DE4339543A1 - Verfahren zum Prüfen von Münzen - Google Patents
Verfahren zum Prüfen von MünzenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Prüfen
von Münzen nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Bei Münzprüfern, die induktive Sonden oder andere Meßson
den enthalten, wird zumeist ein Analogsignal erzeugt, wenn
eine Münze an der Meßsonde vorbeiläuft. In der Regel star
tet das Analogsignal von einem Leerlaufsignal aus, das im
Leerlaufbetrieb am Ausgang der Meßsonde ansteht und die
Amplitude Null haben kann. Beim Eintritt der Münze in den
Meßbereich der Sonde beginnt das Meßsignal allmählich an
zusteigen oder abzufallen bis auf ein Maximum bzw. Minimum,
um dann wieder abzufallen bzw. anzusteigen bis auf das
Niveau des Leerlaufsignals. Bei bestimmten Münzen, bei
spielsweise solchen mit Durchbohrungen, kann auch gesche
hen, daß zwei Maxima bzw. Minima auftreten. Es ist bekannt,
zur Identifizierung von Münzen das Maximum bzw. das Mini
mum einer Kurve auszuwerten, zum Beispiel ob es innerhalb
eines Referenzbandes liegt. Das Referenzband wird von zwei
Referenzwerten mit unterschiedlichem Niveau gebildet.
Bei manchen Münztypen ist die Aussage über das Maximum
bzw. das Minimum unter Umständen nicht deutlich genug, um
eine Diskriminierung gegenüber anderen Münzen bzw. gegen
über Falschgeld vorzunehmen. Es kann sehr wohl sein, daß
die Maxima zu vergleichender Scheiben oder Münzen annä
hernd gleich sind, der Verlauf des Meßsignals jedoch deut
lich unterschiedlich ist. Es sind sogenannte Bicolormünzen
bekannt, die aus einem Kern und einem den Kern umgebenden
Ring bestehen, welche aus verschiedenem Material zusammen
gesetzt sind. Dadurch ergibt sich ein Kurvenverlauf mit
einem spitzenförmigen Maximumbereich, der deutlich vom
übrigen Kurvenverlauf abweicht.
Aus der DE 26 54 472 ist ein Verfahren zum Münzprüfen be
kanntgeworden, bei dem die Amplitudenwerte der Meßsignal
kurve über die Zeit integriert werden. Mit anderen Worten,
es wird das Zeitintegral zwischen Einschalt- und Aus
schaltsignal ermittelt und mit einer vorgegebenen Fläche
verglichen. Es hat sich jedoch gezeigt, daß die Flächen
unterschiede zu Falschmünzen oft zu gering sind, insbeson
dere bei sogenannten Bicolormünzen, um eine treffende Aus
sage zuzulassen.
Aus der EP 300 781 ist ferner bekannt, das zeitliche Ab
klingen einer Meßkurve zu ermitteln und einen vorgegebenen
Abfall über eine bestimmte Zeit mit einer Referenzzeit in
Beziehung zu setzen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
zum Prüfen von Münzen mit Hilfe von mindestens einer, vor
zugsweise induktiven, Meßsonde anzugeben, mit dem Meßsig
nalkurven besser diskriminiert werden können.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch die Merk
male des Patentanspruchs 1.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren werden zwei Meßpunkte,
zwischen denen das Zeitintegral gebildet wird, zwischen
Ein- und Ausschaltpunkt gelegt, vorzugsweise in deutlichem
Abstand zu diesen. Mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfah
rens können die Punkte so gelegt werden, daß sie den für
eine bestimmte Münze besonders charakteristischen Bereich
eingrenzen, in dem der Verlauf der Meßkurve sich deutlich
von anderen Meßkurven unterscheidet, ohne daß ein besonde
rer Unterschied hinsichtlich der Maxima oder Minima vor
handen sein muß. Bei der Auslegung eines Münzprüfers zur
Diskriminierung einer Münze wird naturgemäß zunächst ein
mal ein Meßsignalverlauf für die Münze ermittelt, bei
spielsweise im sogenannten Test- oder Kalibrierverfahren.
Anhand des Kurvenbildes kann u. a. auch ermittelt werden,
an welchen Stellen die Meßpunkte zweckmäßigerweise gelegt
werden. Im Speicher des Mikroprozessors des elektronischen
Münzprüfers wird dann die Fläche eines Soll-Zeitintegrals,
also der Flächenwert unter dem Kurvenabschnitt zwischen
den Meßpunkten für die "Soll- oder Idealmünze" gespeichert,
das dann mit den gemessenen Zeitintegralen verglichen wird.
Bei einer signifikanten Abweichung wird ein Falschgeldsig
nal erzeugt und die eingeworfene Münze abgewiesen.
Nach einer Ausgestaltung der Erfindung werden die Meß
punkte durch vorgegebene Amplitudenwerte festgelegt. Sie
können jedoch nach einer alternativen Ausgestaltung der
Erfindung auch durch einen zeitlichen Abstand zum Ein
schaltsignal festgelegt werden. Die Ermittlung des Zeit
integrals beginnt dann entweder mit dem Erreichen eines
bestimmten Pegels bezüglich der Meßsignalkurve oder nach
einer vorgegebenen Zeit nach der Erzeugung des Einschalt
signals.
Üblicherweise ist der Meßsignalverlauf eine Kurve mit min
destens einem ansteigenden und einem abfallenden Ast sowie
mindestens einem Maximum bzw. einem Minimum dazwischen.
Die Meßpunkte können jeweils einer auf dem ansteigenden
und der andere auf dem abfallenden Ast angeordnet werden.
Alternativ können sie auch beide auf einem ansteigenden
oder einem abfallenden Ast liegen. Im letzteren Fall kann
zusätzlich die Steigung zwischen den Meßpunkten ermittelt
werden, um ein weiteres Diskriminierungskriterium für die
Falschgeldtrennung zu erhalten. Entscheidend ist, daß die
beiden Meßpunkte beliebig gewählt werden und ein vonein
ander verschiedenes Niveau haben können.
Die Erfindung soll nachfolgend anhand von Zeichnungen
näher beschrieben werden.
Fig. 1 zeigt ein Diagramm mit zwei Signalverläufen einer
Meßsonde für einen Münzprüfer.
Fig. 2 zeigt eine ähnliche Darstellung wie Fig. 1, jedoch
mit einem anderen Kurvenverlauf.
Fig. 3 zeigt eine Meßsignalkurve einer Münzprüfersonde,
bei der das Zeitintegral ermittelt wird.
Fig. 4 zeigt die Kurve nach Fig. 3 zur Bestimmung der
Steigung eines Kurvenabschnitts.
In Fig. 1 sind zwei Kurven A und B dargestellt in einem
Diagramm, bei dem die Amplitude in Abhängigkeit von der
Zeit t aufgetragen ist. Die Kurven geben das analoge Aus
gangs- oder Meßsignal einer Prüfsonde eines Münzprüfers
wieder, beispielsweise eines induktiven Sensors. Üblicher
weise werden die analogen Signale digitalisiert, wobei die
Amplituden in einem Zeitraster gemessen werden. In Fig. 1
beträgt das Maximum M1 beispielsweise bei 150 Steps.
Die Kurve A stellt ein typisches Ausgangssignal dar für
eine Münze aus einem einheitlichen Material, wenn sie ent
lang der Prüfsonde vorbeiläuft. Die Kurve B stellt ein
typisches Signal für eine sogenannte Bicolormünze dar, die
aus einem Kern und aus einem den Kern umgebenden Ring be
steht, welche aus unterschiedlichem Material gefertigt
sind. Die Kurve B hat das gleiche Niveau mit 150 Steps wie
das Maximum der Kurve A, jedoch einen typisch anderen
Verlauf, insbesondere in einem Bereich oberhalb eines be
stimmten Pegels.
In Fig. 2 sind zwei Kurven C und D dargestellt, die eben
falls ein gleiches Maximum M2 haben, sich jedoch durch
unterschiedliche Flanken unterscheiden.
Durch Abtastung des Signalverlaufs der gezeigten Kurven
oder durch einen besonderen Sensor wird ein Einschaltsignal
von einer in den Prüfbereich eintauchenden Münze erzeugt.
Damit wird die Prüfung initialisiert. Das Einschaltsignal
ist vorzugsweise sehr nahe dem sogenannten Leerlaufsignal,
das beispielsweise einen Pegel Null oder einen sehr gerin
gen Pegel aufweist, jedoch deutlich von diesem verschieden
ist, um Störeinflüsse auszuschalten. Umgekehrt wird ein
Ausschaltsignal erzeugt, wenn das eigentliche Meßsignal
abgeklungen und nahezu das Niveau des Leerlaufs erreicht
hat. Der zeitliche Abstand zwischen Einschalt- und Aus
schaltsignal dann ebenfalls als Kriterium für die Echtheit
einer Münze herangezogen werden, insbesondere bei Inbezug
nahme auf die anderen Werte, beispielsweise die Lage des
Maximums M1, M2. Mit dem Einschaltsignal beginnt ein Zeit
geber, getaktete Impulse zu erzeugen, so daß ein Zeitra
ster gebildet ist. Es versteht sich, daß der Impulsabstand
beliebig gewählt werden kann. Mit Hilfe des Zeitrasters
kann nunmehr ein Zeitintegral für die Kurven A und B er
mittelt werden. Dies geschieht durch die Messung der
Amplituden der Kurven im Zeitraster und anschließender
Addition sämtlicher Amplituden. Das Zeitintegral ist na
turgemäß ebenfalls ein Charakteristikum für die das Signal
erzeugende Münze und kann mit einem gespeicherten Flächen
wert in Vergleich gesetzt werden, um die Echtheit einer
Münze zu bestimmen. Bei dem in Fig. 1 gezeigten Beispiel
erfolgt die Bestimmung des Zeitintegrals bei einem Niveau
P1, was dem Punkt 10 auf der Kurve A und dem Punkt 12 auf
der Kurve B, jeweils auf dem ansteigenden Ast, entspricht.
Beim abfallenden Ast entspricht dies den Punkten 14 bzw.
16. Wie erkennbar, sind die Zeitintegrale unter den Kurven
A und B bei dem Niveau P1 deutlich unterschiedlich. Es
läßt sich daher eine sichere Diskriminierung zwischen den
Kurven A und B vornehmen.
Es kann Fig. 1 entnommen werden, daß die Festsetzung der
Punkte 10 bis 16 auch dadurch stattfinden kann, daß ein
vorgegebener Zeitabstand zum Einschaltsignal te gewählt
wird, ab welchem das Zeitintegral ermittelt wird.
Die Ermittlung des Zeitintegrals ist anhand Fig. 3 veran
schaulicht. Die dort gezeichnete Meßsignalkurve E wird in
üblicher Weise digitalisiert, wobei die einzelnen Schritte
einem zeitlichen Raster zugeordnet sind. Eine Aufaddition
der einzelnen Flächenelemente für die Kurve E wird nur in
dem Bereich zwischen den Punkten 20 und 22 vorgenommen,
wobei die Zeitschritte mit den Ziffern 1 bis 11 bezeichnet
sind. Wie erkennbar, liegen die Punkte 20 und 22 auf un
terschiedlichen Niveaus, nämlich den Pegeln P2 bzw. P3.
Bei unterschiedlichem Niveau der Pegel P2 und P3 ist fer
ner wesentlich, daß der Mikroprozessor "weiß", ob sich der
Pegel auf dem ansteigenden oder dem abfallenden Ast der
Kurve E befindet. Dies läßt sich jedoch bei der Digitali
sierung ohne weiteres feststellen, da bei einem ansteigen
den Ast die Digitalwerte von einem zum nächsten zunehmen
und beim abfallenden Ast entsprechend abnehmen. Die Fläche
F des Zeitintegrals von der Zeit zum Schritt 1 bis zum
Schritt 11 ist ein Charakteristikum für die Kurve E und
damit für die Münze, welche die Kurve erzeugt. In einem
Speicher des Mikroprozessors kann ein entsprechender Re
ferenzwert abgespeichert sein, so daß die Echtheit einer
Münze nur betätigt wird, wenn das gemessene Zeitintegral
mit dem vorgegebenen annähernd übereinstimmt.
Wie in Fig. 2 zu erkennen, sind dort auch unterschiedliche
Niveaus für die Meßpunkte an den Kurven C und D gewählt,
nämlich die Niveaus P4 und P5. Man erkennt, daß das Zeit
integral für die Niveaus P4 und P5 für die Kurven C und D
deutlich unterschiedlich ist.
Bei der Festlegung der Niveaus, zwischen denen das Zeit
integral ermittelt wird, ist die spezifische Form einer
Meßsignalkurve maßgebend, d. h. insbesondere der Bereich
einer Kurve, der besonders signifikant für eine bestimmte
Münze ist, insbesondere der dem Maximum bzw. dem Minimum
benachbarte Bereich. Dies ist beispielsweise bei der Kurve
B nach Fig. 1 der Bereich, der zwischen den Punkten 12 und
16 liegt. Im übrigen können die Meßpunkte beliebig gewählt
werden, was durch entsprechende Programmierung der Mikro
prozessoren der Münzprüfer geschieht.
Wie in Fig. 4 dargestellt, können die Meßpunkte 24, 26
auch im ansteigenden Ast einer Kurve K liegen bzw. am ab
steigenden Ast. Die Niveaus der Punkte 24, 26 sind mit P6
und P7 bezeichnet. Zusätzlich zu dem Zeitintegral zwischen
den Punkten 24 und 26 läßt sich auch die Steigung zwischen
diesen Punkten 24, 26 ermitteln. Die Steigung S ist dann
P7-P6 geteilt durch t26-t24 mal einem konstanten Fak
tor. Die Steigung ist ebenfalls ein Charakteristikum einer
Meßsignalkurve und kann zusätzlich für die Auswertung
eines Meßsignals herangezogen werden.
Wie aus den Darstellungen erkennbar, liegen die Punkte,
zwischen denen das Zeitintegral ermittelt wird, in jedem
Fall auf dem Teil des Kurvenverlaufs, der entsteht, wenn
eine Münze an der Meßsonde vorbeiläuft. Mit anderen Worten,
es wird derjenige Kurvenverlauf ausgewertet, der für die
vorbeilaufende Münze signifikant ist.
Claims (9)
1. Verfahren zum Prüfen von Münzen mit Hilfe von mindestens
einer, vorzugsweise induktiven Meßsonde, an deren Aus
gang beim Vorbeilauf einer Münze ein analoges Meßsignal
erscheint, das digitalisiert und mit mindestens einem
Referenzwert von vorgegebener Amplitude verglichen wird
zur Erzeugung eines Falschgeld- oder Echtheitssignals,
bei dem ferner ein Einschalt- und Ausschaltsignal er
zeugt wird, wenn das Ausgangssignal des Sensors sich
signifikant gegenüber dem Leerlaufsignal ändert bzw.
das Meßsignal sich signifikant dem Leerlaufsignal
nähert, wobei der Zeitablauf zwischen Ein- und Aus
schaltsignal gemessen wird, bei dem schließlich zwi
schen zeitlich beabstandeten Meßpunkten des Meßsignals
das Zeitintegral gebildet wird und mit einem vorgege
benen Flächenwert verglichen wird, wobei die Meßpunkte
beliebig zwischen dem Ein- und Ausschaltsignal liegen
und von diesen deutlich verschieden sind.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Meßpunkte durch vorgegebene Amplitudenwerte fest
gelegt werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Meßpunkte durch den zeitlichen Abstand zum Ein
schaltsignal festgelegt werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, gekennzeich
net durch seine Anwendung auf analoge Meßsignalver
läufe mit mindestens einem ansteigenden und einem ab
fallenden Ast.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
ein Meßpunkt auf einem ansteigenden und der andere auf
einem abfallenden Ast gelegt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
beide Meßpunkte auf einem ansteigenden oder einem ab
fallenden Ast gelegt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Steigung zwischen den Meßpunkten ermittelt wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Meßpunkte dem Extremwert des Meß
signals benachbart sind.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
die Meßpunkte etwa im mittleren Drittel zwischen Ein- und
Ausschaltsignal liegen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934339543 DE4339543C2 (de) | 1993-11-19 | 1993-11-19 | Verfahren zur Prüfung von Münzen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934339543 DE4339543C2 (de) | 1993-11-19 | 1993-11-19 | Verfahren zur Prüfung von Münzen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4339543A1 true DE4339543A1 (de) | 1995-05-24 |
DE4339543C2 DE4339543C2 (de) | 1998-07-23 |
Family
ID=6503000
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934339543 Expired - Fee Related DE4339543C2 (de) | 1993-11-19 | 1993-11-19 | Verfahren zur Prüfung von Münzen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4339543C2 (de) |
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- 1993-11-19 DE DE19934339543 patent/DE4339543C2/de not_active Expired - Fee Related
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