DE3801889A1 - Verfahren zur vermessung von brillenglaesern - Google Patents
Verfahren zur vermessung von brillenglaesernInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Vermes
sung von Brillengläsern mit wenigstens einer asphärischen
Begrenzungsfläche sowie auf eine Vorrichtung zur Durchfüh
rung dieses Verfahrens.
Die genaue Vermessung von Brillengläsern mit wenigstens
einer asphärischen Begrenzungsfläche, also beispielsweise
von sog. progressiven Brillengläsern, ist u.a. für die
laufende Kontrolle der Fertigung von großer Bedeutung.
Gegenwärtig sind hierzu Meßverfahren im Gebrauch, bei
denen die asphärische Begrenzungsfläche mit einem Tastkör
per bzw. Stichel oder dergleichen punktweise abgetastet
wird. Aus dem so gewonnenen Pfeilhöhen-Gitternetz wird
dann mit Hilfe eines Rechners der genaue Verlauf der as
phärischen Fläche berechnet.
Die bekannten taktilen Meßverfahren bzw. die bekannten
Meßmaschinen zur Durchführung dieser Verfahren, die die zu
vermessende Fläche punktweise abtasten, haben den Nach
teil, daß die Vermessung einer Fläche eine vergleichsweise
lange Zeit in Anspruch nimmt. Dies verhindert z. B. die
Aufnahme einer 100%-Stichprobe während der Fertigung, so
daß Fertigungsfehler, wie sie beispielsweise durch beschä
digte Fräser odgl. entstehen können, u.U. erst spät er
kannt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
bzw. eine Vorrichtung zur Vermessung von Brillengläsern
mit wenigstens einer asphärischen Begrenzungsfläche anzu
geben, die die Vermessung einer asphärischen Begrenzungs
fläche, die nicht notwendigerweise irgendeine Symmetrie
aufweisen muß, in sehr kurzen Zeitspannen ermöglicht;
dabei sollen das erfindungsgemäße Verfahren bzw. die er
findungsgemäße Vorrichtung insbesondere zum problemlosen
Einsatz im Prüffeld geeignet sein.
Eine erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ist mit ihren
Weiterbildungen in den Patentansprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung beruht auf dem Grundgedanken, zur Vermessung
von Brillengläsern mit asphärischen Begrenzungsflächen
interferometrische Verfahren einzusetzen.
Überraschenderweise sind derartige interferometrische
Verfahren, die ansonsten in der optischen Meßtechnik Stan
dard sind, zur Vermessung von asphärischen Brillengläsern
bislang nicht in Betracht gezogen worden. Die Ursache
hierfür dürfte sein, daß die auf dem einschlägigen Gebiet
tätigen Fachleute interferometrische Meßverfahren nicht in
Betracht gezogen haben, da es vergleichsweise sehr schwie
rig ist, Referenzkörper mit einer Herstellgenauigkeit
anzufertigen, bei denen Soll/Ist-Abweichung vernachläs
sigbar gering ist, und daß bei Verwendung anderer Meßkör
per die Interferenzordnung zu hoch und damit die genaue
Bestimmung der Abweichung zu schwierig wird.
Erfindungsgemäß wird dieses Problem, das offensichtlich
bislang die Verwendung von interferometrischen Meßverfah
ren zur absoluten Vermessung von Brillengläsern mit as
phärischen Begrenzungsflächen und insbesondere zur Vermes
sung von progressiven Brillengläsern verhindert hat, da
durch umgangen, daß nicht versucht wird, einen "idealen"
Referenzkörper herzustellen. Vielmehr wird in den "Re
ferenz"-Strahlengang eines Zweistrahl-Interferometers ein
Referenzkörper eingesetzt, der typischerweise ähnliche
Fehler, d.h. Abweichungen von der Sollfläche, wie das zu
vermessende Brillenglas aufweist. Der Referenzkörper ist
lediglich mit einem absolut messenden Meßverfahren, bspw.
dem eingangs erwähnten taktilen Meßverfahren (Anspruch 4),
absolut vermessen, so daß die Gestalt seiner Oberfläche,
bspw. als Pfeilhöhen-Gitternetz mit der erforderlichen
Genauigkeit bekannt ist.
Da die Vermessung des Referenzkörpers nur ein einziges Mal
vorzunehmen ist, ist die Meßzeit für den Referenzkörper
von nicht allzu großer Bedeutung.
Die entstehenden Interferogramme werden mit einem Sensor,
bspw. einer Halbleiterkamera aufgenommen und in einer
Rechen- und Steuereinheit abgespeichert. Die Rechen- und
Steuereinheit berechnet aus dem Ausgangssignal des Sensors
die lokale Glasdickendifferenz zwischen Referenzkörper und
dem zu prüfenden Brillenglas. Da die Phase des Interfero
gramms erfindungsgemäß ferner in mehreren Schritten ver
schoben werden kann, ist zusätzlich das Vorzeichen der
Glasdickendifferenz bestimmbar.
Damit ist es möglich, aus den Pfeilhöhen des Referenzkör
pers und der mit Vorzeichen bekannten lokalen Glasdicken
differenz zwischen Referenzkörper und zu prüfenden Bril
lenglas die Pfeilhöhen des zu vermessenden Brillenglases
zu bestimmen (Anspruch 5) .
Selbstverständlich ist es möglich, aus den mit dem inter
ferometrischen Meßverfahren bestimmten Pfeilhöhen des zu
vermessenden Brillenglases in an sich bekannter Weise
weitere optische Größen, wie den Flächenbrechwert, den
Flächenastigmatismus zu berechnen (Anspruch 6).
Das erfindungsgemäße Verfahren hat als interferometrisches
Meßverfahren den bei interferometrischen Verfahren all
gemeinen Vorteil, daß die gesamte asphärische Begrenzungs
fläche in einem Meßvorgang zur Messung herangezogen wird,
so daß der eigentliche Meßvorgang nur sehr geringe Zeit in
Anspruch nimmt. Die Berechnung der lokalen Glasdickendif
ferenz nimmt selbst bei Verwendung eines typischen 16 Bit-
Rechners gemäß Industriestandard nur wenige Sekunden in
Anspruch, so daß auch bei großen Fertigungschargen mit nur
einer Meßvorrichtung eine 100%-Stichprobe möglich wird.
Damit erlaubt das erfindungsgemäße Verfahren eine Kon
trolle des Fertigungsergebnisses und ermöglicht eine ent
sprechende aktive Rückkoppelung bei der Fertigung (Ansprü
che 7 bis 9). Von besonderem Vorteil ist in jedem Falle,
daß eine Ganzflächenanalyse in einem Bruchteil der Zeit
vorgenommen werden kann, die für eine flächendeckende 3-
Koordinaten-Messung erforderlich ist, deren Zeitaufwand
sich nach Stunden bemißt.
Dabei ist es vorteilhaft, wenn für die einzelnen Brillen
glastypen, die bei progressiven Gläsern beispielsweise
durch Basiskurve, Addition etc. klassifiziert sind, "ange
paßte Referenzkörper", d.h. absolut vermessene Brillen
gläser des gleichen Typs verwendet werden, da dann in der
Regel die Interferenzstreifen nicht zu dicht sind und mit
einfachen Sensoren, beispielsweise handelsüblichen Halb
leiterkameras aufgelöst werden können. Darüber hinaus wird
der Rechenaufwand vermindert.
Als Zweistrahl-Interferometer können im Prinzip beliebige
Interferometer verwendet werden, bevorzugt ist jedoch die
Verwendung eines Mach-Zehnder-Interferometers.
Mach-Zehnder-Interferometer haben jedoch gegenüber anderen
Zweistrahl-Interferometern den Vorteil, daß die Teilstrah
lengänge bei großem Durchmesser räumlich weit getrennt
sind, so daß die erforderlichen Aufnahmevorrichtungen für
Referenz- und Prüfkörper leicht zugänglich angeordnet
werden können.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausführungs
beispiels unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher be
schrieben, in der zeigen
Fig. 1 ein erfindungsgemäß verwendetes Mach-Zehnder-In
terferometer, und
Fig. 2 typische Interferogramme.
Fig. 1 zeigt einen typischen Aufbau eines Mach-Zehnder-
Interferometers. Das Licht eines Lasers 1 wird durch Lin
sen 2 und 3, zwischen denen ein Raumfilter 4 angeordnet
ist, aufgeweitet, von einem Spiegel 5 umgelenkt und mit
tels eines teildurchlässigen Spiegels 6 in zwei Teilstrah
lengänge 7 und 8 aufgespalten. In dem Teilstrahlengang 7
ist ein Referenzkörper 9 und in dem anderen Teilstrahlen
gang 8 der Prüfling 10 angeordnet. Ferner sind Kompensa
tionskörper 11 und 12, die lediglich bei stark negativen
bzw. stark positiven Prüfgläsern erforderlich sind, sowie
Umlenkspiegel 13 und 14 vorgesehen. Das Licht der beiden
Teilstrahlengänge 7 und 8 wird auf der teildurchlässigen
Fläche 15 des Teilerwürfels 16 vereinigt und von Linsen 17
und 18 auf ein Sensorarray oder beispielsweise eine han
delsübliche Fernsehkamera 19 abgebildet. Eine Mattscheibe
20 ermöglicht die direkte Beobachtung der Interferenz
figuren.
Im Referenz-Strahlengang 7 ist ferner eine planparallele
Platte bzw. ein Glasteil 21 vorgesehen, deren bzw. dessen
Stellung in mehreren Schritten zur Änderung der Phasenlage
des Referenzstrahlengangs veränderbar ist.
Die Ausgangssignale der Fernsehkamera 19 bzw. des Sensor
arrays sind an eine nicht dargestellte Rechen- und Steuer
einheit, beispielsweise einen handelüblichen PC gemäß
Industriestandard angelegt, der die mit unterschiedlicher
Stellung des Teils 21, d.h. mit unterschiedlicher Phasen
lage aufgenommenen Interferogramme speichert.
Ferner ist in der Rechen- und Steuereinheit ein Datensatz
gespeichert, der die Oberflächengestaltung des Referenz
körpers angibt. Dieser Datensatz enthält beispielsweise
die mit einem taktilen Meßverfahren aufgenommenen Pfeil
höhen.
Durch Aufnahme von wenigstens drei Interferogrammen mit um
mindestens 90° verschobener Phase können mit einem leicht
herleitbaren Algorithmus die lokalen Pfeilhöhendifferenzen
zwischen Prüfling und Referenzkörper sowie das Vorzeichen
der Differenz ermittelt werden. Duch Überlagerung des so
interferometrisch gewonnenen Datensatzes, der die lokalen
Differenzen nach Größe und Richtung angibt, mit dem unab
hängig gewonnenen Datensatz, der die Absolutwerte der
Flächengestaltung des Referenzkörpers angibt, kann der
Flächenverlauf der asphärischen Fläche des Prüflings voll
ständig bestimmt werden.
Aufgrund der Verknüpfung der beiden Datensätze lassen sich
noch weitere Größen, wie optische Größen (Flächenbrech
wert, Flächenastigmatismus) sowie beispielsweise lokale
Toleranzüberschreitungen berechnen.
Fig. 2a und 2b zeigt typische Interferogramme. Dabei zeigt
Fig. 2a das Interferogramm, das dann entsteht, wenn die
Oberfläche des Prüflings nur geringfügig von der Ober
fläche des Referenzkörpers abweicht.
Fig. 2b zeigt ein Interferogramm, das entsteht, wenn zur
Simulation von fehlerhaften Fertigungen die Polierzeiten
der beiden ansonsten mit der gleichen Sollfläche verse
henen Brillengläsern stark voneinander abweichen.
Vorstehend ist die Erfindung anhand eines Ausführungsbei
spiels ohne Beschränkung des allgemeinen Erfindungsgedan
kens - den interferometrisch gewonnenen Datensatz mit
einem unabhängig gewonnenen Datensatz zu überlagern -
beschrieben worden.
Claims (9)
1. Verfahren zur Vermessung von Brillengläsern mit
wenigstens einer asphärischen Begrenzungsfläche,
gekennzeichnet durch die Kombination folgender Merkmale:
- - das zu vermessende Brillenglas ist in den einen Teilstrahlengang eines Zweistrahl-Interferometers eingesetzt,
- - in den anderen Strahlengang ist ein Referenzkörper eingesetzt, dessen Begrenzungsflächen mit einem unabhängig absolut messenden Meßverfahren vermessen sind,
- - die entstehenden Interferogramme werden mit einem Sensor aufgenommen und in einer Rechen- und Steuereinheit abgespeichert,
- - die Phasenlage des Interferogramms wird in wenigstens drei Schritten verschoben,
- - die Rechen- und Steuereinheit berechnet aus dem Ausgangssignal des Sensors die lokale Glasdickendifferenz zwischen Referenzkörper und dem zu prüfenden Brillenglas und das Vorzeichen der Differenz.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das Zweistrahl-Interferometer
ein Mach-Zehnder-Interferometer ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß als Sensor eine Halbleiterka
mera verwendet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-3,
dadurch gekennzeichnet, daß das absolut messende Meßver
fahren ein taktiles Meßverfahren ist, bei dem die Ober
fläche des Referenzkörpers punktweise abgetastet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Rechen- und Steuereinheit
aus der lokalen Glasdickendifferenz und dem Vorzeichen
der Differenz unter Berücksichtigung des Referenzkörpers
die Absolutwerte der Pfeilhöhen berechnet.
6. Verfahren nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Rechen- und Steuereinheit
in an sich bekannter Weise aus den Absolutwerten der
Pfeilhöhen weitere optische Größen, wie Flächenbrech
wert, Flächenastigmatismus etc. berechnet.
7. Verfahren nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß die Rechen- und Steuereinheit
in an sich bekannter Weise aus den Absolutwerten und
theoretischen Sollwertsvorgabe die Ist-Soll-Abweichungen
errechnet.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet, daß aus der IST-SOLL-Abweichung
und aus lokal vorgegebenen Toleranzwerten die Toleranzaus
nutzung errechnet und ein Toleranzüberschreitung erfaßt
wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß drei Interferogramme mit um
mindestens 90° verschobener Phase aufgenommen werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19883801889 DE3801889A1 (de) | 1988-01-23 | 1988-01-23 | Verfahren zur vermessung von brillenglaesern |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE3801889C2 DE3801889C2 (de) | 1991-07-11 |
Family
ID=6345823
Family Applications (1)
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DE19883801889 Granted DE3801889A1 (de) | 1988-01-23 | 1988-01-23 | Verfahren zur vermessung von brillenglaesern |
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---|---|
DE (1) | DE3801889A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3931213A1 (de) * | 1989-09-19 | 1991-04-04 | Wacker Chemitronic | Verfahren und vorrichtung zur interferometrischen messung der ebenheit von beidseitig oberflaechen geringer rauhigkeit aufweisenden halbleiter-, insbesondere siliciumscheiben |
DE19818341A1 (de) * | 1998-04-23 | 1999-10-28 | Schneider Gmbh & Co Kg | Interferometer zum Vermessen asphärischer Linsen |
EP1033553A2 (de) * | 1999-03-03 | 2000-09-06 | Riken | Verfahren und Apparat zur Messung einer aspherischen Form und Hestellungsverfahren eines optischen Elements unter ihrer Anwendung |
CN108844720A (zh) * | 2018-07-03 | 2018-11-20 | 长春理工大学 | 一种光学系统多角度像质检测装置及方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4242882C2 (de) * | 1992-12-18 | 1996-02-22 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zum Prüfen asphärisch gekrümmter Oberflächen und Interferometer-Anordnung hierfür |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3136993A1 (de) * | 1980-09-22 | 1982-04-29 | Naamloze Vennootschap Philips' Gloeilampenfabrieken, 5621 Eindhoven | Vorrichtung zur messung des oberflaechenprofils eines gegenstands |
DE3048558A1 (de) * | 1980-12-22 | 1982-07-22 | Battelle-Institut E.V., 6000 Frankfurt | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von kontaktlinsen |
DE3326264A1 (de) * | 1983-07-21 | 1985-01-31 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Rundheitsmesseinrichtung |
-
1988
- 1988-01-23 DE DE19883801889 patent/DE3801889A1/de active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3136993A1 (de) * | 1980-09-22 | 1982-04-29 | Naamloze Vennootschap Philips' Gloeilampenfabrieken, 5621 Eindhoven | Vorrichtung zur messung des oberflaechenprofils eines gegenstands |
DE3048558A1 (de) * | 1980-12-22 | 1982-07-22 | Battelle-Institut E.V., 6000 Frankfurt | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von kontaktlinsen |
DE3326264A1 (de) * | 1983-07-21 | 1985-01-31 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Rundheitsmesseinrichtung |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3931213A1 (de) * | 1989-09-19 | 1991-04-04 | Wacker Chemitronic | Verfahren und vorrichtung zur interferometrischen messung der ebenheit von beidseitig oberflaechen geringer rauhigkeit aufweisenden halbleiter-, insbesondere siliciumscheiben |
DE19818341A1 (de) * | 1998-04-23 | 1999-10-28 | Schneider Gmbh & Co Kg | Interferometer zum Vermessen asphärischer Linsen |
DE19818341B4 (de) * | 1998-04-23 | 2008-06-26 | Schneider Gmbh & Co. Kg | Interferometer zum Vermessen asphärischer Linsen |
EP1033553A2 (de) * | 1999-03-03 | 2000-09-06 | Riken | Verfahren und Apparat zur Messung einer aspherischen Form und Hestellungsverfahren eines optischen Elements unter ihrer Anwendung |
EP1033553A3 (de) * | 1999-03-03 | 2001-06-20 | Riken | Verfahren und Apparat zur Messung einer aspherischen Form und Hestellungsverfahren eines optischen Elements unter ihrer Anwendung |
US6624895B1 (en) | 1999-03-03 | 2003-09-23 | Riken | Method and apparatus for measuring aspherical shape and method for manufacturing optical element using them |
CN108844720A (zh) * | 2018-07-03 | 2018-11-20 | 长春理工大学 | 一种光学系统多角度像质检测装置及方法 |
CN108844720B (zh) * | 2018-07-03 | 2020-08-04 | 长春理工大学 | 一种光学系统多角度像质检测装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3801889C2 (de) | 1991-07-11 |
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