinsichtlich deren Positionen so ausgerichtet, dass die Profile der ersten Öffnung 321 jeder Durchgangsöffnung 32 und der Öffnung 331 jedes Durchgangsöffnungsglasfilms 34 in der Außengestalt der Herausnahmeelektrode 23 positioniert sind, und der Gesamtumfang des Randglasfilms 33 der Abdeckung 3 und der Gesamtumfang der Bindungselektrode 25 des Elementrohmaterialsubstrats 28 überlappt sind.
  • Anschließend wird, während die Abdeckung 3 und das Elementrohmaterialsubstrat 28 relativ ausgerichtet werden, die positive Elektrode einer Gleichstromspannungszuführquelle 5 mit der Bindungselektrode 25 verbunden, und die negative Elektrode der Gleichstromspannungszuführquelle 5 wird mit einer Elektrodenplatte 6 verbunden, die auf der zweiten Oberfläche 312 des Abdeckungssubstrats 31, wie es in 7B gezeigt ist, angeordnet ist.
  • Danach wird eine Spannung von 1 bis 1,5 kV in der Gleichstromspannungszuführquelle 5 erzeugt, um sowohl den Durchgangsöffnungsglasfilm 34 und die Herausnahmeelektrode 23 als auch den Randglasfilm 33 und die Bindungselektrode 25 anodisch zu verbinden.
  • Der Trennungsverfahrensschritt, um die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Bindungselektrode 25 zu trennen, wird mit Bezug auf die 8A und 8B beschrieben.
  • In dem Trennungsverfahrensschritt wird die Verbindung zwischen den Elektroden 27 mit Laserlicht 8 bestrahlt, um die Verbindung zwischen den Elektroden 27 zu trennen, wie es in 8A, die eine Querschnittsansicht genommen entlang der Linie C-C' von 7A ist, gezeigt ist. Das Laserlicht 8 wird beispielsweise mittels eines optischen Systems gebündelt, das nicht gezeigt ist, das eine konvexe Linse 7 usw. enthält, und über das Abdeckungssubstrat 31 übertragen.
  • Die Verbindung zwischen den Elektroden 27 wird mittels der Bestrahlung des Laserlichts 8 getrennt, was eine elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Bindungselektrode 25, die getrennt wird, wie es in 8B gezeigt ist, zur Folge hat.
  • Hier ist das Laserlicht 8 vorzuziehen, solange es eine Wellenlänge aufweist, die in der Verbindung zwischen den Elektroden 27 absorbiert wird, und das Abdeckungssubstrat 31 überträgt. Beispielsweise kann ein Infrarotlaser, wie beispielsweise in YAG-Laser, CO2-Laser, YVO4-Laser, YLF-Laser und Ultraviolelaser, wie beispielsweise ein ArF-Excimer-Laser, KrCl-Excimer-Laser und KrF-Excimer-Laser verwendet werden.
  • In dem Verfahrensschritt zur Ausbildung der Außenelektrode 4 wird die Außenelektrode 4, wie es in den 4A und 4B gezeigt ist, unter Ausnutzung einer Fotolithographietechnik, einer Ätztechnik, einer Maskenaufdampftechnik, einer Abhebeverfahrenstechnik (lift-off processing technique) und dergleichen ausgebildet. Somit wird die Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 abgeschlossen.
  • Wie für die Reihenfolge des Trennungsverfahrensschritts und des Verfahrensschritts zur Ausbildung der Außenelektrode 4, kann der Verfahrensschritt zur Ausbildung der Außenelektrode 4 als erstes durchgeführt werden, wenn die Außenelektrode 4 die Bestrahlung von Laserlicht 8 auf die Verbindung zwischen den Elektroden 27 nicht trennt.
  • Hier entspricht in der Ausführungsform das Oberflächenakustikwellenelement 2 dem piezoelektrischen Substrat, während die Verbindung zwischen den Elektroden 27 dem verengten breiten Teil entspricht.
  • In der Ausführungsform wird der Durchgangsöffnungsglasfilm 34, der den gesamten Umfang der ersten Öffnung 321 umgibt, auf dem Umfangsteil der ersten Öffnung 321 der Durchgangsöffnung 32 ausgebildet, wodurch der Durchgangsöffnungsglasfilm 34 und die Herausnahmeelektrode 23 verbunden werden können. Folglich kann eine Belastung, die in der Außenelektrode 4 auftritt, die elektrisch mit der Herausnahmeelektrode 23 durch die Durchgangsöffnung 32 verbunden ist, verringert werden.
  • Ferner wird die Verbindung zwischen den Elektroden 27, die zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Bindungselektrode 25 ausgebildet ist, um elektrisch die Herausnahmeelektrode 23 und die Bindungselektrode 25 zu verbinden, nach dem Bindungsverfahrensschritt getrennt, wodurch die Herausnahmeelektrode 23 und die Bindungselektrode 25 nicht kurzgeschlossen werden.
  • Folglich kann gemäß der Ausführungsform die Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 bereitgestellt werden, welche die Zuverlässigkeit der Luftdichtigkeitseigenschaft in einer Dichtung und die Zuverlässigkeit der elektrischen Leitung zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Außenelektrode 4 ohne einen elektrischen Kurzschluss zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Bindungselektrode 25 verbessern kann.
  • Ferner ist die Verbindung zwischen den Elektroden 27 in der Ausführungsform so ausgebildet, dass diese enger bzw. schmaler als die Breite der Herausnahmeelektrode 23 ist. Das ermöglicht eine Verkürzung der benötigte Zeit zum Trennen, verglichen mit einem Fall, bei dem sich die Herausnahmeelektrode 23 zur Bindungselektrode 25 mit derselben Breite erstreckt, um zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Bindungselektrode 25 elektrisch zu verbinden. Folglich kann die Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 effektiv hergestellt werden.
  • Während ein Verfahren, bei dem die Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 einzeln hergestellt wird, als ein Beispiel in der Ausführungsform beschrieben ist, ist die Erfindung darauf nicht beschränkt. Die Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 kann auf die folgende Weise hergestellt werden. Die Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 kann gleichzeitig in einer Vielzahl auf einer Per-Waver-Basis ausgebildet werden, und anschließend kann der Waver in Teile, als die Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1, unterteilt werden.
  • Das heißt, wie es in 9A gezeigt ist, wird ein Elementseitenwaver 12, der ein Elektrodenmuster 11 aufweist, das aus einem Quarzwaver 10 ausgebildet ist, hergestellt. Auf dem Elektrodenmuster 11 werden die IDT-Elektrode 22, die Herausnahmeelektrode 23, die Reflektorelektrode 24, die Bindungselektrode 25 und die Verbindung zwischen Elektroden 27 pauschal (in a lump sum) ausgebildet, um jeder einer Vielzahl von Oberflächenakustikwellenelementen 2 zu entsprechen.
  • Demgegenüber, wie es in 9B gezeigt ist, wird ein Glasfilmmuster 13 auf dem Quarzwaver 10 ausgebildet, der sich von dem in dem Elementseitenwaver 12 unterscheidet. Auf dem Glasfilmmuster 13 werden der Randglasfilm 33 und der Durchgangsöffnungsglasfilm 34 pauschal ausgebildet, um jeder einer Vielzahl von Abdeckungen 3 zu entsprechen. Anschließend wird die Durchgangsöffnung 32 pauschal zum Quarzwaver 10 ausgebildet, auf dem das Glasfilmmuster 13 ausgebildet ist, um jeder Abdeckung 3 zu entsprechen, wodurch ein Abdeckungsseitenwaver 14 hergestellt wird.
  • Als nächstes, wie es in 9C gezeigt ist, werden der Elementseitenwaver 12 und der Abdeckungsseitenwaver 14 hinsichtlich ihrer Position relativ so ausgerichtet, dass die Profile der ersten Öffnung 321 jeder Durchgangsöffnung 32 und der Öffnung 331 jedes Durchgangsöffnungsglasfilms 34 in der Außengestalt jeder Herausnahmeelektrode 23 positioniert sind, und der Gesamtumfang jedes Randglasfilms 33, der jeder Abdeckung 3 entspricht, und der Gesamtumfang der Bindungselektrode 25, die jedem Oberflächenakustikwellenelement 2 entspricht, überlappen. Anschließend werden das Elektrodenmuster 11 und das Glasfilmmuster 13 anodisch verbunden, während sie relativ ausgerichtet werden.
  • Als nächstes wird die Verbindung zwischen den Elektroden 27, die jedem Oberflächenakustikwellenelement 2 entspricht, mit dem Laserlicht 8, wie es in 9D gezeigt ist, bestrahlt, um die Verbindung zwischen Elektroden 27 zu trennen.
  • Anschließend, wie es in 9E gezeigt ist, wird die Außenelektrode 4 auf dem Abdeckungsseitenwaver 14 pauschal ausgebildet, um jeder Durchgangsöffnung 32 zu entsprechen.
  • Als nächstes, wie es in 9F gezeigt ist, werden der Elementseitenwaver 12 und der Abdeckungsseitenwaver 14 an jedem Oberflächenakustikwellenelement 2 getrennt, um die Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 einzeln abzuschließen.
  • In diesem Fall entspricht der Elementseitenwaver 12 dem piezoelektrischen Substrat, während der Abdeckungsseitenwaver 14 dem Abdeckwaver entspricht. Wie es oben beschrieben ist, kann die Vielzahl von Oberflächenakustikwellenvorrichtungen 1 pauschal auf einer Per-Waver-Basis hergestellt werden. Das ermöglicht die effiziente Herstellung einer Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1, welche die Zuverlässigkeit der Luftdichtigkeitseigenschaft in der Dichtung und die Zuverlässigkeit der elektrischen Leitung zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Außenelektrode 4 ohne einen elektrischen Kurzschluss zwischen der Herausnahmeelektrode 23 und der Bindungselektrode 25 zuverlässig verbessern kann, verglichen mit einem Fall, bei dem jede Oberflächenakustikwellenvorrichtung 1 einzeln hergestellt wird.
  • Während ein Fall, bei dem Quarz als eine piezoelektrische Substanz verwendet wird, in der Ausführungsform beschrieben ist, ist die piezoelektrische Substanz darauf nicht beschränkt. Lithiumtantalit, Lithiumniobat und dergleichen sind geeignet. Ferner kann auch eine Struktur bevorzugt werden, bei der ein piezoelektrischer dünner Film auf einem Glassubstrat oder einem Siliziumsubstrat ausgebildet wird.
  • Ferner, während eine Oberflächenakustikwellenvorrichtung, die eine piezoelektrische Vibrationsvorrichtung ist, als ein Beispiel in der Ausführungsform beschrieben ist, ist die Erfindung darauf nicht beschränkt. Eine piezoelektrische Vibrationsvorrichtung, wie beispielsweise eine Stimmgabel-Quarzkristall-Vibrationsvorrichtung und eine Dickenscherungs-Quarzkristall-Vibrationsvorrichtung können auch verwendet werden.

Claims (4)

  1. Verfahren zur Herstellung einer piezoelektrischen Vibrationsvorrichtung, das umfasst: (a) Ausbilden einer Bindungselektrode auf einem Teil eines piezoelektrischen Substrats, mit der eine Abdeckung einen Kontakt herstellt, so dass sich die Bindungselektrode entlang einer Außengestalt des piezoelektrischen Substrats erstreckt und elektrisch mit einer Herausnahmeelektrode verbunden ist, die sich kontinuierlich von einer Erregungselektrode auf dem piezoelektrischen Substrat erstreckt, wobei das piezoelektrische Substrat eine Vibration basierend auf einem Antriebssignal, das in die Erregungselektrode eingegeben wird, erzeugt; (b) Ausbilden eines Teils, der eine Durchgangsöffnung der Abdeckung definiert, so dass ein Profil einer Kante einer Öffnung der Durchgangsöffnung an einer ersten Oberfläche der Abdeckung in einer Draufsicht innerhalb einer Außengestalt der Herausnahmeelektrode angeordnet ist, wenn sich die Abdeckung und das piezoelektrische Substrat überlappen, so dass die erste Oberfläche einen Teil, der die Vibration des piezoelektrischen Substrats erzeugt, abdeckt, um zu verhindern, dass eine Erzeugung der Vibration durch die Abdeckung behindert wird und eine relative Position der Abdeckung und des piezoelektrischen Substrats ausgerichtet wird; (c) Ausbilden eines ersten Glasfilms auf der ersten Oberfläche der Abdeckung, so dass der erste Glasfilm einen Gesamtumfang der Kante der Öffnung der Durchgangsöffnung an der ersten Oberfläche umgibt und ein Gesamtumfang eines Innenumfangs des ersten Glasfilms mit der Herausnahmeelektrode einen Kontakt herstellt, wenn die relative Position ausgerichtet wird; (d) Ausbilden eines zweiten Glasfilms auf der ersten Oberfläche der Abdeckung, so dass der zweite Glasfilm einen Kontakt mit der Bindungselektrode herstellt und eine Lücke zwischen der Abdeckung und der Bindungselektrode abdichtet, wenn die relative Position ausgerichtet wird; (e) Binden sowohl des ersten Glasfilms an die Herausnahmeelektrode als auch des zweiten Glasfilms an die Bindungselektrode durch Erzeugen eines elektrischen Felds, so dass eine vorbestimmte Potentialdifferenz zwischen der Bindungselektrode, die als eine positive Elektrode festgelegt ist, und den ersten und zweiten Glasfilmen, die als eine negative Elektrode festgelegt sind, angelegt wird, während eine relative Position des piezoelektrischen Substrats, das in dem Schritt (a) erhalten wird, und der Abdeckung, die in dem Schritt (d) erhalten wird, ausgerichtet wird; und (f) Trennen einer elektrischen Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode nach Schritt (e), wobei das piezoelektrische Substrat eine Vielzahl von piezoelektrischen Substraten enthält, wobei die Abdeckung eine Vielzahl von Abdeckungen enthält.
  2. Verfahren zur Herstellung einer piezoelektrischen Vibrationsvorrichtung nach Anspruch 1, bei dem in Schritt (f) die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode durch eine Bestrahlung von Laserlicht durch die Abdeckung, die eine Lichttransparenz aufweist, getrennt wird.
  3. Verfahren zur Herstellung einer piezoelektrischen Vibrationsvorrichtung nach Anspruch 2, bei dem in Schritt (a) ein verengter breiter Teil, der eine Breite aufweist, die enger als eine Breite der Herausnahmeelektrode ist, in einer Draufsicht zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode ausgebildet wird, um die Bindungselektrode mit der Herausnahmeelektrode elektrisch zu verbinden, und in Schritt (f) die elektrische Verbindung durch Trennen des verengten breiten Teils durch eine Bestrahlung von Laserlicht auf den verengten breiten Teil getrennt wird.
  4. Verfahren zur Herstellung einer piezoelektrischen Vibrationsvorrichtung nach Anspruch 1, ferner umfassend: Ausbilden der Erregerelektrode, der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode in einer pauschalen Vielzahl von Anzahlen auf einem piezoelektrischen Waver, der eine Fläche größer als eine Fläche des piezoelektrischen Substrats in einer Draufsicht aufweist, so dass jede Herausnahmeelektrode und jede Bindungselektrode elektrisch verbunden ist, und jede Erregerelektrode, jede Herausnahmeelektrode und jede Verbindungselektrode jedem der Vielzahl der piezoelektrischen Substrate entspricht; Ausbilden der ersten und zweiten Glasfilme in einer pauschalen Vielzahl von Anzahlen auf einem Abdeckwaver, der eine größere Fläche als eine Fläche der Abdeckung in einer Draufsicht aufweist, so dass jeder erste Glasfilm und jeder zweite Glasfilm jedem der Vielzahl der Abdeckungen entspricht; und Ausbilden der Durchgangsöffnung in einer Vielzahl von Anzahlen auf dem Abdeckwaver, auf dem jeder erste Glasfilm und jeder zweite Glasfilm ausgebildet ist, so dass jede Durchgangsöffnung jeder der Vielzahl der Abdeckungen entspricht, wobei sich in Schritt (e) der piezoelektrische Waver, auf dem die Erregerelektrode, die Herausnahmeelektrode und die Bindungselektrode ausgebildet sind, und der Abdeckwaver, auf dem die Durchgangsöffnung ausgebildet ist, überlappen, so dass eine relative Position jedes der Vielzahl der piezoelektrischen Substrate und jede der Vielzahl der Abdeckungen ausgerichtet werden, und jeder erste Glasfilm und jeder zweite Glasfilm, die auf dem Abdeckwaver ausgebildet sind, und jede Herausnahmeelektrode und jede Bindungselektrode, die auf dem piezoelektrischen Waver ausgebildet sind, jeweils pauschal gebunden sind, wobei in Schritt (f) die elektrische Verbindung zwischen der Herausnahmeelektrode und der Bindungselektrode in jeder der Vielzahl der piezoelektrischen Substrate nach Schritt (e) getrennt wird, und nach Schritt (f) eine Außenelektrode, die elektrisch mit der Herausnahmeelektrode verbunden ist und sich zu einer zweiten Oberfläche gegenüber der ersten Oberfläche der Abdeckung von der Herausnahmeelektrode durch die Durchgangsöffnung erstreckt, in einer pauschalen Vielzahl von Anzahlen auf dem Abdeckwaver ausgebildet ist, und der Abdeckwaver und der piezoelektrische Waver bei jedem piezoelektrischen Substrat unterteilt sind.
DE200660000742 2005-07-06 2006-07-05 Herstellungsverfahren für piezoelektrisches Bauelement Active DE602006000742T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005197081A JP2007019132A (ja) 2005-07-06 2005-07-06 圧電振動装置の製造方法
JP2005197081 2005-07-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE602006000742D1 DE602006000742D1 (de) 2008-04-30
DE602006000742T2 true DE602006000742T2 (de) 2009-04-30

Family

ID=37396019

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200660000742 Active DE602006000742T2 (de) 2005-07-06 2006-07-05 Herstellungsverfahren für piezoelektrisches Bauelement

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7421767B2 (de)
EP (1) EP1742353B1 (de)
JP (1) JP2007019132A (de)
KR (1) KR100822096B1 (de)
CN (1) CN100525091C (de)
DE (1) DE602006000742T2 (de)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100653089B1 (ko) * 2005-10-31 2006-12-04 삼성전자주식회사 탄성 표면파 디바이스 웨이퍼 레벨 패키지 및 그 패키징방법
JP2007335468A (ja) * 2006-06-12 2007-12-27 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 中空封止素子およびその製造方法
JP5032572B2 (ja) * 2007-06-28 2012-09-26 京セラ株式会社 弾性表面波装置およびその製造方法
CN101946404A (zh) * 2008-02-18 2011-01-12 精工电子有限公司 压电振动器的制造方法、压电振动器、振荡器、电子设备及电波钟
US8410868B2 (en) 2009-06-04 2013-04-02 Sand 9, Inc. Methods and apparatus for temperature control of devices and mechanical resonating structures
US8476809B2 (en) * 2008-04-29 2013-07-02 Sand 9, Inc. Microelectromechanical systems (MEMS) resonators and related apparatus and methods
JP4567775B2 (ja) * 2008-08-26 2010-10-20 富士通メディアデバイス株式会社 弾性表面波デバイスおよびその製造方法
JP4851549B2 (ja) * 2009-02-10 2012-01-11 日本電波工業株式会社 圧電デバイス
US9048811B2 (en) 2009-03-31 2015-06-02 Sand 9, Inc. Integration of piezoelectric materials with substrates
FR3003246B1 (fr) 2013-03-13 2017-12-22 Commissariat Energie Atomique Procede d'encapsulation de micro-dispositif par scellement anodique
CN105448869A (zh) 2014-07-31 2016-03-30 天工方案公司 多层瞬态液相接合
US10541152B2 (en) 2014-07-31 2020-01-21 Skyworks Solutions, Inc. Transient liquid phase material bonding and sealing structures and methods of forming same
US9862592B2 (en) 2015-03-13 2018-01-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. MEMS transducer and method for manufacturing the same
US10432168B2 (en) 2015-08-31 2019-10-01 General Electric Company Systems and methods for quartz wafer bonding
CN107786929B (zh) * 2016-08-26 2023-12-26 华景科技无锡有限公司 硅麦克风
JP6465097B2 (ja) * 2016-11-21 2019-02-06 横河電機株式会社 振動式トランスデューサ
JP6338071B2 (ja) * 2016-11-29 2018-06-06 国立大学法人 東京大学 振動発電デバイス
JP2018113679A (ja) * 2016-12-02 2018-07-19 スカイワークス ソリューションズ, インコーポレイテッドSkyworks Solutions, Inc. 基板間のキャビティ内に形成されてビアを含む電子デバイスを製造する方法
DE102019120844A1 (de) * 2019-08-01 2021-02-04 Horst Siedle Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung von abgedichteten Funktionselementen

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57155821A (en) * 1981-03-20 1982-09-27 Fujitsu General Ltd Unidirectional saw exciter
US4639631A (en) 1985-07-01 1987-01-27 Motorola, Inc. Electrostatically sealed piezoelectric device
JP3265889B2 (ja) 1995-02-03 2002-03-18 松下電器産業株式会社 表面弾性波装置及びその製造方法
JPH1187052A (ja) * 1997-09-09 1999-03-30 Futaba Corp 有機エレクトロルミネッセンス素子
GB0016861D0 (en) 2000-07-11 2000-08-30 Univ Cranfield Improvements in or relating to filters
JP3975430B2 (ja) 2001-09-28 2007-09-12 セイコーエプソン株式会社 弾性表面波装置の製造方法
JP2003163567A (ja) * 2001-11-22 2003-06-06 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 水晶振動子
US6946929B2 (en) * 2002-02-12 2005-09-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Surface acoustic wave device having connection between elements made via a conductor not on the piezoelectric substrate
JP2005125447A (ja) 2003-10-23 2005-05-19 Hitachi Ltd 電子部品およびその製造方法
JP2006197554A (ja) * 2004-12-17 2006-07-27 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス及びその製造方法、icカード、携帯用電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
US7421767B2 (en) 2008-09-09
CN1893266A (zh) 2007-01-10
CN100525091C (zh) 2009-08-05
EP1742353A1 (de) 2007-01-10
KR20070005524A (ko) 2007-01-10
JP2007019132A (ja) 2007-01-25
EP1742353B1 (de) 2008-03-19
DE602006000742D1 (de) 2008-04-30
KR100822096B1 (ko) 2008-04-15
US20070006434A1 (en) 2007-01-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE602006000742T2 (de) Herstellungsverfahren für piezoelektrisches Bauelement
DE69417781T2 (de) Massenherstellungsverfahren zur gleichzeitigen Abdichtung und elektrischen Verbindung von elektronischen Anordnungen
DE10163297B4 (de) Oberflächenwellenbauelement und Verfahren zum Herstellen desselben
DE60131745T2 (de) Filtervorrichtung und verfahren zu deren herstellung
DE112016002835B4 (de) Vorrichtung für elastische Wellen
DE69330499T2 (de) Piezoelektrischer Resonator und Herstellungsverfahren derselben
DE69532724T2 (de) Gegen statische elektrizität unempfindliche flüssigkristall-anzeigevorrichtung mit aktiver matrix
DE10207330B4 (de) Verfahren zum Herstellen akustischer Dünnfilmvolumenresonatoren (FBARs) mit unterschiedlichen Frequenzen auf dem gleichen Substrat durch ein Subtraktionsverfahren und Vorrichtung, die das Verfahren beinhaltet
DE2727751C3 (de) Deformografisches Membran-BUdanzeigegerät
DE19808989B4 (de) Dünnschichttransistor und Herstellungsverfahren dafür
DE10207329B4 (de) Verfahren zur Massenbelastung akustischer Dünnfilmvolumenresonatoren (FBARs) zum Erzeugen von Resonatoren mit unterschiedlichen Frequenzen und Vorrichtung, die das Verfahren beinhaltet
DE112011105113B4 (de) Elektronische Komponente und Herstellungsverfahren dafür
DE112010000861B4 (de) Piezoelektrisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines piezoelektrischenBauelements
DE60131111T2 (de) Herstellungsverfahren eines Flüssigkristallanzeigesubstrats
DE19526401C2 (de) Zusammengesetzte elektronische Komponente sowie Verfahren zu ihrer Herstellung
DE69408000T2 (de) Flüssigkristall-Anzeigevorrichtungen mit aus Metalloxid und Halbleitermaterial bestehenden Mehrschicht-Gatebusleitungen
DE2849389A1 (de) Piezoelektrischer schwinger
DE19906815A1 (de) Flüssigkristallanzeige und Verfahren zur Herstellung derselben
DE112015004763B4 (de) Vorrichtung für elastische Wellen und Herstellungsverfahren dafür
DE68918372T2 (de) Piezoelektrischer Wandler zur Volumenwellenerregung.
DE10146655B4 (de) Oberflächenakustikwellenvorrichtung
CH696100A5 (de) Herstellungsverfahren eines piezoelektrischen Vibrators und ein piezoelektrischer Vibrator mit besonderer Elektrodenstruktur hergestellt nach diesem Verfahren.
DE102008032233A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Kristallvorrichtung
DE112009001175T5 (de) Dünnfilmsolarbatteriemodul und Verfahren zur Herstellung desselben
DE19910889A1 (de) Oberflächenwellenvorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition