DE60117731T2 - optisches Entfernungsmesssystem - Google Patents

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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Messsystem, das einen Laserstrahl als Entfernungsmessungslicht verwendet, und insbesondere eine Verbesserung, um ein kompaktes Antriebssystem mit geringem Gewicht zu erreichen, das für die Lichtmischung verwendet wird mit dem Zweck, die Probleme beim Umschalten optischer Strahlengänge beim Anpassen einer Lichtquelle und beim Entfernen eines Specklemusters (Tupfenmusters) in dem Laserstrahl in einem Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem zu beseitigen.
  • Es erfolgt unten die Beschreibung eines optischen Systems eines Lichtwellen-Entfernungsmessungssystems herkömmlichen Typs, die sich auf 5 bezieht.
  • Das optische System weist in erster Linie eine Lichtprojektionseinheit 1, eine optische Entfernungsmessungseinheit 2, eine Photodetektoreinheit 3 und einen Entfernungsmessungsschaltkreis 4 auf. Außerdem weist die Lichtprojektionseinheit 1 einen Halbleiterlaser 5, zum Ausstrahlen eines Laserstrahls als Entfernungsmesslicht, einen optischen Expander 9, um den von dem Halbleiterlaser 5 ausgestrahlten Laserstrahl über Linsen 6 und 7 in eine optischen Faser 8 einzuleiten, Gradientenindexlinsen 12 und 13, um den von der optischen Faser 8 projizierten Laserstrahl in eine optischen Faser 11 einzuleiten, eine Phasenplatte 14 in einer runden Form, die zwischen der Linse 6 und der Linse 7 angebracht ist und einen Mischungsmotor 15, um die Phasenplatte 14 zu drehen, auf. Die Phasenplatte 14, der Mischungsmotor 15 und die Gradientenindexlinsen 12 und 13 ergeben ein Mischungsmittel 16.
  • Nunmehr wird die optische Entfernungsmessungseinheit 2 beschrieben.
  • Ein Prisma 17 und eine Objektivlinse 18 sind auf einer optischen Achse des eingehenden und ausgehenden Entfernungsmessungs-Lichts angeordnet. Der von der optischen Faser 11 projizierte Laserstrahl wird durch das Prisma 17 auf ein zu messendes Objekt (nicht gezeigt) reflektiert. Nachdem es von dem Prisma 17 reflektiert worden ist und die Objektivlinse 18 passiert hat, wird das Entfernungsmessungs-Licht 19 auf das zu messende Objekt projiziert. Das Entfernungsmessungs-Licht 19 wird von dem zu messende Objekt reflektiert, passiert die Objektivlinse 18 und tritt in das Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem ein. Dann wird das Entfernungsmessungs-Licht 19 von dem Prisma 17 reflektiert und, wie später beschrieben, in eine optische Faser 26 einer Photodetektoreinheit 3 eingeleitet.
  • Ein Teilungsprisma 21 ist an einer Position gegenüber dem Prisma 17 angebracht. Das Teilungsprisma 21 besitzt eine Lichtstrahlen-Teilungsoberfläche 21a und eine Reflektionsoberfläche 21b. Die Lichtstrahlen-Teilungsoberfläche 21a teilt einen Teil des von der optischen Faser 11 projizierten Entfernungsmessungs-Lichts 19 als ein inneres Referenzlicht 22 ab. Eine Lichtmengen-Justierplatte 23 in der runden Form ist drehbar zwischen dem Teilungsprisma 21 und dem Prisma 17 befestigt. Die Lichtmengen-Justierplatte 23 wird durch einen Lichtmengen-Justiermotor 24 gedreht und ihre Position wird bestimmt. Die Lichtmengen-Justierplatte 23 und der Lichtmengen-Justiermotor 24 bilden das Lichtmengen-Justiermittel 25.
  • Ein Teilungsprisma 27 ist an einer Position gegenüber dem Teilungsprisma 21 mit dem Prisma 17 zwischen dem Teilungsprisma 27 und dem Teilungsprisma 21 angeordnet. Das Teilungsprisma 27 besitzt eine Lichtstrahlen-Teilungsoberfläche 27a und eine Reflektionsoberfläche 27b. Die Lichtwellen-Teilungsoberfläche 27a ermöglicht es einem von dem Prisma 17 reflektierten Entfernungsmessungs-Licht 19' zu passieren, und das Licht 19' tritt in die optische Faser 26 ein. Linsen 28 und 29 sind zwischen der Reflektionsoberfläche 21b und der Reflektionsoberfläche 27b angebracht. Nachdem es die Linsen 28 und 29 passiert hat, wird das innere Referenzlicht durch die Reflektionsoberfläche 27b und die Lichtstrahlen-Teilungsoberfläche 27a reflektiert und tritt in die optische Faser 26 ein.
  • Ein Strahlengang-Schaltplatte 31 in einer runden Form ist drehbar zwischen dem Prisma 17 und der Linse 29 auf einer Seite und dem Teilungsprisma 27 auf der anderen Seite angebracht. Zwei Rotationspositionen der Strahlengang-Schaltplatte 31 können von einem Strahlengang-Schaltmotor 32 ausgewählt werden. Die Strahlengang-Schaltplatte 31 und der Strahlengang-Schaltmotor 32 bilden ein Strahlengang-Schaltmittel 36.
  • Die Photodetektoreinheit 3 weist Kondensorlinsen 33 und 34 und ein Photodetektorelement 35 auf. Das von der optischen Faser 26 projizierte, reflektierte Entfernungsmessungs-Licht 19' wird dem Photodetektorelement 35 von der Kondensorlinsen 33 und 34 zusammenlaufend zugeführt und von dem Photodetektorelement 35 empfangen.
  • Der Entfernungsmessungsschaltkreis 4 steuert den Halbleiterlaser 5 an, um das Licht auszustrahlen, und eine Entfernung zu dem zu messenden Objekt wird auf Grundlage eines Photodetektorsignals von dem Photodetektorelement 35 berechnet.
  • Nunmehr werden die Mischungsmittel 16 beschreiben.
  • Wenn der Halbleiterlaser 5 den Laserstrahl ausstrahlt, ist es unvermeidlich, dass ein Specklemuster auftritt. Um das Specklemuster zu beseitigen, wird das Mischungsmittel 16 bereitgestellt.
  • Einer der Gründe dafür, das Lichtemissions-Specklemuster des Laserstrahls herbeizuführen, sind die Veränderungen eines Specklemusters über einen Zeitraum.
  • Zuerst wird eine Beschreibung der Veränderungen des Specklemusters über einen Zeitraum geliefert.
  • Es ist allgemein bekannt, dass sich eine Lichtemissionswellenlänge des Halbleiterlasers 5 in Abhängigkeit von der Temperatur verändert. Das wird in 6(A) dargestellt. Das heißt, eine Lichtemissionswellenlänge λ des Halbleiterlasers 5 wird verlängert, wenn eine Spitzentemperatur Tc erhöht wird, und die Lichtemissionswellenlänge λ wird in Bezug auf die Spitzentemperatur Tc ständig verändert. Das tritt auf, weil, wenn ein Brechungsindex n einer aktiven Schicht mit der Temperaturveränderung variiert wird, die Lichtemissionswellenlänge λ des Halbleiterlasers 5 entsprechend verändert wird. Hier wird angenommen, dass die aufgrund der Temperaturveränderung auftretende Veränderung des Brechungsindexes der aktiven Schicht Δn ist. Wenn dann Δn L, d.h. die Veränderung der optischen Länge der aktiven Schicht, kleiner als 1/2 einer Resonanzwellenlänge des Halbleiterlasers 5 ist, wird die Resonanzwellenlänge kontinuierlich verändert. Wenn Δn L größer als 1/2 der Resonanzwellenlänge des Halbleiterlasers 5 ist, tritt eine sprunghafte, „Modenspruch" genannte Erscheinung der Wellenlängenveränderung auf.
  • Bei dieser „Modensprung" genannten Erscheinung, wenn die Resonanzwellenlänge des Halbleiterlasers 5 um mehr als die Hälfte der Wellenlänge der stehenden Lichtwelle in Längsrichtung des Resonators verändert wird, springt sie in den Longitudinalmodus über, der sich vom bis zu diesem Zeitpunkt vorhandenen Oszillationsmodus unterscheidet.
  • Nunmehr wird, unter Bezug auf 6(B) der Fall beschrieben, wenn rechteckig modulierter elektrischer Strom dem Halbleiterlaser 5 zugeführt wird.
  • Es wird angenommen, dass ein elektrischer Strom mit einer rechteckigen Impulsform, wie in 6(B)(1) gezeigt, dem Halbleiterlaser 5 von der Zeit t0 bis zu der Zeit t1 zugeführt wird. Dann wird das Specklemuster, wie in 7 gezeigt, aufgrund der Kohärenz auf dem Halbleiterlaser 5 gebildet. Andererseits wird die Spitze des Halbleiterlasers aufgrund des Antriebsstroms erwärmt, und die Temperatur wird bis zu einem Temperaturwert erhöht, bei dem ein Gleichgewicht zwischen dem Betrag der Erwärmung und einem Betrag der Wärmeabstrahlung gegenüber einer Kupferbasis, auf der der Halbleiterlaser 5 befestigt ist, oder gegenüber der Luft gehalten wird. 6(B)(2) zeigt diese Temperaturerhöhung der Spitze.
  • Wenn die Temperatur des Halbleiterlasers 5 erhöht wird, wird die Lichtemissionswellenlänge λ aufgrund der oben beschriebenen Ursache verändert. Wenn die Lichtemissionswellenlänge λ verändert wird, wird das als ein Interferenzmuster entwickelte Specklemuster, wie in 7 gezeigt, im Zusammenhang mit dieser Veränderung verändert. Lichtstärke-Wellenmuster der Punkte A und B in 7 werden in 6(B)(3) bzw. 6(B)(4) gezeigt. Das heißt, an dem Punkt A von 7 ist die Lichtstärke des Specklemusters zum Zeitpunkt t0 hoch, und die Lichtstärke wird mit der Veränderung der Lichtemissionswellenlänge λ schrittweise gesenkt (6(B)(3)). Andererseits ist die Lichtstärke an dem Punkt B in 7 zum Zeitpunkt T0 schwach, während die Lichtstärke mit der Veränderung der Lichtemissionswellenlänge λ schrittweise erhöht wird (6(B)(4)).
  • Demzufolge wird, wenn das Wellenmuster an dem Punkt A mit dem Wellenmuster an dem Punkt B verglichen wird, die Phase des Wellengrundbauteils der Wellenform abgelenkt, und es ist sicher, dass die Phase bei dem ersteren fortgeschrittener ist als bei dem letzteren. Wenn der Halbleiterlaser 5 moduliert wird, wird die Lichtemissionswellenform aufgrund der Kohärenz und der Abhängigkeit der Wellenlänge von der Temperatur ungleichmäßig.
  • Das Mischungsmittel 16 wird zum Zweck des Beseitigens dieses Lichtemissionsspecklemusters bereitgestellt.
  • Nunmehr wird das Mischungsmittel 16 beschrieben.
  • Das Mischungsmittel 16 weist zwei Elemente auf. Ein Element ist die Phasenplatte 14, wie oben beschrieben. Das andere sind die Gradientenindexlinsen 12 und 13. Die Gradientenindexlinsen 12 und 13 werden für das Mischen des Specklemusters, das durch den Unterschied der Reaktion aufgrund eines Austrittswinkels des Halbleiterlasers 5 verursacht wird, bereitgestellt.
  • Als Nächstes erfolgt die Beschreibung des Prinzips der Phasenplatte 14.
  • Zuerst wird unter Bezug auf 8 ein Beispiel von Phasenmodulationsrastern, wie sie allgemein verwendet werden, beschrieben.
  • Auf den Phasenmodulationsrastern werden Vertiefungen und Erhebungen, die jeweils eine Tiefe von „t" aufweisen, mit Zwischenraum von Abstand „d" auf einem parallelen flachen Glas bereitgestellt. Wenn das Licht mit Wellenlänge λ in diese Phasenmodulationsraster eintritt, tritt Beugung auf.
  • Besprechen wir das Muster der in 9 gezeigten Phasenplatte 14. Die Phasenplatte 14 weist ein Schachbrettmuster (engl.: „hound's tooth check") mit dunklen Teilen und offenen Teilen, die jeweils eine Seite mit einer Länge von d/2 aufweisen. Die dunklen Teile sind Erhebungen und die offenen Teile sind Vertiefungen. Ein Phasenunterschied zwischen Vertiefungen und Erhebungen beträgt π/2.
  • Als Nächstes wird der Vorgang, wenn die Phasenplatte 14 zwischen den Linsen 6 und 7 platziert wird, unter Bezug auf 10 beschrieben.
  • Das von dem Halbleiterlaser 5 ausgestrahlte Licht wird von der Linse 6 in einen parallelen Strahl umgewandelt, und der Stahl wird von der Phasenplatte 14 gebeugt. Ein Licht 0. Ordnung und ein gebeugtes Licht werden von der Linse 7 konvergiert, und es wird an der Endfläche der optischen Faser 8 ein Bild erzeugt. Das Bild auf der Endfläche der optischen Faser 8 ist ein Bild, das aus einem Bild besteht, das von dem Beugungslicht 0. Ordnung und dem Beugungslicht, die einander überschneiden, erzeugt wird.
  • Die Phasenplatte 14 wird von dem Motor 15 gedreht. Dann wird ein Phasenplattenmuster auf dem parallelen Lichtstrahl zwischen der Linse 6 und der Linse 7 verändert. Im Zusammenhang damit wird ein Beugungsmuster des Lichts ebenfalls verändert, und ein ein Bild erzeugendes Muster, um ein Bild auf der Endfläche der optischen Faser 8 zu erzeugen, wird auch über einen Zeitraum verändert. Durch die Veränderung des ein Bild erzeugenden Musters wird der Lichtinterferenzzustand der optischen Faser 8 verändert, und das Specklemuster am Austrittsende der optischen Faser 8 wird auch mit der Zeit verändert.
  • Demzufolge wird das in 6 und 7 gezeigte Specklemuster mit der Zeit verändert. Durch Mitteln des Wellenmusters im Bezug auf die Zeit, kann das Specklemuster beseitigt werden. Der Abstand der Vertiefungen und der Erhebungen der Phasenplatte 14 beträgt „d". Somit ist ein Beugungswinkel m-ter Ordnung θm wie folgt gegeben: θm = m × (λ/d)
  • Demzufolge wird ein Beugungsbild m-ter Ordnung auf der Endoberfläche der optischen Faser 11 in einem vorgegebenen Bereich erzeugt. Wenn die Phasenplatte 14 gedreht wird, werden verschiedene Typen von Bildmustern in einem vorgegebenen Bereich erzeugt. Folglich kann Mischung mit hoher Effizienz durchgeführt werden.
  • Nunmehr wird das Lichtmengen-Justiermittel 25 beschrieben.
  • Der Laserstrahl, der als Entfernungsmessungs-Licht 19, das von dem Halbleiterlaser 5 ausgestrahlt wird, dient, wird von dem Teilungsprisma 21 geteilt, und ein Teil des Laserstrahls wird zu dem inneren Referenzlicht 22 abgeteilt. Wie später beschrieben, berechnet der Entfernungsmessungsschaltkreis 4 eine Entfernung zu einem zu messenden Objekt, indem der Phasenunterschied zwischen dem Entfernungsmessungs-Licht 19 und dem inneren Referenzlicht 22 ermittelt wird.
  • Bei dem reflektierten Entfernungsmessungs-Licht 19', das von dem zu messenden Objekt reflektiert wird, wird die Lichtmenge in Abhängigkeit von der Entfernung zu dem zu messenden Objekt erheblich verändert, während das innere Referenzlicht 22 die Lichtmenge auf gleich bleibendem Niveau aufweist. In diesem Zusammenhang ist es sehr schwierig, eine automatische Verstärkungsregelung durch einen elektronischen Schaltkreis im Hinblick auf ein Empfangssignal mit einem hohen dynamischen Bereich durchzuführen, und ein Fehler bei der Entfernungsmessung wird auch verstärkt. Aus diesem Grund wird das Lichtmengen-Justiermittel 25 zum Zweck, die Lichtmengen des reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts 19' und des inneren Referenzlichts 22 auf annähernd dem gleichen Niveau zu halten, vorgesehen.
  • Unten wird die Lichtmengen-Justierplatte 23 beschrieben, die das Lichtmengen-Justiermittel 25 darstellt und unter Bezug auf 11 als ein variabler Dichtefilter arbeitet.
  • Die Lichtmengen-Justierplatte 23 weist einen Entfernungsmessungs-Licht-Dichtefiltersektor 23a in einer Ringartigen Form und einen inneren Referenzlicht-Dichtefiltersektor 23b, der konzentrisch auf der Innenseite des Entfernungsmessungs-Licht-Dichtefiltersektor 23a geformt ist, auf. Auf dem Entfernungsmessungs-Licht-Dichtefiltersektor 23a wird die Dichte schrittweise in einer Richtung entgegen dem Uhrzeigersinn erhöht. Auf dem inneren Referenzlicht-Dichtefiltersektor 23b wird die Dichte schrittweise in einer Richtung im Uhrzeigersinn erhöht, d.h. in einer Richtung entgegengesetzt zum Entfernungsmessungs-Licht-Dichtefiltersektor 23a.
  • Die Lichtmenge des reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts 19', das von dem Photodetektorelement 35 empfangen wird, kann mit der des inneren Referenzlichts 22 durch Erhöhen der Dichte des Entfernungsmessungs-Licht-Dichtefiltersektors 23a und durch Unterdrücken der Lichtmenge, falls sich das zu messende Objekt in kurzer Entfernung befindet, und Unterdrücken der Lichtmenge des inneren Referenzlichts 2 durch den inneren Referenzlicht-Dichtefiltersektor 23b, fall sich das Objekt in großer Entfernung befindet, angeglichen werden.
  • Als Nächstes wird das optische Strahlengang-Schaltmittel 36 beschrieben.
  • Wie oben beschrieben gibt es zwei optische Strahlengänge in der optischen Entfernungsmessungseinheit 2: einen Strahlengang des von dem zu messenden Objekt reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts 19' und einen Strahlengang des inneren Referenzlichts 22. Das Photodetektorelement 35 muss die Laserstrahlen abwechselnd in 2 optische Strahlengänge einleiten.
  • Wie in 12 gezeigt, besitzt die Strahlengang-Schaltplatte 31 Schlitze 31a und 31b, jeder in gebogener Form. Das Zentrum eines Bogens von jedem dieser Schlitze ist das gleiche wie das Rotationszentrum der Strahlengang-Schaltplatte 31. Der Schlitz 31a befindet sich auf dem Strahlengang des reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts 19', und der Schlitz 31b befindet sich auf dem Strahlengang des inneren Referenzlichts 22. Die Schlitze sind so gestaltet, dass sie einander nicht überschneiden.
  • Wenn die Strahlengang-Schaltplatte 31 von dem Strahlengang-Schaltmotor 32 reziprok mit einem vorgegebenen Drehwinkel bewegt wird, ist es möglich, das reflektierte Entfernungsmessungs-Licht 19' und das innere Referenzlicht 22 abwechselnd in die Photodetektoreinheit 3 einzuleiten.
  • Der Halbleiterlaser 5 strahlt einen gepulsten Laserstrahl aus. Er hat relativ höhere Energie und kann den gepulsten Laserstrahl mit einem Puls-Pausen-Verhältnis von etwa 0,01% erzeugen.
  • Bei dem vom Halbleiterlaser 5 ausgestrahlten Laserstrahl ist das Specklemuster von dem Mischungsmittel 16 beseitigt, und der Laserstrahl wird von dem Teilungsprisma 21 in das Entfernungsmessungs-Licht 19 und das innere Referenzlicht 22 geteilt. Dann wird die Lichtmenge von dem Lichtmengen-Justiermittel 25 eingestellt, so dass die Lichtmenge des von dem Photodetektorelement 35 empfangenen inneren Referenzlichts 22 der des reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts 19' angeglichen wird. Die Lichtmengen-Einstellung wird durch Auswahl der Rotationsposition der Lichtmengen-Justierplatte 23 wie oben beschrieben durchgeführt.
  • Das reflektierte Entfernungsmessungs-Licht 19' wird von dem zu messenden Objekt reflektiert, tritt in das Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem ein und wird von dem Prisma 17 reflektiert. Das innere Referenzlicht 22 passiert die Linsen 28 und 29. Von dem Strahlengang-Schaltmittel 36 wird der in das Photodetektorelement 3 eintretende Laserstrahl aus dem reflektierten Entfernungsmessungs-Licht 19' und dem inneren Referenzlicht 22 ausgewählt. Bei dem optischen Strahlengang-Schaltvorgang wird die Strahlengang-Schaltplatte 31 wie oben beschrieben mit einem vorgegebenen Winkel reziprok gedreht. Wenn das reflektierte Entfernungsmessungs-Licht 19' den Schlitz 31a passiert, tritt das Entfernungsmessungs-Licht in das Photodetektorelement 35 ein. Wenn das innere Referenzlicht 22 den Schlitz 31b passiert, tritt das innere Referenzlicht 22 in das Photodetektorelement 35 ein.
  • Die Entfernung zu dem zu messenden Objekt wird auf der Grundlage der Differenz zwischen dem Emissionszeitpunkt des Impulsstrahls und dem Zeitpunkt, wenn der Impulsstrahl von dem Photodetektorelement 35 empfangen wird, nachdem das Entfernungsmessungs-Licht 19 von dem zu messenden Objekt reflektiert wird, bestimmt.
  • Das Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem verwendet eine hohe Anzahl elektronischer Bauteile, und die Verzögerungszeit wird wahrscheinlich von den Faktoren, wie Temperatur, beeinflusst. So kann Instabilität innerhalb des Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem auftreten. Aus diesem Grund wird die Messung für das Entfernungsmessungs-Licht 19 und auch für das innere Referenzlicht 22 durchgeführt. Durch Herausfinden der Differenzen der gemessenen Werte ist es möglich, instabile Elemente in dem Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem zu beseitigen und die Genauigkeit der Entfernungsmessung zu verbessern.
  • Für die Entfernungsmessung wird der Impulslaserstrahl nicht notwendigerweise verwendet. Der Laserstrahl kann in moduliertes Licht umgewandelt werden. Das reflektierte Entfernungsmessungs-Licht 19' und das innere Referenzlicht 22 können abwechselnd empfangen werden. Die Entfernung kann durch Messung der Phasendifferenz des modulierten Lichts gemessen werden.
  • Das Mischungsmittel 16, das Lichtmengen-Justiermittel 25 und das Strahlengang-Schaltmittel 36 sind alle, wie oben beschrieben, in einer Weise gestaltet, dass eine Scheibe zur Abschirmung des optischen Pfades von einem Motor gedreht wird. Jedoch wird sowohl bei der Phasenplatte 14, der Lichtmengen-Justierplatte 23 als auch bei der Strahlengang-Schaltplatte 31 jeweils ein Teil auf nur einer Seite von dem Rotationszentrum verwendet. Damit die Linsen 6 und 7 nicht den Mischungsmotor 15 beeinträchtigen, damit der Lichtmengen-Justiermotor 24 nicht das Teilungsprisma 21 beeinträchtigt, und damit der optische Schaltmotor 32 nicht das Teilungsprisma 27 beeinträchtigt, müssen sowohl die Phasenplatte 14, die Lichtmengen-Justierplatte 23 und die Strahlengang-Schaltplatte 31 jeweils einen ausreichend großen Durchmesser aufweisen. Aus diesem Grund wird ein großer, nicht genutzter Raum benötigt, um den nicht in Verwendung befindlichen Teil der Scheibe aufzunehmen, und das war ein Hindernis dafür, das Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem in einer kompakten Größe zu gestalten.
  • Die Europäische Patentanmeldung EP 0957375 A2 ist ein Beispiel für ein solches herkömmliches Entfernungsmessungsgerät, bei dem eine motorgetriebene Scheibe Verwendung findet, um das Lichtgleichgewicht zwischen den Referenz- (ausgestrahlten) und reflektierten (empfangenen) Strahlengängen einzustellen. Die zwei Strahlgänge treffen auf verschiedene Bereiche einer drehbaren Scheibe auf, um zu ermöglichen, einen ausgewählten der Strahlengänge einstellbar abzuschwächen, ohne den nicht ausgewählten Gang abzuschwächen.
  • Das US-Patent 4470698 erläutert ein in einem Flugzeug verwendetes Kollisionsschutz-Radarsystem, bei dem ein Infrarot-Laserstrahl ein Gebiet vor einem Flugzeug abtastet und die Reflektionen verwendet werden, um Hindernisse zu erkennen. Abtasten wird unter Verwendung von mindestens einem optischen Keil, der in der Hohlwelle eines Elektromotors befestigt ist, ausgeführt. Aufgrund der Notwendigkeit einer äußerst genauen Kenntnis der Winkelposition der Welle ist der Rotor mit einer Wellencodierscheibe, die sich radial über den Rotor hinaus erstreckt, ausgerüstet. Die Erläuterung dieser Erfindung ist darauf gerichtet, die von dem Wellencodierer erzielbare Winkelauflösung zu verbessern, und erläutert die Entfernungsmessung als solche nicht.
  • Außerdem sind schnelle Drehung und Reaktion für die Phasenplatte 14, die Lichtmengen-Justierplatte 23 und die Strahlengang-Schaltplatte 31 erforderlich. Wenn schnelle Drehung und Reaktion erforderlich sind, ist es vorzuziehen, dass das Drehmoment bei der Phasenplatte 14, der Lichtmengen-Justierplatte 23 und der Strahlengang-Schaltplatte 31 jeweils niedriger ist. Jedoch ist das Drehmoment proportional zu einem Quadrat eines Durchmessers. Wenn die Durchmesser der Phasenplatte 14, der Lichtmengen-Justierplatte 23 und der Strahlengang-Schaltplatte 31 vergrößert werden, wird das Drehmoment extrem erhöht. Aus diesem Grund ist ein Motor mit hoher Kapazität erforderlich und das heißt, dass Verbrauchsenergie erhöht wird.
  • Es ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung, ein Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem von kleiner Größe und mit niedrigem Energieverbrauch vorzusehen, das ein Mischungsmittel, ein Lichtmengen-Justiermittel und ein Strahlengang-Schaltmittel von kleinen Größen und mit einfachem Aufbau aufweist.
  • Um das oben genannte Ziel zu erreichen, weist das Messsystem entsprechend der vorliegenden Erfindung eine Lichtprojektionseinheit zum Projizieren eines Entfernungsmessungs-Lichts, eine optischen Entfernungsmessungseinheit zum Projizieren des Entfernungsmessungs-Lichts auf ein zu messendes Objekt und zum Empfangen des von dem zu messenden Objekt reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts, eine Photodetektoreinheit zum Empfangen des reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts von der optischen Entfernungsmessungseinheit und einen Entfernungsmessungsschaltkreis für das Berechnen der Entfernung zu dem zu messenden Objekt auf der Grundlage eines Photodetektorsignal von der Photodetektoreinheit auf, und ist dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtprojektionseinheit ein Mischungsmittel für das Mischen des Entfernungsmessungs-Lichts aufweist und die optische Entfernungsmessungseinheit ein Strahlengang-Schaltmittel aufweist, um das Entfernungsmessungs-Licht zu einem äußeren Strahlengang oder zu einem inneren Referenz-Strahlengang umzuschalten, und um es der Photodetektoreinheit zu ermöglichen, das Licht zu empfangen, und ein Lichtmengen-Justiermittel für das Einstellen einer Lichtmenge des von der Photodetektoreinheit empfangenen Entfernungsmessungs-Lichts aufweist, wobei mindestens eines von Mischungsmittel, Strahlengang-Schaltmittel und Lichtmengen-Justiermittel einen Hohltypmotor als Antriebsquelle aufweist und ein Hohlraum des Motors ein Strahlengang ist. Die vorliegende Erfindung stellt auch das wie oben beschriebene Messsystem bereit, wobei mindestens eines der bei dem Mischungsmittel, dem Strahlengang-Schaltmittel und dem Lichtmengen-Justiermittel verwendeten optischen Bauteile in dem Hohlraum vorgesehen ist, und es ein Motorsteuerungsmittel für das Steuern des Motors gibt, so dass die optischen Bauteile die notwendigen Rotationsmengen aufweisen können. Außerdem stellt die vorliegende Erfindung das wie oben beschriebene Messsystem bereit, wobei das Entfernungsmessungs-Licht ein Laserstrahl ist, der Motor mit einer Hohlwelle und dem auf der Hohlwelle angeordneten optischen Mischmittel vorgesehen ist und das optische Mischmittel von dem Motor gedreht wird. Die vorliegende Erfindung sieht auch das wie oben beschriebene Messsystem vor, wobei das Entfernungsmessungs-Licht ein Laserstrahl ist, der Motor mit einer Hohlwelle und dem auf der Hohlwelle angeordneten Lichtmengen-Justiermittel vorgesehen ist und das Lichtmengen-Justiermittel durch den Motor gedreht wird und die Lichtmenge des Laserstrahls eingestellt wird. Außerdem sieht die vorliegende Erfindung das wie oben beschriebene Messsystem vor, wobei das Entfernungsmessungs-Licht ein Laserstrahl ist, der Motor mit einer Hohlwelle und dem auf der Hohlwelle angeordneten, optischen Strahlengang-Schaltbauteil vorgesehen ist, und das optische Strahlengang-Schaltbauteil von dem Motor gedreht wird und der Strahlengang des Laserstrahls umgeschaltet wird.
  • Ausführungsformen der Erfindung werden jetzt anhand von Beispielen mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben, von denen:
  • 1 ein schematisches Diagramm ist, das eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 2 eine Querschnittsansicht eines Hohltypmotors ist, der bei dieser Ausführungsform verwendet wird;
  • 3 eine Perspektivansicht eines Mischungsmittels ist, das den Hohltypmotor verwendet;
  • 4 eine Perspektivansicht in zerlegter Anordnung des Mischungsmittels ist;
  • 5 ein schematisches Diagramm eines herkömmlichen Systems ist;
  • 6(A) und 6(B) jeweils Diagramme darstellen, die Veränderungen eines Lichtemissionszustandes eines Halbleiterlasers über einen Zeitraum zeigen;
  • 7 eine Zeichnung ist, um den Zustand eines Specklemusters (Unebenheit der Wellenform) in dem Laserstrahl zu erläutern;
  • 8 eine Querschnittsansicht einer Phasenplatte ist;
  • 9 eine Draufsicht auf die Phasenplatte ist;
  • 10 eine Zeichnung ist, um einen Mischungszustand zu erläutern, wenn die Phasenplatte verwendet wird;
  • 11 eine Zeichnung ist, um einen Lichtmengen-Justierplatte zu erläutern; und
  • 12 eine Zeichnung ist, um eine Strahlengang-Schaltplatte zu erläutern.
  • 1 zeigt ein optisches System eines Lichtwellen-Entfernungsmessungssystems entsprechend der vorliegenden Erfindung. In der Figur werden die gleichen Bauteile, die in 5 gezeigt werden, durch die gleichen Bezugszeichen bezeichnet.
  • Das optische System weist in erster Linie eine Lichtprojektionseinheit 1, eine optische Entfernungsmessungseinheit 2, eine Photodetektoreinheit 3 und einen Entfernungsmessungsschaltkreis 4 auf.
  • Die Lichtprojektionseinheit 1 weist einen Halbleiterlaser 5 für die Emission eines Laserstrahls, einen optischen Expander 9, um den von dem Halbleiterlaser 5 ausgestrahlten Laserstrahl über Linsen 6 und 7 in eine optischen Faser 8 einzuleiten, ein zwischen der Linse 6 und der Linse 7 vorgesehenes Mischungsmittel 40 und Gradientenindexlinsen 12 und 13, um den von der optischen Faser 8 projizierten Laserstrahl in eine optischen Phase 11 nach Veränderung das Positionswinkels einzuleiten, auf.
  • Unten wird das Mischungsmittel 40 unter Bezug auf 2 bis 4 beschrieben.
  • Ein Gehäuse 45 in einer zylindrischen Form ist koaxial mit einer optischen Achse der Lichtprojektionseinheit 1 vorgesehen. Eine starre Hohlwelle 51 ist durch eine Flanscheinheit 51a auf dem Gehäuse 45 befestigt und in diese integriert, und ein zylindrischer Raum ist zwischen dem Gehäuse 45 und der starren Hohlwelle 51 definiert. Ein Rotationszylinder 48 ist in dem Raum enthalten und in der starren Hohlwelle 51 über ein Lager 50 drehbar im Eingriff. Das Gehäuse 45 weist einen Flansch 46 auf, und es ist auf einem Bauteil (nicht gezeigt) des Lichtwellen-Entfernungsmessungssystem durch den Flansch 46 befestigt.
  • Auf einer inneren zylindrischen Oberfläche des Gehäuses 45 sind Spulen 53 in einem vorgegebenen Abstand in einer Umfangsrichtung befestigt. Mit den Spulen 53 verbundene Leitungsdrähte 55 sind zwischen den Flansch 46 und eine Flanscheinheit 51a geführt und verlängert und mit einer Steuereinheit (nicht gezeigt) verbunden.
  • Auf einer äußeren zylindrischen Oberfläche des Rotationszylinders 48, sind Magnete 54 in einem vorgegebenen Abstand in Umfangsrichtung angebracht, so dass die Magnete den Spulen 53 gegenüberliegen. In dem Rotationszylinder 48 ist ein innerer Kragen 48a an einer Position angebracht, so dass sie die starre Hohlwelle 51 nicht beeinträchtigt, und eine Phasenplatte 14 wird auf dem inneren Kragen 48a in der Weise angebracht, dass sie die optische Achse der Lichtprojektionseinheit 1 quert. Die Phasenplatte 14 weist den gleichen Aufbau wie die in 8 und 9 gezeigte Phasenplatte auf.
  • Elektrischer Strom wird den Spulen 53 über die Leitungsdrähte 55 zugeführt, und der Rotationszylinder 48 wird gedreht. Die Phasenplatte 14 wird in Bezug auf den Laserstrahls gedreht, und ein Specklemuster in dem von dem Halbleiterlaser 5 ausgestrahlten Laserstrahl wird beseitigt.
  • Das heißt, das Mischungsmittel 40 ist ein Hohltypmotor 56, der das Gehäuse 45, den Rotationszylinder 48, die starre Hohlwelle 51, die Spulen 53 und die Magnete 54 aufweist, und die Phasenplatte 14 ist in einer Art vorgesehen, dass der hohle Bereich abgedeckt wird.
  • Nunmehr wird die optische Entfernungsmessungseinheit 2 beschrieben.
  • Auf der optischen Achse des eingehenden und ausgehenden Entfernungsmessungs-Lichts sind ein Prisma 17 und eine Objektivlinse 18 angeordnet. Mit dem Prisma 17 im Zentrum ist ein Lichtmengen-Justiermittel 41 auf einer optischen Achse des in das Prisma 17 eintretenden, einfallenden Lichts angeordnet, und ein Strahlengang-Schaltmittel 42 ist auf einer optischen Achse des Reflektionslichts von dem Prisma 17 angeordnet. Außerdem ist ein Teilungsprisma 21 an der Eintrittsseite des Lichtmengen-Justiermittels 41 angeordnet, und ein Teilungsprisma 27 ist an einer Austrittsseite des Strahlengang-Schaltmittels 42 angeordnet, und diese Bauteile bilden die optische Entfernungsmessungseinheit 2.
  • Die Photodetektoreinheit 3 weist eine optische Faser 26 für das Leiten des von dem Teilungsprisma 27 projizierten Laserstrahls zu einem Photodetektorelement 35, und Kondensorlinsen 33 und 34 zum Konvergieren des Laserstrahls zu dem Photodetektorelement 35, auf.
  • Der Entfernungsmessungsschaltkreis 4 steuert den Halbleiterlaser 5 zum Ausstrahlen des Lichts an, und eine Entfernung zu einem zu messenden Objekt wird auf der Grundlage eines Photodetektorsignals von dem Photodetektorelement 35 berechnet.
  • Das Lichtmengen-Justiermittel 41 weist einen Hohltypmotor 57 auf, der den gleichen Aufbau wie der bei dem Mischungsmittel 40 verwendete Hohltypmotor 56 aufweist, und die Lichtmengen-Justierplatte 23 ist so angeordnet, dass sie den hohlen Bereich des Hohltypmotors 57 abdeckt. Die Lichtmengen-Justierplatte 23 besitzt den gleichen Aufbau wie in 11 gezeigt.
  • Das Teilungsprisma 21 teilt den von der optischen Faser 11 projizierten Lichtstrahl in ein Entfernungsmessungs-Licht 19 und ein inneres Referenzlicht 22. Das Entfernungsmessungs-Licht 19 passiert einen peripheren Bereich der Lichtmengen-Justierplatte 23, d.h. einen Entfernungsmessungs-Licht-Dichtefiltersektor 23a. Das innere Referenzlicht 22 passiert einen Bereich innerhalb der Ausstrahlungsposition des Entfernungsmessungs-Lichts 19, d.h. einen inneren Referenzlicht-Dichtefiltersektor 23b.
  • Das Strahlengang-Schaltmittel 42 weist einen Hohltypmotor 58 auf, der den gleichen Aufbau wie der Hohltypmotor 56 aufweist, und die Strahlengang-Schaltplatte 31 wird vorgesehen, den hohlen Bereich des Hohltypmotors 58 abzudecken. Die Strahlengang- Schaltplatte 31 weist den gleichen Aufbau wie eine in 12 gezeigte auf. Ein von dem Prisma 17 reflektiertes Entfernungsmessungs-Licht 19' passiert einen Schlitz 31a auf einem peripheren Bereich der Strahlengang-Schaltplatte 31. Das innere Referenzlicht 22 passiert einen Schlitz 31b auf einem inneren Bereich der Strahlengang-Schaltplatte 31.
  • Während der Halbleiterlaser 5 von dem Entfernungsmessungsschaltkreis 4 angetrieben wird, wird der elektrische Strom dem Hohltypmotor 56 über die Leitungsdrähte 55 zugeführt und der Hohltypmotor 56 dreht die Phasenplatte 14. Das Specklemuster wird durch das Drehen der Phasenplatte 14 und durch die Gradientenindexlinsen 12 und 13 beseitigt. Der von der optischen Faser 11 projizierte Laserstrahl wird durch das Teilungsprisma 21 in das Entfernungsmessungs-Licht 19 und das innere Referenzlicht 22 geteilt. In Abhängigkeit von der Entfernung des zu messenden Objekts und dem Reflektionszustand des Entfernungsmessungs-Lichts 19 und des inneren Referenzlichts 22 von dem zu messenden Objekt dreht der Hohltypmotor 57 die Lichtmengen-Justierplatte 23, und die Rotationsposition der Lichtmengen-Justierplatt 23 wird in der Weise ausgewählt, dass die empfangenen Lichtmengen an dem Photodetektorelement 35 die gleichen sein werden.
  • In einem vorgegebenen Zeitintervall wird die Strahlengang-Schaltplatte 31 von dem Hohltypmotor 58 in normale oder in entgegen gesetzte Richtung gedreht. Demzufolge werden das in die Photodetektoreinheit 3 eingehende reflektierte Entfernungsmessungs-Licht 19' und das innere Referenzlicht 22 abwechselnd umgeschaltet.
  • Wie oben beschrieben wird in dem Entfernungsmessungsschaltkreis 4 eine Entfernung zu dem zu messenden Objekt auf der Grundlage eines Photodetektorsignals des von dem Photodetektorelement 35 empfangenen reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts 19' und des inneren Referenzlichts 22 berechnet.
  • Wie oben beschrieben werden die Phasenplatte 14, die Lichtmengen-Justierplatte 23 und die Strahlengang-Schaltplatte 31 von den Hohltypmotoren 56, 57 und 58 gedreht, und der Laserstrahl passiert den hohlen Bereich jedes dieser Motoren. Dementsprechend können die Rotationszentren der Phasenplatte 14, der Lichtmengen-Justierplatte 23 und der Strahlengang-Schaltplatte 31 annähernd der optischen Achse des Laserstrahls angeglichen werden. Daher kann die gesamte Fläche der Phasenplatte 14, der Lichtmengen-Justierplatte 23 und der Strahlengang-Schaltplatte 31 jeweils effizient genutzt werden. Das trägt zu einer weit reichenden Reduzierung der Größe eines jeden Bauteils bei.
  • Das von dem Hohltypmotor gedrehte und bewegte Bauteil ist nicht auf die Bauteile, wie etwa die Phasenplatte 14, die Lichtmengen-Justierplatte 23, die Strahlengang-Schaltplatte 31, etc., beschränkt, und es kann ein beweglicher Teil eines Fokussiermechanismus sein. Die Verwendung des Hohltypmotors ermöglicht es, die Verwendung von Bauteilen, wie etwa eines Getriebemechanismus zur Übertragung der Energie zwischen einem Rotor oder beweglichen Teil und dem Motor, zu vermeiden, und das trägt zu einer kompakteren Gestaltung des Aufbaus bei.
  • Entsprechend der vorliegenden Erfindung kann die Rotationswelle des Motors für das Drehen der für die Entfernungsmessung notwendigen Bauteile koaxial mit der optischen Achse angeordnet werden. Das ermöglicht, die Größe eines jeden Bauteils weitgehend zu reduzieren und auch das Drehmoment des drehenden Teils zu verringern. Demzufolge kann die spezifische Empfindlichkeit durch einen Motor kleiner Größe erhöht werden. Die Bauteile und der Motor können in kleineren Größen gestaltet werden, und das führt zu einer erfolgreichen Gestaltung des Lichtwellen-Entfernungsmessungssystems in einer kompakteren Größe und einem Aufbau mit geringem Gewicht bei.

Claims (5)

  1. Messsystem welches eine Lichtprojektionseinheit (1) zum Projizieren eines Entfernungsmessungs-Lichts, eine optische Entfernungsmessungseinheit (2) zum Projizieren des Entfernungsmessungs-Lichts auf ein zu messendes Objekt und zum Empfangen des vom zu messenden Objekt reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts, eine Photodetektoreinheit (3) zum Empfangen des reflektierten Entfernungsmessungs-Lichts von der optische Entfernungsmessungseinheit und einen Entfernungsmessungsschaltkreis (4) zum Berechnen der Entfernung zum zu messenden Objekt basierend auf einem Photodetektorsignal von der Photodetektoreinheit beinhaltet, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtprojektionseinheit (1) ein Mischungsmittel (40) für das Mischen des Entfernungsmessungs-Lichts aufweist und die optische Entfernungsmessungseinheit (2) ein Strahlengang-Schaltmittel (42), um das Entfernungsmessungs-Licht zu einem äußeren Strahlengang (19, 19') oder zu einem inneren Referenz-Strahlengang (22) umzuschalten und um es der Photodetektoreinheit (3) zu ermöglichen, das Licht zu empfangen und Lichtmengen-Justiermittel (41) für die Einstellung einer Lichtmenge des von der Photodetektoreinheit (3) empfangenen Entfernungsmessungs-Lichts aufweist, wobei zumindest einer von Mischungsmittel (40), Strahlengang-Schaltmittel (42) und Lichtmengen-Justiermittel (41) einen Hohltypmotor als Antriebsquelle beinhaltet und ein Hohlraum des Motors ein Strahlengang ist.
  2. Messsystem nach Anspruch 1, bei welchem zumindest eines der in dem Mischungsmittel (40), dem Lichtmengen-Justiermittel (41) und dem Strahlengang-Schaltmittel (42) verwendeten optischen Bauteile im Hohlraum vorgesehen ist, und ein Motorsteuerungsmittel vorgesehen ist, für das Steuern des Motors so, daß die optischen Bauteile einen Drehungsbetrag nach Bedarf erhalten.
  3. Messsystem nach Anspruch 1, bei welchem das Entfernungsmessungs-Licht ein Laserstrahl ist, ein Motor (56) mit einer Hohlwelle und einem auf der Hohlwelle angeordneten optischen Mischmittel (14) vorgesehen ist und das optische Mischmittel (14) von dem Motor (56) gedreht wird.
  4. Messsystem nach Anspruch 1, bei welchem das Entfernungsmessungs-Licht ein Laserstrahl (19) ist, ein Motor (41) mit einer Hohlwelle und einem auf der Hohlwelle angeordneten Lichtmengen-Justiermittel (23) vorgesehen ist und das Lichtmengen-Justiermittel (23) von dem Motor (41) gedreht wird und die Lichtmenge des Laserstrahls eingestellt wird.
  5. Messsystem nach Anspruch 1, bei welchem das Entfernungsmessungs-Licht ein Laserstrahl (19) ist, ein Motor (42) mit einer Hohlwelle und einem, auf der Hohlwelle angeordneten, optischen Strahlengang-Schaltbauteil (31) vorgesehen ist und der optische Strahlengang-Schaltbauteil (31) von dem Motor (42) gedreht wird und der Strahlengang des Laserstrahls umgeschaltet wird.
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