JP2001007866A

JP2001007866A - 電気パラメータ測定方法及び装置

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Publication number: JP2001007866A
Application number: JP2000148758A
Authority: JP
Inventors: Alex Ballantyne; アレックス・バランタイン; David Taylor; デイヴィッド・テイラー
Original assignee: Agilent Technologies Inc
Current assignee: Agilent Technologies Inc
Priority date: 1999-05-21
Filing date: 2000-05-19
Publication date: 2001-01-12
Also published as: US6741641B1; EP1054522A2; DE60021797T2; EP1054522B1; GB9911750D0; EP1054522A3; DE60021797D1

Abstract

(57)【要約】【課題】ＴＤＥＶなどの測定値列を実時間で容易に計算
する。【解決手段】前記入力データ・サンプル列（４０５）に
第１の低域通過濾波処理（４１０）を実施して、第１の
低域濾波サンプル列（４５０）が得られるようにし、該
第１の低域濾波サンプル列に第１の追加処理（高域通過
フィルタ４２０，ＲＭＳ計算器４３０）を実施して、第
１の測定値列（４４０）が得られるようにする。また、
前記第１の低域濾波サンプル列から第１の低速サンプル
列（４７０）を抽出するための手段（４６０）と、該第
１の低速サンプル列を利用して、前記入力データ・サン
プル列にしたと同様な第２の処理を実時間で実施するた
めの手段（４８０、４８１、４８２）が含まれている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、第１のデータ転送
率で受信され、処理された入力データ・サンプル列に基
づいて、電子システムの電気パラメータを測定し、所定
の電気パラメータに関して、時変測定値である少なくと
も第１と第２の測定値列が実時間で得られるようにする
方法及び装置に関するものである。本発明は、例えば、
ＩＴＵ−Ｔ（「ＩＴＵ」は国際電気通信連合を表す）に
よって規定された仕様に従って、同期デジタル・ハイア
ラキ（ＳＤＨ）・デジタル伝送システムにおけるタイミ
ング偏差（ＴＤＥＶ）として既知の標準測定値のよう
な、デジタル伝送システムにおけるタイミング・エラー
の測定に適用することが可能である。

【０００２】

【従来の技術】最新の遠隔通信ネットワークは、ネット
ワーク伝送構成要素間における高度の同期化を要求す
る。ＳＤＨアーキテクチャにおける全ネットワーク伝送
構成要素に関して、タイミングは枢要である。しかし、
後述するように、基準クロック周波数を制御する同期ネ
ットワーク構成要素における位相変化によって、ネット
ワークの個々の段でエラーが導入される可能性がある。

【０００３】同期デジタル伝送システムにおけるタイミ
ング・エラーの測度の１つは、タイミング偏差として知
られるものであり、タイミング・エラー・サンプルの集
合から導き出される。これは、信号の時間変化の測度で
あり、ノイズ信号に関する情報を生成することも可能で
ある。ＳＤＨシステムの場合、タイミング・エラー・サ
ンプルは、「時間間隔エラー」またはＴＩＥサンプルと
呼ばれ、ＴＤＥＶと呼ばれる標準タイミング偏差測度が
定義されている。ＴＤＥＶ値は、他の電気パラメータと
共に、装置及びシステムの性能を評価し、また、しばし
ば、発生した、顧客サービスを損なう故障を診断するた
めに利用される。

【０００４】あいにく、標準化団体によって示されるＴ
ＤＥＶ（または同様の電気パラメータ）の定義をそのま
ま実施しても、結果を実時間で表示することはできな
い。すなわち、ＴＤＥＶは、一般に、信号の時変挙動に
関する情報を明らかにし、故障診断を助けるため、１組
の相異なる時間（観測間隔）について測定する必要があ
る。観測間隔は、一般に、１秒〜１日以上までの範囲に
わたる。こうした間隔について結果を得るためには、従
来、大量のデータ集録が必要とされ、原理上、最短の観
測間隔であっても、全データ集合の集録が済むまで、Ｔ
ＤＥＶを計算することができない。これは、明らかに不
便であるが、より迅速な結果を得るため、データの部分
集合を利用して、該観測間隔に関するＴＤＥＶを計算し
ても、より多くのデータが入手可能になると、再計算を
さらに繰り返さなければならない。早期段階で、中間結
果が得られるようにする提案の１つが、特開平１０−１
７８４２０号公報に開示されている。

【０００５】ＴＤＥＶの別の表現は、周波数領域で定式
化することが可能である。これによって、それぞれ、そ
れ自体の帯域通過特性を備えたフィルタのバンクとし
て、異なる観測間隔についてＴＤＥＶの計算を実施する
ことが可能になる。これによって実時間の実施が可能に
なり、より短い観測間隔に関する測定の推定値が、より
迅速に得られるようになる。短期の問題は、前の結果が
新たなデータで置き換えられると、明らかになる可能性
がある。長い観測間隔に対する結果は、時間の経過につ
れて得られるようになる。これに基づいて実時間のＴＤ
ＥＶ測定を可能にすると称するシステムの１つが、Ｗｏ
ｌｄＷｉｄｅＷｅｂにおいてＩＣＴＥｌｅｃｔｒｏ
ｎｉｃｓによる広告がなされているＦｌｅｘａｃｏｍ
Ｐｌｕｓである。

【０００６】フィルタの実施に関して残された問題は、
とりわけ長い観測間隔の場合に、ＴＤＥＶ等の測定値を
得るために必要とされる大量のデータ記憶及び計算であ
る。ＩＴＵ−Ｔでは、最低サンプル・レートを３０Ｈｚ
と規定しており、一般に、１つの測定結果を得るために
は、観測間隔の少なくとも３倍に及ぶサンプルが必要と
される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、ある
範囲の観測間隔に関するＴＤＥＶのような測定値列を実
時間で計算可能にし、かつ、それに伴う計算量を軽減す
ることにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の第１の態様によ
れば、第１のデータ転送率で受信された入力データ・サ
ンプル列を処理して電子システムの所与の電気パラメー
タに関する少なくとも時間変化する第１、第２の測定値
列を実時間で生成するため、該第１、第２の測定値列を
デジタル・データ処理による第１、第２の処理のそれぞ
れにより得るとともに、該第１、第２の時変測定値列
が、第１の観測間隔と、前記第１の観測間隔より長い第
２の観測間隔のそれぞれに対して前記電気パラメータを
公称値で表すようにした電気パラメータ測定方法であっ
て、 − 前記第１の処理が、（ｉ）前記入力データ・サンプ
ル列に第１の低域通過濾波処理を実施して、第１の低域
濾波サンプル列を得て、（ｉｉ）前記第１の低域濾波サ
ンプル列に第１の追加処理を実施して、第１の測定値列
を得るように実時間で実施され、 − 第１の低速サンプル列が、前記第１の低域濾波サン
プル列から抽出され、さらに − 前記第２の処理が、前記第１の低域濾波サンプル列
を利用して、実時間で実施されることを特徴とする、電
気パラメータ測定方法が得られる。

【０００９】ＴＤＥＶ計算の場合、第１の処理及び第２
の処理には、ＲＭＳパワー推定関数処理が後続する、適
正な帯域フィルタ関数処理が含まれる。これの低域通過
要素を別個に実施することによって、濾波されたサンプ
ル集合が利用可能になり、これを用いて、第２の帯域通
過フィルタのためのデータ転送率の低い入力を得ること
が可能になる。いくつかのＴＤＥＶ間隔の計算が同時に
行われている場合、全計算量の減少は、実時間計算を経
済的に実施し得ることを意味する［携帯用テスト計器に
組み込まれる低コストデジタル信号プロセッサ（ＤＳ
Ｐ）による解決法］。

【００１０】本発明の第１の態様の場合、一連の帯域フ
ィルタ段は、各観測間隔毎に１つずつ、並列に実施され
る。各段（最終段は無視して）は、低域通過フィルタと
高域通過フィルタに分割され、低域濾波された低域濾波
サンプルが、後続段に対する入力として用いられる。各
段毎の入力サンプルは、こうして事前濾波を施されるの
で、情報の損失を生じることなく、異なる時間間隔にお
けるＴＤＥＶの推定に必要なデータを減少させることが
可能になる。

【００１１】必要とされる正確な観測間隔及び選択され
た実施の経済性に従って選択可能な、さまざまな構成の
可能性がある。例えば、低域通過関数及び高域通過関数
を別個に実施することは、帯域通過関数を直接実施する
よりもコストが高くつく可能性がある。従って、本発明
の第２の態様では、サンプルは、全ての段においてでは
なく、所定の鍵となる段においてのみ、別個に低域濾波
を施され、減少する。

【００１２】本発明によれば、さらに、第１のデータ転
送率で受信された入力データ・サンプル列を処理して電
子システムの所与の電気パラメータに関する少なくとも
時間変化する第１、第２の測定値列を実時間で生成する
ため、該第１、第２の測定値列をデジタル・データ処理
による第１、第２の処理のそれぞれにより得るととも
に、該第１、第２の時変測定値列が、第１の観測間隔
と、前記第１の観測間隔より長い第２の観測間隔のそれ
ぞれに対して前記電気パラメータを公称値で表すように
するための装置であって、 − （ｉ）前記入力データ・サンプル列に第１の低域通
過濾波処理を実施して、第１の低域濾波サンプル列が得
られるようにし、（ｉｉ）前記第１の低域濾波サンプル
列に第１の追加処理を実施して、第１の測定値列が得ら
れるようにすることによって、前記第１の処理を実時間
で実施するための手段と、 − 前記第１の低域濾波サンプル列から第１の低速サン
プル列を抽出するための手段と、 − 前記第１の低速サンプル列を利用して、前記第２の
処理を実時間で実施するための手段が含まれている、電
気パラメータ測定装置が得られる。

【００１３】第１と第２の処理は、単一デジタル信号プ
ロセッサ・チップによって容易に実施することが可能で
あるが、もちろん、ハード・ワイヤード・フィルタ構成
を利用することも可能である。

【００１４】本発明はさらに多くの態様で実施できる。
上記したあるいはその他の本発明の特徴については、そ
の利点と共に、下記の特定の実施例に関する説明から当
業者には明らかになるであろう。

【００１５】もちろん、本明細書において「実時間」と
は、結果が遅延を伴わずに得られるとか、あるいは、入
力サンプルの流れと厳密に同期しなければならないとい
うことを意味するものではない。「実時間」は、ただ単
に、平均して、ほぼ入力サンプルの発生速度で、入力サ
ンプルの処理が可能であるということを表しているだけ
である。

【００１６】

【発明の実施の形態】図１には、遠隔通信システムの一
部を形成する同期ネットワークの概略表現が示されてい
る。一次基準クロック（ＰＲＣ）１００によって、マス
タ・スレーブ法を利用して同期ネットワークを制御する
基準周波数信号が供給される。ＰＲＣは、典型的には、
ＩＴＵ−Ｔ規格に従って高品質周波数信号を維持するこ
とが可能なセシウム発振器のような信号源とすることが
可能である。クロック信号は、ＳＤＨ媒体１１０を介し
て、タイミング情報の処理、生成、及び、ネットワーク
を介したさらなる分配を取り扱う同期供給装置（ＳＳ
Ｕ）１２０に分配される。ＳＳＵは、同期信号がネット
ワークを介してノードからノードへと転送されるにつれ
て劣化するのを最小限に抑えるのに役立つ。ＳＳＵノー
ドの出力には、さまざまなＳＤＨネットワーク装置及び
スイッチング・ノードが接続されている。ＳＤＨネット
ワークにおけるクロック発生は、ＳＤＨ装置クロック
（ＳＥＣ）１３０として既知のところである。

【００１７】ＳＤＨネットワークにおける同期の劣化
は、いくつかの要因による可能性がある。一般的な原因
には、布線ケーブルにおける伝搬時間の変動、及び、用
いられるＰＬＬの温度変化による周波数のワンダーが含
まれる。同期エラーは、ＳＳＵまたはＳＥＣが、理想の
ロック・モードからはずれて、ホールド・オーバ・モー
ド及び自走モードで動作する場合に生じることもあり得
る。国際リンクにおけるＰＲＣの変化のように、同期連
鎖における一般的な再構成事象によって、遷移事象が生
じる可能性がある。

【００１８】タイミング信号の変動は、一般に、２つの
カテゴリに分類することが可能である。ＩＴＵ規格にお
いて、周波数が１０Ｈｚ以上の短期変動は、「ジッタ」
と呼ばれる。周波数が１０Ｈｚより低い長期変動は、
「ワンダー」と呼ばれる。

【００１９】タイミングを管理する厳格な規制が存在す
るので、故障及びエラーを測定し、識別する何らかの手
段を備えることが必要である。ＩＴＵ勧告におけるネッ
トワーク・タイミング・エラーの３つの重要な測定が、
時間間隔エラー（ＴＩＥ）、最大ＴＩＥ（ＭＴＩＥ）、
及び、時間偏差（タイムデビェーション；ＴＤＥＶ）で
ある。本発明に関して主として問題になるのは、特定積
分時間（観測時間間隔）にわたる信号の時間変動測度で
あるＴＤＥＶである。ＴＤＥＶは、時間を単位として測
定され、一連の時間エラー（ＴＩＥ）サンプルから導き
出される。

【００２０】ＴＤＥＶの挙動を研究する主たる利点は、
ノイズの挙動の評価である。実際のタイミング信号に影
響する全ての主ノイズ・タイプが、ＴＤＥＶ（τ）に収
斂する。異なる観測時間間隔τに関するＴＤＥＶ測定値
列によって、信号のノイズ源に関する極めて有用な情報
を得ることができる。ＴＤＥＶ（τ）の特性勾配によっ
て、例えば、白色位相変調（ＷＰＭ）ノイズ型と周波数
位相変調（ＦＰＭ）ノイズ型の弁別を可能にする異なる
ノイズ型が表示される。ＴＤＥＶ（τ）の挙動は、ＴＤ
ＥＶ測定システムにおいて重要な、ＷＰＭノイズが支配
的な観測間隔に対する観測周期τによって大いに左右さ
れる。ＴＤＥＶは、他の影響にも敏感である。日周期ワ
ンダーのような系統的エラーによって、各種ノイズ成分
がマスキングされる可能性がある。従って、１秒〜１
０，０００秒あるいは、１０００，０００秒にさえ及ぶ
範囲をカバーする観測間隔に関するＴＤＥＶ測定値は、
問題となる可能性がある。ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｇ．８１０付
録ＩＩ．３に規定のように、ＴＤＥＶ（ｎτ₀）は、下
記に従って推定することが望ましい：

【００２１】

【数１】

【００２２】ここで、ｘは、タイミング・エラー・サン
プル（ＴＩＥ）列を表し、ｎτ₀は、τ₀がサンプリング
周期で、ｎ＝１、２、．．．、（Ｎ／３の整数部）であ
る観測間隔であり、Ｎが、所定の観測間隔に関してＴＤ
ＥＶを計算するのに必要なＴＩＥサンプル数である。

【００２３】この定義をそのまま実施すると（この式に
より演算すると）、ＴＤＥＶは、長い時間期間（問題と
なる最長観測間隔によって決まる）にわたって、装置ま
たはネットワークからタイミング・エラー・サンプルを
集録することによって計算可能になる。次に、このデー
タ・セットにオフ・ライン処理を施すことによって、各
観測間隔毎にＴＤＥＶに関する最良の推定値が得られる
ことになる。最短の観測間隔についてさえ、推定値の計
算は、全サンプル・セットを用いて実施されることにな
るという点に留意されたい。

【００２４】集録する必要のあるデータ量は、極めて大
量であり、データを集録し、オフ・ラインで、計算集約
的タスクであるデータ解析を行うのに長い時間期間を要
し、しばしば、数日に及ぶ場合もある。例えば、５０Ｈ
ｚのサンプリング速度において、ＴＩＥサンプルは、毎
分約１００キロバイトのメモリ空間を必要とし、比較的
短い観測期間であっても、多量のメモリを費やすことに
なり、測定結果を導き出すには、対応する量の時間及び
処理能力が必要とされる。このアプローチの結果とし
て、要員と装置資源が両方とも忙殺され、通常、テスト
期間中に、その結果を利用することが不可能になり、こ
のため、試験対象のシステムにおける原因と結果の識別
が困難になる。さらに、計算すればわずか数分後には観
測できたであろう問題を明らかにするデータの集録に数
日を要する可能性がある。もっと少ないデータ・セット
を利用して、短い観測間隔に関するＴＤＥＶの予備値を
求めることが可能であるが、全データ・セットに再処理
を施すか、多数の中間結果を記憶しなければ、新しいデ
ータの到着時に、その結果を至便に更新することができ
ない。

【００２５】ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｇ．８１０には、下記の積
分関係式によって、ＴＤＥＶと、そのランダム位相偏差
ψ（ｔ）のパワー・スペクトル密度Ｓ_ψ（ｆ）が関連づ
けられる旨の言及もある：

【００２６】

【数２】

【００２７】ここで、ν_nomは、タイミング信号の公称
周波数であり、ｆ_hは、測定システムの帯域幅である。
上述の関係は、ＴＤＥＶ（ｎτ₀）の計算に利用される
時間エラー・データに影響を及ぼす確定的成分が存在し
ないという仮定の下に有効である従来の定義に相当する
が、実際には、データに確定的な影響が含まれている可
能性がある。

【００２８】この代替形式の式によって、ＴＤＥＶ計算
の実時間実施が可能になるが、この場合、各観測間隔に
関するＴＤＥＶは、一連のＴＩＥサンプルに帯域フィル
タ関数を適用することによって求めることが可能であ
る。フィルタの通過帯域は、各観測間隔毎に適切に選択
される。十分なデータが利用可能になると、すぐに各Ｔ
ＤＥＶの推定値をもたらす計算を実時間で実施する方法
が用意されている。所望の場合には、さらに長い期間に
わたって試験を継続することによって、より長い観測間
隔に関するＴＤＥＶを求め、より短い観測間隔に関する
値を更新することが可能になる。短期の問題は、より迅
速に診断することが可能であり、問題が観測されると、
すぐテストを終了することが可能である。しかし、間隔
が長くなると、フィルタにおいて処理すべきデータ量
（サンプル数及び係数の数）は、実際のところやはり極
めて多量である。

【００２９】図２は、ＴＤＥＶ測定に関する限りにおい
て、新規な試験測定装置のブロック図である。実際に
は、同じ装置によって、ＴＤＥＶだけではなく、システ
ムからさまざまな測定値を導き出すことが可能である。
この構成の場合、ＳＤＨ信号２１０は、光ファイバ受信
機２２０と、ワンダー復調器２４０による後続処理に備
えてデータ・タイミング信号を回復するクロック／デー
タ回復モジュール２３０から構成される、テスト装置の
インターフェイス・ブロックに送り込まれる。データ
は、他の用途のため、追加復調器２５０に送ることが可
能である。基準クロック信号１００は、必要な基準タイ
ミング信号を供給するのに適した信号源から得られる。

【００３０】ワンダー復調器２４０は、回復されたデー
タ・クロック信号と基準クロック信号を比較することに
よって、ＴＩＥサンプル（ワンダー・サンプル２４５）
を取得し出力する機能的能力を備えている。ＴＤＥＶ値
を評価するため、ワンダー・サンプル２４５の値は、デ
ジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）２５０に送られる。Ｄ
ＳＰの処理結果は、次に、出力２５５において記録され
あるいはディスプレイ２６０に送られるか、そのいずれ
もが実施される。

【００３１】ＳＤＨ信号におけるジッタ、ワンダー、Ｔ
ＤＥＶ、ＭＴＩＥ等を測定するための試験装置の定義及
び実施に関するさまざまな考慮事項が、ＩＴＵ−Ｔ勧告
Ｏ．１７２に記載されている。本装置は、異なるシステ
ムによって用いられるいくつかのＳＴＭ−Ｎビット・レ
ートのクロック信号を測定することが可能である。留意
すべきは、本発明が、これらのクロック周波数に制限さ
れたり、これらのクロック周波数によって制限されるこ
とは全くないという点である。実際のクロック信号は、
いくつかの方法で、用いられる基準クロック源から得る
ことが可能である。必要とされるクロック信号周波数
は、例えば、ＰＬＬ、クロック倍周器、及び、分周器を
用いた技法によって合成することが可能である。必要と
されるクロック信号と信号源基準クロックとの比率がこ
れらの方法に適合しない場合には、直接デジタル合成を
利用すればよい。これらの実施の詳細は、当業者に周知
であり、これ以上の説明を控える。

【００３２】この実施例の場合、ＴＩＥは、ＴＤＥＶ並
びに他の電気パラメータを計算することが可能な基本関
数である。ワンダー復調器２４０には、ＴＩＥサンプル
を得るのに必要とされる機能が含まれている。復調器２
４０内において、試験信号は、上述のように、入力とし
て、外部基準クロック１００から得られる基準タイミン
グ信号も受信する位相検出器に入力される。この位相検
出器の出力は、定義に従って、ジッタからワンダーを分
離するため、１０Ｈｚの等価一次低域通過フィルタによ
って濾波される。

【００３３】結果生じるＴＩＥサンプルは、ワンダー・
サンプル２４５として５０Ｈｚの周波数で出力される
が、これは、勧告Ｇ．８１２／８１３においてＩＴＵ−
Ｔが勧告している最小値３０Ｈｚをかなり上回り優れて
いる。低サンプリング速度のために情報の損失が生じる
場合、このより高い周波数で測定することによって、エ
イリアシングが軽減されるが、処理すべきデータ量が増
大する。ワンダー測定関数の正確度は、ＴＩＥサンプリ
ング間隔を含むいくつかの要因によって決まるが、サン
プリング間隔が長くなるにつれて重大なエラーが生じる
ことになる。

【００３４】本装置の場合、ＴＤＥＶの計算は、上述の
フィルタ・バンクを利用して、周波数領域処理として有
効に実施される。この概略が、図３に例示されており、
ある特定のτ値に関するＴＤＥＶ値が示されているＴＩ
Ｅサンプルは、ＴＤＥＶ計算に備えて、デジタル信号処
理装置（ＤＳＰ）２５０に送られる。前述のように、Ｔ
ＤＥＶは、電気パラメータτ、すなわち、観測間隔の関
数であるワンダーの測度である。ＴＤＥＶ（τ）は、帯
域濾波されたＴＩＥサンプルの二乗平均の正の平方根
（ＲＭＳ）であるということが可能であり、フィルタの
通過帯域は、所望の観測間隔に対応する。ＤＳＰ２５０
内において、ワンダー復調器２４０から得られたＴＩＥ
サンプル：ＴＩＥ（τ）３００の値は、帯域フィルタ３
１０に有効に送られるが、帯域フィルタ関数３４０は、
０．４２／τに中心がくる。濾波された結果に関するＲ
ＭＳ測定３２０の値によって、ＴＤＥＶ（τ）３３０の
値が得られる。他のτ値を備えた帯域フィルタによっ
て、他の観測間隔に関する他のＴＤＥＶ値が生じること
になる。

【００３５】この処理において、大量の生データが生じ
るので、実時間ＴＤＥＶ計算をさらに経済的なものにす
るため、新規の構成において、フィルタ及びＲＭＳ測定
段に必要とされる計算負荷が軽減される。これは、帯域
フィルタまたは少なくともそのいくつかを低域通過フィ
ルタと高域通過フィルタの縦続したものとして実施する
ことによって実現される。各低域通過フィルタの出力に
おいて、より長い観測間隔に関するＴＤＥＶの測定に対
する入力として用いるため、低速サンプル列を捕捉する
ことができる。結果として、より長期の測定に関する記
憶及び計算要件を大幅に緩和することが可能になり、よ
り短期の測定に関する計算上の負担が多少増大するだけ
である。

【００３６】図４には、フィルタ及びＲＭＳ測定段を通
るデータの流れを示す、ＤＳＰ２５０によって実施され
るこのＴＤＥＶ計算処理、及び、間引き処理が、ブロッ
ク図の形で例示されている。ＴＩＥデータ４００は、ま
ず５０Ｈｚでサンプリングされ（線路４０５）、低域通
過フィルタ４１０を通り低域データとなる。この結果、
所望の通過帯域を超える高周波信号成分が除去される。
低域データは、次に、高域通過フィルタ４２０によって
処理されるので、ＴＩＥサンプルは、この時点で完全に
帯域濾波されたことになる。ＲＭＳ計算器４３０によっ
て、濾波されたＴＩＥのＲＭＳ値が計算され、その結
果、このτ値に関するＴＤＥＶ値４４０が出力される
（ここで、τ＝１秒）。帯域通過関数の構成に用いられ
るフィルタ応答の概略が、図５に示されており、低域通
過フィルタ関数５００及び高域通過フィルタ関数５１０
がいかに組み合わせられて、帯域フィルタ関数５２０を
生成するかが明らかにされている。

【００３７】より長い観測間隔（τ＝２秒等）に関する
ＴＤＥＶ値を計算する場合、４０５における原データは
用いられない。代わりに、低域データが、線路４５０か
ら取り出されて、低減（間引き）処理段４６０に供給さ
れ、先行周波数の１／２（２５Ｈｚ）でサンプリングさ
れて、縦続フィルタの第２の低域フィルタ４８０に送ら
れる。第２の低域通過フィルタ４８０は、τ＝２秒に関
するＴＤＥＶの計算に適合する高周波成分を除去する。
線路４５０におけるデータは、既に、１２Ｈｚより十分
に低い遮断周波数で濾波が施されているので、ナイキス
ト基準によって、情報の損失はないが、データ量が半分
になっていることが確認される。

【００３８】前述のように、高域通過フィルタ４８１に
よって、濾波処理が完了し、ＲＭＳ計算器４８１によっ
て、τ＝２ｓに関するＴＤＥＶ値が出力される。低速デ
ータを用いることによって、処理すべきデータ量、フィ
ルタ・サイズ、及び、係数自体さえ、より長い間隔τ＝
２ｓの場合とより短い間隔τ＝２ｓの場合の間に違いが
なくなることが分かる。

【００３９】このデータ低減処理は、主段の順に続行さ
れ、だんだん長い観測間隔に関するＴＤＥＶが測定され
ることになる。結果として、後続フィルタは、実施しな
ければならない計算が従来より少なくなるので、高速計
算の実施が可能になる。この事例で示される縦続段の各
段は、先行段の１／２の周波数でサンプリングを行う。
便宜上、必ずしもこの通りになるとは限らないが、各段
毎に、先行段の２倍の時間間隔に対応するＴＤＥＶ値が
出力される（換言すれば、オクターブ単位で増大す
る）。もちろん、いくつかの代表的な段だけしか示され
ていないが、実際には、より多くの段が設けられてい
る。例えば、１６３８４秒の観測間隔に達するには、１
４オクターブの段が必要になる。縦続段の最終段の場
合、独立した低域通過フィルタ及び高域通過フィルタは
必要とされないので、帯域フィルタ４９０を代用し、前
述のように、サンプル値データに処理を加えて、最終Ｔ
ＤＥＶ値４９５が得られるようにすることが可能であ
る。

【００４０】この方法の利点は、時間領域に基づく方法
では実現不可能な高い速度及び正確度で、ＴＤＥＶ特性
を実時間表示することが可能になる点にある。標準的な
ＤＳＰ技法を用いて、データ低減（間引き）処理及びＲ
ＭＳ計算を含むフィルタ要素のそれぞれを導き出すこと
が可能であるが、これには、複雑な計算は必要とされな
い。ＲＭＳ及び高域通過／帯域フィルタ段は、極及びゼ
ロを適正にして、単一複合濾波処理で実施することが可
能である。所望に応じて、他の周波数比を用いることも
可能であるが、単純なオクターブは、とりわけ実施しや
すい。

【００４１】図６には、図４に示す本発明の実施例の間
引き処理に中間段６１０、６２０を追加した、本発明の
もう１つの実施例が示されている。線路４０５において
５０Ｈｚでサンプリングされたデータに、前述の、図４
で概略が示されたものと同様の処理が施される。しか
し、低域フィルタ及びデータ低減段の数が、必要とされ
るＴＤＥＶ観測間隔数に一致する必要はない。従って、
主縦続段における順次段のサンプリング周波数を前述の
ものよりかなり高い比率に設定して、データ低減処理を
強化することが可能である。図６の例の場合、６２５に
おいて、主段毎に、データが１／１０に低減されるの
で、主カスケードの第２段では、５ＨｚでＴＩＥデータ
のサンプリングが行われる。中間段は、例えば、観測間
隔τ＝２、３、４、．．．９秒に対応させることが可能
である。所望の最大観測間隔まで、各ディケード毎に中
間段の同じパターンを繰り返すことが可能である。

【００４２】この例における中間段６１０、６２０は、
全て、先行主段と同じ周波数でサンプリングを行う。中
間段においてそれ以上データを間引きする必要がない場
合、これらの段は、低域通過／高域通過フィルタ対では
なく、単一段帯域フィルタ６０５として実施される。各
フィルタ６０５等は、所望の観測間隔に適したＴＤＥＶ
値が得られるように設定された係数を備えている。この
実施例によれば、間隔の密な観測間隔を得ることが可能
になり、全フィルタにおいて独立した低域通過フィルタ
段のオーバヘッドを生じることはなくなる。原理上、特
定の事例において正当と認められると、データ低減段の
「入れ子」が実施可能になる。例えば、オクターブ
（２、４、８；２０、４０、８０等）単位の低減は、デ
ィケード単位（１、１０、１００等）の低減と入れ子に
することが可能である。

【００４３】ＤＳＰ技法を利用して、フィルタ・カスケ
ードを実施することには、生データを処理して、ＴＤＥ
Ｖ結果が得られるようにするのに必要な、異なる段にお
けるさまざまな機能要素の統合を含む、多くの利点があ
る。本発明では、例えば、クロック及びデータ回復ブロ
ック２３０及びワンダー復調器２４０といった、ＤＳＰ
装置以前の個々のブロックに、専用ハードウェアが利用
される。他の実施例では、ＤＳＰは、これらの機能のい
くつかを実施することが可能である。すなわち、ＭＴＩ
Ｅ／ＴＤＥＶ計算のためのサンプル値を転送する必要が
なくなるので、ワンダー復調は、ＤＳＰシステムに統合
することが可能である。基準タイミング信号の発生は、
外部機能のままであり、位相検出器及び測定フィルタは
ＤＳＰによって実施される。こうした実施例では、従っ
て、ＭＴＩＥ、ＴＤＥＶ、及び、ワンダー復調機能に同
じ装置を用いることによって、ただプログラミングの変
更だけで、複数の機能の利点を得ることが可能になる。

【００４４】従来の静的オフライン処理解決法では不可
能な実時間ＴＤＥＶ測定の有利な特徴は、過渡現象を詳
細に研究することができるという点である。記憶データ
処理システムにおけるＴＤＥＶの計算に関する確率的性
質のため、過渡現象を詳細に観測することは不可能であ
る。こうした現象には、性質が完全にランダムか、ある
いは、確定的で周期的な、任意の非確率的事象が含まれ
る可能性がある。このため、例えば、基準スイッチング
に起因する、テストを受けるネットワークまたは装置に
おける系統的エラー及び位相過渡現象の観測が可能にな
る。

【００４５】当業者には明らかなように、本発明は、こ
れまでに詳述した特定の実施例及び応用例に制限される
ものではない。本発明は、ＴＤＥＶ以外の標準化及び非
標準化電気パラメータや、ＳＤＨ遠隔通信ネットワーク
以外の電子システムの測定に適用することが可能であ
る。本発明は、ハードウェア及びソフトウェアをさまざ
まに組み合わせ、ハード・ワイヤード回路またはプログ
ラマブル回路を設けて、あるいは、設けずに実施するこ
とが可能である。すなわち、図２の専用ＤＳＰ装置２５
０及びディスプレイ２６０は、例えば、計測器ハードウ
ェアに接続されたノート・パソコンのような、単一汎用
コンピュータに置き換え得る。さらに、図４または図６
の処理全体をソフトウェア信号処理によって実施するこ
とが可能である。以下に本発明の実施態様を例示して本
発明の実施の参考とする。

【００４６】（実施態様１）第１のデータ転送率で受信
された入力データ・サンプル列を処理して電子システム
の所与の電気パラメータに関する少なくとも時間変化す
る第１、第２の測定値列を実時間で生成するため、該第
１、第２の測定値列をデジタル・データ処理による第
１、第２の処理のそれぞれにより得るとともに、該第
１、第２の時変測定値列が、第１の観測間隔と、前記第
１の観測間隔より長い第２の観測間隔のそれぞれに対し
て前記電気パラメータを公称値で表すようにした電気パ
ラメータ測定方法であって、 −前記第１の処理が、（ｉ）前記入力データ・サンプル
列に第１の低域通過濾波処理を実施して、第１の低域濾
波サンプル列を得て、（ｉｉ）前記第１の低域濾波サン
プル列に第１の追加処理を実施して、第１の測定値列を
得るように実時間で実施され、 − 第１の低速サンプル列が、第２の転送率で前記第１
の低域濾波サンプル列から抽出され、さらに − 前記第２の処理が、前記第１の低速サンプル列を利
用して、実時間で実施されることを特徴とする、電気パ
ラメータ測定方法。

【００４７】（実施態様２）少なくとも第１の中間測定
値列が、第１の中間処理によって得られることと、前記
第１の中間測定値列が、前記第１と第２の観測間隔の中
間の第１の中間観測間隔に関して前記電気パラメータを
公称値で表すことと、前記第１の中間処理が、前記第１
の中間測定値列を得るために、前記入力データ・サンプ
ル列に対して施されることを特徴とする、実施態様１に
記載の電気パラメータ測定方法。

【００４８】（実施態様３）複数中間測定値列の測定が
が、それぞれの中間処理によって実施され、第１の複数
の中間測定値列が、前記第１と第２の観測間隔の中間の
それぞれの中間観測間隔に関して前記電気パラメータを
公称値で表すことと、各前記中間処理が、それぞれの中
間測定値列を得るために、前記入力データ・サンプル列
に施されることを特徴とする、実施態様１に記載の電気
パラメータ測定方法。

【００４９】（実施態様４）第１のデータ転送率が、第
２のデータ転送率に対して、２倍、４倍、及び、８倍の
うちのいずれかの関係をなすことを特徴とする、実施態
様１、２、または、３に記載の電気パラメータ測定方
法。

【００５０】（実施態様５）第１のデータ転送率が、第
２のデータ転送率に対して１０倍の関係をなすことを特
徴とする、実施態様１、２、または、３に記載の電気パ
ラメータ測定方法。

【００５１】（実施態様６）第１の低域通過濾波処理に
よって、前記入力データ・サンプル列のサンプリング周
波数の１／２０未満の公称遮断周波数を備えた低域フィ
ルタ関数が実施されることを特徴とする、任意の先行実
施態様に記載の電気パラメータ測定方法。

【００５２】（実施態様７）第３の測定値列が、第３の
処理によって得られることと、第３の測定値列が、前記
第１及び第２の観測間隔より長い第３の観測間隔に関し
て前記電気パラメータを公称値で表すことと、 − 前記第２の処理が、（ｉ）前記第１の低速サンプル
列に第２の低域通過濾波処理を実施して、第２の低域濾
波サンプル列が得られるようにし、（ｉｉ）前記第２の
低域濾波サンプル列に第２の追加処理を実施して、第２
の測定値列が得られるようにすることによって実施され
ることと、 − 第２の低速サンプル列が、前記第２の低域濾波サン
プル列から抽出されることと、 − 前記第２の低速サンプル列を用いて、第３の処理を
実時間で実施することによって、前記第３の測定値列が
得られることを特徴とする、任意の先行実施態様に記載
の電気パラメータ測定方法。

【００５３】（実施態様８）少なくとも第２の中間測定
値列が、第２の中間処理によって得られることと、前記
第２の中間測定値列が、前記第２と第３の観測間隔の中
間の第２の中間観測間隔に関して前記電気パラメータを
公称値で表すことと、前記第２の中間処理が、前記第２
の中間測定値列を得るために、前記第２の低域濾波サン
プル列に対して施されることを特徴とする、実施態様７
に記載の電気パラメータ測定方法。

【００５４】（実施態様９）前記入力データ・サンプル
列が、（ｉ）事前低域通過濾波処理を実時間で実施し、
前記第１のデータ転送率より高い率で、事前低域濾波サ
ンプル列を得るとともに、（ｉｉ）前記事前低域濾波サ
ンプル列から前記入力データ・サンプル列抽出すること
によって取得されることと、前記事前低域通過濾波処理
を事前処理の一部として実時間で実施することによっ
て、事前測定値列が得られることと、前記事前測定値列
が、前記第１の観測間隔より短い事前観測間隔に関して
前記電気パラメータを公称値で表すことを特徴とする、
任意の先行実施態様に記載の電気パラメータ測定方法。

【００５５】（実施態様１０）それぞれの測定値列を取
得するための前記各処理によって、帯域フィルタ関数が
実施されることを特徴とする、任意の先行実施態様に記
載の電気パラメータ測定方法。

【００５６】（実施態様１１）前記各処理によって、さ
らに、べき乗平均推定関数が実施されることを特徴とす
る、実施態様１０に記載の電気パラメータ測定方法。

【００５７】（実施態様１２）前記べき乗平均推定関数
が、ＲＭＳ（実効値）推定関数であることを特徴とす
る、実施態様１１に記載の電気パラメータ測定方法。

【００５８】（実施態様１３）前記処理の少なくとも１
つの実施において、その伝達関数が、前記帯域フィルタ
関数の少なくとも一部と前記べき乗平均推定関数の積で
ある、複合濾波処理が利用されることを特徴とする、実
施態様１０または１１に記載の電気パラメータ測定方
法。

【００５９】（実施態様１４）前記第１の追加処理の実
施において、その伝達関数が、第１の高域通過フィルタ
関数と前記べき乗平均推定関数の積である複合濾波処理
が用いられ、前記帯域フィルタ関数及びべき乗平均推定
関数が、前記第１の低域通過濾波処理と、それに後続す
る前記第１の追加処理の組み合わせによって実施される
ことを特徴とする、実施態様１３に記載の電気パラメー
タ測定方法。

【００６０】（実施態様１５）前記電子システムに、同
期遠隔通信ネットワークの一部が含まれることと、前記
入力データ・サンプルが、前記システムの信号とタイミ
ング基準との間における連続測定タイミング・エラーを
表すことを特徴とする、任意の先行実施態様に記載の電
気パラメータ測定方法。

【００６１】（実施態様１６）前記タイミング基準が、
前記ネットワークの別の一部における信号から導き出さ
れることを特徴とする、実施態様１５に記載の電気パラ
メータ測定方法。

【００６２】（実施態様１７）前記入力データ・サンプ
ル列が、前記タイミング・エラーにおけるワンダーを表
しており、前記タイミング・エラーに所定の遮断周波数
を備えた低域通過濾波処理を施すことによって、実時間
で得られることを特徴とする、実施態様１５に記載の電
気パラメータ測定方法。

【００６３】（実施態様１８）第１のデータ転送率で受
信された入力データ・サンプル列を処理して電子システ
ムの所与の電気パラメータに関する少なくとも時間変化
する第１、第２の測定値列を実時間で生成するため、該
第１、第２の測定値列をデジタル・データ処理による第
１、第２の処理のそれぞれにより得るとともに、該第
１、第２の時変測定値列が、第１の観測間隔と、前記第
１の観測間隔より長い第２の観測間隔のそれぞれに対し
て前記電気パラメータを公称値で表すようにするための
装置であって、 − （ｉ）前記入力データ・サンプル列に第１の低域通
過濾波処理を実施して、第１の低域濾波サンプル列が得
られるようにし、（ｉｉ）前記第１の低域濾波サンプル
列に第１の追加処理を実施して、第１の測定値列が得ら
れるようにすることによって、前記第１の処理を実時間
で実施するための手段と、 − 前記第１の低域濾波サンプル列から第２のデータ転
送率で第１の低速サンプル列を抽出するための手段と、 − 前記第１の低速サンプル列を利用して、前記第２の
処理を実時間で実施するための手段が含まれている、電
気パラメータ測定装置。

【００６４】（実施態様１９）さらに、第１の中間処理
を実施することによって、少なくとも第１の中間測定値
列が得られるようにするための手段が含まれ、前記第１
の中間測定値列が、前記第１と第２の観測間隔の中間の
第１の中間観測間隔に関して前記電気パラメータを公称
値で表すことと、前記第１の中間処理が、前記第１の中
間測定値列を得るために、前記入力データ・サンプル列
に対して施されることを特徴とする、実施態様１８に記
載の電気パラメータ測定装置。

【００６５】（実施態様２０）さらに、それぞれの中間
処理を実施することによって、複数の中間測定値列が得
られるようにするための手段が含まれることと、前記第
１の複数の中間測定値列が、前記第１と第２の観測間隔
の中間のそれぞれの中間観測間隔に関して前記電気パラ
メータを公称値で表すことと、各前記中間処理が、それ
ぞれの中間測定値列を得るために、前記入力データ・サ
ンプル列に施されることを特徴とする、実施態様１８に
記載の電気パラメータ測定装置。

【００６６】（実施態様２１）第１のデータ転送率が、
第２のデータ転送率に対して、２倍、４倍、及び、８倍
のうちのいずれかの関係をなすことを特徴とする、実施
態様１８、１９、または、２０に記載の電気パラメータ
測定装置。

【００６７】（実施態様２２）第１のデータ転送率が、
第２のデータ転送率に対して１０倍の関係をなすことを
特徴とする、実施態様１８、１９、または、２０に記載
の電気パラメータ測定装置。

【００６８】（実施態様２３）前記第１の低域通過濾波
処理を実施するための手段が、前記入力データ・サンプ
ル列のサンプリング周波数の１／２０未満の公称遮断周
波数を備えた低域フィルタ関数を実施することによっ
て、そうするように構成されていることを特徴とする、
実施態様１８〜２２の任意の１つに記載の電気パラメー
タ測定装置。

【００６９】（実施態様２４）さらに、第３の処理を実
施することによって第３の測定値列が得られるようにす
るための手段が含まれることと、第３の測定値列が、前
記第１及び第２の観測間隔より長い第３の観測間隔に関
して前記電気パラメータを公称値で表すことと、 − 前記第２の処理が、（ｉ）前記第１の低速サンプル
列に第２の低域通過濾波処理を実施して、第２の低域濾
波サンプル列が得られるようにし、（ｉｉ）前記第２の
低域濾波サンプル列に第２の追加処理を実施して、第２
の測定値列が得られるようにすることによって実施され
ることと、 − 第２の低速サンプル列が、前記第２の低域濾波サン
プル列から抽出されることと、 − 前記第２の低速サンプル列を用いて、第３の処理を
実時間で実施することによって、前記第３の測定値列が
得られることを特徴とする、実施態様１８〜２３の任意
の１つに記載の電気パラメータ測定装置。

【００７０】（実施態様２５）さらに、第２の中間処理
を実施することによって少なくとも第２の中間測定値列
が得られるようにするための手段が含まれていること
と、前記第２の中間測定値列が、前記第２と第３の観測
間隔の中間の第２の中間観測間隔に関して前記電気パラ
メータを公称値で表すことと、前記第２の中間処理が、
前記第２の中間測定値列を得るために、前記第２の低域
濾波サンプル列に対して施されることを特徴とする、実
施態様２４に記載の電気パラメータ測定装置。

【００７１】（実施態様２６）さらに、（ｉ）前記第１
のデータ転送率より高い率で受信したサンプルに対し
て、事前低域通過濾波処理を実時間で実施し、前記より
高い率で、事前低域濾波サンプル列が得られるように
し、（ｉｉ）前記事前低域濾波サンプル列から前記入力
データ・サンプル列を抽出することによって、前記入力
データ・サンプル列が得られるようにするための手段が
含まれることと、前記事前低域通過濾波処理を事前処理
の一部として実時間で実施することによって、事前測定
値列が得られることと、前記事前測定値列が、前記第１
の観測間隔より短い事前観測間隔に関して前記電気パラ
メータを公称値で表すことを特徴とする、実施態様１８
〜２５の任意の１つに記載の電気パラメータ測定装置。

【００７２】（実施態様２７）前記第１、第２、及び、
規定されている場合は、第３の処理のそれぞれを実施し
て、それぞれの測定値列を取得するための手段が、帯域
フィルタ関数を実施することによって、そうするように
構成されていることを特徴とする、実施態様１８〜２６
の任意の１つに記載の電気パラメータ測定装置。

【００７３】（実施態様２８）前記第１、第、２及び、
規定されている場合は、第３の処理のそれぞれを実施し
て、それぞれの測定値列を取得するための手段が、さら
に、べき乗平均推定関数を実施することによって、そう
するように構成されていることを特徴とする、実施態様
２７に記載の電気パラメータ測定装置。

【００７４】（実施態様２９）前記べき乗平均推定関数
が、ＲＭＳ（２乗平均平方根）推定関数であることを特
徴とする、実施態様１８に記載の電気パラメータ測定装
置。

【００７５】（実施態様３０）前記第１、第２、及び、
第３の処理の少なくとも１つを実施するための手段が、
その伝達関数が前記帯域フィルタ関数の少なくとも一部
と前記べき乗平均推定関数の積である、複合濾波処理を
利用して、そうするように構成されていることを特徴と
する、実施態様２８または２９に記載の電気パラメータ
測定電気パラメータ測定装置。

【００７６】（実施態様３１）前記第１の追加処理を実
施するための手段が、その伝達関数が第１の高域通過フ
ィルタ関数と前記べき乗平均推定関数の積である複合濾
波処理を利用して、前記帯域フィルタ関数及びべき乗平
均推定関数が、前記第１の低域通過濾波処理と、それに
後続する前記第１の追加処理の組み合わせによって実施
されるようにする構成が施されていることを特徴とす
る、実施態様３０に記載の電気パラメータ測定装置。

【００７７】（実施態様３２）同期遠隔通信ネットワー
クの一部における信号とタイミング基準との間における
タイミング・エラーを連続して測定することによって、
前記入力データ・サンプル列を取得するための手段（２
３０、２４０）が含まれることを特徴とする、実施態様
１８〜３１の任意の１つに記載の電気パラメータ測定装
置。

【００７８】（実施態様３３）前記入力データ・サンプ
ル列が、前記タイミング・エラーにおけるワンダーを表
しており、前記タイミング・エラーに所定の遮断周波数
を備えた低域通過濾波処理を施すことによって、実時間
で得られることを特徴とする、実施態様３２に記載の電
気パラメータ測定装置。

【００７９】（実施態様３４）前記第１、第２、及び、
第３の処理を実施するための手段に、プログラムされた
デジタル信号プロセッサ（２５０）が含まれることを特
徴とする、実施態様１８〜３３の任意の１つに記載の電
気パラメータ測定装置。

【図面の簡単な説明】

【図１】同期ネットワークのブロック図である。

【図２】本発明による測定装置のトップ・レベルのブロ
ック図である。

【図３】帯域フィルタを用いたＴＤＥＶ測定処理の原理
を示す図である。

【図４】本発明の第１の実施例によってＴＤＥＶを測定
するため、図２の装置で実施される処理を示す機能ブロ
ック図である。

【図５】低域通過フィルタ関数と高域通過フィルタ関数
を組み合わせて、帯域通過フィルタ関数が得られること
を示す図である。

【図６】本発明の第２の実施例によってＴＤＥＶを測定
するため、図２の装置で実施される処理を示す機能ブロ
ック図である。

【符号の説明】

４００ＴＩＥデータ４０５、４５０、４７０線路４１０、４８０低域通過フィルタ４２０、４８１高域通過フィルタ４３０、４８２ＲＭＳ計算器４４０，４８４、４９５ＴＤＥＶデータ４６０データ低減（間引き）段４９０帯域通過フィルタ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 399117121 395 ＰａｇｅＭｉｌｌＲｏａｄＰａｌｏＡｌｔｏ，ＣａｌｉｆｏｒｎｉａＵ．Ｓ．Ａ. (72)発明者デイヴィッド・テイラーイギリス国エジンバラクレア・テラス・ストリート27

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】第１のデータ転送率で受信された入力デー
タ・サンプル列を処理して電子システムの所与の電気パ
ラメータに関する少なくとも時間変化する第１、第２の
測定値列を実時間で生成するため、該第１、第２の測定
値列をデジタル・データ処理による第１、第２の処理の
それぞれにより得るとともに、該第１、第２の測定値列
が、第１の観測間隔と、前記第１の観測間隔より長い第
２の観測間隔のそれぞれに対して前記電気パラメータを
公称値で表すようにした電気パラメータ測定方法であっ
て、 − 前記第１の処理が、（ｉ）前記入力データ・サンプ
ル列に第１の低域通過濾波処理を実施して、第１の低域
濾波サンプル列を得て、（ｉｉ）前記第１の低域濾波サ
ンプル列に第１の追加処理を実施して、第１の測定値列
を得るように実時間で実施され、 − 第１の低速サンプル列が、第２のデータ転送率で前
記第１の低域濾波サンプル列から抽出され、さらに − 前記第２の処理が、前記第１の低速サンプル列を利
用して、実時間で実施されることを特徴とする、電気パ
ラメータ測定方法。
【請求項２】少なくとも第１の中間測定値列が、第１の
中間処理によって得られることと、前記第１の中間測定
値列が、前記第１と第２の観測間隔の中間の第１の中間
観測間隔に関して前記電気パラメータを公称値で表すこ
とと、前記第１の中間処理が、前記第１の中間測定値列
を得るために、前記入力データ・サンプル列に対して施
されることを特徴とする、請求項１に記載の電気パラメ
ータ測定方法。
【請求項３】複数中間測定値列の測定がが、それぞれの
中間処理によって実施され、第１の複数の中間測定値列
が、前記第１と第２の観測間隔の中間のそれぞれの中間
観測間隔に関して前記電気パラメータを公称値で表すこ
とと、各前記中間処理が、それぞれの中間測定値列を得
るために、前記入力データ・サンプル列に施されること
を特徴とする、請求項１に記載の電気パラメータ測定方
法。
【請求項４】第１のデータ転送率が、第２のデータ転送
率に対して、２倍、４倍、及び、８倍のうちのいずれか
の関係をなすことを特徴とする、請求項１、２、また
は、３に記載の電気パラメータ測定方法。
【請求項５】第１のデータ転送率が、第２のデータ転送
率に対して１０倍の関係をなすことを特徴とする、請求
項１、２、または、３に記載の電気パラメータ測定方
法。
【請求項６】第１の低域通過濾波処理によって、前記入
力データ・サンプル列のサンプリング周波数の１／２０
未満の公称遮断周波数を備えた低域フィルタ関数が実施
されることを特徴とする、任意の先行請求項に記載の電
気パラメータ測定方法。
【請求項７】第３の測定値列が、第３の処理によって得
られることと、第３の測定値列が、前記第１及び第２の
観測間隔より長い第３の観測間隔に関して前記電気パラ
メータを公称値で表すことと、 − 前記第２の処理が、（ｉ）前記第１の低速サンプル
列に第２の低域通過濾波処理を実施して、第２の低域濾
波サンプル列が得られるようにし、（ｉｉ）前記第２の
低域濾波サンプル列に第２の追加処理を実施して、第２
の測定値列が得られるようにすることによって実施され
ることと、 − 第２の低速サンプル列が、前記第２の低域濾波サン
プル列から抽出されることと、 − 前記第２の低速サンプル列を用いて、第３の処理を
実時間で実施することによって、前記第３の測定値列が
得られることを特徴とする、任意の先行請求項に記載の
電気パラメータ測定方法。
【請求項８】少なくとも第２の中間測定値列が、第２の
中間処理によって得られることと、前記第２の中間測定
値列が、前記第２と第３の観測間隔の中間の第２の中間
観測間隔に関して前記電気パラメータを公称値で表すこ
とと、前記第２の中間処理が、前記第２の中間測定値列
を得るために、前記第２の低速サンプル列に対して施さ
れることを特徴とする、請求項７に記載の電気パラメー
タ測定方法。
【請求項９】前記入力データ・サンプル列が、（ｉ）事
前低域通過濾波処理を実時間で実施し、前記第１のデー
タ転送率より高い率で、事前低速サンプル列を得るとと
もに、（ｉｉ）前記事前低速サンプル列から前記入力デ
ータ・サンプル列抽出することによって取得されること
と、前記事前低域通過濾波処理を事前処理の一部として
実時間で実施することによって、事前測定値列が得られ
ることと、前記事前測定値列が、前記第１の観測間隔よ
り短い事前観測間隔に関して前記電気パラメータを公称
値で表すことを特徴とする、任意の先行請求項に記載の
電気パラメータ測定方法。
【請求項１０】それぞれの測定値列を取得するための前
記各処理によって、帯域フィルタ関数が実施されること
を特徴とする、任意の先行請求項に記載の電気パラメー
タ測定方法。
【請求項１１】前記各処理によって、さらに、べき乗平
均推定関数が実施されることを特徴とする、請求項１０
に記載の電気パラメータ測定方法。
【請求項１２】前記べき乗平均推定関数が、ＲＭＳ（実
効値）推定関数であることを特徴とする、請求項１１に
記載の電気パラメータ測定方法。
【請求項１３】前記処理の少なくとも１つの実施におい
て、その伝達関数が、前記帯域フィルタ関数の少なくと
も一部と前記べき乗平均推定関数の積である、複合濾波
処理が利用されることを特徴とする、請求項１０または
１１に記載の電気パラメータ測定方法。
【請求項１４】前記第１の追加処理の実施において、そ
の伝達関数が、第１の高域通過フィルタ関数と前記べき
乗平均推定関数の積である複合濾波処理が用いられ、前
記帯域フィルタ関数及びべき乗平均推定関数が、前記第
１の低域通過濾波処理と、それに後続する前記第１の追
加処理の組み合わせによって実施されることを特徴とす
る、請求項１３に記載の電気パラメータ測定方法。
【請求項１５】前記電子システムに、同期遠隔通信ネッ
トワークの一部が含まれることと、前記入力データ・サ
ンプルが、前記システムの信号とタイミング基準との間
における連続測定タイミング・エラーを表すことを特徴
とする、任意の先行請求項に記載の電気パラメータ測定
方法。
【請求項１６】前記タイミング基準が、前記ネットワー
クの別の一部における信号から導き出されることを特徴
とする、請求項１５に記載の電気パラメータ測定方法。
【請求項１７】前記入力データ・サンプル列が、前記タ
イミング・エラーにおけるワンダーを表しており、前記
タイミング・エラーに所定の遮断周波数を備えた低域通
過濾波処理を施すことによって、実時間で得られること
を特徴とする、請求項１５に記載の電気パラメータ測定
方法。
【請求項１８】第１のデータ転送率で受信された入力デ
ータ・サンプル列を処理して電子システムの所与の電気
パラメータに関する少なくとも時間変化する第１、第２
の測定値列を実時間で生成するため、該第１、第２の測
定値列をデジタル・データ処理による第１、第２の処理
のそれぞれにより得るとともに、該第１、第２の時変測
定値列が、第１の観測間隔と、前記第１の観測間隔より
長い第２の観測間隔のそれぞれに対して前記電気パラメ
ータを公称値で表すようにするための装置であって、 − （ｉ）前記入力データ・サンプル列に第１の低域通
過濾波処理を実施して、第１の低域濾波サンプル列が得
られるようにし、（ｉｉ）前記第１の低域濾波サンプル
列に第１の追加処理を実施して、第１の測定値列が得ら
れるようにすることによって、前記第１の処理を実時間
で実施するための手段と、 − 前記第１の低域濾波サンプル列から第２のデータ転
送率で第１の低速サンプル列を抽出するための手段と、 − 前記第１の低速サンプル列を利用して、前記第２の
処理を実時間で実施するための手段が含まれている、電気パラメータ測定装置。
【請求項１９】さらに、第１の中間処理を実施すること
によって、少なくとも第１の中間測定値列が得られるよ
うにするための手段が含まれ、前記第１の中間測定値列
が、前記第１と第２の観測間隔の中間の第１の中間観測
間隔に関して前記電気パラメータを公称値で表すこと
と、前記第１の中間処理が、前記第１の中間測定値列を
得るために、前記入力データ・サンプル列に対して施さ
れることを特徴とする、請求項１８に記載の電気パラメ
ータ測定装置。
【請求項２０】さらに、それぞれの中間処理を実施する
ことによって、複数の中間測定値列が得られるようにす
るための手段が含まれることと、前記第１の複数の中間
測定値列が、前記第１と第２の観測間隔の中間のそれぞ
れの中間観測間隔に関して前記電気パラメータを公称値
で表すことと、各前記中間処理が、それぞれの中間測定
値列を得るために、前記入力データ・サンプル列に施さ
れることを特徴とする、請求項１８に記載の電気パラメ
ータ測定装置。
【請求項２１】第１のデータ転送率が、第２のデータ転
送率に対して、２倍、４倍、及び、８倍のうちのいずれ
かの関係をなすことを特徴とする、請求項１８、１９、
または、２０に記載の電気パラメータ測定装置。
【請求項２２】第１のデータ転送率が、第２のデータ転
送率に対して１０倍の関係をなすことを特徴とする、請
求項１８、１９、または、２０に記載の電気パラメータ
測定装置。
【請求項２３】前記第１の低域通過濾波処理を実施する
ための手段が、前記入力データ・サンプル列のサンプリ
ング周波数の１／２０未満の公称遮断周波数を備えた低
域フィルタ関数を実施することによって、そうするよう
に構成されていることを特徴とする、請求項１８〜２２
の任意の１つに記載の電気パラメータ測定装置。
【請求項２４】さらに、第３の処理を実施することによ
って第３の測定値列が得られるようにするための手段が
含まれることと、第３の測定値列が、前記第１及び第２
の観測間隔より長い第３の観測間隔に関して前記電気パ
ラメータを公称値で表すことと、 − 前記第２の処理が、（ｉ）前記第１の低速サンプル
列に第２の低域通過濾波処理を実施して、第２の低域濾
波サンプル列が得られるようにし、（ｉｉ）前記第２の
低域濾波サンプル列に第２の追加処理を実施して、第２
の測定値列が得られるようにすることによって実施され
ることと、 − 第２の低速サンプル列が、前記第２の低域濾波サン
プル列から抽出されることと、 − 前記第２の低速サンプル列を用いて、第３の処理を
実時間で実施することによって、前記第３の測定値列が
得られることを特徴とする、請求項１８〜２３の任意の１つに記載の電気パラメータ
測定装置。
【請求項２５】さらに、第２の中間処理を実施すること
によって少なくとも第２の中間測定値列が得られるよう
にするための手段が含まれていることと、前記第２の中
間測定値列が、前記第２と第３の観測間隔の中間の第２
の中間観測間隔に関して前記電気パラメータを公称値で
表すことと、前記第２の中間処理が、前記第２の中間測
定値列を得るために、前記第２の低域濾波サンプル列に
対して施されることを特徴とする、請求項２４に記載の
電気パラメータ測定装置。
【請求項２６】さらに、（ｉ）前記第１のデータ転送率
より高い率で受信したサンプルに対して、事前低域通過
濾波処理を実時間で実施し、前記より高い率で、事前低
域濾波サンプル列が得られるようにし、（ｉｉ）前記事
前低域濾波サンプル列から前記入力データ・サンプル列
を抽出することによって、前記入力データ・サンプル列
が得られるようにするための手段が含まれることと、前
記事前低域通過濾波処理を事前処理の一部として実時間
で実施することによって、事前測定値列が得られること
と、前記事前測定値列が、前記第１の観測間隔より短い
事前観測間隔に関して前記電気パラメータを公称値で表
すことを特徴とする、請求項１８〜２５の任意の１つに
記載の電気パラメータ測定装置。
【請求項２７】前記第１、第２、及び、規定されている
場合は、第３の処理のそれぞれを実施して、それぞれの
測定値列を取得するための手段が、帯域フィルタ関数を
実施することによって、そうするように構成されている
ことを特徴とする、請求項１８〜２６の任意の１つに記
載の電気パラメータ測定装置。
【請求項２８】前記第１、第、２及び、規定されている
場合は、第３の処理のそれぞれを実施して、それぞれの
測定値列を取得するための手段が、さらに、べき乗平均
推定関数を実施することによって、そうするように構成
されていることを特徴とする、請求項２７に記載の電気
パラメータ測定装置。
【請求項２９】前記べき乗平均推定関数が、ＲＭＳ（２
乗平均の平方根）推定関数であることを特徴とする、請
求項１８に記載の電気パラメータ測定装置。
【請求項３０】前記第１、第２、及び、第３の処理の少
なくとも１つを実施するための手段が、その伝達関数が
前記帯域フィルタ関数の少なくとも一部と前記べき乗平
均推定関数の積である、複合濾波処理を利用して、そう
するように構成されていることを特徴とする、請求項２
８または２９に記載の電気パラメータ測定電気パラメー
タ測定装置。
【請求項３１】前記第１の追加処理を実施するための手
段が、その伝達関数が第１の高域通過フィルタ関数と前
記べき乗平均推定関数の積である複合濾波処理を利用し
て、前記帯域フィルタ関数及びべき乗平均推定関数が、
前記第１の低域通過濾波処理と、それに後続する前記第
１の追加処理の組み合わせによって実施されるようにす
る構成が施されていることを特徴とする、請求項３０に
記載の電気パラメータ測定装置。
【請求項３２】同期遠隔通信ネットワークの一部におけ
る信号とタイミング基準との間におけるタイミング・エ
ラーを連続して測定することによって、前記入力データ
・サンプル列を取得するための手段が含まれることを特
徴とする、請求項１８〜３１の任意の１つに記載の電気
パラメータ測定装置。
【請求項３３】前記入力データ・サンプル列が、前記タ
イミング・エラーにおけるワンダーを表しており、前記
タイミング・エラーに所定の遮断周波数を備えた低域通
過濾波処理を施すことによって、実時間で得られること
を特徴とする、請求項３２に記載の電気パラメータ測定
装置。
【請求項３４】前記第１、第２、及び、第３の処理を実
施するための手段に、プログラムされたデジタル信号プ
ロセッサが含まれることを特徴とする、請求項１８〜３
３の任意の１つに記載の電気パラメータ測定装置。