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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Erfassen
eines Spurfolgefehlersignals und auf eine Vorrichtung zum Erfassen
eines Wiedergabesignals, und insbesondere auf eine Vorrichtung zum
Erfassen eines Spurfolgefehlersignals zum Verbessern der Präzision beim
Erfassen eines Spurfolgefehlersignals und auf eine Vorrichtung, um
ein Wiedergabesignal zu erfassen, bei dem ein Nebensignalrauschen
stark verringert ist.
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Herkömmliche
Verfahren zum Erfassen von Spurfolgefehlern durch Aufnehmen von
Licht, das von einer Lichtquelle einer optischen Aufnahmevorrichtung
abgestrahlt ist und von einer Platte reflektiert ist, umfassen ein
Verfahren zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals (Tracking Error
Signal – TES) durch
eine Differenzial-Phasenerfassung (Differential Phase Detection – DPD).
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Wie 1 zeigt,
wird Licht, das auf eine Platte vom ROM-Typ gestrahlt ist, reflektiert,
und wird in ein Maximum 0-ter Ordnung und Maxima ±1-ter
Ordnung durch Aufzeichnungsmarkierungen, wie beispielsweise Pits
(P), gebeugt. Das Licht, das an einem Fotodetektor 1 empfangen
ist, besteht, nachdem es zurück
durch den optischen Aufnehmer läuft, aus
einem Maximum 0-ter Ordnung, das in einer radialen Richtung durch
Maxima ±1-ter
Ordnung überlappt
ist. Hierbei überlappen
sich, in dem Fall einer hoch dichten Platte, die schmale Spuren
besitzt, wie beispielsweise die nächste Generation einer Digital-Versatil-Disk (DVD),
die als eine HD-DVD bezeichnet wird, das Maximum 0-ter Ordnung und
die Maxima ±1-ter
Ordnung, während
sich das Maximum +1-ter Ordnung und das Maximum –1ter-Ordnung gegenseitig nicht überlappen.
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Phasensignale
von Bereichen, wo sich das Maximum 0-ter Ordnung und das Maximum
+1-ter Ordnung überlappen
und wo sich das Maximum 0-ter Ordnung und das Maximum –1-ter Ordnung überlappen,
haben unterschiedliche Merkmale gegenüber einem Phasen signal nur
der 0-ten Ordnung. Demzufolge wird in dem Fall einer hoch dichten
Platte, die schmale Spuren besitzt, wenn ein Spurfolgefehlersignal
durch ein allgemeines DPD-Verfahren
erfasst wird, bei dem Erfassungssignale von diagonal unterteilten
Platten A/C und B/D einfach subtrahiert werden, ein starkes Rauschen
in dem Spurfolgefehlersignal aufgrund eines Nebensignals zwischen
benachbarten Spuren erzeugt.
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Um
ein Spurfolgefehlersignal mit einem verringerten Nebensignalrauschen
von benachbarten Spuren zu erfassen, ist ein Verfahren vorgeschlagen worden,
bei dem ein 8-fach unterteilter Fotodetektor 20 eingesetzt
wird, wie dies in 2 dargestellt ist.
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Der
8-fach unterteilte Fotodetektor 20 ist in 4 Teile in einer
Reihen-Richtung entsprechend der radialen Richtung einer Platte
unterteilt und ist in 2 Teile in einer Spalten-Richtung entsprechend
der tangentialen Richtung einer Platte unterteilt, so dass seine Abschnitte
in einer 2×4
Matrix angeordnet sind. Hierbei entsprechen die jeweiligen 2-fach
unterteilten Platten A1/A2, B1/B2, C1/C2 und D1/D2 den unterteilten
Platten A, B, C und D des Fotodetektors 20, wie dies in 1 gezeigt
ist. Die unterteilten Platten A2, B2, C2 und D2 sind an den inneren
Seiten jeweils von A1, B1, C1 und D1 positioniert.
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Das
Spurfolgefehlersignal wird anhand von Erfassungssignalen des 8-fach
unterteilten Fotodetektors 20 wie folgt erzeugt.
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Wie 3 zeigt,
werden ein Summensignal (a1 + c1) von Erfassungssignalen a1 und
c1 äußerer unterteilter
Platten A1 und C1, die in einer diagonalen Richtung angeordnet sind,
und ein Signal, das durch Verstärken
eines Summensignals (a2 + c2) von Erfassungssignalen a2 und c2 der
inneren unterteilten Platten A2 und C2 erhalten ist, mit einer vorbestimmten
Verstärkung
k1 aufsummiert, und das Summensignal [a1 + c1 + k1(a2 + c2)] wird
in einen Verstärker 21 eingegeben,
um dann mit einer vorbestimmten Verstärkung k2 verstärkt zu werden.
In ähnlicher
Weise wird ein Summensignal (b1 + d1) von Erfassungssignalen b1
und d1 der äußeren unterteilten
Platten B1 und D1, die in einer anderen diagonalen Richtung angeordnet
sind, und ein Signal, das durch Verstärkung eines Summensignals (b2
+ d2) von Erfassungssignalen b2 und d2 innerer unterteilten Platten B2
und D2 erhalten sind, mit einer vorbestimmten Verstärkung k
aufsummiert. Dann werden das Signal [k2(a1 + c1 + k1(a2 + c2))],
das von dem Verstärker 21 ausgegeben
ist, und das Operationssignal [b1 + d1 + k(b2 + d2)], das von den
diagonalen unterteilten Platten B1, B2, D1 und D2 ausgegeben ist,
an einen Phasenkomparator 25 für einen Vergleich der Phasen
angelegt, um dann ein Spurfolgefehlersignal TES' zu erzeugen.
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Hierbei
sind, wenn k = k1 = 0 und k2 = 1 gilt, die Signale, die an den Phasenkomparator 25 angelegt
sind, a1 + c1 und b1 + d1, was dem Fall entspricht, bei dem eine
Phasendifferenz unter Verwendung eines Summensignals von Erfassungssignalen der äußeren unterteilten
Platten, die in einer diagonalen Richtung angeordnet sind, erhalten
wird.
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Auch
sind, wenn k ≠ 0
und k1 ≠ 0
gilt, die Signale, die an den Phasenkomparator 25 angelegt sind,
a2 + c2 und b2 + d2, was dem Fall entspricht, bei dem eine Phasendifferenz
unter Verwendung eines Summensignals von Erfassungssignalen der
inneren unterteilten Platten, die in einer diagonalen Richtung angeordnet
sind, erhalten wird.
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Entsprechend
der vorstehend angegebenen Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals
kann, da eine Phasendifferenz durch selektives Verstärken von
Erfassungssignalen innerer unterteilter Platten A2, B2, C2 und D2
mit vorbestimmten Verstärkungsfaktoren
und dann Addieren der verstärkten
Signale und der Erfassungssignale äußerer unterteilter Platten
A1, B1, C1 und D1 erhalten wird, ein Spurfolgefehlersignal mit einem
verringerten Nebensignalrauschen erzeugt werden.
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Obwohl
die herkömmliche
Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlers ein Nebensignalrauschen
in einem gewissen Grad verringert, ist, wenn sie in Verbindung mit
einer hoch dichten Platte eingesetzt wird, die schmale Spuren besitzt,
bei der tangentiale Phasen-Charakteristiken verschleiert werden,
die Verstärkung
der Spurfolgefehlersignale sehr niedrig, das bedeutet, dass die
Präzision
schlecht ist.
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Die
Strahlen, die an unterteilten Platten, die an unterschiedlichen
Stellen in einer tangentialen Richtung einer Spur positioniert sind,
empfangen sind, haben unterschiedliche Phasen-Charakteristiken an
dem Anfangsbereich und dem Endbereich einer Aufzeichnungsmarkierung,
wie beispielsweise einem Pit. Allerdings sind dann, wenn Erfassungssignale
von diagonal benachbarten Platten aufsummiert werden, ähnlich einer
herkömmlichen
Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals, Charakteristiken
der tangentialen Phase versetzt, was zu Spurfolgefehlersignalen
führt,
die eine niedrige Verstärkung
haben, das bedeutet eine schlechte Präzision.
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Auch
ist in der herkömmlichen
Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals, da Summensignale
von Erfassungssignalen von diagonal benachbarten unterteilten Platten
verwendet werden, eine Phasendifferenz zwischen den Summensignalen
aufgrund einer Differenz in der Tiefe zwischen Pits versetzt. Demzufolge
kann ein großer
Versatz in den Spurfolgefehlersignalen auftreten, wenn eine Objektivlinse
(nicht dargestellt) verschoben ist.
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Die
US-B-5 136 567 offenbart
eine Fotoerfassungsvorrichtung, die in Abschnitte entlang Linien unterteilt
ist, die durch die Mitte der Oberfläche verlaufen, die parallel
zu der Richtung einer Spurführung führt und
die auch unter einem Winkel von 45 Grad zu den ersten zwei Linien
führt.
Der Oberbegriff der beigefügten
Ansprüche
basiert auf diesem Dokument.
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Die
vorliegende Erfindung ist im Hinblick auf die Punkte, die vorstehend
beschrieben sind, gemacht worden, und es ist eine Aufgabe von Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung zum Erfassen eines
Spurfolgefehlersignals mit einer Verbesserung in den Verstärkungs-Charakteristiken
und/oder einem Versatz aufgrund einer Differenz in der Tiefe zwischen
Pits durch Vorsehen einer verbesserten Unterteilungsstruktur eines
8-fach unterteilten
Fotodetektors und eine Vorrichtung zum Erfassen eines Wiedergabesignals
mit einem verringerten Nebensignalrauschen zu schaffen.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird eine Vorrichtung geschaffen, wie sie in den beigefügten Ansprüchen angegeben
ist. Bevorzugte Merkmale der Erfindung werden anhand der abhängigen Ansprüche, und
der Beschreibung, die folgt, ersichtlich werden.
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Für ein besseres
Verständnis
der Erfindung, und um zu zeigen, wie Ausführungsformen derselben umgesetzt
werden können,
wird nun Bezug, anhand eines Beispiels, auf die beigefügten, schematischen Zeichnungen
genommen, in denen:
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1 zeigt
eine perspektivische Ansicht, die Licht, das von einem allgemeinen
Aufzeichnungsmedium reflektiert/gebeugt ist, darstellt;
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2 und 3 stellen
eine Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals, die
einen herkömmlichen
8-fach unterteilten Fotodetektor einsetzt, dar;
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4 zeigt
ein Diagramm, das schematisch eine Vorrichtung zum Erfassen eines
Spurfolgefehlersignals gemäß einer
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellt;
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5 bis 8 zeigen
Draufsichten, die schematisch ein anderes Beispiel eines Fotodetektors,
der in 4 dargestellt ist, zeigen;
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9 zeigt
eine grafische Darstellung, die Spurfolgefehlersignale darstellen,
die von der Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals, die
in 4 dargestellt ist, ausgegeben werden;
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10 zeigt
eine grafische Darstellung, die Spurfolgefehlersignale darstellt,
die von der herkömmlichen
Vorrichtung zum Erfassen von Spurfolgefehlersignalen ausgegeben
werden;
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11 bis 13 zeigen
Blockdiagramme, die ein anderes Beispiel einer Schaltungseinheit,
die in 4 dargestellt ist, zeigen;
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14 zeigt
ein Diagramm, das schematisch eine Vorrichtung zum Erfassen eines
Spurfolgefehlersignals gemäß einer
anderen Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung darstellt;
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15 bis 17 zeigen
Blockdiagramme, die ein anderes Beispiel einer Schaltungseinheit,
die in 14 dargestellt ist, zeigen.
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Eine
Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals gemäß einer
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung umfasst, wie 4 zeigt,
einen Fotodetektor 30 zum Aufnehmen des Lichts, das von
einem Aufzeichnungsmedium, wie beispielsweise einer Platte bzw.
Disk (10 der 1) reflektiert/gebeugt ist,
und eine Schaltungseinheit 50 zum Durchführen von
Operationen in Bezug auf Erfassungssignale des Fotodetektors 30,
um ein Spurfolgefehlersignal TES zu erzeugen. Hierbei nimmt der
Fotodetektor 30 einfallendes Licht, das von dem Aufzeichnungsmedium
reflektiert ist, auf, und die Erfassungssignale davon werden beim
Erfassen des Spurfolgefehlersignals TES und beim Erfassen eines
Wiedergabesignals des Aufzeichnungsmediums, was später beschrieben
werden wird, verwendet.
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Der
Fotodetektor 30 umfasst vier Licht aufnehmende Bereiche 30a (A1/A2), 30b (B1/B2), 30c (C1/C2)
und 30d (D1/D2), die als Feld in Gegenuhrzeigerrichtung
in einer 2×2-Matrix
angeordnet sind, wobei die Licht aufnehmenden Bereiche so gebildet sind,
dass der Fotodetektor 30 in einer Richtung entsprechend
zu der tangentialen Richtung des Aufzeichnungsmediums halbiert ist
und weiterhin in einer Richtung entsprechend zu der radialen Richtung des
Aufzeichnungsmediums halbiert ist, wobei sich die tangentiale Richtung
auf eine Richtung von Informationssequenzen bezieht, die auf dem
Aufzeichnungsmedium aufgezeichnet sind, und sich die radiale Richtung
auf eine Richtung senkrecht zu den Informationssequenzen bezieht.
Die jeweiligen Licht aufnehmenden Bereiche 30a, 30b, 30c und 30d sind so
halbiert, dass sie innere unterteilte Platten A2, B2, C2 und D2
haben, wobei die radialen Breiten davon entlang ± tangentialen Richtungen
von der Mitte C0 des Fotodetektors 30 variieren.
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Demzufolge
ist der Fotodetektor 30 in einem Feld in einer 2×4-Matrix
angeordnet und besteht aus 8 unterteilten Platten A1, A2, B1, B2,
C1, C2, D1 und D2, um unabhängig
eine fotoelektrische Wandlung vorzunehmen. Die äußeren unterteilten Platten
A1, B1, C1 und D1 und die inneren unterteilten Platten A2, B2, C2
und D2 sind in Gegenuhrzeigerrichtung angeordnet.
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Das
Licht, das von einem Aufzeichnungsmedium mit hoher Dichte eines
ROM-Typs reflektiert/gebeugt ist, das relativ schmale Spuren besitzt,
wird in gebeugtes Licht 0-ter Ordnung und in gebeugtes Licht ±1-ter
Ordnung entlang der radialen Richtung gebeugt, wie in 2 gezeigt
ist. Wenn das gebeugte Licht 0-ter Ordnung und das gebeugte Licht ±1-ter Ordnung überlappen
und das gebeugte Licht +1-ter Ordnung und das gebeugte Licht –1-ter-Ordnung nicht überlappen,
nehmen die äußeren unterteilten Platten
A1, B1, C1 und D1 Licht hauptsächlich
von dem überlappenden
Bereich des gebeugten Lichts 0-ter Ordnung und dem gebeugten Licht
+1-ter-Ordnung und von dem überlappten
Bereich des gebeugten Lichts 0-ter Ordnung und des gebeugten Lichts –1-ter Ordnung
auf, und die inneren unterteilten Platten A2, B2, C2 und D2 nehmen
Licht nur von dem Bereich des gebeugten Lichts 0-ter Ordnung auf.
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Mit
anderen Worten sind die inneren unterteilten Platten A2, B2, C2
und D2 vorzugsweise so gebildet, dass die Breiten davon relativ
schmal an der Mitte C0 des Fotodetektors 30 sind
und entlang der ± tangentialen
Richtungen breiter werden.
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Allerdings
sind in dem Fall, dass ein Aufzeichnungsmedium mit einer niedrigen
Dichte eingesetzt wird, das eine relativ große Spur-Teilung besitzt, oder
ein Aufzeichnungsmedium mit hoher Dichte vom RAM-Typ eingesetzt
wird, das eine Land/Groove-Konfiguration besitzt, bei denen einiges
des gebeugten Lichts ±1-ter
Ordnung, das von dem Aufzeichnungsmedium reflektiert/gebeugt ist,
gleichzeitig mit gebeugtem Licht 0-ter Ordnung überlappen, die jeweiligen Licht
aufnehmenden Bereiche 30a, 30b, 30c und 30d perfekt
so halbiert, dass sie innere unterteilte Platten A2, B2, C2 und
D2 haben, wobei die Breiten davon relativ breit an der Mitte C0 des Fotodetektors 30 sind und
schmaler entlang der ± tangentialen
Richtungen werden. Hierbei nehmen die inneren unterteilten Platten
A2, B2, C2 und D2 das Licht von einem Bereich auf, wo das gebeugte
Licht 0-ter Ordnung und das gebeugte Licht ±1-ter Ordnung gleichzeitig überlappen.
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Die
unterteilte Struktur des 8-fach unterteilten Fotodetektors 30 gemäß der vorliegenden
Erfindung wird nun anhand von detaillierten Ausführungsformen beschrieben. Eine
Unterteilungslinie 35 jedes der jeweiligen Licht aufnehmenden
Bereiche 30a, 30b, 30c und 30d ist,
wie in den 4 und 5 dargestellt
ist, eine perfekt gekrümmte
Linie, die eine vorgegebene Krümmung
so besitzt, um getrennt Licht von einem Bereich des gebeugten Lichts
0-ter Ordnung und einem überlappenden
Bereich des gebeugten Lichts 0-ter Ordnung und des gebeugten Lichts ±1-ter
Ordnung aufzunehmen.
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Hierbei
ist die Unterteilungslinie 35 eine Tangente zu dem überlappenden
Bereich des gebeugten Lichts 0-ter Ordnung und des gebeugten Lichts ±1-ter Ordnung
an der Schnittstelle mit einer in Reihen-Richtung liegenden Unterteilungslinie 31.
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4 zeigt,
dass die Unterteilungslinie 35 im Wesentlichen ein Teil
einer Ellipse ist, und 5 zeigt, dass die Unterteilungslinie 35 ein
Teil einer Parabel ist, die so gebildet ist, dass die maximale Breite jeder
der inneren unterteilten Platten A2, B2, C2 und D2 größer als
der Radius des gebeugten Lichts 0-ter Ordnung, das dort aufgenommen
ist, ist. Die Unterteilungslinie 35, die in 5 dargestellt
ist, passt enger die Grenze des überlappenden
Bereichs des gebeugten Lichts 0-ter Ordnung und des gebeugten Lichts ±1-ter Ordnung
an, und hat demzufolge einen Vorteil dahingehend, dass es die Menge
des gebeugten Lichts 0-ter Ordnung, das an den äußeren unterteilten Platten
A1, B1, C1 und D1 aufgenommen ist, minimieren kann.
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Alternativ
können
die jeweiligen Licht aufnehmenden Bereiche 30a, 30b, 30c und 30d so
halbiert sein, dass sich die Breite jeder der inneren unterteilten
Platten A2, B2, C2 und D2 linear von der Mitte C0 des
Fotodetektors 30 nach außen in den ± tangentialen Richtungen
erhöht.
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Zum
Beispiel können
die jeweiligen Licht aufnehmenden Bereiche 30a, 30b, 30c und 30d so
halbiert sein, dass jede der inneren unterteilten Platten A2, B2,
C2 und D2 die Form eines Trapezoids, eines rechtwinkligen Dreiecks
oder eines gleichschenkligen Dreiecks besitzt, wie dies an Positionen
gesehen wird, die einen vorgegebenen Abstand von der Mitte C0 des Fotodetektors 30 nach außen in den ± tangentialen
Richtungen beabstandet sind, wie dies in den 6 bis 8 dargestellt
ist.
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Die
Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals gemäß einer
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung setzt den 8-fach unterteilten Fotodetektor 30 ein,
der verschiedene Unterteilungsanordnungen, wie sie vorstehend beschrieben
sind, besitzt, und der Fotodetektor 30, der die Unterteilungsanordnung
besitzt, wie sie in 4 dargestellt ist, wird nachfolgend
anhand eines Beispiels beschrieben.
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Die
Schaltungseinheit 50 vergleicht, wie wiederum 4 zeigt,
die Phasen der Erfassungssignale der inneren und/oder äußeren unterteilten
Platten, die in derselben Reihe zueinander positioniert sind, und
erfasst ein Spurfolgefehlersignal von Phasendifferenzsignalen.
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Die
Schaltungseinheit 50 umfasst, zum Beispiel, wie in 4 dargestellt
ist, ein Paar von Phasenkomparatoren 51 und 53,
um Phasen von Eingangssignalen zu vergleichen, und einen Addierer 59,
um Phasendifferenzsignale, die von den Phasenkomparatoren 51 und 53 ausgegeben
sind, zu addieren.
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Erfassungssignale
a1 und b1 der äußeren unterteilten
Platten A1 und B1, die in der ersten Reihe positioniert sind, werden
zu dem Phasenkomparator 51 für einen Phasenvergleich eingegeben.
Erfassungssignale c1 und d1 der äußeren unterteilten Platten
C1 und D1, die in der zweiten Reihe positioniert sind, werden zu
dem Phasenkomparator 53 für einen Phasenvergleich eingegeben.
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Folglich
wird ein Spurfolgefehlersignal TES, das von dem Addierer 59 ausgegeben
ist, durch Addieren eines Phasendifferenzsignals zwischen den Erfassungssignalen
a1 und b1 der äußeren unterteilten
Platten A1 und B1 und eines Phasendifferenzsignals zwischen den
Erfassungssignalen c1 und d1 der äußeren unterteilten Platten
C1 und D1, die in derselben Reihe positioniert sind, das bedeutet
in derselben Reihe in der tangentialen Richtung, erhalten, wobei
die Phasendifferenzsignale jeweils von den Phasenkomparatoren 51 und 53 angelegt
werden.
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9 zeigt
eine grafische Darstellung, die ein Spurfolgefehlersignal TES darstellt,
das von der Schaltungseinheit 50 der Vorrichtung zum Erfassen eines
Spurfolgefehlersignals gemäß einer
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung, wie sie in 4 dargestellt
ist, erfasst wird, und 10 zeigt eine grafische Darstellung,
die ein Spurfolgefehlersignal TES' darstellt, das durch die herkömmliche
Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals, die in 2 und 3 dargestellt
ist, erzeugt ist. Hierbei gibt die Abszisse einen Lichtfleck, der
sich über
Spuren eines Aufzeichnungsmediums in einer radialen Richtung bewegt,
an, und die Ordinate gibt eine Änderung
in dem Spurfolgefehlersignal in Abhängigkeit von der Bewegung eines
Lichtflecks an.
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Das
Spurfolgefehlersignal TES, das durch die Vorrichtung zum Erfassen
eines Spurfolgefehlersignals gemäß der vorliegenden
Erfindung erfasst ist, besitzt, wie ein Vergleich der 9 und 10 zeigt, eine
große
Verstärkung
und merkbar verbesserte Rausch-Charakteristiken,
und zwar verglichen mit dem Spurfolgefehlersignal TES', das durch Erhalten der
diagonalen Summensignale a1 + c1 und b1 + d1 der Erfassungssignale
a1, b1, c1 und d1 der äußeren unterteilten
Platten A1, B1, C1 und D1 des herkömmlichen Fotodetektors (20 der 2)
und dann Vergleichen der Phasen davon erzeugt ist.
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In
einer anderen Ausführungsform
der Schaltungseinheit 50, wie sie in 11 dargestellt ist,
kann das Spurfolgefehlersignal unter Verwendung der Erfassungssignale
a2, b2, c2 und d2 der inneren unterteilten Platten A2, B2, C2 und
D2, anstelle der Erfassungssignale a1, b1, c1 und d1 der äußeren unterteilten
Platten A1, B1, C1 und D1, erzeugt werden.
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Mit
anderen Worten werden die Erfassungssignale a2 und b2 der inneren
unterteilten Platten A2 und B2, die in der ersten Reihe positioniert
sind, an einen Phasenkomparator 151 angelegt und ein Phasendifferenzsignal
wird davon ausgegeben. Auch werden Erfassungssignale c2 und d2 der
inneren unterteilten Platten C2 und D2, die in der zweiten Reihe positioniert
sind, an einen anderen Phasenkomparator 153 angelegt und
ein Phasendifferenzsignal wird davon ausgegeben. Ein Addierer 159 addiert
die Phasendifferenzsignale und gibt ein Spurfolgefehlersignal aus.
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In
einer noch anderen Ausführungsform
besitzt die Schaltungseinheit 50, wie sie in 12 dargestellt
ist, eine kombinierte Struktur der Anordnungen, die in den 4 und 11 dargestellt
sind, um ein Spurfolgefehlersignal unter Verwendung von Erfassungssignalen
a1, a2, b1, b2, c1, c2, d1 und d2 sowohl der inneren als auch der äußeren unterteilten Platten
A1, A2, B1, B2, C1, C2, D1 und D2 zu erfassen.
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Mit
anderen Worten werden ein Spurfolgefehlersignal TES1 (siehe 9),
das durch eine Operation der Erfassungssignale a1, b1, c1 und d1
der äußeren unterteilten
Platten A1, B1, C1 und D1 erhalten ist, und ein Spurfolgefehlersignal
TES2, das durch eine Operation der Erfassungssignale a2, b2, c2
und d2 der inneren unterteilten Platten A2, B2, C2 und D2 erhalten
ist, durch einen Operator 60 aufsummiert, um ein Spurfolgefehlersignal
TES zu erzeugen. Hierbei ist das TES2 ein Spurfolgefehlersignal, das
durch Operation der Erfassungssignale a2, b2, c2 und d2 der inneren
unterteilten Platten A2, B2, C2 und D2 erhalten ist, und entspricht
einem Spurfolgefehlersignal, das von dem Addierer 159,
dargestellt in 11, ausgegeben ist.
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Der
Operator 60 verstärkt
ein Spurfolgefehlersignal TES2 der Spurfolgefehlersignale TES1 und TES2,
die von dem Addierer 59 und 159 ausgegeben sind,
mit einer vorgegebenen Verstärkung
k und summiert dann das andere Spurfolgefehlersignal TES1 und das
verstärkte
Signal k·TES2
auf, um ein Spurfolgefehlersignal TES[= TES1 + (k·TES2)]
zu erzeugen.
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Hierbei
kann der Operator 60 das Spurfolgefehlersignal TES1 mit
einer vorbestimmten Verstärkung
verstärken.
Ansonsten verstärkt
der Operator 60 sowohl das Spurfolgefehlersignal TES1 als
auch TES2 mit geeigneten Verstärkungen
und summiert dann die verstärkten
Signale auf und erzeugt das Spurfolgefehlersignal TES.
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Alternativ
kann die Schaltungseinheit 50, wie sie in 13 dargestellt
ist, erste bis vierte Operatoren 161, 162, 163 und 164,
erste und zweite Phasenkomparatoren 165 und 167 und
einen Addierer 169 umfassen, und kann ein Spurfolgefehlersignal
durch einen Phasenvergleich von Summensignalen a1 + ka2, b1 + kb2,
c1 + kc2 und d1 + kd2 der Signale ka2, kb2, kc2 und kd2, die durch
Verstärken
von Erfassungssignalen a2, b2, c2 und d2 der inneren unterteilten
Platten A2, B2, C2 und D2 mit einer vorbestimmten Verstärkung k
erhalten sind, und Erfassungssignale a1, b1, c1 und d1 der entsprechenden äußeren unterteilten
Platten A1, B1, C1 und D1, und durch Addieren von Phasendifferenzsignalen,
erzeugen.
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Die
Erfassungssignale a1 und a2 der äußeren und
inneren unterteilten Platten A1 und A2, die die Licht aufnehmenden
Bereiche A1 und A2, die in der ersten Reihe positioniert sind, bilden,
werden an den ersten Operator 161 angelegt. Der erste Operator 161 verstärkt das
Erfassungssignal A2 der inneren unterteilten Platte A2 mit einer
vorbestimmten Verstärkung
k und summiert dann dieses mit dem Erfassungssignal a1 der äußeren unterteilten
Platte A1 auf. Demzufolge wird das Ausgangssignal des ersten Operators 161 a1
+ ka2.
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In ähnlicher
Weise werden die Erfassungssignale b1 und b2, c1 und c2, und d1
und d2 der äußeren Licht
aufnehmenden Bereiche B1 und B2, C1 und C2 und D1 und D2 an den
zweiten bis vierten Operator 162, 163 und 164 angelegt,
um dann behandelt zu werden. Der zweite bis vierte Operator 162, 163 und 164 geben
Operationssignale b1 + kb2, c1 + kc2 und d1 + kd2 aus.
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Signale,
die von den Licht aufnehmenden Bereichen A1 und A2, und B1 und B2,
positioniert in der ersten Reihe, und durch den ersten und den zweiten
Operator 161 und 162 hindurchgeführt sind, erfasst
sind, werden in der Phase durch den ersten Phasenkomparator 165 verglichen.
In ähnlicher
Weise werden die Signale, die von den Licht aufnehmenden Bereichen
C1 und C2, und D1 und D2, positioniert in der zweiten Reihe, erfasst
sind und durch den dritten und vierten Operator 163 und 164 hindurchgeführt sind,
in der Phase durch den zweiten Phasenkomparator 167 verglichen.
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Die
Phasendifferenzsignale, die von dem ersten und dem zweiten Phasenkomparator 165 und 167 ausgegeben
sind, werden durch den Addierer 169 aufaddiert. Dann gibt
der Addierer 169 das Spurfolgefehlersignal TES aus.
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Die
Schaltungseinheit 50, die den vorstehend angegebenen Aufbau
besitzt, summiert Erfassungssignale der äußeren und inneren unterteilten Platten,
die die jeweiligen Licht aufnehmenden Bereiche 30a, 30b, 30c und 30d bilden,
mit Signalen, die durch Verstärkung
der Erfassungssignale der inneren unterteilten Platten mit einer
vorbestimmten Verstärkung
erhalten sind, auf, und die Phasendifferenzen der Signale von den
unterteilten Platten, die in derselben Reihe positioniert sind,
werden verglichen. Demzufolge kann eine Differenz in der Signal-Charakteristik
zwischen den Erfassungssignalen der äußeren und der inneren unterteilten
Platten zum Beispiel dadurch kompensiert werden, dass ein Spurfolgefehlersignal
mit einer großen
Verstärkung
und einem verringerten Nebensignalrauschen erfasst wird.
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14 stellt
eine Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals gemäß einer
anderen Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung dar, in der eine Schaltungseinheit 250 ein
Spurfolgefehlersignal von Phasendifferenzsignalen durch Verstärken zumindest
einiger der Erfassungssignale der inneren und/oder äußeren unterteilten
Platten, die in einer diagonalen Richtung positioniert sind, mit
einer vorbestimmten Verstärkung
erfasst und die verstärkten
Signale mit zumindest einigen der Erfassungssignale in der inneren
und/oder der äußeren unterteilten
Platten, die in der anderen diagonalen Richtung positioniert sind,
in der Phase vergleicht.
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Die
Schaltungseinheit 250 umfasst zum Beispiel, wie in 14 dargestellt
ist, einen Verstärker 260,
um ein Summensignal der Erfassungssignale a1 und c1 der äußeren unterteilten
Platten A1 und C1, die in einer diagonalen Richtung positioniert
sind, zu verstärken,
und einen Phasenkomparator 251, um Phasen eines Summensignals
b1 + d1 der Erfassungssignale b1 und d1, die in der anderen diagonalen
Richtung positioniert sind, und ein Ausgangssignal k2(a1 + c1) des
Verstärkers 260,
um ein Spurfolgefehlersignal TES zu erfassen. Hierbei ist die Verstärkung k2
eine Konstante, eine andere als Null.
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Die
vorstehend angegebene Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals
summiert Erfassungssignale der äußeren unterteilten
Platten, die in einer diagonalen Richtung positioniert sind, ähnlich dem
allgemeinen DPD-Verfahren, auf. Allerdings nimmt die Vorrichtung
nur das Licht von überlappenden
Bereichen des Maximums 0-ter Ordnung und des Maximums +1-ter Ordnung
und des Maximums 0-ter Ordnung und des Maximums –1-ter Ordnung von äußeren unterteilten
Platten auf, verstärkt das
Summensignal einer diagonalen Richtung mit einer vorbestimmten Verstärkung und
vergleicht dann die Phase des verstärkten Signals mit derjenigen
des Summensignals der anderen diagonalen Richtung. Demzufolge besitzt
das Spurfolgefehlersignal TES eine größere Verstärkung und ein geringes Rauschen,
verglichen mit dem herkömmlichen
Spurfolgefehlersignal TES'.
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Hierbei
kann die Schaltungseinheit 250 der 14 so
verbunden sein, um ein Spurfolgefehlersignal von Erfassungssignalen
der inneren unterteilten Platten A2, B2, C2 und D2 zu erfassen.
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Die
Schaltungseinheit 250 der 14 kann weiterhin
eine Zeitverzögerung 240 an
Ausgangsenden der äußeren unterteilten
Platten A1 und B1 umfassen, wie dies in 15 dargestellt
ist.
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In
diesem Fall führen
die Erfassungssignale a1 und b1 der äußeren unterteilten Platten
A1 und B1 durch die Zeitverzögerung 240 hindurch,
um dann in zeitverzögerte
Signale a11 und b11 umgewandelt zu werden, die mit den Erfassungssignalen
c1 und d1 der äußeren unterteilten
Platten C1 und D1, die in einer anderen Reihe positioniert sind,
aufsummiert werden, um dann an den Verstärker 260 und den Phasenkomparator 251, ähnlich wie
in 14, angelegt zu werden.
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Wenn
die Erfassungssignale a1 und b1 der äußeren unterteilten Platten
A1 und B1, die in einer Reihe positioniert sind, in der Zeit verzögert werden, um
ein Spurfolgefehlersignal TES zu erfassen, wie dies in 15 dargestellt
ist, ist es möglich,
einen Spurfolgefehlersignal-Versatz, der dann erzeugt wird, wenn
eine Objektivlinse (nicht dargestellt) aufgrund eines Phasendifferenzversatzes
der diagonalen Summensignale verschoben wird, verursacht durch eine Änderung
in der Pit-Tiefe, die bei praktischen Aufzeichnungsmedien auftritt,
zu kompensieren, um dadurch ein genaueres Spurfolgefehlersignal zu
erfassen.
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Mit
anderen Worten erfasst, wenn eine Differenz in der Pit-Tiefe eines
Aufzeichnungsmediums erzeugt wird, die herkömmliche Vorrichtung zum Erfassen
eines Spurfolgefehlersignals ein Spurfolgefehlersignal durch Aufsummieren
von Erfassungssignalen von zwei diagonalen Richtungen und dann Subtrahieren
der diagonalen Summensignale. Demzufolge ist die Signal-Verzerrung
sehr stark. Andererseits führt
die Schaltungseinheit 250 der 15 gemäß der vorliegenden
Erfindung zuerst eine Operation von Erfassungssignalen von unterteilten
Platten, die in derselben diagonalen Linie angeordnet sind, durch,
und eine Zeitverzögerung
und eine Verstärkung
werden dann durchgeführt,
um ein Spurfolgefehlersignal zu erzeugen. Demzufolge kann, da eine Phasenverzerrung
aufgrund einer Signalverzerrung, verursacht durch eine Änderung
in der Pit-Tiefe, stark verbessert wird, ein Spurfolgefehlersignal
mit einem stark verringerten Versatz erzeugt werden.
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Alternativ
können,
im Gegensatz zu der Schaltungseinheit 250, gemäß einer
anderen Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung, wie in 14 dargestellt
ist, in der ein Spurfolgefehlersignal unter Verwendung nur der Erfassungssignale
der inneren oder äußeren unterteilten
Platten erzeugt wird, Erfassungssignale sowohl der inneren als auch der äußeren unterteilten
Platten A2, B2, C2 und D2 und A1, B1, C1 und D1 beim Erfassen eines
Spurfolgefehlersignals verwendet werden, wie dies in 16 dargestellt
ist.
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Mit
anderen Worten kann die Schaltungseinheit 250 ein Spurfolgefehlersignal
durch geeignetes Bearbeiten von Erfassungssignalen unterteilter
Platten, die in den jeweiligen diagonalen Richtungen positioniert
sind, und durch einen Phasen-Vergleich der Operationssignale erfassen.
Die Schaltungseinheit 250 besitzt den folgenden Aufbau.
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Erfassungssignale
a1, c1, a2 und c2 der äußeren und
inneren unterteilten Platten A1, C1, A2, C2, die in einer diagonalen
Richtung positioniert sind, werden an einen ersten Operator 280 angelegt.
Der erste Operator 280 verstärkt ein Summensignal a2 + c2
der Erfassungssignale a2 und c2 der inneren unterteilten Platten
A2 und C2 mit einer vorbestimmten Verstärkung k1 und addiert ein Summensignal
a1 + c1 von Erfassungssignalen a1 und c1 der äußeren unterteilten Platten
A1 und C1 mit dem verstärkten Signal
k1(a2 + c2).
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Das
Ausgangssignal a1 + c1 + k1(a2 + c2) des ersten Operators 280 wird
wiederum durch einen Verstärker 289 mit
einer vorbestimmten Verstärkung k2
verstärkt.
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Erfassungssignale
b1, d1, b2 und d2 der äußeren und
inneren unterteilten Platten B1, D1, B2, D2, die in der anderen
diagonalen Richtung positioniert sind, werden an einen zweiten Operator 285 angelegt.
Der zweite Operator 285 verstärkt ein Summensignal b2 + d2
von Erfassungssignalen b2 und d2 der inneren unterteilten Platten
B2 und D2 mit einer vorbestimmten Verstärkung k1 und addiert ein Summensignal
b1 + d1 von Erfassungssignalen b1 und d1 der äußeren unterteilten Platten
B1 und D1 mit dem verstärkten
Signal k(b2 + d2).
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Das
Ausgangssignal des Verstärkers 289 und
das Ausgangssignal b1 + d1 + k(b2 + d2) werden an einen Phasenkomparator 251 angelegt,
um dann in der Phase verglichen zu werden. Der Phasenkomparator 251 gibt
ein Spurfolgefehlersignal TES aus.
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Hierbei
sind die Verstärkungen
k und k1 Konstanten und die Verstärkung k2 ist vorzugsweise eine Konstante,
anders als Null. Auch ist die Summe k + k1 der Verstärkungen
k und k1 vorzugsweise eine Konstante. Wenn die Verstärkungen
k und k1 beide Null sind, wird dasselbe Ergebnis, wie es in 14 dargestellt
ist, erhalten.
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Die
Schaltungseinheit 250, die in 16 dargestellt
ist, kann weiterhin eine Zeitverzögerung 240 an den
Ausgangsenden der unterteilten Platten A1, A2, B1 und B2, die in
einer Reihe positioniert sind, umfassen, wie dies in 17 dargestellt
ist.
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In
diesem Fall führen
die Erfassungssignale a1, a2, b1 und b2 der unterteilten Platten
A1, A2, B1 und B2 durch die Zeitverzögerung 240 hindurch,
um dann jeweils in zeitverzögerte
Signale a11, a22, b11 und b22 umgewandelt zu werden. Die zeitverzögerten Signale
a11 und a22 und die Erfassungssignale c1 und c2 der unterteilten
Platten C1 und C2, die in der diagonalen Richtung davon positioniert
sind, und die zeitverzögerten
Signale b11 und b22 und die Erfassungssignale d1 und d2 der unterteilten
Platten D1 und D2, die in der diagonalen Richtung davon positioniert
sind, werden jeweils an den ersten und den zweiten Operator 280 und 285, ähnlich wie
in 16, angelegt.
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Das
Ausgangssignal a11 + c1 + k1 × (a22
+ c2) des ersten Operators 280 wird durch den Verstärker 289 mit
einer vorbestimmten Verstärkung
k2 verstärkt.
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Das
Ausgangssignal b11 + d1 + k1 × (b22
+ d2) des zweiten Operators 285 und das Ausgangssignal
k2 × [a11
+ c1 + k1 × (a22
+ c2)] des Verstärkers 289 werden
an den Phasenkomparator 251 angelegt, um dann in der Phase
verglichen zu werden. Der Phasenkomparator 251 gibt ein
Spurfolgefehlersignal TES aus.
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In
der Schaltungseinheit 250, die den vorstehend angegebenen
Aufbau besitzt, ähnlich
wie in 15, kann eine Signalverzerrung
durch eine Zeitverzögerung
und eine Verstär kung
gerade dann, wenn eine Differenz zwischen Pit-Tiefen des Aufzeichnungsmediums
vorhanden ist, verdeckt werden. Demzufolge kann gerade in dem Fall
einer Objektivverschiebung ein Spurfolgefehlersignal mit einem stark
verringerten Versatz erzeugt werden.
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In
dem Fall, bei dem der Lichtfleck 0,1 μm von der Mitte der Pit- oder
Markierungs-Sequenz, aufgezeichnet
auf dem Aufzeichnungsmedium, abweicht, haben die Spurfolgefehlersignale,
die durch die Ausführungsformen
der vorstehend beschriebenen Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals
erfasst sind, vorzugsweise ungefähr
0,5 in dem minimalen Wert von Δt/Tw,
wobei Tw eine Periode eines Kanal-Takts der Aufzeichnungs/Wiedergabevorrichtung
darstellt und Δt
die erfasste, durchschnittliche Phasendifferenzzeit darstellt, und
bevorzugt ungefähr
0,2 in dem maximalen Wert von |(T1 – T2)/(T1 + T2)|, wobei T1
den maximalen Wert des Spurfolgefehlersignals darstellt, der ein
positiver Wert ist, und T2 den minimalen Wert des Spurfolgefehlersignals
darstellt, der ein negativer Wert ist.
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Auch
sind, in den Ausführungsformen
der vorstehend beschriebenen Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals,
Phasenkomparatoren für
einen Phasenvergleich von Eingangssignalen über ein wahlweises Blockieren
oder Verstärken
der Eingangssignale entsprechend dem Frequenzband, eine Digitalisierung,
ein Phasenvergleich von digitalisierten Signalen und eine Integration
der in der Phase verglichenen Signale, und Ausgeben der Spurfolgefehlersignale,
vorgesehen.
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Die
Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals gemäß der vorliegenden
Erfindung umfasst, wie vorstehend beschrieben ist, einen 8-fach
unterteilten Fotodetektor, wobei die Breiten davon in einer radialen
Richtung der jeweiligen unterteilten Platten so variieren, um vollständigen Gebrauch
von den Phasen-Charakteristiken in Abhängigkeit von Licht aufnehmenden
Bereichen zu machen, so dass die Erfassungssignale der inneren und äußeren unterteilten
Platten unter Berücksichtigung einer
Differenz in den Phasen-Charakteristiken
behandelt werden. Deshalb kann ein Spurfolgefehlersignal mit einer
großen
Verstärkung
und einem stark verringerten Nebensignal zwischen benachbarten Spuren
erfasst werden. Auch kann eine Phasenverzerrung aufgrund einer Signalverzerrung,
verursacht durch eine Differenz in Pit-Tiefen, stark unter Verwendung
von zeitverzögerten
Signalen der Erfassungssignale einiger unterteilter Platten verringert
werden. Demzufolge kann ein Spurfolgefehlersignal, das einen geringen
Versatz besitzt, gerade dann, wenn eine Objektivverschiebung auftritt,
erzeugt werden.
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Deshalb
kann die Vorrichtung zum Erfassen eines Spurfolgefehlersignals gemäß der vorliegenden
Erfindung eine genaue Spurfolgesteuerung in einem Aufzeichnungsmedium
mit hoher Dichte, das relativ schmale Spuren besitzt, ermöglichen.
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Obwohl
die vorliegende Erfindung im Detail anhand von spezifischen Ausführungsformen
beschrieben und dargestellt worden ist, ist deutlich verständlich,
dass verschiedene Modifikationen und Änderungen innerhalb des Schutzumfangs
der Erfindung vorgenommen werden können.