DE602005024330D1 - Vorrichtung und Verfahren zur Bildverarbeitung - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zur Bildverarbeitung

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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7999861B2 (en) * 2008-03-14 2011-08-16 Omron Corporation Image processing apparatus for generating composite image with luminance range optimized for a designated area
JP2010278510A (ja) * 2009-05-26 2010-12-09 Elmo Co Ltd 資料提示装置
CN101929837B (zh) * 2009-06-22 2012-06-27 牧德科技股份有限公司 可连续输送待测量物件的二次元光学测量装置
JP5841427B2 (ja) 2011-12-28 2016-01-13 株式会社キーエンス 画像処理装置及び画像処理方法
JP5890692B2 (ja) * 2012-01-13 2016-03-22 キヤノン株式会社 撮像装置、制御方法及びプログラム
JP6474334B2 (ja) * 2015-07-30 2019-02-27 株式会社キーエンス 画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム
JP6333871B2 (ja) * 2016-02-25 2018-05-30 ファナック株式会社 入力画像から検出した対象物を表示する画像処理装置
JP6917762B2 (ja) * 2017-05-09 2021-08-11 株式会社キーエンス 画像検査装置
CN109613001B (zh) * 2018-11-07 2021-02-19 常州信息职业技术学院 一种基于视觉传达的信号接收处理装置

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60236592A (ja) * 1984-05-10 1985-11-25 Toppan Printing Co Ltd 印刷物の脱刷検査装置
US5262871A (en) * 1989-11-13 1993-11-16 Rutgers, The State University Multiple resolution image sensor
JP3007392B2 (ja) * 1990-08-16 2000-02-07 ニチデン機械株式会社 パターン認識方法及びその装置
CA2218563A1 (en) * 1996-10-18 1998-04-18 Consolidated Papers, Inc. Method of and system for video surveillance of a fast moving web
JP3759280B2 (ja) * 1997-04-15 2006-03-22 富士通株式会社 道路監視用事象検知装置
JPH117392A (ja) 1997-06-17 1999-01-12 Tec Corp 補助記憶装置を二重化してなるデータ処理装置及びこのデータ処理装置のシステム立下げ方法
JPH11103410A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Canon Inc カメラ制御システムおよびその制御方法およびその処理を実行するプログラムを記憶した記憶媒体
JPH11133292A (ja) * 1997-10-28 1999-05-21 Canon Inc 撮像システムおよびその制御方法およびその処理を実行させるプログラムを記憶した記憶媒体
US6670991B1 (en) * 1997-09-26 2003-12-30 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing system, control method, and recording medium for controlling a camera apparatus utilizing a client device connected thereto
JPH11122540A (ja) 1997-10-17 1999-04-30 Hamamatsu Photonics Kk Ccdカメラ及びccdカメラ制御装置並びにccdカメラの感度調整方法
US6047042A (en) 1998-03-25 2000-04-04 Continental X-Ray Corporation Automatic exposure and brightness control for fluoroscopic and radio-graphic imaging
JP2000138870A (ja) * 1998-10-30 2000-05-16 Canon Inc データ通信システム、端末装置及びシステム制御方法並びに記憶媒体
US7161619B1 (en) * 1998-07-28 2007-01-09 Canon Kabushiki Kaisha Data communication system, data communication control method and electronic apparatus
JP4124866B2 (ja) * 1998-07-28 2008-07-23 キヤノン株式会社 画像通信システム及び制御装置
JP4227238B2 (ja) 1999-02-19 2009-02-18 株式会社キーエンス 画像表示方法、画像処理装置、及び記録媒体
JP2000329536A (ja) * 1999-05-19 2000-11-30 Nec Corp 外観検査装置および外観検査方法
KR100374046B1 (ko) * 1999-09-30 2003-03-03 오므론 가부시키가이샤 화상처리장치, 화상처리방법 및 시각검사 시스템
US6920241B1 (en) * 2000-09-29 2005-07-19 Cognex Corporation System and method for bundled location and regional inspection
JP2002230546A (ja) 2001-01-30 2002-08-16 Fujitsu Ltd 画像処理プログラム、画像処理プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体、画像処理方法及び画像処理装置
JP4014379B2 (ja) * 2001-02-21 2007-11-28 株式会社日立製作所 欠陥レビュー装置及び方法
JP2003098112A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Hitachi Ltd 薄膜デバイスの表面画像の検出・出力方法及びその装置並びにそれを用いた薄膜デバイスの製造方法及びその製造装置
JP4726367B2 (ja) 2001-09-28 2011-07-20 株式会社キーエンス 画像処理領域の指定回路、画像処理領域の指定方法、画像処理領域の指定プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体
US20030185432A1 (en) * 2002-03-29 2003-10-02 Hong Dezhong Method and system for image registration based on hierarchical object modeling
JP4275378B2 (ja) 2002-09-27 2009-06-10 富士重工業株式会社 ステレオ画像処理装置およびステレオ画像処理方法
US20050117017A1 (en) * 2003-12-01 2005-06-02 Baer Richard L. System and method for imaging regions of interest

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