DE60131807T2

DE60131807T2 - Wandergenerator mit Vorrichtung zum willkürlichen Setzen der TDEV Maske

Info

Publication number: DE60131807T2
Application number: DE60131807T
Authority: DE
Inventors: Kazuhiko Kouza-gun Ishibe; Tetsuya Yokohama-shi Tada
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2000-06-20
Filing date: 2001-06-19
Publication date: 2008-12-04
Anticipated expiration: 2021-06-20
Also published as: EP1167985A2; US20020007466A1; DE60131807D1; EP1167985B1; JP2002009595A; JP3683779B2; EP1167985A3; US6854068B2

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Wandergenerator zur Erzeugung eines Taktsignals mit Wander. Insbesondere betrifft die vorliegende Erfindung einen Wandergenerator, der eine TDEV-Maskencharaktertistik-Einstellungsvorrichtung zum Setzen einer beliebigen TDEV-Maskencharakteristik aufweist, die eine zeitliche Abweichung (TDEV: Time DEViation) von Wander in einem ausgegebenen Taktsignal definiert. Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf einen Wandergenerator sowie auf ein Verfahren, das in einem Wandergenerator verwendet wird, wie diese in den Oberbegriffen des Anspruchs 1 bzw. des Anspruchs 24 definiert sind. Derartiger Stand der Technik ist zum Beispiel aus der JP-A-10-178 420 der Anmelderin bekannt.
Wie allgemein bekannt ist, wird eine Widerstandscharakteristik gegen eine Phasenfluktuation in einem Signal, das in verschiedene elektrische Geräte und verschiedene Übertragungsvorrichtungen eingegeben wird, als eine Übertragungscharakteristik von verschiedenen elektrischen Geräten und verschiedenen Übertragungsvorrichtungen betrachtet, die in ein digitales Übertragungssystem integriert sind.
Unter diesen Phasenfluktuationen in dem eingegebenen Signal wird eine Komponente, deren Fluktuationsfrequenz höher als 10 Hz ist, allgemein als Jitter bezeichnet.
Alternativ hierzu wird von diesen Phasenfluktuationen eine Komponente, deren Fluktuationsfrequenz niedriger als 10 Hz ist, allgemein als Wander bezeichnet, wobei dies in der vorliegenden Erfindung beschrieben wird.
Unter diesen Phasenfluktuationen wird eine Zeitabweichungscharakteristik (TDEV-Charakteristik) als Index zum quantitativen Auswerten von in dem eingegebenen Signal enthaltenen Wander definiert.
Beim Messen dieser TDEV-Charakteristik werden eine Phase, die Wander eines gemessenen Signals beinhaltet, sowie ein Referenzsignal ohne Wander mit einer vorbestimmten Abtastfrequenz τ_s abgetastet.
Anschließend wird eine Phase des gemessenen Signals mit dem Wander mit einer Phase des Referenzsignals ohne Wander verglichen, die Phasendifferenz TIE (Time Interval Error bzw. Zeitabschnittfehler) an jedem Abtastzeitpunkt wird sequentiell als Änderungsbetrag xi (TIE-Daten) in Bezug auf eine anfängliche Phasendifferenz ermittelt, nämlich die Phasendifferenz, die ursprünglich zwischen den beiden Signalen vorhanden ist.
Alternativ hierzu wird dieser Änderungsbetrag xi an jedem Abtastzeitpunkt anhand der nachfolgenden Gleichung (1) als Wirkung des Änderungsbetrages xi zum Zeitpunkt der jeweiligen Integralperiode (Zeitintegral) τ (= n·τ_s) ermittelt und als TDEV-Charakteristik (τ) definiert.
In der vorstehenden Gleichung (1) bedeuten xi einen Änderungsbetrag, N eine Abtast-Gesamtanzahl, τ_s eine Abtastfrequenz, n die Nummer der Abtastfrequenzen und τ ein Zeitintegral (= n·τ_s).
Mit anderen Worten, man erhält diese TDEV-Charakteristik (τ) durch Auswerten einer Leistungsspektrum-Dichteverteilung der Phasendifferenz über eine Zeit (verstrichene Zeit).
Es gibt die folgenden drei Verfahrensweisen (1) bis (3) als Meßverfahren zum Messen einer Charakteristik in Bezug auf Wander, die zu einem Meßsystem der vorstehend genannten verschiedenen elektrischen Geräte und Übertragungsvorrichtungen gehören.
(1) Messung einer Charakteristik von Wander, die durch das Meßsystem an sich erzeugt wird
Hierbei handelt es sich um ein Verfahren zum Erlangen der vorstehend genannten TDEV-Charakteristik durch Messen von Wander in dem gemessenen Signal, das von dem Meßsystem an sich abgegeben wird, und zwar ohne Zuführen eines Eingabesignals, unter Verwendung einer Wander-Meßvorrichtung.
Ein solches Meßsystem weist zum Beispiel einen Oszillator oder dergleichen auf.
(2) Messen einer Antiwander-Charakteristik, die zu dem Meßsystem gehört
Bei diesem Verfahren wird zuerst ein Testsignal mit Wander, das eine vorbestimmte TDEV-Charakteristik (τ) aufweist, von einem Wandergenerator erzeugt und dem Meßsystem zugeführt. Anschließend mißt eine Bitfehler-Meßvorrichtung den Bitfehler in einem von dem Meßsystem abgegebenen Signal.
Auf diese Weise wird ausgewertet, in welchem Umfang dieses Meßsystem eine Datenverarbeitung ohne Fehler in Bezug auf das Testsignal ausführen kann.
(3) Messung einer Übertragungscharakteristik von Wander, die zu dem Meßsystem gehört
Bei diesem Verfahren wird zuerst ein Testsignal mit Wander, das eine vorbestimmte TDEV-Charakteristik (τ) aufweist, von einem Wandergenerator erzeugt, um dem Meßsystem zugeführt zu werden. Anschließend wird die genannte TDEV-Charakteristik (τ) durch Messen des in einem ausgegebenen Signal des Meßsystems enthaltenen Wanders unter Verwendung der Wander-Meßvorrichtung ermittelt.
Als Meßsysteme können zum Beispiel ein Transponder, ein Verstärker und dergleichen in Betracht gezogen werden.
Bei den jeweiligen Messungen gemäß den Verfahren (2) und (3) von diesen drei Meßverfahren wird ein Wandergenerator benötigt, der in der Lage ist, ein Testsignal mit Wander zu erzeugen, das eine vorbestimmte TDEV-Charakteristik (τ) aufweist.
Als ein solcher Wandergenerator ist zum Beispiel im Stand der Technik ein Wandergenerator bekannt, der eine Konfiguration aufweist, wie diese in 9 veranschaulicht ist.
Mit anderen Worten, es werden bei diesem Wandergenerator ein Modulationssignal zum Modulieren einer Frequenz, die niedriger ist als 10 Hz und von einer Modulationssignal-Generatorsektion 1 erzeugt wird, sowie ein Gleichstrom-Referenzsignal, das von einer Referenzspannung-Generatorsektion 2 erzeugt wird, in einer Additionssektion 3 addiert.
Durch Eingeben eines Ausgangssignals der Additionssektion 3 in einen spannungsgesteuerten Oszillator oder VCO 4 erzeugt der VCO 4 dann ein Taktsignal CK, das eine Zentralfrequenz aufweist, die der Referenzspannung entspricht und deren Phase durch das Modulationssignal moduliert ist.
Dieser Wandergenerator ermöglicht das Verändern einer Frequenz und einer Größe des abgegebenen Taktsignals CK durch Ändern der Frequenz und der Amplitude des Modulationssignals, das von der Modulationssignal-Generatorsektion 1 ausgegeben wird.
In den letzten Jahren sind Meßstandards zum Messen einer Charakteristik in Bezug auf Wander vorgeschlagen worden, das zu dem Meßsystem gehört, nämlich ANSI, ITU-T, ETSI oder dergleichen.
Gemäß diesen Standards wird eine TDEV-Charakteristik (τ) mit Wander, die von dem Wandergenerator abgegeben wird, durch einen Standardwert (einen Charakteristikwert) definiert, der als TDEV-Maskencharakteristik bezeichnet wird, so daß eine Universalität des Meßergebnisses in Bezug auf das Meßsystem gewährleistet werden kann.
Es werden mehrere Arten von diesen TDEV-Maskencharakteristiken bereitgestellt, die beispielsweise den Arten der Meßsysteme sowie der Meßaufgaben entsprechen. Wie jedoch in den 10A und 10B gezeigt ist, werden eine Vielzahl von Liniensegmenten 6a, 6b und 6c verknüpft, so daß eine TDEV-Maskencharakteristik 5 gebildet wird.
Alternativ hierzu handelt es sich bei der horizontalen Achse in dieser TDEV-Maskencharakteristik 5 um das vorstehend genannte Zeitintegral τ (n·τ_s), welches die verstrichene Zeit anzeigt. Die vertikale Achse gibt einen Charakteristikwert zum Anzeigen einer Leistungsspektrumsdichte des Änderungsbetrages einer Phase an.
Die in 10A dargestellte TDEV-Maskencharakteristik 5 ist zum Beispiel aus zwei Liniensegmenten 6a und 6b gebildet. Diese TDEV-Maskencharakteristik 5 ist in der nachfolgenden Gleichung (2) definiert. TDEV(τ) = A1τ; τt1 ≤ τ ≤ τ2 (2).
Hierbei sind A0, A1, τ0, τ1, τ2 jeweilige Parameter zum Spezifizieren von Liniensegmenten 6a und 6b, die diese TDEV-Maskencharakteristik 5 bilden.
Insbesondere repräsentieren τ0 und τ1 Startpunkte von jeweiligen Liniensegmenten 6a und 6b; τ2 einen Endpunkt des Liniensegments 6b; A0 einen Charakteristikwert an einem Startpunkt τ0; und A1 eine Neigung des Liniensegments 6b.
Alternativ hierzu ist die in 10B dargestellte TDEV-Maskencharakteristik 5 aus drei Liniensegmenten 6a, 6b und 6c gebildet, und diese TDEV-Maskencharakteristik 5 ist in der nachfolgenden Gleichung (3) definiert. TDEV(τ) = A0, τ0 < τ ≤ τ1 TDEV(τ) = A1τ, τ1 < τ ≤ τ2 TDEV(τ) = A2, τ2 < τ ≤ τ3 (3).
Hierbei sind A0, A1, A2, τ0, τ1, τ2, τ3 jeweilige Parameter zum Spezifizieren der Liniensegmente 6a, 6b, 6c, die die TDEV-Maskencharakteristik 5 bilden.
Insbesondere repräsentieren τ0, τ1, τ2 Startpunkte der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c; τ3 einen Endpunkt des Liniensegments 6c; A0 eine Charakteristik an einem Startpunkt τ0; A1 eine Neigung des Liniensegments 6b; und A2 einen Charakteristikwert des Liniensegments 6c an dem Startpunkt τ2.
Der in 6 gezeigte Wandergenerator kann jedoch nur eine Phase eines einzigen Signals modulieren, so daß es schwierig ist, ein Wander enthaltendes Testsignal mit einer TDEV-Charakteristik zu erzeugen, die die TDEV-Maskencharakteristik 5 erfüllt, welche aus einer Vielzahl von Liniensegmenten 6a, 6b, 6c gebildet ist, deren Charakteristikwerte für jeden durch den vorstehend genannten Standard bestimmten Zeitintegralbereich verschieden sind.
Zum Überwinden eines solchen Nachteils ist der Wandergenerator entwickelt worden, in den eine TDEV-Charakteristik-Einstellungsvorrichtung integriert ist.
Bei dieser TDEV-Charakteristik-Einstellungsvorrichtung werden eine Vielzahl von TDEV-Maskencharakteristiken, die durch die vorstehend genannten jeweiligen Standards bestimmt sind, im voraus gespeichert.
Insbesondere werden die jeweiligen Parameter A0, A1, A2 ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ... gespeichert, um eine Vielzahl von Liniensegmenten 6a, 6b, 6c zu spezifizieren, die die jeweilige TDEV-Maskencharakteristik 5 bilden.
Wenn eine Bedienungsperson des Wandergenerators eine Charakteristik-Zahl (Koordinatenzahl) zum Spezifizieren der TDEV-Maskencharakteristik 5 an einem Bedienungsfeld eingibt, werden die jeweiligen Parameter A0, A1, A2, ..., τ0, τ1, τ2, τ3 der in der TDEV-Charakteristik-Einstellungsvorrichtung gespeicherten TDEV-Maskencharakteristiken 5 mit der benannten Charakteristik-Zahl ausgelesen. Im Anschluß daran wird die TDEV-Maskencharakteristik 5 zum Anlegen an die Modulationssignal-(Fluktuationssignal-)Generatorsektion 1 bereitgestellt.
Diese Modulationssignal-(Fluktuationssignal-)Generatorsektion 1 generiert ein Modulationssignal (Fluktuationssignal), das dieser TDEV-Maskencharakteristik 5 entspricht, auf der Basis der eingegebenen TDEV-Maskencharakteristik 5.
Das Modulationssignal (Fluktuationssignal), das dieser von der Modulationssignal-(Fluktuationssignal-)Generatorsektion 1 erzeugten TDEV-Maskencharakteristik 5 entspricht, wird in der Additionssektion 3 zu einer Gleichstrom-Referenzspannung hinzuaddiert, die von der in 9 gezeigten Referenzspannungs-Generatorsektion 2 ausgegeben wird.
Anschließend wird das Ausgangssignal von der Additionssektion 3 in einen in 9 dargestellten VCO 4 eingegeben, so daß durch den VCO 4 ein Taktsignal CK mit einer Zentralfrequenz erzeugt wird, die der Referenzspannung entspricht, wobei die Phase dieses Taktsignals mit dem Modulationssignal (Fluktuationssignal) moduliert wird und dieses Signal Wander mit einer TDEV-Charakteristik (τ) beinhaltet, die der bezeichneten TDEV-Maskencharakteristik 5 entspricht.
Jedoch besteht auch bei dem Wandergenerator, in den die vorstehend genannte TDEV-Charakteristik-Einstellungsvorrichtung integriert ist, ein Problem, wie es im folgenden geschildert wird.
Bei dieser in den Wandergenerator integrierten TDEV-Charakteristik-Einstellungsvorrichtung werden mehrere Arten der TDEV-Maskencharakteristiken 5, die durch die jeweiligen Meßstandards, wie zum Beispiel ANSI, ITU-T, ETSI oder dergleichen bestimmt werden, nur in der vorstehend beschriebenen Weise gespeichert.
In den letzten Jahren hat jedoch die digitale Kommunikationstechnologie rasche Fortschritte gemacht, so daß ein ernsthafter Wunsch dahingehend besteht, die Charakteristik in Bezug auf Wander nicht nur so zu messen, wie dies durch die vorstehend genannten jeweiligen Meßstandards vorgegeben ist, sondern diese auch unter verschiedenen Meßbedingungen zu messen.
Hierbei ist als eine neue Meßbedingung eine TDEV-Maskencharakteristik erwünscht, die von den jeweiligen, durch die vorstehend genannten jeweiligen Standards bestimmten TDEV-Maskencharakteristiken 5 recht verschieden ist und sich in einfacher Weise einstellen läßt, wobei es ferner wünschenswert ist, die TDEV-Maskencharakteristiken in einfacher Weise und für eine kurze Zeitdauer zu setzen, wobei nur ein Teil der durch die jeweiligen Standards bestimmten TDEV-Maskencharakteristiken geändert wird.
Das Dokument JP-A-10-178 420 veranschaulicht eine frühere Entwicklung von der Anmelderin und offenbart eine Zeitabweichungs-Meßvorrichtung, bei der durch eine Wander-Meßsektion abgetastete Daten durch eine Akkumulationsdaten-Berechnungseinrichtung nacheinander akkumuliert werden und die akkumulierten Daten nacheinander in einen Akkumulationsdatenspeicher gespeichert werden, sowie die Anzahl der gespeicherten akkumulierten Daten durch eine Datenanzahl-Detektionseinrichtung detektiert wird.
Bei der herkömmlichen Zeitabweichungs-Meßvorrichtung wird der TDEV-Wert einer Wanderkomponente, bei der es sich um eine Phasenfluktuationskomponente von nicht mehr als 10 Hz handelt, gemessen und dargestellt, wobei die Meßzeit verkürzt werden kann. Die herkömmliche Vorrichtung ist somit dazu ausgebildet, die Wartezeit von dem Beginn der Messung bis zu der Darstellung einer Zeitabweichung zu vermindern.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht in der Angabe eines Wandergenerators mit einer beliebigen TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung, der in der Lage ist, eine beliebige TDEV-Maskencharakteristik, die von einer Meßeinrichtung benötigt wird, und bei der es sich um eine andere als die jeweiligen, durch die Standards bestimmten TDEV-Maskencharakteristiken handelt, in einem einfachen Vorgang und ohne Fehler einzustellen, und der in der Lage ist, einen Meßbereich in Bezug auf Wander bei einem Meßsystem, das einen Wandergenerator verwendet, in großem Umfang zu erweitern.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe gelöst mit einem Wandergenerator, wie er im Anspruch 1 angegeben ist. Vorteilhafte Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Wandergenerators sind in den Unteransprüchen angegeben. Ferner ist gemäß der vorliegenden Erfindung ein Verfahren zur Einstellung einer beliebigen TDEV-Maskencharakteristik, die in einem Wandergenerator verwendet wird, im Anspruch 24 angegeben.
Zum Erreichen der vorstehend genannten Zielsetzung wird gemäß einem Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung ein Wandergenerator angegeben, der eine beliebige TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung beinhaltet, die folgendes aufweist:
Wandergeneratoreinrichtungen zur Erzeugung eines Taktsignals mit Wander; und
TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungseinrichtungen, die in den Wandergeneratoreinrichtungen zum Benennen einer TDEV-Maskencharakteristik verwendet werden, die zu dem in dem Taktsignal enthaltenen und durch die Wandergeneratoreinrichtungen erzeugten Wander gehört;
wobei die TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungseinrichtungen folgendes aufweisen:
eine Datei, in der die TDEV-Maskendateninformation mit den TDEV-Maskendaten sowie Berechnungsausdrücke zur Bildung von TDEV-Maskendaten im voraus gespeichert werden, wobei die TDEV-Maskendaten dadurch gebildet werden, daß eine Vielzahl von Liniensegmenten in einem Koordinatensystem, in dem eine horizontale Achse ein Zeitintegral und eine vertikale Achse einen Charakteristikwert repräsentiert, verknüpft werden;
TDEV-Maskendateninformation-Ausleseeinrichtungen zum Auslesen der gewünschten TDEV-Maskendateninformation aus der Datei;
eine Darstellungssektion zur Darstellung eines Liniensegments, das durch die gewünschte TDEV-Maskendateninformation dargestellt wird, die von der TDEV-Maskendateninformation-Ausleseeinrichtung ausgelesen wird;
eine Bediensektion zur Eingabe der Information, um den Startpunkt und/oder den Endpunkt und/oder den Charakteristikwert auf den gewünschten Wert hinsichtlich des durch die gewünschte TDEV-Maskendateninformation dargestellten Liniensegments zu verändern, das in der Darstellungssektion dargestellt wird; und
eine TDEV-Maskendatenänderungssektion zum Empfangen von einer Informationseingabe mittels der Bediensektion und zum Ändern der TDEV-Maskendateninformation auf der Basis des Berechnungsausdrucks der TDEV-Maskendateninformation, die durch das in der Darstellungssektion dargestellte Liniensegment dargestellt wird, sowie zum Darstellen eines durch die veränderte TDEV-Maskendateninformation dargestellten Liniensegments in der Darstellungssektion.
Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur Einstellung einer beliebigen TDEV-Maskencharakteristik angegeben, das in einem Wandergenerator verwendet wird, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist:

– Speichern der TDEV-Maskendateninformation mit TDEV-Maskendaten vorweg in einer Datei, wobei die TDEV-Maskendaten dadurch gebildet werden, daß eine Vielzahl von Liniensegmenten und ein Berechnungsausdruck zum Bilden der TDEV-Maskendaten in einem Koordinatensystem verknüpft werden, in welchem eine horizontale Achse ein Zeitintegral und eine vertikale Achse einen Charakteristikwert repräsentiert;
– Bezeichnen der gewünschten TDEV-Maskendateninformation;
– Auslesen der gewünschten TDEV-Maskendateninformation aus der Datei;
– Darstellen eines Liniensegments, welches die gelesene, gewünschte TDEV-Maskendateninformation repräsentiert, in einer Darstellungssektion;
– Eingeben von Information zur Veränderung des Startpunkts und/oder des Endpunkts und/oder des Charakteristikwerts auf einen gewünschten Wert hinsichtlich des Liniensegments, welches die gewünschte TDEV-Maskendateninformation repräsentiert, welche in der Darstellungssektion dargestellt sind; und
– Empfangen der Eingabeinformation und Ändern der TDEV-Maskendateninformation basierend auf dem Berechnungsausdruck der TDEV-Maskendateninformation, welche das auf der Darstellungssektion dargestellte Liniensegment repräsentiert, und gleichzeitiges Anzeigen eines Liniensegments, welches die veränderte TDEV-Maskendateninformation repräsentiert, in der Darstellungssektion.

Die Erfindung ist anhand der nachfolgenden ausführlichen Beschreibung in Verbindung mit den Begleitzeichnungen in noch vollständigerer Weise zu verstehen; darin zeigen:
1 ein Blockdiagramm zur Erläuterung einer schematischen Konfiguration eines Wandergenerators, in dem eine TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung integriert ist;
2 ein Blockdiagramm zur Erläuterung einer schematischen Konfiguration der in 1 gezeigten TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung;
3A bis 3L Darstellungen zur Erläuterung des Speicherinhalts von TDEV-Maskenmusterdateien (1) bis (12), die in der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung der 1 gebildet sind;
4 ein Flußdiagramm zur Erläuterung der Arbeitsweise der in 1 gezeigten TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung;
5 ein Flußdiagramm zur Erläuterung der Arbeitsweise der in 1 dargestellten TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung;
6A und 6B Diagramme zur Erläuterung eines Änderungsvorgangs der TDEV-Maskencharakteristik bei der in 1 gezeigten TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung;
7A und 7B Diagramme zur Erläuterung eines Änderungsvorgangs der TDEV-Maskencharakteristik bei der in 1 gezeigten TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung;
8A und 8B Diagramme zur Erläuterung eines Änderungsvorgangs der TDEV-Maskencharakteristik bei der in 1 gezeigten TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung;
9 eine schematische Darstellung zur Erläuterung eines herkömmlichen, allgemeinen Wandergenerators;
10A und 10B Diagramme zur Erläuterung von TDEV-Maskencharakteristiken, die durch einen Standard bestimmt werden;
11A eine schematische Darstellung zur Erläuterung eines Beispiels in einem Fall, in dem die durch den Standard bestimmten TDEV-Maskencharakteristiken gemäß der vorliegenden Erfindung dargestellt werden; und
11B und 11C schematische Darstellungen zur Erläuterung eines Beispiels in einem Fall, in dem die durch den Standard bestimmten TDEV-Maskencharakteristiken verändert werden und eine beliebige TDEV-Maskencharakteristik gemäß der vorliegenden Erfindung dargestellt wird.
Als erstes wird im folgenden die vorliegende Erfindung im Konzept erläutert.
Die vorliegende Erfindung findet Anwendung bei einer TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung, die in einen Wandergenerator zum Erzeugen eines Taktsignals mit Wander integriert ist, die eine der bezeichneten TDEV-Maskencharakteristik entsprechende TDEV-Charakteristik aufweist, wobei der Wandergenerator die TDEV-Maskencharakteristik einstellt.
Die TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung besitzt folgende Komponenten:
eine TDEV-Maskencharakteristik-Datei zum Speichern der TDEV-Maskencharakteristik, die jeweils durch Verknüpfen einer Vielzahl von Liniensegmenten gebildet ist;
TDEV-Maskencharakteristik-Ausleseeinrichtungen zum Auslesen der betätigten und bezeichneten TDEV-Maskencharakteristik aus der TDEV-Maskencharakteristik-Datei sowie zum Darstellen von dieser;
eine Änderungsbezeichnungs-Aufnahmeeinrichtung zum Aufnehmen einer Änderungsbezeichnung zum Verändern eines Startpunkts von jeweiligen Liniensegmenten, die die TDEV-Maskencharakteristik bilden, oder einer Änderungsbezeichnung eines Charakteristikwerts an einem Startpunkt; sowie
eine TDEV-Maskencharakteristik-Änderungseinrichtung zum Empfangen von jeweiligen Änderungsbezeichnungen, die von dieser Änderungsbezeichnungs-Aufnahmeeinrichtung aufgenommen werden, sowie zum Verändern der betätigten und bezeichneten TDEV-Maskencharakteristik durch Berechnen von jeweiligen Parametern, die die Liniensegmente einschließlich des Startpunkts, der Neigung und des Charakteristikwerts an dem Startpunkt für jedes Liniensegment spezifizieren, welches die betätigte und bezeichnete TDEV-Maskencharakteristik bildet.
Bei der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung des Wandergenerators mit der vorstehend beschriebenen Ausbildung werden zum Beispiel die jeweiligen TDEV-Maskencharakteristiken, die durch die Standards bestimmt werden, in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei gespeichert.
Beim neuen Einstellen der TDEV-Maskencharakteristik wird in dem Fall, in dem diese neu einzustellende TDEV-Maskencharakteristik sich einer der jeweiligen TDEV-Maskencharakteristiken annähert, die durch die in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei gespeicherten Standards bestimmt werden, die TDEV-Maskencharakteristik auf den Darstellungsschirm ausgelesen, und es wird die Änderungsinstruktion hinsichtlich des Startpunkts des zu ändernden Liniensegments von den jeweiligen Liniensegmenten, die diese TDEV-Maskencharakteristik bilden, oder der Änderungsinstruktion des Charakteristikwerts an dem Startpunkt eingegeben.
Unter Verwendung dieser jeweiligen Änderungsinstruktionen werden dann die jeweiligen Parameter automatisch berechnet, um die Liniensegmente einschließlich eines Startpunkts, der Neigung und eines Charakteristikwerts an dem Startpunkt für jedes Liniensegment zu spezifizieren, welches die bezeichnete TDEV-Maskencharakteristik bildet.
Mit anderen Worten, es werden die jeweiligen Liniensegmente, die die TDEV-Maskencharakteristik bilden, miteinander verknüpft.
In dem Fall, in dem der Startpunkt und der Endpunkt eines Zielliniensegments sowie jeweilige Charakteristikwerte an den Startpunkt und dem Endpunkt verändert werden, und zwar mit Ausnahme einer gleichzeitigen Änderung des Startpunkts und des Endpunkts der jeweiligen Liniensegmente, die dem Zielliniensegment benachbart sind, sowie der jeweiligen Charakteristikwerte und der Neigung an dem Startpunkt und an dem Endpunkt, wird somit ein diskontinuierlicher Bereich oder ein Überlappungsbereich zwischen den benachbarten Liniensegmenten erzeugt.
Um das Auftreten einer derartigen Situation zu verhindern, muß die Bedienungsperson jeweilige Änderungsinstruktionen hinsichtlich des Startpunkts, des Endpunkts und des Charakteristikwerts und dergleichen für das Zielliniensegment eingeben. Ferner muß die Bedienungsperson in entsprechender Weise jeweilige Änderungsinstruktionen hinsichtlich des Startpunkts, des Endpunkts, der Neigung und des Charakteristikwerts und dergleichen für die benachbarten jeweiligen Liniensegmente eingeben, die geändert werden müssen.
Zum exakten Bestimmen des Startpunkts, des Endpunkts, der Neigung und des Charakteristikwerts und dergleichen der benachbarten jeweiligen Liniensegmente sowie für die Eingabe der Änderungsinstruktion, so daß der diskontinuierliche Bereich und der Überlappungsbereich nicht erzeugt werden, muß die Bedienungsperson hierbei in sehr aufwendiger Weise arbeiten.
Wenn gemäß der vorliegenden Erfindung die Bedienungsperson die jeweiligen Änderungsinstruktionen hinsichtlich des Startpunkts, des Endpunkts, des Charakteristikwerts und dergleichen für das Zielliniensegment eingibt, werden daher die Parameter des Startpunkts, des Endpunkts, des Charakteristikwerts und dergleichen der benachbarten jeweiligen Liniensegmente automatisch berechnet, so daß die Erzeugung eines diskontinuierlichen Bereichs und eines Überlappungsbereichs verhindert wird.
Die Bedienungsperson ist somit in der Lage, eine TDEV-Maskencharakteristik unter Verwendung der in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei gespeicherten TDEV-Maskencharakteristik bei der Neueinstellung einer TDEV-Maskencharakteristik in einfacher Weise neu einzustellen.
Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung ist die vorstehend geschilderte TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung ferner ausgestattet mit folgenden Komponenten:
einer TDEV-Maskenmuster-Datei zum Speichern einer Vielzahl von TDEV-Maskenmustern, die durch Verbinden einer Vielzahl von jeweiligen Liniensegmenten gebildet sind;
TDEV-Maskenmuster-Ausleseeinrichtungen zum Auslesen des betätigten und bezeichneten TDEV-Maskenmusters aus der TDEV-Maskenmuster-Datei und zum Darstellen von diesem;
einer Neuparameter-Aufnahmeeinrichtung zum Aufnehmen des Startpunkts der jeweiligen Liniensegmente, die das betätigte und eingegebene TDEV-Maskenmuster bilden, sowie eines Charakteristikwerts an diesem Startpunkt;
einer TDEV-Maskencharakteristik-Neuerstellungseinrichtung zum Neuerstellen einer TDEV-Maskencharakteristik durch Berechnen von jeweiligen Parametern, die das Liniensegment spezifizieren, einschließlich des Startpunkts, der Neigung und des Charakteristikwerts an dem Startpunkt für jedes Liniensegment, welches das betätigte und bezeichnete TDEV-Maskenmuster bildet, unter Verwendung von jeweiligen Startpunkten und jeweiligen Charakteristikwerten, die von der Neuparameter-Aufnahmeeinrichtung aufgenommen werden.
Bei der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung mit der vorstehend beschriebenen Ausbildung wird eine Vielzahl von TDEV-Maskenmustern, die erwartungsgemäß neu einzustellen sind, im voraus in die TDEV-Maskenmuster-Datei eingeschrieben.
Bei der Neueinstellung der TDEV-Maskencharakteristik liest die Bedienungsperson das TDEV-Maskenmuster, mit der ein Maskenmuster einer neu einzustellenden TDEV-Maskencharakteristik identisch ist, von den jeweiligen in der TDEV-Maskenmuster-Datei gespeicherten Maskenmustern auf den Darstellungsschirm aus. Die Bedienungsperson gibt dann nur die Startpunkte der jeweiligen Liniensegmente, die dieses TDEV-Maskenmuster bilden, sowie die Charakteristikwerte an diesen Startpunkten ein.
Unter Verwendung der Bedingung, daß die jeweiligen Liniensegmente der TDEV-Maskencharakteristik verknüpft sind, werden dann die jeweiligen Parameter zum Spezifizieren des Liniensegments einschließlich des Startpunkts, der Neigung und des Charakteristikwerts an dem Startpunkt automatisch für jedes Liniensegment berechnet, das eine neue TDEV-Maskencharakteristik bildet.
Im Fall einer Neueinstellung einer TDEV-Maskencharakteristik ist somit die Bedienungsperson in der Lage, eine TDEV-Maskencharakteristik unter Verwendung des in der TDEV-Maskenmuster-Datei gespeicherten TDEV-Maskenmusters in einfacher Weise neu einzustellen.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel auf der Basis der vorstehend beschriebenen Konfiguration gemäß der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen beschrieben.
1 zeigt ein Blockdiagramm zur Erläuterung einer schematischen Konfiguration eines Wandergenerators, in den eine TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung integriert ist.
Dieser Wandergenerator ist im großen und ganzen gebildet aus einer Zentralfrequenzeinstellungssektion 11, einer TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12, einer Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion 13, einer Additionssektion 14, einem DDS (Direkt-Digital-Synthesizer) 15 und einem Taktsignal-Ausgabeschaltkreis 16.
Weiterhin überträgt die Zentralfrequenzeinstellungssektion 11 eine Zentralfrequenz (zum Beispiel 2 NMz) eines Taktsignals CK1, das in einem von dem Wandergenerator ausgegebenen Testsignal zu verwenden ist, nämlich die digitalen Daten Y0 zum Bestimmen der Zentralfrequenz des ausgegebenen Signals des DDS 15, zu der Additionssektion 14.
Die TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 erzeugt die TDEV-Maskencharakteristik, die durch eine Bedienungsperson bezeichnet wird, und überträgt diese zu der Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion 13.
Hierbei ist die Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion 13 gebildet aus einer Rausch-Generatorsektion 17, einer Impulsantwort-Berechnungssektion 18, einem Speicher 19 und einer Faltungs-Berechnungssektion 20.
In der Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion 13 mit einer derartigen Ausbildung ist die Rausch-Generatorsektion 17 zum Beispiel aus einem PN-(Zufallsrausch-)Signalgenerator-Schaltkreis gebildet, der ein PN-Signal n(k) erzeugt und dieses zu der Faltungs-Berechnungssektion 20 überträgt.
Alternativ hierzu berechnet die Impulsantwort-Berechnungssektion 18 einen Spitzenkoeffizienten h(t) jeweils für eine Impulsantwort einer Übertragungsfunktion, welche sich an die Leistungsspektrumsdichte-Verteilungscharakteristik eines Änderungs betrags einer Phasendifferenz annähert, die durch die TDEV-Maskencharakteristik angezeigt wird, die über die TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 eingegeben wird, und speichert diese in dem Speicher 19.
Weiterhin gibt die Faltungs-Berechnungssektion 20 eine fluktuierende Signalreihe y(k) aus, welche die von der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 eingegebene TDEV-Maskencharakteristik erfüllt, indem die Faltungsberechnung unter Verwendung des von der Rausch-Generatorsektion 17 ausgegebenen PN-Signals n(k) und des Spitzenkoeffizienten h(t) für jede in dem Speicher 19 gespeicherte Zeit durchgeführt wird.
Weiterhin addiert die Additionssektion 14 die von der Zentralfrequenz-Einstellungssektion 11 eingestellten Daten sowie die von der Fluktuationssignalreichen-Generatorsektion 13 ausgegebene fluktuiernde Signalreihe y(k), so daß die Additionssektion 14 die Daten u(k) des Additionsresultats zu dem DDS 15 überträgt.
Hierbei ist der DDS 15 gebildet aus einem Addierer 21, einem Latch-Schaltkreis 22, einem Wellenformspeicher 23 und einem Digital/Analog-(D/A-)Wandler 24.
Bei einem solchen DDS 15 synchronisiert der Latch-Schaltkreis 22 die von dem Addierer 21 ausgegebenen Daten mit dem Taktsignal CK2, das im Vergleich zu der Frequenz des abzugebenden Taktsignals CK1 eine weit höhere Frequenz hat. Der Latch-Schaltkreis 22 hält dann die von dem Addierer 21 ausgegebenen Daten.
In dem vorliegenden Fall addiert der Addierer 21 die Daten u(k) des Additionsergebnisses mit einer Komponente der eingegebenen fluktuierenden Signalreihe y(k) und der durch den Latch-Schaltkreis 22 gehaltenen Daten, um die addierten Daten zum Latch-Schaltkreis 22 zu übertragen.
Alternativ hierzu liest der Wellenformspeicher 23 die Daten der Adresse aus, welche durch die Ausgabe des Latch-Schaltkreises 22 bezeichnet wird, indem im voraus Sinuswellendaten in einem kontinuierlichen Adressenraum gespeichert werden, und speichert und hält diese.
Mit anderen Worten, es wird eine Wellenform eines Taktsignals, bei dem die Daten der fluktuierenden Signalreihe einer Referenz-Sinuswellenform hinzuaddiert werden, d. h. bei dem einer Referenz-Sinuswellenform Wander hinzugefügt wird, in diesem Wellenformspeicher 23 gespeichert.
Alternativ hierzu liest der D/A-Wandler 24 die im Wellenformspeicher 23 gespeicherten Wellenformdaten aus und wandelt diese in ein analoges Signal, um dieses zu dem nächsten Taktsignal-Ausgabeschaltkreis 16 zu übertragen.
Hierbei ist der Taktsignal-Ausgabeschaltkreis 16 aus einem Bandpaßfilter oder BPF 25 und einem Komparator 26 gebildet.
Um in diesem Taktsignal-Ausgabeschaltkreis 16 die Wellenform des analogen Signals, das von dem DDS 15 ausgegeben wird, zu bilden und ein abschließendes Taktsignal CK1 zu erzeugen, wird die Wellenform des analogen Signals einer Stufen-Wellenform zur Ausgabe von dem DDS 15 in dem BPF 25 gebildet, der eine Durchlaßbandbreite entsprechend den in dem Komparator 26 einzugebenden Daten Y0 hat.
Weiterhin stellt der Komparator 26 die Binärform des analogen Signals her, dessen Wellenform gebildet und von dem BPF 25 mit einer Schwellenspannung Vr ausgegeben wird, damit der Komparator 26 das binär gewandelte Signal als Taktsignal CK1 mit rechteckiger Wellenform ausgibt.
Dieser Wandergenerator ist somit in der Lage, das Taktsignal CK1 mit Wander der TDEV-Charakteristik entsprechend der TDEV-Maskencharakteristik zu erzeugen, die von der Bedienungsperson mit der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 eingestellt wird.
Im folgenden werden eine Konfiguration und eine ausführliche Arbeitweise der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung erläutert.
2 veranschaulicht einen Funktionsblock zur Erläuterung einer schematischen Konfiguration der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12, die zum Beispiel aus einem Mikrocomputer gebildet ist.
Mit anderen Worten, es sind bei dieser TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 eine Bediensektion 27 mit verschiedenen Betätigungstasten und Betätigungsknöpfen und dergleichen, die auf einem Bedienungsfeld (nicht gezeigt) angeordnet sind, eine Darstellungssektion 28 mit einer Flüssigkristallanzeige oder dergleichen, die an dem Bedienungsfeld angeordnet ist, eine TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29, eine TDEV-Maskenmuster-Datei 30 sowie ein Charakteristikausgabe-Speicher 31 vorhanden.
Weiterhin sind in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29, wie sie zum Beispiel in den 10A und 10B gezeigt ist, eine Vielzahl von TDEV-Maskencharakteristiken 5 gespeichert, die durch die vorstehend genannten drei Klassen der jeweiligen Standards ANSI, ITU-1 und ETSI definiert sind sowie durch Verknüpfen einer Vielzahl von Liniensegmenten 6a, 6b, ..., gebildet sind.
Insbesondere speichert die TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 an sich kein Koordinatensystem der jeweiligen TDEV-Maskencharakteristiken 5 in dieser, um Speicherkapazität einzusparen. Die TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 speichert und hält jedoch die Parameter A0, A1, A2, ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ..., wie zum Beispiel die Startpunkte für jedes jeweilige Liniensegment 6a, 6b, ..., die Charakteristikwerte an den Startpunkten sowie die Neigung, wenn eine solche existiert, und dergleichen für jede TDEV-Maskencharakteristik 5.
Alternativ hierzu werden in der TDEV-Maskenmuster-Datei 30, wie diese zum Beispiel in den 3A bis 3L gezeigt sind, die TDEV-Maskenmuster 39 als Muster einer Vielzahl von TDEV-Maskencharakteristiken gespeichert, die erwartungsgemäß neu einzustellen sind.
Dieses TDEV-Maskenmuster 29 zeigt an, aus wie vielen Liniensegmenten 6a, 6b, ... die TDEV-Maskencharakteristik sich zusammensetzt, eine Unterscheidung, ob entsprechende Liniensegmente horizontal (Neigung = 0) oder jeweilige Liniensegmente in beliebiger Richtung geneigt sind, und ein Kombinationsmuster entsprechender Liniensegmente, die diese Unterscheidung haben.
Gemäß der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 des vorliegenden Ausführungsbeispiels, wie es in den 3A bis 3L veranschaulicht ist, sind zwölf TDEV-Maskenmuster 39, denen eine Koordinatenzahl von (1) bis (12) hinzugefügt ist, in der TDEV-Maskenmuster-Datei 30 gespeichert.
Alternativ hierzu werden die Parameterelemente der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, ... für jedes TDEV-Maskenmuster 39 unter Verwendung des TDEV-Maskenmusters 39 in dieser TDEV-Maskenmuster-Datei 30 zusammen mit den vorstehend genannten zwölf TDEV-Maskenmustern 39 gespeichert. Zum Erlangen der TDEV-Maskencharakteristik, die diesem Muster entspricht, sollte die Bedienungsperson zumindest die Parameter der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, ... eingeben.
Desweiteren wird bei dieser TDEV-Maskenmuster-Datei 39 ein Berechnungsausdruck für die Berechnung aller Parameter A0, A1, A2 ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ... zur Spezifizierung der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, ... unter Verwendung des Parameters gespeichert, welcher eingegeben wird, wenn der Parameter des entsprechenden Elements eingegeben wird.
Weiterhin wird die TDEV-Maskencharakteristik, die in dieser TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 erzeugt wird, in den Charakteristikausgabe-Speicher 31 eingeschrieben.
Insbesondere werden jeweilige Charakteristikwerte in den jeweiligen Zeitintegralen τ (= n·τ_s) in der berechneten TDEV-Maskencharakteristik in dem Charakteristikausgabe-Speicher 31 gespeichert.
Weiterhin sind zum Beispiel eine TDEV-Maskencharakteristik-Auslesesektion 32, die aus einem Anwendungsprogramm eines Mikrocomputers gebildet ist, eine Änderungsbezeichnungs-Aufnahmesektion 33, eine TDEV-Maskencharakteristik-Änderungssektion 34, eine Maskenmuster-Auslesesektion 35, eine Neuparameter-Aufnahmesektion 36, eine TDEV-Maskencharakteristik-Neuerstellungssektion 37 und eine Charakteristikausgabe-Sektion 38 und dergleichen in diese TDEV-Maskencharakteristik-Einstellvorrichtung 12 integriert.
Bei der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 mit einer derartigen Konfiguration führen die vorgenannte TDEV-Maskencharakteristik-Auslesesektion 32, die Änderungsbezeichnungs-Aufnahmesektion 33, die TDEV-Maskencharakteristik-Änderungssektion 34, die Maskenmuster-Auslesesektion 35, die Neuparameter-Aufnahmesektion 36, die TDEV-Maskencharakteristik-Neuerstellungssektion 37 und die Charakteristikausgabe-Sektion 38 die Einstellverarbeitung der TDEV-Maskencharakteristik in Abhängigkeit von einem Flußdiagramm aus, wie es in 4 gezeigt ist.
Als erstes wählt die Bedienungsperson einen Einstellmodus durch die Betätigungstaste der Bediensektion 27 aus (Schritt S1).
In dem Fall, in dem es sich bei dem ausgewählten Einstellmodus um einen Standardwert-Modus handelt (Schritt S2) wird festgestellt, daß es sich bei diesem Modus um einen Modus handelt, der die TDEV-Maskencharakteristiken 5, die durch die in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 gespeicherten jeweiligen Standards ANSI, ITU-T, ETSI bestimmt sind, so wie sie sind verwenden kann.
Wenn eine Standardzahl und eine Koordinatenzahl von den vorstehend genannten drei Klassen von Standards durch die Bediensektion 27 bezeichnet werden (Schritt S3), wird die TDEV-Maskencharakteristik-Auslesesektion 32 aktiviert. Anschließend wird die TDEV-Maskencharakteristik 5 der bezeichneten Koordinatenzahl des bezeichneten Standards aus der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 ausgelesen (Schritt S4), und die TDEV-Maskencharakteristik-Auslesesektion 32 gibt diese zur Anzeige auf der Anzeigesektion 28 aus (Schritt S5).
In diesem Fall werden die eigentlichen TDEV-Maskencharakteristiken 5 graphisch entwickelt und auch als jeweilige Parameter A0, A1, A2, ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ... der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, ... dargestellt, welche die TDEV-Maskencharakteristiken 5 bilden, wie dies in den 10A und 10B gezeigt ist.
Insbesondere wird, wie in 11A gezeigt ist, zum Beispiel die TDEV-Maskencharakteristik, die durch einen Meßstandard des vorstehend genannten Standards ITU-I bestimmt wird, auf der Bildanzeige des Computers dargestellt.
In diesem Fall werden in der graphischen Darstellungssektion auf der Bildanzeige des Computers die TDEV-Maskendaten, die durch Verknüpfen einer Vielzahl von Liniensegmenten gebildet sind, in einem Koordinatensystem dargestellt, in dem eine horizontale Achse ein Zeitintegral repräsentiert und eine vertikale Achse einen Charakteristikwert repräsentiert.
Anschließend werden die in dieser Darstellungssektion 28 dargestellten TDEV-Maskencharakteristiken 5 in den Charakteristikausgabe-Speicher 31 als bestimmte TDEV-Maskencharakteristik eingeschrieben (Schritt S6).
Wie vorstehend beschrieben worden ist, werden in diesem Fall die jeweiligen Charakteristikwerte in den jeweiligen Zeitintegralen τ (= n·τ_s) in den TDEV-Maskencharakteristiken 5 in den Charakteristikausgabe-Speicher 31 eingeschrieben.
Als nächstes wird die Charakteristikausgabe-Sektion 38 aktiviert, um die TDEV-Maskencharakteristik mit den jeweiligen Charakteristikwerten in den jeweiligen Zeitintegralen τ (= n·τ_s), welche in den Charakteristikausgabe-Speicher 31 eingeschrieben sind, an die Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion 13 zu übertragen (Schritt S7).
Damit ist die Verarbeitung in dem Fall abgeschlossen, in dem die durch die Standards bestimmten TDEV-Maskencharakteristiken 5 direkt verwendet werden.
Alternativ hierzu wird in dem Fall, in dem der ausgewählte Einstellungsmodus in dem Schritt S1 ein Standardwert-Änderungsmodus ist (Schritt S8) festgestellt, daß es sich bei diesem Modus um einen Modus zum Ändern eines Teils der TDEV-Maskencharakteristik handelt, der durch die in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 gespeicherten, jeweiligen Standards ANSI, ITU-T, ETSI bestimmt wird, und es wird dieser Modus verwendet.
Wenn dann eine Standardzahl und eine Koordinatenzahl von den vorstehend genannten drei Klassen von Standards durch die Bediensektion 27 bezeichnet werden (Schritt S9), so wird die TDEV-Maskencharakteristik-Auslesesektion 32 aktiviert. Dann wird die TDEV-Maskencharakteristik 5 der bezeichneten Koordinatenzahl des aus der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 bezeichneten Standards ausgelesen (Schritt S10) und für die Darstellung an die Darstellungssektion 28 ausgegeben (Schritt S11).
In diesem Fall werden die eigentlichen TDEV-Maskencharakteristiken 5 graphisch entwickelt und auch als jeweilige Parameter A0, A1, A2, ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ... der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, ... dargestellt, die die TDEV-Maskencharakteristiken 5 bilden, wie dies in den 10A und 10B gezeigt ist (Schritt S12).
Genauer gesagt wird, wie in 11B gezeigt ist, zum Beispiel ein Bereich "Benutzer" (schraffierter Bereich in der Zeichnung) unter dem ein Standardwertänderungsmodus zu verstehen ist, d. h. die Bedienungsperson stellt eine beliebige TDEV-Maskencharakteristik ein, aus einem Untermenü angeklickt, das durch Anklicken von ITU-T (schraffierter Bereich in der Zeichnung) geöffnet wird, während die durch einen Meßstandard des vorstehend genannten Standards ITU-T bestimmte TDEV-Maskencharakteristik auf der Bildanzeige des Computers dargestellt wird.
Auf diese Weise schaltet die Bedienungsperson auf eine Bildanzeige eines Standardwertänderungsmodus um, wie diese in 11C gezeigt ist.
Wenn mit anderen Worten diese Bildanzeige zum Beispiel einen Zustand anzeigt, in dem die durch den vorstehend genannten ITU-T Meßstandard bestimmte TDEV-Maskencharakteristik als Default dargestellt ist, um eine beliebige TDEV-Maskencharakteristik unter Verwendung dieser Anzeige einzustellen, gibt die Bedienungsperson verschiedene Änderungsparameter durch die Betätigung der Bediensektion 27 ein.
In diesem Fall werden in der Graphikdarstellungssektion auf der Bildanzeige die TDEV-Maskendaten, die durch Verknüpfen einer Vielzahl von Liniensegmenten gebildet sind, in einem Koordinatensystem dargestellt, in dem die horizontale Achse ein Zeitintegral repräsentiert und die vertikale Achse einen Charakteristikwert repräsentiert.
Ferner wird die in Bezug auf die Liniensegmente 6a, 6b zu ändernde Information, die die Bedienungsperson ändern möchte, von der Bediensektion 27 eingegeben (Schritt S13).
Die Bedienungsperson gibt einen Wert einer X-Achse oder einer Y-Achse eines beliebigen Liniensegments mittels einer Taste oder eines Knopfes als zu ändernde Information (Änderungsparameter) ein, während er auf der Bildanzeige der Darstellungssektion 28 die TDEV-Maskencharakteristik betrachtet, die in dem Koordinatensystem dargestellt wird, in dem eine horizontale Achse (X) ein Zeitintegral repräsentiert und eine vertikale Achse (Y) einen Charakteristikwert repräsentiert.
Wie in 11C gezeigt ist, kann hierbei durch bewegliches Einstellen von Marken M1, M2 in dem Koordinatensystem der Bildanzeige der Anzeigesektion 28 sowie durch Verändern dieser Marken M1, M2 die X-Achse oder die Y-Achse eines beliebigen Liniensegments als zu ändernde Information (Änderungsparameter) eingegeben werden.
Anschließend wird die Änderungsbezeichnungs-Aufnahmesektion 33 aktiviert, und der eingegebene Änderungsparameter wird zu der TDEV-Maskencharakteristik-Änderungssektion 34 übertragen.
Unter Verwendung der zu ändernden Information der eingegebenen Parameter der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b berechnet diese TDEV-Maskencharakteristik-Änderungssektion 34 die jeweiligen Parameter A0, A1, A2, ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ... einschließlich der Startpunkte, der Endpunkte und der Charakteristikwerte an den Startpunkten der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, welche die TDEV-Maskencharakteristik 5 bilden, die aus der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 ausgelesen wird (Schritt S14).
Anschließend wird die berechnete TDEV-Maskencharakteristik nach der Änderung für die Darstellung an die Darstellungssektion 28 ausgegeben (Schritt S15).
Weiterhin wird die in dieser Darstellungssektion 28 dargestellte TDEV-Maskencharakteristik 5 in den Charakteristikausgabe-Speicher 31 als TDEV-Maskencharakteristik eingeschrieben, die von der Bedienungsperson beliebig eingestellt ist (Schritt S6).
Als nächstes werden die TDEV-Maskencharakteristiken, die jeweilige Charakteristikwerte in den jeweiligen Zeitintegralen τ (= n·τ_s) aufweisen und die in den Charakteristikausgabe-Speicher 31 eingeschrieben sind, über die Charakteristikausgabesektion 38 an die Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion 13 übertragen (Schritt S7).
Damit ist die Verarbeitung in dem Fall abgeschlossen, daß die durch die Standards bestimmten TDEV-Maskencharakteristiken 5 für die Verwendung teilweise verändert worden sind.
Im folgenden wird ein spezieller Berechnungsvorgang der TDEV-Maskencharakteristik-Änderungssektion 34 unter Bezugnahme auf die 6A, 6B, 7A, 7B, 8A und 8B erläutert.
Die 6A und 6B veranschaulichen einen Berechnungsvorgang zum Ändern eines Teils der TDEV-Maskencharakteristik 5 (eines Charakteristikwerts A an dem Startpunkt τ0 des Liniensegments 6a), die durch Verknüpfen von drei Liniensegmenten 6a, 6b, 6c gebildet ist, die durch die in 6A gezeigten Standards definiert sind, um daraus eine neue TDEV-Maskencharakteristik 40 zu erzeugen, wie dies in 6B gezeigt ist.
Es sei angenommen, daß die jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c der TDEV-Maskencharakteristik 5, die durch die Standards definiert sind, durch die Gleichung (4) repräsentiert werden. TDEV(τ) = A0 τ0 < τ ≤ τ1 TDEV(τ) = A1τ τ1 < τ ≤ τ2 TDEV(τ) = A2 τ2 < τ ≤ τ3 (4).
Dabei sind
A1 τ1 = A0 und
A1 τ2 = A2
Hierbei ist angenommen, daß
A0 = 3,
A1 = 0,12,
A2 = 12,
τ0 = 0,1,
τ1 = 25,
τ2 = 100,
τ3 = 10.000
betragen.
Diese jeweiligen Parameter dienen zum Spezifizieren der Liniensegmente 6a, 6b, 6c, die diese TDEV-Maskencharakteristik 5 bilden.
Hierbei wird angenommen, daß ein Parameter des Charakteristikwerts A0 an dem Startpunkt τ0 (= 0,1) des Liniensegments 6a an einem Kopfbereich in der TDEV-Maskencharakteristik 5 von A0 = 3 in A0 = 5 geändert wird.
In diesem Fall wird auch bei der neuen TDEV-Maskencharakteristik 40 davon ausgegangen, daß die Startpunkte und die Endpunkte der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c nicht verändert werden, und die jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c werden verknüpft.
In 6B sind die Charakteristikwerte an einem Verbindungspunkt τ1 (= 25) des Liniensegments 6a und des Liniensegments 6b gleich, so daß A1 τ1 = A0 (=5) erhalten wird. Ferner wird die Angabe A1 des Liniensegments 6b dargestellt durch A1 = A0/τ1 = 5/25 = 0,2.
In ähnlicher Weise sind in 6B die Charakteristikwerte an einem Verbindungspunkt τ2 des Liniensegments 6a und des Liniensegments 6b gleich, so daß man A2 = A1, τ1 = 0,2 × 100 = 20 erhält. Die jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c der neuen TDEV-Maskencharakteristik 40 nach der Veränderung sind durch die Gleichung (5) dargestellt. TDEV(τ) = 5 0,1 < τ ≤ 25 TDEV(τ) = 0,2τ 25 < τ ≤ 100 TDEV(τ) = 20 1000 < τ ≤ 10000 (5).
Somit werden lediglich durch Eingeben des Startpunkts in einen Bereich, den die Bedienungsperson ändern möchte, der durch den Standard bestimmten TDEV-Maskencharakteristik 5 sowie der zu ändernden Information des Parameters zwischen den Charakteristikwerten an dem Startpunkt durch die Bedienungsperson die Parameter in anderen zugehörigen Bereichen in der TDEV-Maskencharakteristik 5 automatisch geändert.
Somit ist es möglich, die Bedienungseffizienz dieser TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 in großem Umfang zu verbessern.
Die 7A und 7B veranschaulichen einen Berechnungsvorgang zum Erzeugen einer neuen TDEV-Maskencharakteristik 40 durch Ändern eines Bereichs der TDEV-Maskencharakteristik 5 (eines Startpunkts τ2 an dem Liniensegment 6c), die durch die in 6A und 7A gezeigten Standards (die gleichen wie in 6A) definiert ist, wie dies in 7B gezeigt ist.
Es sei angenommen, daß die jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c der durch die Standards definierten neuen TDEV-Maskencharakteristik durch die Gleichung (6) dargestellt sind. TDEV(τ) = A0 = 3 τ0 < τ ≤ τ1 TDEV(τ) = A1τ = 0,12τ τ1 < τ ≤ τ2 TDEV(τ) = A2 = 12 τ2 < τ ≤ τ3 (6).
Hierbei ist angenommen, daß
A0 = 3,
A1 = 0,12,
A2 = 12,
τ0 = 0,1,
τ1 = 25,
τ2 = 100,
τ = 10.000
betragen.
Ferner ist hierbei angenommen, daß ein Parameter des Startpunkts τ2 (= 100) des dritten Liniensegments 6c in der TDEV-Maskencharakteristik 5 von τ2 = 100 in τ2 = 200 geändert wird.
Hierbei sind auch bei der neuen TDEV-Maskencharakteristik 40 die Charakteristikwerte (A1 τ2) an den Endpunkten des Liniensegments 6b und der Charakteristikwert (A2) an dem Startpunkt τ2 des Liniensegments 6b gleich, so daß A1 τ2 = A2, A2 = 0,12 × 200 = 24 erzielt wird. Anschließend werden die jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c in der TDEV-Maskencharakteristik 40 nach der Änderung durch die folgende Gleichung (7) dargestellt. TDEV(τ) = 3 0,1 < τ ≤ 25 TDEV(τ) = 0,12τ 25 < τ ≤ 200 TDEV(τ) = 24 2000 < τ ≤ 10000 (7).
Auch in diesem Fall werden nur durch Eingeben der Instruktion zum Ändern des Startpunkts in einem Bereich, den die Bedienungsperson ändern möchte, in der durch den Standard bestimmten TDEV-Maskencharakteristik 5 sowie des Parameters an dem Startpunkt durch die Bedienungsperson die Parameter in den anderen zugehörigen Bereichen in der TDEV-Maskencharakteristik 5 automatisch geändert.
Die 8A und 8B veranschaulichen einen Berechnungsvorgang zum Erzeugen einer in 8B dargestellten neuen TDEV-Maskencharakteristik 40 durch Ändern eines Bereichs der TDEV-Maskencharakteristik 5 (eines Charakteristikwerts A0 an einem Startpunkt τ0 an dem Liniensegment 6a), die durch die in 8A gezeigten Standards definiert ist.
Hierbei wird angenommen, daß die jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c, 6d der durch die Standards definierten TDEV-Maskencharakteristik 5 in der nachfolgenden Gleichung (8) zum Ausdruck kommen. TDEV(τ) = 32τ–0,5 0,1 < τ ≤ 2,5 TDEV(τ) = 2 2,5 < τ ≤ 40 TDEV(τ) = 0,32τ0,5 40 < τ ≤ 1000 TDEV(τ) = 10 1000 < τ (8).
Hierbei beträgt jedoch der Charakteristikwert A0 an dem Startpunkt τ0 = 0,1 eines Kopfbereichs des Liniensegments 6a 10,12.
Hierbei sei angenommen, daß ein Parameter des Startpunkts τ0 (= 0,1) des Kopfbereichs des Liniensegments 6a in der TDEV-Maskencharakteristik 5 von A0 = 10,12 in A0 = 20 geändert wird.
Wenn die Neigung des Kopfbereichs des Liniensegments 6a in der TDEV-Maskencharakteristik 40 nach der in 8B dargestellten Änderung als A1 bestimmt wird, erhält man A0 = 20 = A1 τ0^–0,5 = A1 (0,1)^–0,5. Auf diese Weise erhält man die Neigung A1 = 6,324.
Wenn der Charakteristikwert des zweiten Liniensegments 6b der TDEV-Maskencharakteristik 40 nach der Änderung als A2 definiert wird, erhält man A2 = a1 π1^–0,5 = 6,324 × (2,5)^–0,5 = 3,999 = 4,0.
Wenn die Neigung des dritten Liniensegments 6c der TDEV-Maskencharakteristik 40 nach der Änderung ferner als A3 definiert wird, beträgt der Charakteristikwert des Startpunkts τ2 des dritten Liniensegments 6c A2, so daß man A2 = 4,0 = A3 τ2^0,5 = A3 (40)^0,5 erhält. Ferner erhält man die Neigung A3 = 0,632.
Wenn schließlich der Charakteristikwert des vierten Liniensegments 6d der TDEV-Maskencharakteristik 40 nach der Änderung als A4 definiert wird, erhält man A4 = A3 π3^0,5 = 0,632 × (1000)^0,5 = 19,98 = 20.
Somit werden die jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c, 6d der TDEV-Maskencharakteristik 40 nach der Änderung gemäß 8B durch die nachfolgende Gleichung (9) zum Ausdruck gebracht. TDEV(τ) = A1τ–0,5 = 6,324τ–0,5 0,1 < τ ≤ 2,5 TDEV(τ) = A2 = 4 2,5 < τ ≤ 40 TDEV(τ) = A3τ–0,5 = 0,632τ0,5 40 < τ ≤ 1000 TDEV(τ) = A4 = 20 1000 < τ (9).
Der Charakteristikwert A0 an dem Startpunkt τ0 = 0,1 des Kopfbereichs des Liniensegments 6a beträgt jedoch 20.
Auch in diesem Fall werden durch bloßes Eingeben der Instruktion zum Ändern des Startpunkts in einem Bereich, den die Bedienungsperson ändern möchte, in der durch den Standard bestimmten TDEV-Maskencharakteristik 5 sowie des Parameters des Charakteristikwerts an dem Startpunkt durch die Bedienungsperson die Parameter in den anderen zugehörigen Bereichen in der TDEV-Maskencharakteristik 5 automatisch geändert.
Alternativ hierzu wechselt die Verarbeitung in dem Fall, in dem es sich bei dem ausgewählten Einstellungsmodus in dem in 4 dargestellten Schritt S1 um einen Neuerstellungsmodus handelt (im Fall der Schritte S2, S8: NEIN), in einem in 5 dargestellten Flußdiagramm zu einem Schritt S16.
Ferner wird in dem Fall, daß es sich bei dem Einstellungsmodus um den Neuerstellungsmodus handelt, anstatt der Verwendung der jeweiligen TDEV-Maskencharakteristiken, die in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 gespeichert sind, die Feststellung getroffen, daß es sich bei diesem Modus um einen Modus zum Erstellen einer neuen TDEV-Maskencharakteristik handelt, die durch keine Standards definiert ist.
In diesem Einstellungsmodus wird als erstes ein Auswahlmenü aus zwölf TDEV-Maskenmustern dargestellt, die in 3 gezeigt sind und in der TDEV-Maskenmuster-Datei 30 gespeichert sind (Schritt S17).
Wenn die Bedienungsperson eines der TDEV-Maskenmuster 39 durch eine Musterzahl über die Bediensektion 27 auswählt (Schritt S18), wird die Maskenmuster-Auslesesektion 35 aktiviert, und zwar zum Auslesen der TDEV-Maskenmuster 39 der entsprechenden Musterzahl, die in der TDEV-Maskenmuster-Datei 30 verzeichnet ist, der Parameter der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c, 6d, ..., die zumindest eingegeben sein sollten, sowie eines Berechnungsausdrucks zum Berechnen der jeweiligen Parameter A0, A1, A2, ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ... (Schritt S19).
Anschließend werden die TDEV-Maskenmuster 39 sowie die Parameter der jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, ..., die zumindest eingegeben sein sollten, in der Darstellungssektion 28 dargestellt (Schritt S20).
Bevor die Bedienungsperson ein TDEV-Maskenmuster 39 anhand der Musterzahl über die Bediensektion 27 auswählt, können in diesem Fall die TDEV-Maskenmuster 39 oder dergleichen, die durch eine Lernfunktion erlangt werden und in der Vergangenheit häufig verwendet wurden, in der Darstellungssektion 28 als Default dargestellt werden.
In diesem Fall gibt die Bedienungsperson die Parameter der in der Darstellungssektion 28 dargestellten jeweiligen Liniensegmente 6a, 6b, 6c, 6d ..., die zumindest eingegeben werden sollten, über die Bediensektion 27 ein (Schritt S21).
Die Bedienungsperson gibt einen Wert einer X-Achse oder einer Y-Achse eines beliebigen Liniensegments durch eine Taste oder einen Knopf als zu ändernde Information ein, während er die TDEV-Maskencharakteristik betrachtet, die in dem Koordinatensystem dargestellt wird, bei dem eine horizontale Achse (X) ein Zeitintegral repräsentiert und eine vertikale Achse (Y) einen Charakteristikwert repräsentiert.
In diesem Fall kann durch bewegliches Einstellen von Marken in dem Koordinatensystem sowie durch Verändern dieser Marken die Bedienungsperson die zu ändernde Information eingeben.
Anschließend wird eine Neuparameter-Aufnahmesektion 36 aktiviert, um die eingegebenen jeweiligen Parameter zu der TDEV-Maskencharakteristik-Neuerstellungssektion 37 zu übertragen.
Diese TDEV-Maskencharakteristik-Neuerstellungssektion 37 berechnet alle Parameter A0, A1, A2, ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ... zum Spezifizieren der jeweiligen Liniensegmente 3a, 3b, ... des TDEV-Maskenmusters 39 unter Verwendung des Berechnungsausdrucks, der aus der TDEV-Maskenmuster-Datei 30 ausgelesen wird, aus den eingegebenen jeweiligen Parametern (Schritt S22).
Ferner gibt die TDEV-Maskencharakteristik-Neuerstellungssektion 37 die berechneten jeweiligen Parameter A0, A1, A2, ..., τ0, τ1, τ2, τ3, ... sowie die TDEV-Maskencharakteristik an die Darstellungssektion 28 aus, um diese darzustellen (Schritt S23).
Anschließend wird die in dieser Darstellungssektion 28 dargestellte TDEV-Maskencharakteristik in den Charakteristikausgabe-Speicher 31 als TDEV-Maskencharakteristik eingeschrieben, die durch die Bedienungsperson beliebig eingestellt ist (Schritt S6 in 4).
Die TDEV-Maskencharakteristik, die jeweilige Charakteristikwerte in den jeweiligen Zeitintegralen τ (= n·τ_s) aufweisen und die in den Charakteristikausgabe-Speicher 31 eingeschrieben sind, werden über die Charakteristikausgabesektion 38 zu der Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion 13 übertragen (Schritt S7 in 4).
Damit endet die Verarbeitung in dem Fall der Neuerstellung einer TDEV-Maskencharakteristik, die durch keinen der Standards definiert ist.
Gemäß der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 des Wandergenerators mit der vorstehend beschriebenen Ausbildung werden eine Vielzahl von TDEV-Maskencharakteristiken 5, die durch Verknüpfen einer Vielzahl von Liniensegmenten 6a, 6b, ... gebildet sind und durch jeweilige Standards ANSI, ITU-T, ETSI und dergleichen definiert sind, in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 gespeichert.
Ferner werden in der TDEV-Maskenmuster-Datei 30 die TDEV-Maskenmuster 39 gespeichert, bei denen es sich um die Muster einer Vielzahl von TDEV-Maskencharakteristiken handelt, von denen erwartet wird, daß diese neu angefordert werden.
Bei der Ausführung eines Tests hinsichtlich eines Wanders in dem Meßsystem unter Verwendung des Wandergenerators ist die Bedienungsperson zum Auswählen und Einstellen der TDEV-Maskencharakteristik zum Spezifizieren des Wanders des Taktsignals als Testsignal in der Lage, das von dem Wandergenerator an des Meßsystem anzulegen ist, wobei dies in einem großen Bereich möglich ist.
Insbesondere ist die Bedienungsperson in der Lage, die TDEV-Maskencharakteristik in beliebiger Weise zu ändern, indem die TDEV-Maskencharakteristik in der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 geändert wird.
Gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist im Fall der direkten Verwendung der TDEV-Maskencharakteristik, die durch die Standards definiert ist, der Betriebsmodus auf einen Standardwertmodus eingestellt, und es wird eine TDEV-Maskencharakteristik benannt, die in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 gespeichert ist.
Im Fall der teilweisen Veränderung der durch die Standards definierten TDEV-Maskencharakteristik sowie der Verwendung von dieser wird der Betriebsmodus auf einen Standardwertänderungsmodus eingestellt, und es wird eine TDEV-Maskencharakteristik, die die Bedienungsperson ändern möchte und die in der TDEV-Maskencharakteristik-Datei 29 gespeichert ist, ausgewählt, und die Bedienungsperson gibt die Änderung der Startpunkte von einem oder mehreren Liniensegmenten 6a, 6b, 6c ein, die in dieser TDEV-Maskencharakteristik geändert werden sollten oder deren Charakteristikwerte an den Startpunkten geändert werden sollten.
Unter Verwendung einer derartigen Grenzbedingung, daß benachbarte Liniensegmente 6a, 6b, 6c miteinander verbunden sind, werden jeweilige Parameter, wie die Neigung und dergleichen, die in den jeweiligen Liniensegmenten geändert werden sollen, automatisch berechnet, und die TDEV-Maskencharakteristik wird nach der Änderung automatisch eingestellt.
Im Fall der Verwendung einer vollständig neuen TDEV-Maskencharakteristik, die nicht durch die Standards definiert ist, wird der Betriebsmodus auf den Neuerstellungsmodus eingestellt, und es wird ein TDEV-Maskenmuster, das mit einem Muster der neu erstellten TDEV-Maskencharakteristik identisch ist, aus der TDEV-Maskenmuster-Datei 30 ausgelesen, und die Bedienungsperson gibt den Wert der als Minimum erforderlichen Eingabeparameter (den Startpunkt oder einen Charakteristikwert an dem Startpunkt) der jeweiligen dargestellten Parameter ein.
Wie in dem vorstehend erläuterten Fall werden unter Verwendung der Grenzbedingung, daß die benachbarten Liniensegmente 6a, 6b, 6c miteinander verbunden sind, die jeweiligen zu ändernden Parameter, wie die Neigung und dergleichen, in den jeweiligen Liniensegmenten automatisch berechnet, und die TDEV-Maskencharakteristik nach der Änderung wird automatisch eingestellt.
Gemäß der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 der vorliegenden Erfindung ist es somit möglich, die TDEV-Maskencharakteristik in beliebiger Weise einzustellen.
Ferner kann die Bedienungsperson nur einen Minimumparameter ohne Änderung der TDEV-Maskencharakteristik oder ohne Eingabe von allen Parametern, die den Startpunkt, die Neigung und den Charakteristikwert an dem Startpunkt umfassen, zum Spezifizieren der jeweiligen Liniensegmente eingeben, welche die TDEV-Maskencharakteristik bilden, wenn eine TDEV-Maskencharakteristik neu erstellt wird. Auf diese Weise ist es möglich, die Betriebseffizienz in großem Umfang zu erhöhen.
Somit ist es möglich, eine Testbetriebseffizienz in Bezug auf Wander in dem Meßsystem für die Verwendung des Wandergenerators, in den diese TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung 12 integriert ist, in großem Umfang zu verbessern.
Wie vorstehend beschrieben, ist es bei der TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung möglich, zusätzlich zu den jeweiligen TDEV-Maskencharakteristiken, die durch die Standards definiert sind, in exakter Weise beliebige TDEV-Maskencharakteristiken, die für das Meßsystem erforderlich sind, in einer einfachen Vorgehensweise einzustellen, so daß sich der Meßbereich hinsichtlich Wander in Bezug auf das Meßsystem für die Verwendung des Wandergenerators, in den diese Vorrichtung integriert ist, in großem Umfang vergrößern läßt und sich darüber hinaus auch die Effizienz des Meßvorgangs stark verbessern läßt.

Claims

Wandergenerator, der folgendes aufweist: – Wandergeneratoreinrichtungen (11, 13–16) zur Erzeugung eines Taktsignals mit Wander; und – TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungseinrichtungen (12) zum Setzen einer TDEV-Maskencharakteristik, die zu dem im Taktsignal enthaltenen und durch die Wandergeneratoreinrichtungen (11, 13–16) erzeugten Wander gehört, dadurch gekennzeichnet, daß die TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungseinrichtungen (12) folgendes aufweisen: – eine Datei (29, 30), in der die TDEV-Maskendateninformation mit den TDEV-Maskendaten sowie Berechnungsausdrücke zur Bildung von TDEV-Maskendaten im voraus gespeichert werden, wobei die TDEV-Maskendaten dadurch gebildet werden, daß eine Vielzahl von Liniensegmenten (6a–6d) in einem Koordinatensystem, in dem eine horizontale Achse ein Zeitintegral und eine vertikale Achse einen Charakteristikwert repräsentiert, verknüpft werden; – TDEV-Maskendateninformation-Ausleseeinrichtungen (32, 35) zum Auslesen der vorbestimmten TDEV-Maskendateninformation aus der Datei (29, 30); – eine Darstellungssektion (28) zur Darstellung der Liniensegmente, die die gewünschten TDEV-Maskendaten repräsentieren, die mittels der TDEV-Maskendateninformation-Ausleseeinrichtungen (32, 35) ausgelesen werden; – eine Bediensektion (27) zur Eingabe von Informationen, um den Startpunkt und/oder den Endpunkt und/oder den Charakteristikwert auf den gewünschten Wert hinsichtlich der Liniensegmente zu verändern, die in der Darstellungsektion dargestellt werden; und – eine TDEV-Maskendatenänderungssektion (34, 37) zum Empfangen von einer Informationseingabe mittels der Bediensektion (27), wobei die TDEV-Maskendaten basierend auf den Berechnungsausdrücken verändert werden und die Liniensegmente, die die veränderten TDEV-Maskendaten repräsentieren, in der Darstellungssektion (28) dargestellt werden.
Wandergenerator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bediensektion (27) als eine Bediensektion zum Bezeichnen einer vorbestimmten TDEV-Maskendateninformation dient, welche aus der Datei (29, 30) ausgelesen wird.
Wandergenerator nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine TDEV-Maskendateninformation, welche der durch Standards definierten TDEV-Maskendatencharakteristik entspricht, im voraus in der Datei als die TDEV-Maskendateninformation gespeichert wird.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die TDEV-Maskendateninformation, welche einer neuen, nicht durch Standards definierten TDEV-Maskencharakteristik entspricht, im voraus in der Datei als die TDEV-Maskendateninformation gespeichert wird.
Wandergenerator nach einem der der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Wandergeneratoreinrichtungen (11–16) aus einer Zentralfrequenzeinstellungssektion (11), einer Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion (13), einer Additionssektion (14), einem DDS (Direkt-Signal-Synthesizer) (15) und einem Taktsignal-Ausgabeschaltkreis (16) gebildet sind; wobei die Zentralfrequenzeinstellungssektion (11) die digitalen Daten zur Bestimmung einer Zentralfrequenz des Ausgabesignals des DDS zur Additionssektion (14) als Zentralfrequenz eines Taktsignals zur Verwendung in einem Testsignal überträgt, das von den Wandergeneratoreinrichtungen (11–16) ausgegeben wird; wobei die Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion (13) eine fluktuierende Signalreihe erzeugt und diese zur Additionssektion auf Basis der TDEV-Maskencharakteristik überträgt, welche entsprechend der Instruktion des Bedieners von den TDEV-Maskencharaktertistik-Einstellellungseinrichtungen (12) erzeugt wird; wobei die Additionssektion (14) die Daten addiert, welche von der Zentralfrequenzeinstellungssektion (11) und der fluktuierenden Signalreihe gesetzt werden, die von der Fluktuationssignalreihen-Generatorsektion (13) ausge geben werden, um die Daten dieses Additionsergebnisses zum DDS (15) zu übertragen; wobei der DDS (15) die Wellenformdaten eines Taktsignals ausliest, auf das eine Komponente der fluktuierenden Signalreihe unter Berücksichtigung einer Referenzsinusschwingung als der Wander hinzuaddiert wird, wobei die fluktuierende Signalreihe in den Daten des Additionsergebnisses der Additionssektion (14) enthalten ist; wobei der Taktsignal-Ausgabeschaltkreis (16) die Welle des Signals ausbildet, welches vom DDS (15) ausgegeben wird, und ein Taktsignal erzeugt, zu welchem schließlich ein Wander hinzuaddiert wird.
Wandergenerator nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Fluktuationssignalreihe-Generatorsektion (13) aus einer Rausch-Generatorsektion (17), einer Inpulsantwort-Berechnungssektion (18), einem Speicher (19) und einer Faltungs-Berechnungssektion (20) gebildet ist; wobei die Rausch-Generatorsektion ein PN-Signal (Zufallsrausch-Signal) erzeugt und zur Faltungs-Berechnungssektion überträgt; wobei die Impulsantwort-Berechnungssektion (18) einen Spitzenkoeffizienten jeweils für eine Impuls-Antwort einer Übertragungsfunktion berechnet, welche sich an die Leistungsspektrumsdichteverteilungscharakteristik eines Änderungsbetrags einer Phasendifferenz annähert, die durch die TDEV-Maskencharakteristik angezeigt wird, die über die Maskencharakteristik-Einstellungseinrichtungen (12) eingegeben wird, und diesen auf dem Speicher speichert; und wobei die Faltungs-Berechnungssektion (20) ein fluktuierendes Signal ausgibt, welches die von den TDEV-Maskencharakteristik-Einstelllungseinrichtungen (12) gelieferte TDEV-Maskencharakteristik erfüllt, indem die Faltungsberechnung unter Verwendung des von der Rausch-Generatorsektion (17) ausgegebenen PN-Signals und des Spitzenkoeffizentens für jede im Speicher gespeicherte Zeit durchgeführt wird.
Wandergenerator nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß der DDS (15) aus einem Addierer (21), einem Latch-Schaltkreis (22), einem Wellenform-Speicher (23) und einem D/A-Wandler (24) gebildet ist; wobei der Latch-Schaltkreis (22) die ausgegebenen Daten des Addierers (21) hält und mit dem Taktsignal synchronisiert, das eine weit höhere Frequenz, verglichen mit der Frequenz des Taktsignals, hat, welches vom Taktsignal Ausgabeschaltkreis (16) abgegeben wird; wobei der Addierer (21) die Daten des Additionsergebnisses mit einer Komponente der eingegeben fluktuierenden Signalreihe und der durch den Latch-Schaltkreis (22) gehaltenen Daten addiert, um die addierten Daten zum Latch-Schaltkreis (22) zu übertragen; wobei der Wellenform-Speicher (23) die Daten der Adresse ausliest, welche durch die Ausgabe des Latch-Schaltkreises (22) bezeichnet wird, in dem im voraus Sinuswellendaten in einem kontinuierlichen Adressraum (23) gespeichert werden, und diese speichert und hält, wobei die Daten der fluktuierenden Signalreihe unter Berücksichtigung einer Referenz-Sinuswellenform in dem Wellenform-Speicher (23) gespeichert sind; und wobei der D/A-Wandler (24) die im Wellenform-Speicher (23) gespeicherten Wellenformdaten ausliest und diese in ein analoges Signal wandelt, um es zum Taktsignal-Ausgabeschaltkreis (16) zu übertragen.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Taktsignalausgabeschaltkreis aus einem Bandpassfilter oder BPF (25) und einem Komparator (26) gebildet ist; wobei der BPF (25) die Wellenform des analogen Signals einer Stufen-Wellenform zur Ausgabe von dem DDS (15) in einer den Daten entsprechenden Durchlassbandbreite ausbildet und diese an den Komparator zur Bildung der Wellenform des analogen Signals ausgibt, welches durch den DDS (15) ausgegeben wird und ein abschließendes Taktsignal bildet; und wobei der Komparator (26) die Binärform des analogen Signals herstellt, dessen Wellenform gebildet und vom BPF (25) mit einer Schwellenspannung ausgegeben wird, damit der Komparator (26) das binär gewandelte Signal als Taktsignal mit rechteckiger Wellenform ausgibt.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vielzahl der TDEV-Maskencharakteristiken, die durch mindestens einen der nachfolgend Standards, nämlich ANSI, ITU-I und ETSI, definiert sind und die durch die Verknüpfung einer Vielzahl von Liniensegmenten gebildet werden, jeweils in der Datei gespeichert wird.
Wandergenerator nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Parameter der TDEV-Maskencharakteristik, wie beispielsweise ein Startpunkt für jedes Liniensegment, ein charakteristischer Wert am Startpunkt und eine Neigung, wenn eine solche existiert, und dergleichen, in der Datei gespeichert und gehalten werden.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 4 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die TDEV-Maskendatenmuster als Muster einer Vielzahl von TDEV-Maskencharakteristiken, von denen zu erwarten ist, daß ein erneutes Einstellen erforderlich ist, in der Datei als neue, nicht durch den Standard definierte TDEV-Maskencharakteristiken gespeichert sind.
Wandergenerator nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das TDEV-Maskenmuster folgendes anzeigt: aus wie vielen Liniensegmenten die TDEV-Maskencharakteristik sich zusammensetzt, eine Unterscheidung, ob entsprechende Liniensegmente horizontal (Neigung = 0) oder in beliebiger Richtung geneigt sind, und ein Kombinationsmuster entsprechender Liniensegmente, die die besagte Unterscheidung haben.
Wandergenerator nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Parameterelemente der jeweiligen Liniensegmente, welche der Bediener zumindest eingeben sollte, um die diesem Muster entsprechende TDEV-Maskencharakteristik zu erlangen, zusammen mit dem TDEV-Maskenmuster für jedes TDEV-Maskenmuster unter Verwendung des entsprechenden TDEV-Maskenmuster in der Datei (29, 30) gespeichert werden.
Wandergenerator nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß des weiteren ein Berechnungsausdruck für die Berechnung aller Parameter zur Spezifizierung der entsprechenden Liniensegmente in der Datei (29, 30) gespeichert wird, wobei der Parameter verwendet wird, welcher eingegeben wird, wenn der Parameter des entsprechenden Elementes eingegeben wird.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die TDEV-Maskencharakteristik-Einstellungseinrichtungen (12) des weiteren einen Charakteristikausgabe-Speicher (31) aufweisen; wobei die TDEV-Maskendateninformation, welche durch die TDEV-Maskendatenänderungssektion (34, 37) verändert wird, im Charakteristikausgabe-Speicher (31) auf der Basis des Berechnungsausdruckes der TDEV-Maskendateninformation gespeichert wird, die das in der Darstellungssektion (28) dargestellte Liniensegment repräsentiert.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 2 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Bediensektion (27) in der Lage ist, einen Standardwertmodus auszuwählen, um die durch einen Standard definierte TDEV-Maskencharakteristik direkt einzusetzen, einen Standardwertänderungsmodus auszuwählen, um teilweise die TDEV-Maskencharakteristik zu ändern, welche durch einen Standard definiert ist und diesen nutzt; und einen Neuerstellungsmodus auszuwählen, um eine neue TDEV-Maskencharkteristik zu erstellen, welche nicht durch einen Standard definiert ist.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 3 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß die TDEV-Maskendateninformation-Ausleseeinrichtung (32, 35) aus der Datei die durch den Standard definierte TDEV-Maskendatencharakteristik als Default ausliest und diese auf der Darstellungssektion als vorbestimmte TDEV-Maskendateninformation darstellt.
Wandergenerator nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Maskendateninformation-Ausleseeinrichtung (32, 35) TDEV-Maskenmuster, die über eine Lernfunktion erlangt und in der Vergangenheit häufig benutzt wurden, als die durch den Standard definierte TDEV-Maskencharakteristik aus der Datei ausliest und auf der Darstellungssektion (28) darstellt.
Wandergenerator nach Anspruch 17 oder 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Darstellungssektion (28) den Standardnamen zusätzlich zur durch den Standard definierten TDEV-Maskencharakteristik als Default darstellt, des weiteren ein Modusselektionsmenu darstellt, wenn der Standardname angeklickt wird und zur Anzeige eines vorbestimmten Modus umschaltet, wenn der vorbestimmte Modus angeklickt wird.
Wandergenerator nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Darstellungssektion (28) eine Marke (M1, M2) darstellt, um den Startpunkt und/oder den Charakteristikwert auf einen gewünschten Wert auf der Bildanzeige der durch den Standard definierten TDEV-Maskencharakteristik umzuändern, wenn sie auf die Darstellung eines vorbestimmten Modus umschaltet.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 4 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß die TDEV-Maskendateninformation-Ausleseeinrichtung (32, 35) die TDEV-Maskendateninformation entsprechend einer neuen, nicht durch den Standard definierten TDEV-Maskencharakteristik aus der Datei als Default ausliest und diese auf der Darstellungssektion (28) als die vorbestimmte TDEV-Maskendateninformation darstellt.
Wandergenerator nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Auslesen der TDEV-Maskendateninformation entsprechend einer neuen, nicht durch den Standard definierten TDEV-Maskencharakteristik aus der Datei als Default und nach der Darstellung auf der Darstellungssektion (28), die TDEV-Maskendateninformation-Ausleseeinrichtung (32, 35) die TDEV-Maskenmuster, welche von der Lernfunktion erlangt, in der Vergangenheit von der TDEV-Maskendateninformation benutzt wurden und der neuen, nicht durch den Standard definierten TDEV-Maskencharakteristik entsprechen, aus der Datei (29, 30) ausliest und sie auf der Darstellungssektion (28) darstellt.
Wandergenerator nach einem der Ansprüche 21 oder 22, dadurch gekennzeichnet, daß die Darstellungssektion (28) eine Marke darstellt, um den Startpunkt und/oder den Charakteristikwert in der Bildanzeige der TDEV-Maskencharakteristikinformation auf einen gewünschten Wert entsprechend der neuen, nicht durch den Standard definierten TDEV-Maskencharakteristik zu verändern.
Verfahren zur Einstellung einer beliebigen TDEV-Maskencharakteristik, das in einem Wandergenerator verwendet wird, wobei das Verfahren den folgenden Schritt aufweist: – Bezeichnen der gewünschten TDEV-Maskendateninformation; dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren des weiteren die folgenden Schritte umfaßt: – Speichern der TDEV-Maskendateninformation mit TDEV-Maskendaten vorweg in einer Datei (29, 30), wobei die TDEV-Maskendaten dadurch gebildet werden, daß eine Vielzahl von Liniensegmenten und ein Berechnungsausdruck zum Bilden der TDEV-Maskendaten in einem Koordinatensystem verbunden werden, in welchem eine horizontale Achse ein Zeitintegral und eine vertikale Achse einen Charakteristikwert repräsentiert; – Auslesen der gewünschten Maskendateninformation aus der Datei (29, 30); – Darstellen der Liniensegmente, welche die gelesenen, gewünschten TDEV-Maskendateninformation repräsentieren, in einer Darstellungssektion (28); – Eingeben von Information zur Veränderung des Startpunkts und/oder des Endpunkts und/oder des Charakteristikwert auf einen gewünschten Wert in den Liniensegmenten, welche die gewünschten TDEV-Maskendaten repräsentieren, welche in der Darstellungssektion (28) dargestellt sind; und – Empfangen der der Eingabeinformation und Ändern der TDEV-Maskendateninformation basierend auf dem Berechnungsausdruck der TDEV-Maskendateninformation, welche das auf der Darstellungssektion (28) dargestellte Liniensegment repräsentiert, und gleichzeitiges Anzeigen der Liniensegmente, welche die veränderten TDEV-Maskendaten repräsentieren, in der Darstellungssektion (28).