DE4434897C2 - System und Verfahren zur Verbesserung des Signal/Rausch-Verhältnisses eines CCD-Sensors in einem optischen Scanner - Google Patents
System und Verfahren zur Verbesserung des Signal/Rausch-Verhältnisses eines CCD-Sensors in einem optischen ScannerInfo
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich allgemein auf optische Scanner
und insbesondere auf ein System und ein Verfahren zur Ver
besserung des Signal/Rausch-Verhältnisses des CCD-Sensors
(CCD = Charge Coupled Device = Ladungs-gekoppeltes Bauteil)
in einem optischen Scanner.
Optische Scanner werden verwendet, um Abbildungen auf zu
nehmen und zu digitalisieren. Z.B. kann ein optischer Scan
ner verwendet werden, um die Abbildung eines Schriftsatzes
auf einem Blatt Papier aufzunehmen. Die digitalisierte Ab
bildung kann danach elektronisch gespeichert und/oder mit
Zeichenerkennungs-Software verarbeitet werden, um einen
ASCII-Text zu erzeugen. Der typische optische Scanner umfaßt
eine Lichtquelle, ein lineares Array von photoelektrischen
Fühlern (im allgemeinen ein CCD-Sensor), einen analogen Ver
stärker, einen Analog/Digital-Wandler, eine Steuerung und
einen Direktzugriffsspeicher (RAM; RAM = Random Access Memo
ry).
Der CCD-Sensor umfaßt eine große Anzahl (z. B. 2000) von pho
toelektrischen Fühlern, die in einem linearen Array angeord
net sind. Jeder photoelektrische Fühler nimmt Licht auf, das
einen einzelnen Bildpunkt der Abbildung darstellt. Das Array
nimmt eine Linie von Bildpunkten auf. Indem der CCD-Sensor
über ein Dokument bewegt wird, kann das ganze Dokument Linie
für Linie abgetastet werden.
Die Umwandlung des Lichts, das von dem Dokument reflektiert
oder durch das Dokument übertragen wird, in digitale Signale
findet im wesentlichen in drei Schritten statt. Zuerst wan
delt jeder photoelektrische Fühler das Licht, das er emp
fängt, in eine elektrische Ladung um. Die Größe der Ladung
hängt von der Intensität des Lichts und der Belichtungszeit
ab. Zweitens werden die Ladungen von jedem der photoelektri
schen Fühler über den analogen Verstärker in analoge Span
nungen umgewandelt. Schließlich werden die analogen Spannun
gen durch den Analog/Digital-Konverter für die digitale Ab
bildungsverarbeitung und die Speicherung in dem RAM digita
lisiert.
Bei herkömmlichen optischen Scannern wird der CCD-Sensor
langsam abtastmäßig über ein Dokument bewegt. Die photoelek
trischen Fühler sind permanent belichtet. Nach einer festen
Belichtungszeit wird eine Linie von Ladungen (die eine Linie
von Bildpunkten der Abbildung darstellt) von den phototelek
trischen Fühlern zu einem oder mehreren analogen Schiebere
gistern übertragen. Sobald die Ladungen übertragen sind,
fahren die photoelektrischen Fühler fort, als Reaktion auf
das Licht, dem sie ausgesetzt sind, Ladungen zu erzeugen.
Bevor jedoch die nächste Linie von Ladungen übertragen wer
den kann, müssen die analogen Schieberegister bereinigt
sein, und die Ladungen, die in denselben gespeichert sind,
müssen verarbeitet sein.
Die Verarbeitungszeit der Daten in dem CCD-Sensor schließt
die Zeit ein, die erforderlich ist, um eine Linie von La
dungen seriell von den analogen Schieberegistern zu schie
ben, die Spannungen in analoge Spannungen umzuwandeln, die
Spannungen zu digitalisieren, eine beliebige gewünschte Ab
bildungsverarbeitung durchzuführen und die digitale Darstel
lung jedes Bildpunkts in dem RAM zu speichern. Sobald alle
Bildpunkte oder Ladungen einer Linie verarbeitet wurden,
können die Ladungen der nächsten Linie von den photoelek
trischen Fühlern übertragen werden. Folglich ist die Zeit,
die erforderlich ist, um alle Bildpunkte oder Ladungen einer
Linie zu verarbeiten, gleich der Belichtungszeit des
CCD-Sensors. Herkömmliche optische Scanner stellen die Belich
tungszeit gleich dieser Verarbeitungszeit ein. Wenn es z. B.
eine Mikrosekunde dauert, um jede Ladung oder jeden Bild
punkt zu verarbeiten, benötigt eine Linie von 2000 Bildpunk
ten zwei Millisekunden zur vollen Verarbeitung. Folglich wä
re die Belichtungszeit des CCD-Sensors fest auf zwei Milli
sekunden eingestellt.
Der CCD-Sensor hat im allgemeinen einen festen Rauschpegel.
Folglich ist es wünschenswert, um das Signal/Rausch-Verhält
nis des Scanners zu optimieren, das optische Signal, das an
dem CCD-Fühler empfangen wird, zu maximieren. Durch das Ma
ximieren des optischen Signals bei einem festen Rauschpegel
kann das Signal/Rausch-Verhältnis maximiert werden. Dies ge
schah gewöhnlich durch Kalibrieren des CCD-Sensors, so daß
die feste Belichtungszeit aus dem Licht höchster Intensität,
das erwartungsgemäß empfangen wird, eine maximale Ladung er
gibt (ohne Sättigung des CCD-Sensors).
Diese Kalibrierung geschah in optischen Scannern durch Be
lichten des CCD-Sensors mit einem Referenzstreifen oder ei
nem weißen Material, und Einstellen der Intensität des
Leuchtkörpers, um eine maximale Ladung zu erreichen. Wenn
jedoch der Leuchtkörper oder andere Komponenten altern, kann
das maximal verfügbare Licht ungenügend sein, um eine maxi
male Ladungsausgabe von dem CCD-Sensor zu erzeugen. Folglich
waren bekannte optische Scanner nicht in der Lage, während
der Lebensdauer des Scanners ein maximales
Signal/Rausch-Verhältnis des CCD-Sensors beizubehalten.
Die US-A-4,408,231 betrifft ein Verfahren und eine Vorrich
tung zum Kalibrieren eines Abtastsystems mit linearem Array
und betrifft ein Problem beim Kalibrieren des Systems, das
auftritt, wenn Komponenten des Abtasters altern. Die Belich
tung wird in digitalen Schritten durch einen Mikroprozessor
erhöht, während der Abtaster einen weißen Referenzstreifen
abtastet. Alternativ kann anstelle der Belichtung das Abta
stintervall für die Photosensoren in dem Array so lange zu
erhöhen, bis das Array die Sättigung erreicht. Nachdem die
Sättigung des Sensors erreicht ist, wird das Abtastintervall
auf einen vorbestimmten Prozentsatz des Sättigungsabtastin
tervalls abgesenkt.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrich
tung zum Verbessern des Signal/Rausch-Verhältnisses des
CCD-Sensors während seiner Lebensdauer zu schaffen.
Diese Aufgabe wird durch ein Bildaufnahmesystem gemäß Pa
tentanspruch 1 gelöst.
Die Kalibrierung umfaßt das Aussetzen des CCD-Sensors einem
Referenzobjekt (z. B. einem weißen Material) ein. Das Refe
renzobjekt sollte eine maximale Ladung zur Folge haben, die
von jedem photoelektrischen Fühler des CCD-Sensors erzeugt
wird. Wenn keine maximale Ladung erzeugt wird, wird die Be
lichtungszeit des CCD-Sensors erhöht, indem der CCD-Sensor
genau so oft getaktet wird, wie es erforderlich ist, um alle
Ladungen zu schieben, plus eine zusätzliche Anzahl von Takt
zyklen, um die gewünschte Erhöhung der Belichtungszeit zu
erzeugen.
Das System der Erfindung umfaßt einen CCD-Sensor, der ein
Array von photoelektrischen Fühlern, einen analogen Ver
stärker, einen Analog/Digital-Konverter, eine Slave-Steue
rung, eine Master-Steuerung, einen Direktzugriffsspeicher
(RAM) und eine Hauptschnittstellenschaltung ein. Der
CCD-Sensor erzeugt eine Mehrzahl von Ladungen, die eine Linie
von Bildpunkten der Abbildung darstellen. Der Verstärker
wandelt sequentiell jede Ladung in eine analoge Spannung um,
wenn die Ladungen seriell aus dem CCD-Sensor geschoben wer
den. Der Analog/Digital-Wandler digitalisiert die analogen
Spannungen.
Die Slave-Steuerung synchronisiert den Betrieb des CCD-Sen
sors und des Analog/Digital-Wandlers. Zusätzlich steuert die
Slave-Steuerung die Abbildungsverarbeitung und Formatierung
der digitalisierten Bildpunktdaten und steuert die Speiche
rung der digitalisierten Bildpunktdaten in dem RAM und die
Kommunikation der digitalisierten Bildpunktdaten mit einem
Hauptcomputer über die Hauptschnittstellenschaltung. Die
Master-Steuerung initialisiert eine Abtastoperation und ini
tialisiert die Slave-Steuerung.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend unter Bezugnahme auf die beiliegenden
Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein wenig detailliertes Blockdiagramm des Abbildungs
aufnahmesystems der Erfindung;
Fig. 2 ein wenig detailliertes Blockdiagramm eines CCD-Sen
sors 102;
Fig. 3 ein Blockdiagramm, das die Funktionalität eines Zu
standssteuerrechners 114 beim Steuern der Belich
tungszeit eines CCD-Sensors 102 darstellt; und
Fig. 4 ein Flußdiagramm, das die Schritte beim Kalibrieren
des Abbildungsaufnahmesystems der Erfindung für ein
maximales Signal/Rausch-Verhältnis zeigt.
Das bevorzugte Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nach
folgend bezugnehmend auf die Figuren, in denen gleiche Be
zugszeichen gleiche Elemente anzeigen, beschrieben. Ferner
entsprechen in den Figuren die äußersten linken Stellen je
des Bezugszeichens der Figur, in der das Referenzzeichen
zuerst verwendet ist.
Fig. 1 ist ein wenig detailliertes Blockdiagramm eines Ab
bildungsaufnahmesystems 100 der Erfindung. Das Abbildungs
aufnahmesystem 100 kann mit einem optischen Scanner verwen
det werden, wie z. B. dem, der in dem U.S.-Patent 4,926,041
der Anmelderin der vorliegenden Anmeldung beschrieben ist,
dessen Text in seiner Gesamtheit hiermit durch Bezugnahme
aufgenommen ist.
Das Abbildungsaufnahmesystem 100 umfaßt einen CCD-Sensor
102, einen Analogverstärker 104, einen Analog/Digital-Wand
ler (ADC; ADC = analog to digital converter) 106, eine Sla
ve-Steuerung 108, eine Master-Steuerung 120, einen Direktzu
griffsspeicher (RAM) 118 und eine Hauptschnittstelle 120.
Der CCD-Sensor 102 umfaßt ein lineares Array von photoelek
trischen Fühlern 204 (nachfolgend bezugnehmend auf Fig. 2
beschrieben). Jedes Element 204 ist konfiguriert, um einen
Bildpunkt einer Abbildung aufzunehmen und eine elektrische
Ladung zu erzeugen, die der Intensität des empfangenen
Lichts entspricht.
Der Analogverstärker 104 ist konfiguriert, um von dem
CCD-Sensor 102 über eine Leitung 103 einen seriellen Datenstrahl
zu empfangen und jede Ladung sequentiell in eine analoge
Spannung umzuwandeln. Der ADC 106 ist konfiguriert, um von
dem Verstärker 104 über eine Leitung 105 eine analoge Span
nung zu empfangen und die analoge Spannung zu digitalisie
ren. Der ADC 106 kann z. B. ein digitales 8-Bit-Wort ausge
ben, das die verschiedenen Graustufungen des Bildpunkts dar
stellt, das durch die empfangene Spannung dargestellt wird.
Die Slave-Steuerung 108 steuert den Zeitablauf des CCD-Sen
sors 102 und des ADC 106 über Steuerleitungen 130 und Steu
erleitungen 131. Die Slave-Steuerung 108 empfängt die digi
talisierten Daten von dem ADC 106 über einen Bus 107, lie
fert eine beliebige erforderliche Formatier- und/oder Abbil
dungs-Verarbeitung und speichert die digitalisierten Daten
über einen Bus 121 in dem RAM 118. Außerdem steuert die Sla
ve-Steuerung 108 über die Hauptschnittstelle 122 die Über
tragung der Daten von dem RAM 118 zu einem Hauptsystem
(nicht gezeigt), wie z. B. einem Abbildungsverarbeitungssy
stem oder einem universellen Computersystem. Die
Master-Steuerung 120 ist vorgesehen, um eine Abbildungsabtastope
ration zu initiieren und um die Slave-Steuerung 108 über ei
nen Bus 128 zu initialisieren und zu überwachen.
Die Slave-Steuerung 108 umfaßt einen Abbildungsprozessor
110, einen Format-Prozessor 112, einen Zustandssteuerrechner
114 und eine Direktspeicherzugriffssteuerung 116 (DNA; DNA =
direct memory access = Direktspeicherzugriff). Der Zustands
steuerrechner 114 liefert ein Takten und weitere Steuersig
nale, um den Betrieb des CCD-Sensors 102 über die Steuer
leitungen 130 und des ADC 106 über die Steuerleitungen 131
zu synchronisieren. Der Zustandssteuerrechner 114 steuert
ferner die abtastmäßige Bewegung des CCD-Sensors 102 über
eine Abbildung.
Die DNA-Steuerung 116 steuert das Speichern und Entfernen
der Daten in und aus dem RAM 118. Die DNA-Steuerung 116
steht mit dem RAM 118 über einen Bus 123 und mit der Haupt
schnittstelle 122 über einen Bus 124 in Verbindung. Der Ab
bildungsprozessor 110 liefert dem Abbildungsaufnahmesystem
100 die Abbildungsverarbeitungsfähigkeiten. Z.B. kann der
Abbildungsprozessor 110 die Auflösung der digitalisierten
Abbildung von dem ADC 106 ändern. Der Formatprozessor 112
ermöglicht es, das Datenformat der digitalisierten Abbildung
vor dem Speichern im RAM 118 über den Bus 121 zu ändern.
Z.B. kann der Formatprozessor 112 die Daten, die die digi
talisierte Abbildung darstellen, dem RAM 118 in einem Bild
punkt-Format von einem, vier oder acht Bit liefern. Der For
matprozessor 112 steht ferner über den Bus 121 mit einem
Hauptsystem in Verbindung.
Im U.S.-Patent 5,239,387 der Anmelderin der vorliegenden An
meldung ist detailliert der Datenaustausch zwischen dem RAM
118 und dem Hauptcomputer über den Bus 121 erörtert, das
hiermit in seiner Gesamtheit durch Bezugnahme aufgenommen
ist.
Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist die Slave-Steue
rung 108 als eine ASIC (ASIC = application specific integra
ted circuit = Anwendungs-spezifische integrierte Schaltung)
implementiert. Die Master-Steuerung 120 ist ein universeller
Mikroprozessor, wie z. B. ein Motorola 68HC11, erhältlich von
der Motorola Inc., Schaumburg, Illinois. Der CCD-Sensor 102
ist ein Toshiba TCD137C, erhältlich von Toshiba America
Electronics Components, Inc., Irvine, Kalifornien.
Fig. 2 ist ein Blockdiagramm, das den Betrieb des CCD-Sen
sors 102 zeigt. Der CCD-Sensor 102 umfaßt ein lineares Array
202 von photoelektrischen Fühlern oder Zellen 204. Das li
neare Array 202 kann z. B. 2000 photoelektrische Fühler 204
umfassen. Jeder Fühler 204 ist konfiguriert, um Licht zu
empfangen (reflektiert von oder übertragen durch eine Abbil
dung) und um als Reaktion darauf eine elektrische Ladung zu
erzeugen. Die Ladung wird durch einen Kondensator (nicht ge
zeigt) in jedem photoelektrischen Fühler 204 gesammelt. Je
der Fühler 204 entspricht einem Bildpunkt der Abbildung, die
aufgenommen wird.
Jeder photoelektrische Fühler ist mit einem Speicherbereich
oder einer Registerzelle eines analogen Schieberegisters
205, 206 gekoppelt. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel
sind die Fühler 204 in einer verschachtelten Form mit den
analogen Schieberegistern 205, 206 verbunden. Z.B. sind der
erste und alle nachfolgenden ungeradzahligen Fühler 204
elektrisch mit dem analogen Schieberegister 206 verbunden.
Der zweite und alle nachfolgenden geradzahligen Fühler 204
sind mit dem analogen Schieberegister 205 verbunden.
Das lineare Array 202 ist konfiguriert, um die Ladung, die
in den Kondensatoren der photoelektrischen Fühler 204 ge
speichert ist, in analoge Schieberegister 205, 206 als Re
aktion auf ein Übertragungssignal 210 von dem Zustandssteu
errechner 114 zu übertragen. Die analogen Schieberegister
speichern dann diese Ladungen, bis sie über eine Leitung 103
zu dem Verstärker 104 hinausgeschoben werden können.
Der Zustandssteuerrechner 114 liefert dem analogen Schiebe
register 206 ein Taktsignal 207. Genauso liefert der Zu
standssteuerrechner 114 dem analogen Schieberegister 205 ein
invertiertes Taktsignal 208. Der invertierte Takt 208 ist
bezüglich des Taktsignals 207 um 180° phasenverschoben. So
bald die Ladungen von dem linearen Array 202 in die analogen
Schieberegister 205, 206 übertragen wurden, beginnt der Zu
standssteuerrechner 114 an die analogen Schieberegister 206,
205 ein Taktsignal 207 bzw. ein invertiertes Taktsignal 208
anzulegen. Das Taktsignal 207 veranlaßt das analoge Schie
beregister 206 eine erste Ladung über eine Leitung 212 aus
dem analogen Schieberegister 206 zu schieben. Diese erste
Ladung wird durch den Kondensator C1 gesammelt. Die erste
Ladung veranlaßt den Kondensator C1, sich auf eine Spannung
auf zuladen, die dann durch den analogen Verstärker 104 auf
der Leitung 103 erfaßt wird. Der analoge Verstärker 104 lie
fert dem ADC 106 dann eine verstärkte analoge Spannung zur
Digitalisierung und weiteren nachgeschalteten Verarbeitung.
Der Zustandssteuerrechner 114 liefert einem Schalter SW1
danach ein Rücksetzsignal. Das Rücksetzsignal veranlaßt den
Schalter SW1 zu schließen und dadurch den Kondensator C1 mit
Masse kurzzuschließen. Dadurch wird die erste Ladung auf den
Kondensator C1 abgeleitet. Sobald die Leitung auf dem Kon
densator C1 abgeleitet wurde, wird der Schalter SW1 geöff
net. Als nächstes veranlaßt das invertierte Taktsignal 208
das analoge Schieberegister 205, eine zweite Ladung auf die
Leitung 103 zu schieben. Diese zweite Ladung veranlaßt den
Kondensator C1, auf einen neuen Spannungspegel aufgeladen zu
werden. Der oben beschriebene Prozeß wiederholt sich danach.
Das Taktsignal 207 und das invertierte Taktsignal 208 takten
die analogen Schieberegister 206, 205 abwechselnd ein, bis
alle Ladungen herausgeschoben wurden, durch den Verstärker
104 verstärkt wurden und durch den ADC 106 digitalisiert
wurden.
Das lineare Array 202 fährt fort, Licht zu sammeln, und ent
sprechende Ladungen in jedem der photoelektrischen Fühler
204 zu sammeln, wenn es dem Licht ausgesetzt wird. Jedesmal,
wenn das Übertragungssignal 210 die Ladungen veranlaßt, in
die analogen Schieberegister 205, 206 übertragen zu werden,
wird das lineare Array 202 rückgesetzt. Folglich ist die Be
lichtungszeit jedes photoelektrischen Fühlers 204 gleich der
Periode zwischen dem Empfang der Übertragungssignale 210.
Bei einem herkömmlichen Abbildungsaufnahmesystem gemäß der
obigen Erörterung taktet die Zustandssteuermaschine 114 die
analogen Schieberegister 205, 206 insgesamt N-mal. Das ana
loge Schieberegister 206 wird N/2-mal getaktet, um alle La
dungen auf seinen Zellen zu löschen. Genauso wird das ana
loge Schieberegister 205 N/2-mal getaktet, um alle Ladungen
aus seinen Zellen zu löschen. Sobald die letzte Ladung aus
den analogen Schieberegistern gelöscht ist, erteilt der Zu
standssteuerrechner 114 dem linearen Array ein neues Über
tragungssignal 210. Dies hat eine feste Belichtungszeit für
den CCD-Sensor 102 zur Folge.
Die vorliegende Erfindung maximiert das Signal/Rauschver
hältnis des CCD-Sensors, indem dem linearen Array 202 eine
variable Belichtungszeit geliefert wird. Das lineare Array
202 wird der Abbildung für eine Zeitdauer ausgesetzt, die
eine Maximierung der gesammelten Ladungen ermöglicht, ohne
die photoelektrischen Fühler 204 zu sättigen. Dies geschieht
durch Verändern der Zeit zwischen den Übertragungssignalen
210. Die Erfinder entwickelten ein System und ein Verfahren
zum Implementieren dieser variablen Belichtungszeit mit ei
nem Minimum an zusätzlich erforderlicher Hardware.
Fig. 3 zeigt eine bevorzugte Implementierung zum Steuern der
Belichtungszeit des Abbildungsaufnahmesystems 100. Der Zu
standssteuerrechner 114 umfaßt ein ENDBILDPUNKT-Register
302, ein MOMENTANBILDPUNKT-Register 304 und einen Komparator
306. Das ENDBILDPUNKT-Register 302 ist konfiguriert, um ei
nen ENDBILDPUNKT-Wert, der der Slave-Steuerung 108 über ei
nen parallelen Bus 308 durch die Master-Steuerung 120 gelie
fert wird, zu speichern. Ein LADE-BILDPUNKTE-PRO-LINIE-Takt
310 der Master-Steuerung 120 steuert das Laden eines
END-BILDPUKKT-Werts von einem Bus 308 in das ENDBILDPUNKT-Re
gister 302.
Das MOMENTANBILDPUNKT-Register 304 speichert den Index des
MOMENTANBILDPUKKTS, der aus den analogen Schieberegistern
205, 206 geschoben wird. Ein ERHÖHE-BILDPUKKT-ZAHL-Signal
312 von dem Zustandssteuerrechner 114 bewirkt, daß der
MOMENTANBILDPUNKT-Wert um Eins erhöht wird. Ein LÖSCH-Signal
314 von dem Zustandssteuerrechner 114 bewirkt, daß das
MOMENTANBILDPUNKT-Register 304 gelöscht wird.
Der Komparator 306 vergleicht den MOMENTANBILDPUNKT-Wert aus
dem MOMENTANBILDPUNKT-Register 304 mit dem ENDBILDPUNKT-Wert
aus dem ENDBILDPUNKT-Register 302. Wenn MOMENTANBILDPUNKT
gleich ENDBILDPUNKT ist, gibt der Komparator 306 ein
ENDE-DER-LINIE-Signal 316 aus. Das ENDE-DER-LINIE-Signal 316 wird
dem Zustandssteuerrechner 114 geliefert und veranlaßt den
Zustandssteuerrechner 114, eine ENDE-DER-LINIE-Sequenz zu
initiieren. Die ENDE-DER-LINIE-Sequenz hat die Erzeugung
eines Übertragungssignals 210 zum Verarbeiten der nächsten
Linie der Daten von dem linearen Array 202 zur Folge. Die
ENDE-DER-LINIE-Sequenz setzt ferner das MOMENTANBILDPUNKT-
Register 304 über das LÖSCHE-Signal 314 zurück.
Von der Master-Steuerung 120 kann ein ENDBILDPUNKT-Wert
ausgewählt werden, der größer ist, als die tatsächliche
Anzahl von Bildpunkten in dem linearen Array 202. Da der
ENDBILDPUNKT-Wert größer sein wird, als die tatsächliche
Anzahl an Bildpunkten in dem linearen Array 202, werden die
analogen Schieberegister 205, 206 fortgesetzt geschoben oder
getaktet, selbst wenn alle Ladungen herausgeschoben worden
sind. Dies hat eine erhöhte Belichtungszeit für das lineare
Array 202 zur Folge.
Folglich ermöglicht es die vorliegende Erfindung, die Be
lichtungszeit des CCD-Sensors 102 durch Verändern des Wertes
von ENDBILDPUNKT einzustellen. Die Einstellung geschieht in
einem Kalibrierungsschritt. Die Kalibrierung wird z. B. am
Beginn einer Dokumentabtastung durch das Abbildungsaufnahme
system 100 durchgeführt. Für die Kalibrierung wird der
CCD-Sensor 102 einem Referenzmaterial ausgesetzt. Das Referenz
material ist im allgemeinen ein weißer Streifen in einem
optischen Scanner. Der weiße Streifen sollte eine maximale
Ladung von jedem Bildpunkt des CCD-Sensors 102 erzeugen,
wenn der Systemleuchtkörper auf maximaler Leistung arbeitet.
Die Kalibrierung schließt die Einstellung der maximalen La
dung auf einen Punkt gerade vor der Sättigung des CCD-Sen
sors ein. Der Sättigungspunkt ist im allgemeinen durch den
Hersteller des CCD-Sensors spezifiziert.
Bezugnehmend auf Fig. 4 wird nun die Kalibrierung eines Ab
bildungsaufnahmesystems 200 beschrieben. In einem Schritt
204 werden die Ladungen von ausgewählten oder anderen Füh
lern 204 des CCD-Sensors 102 überprüft, um zu sehen, ob sie
auf einem gewünschten maximalen Wert sind. Dies geschieht
z. B. durch die Master-Steuerung 120, die die digitalisierten
Ladungswerte überprüft, die von der Slave-Steuerung 108 emp
fangen werden. Wenn sich die Ladungswerte auf einem ge
wünschten Pegel befinden, ist die Kalibrierung abgeschlos
sen, wie in einem Schritt 412 angezeigt wird.
Wenn die Ladungswerte nicht auf dem gewünschten Pegel sind,
springt das Verfahren zu einem Schritt 404. Im Schritt 404
wird der Leuchtkörper überprüft, um zu bestimmen, ob er mit
maximaler Leistung arbeitet. Wenn der Leuchtkörper nicht mit
maximaler Leistung arbeitet, wird die Leuchtkörperleistung
im Schritt 408 erhöht, und das Verfahren kehrt zu Schritt
402 zurück. Wenn der Leuchtkörper mit maximaler Leistung ar
beitet, springt das Verfahren zu einem Schritt 406. Im
Schritt 406 wird die Belichtungszeit überprüft, um zu be
stimmen, ob sie auf einem maximalen Wert ist. Wenn die Be
lichtungszeit nicht auf einem maximalen Wert ist, wird die
Belichtungszeit im Schritt 410 erhöht. Das Verfahren springt
zu Schritt 402 zurück. Wenn die Belichtungszeit auf einem
maximalen Wert ist, endet das Verfahren mit Schritt 412.
Wie oben erörtert wurde, wird die Belichtungszeit durch Än
dern des Wertes von ENDBILDPUNKT eingestellt. Wenn die
CCD-Ladung z. B. bei 50% eines gewünschten Wertes ist, muß der
ENDBILDPUNKT-Wert verdoppelt werden. Für einen CCD-Sensor
102 mit 2000 Bildpunkten wurde der Wert von ENDBILDPUNKT auf
4000 eingestellt werden. Dies hätte eine Verdoppelung der
CCD-Belichtungszeit und ein Anwachsen des gewünschten La
dungspegels um die gewünschten 100% zur Folge.
Während die Erfindung bezüglich einer variablen Belichtungs
zeit beschrieben wurde, sollte es offensichtlich sein, daß
die Zeit (oder die Anzahl der Taktzyklen), die erforderlich
ist, um alle Ladungen aus den analogen Schieberegistern 205,
206 zu schieben, fest ist und eine minimale Belichtungszeit
liefert. Die Belichtungszeit kann nicht unter dieses Minimum
reduziert werden ohne Bildpunkte der Abbildung zu verlieren.
Deshalb beginnt bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel das
Kalibrierungsverfahren, das in Fig. 4 dargestellt ist, mit
dieser minimalen Belichtungszeit und erhöht die Belichtungs
zeit, wenn es erforderlich ist. Bevorzugterweise wird die
Kalibrierung durchgeführt, bevor eine neue Dokumentseite ab
getastet wird.
Claims (7)
1. Bildaufnahmesystem (100) mit:
einem Sensor (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil, der konfiguriert ist, um eine Mehrzahl von Ladungen als Re aktion eines Lichteinfalls auf denselben zu erzeugen; und
einer Kalibrierungseinrichtung (114), die den Sensor in einem Kalibrierschritt durch Einstellen seiner Belich tungszeit aufgrund einer Referenzvorlage auf einen Punkt gerade vor der Sättigung des Sensors kalibriert, ohne dabei den Sensor in die Sättigung zu treiben, dadurch, daß die eingelesene Ladung des Sensors mit einer für den Sensor spezifizierten Sättigungsladung verglichen wird.
einem Sensor (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil, der konfiguriert ist, um eine Mehrzahl von Ladungen als Re aktion eines Lichteinfalls auf denselben zu erzeugen; und
einer Kalibrierungseinrichtung (114), die den Sensor in einem Kalibrierschritt durch Einstellen seiner Belich tungszeit aufgrund einer Referenzvorlage auf einen Punkt gerade vor der Sättigung des Sensors kalibriert, ohne dabei den Sensor in die Sättigung zu treiben, dadurch, daß die eingelesene Ladung des Sensors mit einer für den Sensor spezifizierten Sättigungsladung verglichen wird.
2. Bildaufnahmesystem (100) gemäß Anspruch 1, das ferner
folgende Merkmale aufweist:
eine Verstärkereinrichtung (104) zum Empfangen der La dungen und zum Umwandeln der Ladungen in analoge Span nungen;
eine Digitalisiereinrichtung (106) zum Digitalisieren der analogen Spannungen; und
eine Speichereinrichtung (118) zum Speichern der digi talisierten Spannungen.
eine Verstärkereinrichtung (104) zum Empfangen der La dungen und zum Umwandeln der Ladungen in analoge Span nungen;
eine Digitalisiereinrichtung (106) zum Digitalisieren der analogen Spannungen; und
eine Speichereinrichtung (118) zum Speichern der digi talisierten Spannungen.
3. Bildaufnahmesystem (100) gemäß Anspruch 2, das ferner
folgendes Merkmal aufweist:
eine Steuereinrichtung (108) zum Koordinieren und Steu ern des Sensors (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauele ment, der Digitalisiereinrichtung (106) und der Spei chereinrichtung (118).
eine Steuereinrichtung (108) zum Koordinieren und Steu ern des Sensors (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauele ment, der Digitalisiereinrichtung (106) und der Spei chereinrichtung (118).
4. Bildaufnahmesystem (100) gemäß Anspruch 3, bei dem die
Belichtungszeit hinsichtlich einer Anzahl von Bildpunkt
verschiebungen, die durch den Sensor (102) mit Ladungs
gekoppeltem Bauelement durchgeführt werden sollen, be
rechnet wird, und bei dem die Kalibrierungseinrichtung
(114) folgende Merkmale aufweist:
ein erstes Register (302), das konfiguriert ist, um ei nen Endbildpunkt-Wert für den Sensor (102) mit Ladungs gekoppeltem Bauteil zu speichern, wobei der Endbild punkt-Wert eine gewünschte Belichtungszeit darstellt;
ein zweites Register (304), das konfiguriert ist, um ei nen Momentanbildpunkt-Wert für den Sensor (102) mit La dungs-gekoppeltem Bauteil zu speichern, wobei der Momen tanbildpunkt-Wert eine verstrichene Belichtungszeit dar stellt; und
eine Komparatoreinrichtung (306) zum Vergleichen des Endbildpunkt-Werts mit dem Momentanbildpunkt-Wert und zum Initiieren einer Ende-der-Linie-Sequenz, wobei die Ende-der-Linie-Sequenz die Belichtung des Sensors 102 mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil beendet.
ein erstes Register (302), das konfiguriert ist, um ei nen Endbildpunkt-Wert für den Sensor (102) mit Ladungs gekoppeltem Bauteil zu speichern, wobei der Endbild punkt-Wert eine gewünschte Belichtungszeit darstellt;
ein zweites Register (304), das konfiguriert ist, um ei nen Momentanbildpunkt-Wert für den Sensor (102) mit La dungs-gekoppeltem Bauteil zu speichern, wobei der Momen tanbildpunkt-Wert eine verstrichene Belichtungszeit dar stellt; und
eine Komparatoreinrichtung (306) zum Vergleichen des Endbildpunkt-Werts mit dem Momentanbildpunkt-Wert und zum Initiieren einer Ende-der-Linie-Sequenz, wobei die Ende-der-Linie-Sequenz die Belichtung des Sensors 102 mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil beendet.
5. Bildaufnahmesystem (100) gemäß Anspruch 1, bei dem der
Sensor (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil ein Array
(202) von N photoelektrischen Fühlern (204) und ein ana
loges Schieberegister (205, 206) umfaßt, wobei jeder der
N photoelektrischen Fühler (204) konfiguriert ist, um
Licht von einem Bild zu empfangen und eine elektrische
Ladung zu erzeugen, die einer Intensität des empfangenen
Lichtes entspricht, wobei das Array von photoelek
trischen Fühlern (204) konfiguriert ist, um die elek
trischen Ladungen als Reaktion auf ein Übertragungssi
gnal zu den analogen Schieberegistern (205, 206) zu
übertragen, wobei die analogen Schieberegister (205,
206) konfiguriert sind, um eine der elektrischen Ladun
gen als Reaktion auf ein Taktsignal sequentiell aus dem
Ladungs-gekoppelten Bauteil (102) zu schieben, wobei das
Bildaufnahmesystem folgende Merkmale umfaßt:
eine Verstärkereinrichtung (104) zum Empfangen einer elektrischen Ladung von dem analogen Schieberegister (205, 206) und zum Erzeugen einer analogen Spannung, die derselben entspricht;
eine Umwandlungseinrichtung (106) zum Empfangen einer analogen Spannung von der Verstärkereinrichtung und zum Digitalisieren der analogen Spannung, um eine digitali sierte Spannung zu erzeugen;
eine Speichereinrichtung (118) zum Speichern der digita lisierten Spannung; und
eine Steuereinrichtung (114) zum Erzeugen von M Taktsi gnalen, zum Liefern der M Taktsignale zu dem analogen Schieberegister, und zum Erzeugen des Übertragungssig nals an einem Ende der M Taktzyklen, wobei M größer als N und wobei eine Differenz zwischen M und N gleich einer erhöhten Belichtungszeitdauer für die photoelektrischen Fühler des Sensors mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil ist.
eine Verstärkereinrichtung (104) zum Empfangen einer elektrischen Ladung von dem analogen Schieberegister (205, 206) und zum Erzeugen einer analogen Spannung, die derselben entspricht;
eine Umwandlungseinrichtung (106) zum Empfangen einer analogen Spannung von der Verstärkereinrichtung und zum Digitalisieren der analogen Spannung, um eine digitali sierte Spannung zu erzeugen;
eine Speichereinrichtung (118) zum Speichern der digita lisierten Spannung; und
eine Steuereinrichtung (114) zum Erzeugen von M Taktsi gnalen, zum Liefern der M Taktsignale zu dem analogen Schieberegister, und zum Erzeugen des Übertragungssig nals an einem Ende der M Taktzyklen, wobei M größer als N und wobei eine Differenz zwischen M und N gleich einer erhöhten Belichtungszeitdauer für die photoelektrischen Fühler des Sensors mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil ist.
6. Verfahren zum Digitalisieren und Speichern einer Abbil
dung unter Verwendung eines Bildaufnahmesystems (100)
gemäß Anspruch 1, das folgende Schritte aufweist:
- a) Belichten des Sensors (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil mit Licht von einem Referenzbild;
- b) Bestimmen einer Ladung, die von dem Sensor (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil erzeugt wird;
- c) Vergleichen der Ladung, die von dem Sensor (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil erzeugt wird, mit einem gewünschten Ladungswert; und
- d) Einstellen einer Belichtungszeit des Sensors (102) mit Ladungs-gekoppeltem Bauteil, um den gewünschten Ladungswert zu erhalten, wobei das Einstellen der Belichtungszeit gleich der kalibrierten Belichtungszeit die gewünschte Ladung erzeugt;
- e) Aussetzen des Arrays der Abbildung für die kali brierte Belichtungszeit, um eine digitale Darstel lung einer Linie der Abbildung zu erzeugen;
- f) Speichern der digitalen Darstellung der Linie in einem Speicher (118); und
- g) Wiederholen der Schritte (b) und (c), bis die Ab bildung digitalisiert und gespeichert worden ist.
7. Verfahren gemäß Anspruch 6, bei dem die Schritte (e) und
- f) folgende Schritte aufweisen:
- 1) Belichten des Arrays (202) mit Licht von dem Bild;
- 2) Übertragen von Ladungen von dem Array (202) in ent sprechende Zellen eines analogen Schieberegisters (205, 206);
- 3) serielles Schieben einer ersten Ladung aus dem Schieberegister (205, 206) als Reaktion auf ein Schiebesignal;
- 4) Umwandeln der ersten Ladung in eine Spannung;
- 5) Digitalisieren der Spannung;
- 6) Speichern der digitalisierten Spannung in einem Speicher (118);
- 7) Wiederholen der Schritte (3) bis (6), bis die Ladun gen aus dem analogen Schieberegister (205, 206) ge schoben wurden und in dem Speicher (118) gespeichert sind;
- 8) serielles Verschieben des Schieberegisters (205, 206) während einer zusätzlichen Anzahl von Taktzy klen, wobei das Verschieben die Belichtungszeit des Arrays verlängert; und
- 9) Wiederholen des Schritts (8), bis die kalibrierte Belichtungszeit verstrichen ist.
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- 1995-01-31 JP JP7013349A patent/JPH07264369A/ja active Pending
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: HEWLETT-PACKARD CO. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE), |
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8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT CO., L.P., HOUSTON, TE |
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