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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung
zum Messen von Parametern eines elektronischen Systems durch Bezugnahme
auf eine Eingabereihe von Datenabtastwerten, die bei einer ersten
Datenrate empfangen und verarbeitet werden, um in Echtzeit zumindest
eine erste und eine zweite zeitvariable Reihe von Messungen für einen
bestimmten Parameter zu erzeugen. Die Erfindung kann angewendet
werden bei der Messung von Zeitfehlern in digitalen Übertragungssystemen,
beispielsweise standardisierter Messung, die als Zeitabweichung
(TDEV) in Synchrone-Digitale-Hierarchie-(SDH-)Digitalübertragungssystemen
gemäß Spezifikationen
bekannt ist, wie sie durch die ITU-T („ITU" steht für International Telecommunications
Union = internationale Fernmeldeunion) festgelegt ist.
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Moderne
Telekommunikationsnetzwerke verlangen einen hohen Grad an Synchronisation
zwischen Netzwerkübertragungselementen.
Für alle
Netzwerkübertragungselemente
in SDH-Architekturen
ist die Zeitgebung kritisch. Wie es nachfolgend erklärt wird,
können
jedoch Phasenschwankungen in den Referenztaktfrequenzen, die synchrone
Netzwerkelemente regeln, an verschiedenen Stufen in dem Netzwerk
Fehler einführen.
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Eine
Messung von Zeitfehlern in synchronen digitalen Übertragungssystemen ist als
die Zeitabweichung bekannt und wird von einer Ansammlung von Zeitfehlerabtastwerten
abgeleitet. Dies ist eine Messung der Zeitschwankung eines Signals
und kann auch Informationen über
das Rauschsignal liefern. In SDH-Systemen werden die Zeitfehlerabtastwerte
als „Zeitintervallfehler" oder TIE-Abtastwerte
bezeichnet, und eine standardisierte Zeitabweichungsmessung, die
als TDEV bezeichnet wird, ist definiert. TDEV-Werte werden zusammen
mit anderen Parametern verwendet, um die Leistungsfähigkeit
von Ausrüstung
und Systemen zu bewerten, häufig
um einen Fehler zu diagnostizieren, der sich entwickelt hat, und
der den Kundenservice behindert.
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Leider
ermöglicht
das direkte Implementieren der Definition von TDEV (oder ähnlichen
Parametern), die durch die Standardgremien geliefert wird, keine
Echtzeitanzeige der Ergebnisse. Insbesondere ist es allgemein erforderlich
dass TDEV an einem Satz unterschiedlicher Zeitpunkte (Beobachtungsintervalle)
gemessen wird, um Informationen über
das zeitvariable Verhalten des Signals zu zeigen und die Diagnose
der Fehler zu unterstützen.
Die Beobachtungsintervalle reichen typischerweise von einer Sekunde
bis zu einem Tag oder mehr. Das Erhalten der Ergebnisse für solche
Intervalle erfordert herkömmlicherweise,
dass eine große
Datenmenge gesammelt wird, und im Prinzip kann selbst für das kürzeste Beobachtungsintervall
TDEV nicht berechnet werden, bis der gesamte Datensatz gesammelt
wurde. Dies ist offensichtlich unpraktisch, aber wenn TDEV für die Beobachtungsintervalle
unter Verwendung eines Teildatensatzes berechnet wird, um ein schnelleres
Ergebnis zu erhalten, müssen
die durchgeführten
Berechnungen erneut durchgeführt
werden, wenn mehr Daten verfügbar
werden. Ein Vorschlag, der Zwischenergebnisse zu einem früheren Zeitpunkt
vorschlägt,
ist die JP-A-10178420
(Anritsu) (vgl. Derwent-Zusammenfassung Zugriffsnummer 98-424471/199836).
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Ein
alternativer Ausdruck von TDEV kann in dem Frequenzbereich formuliert
werden. Davon wird es möglich,
die Berechnungen von TDEV für
die unterschiedlichen Beobachtungsintervalle als eine Filterbank
zu implementieren, jede mit ihren eigenen Bandpasscharakteristika.
Dies bietet eine Echtzeitimplementierung, bei der Schätzungen
der Messung für
den kürzeren
Beobachtungsintervalle schneller verfügbar werden. Es können sich
kurzfristige Probleme ergeben, wenn die frühen Ergebnisse mit neuen Daten
ersetzt werden. Ergebnisse für
längere
Beobachtungsintervalle werden im Verlauf der Zeit verfügbar. Ein
System, das Echtzeit-TDEV-Messung
auf dieser Basis anbieten möchte,
ist Flexacom Plus, das durch ICT Electronics im World Wide Web angeboten
wird.
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Ein
Problem, das mit der Filterimplementierung verbleibt, ist die große Menge
an Datenspeicherung und Berechnung, die benötigt wird, um die gemessenen
Werte von TDEV oder dergleichen zu erhalten, insbesondere für die längeren Beobachtungsintervalle.
Die ITU-T spezifiziert eine minimale Abtastrate von 30 Hz, wobei
Abtastwerte, die zumindest drei Mal das Beobachtungsintervall abdecken,
allgemein erforderlich sind, um eine Messung zu erhalten.
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Das
U.S.-Patent 5,757,437 (Blazo) beschreibt eine Phasenmessvorrichtung
und ein Verfahren zum Messen von Signaljitter und -abweichung, das
in Echtzeit arbeitet und digital Bandbreiten steuert, über die
die Messungen durchgeführt
werden. Die Vorrichtung umfasst eine digitale Phasenregelschleife
(PLL), einen Analog/Digital-Wandler und einen Digitalsignalprozessor,
der digitale Daten empfängt
und eine Schleifenfilterfunktion für Phasenverriegelung der PLL
an das ankommende Signal durchführt.
Der Prozessor implementiert auch eine Integrationsfunktion, Tief-
und Hochpassfilterfunktionen und einen Akkumulator zum Summieren
gefilterter Frequenzkomponenten, um Abweichungsdaten zu erzeugen.
Ein Messprozessor erzeugt RMS-Werte eines Phasendifferenzsignals über ein
ausgewähltes
Zeitintervall und erzeugt ein Ausgangssignal in Einheitsintervallen
für Jitter
und Zeit für
Abweichung. Das U.S.-Patent 5,757,652 (Blazo u. a.) beschreibt ein
weiteres Jitter- und Abweichungsmesssystem, das in Echtzeit arbeitet
und Bandbreiten, über
die die Messungen durchgeführt
werden, digital steuert. Abweichungs- und Jitterdaten in einem Phasendetektorsignal
werden gefiltert und digitalisiert. Ein DSP empfängt die Daten und führt eine
proportionale integrale Steuerfunktion durch, um eine PLL zu verriegeln,
durch digitales Steuern einer Direktdigitalsynthesizer- (DDS-) Frequenz.
Ein Nachlaufoszillator verriegelt mit Vielfachen der DDS-Frequenzen, um die
Auflösung
der Phasenmessung zu erhöhen.
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Abweichungsdaten
sind von dem DSP verfügbar
als ein Integral der DDS-Betriebsfrequenz. Der DSP führt auch
eine Schleifenfilterfunktion durch und hochpassfiltert die Abweichungsdaten,
um Teilbandjitterdaten zu liefern.
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Die
Erfindung ermöglicht
eine Echtzeitberechnung eines Satzes von Messungen, wie z. B. TDEV,
für einen
Bereich von Beobachtungsintervallen, während dieselbe die damit verbundene
Rechenlast reduziert.
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Die
Erfindung schafft in einem ersten Aspekt ein Verfahren zum Messen
von Parametern eines elektronischen Systems durch Bezugnahme auf
eine Eingabereihe von Datenabtastwerten (TIE), die bei einer ersten
Datenrate empfangen und verarbeitet werden, um in Echtzeit zumindest
eine erste und eine zweite zeitvariable Reihe von Messungen für einen
bestimmten Parameter (TDEV) zu erzeugen, wobei sich jede Reihe von Messungen
aus der Leistung eines jeweiligen ersten und zweiten Prozesses durch
digitale Datenverarbeitung ergibt, wobei die erste und die zweite
Reihe von Messungen den Parameter des Systems nominal darstellen bezüglich eines
jeweiligen ersten und zweiten Beobachtungsintervalls, wobei das
zweite Beobachtungsintervall länger
ist als das erste, wobei:
- – der erste Prozess in Echtzeit
implementiert wird durch Durchführen
eines ersten Tiefpassfilterprozesses an der Eingabereihe von Datenabtastwerten,
um eine erste tiefpassgefilterte Reihe von Datenabtastwerten zu
erzeugen, und Durchführen
eines ersten weiteren Prozesses an der ersten tiefpassgefilterten
Reihe von Abtastwerten, um die erste Reihe von Messungen zu erhalten;
- – eine
erste Reihe von Abtastwerten mit reduzierter Rate, von der ersten
tiefpassgefilterten Reihe von Datenabtastwerten extrahiert wird;
und
- – der
zweite Prozess unter Verwendung der ersten Reihe von Abtastwerten
mit reduzierter Rate in Echtzeit durchgeführt wird.
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In
dem Fall einer TDEV-Berechnung umfasst sowohl der erste Prozess
als auch der zweite Prozess eine geeignete Bandpassfilterfunktion,
gefolgt von einer RMS-Leistungsschätzfunktion. Durch getrenntes Durchführen des
Tiefpasselements derselben ist ein gefilterter Abtastwertsatz verfügbar, der
verwendet werden kann, um eine geringere Datenrateneingabe für das zweite
Bandpassfilter zu liefern. Die Reduktion bei der Gesamtberechnungsmenge,
wenn mehrere TDEV-Intervalle auf einmal berechnet werden, bedeutet,
dass die Echtzeitberechnung ökonomisch
ausgeführt
werden kann [kostengünstige
Digitalsignalprozessor-(DSP-)Lösung,
die in ein tragbares Testinstrument eingebaut ist].
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Bei
einem ersten Ausführungsbeispiel
der Erfindung ist eine Reihe von Bandpassfilterstufen parallel implementiert,
eine für
jedes Beobachtungsintervall. Jede Stufe (wobei die letzte Stufe
ignoriert wird) ist in Tiefpass- und Hochpassfilter unterteilt,
und die tiefpassgefilterten Abtastwerte werden als die Eingabe zu
der nachfolgenden Stufe verwendet. Da die Eingabeabtastwerte für jede Stufe
auf diese Weise vorgefiltert werden, kann der Datensatz, der benötigt wird,
um TDEV bei unterschiedlichen Zeitintervallen zu schätzen, ohne
Informationsverlust reduziert werden.
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Verschiedene
Anordnungen sind möglich,
die gemäß den genauen
erforderlichen Beobachtungsintervallen und der Wirtschaftlichkeit
einer gewählten
Implementierung gewählt
werden können.
Die Tiefpass- und Hochpassfunktionen getrennt zu implementieren,
ist beispielsweise höchstwahrscheinlich
aufwändiger
als eine direkte Implementierung einer Bandpassfunktion. Folglich
werden die Abtastwerte bei einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung
nicht getrennt tiefpassgefiltert und bei jeder Stufe reduziert,
sondern nur bei bestimmten Schlüsselstufen.
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Die
Erfindung liefert ferner eine Vorrichtung zum Messen von Parametern
eines elektronischen Systems durch Bezugnahme auf eine Eingabereihe
von Datenabtastwerten, die bei einer ersten Datenrate empfangen
und verarbeitet werden, um in Echtzeit zumindest eine erste und
eine zweite zeitvariable Reihe von Messungen für einen gegebenen Parameter
zu erzeugen, wobei sich jede Reihe von Messungen von der Leistung
eines jeweiligen ersten und zweiten Prozesses durch digitale Datenverarbeitung
ergibt, wobei die erste und die zweite Reihe von Messungen den Parameter
des Systems nominal bezüglich
eines jeweiligen ersten und zweiten Beobachtungsintervalls darstellen,
wobei das zweite Beobachtungsintervall länger ist als das erste, wobei
die Vorrichtung folgende Merkmale umfasst:
- – eine Einrichtung
zum Durchführen
des ersten Prozesses in Echtzeit durch Durchführen eines ersten Tiefpassfilterprozesses
an den Eingabereihendatenabtastwerten, um eine erste tiefpassgefilterte
Reihe von Datenabtastwerten zu erzeugen, und Durchführen eines
ersten weiteren Prozesses an der ersten tiefpassgefilterten Reihe
von Abtastwerten, um die erste Reihe von Messungen zu erhalten;
- – eine
Einrichtung zum Extrahieren einer ersten Reihe von Abtastwerten
mit reduzierter Rate von der ersten tiefpassgefilterten Reihe von
Datenabtastwerten; und
- – eine
Einrichtung zum Durchführen
des zweiten Prozesses in Echtzeit unter Verwendung der ersten Reihe von
Abtastwerten mit reduzierter Rate.
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Der
erste und der zweite Prozess können
praktischerweise in einem einzigen Digitalsignalprozessorchip implementiert
sein, wobei statt dessen selbstverständlich auch festverdrahtete
Filteranordnungen verwendet werden könnten.
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Weitere
optionale Merkmale sind in den abhängigen Ansprüchen beschrieben.
Diese und andere Merkmale werden zusammen mit ihren Vorteilen für den Fachmann
auf diesem Gebiet von der folgenden Beschreibung der spezifischen
Ausführungsbeispiele
offensichtlich werden.
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Es
ist klar, dass „Echtzeit" in diesem Kontext
nicht impliziert, dass Ergebnisse ohne Verzögerung verfügbar sind oder strikt mit dem
Fluss von Eingabeabtastwerten synchronisiert sein müssen. „Echtzeit" in diesem Kontext
zeigt lediglich, dass Eingabeabtastwerte im Durchschnitt im Wesentlichen
bei der Rate, mit der die Eingabeabtastwerte erzeugt werden, verarbeitet
werden können.
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Kurze Beschreibung
der Zeichnungen
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Ausführungsbeispiele
der Erfindung werden nun lediglich beispielhaft mit Bezugnahme auf
die beiliegenden Zeichnungen näher
beschrieben.
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1 ist
eine Blockdiagrammdarstellung eines Synchronisationsnetzwerks.
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2 ist
ein Blockdiagramm hoher Ebene einer Messvorrichtung gemäß der vorliegenden
Erfindung.
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3 stellt
die Prinzipien eines TDEV-Messprozesses dar, der Bandpassfilter
verwendet.
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4 ist
ein Funktionsblockdiagramm, das die Verarbeitung zeigt, die in der
Vorrichtung von 2 implementiert ist, um TDEV
bei einem ersten Ausführungsbeispiel
der Erfindung zu messen.
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5 stellt
die Kombination von Tief- und Hochpassfilterfunktionen dar, um eine
Bandpassfunktion zu ergeben.
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6 ist
ein Funktionsblockdiagramm, das die Verarbeitung zeigt, die in der
Vorrichtung von 2 implementiert ist, um TDEV
bei einem zweiten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zu messen.
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Beschreibung
der Ausführungsbeispiele
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1 zeigt
eine vereinfachte Darstellung eines Synchronisationsnetzwerks, das
Teil eines Telekommunikationssystems bildet. Ein Primärreferenztakt
(PRC) 100 liefert das Referenzfrequenzsignal, das das Synchronisationsnetzwerk
unter Verwendung eines Master-Slave-Verfahrens steuert. Der PRC
ist typischerweise eine Quelle, wie z. B. ein Caesium-Oszillator, der in
der Lage ist, ein qualitativ hochwertiges Frequenzsignal gemäß ITU-T-Spezifikationen
beizubehalten. Das Taktsignal wird über ein SDH-Medium 110 an
Synchronisationszuführeinheiten
(SSUs) 120 verteilt, die die Verarbeitung, Erzeugung und
weitere Verteilung durch das Netzwerk von Zeitinformationen handhaben.
Die SSUs tragen dazu bei, die Verschlechterung des Synchronisationssignals
zu minimieren, während
derselbe über
das Netzwerk von Knoten zu Knoten befördert wird. die verschiedenen
SDH-Netzwerkvorrichtungen
und Schaltknoten sind mit den SSU-Knotenausgängen verbunden. Der Taktgenerator
in einem SDH-Netzwerk
ist als ein SDH-Ausrüstungstakt
(SEC) 130 bekannt.
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Die
Verschlechterung der Synchronisation in einem SDH-Netzwerk kann an
mehreren Faktoren liegen. Allgemeine Gründe umfassen Schwankungen bei
den Ausbreitungszeiten bei Verkabelung- und Frequenzdrift aufgrund
von Temperaturänderungen
bei den verwendeten PLLs. Fehler in der Synchronisation können auch
auftreten, falls eine SSU oder ein SEC außerhalb des idealen verriegelten
Modus und in einem Halte- oder freilaufenden Modus arbeitet. Jedes
allgemeine Neukonfigurationsereignis in der Synchronisationskette
kann Einschwingereignisse bewirken, sowie auch eine Änderung
des PRC in internationalen Verbindungen.
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Schwankungen
in dem Zeitsignal können
grob in zwei Kategorien unterteilt werden. In den ITU-Spezifikationen
werden kurzfristige Schwankungen von einer Frequenz von mehr oder
gleich 10 Hz als „Jitter" bezeichnet. Längere Schwankungen
von einer Frequenz von weniger als 10 Hz werden als „Abweichung" bezeichnet.
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Da
es strikte Regeln gibt, die die Zeitgebung regeln, ist es notwendig,
eine Einrichtung zum Messen und Identifizieren von Störungen und
Fehlern zu haben. Drei wichtige Messungen der Netzwerkzeitfehler
in den ITU-Empfehlungen sind der Zeitintervallfehler (TIE), maximaler
TIE (MTIE), und Zeitabweichung (TDEV). Von besonderem Interesse
für die
vorliegende Erfindung ist TDEV, das eine Messung der Zeitschwankung
eines Signals über
eine spezifische Integrationszeit (Beobachtungsintervall) ist. TDEV
wird in Zeiteinheiten gemessen und wird von einer Sequenz von Zeitfehler-(TIE-)Abtastwerten
abgeleitet.
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Ein
Hauptvorteil des Untersuchens von TDEV-Verhalten liegt in der Bewertung
von Rauschverhalten. TDEV (τ)
konvergiert für
alle Hauptrauschtypen, die tatsächliche
Zeitsignale beeinträchtigen.
Ein Satz von TDEV-Messungen für
unterschiedliche Beobachtungsintervalle τ kann sehr sinnvolle Informationen über die Rauschquellen
in einem Signal liefern. Die charakteristischen Neigungen von TDEV
(τ) zeigen
unterschiedliche Rauschtypen an, die die Unterscheidung zwischen
beispielsweise Weißphasenmodulation-(WPM-)
und Frequenzphasenmodulation-(FPM-)Rauschtypen ermöglichen.
Das Verhalten von TDEV (τ)
hängt wesentlich von
der Beobachtungsperiode τ für Beobachtungsintervalle
ab, wo das WPM-Rauschen dominiert, was wesentlich ist bei TDEV-Messsystemen. TDEV
ist auch empfindlich gegenüber
anderen Einflüssen.
Systematische Effekte, wie z. B. tägliche Abweichung, können verschiedene
Rauschkomponenten verde cken. Folglich können TDEV-Messungen für Beobachtungsintervalle,
die den Bereich von einer Sekunde bis 10.000 Sekunden oder sogar
100.000 Sekunden abdecken, von Interesse sein. Durch die ITU-T-Empfehlung
G.810 Anhang II.3 ist spezifiziert, dass TDEV (nτ
0) geschätzt werden
sollte durch:
wobei
x die Reihe von Zeitfehlerabtastwerten (TIE) darstellt; nτ
0 das
Beobachtungsintervall ist, mit τ
0 als Abtastperiode und n = 1, 2, ... Ganzzahlteil
N/3; und N die Anzahl von TIE-Abtastwerten ist, die erforderlich
ist, um TDEV für
ein gegebenes Beobachtungsintervall zu berechnen.
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Durch
direktes Implementieren dieser Definition kann TDEV berechnet werden
durch Sammeln von Zeitfehlerabtastwerten von der Ausrüstung oder
dem Netzwerk über
eine lange Zeitperiode (abhängig
von dem längsten
Beobachtungsintervall von Interesse). Dieser Datensatz würde dann
offline verarbeitet, um die beste Schätzung für TDEV für jedes Beobachtungsintervall
zu erhalten. Es ist anzumerken, dass die Schätzung selbst für das kürzeste Beobachtungsintervall
unter Verwendung des gesamten Abtastwertsatzes zu berechnen ist.
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Die
Datenmenge, die gesammelt werden muss, ist sehr groß und es
können
lange Zeitperioden zum Sammeln benötigt werden, die sich häufig über Tage
erstrecken, wobei die Analyse der Daten eine rechentechnisch intensive
Aufgabe ist, die offline durchgeführt wird. Bei einer Abtastrate
von 50 Hz, beispielsweise, benötigen
die TIE-Abtastwerte etwa 100 Kilobyte Speicherplatz pro Minute und
daher belegen selbst vergleichsweise kurze Beobachtungsperioden
große
Speichermengen und eine entsprechende Zeitdauer und Verarbeitungsleistung
ist benötigt,
um sinnvolle Ergebnisse abzuleiten. Die Folge dieses Lösungsansatzes
ist es, dass sowohl Personal- als auch Ausrüstungsressourcen belegt sind
und Ergebnisse normalerweise während
der Testperiode nicht verfügbar
sind, was es schwierig macht, Ursache und Wirkung in dem untersuchten System
zu identifizieren. Ferner kann es Tage dauern, Daten zu sammeln,
die, wenn sie verarbeitet werden, ein Problem anzeigen, das nach
nur ein paar Minuten beobachtbar gewesen wäre. Obwohl ein kleinerer Datensatz
verwendet werden könnte,
um einen vorläufigen
Wert von TDEV für
ein kurzes Beobachtungsintervall zu erhalten, können die Ergebnisse dann nicht
praktischerweise aktualisiert werden, wenn neue Daten ankommen,
ohne Neuverarbeiten des gesamten Satzes oder Speichern einer großen Anzahl
von Zwischenergebnissen.
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Die
ITU-T-Empfehlung G.810 erwähnt
auch, dass sich TDEV auf die Leistungsspektraldichte S
φ(f)
seiner Zufallsphasenabweichung φ(t)
bezieht, durch die folgende integrale Beziehung:
wobei v
nom die
Nominalfrequenz des Zeitsignals ist; und f
h die
Messsystembandbreite ist. Die obige Beziehung ist äquivalent
zu der herkömmlichen
Definition unter der Annahme, dass keine deterministischen Komponenten
die Zeitfehlerdaten beeinträchtigen,
die verwendet werden, um TDEV (nτ
0) zu berechnen, aber in der Praxis können die
Daten deterministische Effekte umfassen.
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Diese
alternative Ausdrucksform erlaubt eine Echtzeitimplementierung der
TDEV-Berechnung, bei der eine TDEV für jedes Beobachtungsintervall
erhalten werden kann, durch Anlegen einer Bandpassfilterfunktion an
die Sequenz von TIE-Abtastwerten.
Das Durchlassband des Filters wird geeignet für jedes Beobachtungsintervall
ausgewählt.
Ein Verfahren zum Ausführen
einer Berechnung in Echtzeit ist vorgesehen, das eine Schätzung für jeden
TDEV-Wert liefert, sobald ausreichend Daten verfügbar sind. Wenn der Test länger durchgeführt wird,
ermöglicht
dies, dass TDEV-Werte für
längere
Beobachtungsintervalle erhalten werden, falls gewünscht, und
Werte für
kürzere
Intervalle aktualisiert werden. Kurzfristige Probleme können schneller
diagnostiziert werden und der Test beendet werden, sobald ein Problem
beobachtet ist. Für
längere
Intervalle ist jedoch die Datenmenge, die in dem Filter zu bearbeiten
ist (die Anzahl von Abtastwerten und Koeffizienten) nach wie vor
sehr groß.
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2 ist
ein Blockdiagramm der neuartigen Testmessvorrichtung, sofern dieselbe
für TDEV-Messungen
relevant ist. In der Praxis ist das gleiche Instrument in der Lage,
verschiedene Messungen von dem System abzuleiten, nicht nur TDEV.
Bei dieser Konfiguration wird ein SDH-Signal 210 in einen
Schnittstellenblock der Testausrüstung
zugeführt,
die aus einem Faseroptikempfänger 220 und
einem Takt/Datenwiedergewinnungsmodul 230 besteht, das
das Datenzeitsignal für
weitere Verarbeitung durch den Abweichungsdemodulator 240 wiedergewinnt.
Die Daten können
für andere
Verwendungen zu einem weiteren Demodulator 250 weitergeleitet
werden. Ein Referenztaktsignal 100 wird von einer geeigneten
Quelle erhalten, um das notwendige Referenzzeitsignal zu liefern.
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Der
Abweichungsdemodulator 240 hat die funktionale Fähigkeit,
TIE-Abtastwerte (Abweichungsabtastwerte 245) zu erhalten
und auszugeben, durch Vergleichen des wiedergewonnenen Datentaktsignals
mit dem Referenzsignal. Um TDEV-Werte
auszuwerten, werden die Abweichungsabtastwerte 245 zu einem
Digitalsignalprozessor (DSP) 250 geleitet. Die Ergebnisse
der Verarbeitung werden dann aufgezeichnet und/oder bei 255 zu
einer Anzeige 260 weitergeleitet.
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Verschiedene Überlegungen
für die
Definition und Implementierung der Testausrüstung zum Messen von Jitter,
Abwei chung, TDEV, MTIE und dergleichen in SDH sind in der ITU-T-Empfehlung 0.172
aufgeführt. Die
vorliegende Vorrichtung ist in der Lage, ein Taktsignal bei mehreren
STM-N-Bitraten bei der Verwendung durch unterschiedliche Systeme
zu messen. Es sollte angemerkt werden, dass die Erfindung auf keinen
Fall auf oder durch diese Taktfrequenzen begrenzt ist. Das tatsächliche
Taktsignal kann durch mehrere Verfahren von der verwendeten Referenztaktquelle
abgeleitet werden. Die erforderliche Taktsignalfrequenz kann beispielsweise
synthetisiert werden durch Techniken unter Verwendung von PLLs,
Taktmultiplizierern und -dividierern. Direktdigitalsynthese kann
verwendet werden, falls das Verhältnis
des erforderlichen Taktsignals und des Quellenreferenztakts nicht
für diese
Verfahren geeignet ist. Diese Einzelheiten der Implementierung liegen innerhalb
der Fähigkeiten
des auf diesem Fachgebiet belesenen Lesers und werden hierin nicht
näher erörtert.
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Bei
dem vorliegenden Beispiel ist TIE die Grundfunktion, von der die
Zeitabweichung TDEV und auch andere Parameter berechnet werden können. Der
Abweichungsdemodulator 240 enthält die notwendige Funktionalität, die benötigt wird,
um TIE-Abtastwerte zu erhalten. In dem Demodulator 240 wird
das Testsignal zuerst in einen Phasendetektor eingegeben, der auch
ein Referenzzeitsignal als eine Eingabe nimmt, das wie oben angemerkt,
von einem Signal eines externen Referenztakts 100 abgeleitet
ist. Die Ausgabe dieses Phasenkomparators wird durch ein äquivalentes
10-Hz-Tiefpassfilter erster Ordnung gefiltert, um die Abweichung von
dem Jitter zu trennen, wie es definiert ist.
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Die
resultierenden TIE-Abtastwerte werden bei 245 bei einer Frequenz
von 50 Hz ausgegeben, was wesentlich besser ist als das Minimum
von 30 Hz, das durch die ITU-T in der Empfehlung G.812/813 empfohlen
wird. Die Messung bei dieser höheren
Frequenz schützt
gegen Aliasing, wenn Informationen verloren gehen aufgrund der niedrigen
Abtastraten, erhöht
aber die Datenmenge, die zu verarbeiten ist. Die Genauig keit der
Abweichungsmessfunktion hängt
von mehreren Faktoren ab, einschließlich dem TIE-Abtastintervall,
wobei schwerwiegende Fehler auftreten, wenn sich das Abtastintervall
verlängert.
Die hierin beschriebene Erfindung ist nicht auf diese oder eine
andere einzelne Frequenz beschränkt.
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Bei
der vorliegenden Vorrichtung wird die Berechnung von TDEV effektiv
ausgeführt
als ein Frequenzbereichprozess unter Verwendung einer Filterbank,
wie es oben beschrieben ist. Die Erfindung implementiert jedoch
dieses Grundprinzip auf eine andere Weise, insbesondere in Bezug
auf Filtern. Als Vergleich ist die herkömmliche Technik, wie sie unter
Verwendung eines Abweichungsmodulators und eines DSP implementiert werden
würde,
schematisch in 3 dargestellt, wobei der TDEV-Wert
für einen
spezifischen Wert von τ gezeigt
ist. Die TIE-Abtastwerte werden für die TDEV-Berechnung zu dem DSP weitergeleitet.
TDEV, wie es vorher erklärt
wurde, ist eine Messung von Abweichung, die eine Funktion des Parameters τ ist, des
Beobachtungsintervalls. TDEV (τ)
kann als quadratischer Mittelwert (RMS) von bandpassgefilterten
TIE-Abtastwerten angesehen werden, wobei das Durchlassband des Filters
dem gewünschten
Beobachtungsintervall entspricht. In dem DSP werden die TIE-Abtastwerte 300,
die von dem Abweichungsdemodulator abgeleitet werden, effektiv zu
einem Bandpassfilter 310 weitergeleitet, wobei die Bandpassfilterfunktion 340 bei
einer Frequenz von 0,42/τ zentriert
ist. Der Wert der RMS-Messung 320 für das gefilterte Ergebnis ergibt
den Wert für
TDEV (τ) 330.
Bandpassfilter mit anderen Werten für τ ergeben sich in anderen TDEV-Werten
für andere
Beobachtungsintervalle.
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Da
bei diesem Prozess eine große
Menge an Rohdaten erzeugt wird, um die Echtzeit-TDEV-Berechnung ökonomischer
zu machen, ist der Berechnungsaufwand, der von den Filter- und RMS-Stufen
benötigt wird,
bei der neuartigen Anordnung reduziert. Dies wird erreicht durch
Implementieren der Bandpassfilter oder zumindest bestimmte derselben
als eine Kaskade von Hoch- und Tiefpassfiltern. An dem Ausgang von
jedem Tiefpassfilter kann eine Reihe von Abtastwerten mit reduzierter
Rate für
die Verwendung als Eingabe in die Messung von TDEV für längere Beobachtungsintervalle
genommen werden. Als Folge können
die Speicher- und Rechenanforderungen für die langfristige Messung
stark reduziert werden, mit nur gemäßigtem Anstieg der Rechenlast
für die
kurzfristige Messung.
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4 stellt
diesen TDEV-Berechnungsprozess, der durch den DSP 250 implementiert
ist, für
ein erstes Ausführungsbeispiel
im Blockdiagramm dar, das den Datenfluss durch die Filter- und RMS-Stufen
und den Prozess der Dezimierung zeigt. Die TIE-Daten 400,
die in dem ersten Fall bei 50 Hz 405 abgetastet werden, verlaufen
zuerst durch ein Tiefpassfilter 410, und eliminieren somit
Hochfrequenzsignalkomponenten über dem
gewünschten
Durchlassband. Die tiefpassgefilterten Daten werden dann durch ein
Hochpassfilter 420 verarbeitet, so dass nun die TIE-Abtastwerte
vollständig
bandpassgefiltert sind. Ein RMS-Rechner 430 schätzt den
RMS-Wert der gefilterten TIE-Daten, und gibt somit den TDEV-Wert 440 für diesen
Wert von τ aus,
wobei τ =
1 Sekunde ist. Die Filterantworten, die verwendet werden, um die
Bandpassfunktionen aufzubauen, sind schematisch in 5 gezeigt,
die zeigt, wie sich Tiefpass- 500 und Hochpass- 510 Filterfunktionen
verbinden, um eine Bandpassfilterfunktion 520 zu ergeben.
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Für die Berechnung
von TDEV-Werten für
längere
Beobachtungsintervalle (τ =
2 Sekunden usw.) werden die ursprünglichen Daten bei 405 nicht
verwendet. Statt dessen werden die tiefpassgefilterten Daten bei 450 abgegriffen
und einem Reduktions-(Dezimierungs-)Prozess 460 zugeführt, bei
der Hälfte
der vorhergehenden Frequenz (25 Hz) abgetastet und weitergeleitet 470 zu
dem zweiten Tiefpassfilter 480 in der Filterkaskade. Das
zweite Tiefpassfilter 480 eliminiert Hochfrequenzkomponenten,
die für
die Berechnung von TDEV für τ = 2 Sekunden
geeignet sind. Da die Daten bei 450 bereits mit einer Grenzfrequenz
gut unter 12 Hz gefiltert wurden, bestätigt das Nyquist-Abtastkriterium,
dass keine Informationen verloren gehen, während die Datenmenge halbiert
wird.
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Wie
vorher schließt
ein Hochpassfilter 481 den Filterprozess ab und ein RMS-Rechner 482 gibt
den TDEV-Wert für τ = 2 s aus.
Durch Verwenden der Daten mit reduzierter Rate ist klar, dass die
Datenmenge, die zu verarbeiten ist, die Filtergröße und sogar die Koeffizienten
selbst für
das längere
Intervall τ =
2 s nicht anders sind als für
das kürzere
Intervall τ =
1 s.
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Dieser
Prozess der Datenreduktion setzt sich die Stufen hinab fort, wobei
TDEV für
längere
und immer längere
Beobachtungsintervalle gemessen wird. Als Folge müssen nachfolgende
Filter weniger Berechnung durchführen
als herkömmlicherweise,
und ermöglichen
es dadurch, dass eine schnelle Berechnung ausgeführt wird. Jede Stufe der in
diesem Fall gezeigten Kaskade tastet bei der Hälfte der Frequenz der vorhergehenden Stufe
ab. Herkömmlicherweise,
obwohl dies nicht notwendigerweise der Fall ist, gibt jede Stufe
einen TDEV-Wert aus, der einem Zeitintervall entspricht, das zwei
Mal das der vorhergehenden Stufe ist (anders ausgedrückt, sich
in Oktaven erhöht).
Es ist klar, dass nur einige darstellende Stufen gezeigt sind und
in der Praxis mehr vorgesehen sind. Beispielsweise werden vierzehn
Oktavstufen benötigt,
um ein Beobachtungsintervall von 16.384 Sekunden zu erreichen. Für die Endstufe
der Kaskade gibt es keinen Bedarf an einem getrennten Niedrig- und
Hochpassfilter, daher kann statt dessen ein Bandpassfilter 490 eingesetzt
werden, wobei die abgetasteten Daten wie vorher verarbeitet werden,
um einen End-TDEV-Wert 495 zu ergeben.
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Der
Vorteil, der durch Verwenden dieses Verfahrens gewonnen wird, ermöglicht die
Echtzeitanzeige von TDEV-Charakteristika
mit einem hohen Grad an Geschwindigkeit und Genauigkeit, der mit
zeitbereichbasierten Verfahren nicht erreicht werden kann. Jedes
der Filterelemente, einschließlich
des Dezimationsprozesses und der RMS-Berechnung, kann unter Verwendung
von Standard-DSP-Techniken abgeleitet werden und umfasst keine komplexen
Berechnungen. Die RMS- und
Hochpass-/Bandpassfilterstufen können
in einem einzigen zusammengesetzten Filterprozess implementiert
werden, mit geeigneten Polen und Nullen. Andere Frequenzverhältnisse
können
nach Wunsch verwendet werden, obwohl einfache Oktaven besonders
leicht zu implementieren sind.
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6 zeigt
ein weiteres Ausführungsbeispiel
der Erfindung, das dem Dezimierungsprozess, der in 5 gezeigt
ist, Zwischenstufen 610, 620 hinzufügt. Die
Daten, die bei 50 Hz abgetastet werden 405, werden auf
die gleiche Weise verarbeitet wie diejenige, die vorher detailliert
beschrieben wurde und schematisch in 4 gezeigt
ist. Die Anzahl von Tiefpassfilter- und Datenreduzierungsstufen
muss jedoch nicht mit der Anzahl von erforderlichen TDEV-Beobachtungsintervallen übereinstimmen.
Aufeinanderfolgende Stufen in der Hauptkaskade können somit die Abtastfrequenzen
haben, die bei entsprechend größeren Verhältnissen
eingestellt sind als die vorher beschriebenen, was den Datenreduktionsprozess
verbessert. Bei dem Beispiel von 6 ist die
Reduktion bei 625 um einen Faktor 10 bei jeder Hauptstufe,
so dass die zweite Stufe der Hauptkaskade die TIE-Daten bei 5 Hz
abtastet. Die Zwischenstufen können
beispielsweise Beobachtungsintervallen τ = 2, 3, 4, ... 9 Sekunden entsprechen.
Das gleiche Muster von Zwischenstufen kann bei jeder Dekade wiederholt
werden, bis zu dem maximalen Beobachtungsintervall von Interesse.
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Die
Zwischenstufen 610, 620 bei diesem Beispiel tasten
alle die gleiche Frequenz ab wie die vorhergehende Hauptstufe. Wo
es keinen Bedarf für
eine weitere Datendezimierung bei den Zwischenstufen gibt, werden
diese Stufen als Einzelstufenbandpassfilter 605 anstatt
Tiefpass-/Hochpassfilterpaaren implementiert. Jedes Filter 605,
usw. hat Koeffizienten, die eingestellt sind, um einen Wert für TDEV zu geben,
der für
das gewünschte
Beobachtungsintervall geeignet ist. Dieses Ausführungsbeispiel ermöglicht es,
dass eine enge Beabstandung von Beobachtungsintervallen erhalten
wird, ohne den Mehraufwand einer getrennten Tiefpassfilterstufe
bei jedem Intervall. Im Prinzip könnte „Verschachteln" von Datenreduktionsstufen
implementiert werden, falls es in einem bestimmten Fall gerechtfertigt
ist. Beispielsweise könnte
eine Reduktion um Oktaven (2, 4, 8; 20, 40, 80, usw.) in einer Reduktion
um Dekaden (1, 10, 100 usw.) verschachtelt sein.
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Die
Verwendung von DSP-Techniken, um die Filterkaskaden zu implementieren,
hat zahlreiche Vorteile, einschließlich der Integration der verschiedenen
Funktionselemente in den unterschiedlichen Stufen, die benötigt werden,
um die Rohdaten zu verarbeiten, um die TDEV-Ergebnisse zu erzeugen.
Spezialisierte Hardware wird in der vorliegenden Vorrichtung für verschiedene
Blöcke,
vor der DSP-Vorrichtung
verwendet, beispielsweise den Takt- und Datenwiedergewinnungsblock 230 und
den Abweichungsdemodulator 240. Bei anderen Implementierungen
könnte
der DSP einige dieser Funktionen ebenfalls ausführen. Genauer gesagt, die Abweichungsdemodulation
könnte
in das DSP-System integriert sein, da es den Bedarf eliminieren
würde,
Abtastwerte für
die MTIE/TDEV-Berechnungen zu übertragen.
Die Erzeugung eines Referenzzeitsignals würde eine externe Funktion bleiben,
wobei der Phasendetektor und die Messfilter in dem DSP implementiert
sind. Bei einer solchen Implementierung könnte die gleiche Vorrichtung
daher für
MTIE-, TDEV- und Abweichungsdemodulationsfunktionen verwendet werden,
die lediglich durch Programmierungsänderungen den Vorteil einer
Mehrfachfunktionalität
ergeben.
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Ein
vorteilhaftes Merkmal von Echtzeit-TDEV-Messung, das mit vorhergehenden
statischen, Offline-Verarbeitungslösungen nicht möglich ist,
ist, dass Einschwingphänomene
näher untersucht
werden können.
Aufgrund der zufälligen
Art der Berechnung von TDEV in gespeicherten Datenverarbei tungssystemen können Einschwingphänomene nicht
näher beobachtet
werden. Solche Phänomene
können
jedes nicht-stochastische
Ereignis umfassen, das von der Art her entweder vollständig zufällig oder
deterministisch und periodisch ist. Dies würde die Beobachtung von systematischen
Fehlern und Phaseneinschwingvorgängen
auf den zu testenden Netzwerken oder der zu testenden Ausrüstung ermöglichen,
beispielsweise aufgrund von Referenzschalten.
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Der
Fachmann auf diesem Gebiet wird erkennen, dass die Erfindung nicht
auf die oben detailliert beschriebenen spezifischen Implementierungen
und Anwendungen beschränkt
ist. Dieselbe kann bei der Messung von anderen standardisierten
und nicht-standardisierten Parametern als TDEV angewendet werden,
und bei anderen elektronischen Systemen als SDH-Telekommunikationsnetzwerken.
Dieselbe kann in verschiedenen Kombinationen von Hardware und Software
und mit oder ohne festverdrahtete oder programmierbare Schaltungen
implementiert werden. Insbesondere könnten die zweckgebundene DSP-Einheit 250 und
Anzeige 260 von 2 durch einen einzelnen Universalcomputer
ersetzt werden, beispielsweise einen Notebook-PC, der mit der Instrumenthardware
verbunden ist. Der gesamte Prozess von 4 oder 6 kann dann
durch Softwaresignalverarbeitung implementiert werden.