DE595211C - Interferenzdoppelprisma fuer Messzwecke - Google Patents
Interferenzdoppelprisma fuer MesszweckeInfo
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Description
- Interferenzdoppelprisma für Meßzwecke Für Meßzwecke der verschiedensten Art sowie allgemein für optische Messungen ist der Fall des Gangunterschiedes Null, d. h. der gleichen Weglänge zweier zusammenhängender Strahlen, von erheblicher Bedeutung. In weißem Licht entsteht z. B. bei der Vereinigung in der Nähe des Gangunterschiedes Null eine charakteristische farbige Interferenzfigur, die als einfaches und anschauliches Merkmal für das Vorhandensein des Gangunterschiedes Null oder der Ordnungszahl in dein Streifensystem benutzt werden kann. Hierdurch ist es z. B. möglich, Nullmethoden und Substitutionsmethoden mit all ihren Vorzügen in der Interferenzmeßtechnik zu verwenden, die sicher, zuverlässig und anschaulich sind.
- Es ist nun außerordentlich schwierig, bei Strahlenbündeln, die, wie gewöhnlich, räumlich getrennt oder in irgendeiner Richtung zueinander verlaufen, die Stelle aufzufinden, die der gleichen Weglänge entspricht, da die Interferenzfigur in weißem Licht nur auf eine Strecke von i-2 ,u sichtbar ist. Für praktische Messungen dürfte die Einrichtung mit weltgetrennten Bündeln deshalb schlechthin unbenutzbar sein.
- Die vorliegende Erfindung fußt nun auf dem Gedanken, diese Schwierigkeiten dadurch zu beseitigen, daß zwei kohärente Bündel erzeugt werden, die mit dem gegenseitigen Gangunterschied Null parallel oder annähernd parallel laufen. Hierdurch wird erreicht, daß in einer zu den Strahlenbündeln senkrechten Ebene in jeder Entfernung der Gangunterschied Null besteht, die Interferenzfigur im weißen Licht also keiner Aufsuchung bedarf.
- Durch diese Anordnung werden noch weitere Vorteile erreicht. Die zu prüfenden Objekte liegen annähernd parallel und dicht nebeneinander. Sie sind dadurch den gleichen Einflüssen der Temperatur, des Druckes, der Erschütterung usw. ausgesetzt; Störungen durch diese Einflüsse werden weitgehend eliminiert. Man kann ferner die Prüfobjekte in eine gemeinsame Schutzhülle einschließen, in dieman dieInterferenz erzeugende Einrichtung ohne weiteres mit einschließen kann, wodurch bewirkt wird, daß der Durchtritt der Strahlen durch den einschließenden Raum erst nach der Vereinigung der Strahlen erfolgt, so daß keinerlei Sperr- oder Trennschicht in den Interferenzraum hineinragt. Schließlich kann man achromatisierte Kompensationseinrichtungen, die auf beide Strahlen gemeinsam einwirken müssen, nur in dieser Anordnung benutzen. Weitere Vorteile und Eigenheiten der Anordnung werden unten aufgeführt.
- Entsprechen ferner die beiden kohärenten Strahlen einem Rechtsstrahl und einem Linksstrahl, so eignet sich die Anordnung zur Prüfung von Ebenheit und von Geradführungen u. dgl. in noch näher wiederzugebender Weise. -Die Verhältnisse werden am besten dargelegt an einer Ausführungsform (Fig. ia.) Die in der Figur dargestellte Ausführungsform besteht aus zwei nach Größe und Winkeln völlig gleichen Prismen A, B, D ünd A, C, D aus Glas oder einem ähnlichen durchsichtigen Material, die durch 01 o. dgl. in der Fläche A, D zwangsfrei verkittet oder aneinandergesprengt sind. @5ie eine der beiden in '-optischen Kontakt gebrachten Flächen trägt eine halbdurchlässige Schicht. Die Prismen sind so gegeneinander symmetrisch angeordnet, daß jedes der beiden mit dem von der halbdurchlässigen Schicht entworfenen Spiegelbilde des anderen zusammenfällt. Der Winkel des Einzelprismas, welcher der Kontaktschicht A, D gegenüberliegt, muß doppelt so groß wie der Winkel an der Spitze sein. (Dieses ist die Bedingung dafür, daß im Strahlengang kein Glaskeil liegt.) Das von E eintretende Licht wird an der halbdurchlässigen Schicht A, D in zwei kohärente Bündel gespalten, die an den Seitenflächen A, B und A, C reflektiert und bei passend gewähltem Einfallswinkel parallel aus dem Prisma austreten.
- Stellt man nun z. B. eine ebene Fläche FF, (Fig.ia) senkrecht in den Strahlengang, so wird das Licht senkrecht von ihr reflektiert, die beiden Bündel gehen auf demselben Wege an die halbdurchlässige Schicht zurück und treten nach 0 oder E gemeinsam mit dem Gangunterschied Null wieder aus. Mit anderen Worten: die F läche FF, wird durch ein solches Prisma auf sich selbst, und zwar als Linksbild, abgebildet. Dreht FF, um eine Achse senkrecht zur Papierebene, so dreht sich das von dem Prisma entworfene Bild um den Punkt L entgegengesetzt; es entstehen im weißen Licht Streifen, deren mittelster, dem Gangunterschied Null entsprechender, in jeder beliebigen Entfernung der Fläche FF, vom Prisma den Gangunterschied -Null behält. Die Anordnung bildet daher ein ausgezeichnetes Mittel, den Parallelismus zweier Flächen in beliebiger Entfernung mit Interferenzgenauigkeit in weißem Licht zu bestimmen oder herzustellen.
- Ein beliebiger Punkt J im Strahlengang (Fig. ia) wird nach dem Gesagten bei J1 abgebildet, d. h. so, als wenn er direkt durch die Verlängerung der Spiegelebene A, D abgebildet würde. Der in der Spiegelebene liegende Punkt L wird auf sich selbst abgebildet. Alle Punkte, die mit ihrem Bilde zusammenfallen, liegen in einer Ebene. Diese Erscheinung kann man ebenfalls zur Prüfung von Geradführungen, zum Nivellieren u. dgl., ferner zur Vorjustierung für die Interferenzbeoachtung benutzen.
- Im übrigen eignet sich zur Prüfung von Geradführungen ganz besonders eine andere Art der Interferenzerscheinung, die bei dem Interferenzprisma auftritt, deren Zustandekommen in der Fig. ib dargestellt ist.
- Das bei E unter einem etwas anderen Winkel eintretende Licht spaltet sich an AD in zwei kohärente Strahlen, von denen der eine, durch AD hindurchtretende, nacheinander an AC, FFi, AB reflektiert an die Trennfläche zurückkehrt und der zweite nach der Spiegelung an AD denselben Weg in umgekehrter Richtung durchläuft. Die von beiden Seiten an die Fläche AD zurückkehrenden Strahlen können gemeinsam entweder nach 0 oder E austreten. Bei dieser Art der Benutzung bleibt der Gangunterschied Null (wenn man von dein Phasensprung absieht) auch dann in allen Entfernungen der Platte FF, erhalten, wenn die Prismen A, B, D und A, C D ungleich in der Größe oder geradlinig gegeneinander verschoben sind; die Interferenzerscheinung ändert. sich nur, wenn die Platte FF, um eine Achse senkrecht zur Zeichenebene gedreht wird. Das ganze System ist deshalb außerordentlich leicht in weißem Licht zu justieren und zu benutzen.
- Außerhalb des in Fig. ib gezeichneten Mittelstrahles sind weitere kohärente Strahlenpaare vorhanden, deren Gangunterschiedsdifferenz sich ändert, wenn die Spiegelplatte gedreht wird.
- In allen Fällen kann man den Spiegel ersetzen durch ein zweites Prisma. Fig. 5 zeigt die beiden Fälle des Strahlenverlaufs für Führungsprüfung.
- Nach dem oben Gesagten gestattet das Doppelprisma, Abweichungen von einer Ebene festzustellen. Abweichungen von einer geraden Linie prüft man, indem man zwei Prismen verwendet, deren Spiegelebenen man kreuzt (Fig. 6). In die Mitte zwischen beide stellt man eine zweiseitige Spiegelplatte FF, oder eine Marke.
- Die Prüfung von Endmaßen mit dem Doppelprisma zeigt beispielsweise die Fig.3. Man setzt auf eine Platte FF, durch Ansprengen zwei annähernd gleich lange Endmaße so, daß sie sich aufeinander abbilden. Man erblickt dann die Endmaße zu einem Bild verschmolzen, wie die Fig.3a zeigt. Auf der Grundfläche und auf der Oberfläche- der Endmaße sieht man gleiche, farbige Streifensysteme (Fig. 3a), die im allgemeinen Fall eine Verschiebung gegeneinander zeigen, welche genau der Längendifferenz entspricht, so daß man diese mit einem Blick ablesen kann. Die Streifen erzeugt man einfach durch eine leichte Verdrehung der Prismenhälften gegeneinander. Das Verfahren eignet sich zur Vergleichung und Justierung größerer Mengen von Endmaßen, indem man eines laufend durch ein zu prüfendes ersetzt. Sind größere Längenunterschiede zu messen, so verwendet man einen optischen Streckenkompensator.
- Bei sehr großen Längendifferenzen mißt man die nebeneinanderliegenden und aufeinander abgebildeten Endmaße in bekannter Weise mit homogenem Licht aus.
- Fig.. 4 zeigt eine Anordnung zur Messung der Differenz der Brechung zwischen einer wässerigen Lösung und Wasser; die Differenz entspricht dem Gehalt an gelöster Substanz. Die Verschlußplatte der Kammer, die die Lösung enthält, ragt auch in den zweiten Strahl hinein, so dä,ß nur die Differenz Lösung-Wasser als Gangunterschied erscheint, die Verschlußplatte aber völlig eliminiert wird.
- Weitere Anwendungsmöglichkeiten sind die Bestimmung der Luftbrechung und der Brechung von Gasen, Analyse von Gasgemischen, ferner Ablesung von Spiegeldrehungen (Galvanometer u. dgl.) mit Interferenzgenauigkeit aus der Ferne. Zur Ausführung von Nivellierungen wird die Trennfläche mit der Libelle o. dgl, horizontal gerichtet, alle Punkte, die im Rechts- und Linksbilde sich decken, liegen in einer Ebene. Fig.7 zeigt die Prüfung- einer Fläche auf Ebenheit: die Verschiebung von Rechts- und Linksbild der Marke gegeneinander gibt unmittelbar die Abweichung der Fläche von der Ebene.
- Eine zweite Ausführungsform des Doppelprismas zeigen die Fig.2a und 2b. Diese unterscheidet sich von der ersten dadurch, daß die der Spiegelfläche anliegenden Winkel einander gleich sind. Das Prisma 2a und 2b erfüllt außerdem die Bedingung der ersten Ausführungsform, daß nämlich ß=2a=900 -2#450 ist; es entspricht also einem gemeinsamen Grenzfall der beiden Ausführungsformen. Der Strahlenverlauf in der Fig. 2a entspricht dem Strahlenverlauf von za; 2b zeigt den der zweiten Ausführungsform entsprechenden Strahlengang. Die Buchstabenbezeichnungen entsprechen sich. Bei beiden Ausführungsformen 2a und 2b kann man im übrigen die Interferenzerscheinungen zweiter Art herstellen und anwenden.
- Anordnungen für Interferenzerzeugung, bei denen kohärente Strahlen parallel mit dem gegenseitigen Gangunterschied Null geführt werden, sind bereits bekannt. Der Jaminsche Interferentialrefraktor gehört nicht dazu, weil die Strahlen nicht den gegenseitigen Gangunterschied Null aufweisen.
- Dagegen gehört die Anordnung nach Rayleigh-Haber-Löwe, die bereits M i c h e 1 s o n angegeben hat, hierzu. Diese Anordnung benutzt die Beugung an zwei Spalten. Diese Erscheinung ist außerordentlich lichtschwach, weil die Forderung der Schärfe und Breite der Streifen und der Breite des Arbeitsraumes und der Helligkeit einander ausschließen. Auch ist es nicht möglich, die Interferenzfigur auf das Objekt zu lokalisieren, so daß Endmaße nicht ausgemessen werden können. Es bedarf daher auch einer besonderen Festlegung der Nullage des Instruments.
- Ferner ist der Ersatz der Michelsonschen Trennebene durch ein würfelförmiges Prisma mit dazwischenliegender halbdurchlässiger Fläche bekannt; diese Einrichtung ist aber nicht zur Parallelführung der getrennten Strahlen mit dem Gangunterschied Null benutzt worden.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH: Einrichtung zur Erzeugung und Wiedervereinigung zusammenhängender, einem Rechts- und Linksstrahl entsprechender Strahlen, die mit dem gegenseitigen Gangunterschied Null oder nahezu Null parallel- oder nahezu parallel verlaufen, zur Messung von Längen, Geradführungen, Lichtbrechungen u. dgl., dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung des Strahlenganges ein Doppelprisma (ABCD) dient, das aus zwei symmetrisch gleichen Prismen aus Glas o. dgl. von solcher gegenseitiger Lage besteht, daß jedes mit dem von der gemeinsamen halbdurchlässigen Kontaktfläche (AD) entworfenen Bilde des anderen zusammenfällt, während das Einzelprisma (ABD bzw. ACD) so beschaffen ist, daß entweder der der Kontaktfläche (AD) gegenüberliegende Winkel (ß) doppelt so groß wie ein anliegender (a) ist oder die beiden anliegenden Winkel (a und "j) einander gleich sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEK119275D DE595211C (de) | 1931-03-04 | 1931-03-04 | Interferenzdoppelprisma fuer Messzwecke |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEK119275D DE595211C (de) | 1931-03-04 | 1931-03-04 | Interferenzdoppelprisma fuer Messzwecke |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE595211C true DE595211C (de) | 1934-04-12 |
Family
ID=7244298
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEK119275D Expired DE595211C (de) | 1931-03-04 | 1931-03-04 | Interferenzdoppelprisma fuer Messzwecke |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE595211C (de) |
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