EP0602474B1 - Verfahren zum Eichen eines Münzprüfers - Google Patents
Verfahren zum Eichen eines Münzprüfers Download PDFInfo
- Publication number
- EP0602474B1 EP0602474B1 EP93119509A EP93119509A EP0602474B1 EP 0602474 B1 EP0602474 B1 EP 0602474B1 EP 93119509 A EP93119509 A EP 93119509A EP 93119509 A EP93119509 A EP 93119509A EP 0602474 B1 EP0602474 B1 EP 0602474B1
- Authority
- EP
- European Patent Office
- Prior art keywords
- coin
- values
- test
- value
- coins
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 20
- 238000010200 validation analysis Methods 0.000 title claims 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 18
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 12
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims 1
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 15
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 3
- 239000000370 acceptor Substances 0.000 description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012067 mathematical method Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D2205/00—Coin testing devices
- G07D2205/001—Reconfiguration of coin testing devices
- G07D2205/0011—Reconfiguration of coin testing devices by downloading test parameters, e.g. remotely
Definitions
- the invention relates to a method for calibrating a coin validator.
- a coin validator has the task of examining inserted coins for properties which the coins to be accepted should have.
- the properties include, for example, the material, the dimensions such as thickness and diameter, the transmission for light, the formation of the embossed edge and image, the weight, the hardness, etc.
- the materials are typically tested using inductive coils, the field of which corresponds to the material the coin interacts. This makes it a typical one Get damping in the inductive sensors, the extent of which contains a statement about the material or the material composition.
- Known electronic coin validators are able to check a number of different coin values. They have a microprocessor with a programmable memory for recording reference values to be compared with the measured values. In order to meet tolerances, it is customary to provide an upper and a lower reference value for each coin type, whereby a so-called acceptance band is formed. Before a coin validator reaches the user, the reference values must be saved in accordance with the coin set to be checked. Although it is conceivable to calculate the reference values mathematically, it has been shown in practice that this method is not acceptable. The mechanical or electrical properties of a coin validator are subject to more or less strong, mostly manufacturing-related fluctuations, which find their way into the measuring signals emitted by the measuring probe. It is therefore necessary to determine and program the reference values device-specifically.
- the known method requires fewer test coins or disks, it does not do without a minimum of coins or disks.
- a further disadvantage is that the reference values are read into the memory during the test phase.
- coin validators it is usually not yet known for which currencies and, accordingly, for which coins they are used. It is therefore left to a later manufacturing step to calibrate the device in the manner described when the set of coins to be accepted has become known to a currency.
- the invention is therefore based on the object of specifying a method for calibrating a coin validator which further simplifies the calibration procedure.
- the invention uses a test coin or caliber disc different from the coin to be accepted. It is checked in the coin checking section of a coin acceptor to be verified.
- the parameter value obtained from the measurement signal of the caliber disc is entered directly into the programmable memory of the coin validator. With several caliber disks, several parameter values are generated accordingly. This process can take place, for example, as the last stage in production. As will be shown later, the insertion of a single caliber disc may be sufficient to generate a parameter value. This process step is applied regardless of which coin types are to be checked later, for all produced coin validators.
- the coin validators are standardized in this way with a view to later adjustment.
- the coin validator can be calibrated.
- the parameter value is transferred to a computer, which uses the parameter value from a correlation function to determine at least one reference value for a coin. It goes without saying that there is at least one correlation function for each coin type to be checked must be present. If an acceptance band is specified, correlation functions are formed for the lower and upper band limits.
- the correlation function which is stored in an external memory, for example of the computer, is determined from the relation of the size of a set of parameter values and the size of a set of measured values of at least one standard coin for at least one coin type, the values being checked by multiple checks in the coin checking section Majority of coin acceptors can be won.
- coin tests are carried out in a number of coin validators.
- a correlation function is calculated mathematically by comparing the measured values for caliber disks and standard coins. This is done according to the invention in that it is determined from mean values which are formed from the measured values for the individual coin validators when the test and standard coins are checked several times.
- the correlation function can be mathematically formed using a so-called Taylor series.
- a correlation function can therefore be determined for each coin type for a specific type of caliber disk.
- the correlation functions can be stored in a database. If a specific coin validator is now to be verified, the parameter value stored in its memory is transferred to a computer.
- the computer searches the associated correlation function from the database after having entered the type of coin for which the calibration is to be carried out. Since, as already mentioned, not a single reference value is used, but rather a so-called reference or acceptance band, it can also be specified whether the acceptance band is wide or narrow should.
- the computer calculates the upper and lower limit of the reference band and then transfers these reference values into the programmable memory of the coin validator. The calibration is now complete.
- determining the correlation function requires a certain amount of effort. As described, a large amount of data can be determined from a large number of coin validators and with the help of caliber disks and test coins, from which the function can then be determined by mathematical approximations. However, this effort is not higher than with the conventional method, because standard parameter values and standard reference values are also required for this. These standard values can also only be determined by taking a large number of measurements with a plurality of devices in order to determine the standard values statistically.
- the calibration method according to the invention can therefore be carried out in the shortest possible time. It is also advantageous that the calibration process does not necessarily have to be part of the manufacturing process, but can be carried out at any later time and also at another location.
- an individual value is considered an outlier if it shows a deviation from the median that is on average less than every twenty-fifth throw-in occurs.
- the numbers X and Y are now also used for lower throw-in numbers, e.g. 5.
- the Taylor series for the correlation function is calculated from the comparison of the mean values, using the mathematical method of the so-called minimal quadratic deviation.
- a function that calculates the reference values from the mean values of the caliber discs This function should also determine the measured reference values (using standard coins) as precisely as possible.
- FKal a somewhat different value FKal will result from the function of the caliber values for the measured reference value YMü: YMü - FKal not equal to zero
- the method of minimal square deviation now tries to adapt YMü and FKal as precisely as possible, in such a way that the square of YMü - FKal, which is available for each of the 50 devices and is summed over all 50 devices, is made as small as possible.
- the condition described cannot be used alone to determine the correlation function.
- the Taylor series represents the function you are looking for When determining the Taylor series, the parameters that describe the dependence of the function on certain powers of the caliber disc values must be specified. In principle, the number of these parameters is infinite, and the approximation is to allow only a few of them to be non-zero. Which of these is to be decided for each coin and each measured value.
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
Description
- Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Eichen eines Münzprüfers.
- Ein Münzprüfer hat bekanntlich die Aufgabe, eingeworfene Münzen auf Eigenschaften zu untersuchen, welche die zu akzeptierenden Münzen aufweisen sollen. Zu den Eigenschaften gehören zum Beispiel der Werkstoff, die Abmessungen wie Dicke und Durchmesser, die Transmission für Licht, die Ausbildung des Prägerandes und -bildes, das Gewicht, die Härte usw. Die Werkstoffe werden typischerweise mit induktiven Spulen geprüft, deren Feld mit dem Material der Münze in Wechselwirkung tritt. Dadurch wird eine typische Dämpfung in den induktiven Sensoren erhalten, deren Ausmaß eine Aussage über den Werkstoff bzw. die Werkstoffzusammensetzung enthält.
- Bekannte elektronische Münzprüfer sind in der Lage, eine Reihe unterschiedlicher Münzwerte zu prüfen. Sie weisen einen Mikroprozessor auf mit einem programmierbaren Speicher zur Aufnahme von mit den Meßwerten zu vergleichenden Referenzwerten. Um Toleranzen zu begegnen, ist es üblich, einen oberen und einen unteren Referenzwert pro Münzsorte vorzusehen, wodurch ein sogenanntes Annahmeband gebildet ist. Bevor ein Münzprüfer zum Anwender gelangt, müssen die Referenzwerte nach Maßgabe des zu prüfenden Münzsatzes eingespeichert werden. Es ist zwar denkbar, die Referenzwerte mathematisch zu errechnen, es zeigt sich indessen in der Praxis, daß dieses Verfahren nicht annehmbar ist. Die mechanischen oder elektrischen Eigenschaften eines Münzprüfers unterliegen mehr oder weniger starken, zumeist herstellungsbedingten Schwankungen, welche in die von der Meßsonde abgegebenen Meßsignale Eingang finden. Es ist daher notwendig, die Referenzwerte gerätespezifisch zu ermitteln und zu programmieren.
- Es ist bekannt, ein Eichverfahren mit Hilfe von sogenannten Testmünzen durchzuführen. Ausgewählte echte Münzen, deren zu prüfende Eigenschaften in gewünschter Verteilung innerhalb des Annahmebandes liegen, werden in das zu eichende Gerät eingeworfen. Mit Hilfe der gewonnenen Meßsignale erfolgt die Ermittlung und Einspeicherung der Referenzwerte. Da sich Testmünzen mit der Zeit abnutzen, müssen immer wieder neue herangezogen werden. Dies erweist sich als umständlich und schwierig. Es ist auch bekannt, anstelle von Testmünzen sogenannte Token oder Testscheiben zu verwenden, die analoge physikalische Eigenschaften aufweisen und die eigens zu Testzwecken hergestellt werden. Die Verfahren zur Herstellung von Token sind jedoch ebenfalls verhältnismäßig aufwendig.
- Aus der EP 0 072 189 ist ein Verfahren zum Eichen von Münzprüfern bekanntgeworden, bei dem für einen Münzsatz einer bestimmten Währung nur zwei Token verwendet werden, um daraus Parametersignale zu gewinnen. Die Parametersignale charakterisieren die Koordinaten eines Meßpunkts (Winkel und Länge eines Zeigers im Zeigerdiagramm für elektromagnetisches Verhalten). Die Parametersignale sind ein Indikator für das gerätespezifische mechanische und elektrische Verhalten des Münzprüfers beim Durchlauf von Münzen, unabhängig vom Münzwert. Aus den Parametersignalen werden Eichfaktoren berechnet, die auf Standardreferenzwerte angewendet werden. Mit Hilfe eines geeigneten Algorhithmus werden die Standardreferenzwerte entsprechend dem Eichfaktor umgerechnet zur Ermittlung der gerätespezifischen Referenzwerte. Diese werden dann anschließend in den programmierbaren Speicher des Münzprüfers geladen.
- Das bekannte Verfahren benötigt zwar weniger Testmünzen oder -scheiben, kommt jedoch nicht ohne ein Minimum von Münzen oder Scheiben aus. Als nachteilig erweist sich ferner, daß die Referenzwerte während der Testphase in den Speicher eingelesen werden. Bei der Produktion von Münzprüfern ist zumeist noch nicht bekannt, für welche Währungen und dementsprechend für welche Münzen sie eingesetzt werden. Es bleibt daher einem späteren Herstellungsschritt überlassen, in der beschriebenen Art und Weise die Eichung des Gerätes vorzunehmen, wenn der anzunehmende Münzsatz einer Währung bekanntgeworden ist.
- Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Eichen eines Münzprüfers anzugeben, das die Eichprozedur weiter vereinfacht.
- Diese Aufgabe wird gelöst durch die Merkmale des Patentanspruchs 1.
- Wie beim zuletzt beschriebenen bekannten Verfahren verwendet die Erfindung eine von der zu akzeptierenden Münze unterschiedliche Testmünze bzw. Kaliberscheibe. Sie wird im Münzprüfabschnitt eines zu eichenden Münzprüfers geprüft. Im Gegensatz zum bekannten Verfahren wird indessen der aus dem Meßsignal der Kaliberscheibe gewonnene Parameterwert unmittelbar in den programmierbaren Speicher des Münzprüfers eingegeben. Bei mehreren Kaliberscheiben werden entsprechend mehrere Parameterwerte erzeugt. Dieser Vorgang kann als zum Beispiel letzte Stufe einer Fertigung ablaufen. Wie später noch zu zeigen sein wird, ist unter Umständen der Einwurf einer einzigen Kaliberscheibe ausreichend, um einen Parameterwert zu erzeugen. Dieser Verfahrensschritt wird unabhängig davon angewendet, welche Münzsorten später geprüft werden sollen, und zwar für alle produzierten Münzprüfer. Die Münzprüfer sind auf diese Weise im Hinblick auf eine spätere Justage normiert.
- Ist der Münzsatz, der später mit dem Münzprüfer geprüft werden soll, bekannt, kann die Eichung des Münzprüfers vorgenommen werden. Zu diesem Zweck wird der Parameterwert in einen Rechner übertragen, der mit dem Parameterwert aus einer Korrelationsfunktion mindestens einen Referenzwert für eine Münze bestimmt. Es versteht sich, daß pro zu prüfender Münzsorte mindestens eine Korrelationsfunktion vorhanden sein muß. Wird ein Annahmeband vorgegeben, werden für die untere und obere Bandgrenze Korrelationsfunktionen gebildet.
- Die Korrelationsfunktion, die in einem externen Speicher, beispielsweise des Rechners, gespeichert ist, wird bestimmt aus der Relation der Größe einer Menge von Parameterwerten und der Größe einer Menge von Meßwerten mindestens einer Normmünze für mindestens eine Münzsorte, wobei die Werte durch Mehrfachprüfung im Münzprüfabschnitt einer Mehrzahl von Münzprüfern gewonnen werden. Mit Hilfe einer Anzahl von gleichen, nur durch bestimmte Herstellungstoleranzen voneinander abweichende Kaliberscheiben und einer Anzahl von Normmünzen, die statistisch den Normwerten für eine Münze entsprechen, werden Münzprüfungen in einer Reihe von Münzprüfern durchgeführt. Aufgrund unterschiedlichen Verhaltens der Kaliberscheiben und der Normenmünzen, vor allen Dingen jedoch aufgrund unterschiedlicher Toleranzen in den einzelnen Münzprüfern werden die Meßergebnisse für die Kaliberscheiben einerseits und die Normmünzen andererseits mehr oder weniger starke Abweichungen von einem Mittelwert aufweisen. In jedem Fall läßt sich eine Abhängigkeit zwischen den Werten für die Kaliberscheiben einerseits und die Normmünzen andererseits feststellen, d.h. wenn die Größe eines Parameterwerts um einen bestimmten Betrag von einem Mittelwert abweicht, wird sich eine entsprechende Änderung bei einer Normmünze einstellen. Durch eine Gegenüberstellung der gemessenen Werte für Kaliberscheiben und Normmünzen wird mathematisch eine Korrelationsfunktion errechnet. Dies geschieht nach der Erfindung dadurch, daß sie aus Mittelwerten bestimmt wird, die aus den Meßwerten für die einzelnen Münzprüfer bei Mehrfachprüfung der Test- und Normmünzen gebildet werden. Mathematisch kann die Korrelationsfunktion mit Hilfe einer sogenannten Taylorreihe gebildet werden.
- In der beschriebenen Art und Weise kann daher für jede Münzsorte für eine bestimmte Sorte von Kaliberscheiben eine Korrelationsfunktion bestimmt werden. Die Korrelationsfunktionen können in einer Datenbank gespeichert werden. Soll nun ein bestimmter Münzprüfer geeicht werden, wird der in seinem Speicher gespeicherte Parameterwert in einen Rechner übertragen. Der Rechner sucht die zugehörige Korrelationsfunktion aus der Datenbank heraus, nachdem eingegeben worden ist, für welche Münzsorte die Eichung vorgenommen werden soll. Da, wie bereits erwähnt, nicht ein einzelner Referenzwert herangezogen wird, sondern ein sogenanntes Referenz- oder Annahmeband, kann ferner vorgegeben werden, ob das Annahmeband breit oder schmal sein soll. Mit Hilfe der für die Münzsorte typischen Korrelationsfunktion und den weiteren Angaben für die Bandbreite und dergleichen errechnet der Rechner die obere und untere Grenze des Referenzbandes und überspielt diese Referenzwerte dann in den programmierbaren Speicher des Münzprüfers. Damit ist die Eichung beendet.
- Die Ermittlung der Korrelationsfunktion erfordert ersichtlich einen gewissen Aufwand. Wie beschrieben, ist aus einer größeren Reihe von Münzprüfern und mit Hilfe von Kaliberscheiben und von Testmünzen eine Menge von Daten zu ermitteln, aus denen sich dann durch mathematische Näherungen die Funktion bestimmen läßt. Dieser Aufwand ist jedoch nicht höher als bei dem herkömmlichen Verfahren, weil bei diesem auch Standardparameterwerte und Standardbezugswerte benötigt werden. Diese Standardwerte können ebenfalls nur dadurch ermittelt werden, daß eine Vielzahl von Messungen mit einer Mehrzahl von Geräten vorgenommen wird, um die Standardwerte statistisch zu ermitteln.
- Beim erfindungsgemäßen Verfahren sind zur Normierung und Eichung nur wenige Prüfvorgänge (mit Kaliberscheiben) durchzuführen. Mit unter Umständen nur einem Parameterwert läßt sich eine Vielzahl von Bezugswerten errechnen, wenn die entsprechenden Korrelationsfunktionen bekannt sind.
- Das erfindungsgemäße Eichverfahren läßt sich daher in kürzester Zeit durchführen. Vorteilhaft ist ferner, daß der Eichvorgang nicht notwendigerweise Bestandteil des Fertigungsverfahrens sein muß, sondern zu einem beliebig späteren Zeitpunkt und auch an einem anderen Ort durchgeführt werden kann.
- Nachstehend wird ein Beispiel für die Bestimmung einer Korrelationsfunktion gegeben. Es werden jeweils 10 Exemplare einer Kalibersorte und einer Münzsorte eines ausgemessenen Grenzmünzensatzes in 50 ausgewählten Geräten gemessen, wobei die Einwurfzahl jeder Münze bzw. Scheibe 25 beträgt. Aus den 25 Einzelwerten eines Meßwertes in jedem der 50 Geräte wird ein "Ausreißer"-bereinigter Mittelwert für die Kaliberscheiben und für die Normmünzen bestimmt. Aus den Mittelwerten der Kaliberscheiben für jedes der 10 Exemplare wird wiederum ein Mittelwert gebildet.
- Nach Ordnung von 25 Einzelwerten der Größe nach steht der Medianwert an dreizehnter Stelle. Für jede Münze bzw. Kaliberscheibe läßt sich dann die Abweichung jedes Einzelwertes vom Median bestimmen. Diese Abweichungen werden dann unter alle Münzen einer Sorte des Justage-Münz-Satzes und über alle 50 Geräte sowie analog für alle Exemplare einer Kalibersorte gemittelt. Damit ergibt sich eine Kurve, die angibt, mit welcher Häufigkeit im Mittel eine bestimmte Abweichung vom Median auftritt. Summiert man die mittleren Häufigkeiten - beginnend mit der größen Abweichung eines Einzelwertes vom Median nach unten - nach aufsteigender Größe der Differenz auf bis zu einem bestimmten Wert X, so erhält man die mittlere Häufigkeit, mit der die Einzelwerte vom Median um X oder mehr nach unten abweichen. Analog kann eine Bestimmung vom Median vom Wert Y nach oben oder mehr bestimmt werden. Wird nun die Gesamtsumme auf 25 skaliert, so hat man eine Aussage über die mittlere Häufigkeit der Medianabweichung bei den 25 Einwürfen. Die Werte X und Y werden nun für Meßwerte aller Münzen und Kaliber auf die gleiche Weise festgelegt:
- X:
- Die Häufigkeiten werden von unten so lange summiert, solange die Summe kleiner als 1 ist
- Y:
- Die Häufigkeiten werden von oben summiert, solange die Summe kleiner als 1 ist (Das ist dasselbe als wenn von unten bis zu einem Wert größer oder gleich 24 summiert wird).
- Anders ausgedrückt, ein Einzelwert gilt dann als Ausreißer, wenn er eine Abweichung vom Median zeigt, die im Mittel seltener als jeder fünfundzwanzigste Einwurf auftritt. Die Zahlen X und Y werden nun auch für geringere Einwurfzahlen genommen, zum Beispiel 5.
- Die Taylorreihe für die Korrelationsfunktion wird aus dem Vergleich der Mittelwerte errechnet, und zwar nach der mathematischen Methode der sogenannten minimalen quadratischen Abweichung. Gesucht ist eine Funktion, die die Referenzwerte aus den Mittelwerten der Kaliberscheiben berechnet. Diese Funktion soll auch gemessene Referenzwerte (durch Normmünzen) möglichst genau bestimmen. Im allgemeinen wird sich nun aber zu dem gemessenen Referenzwert YMü ein etwas verschiedener Wert FKal aus der Funktion der Kaliberwerte ergeben:
- Die Methode der minimalen quadratischen Abweichung versucht nun, YMü und FKal möglich genau anzupassen, und zwar so, daß das Quadrat von YMü - FKal, das für jedes der 50 Geräte vorliegt und über alle 50 Geräte summiert ist, möglicht klein zu machen. Die beschriebene Bedingung ist allein nicht brauchbar, um die Korrelationsfunktion zu bestimmen. Die Taylorreihe stellt die gesuchte Funktion näherungsweise dar. Bei der Bestimmung der Taylorreihe müssen die Parameter festgelegt werden, die die Abhängigkeit der Funktion von gewissen Potenzen der Kaliberscheibenwerte beschreiben. Die Anzahl dieser Parameter ist im Prinzip unendlich, und die Näherung besteht darin, nur wenige davon als ungleich Null zuzulassen. Welche dies sind, ist bei jedem Münz- und jedem Meßwert speziell zu entscheiden.
- Es ist klar, daß nicht alle Geräte nur mit einem Exemplar der jeweiligen Kaliberscheibensorte justiert werden können. Durch Toleranzen in der Herstellung, Zusammensetzung usw. kann es auch zu Unterschieden der Meßsignale verschiedener Exemplare einer Kaliberscheibensorte kommen. Mit dem Meßwert der Kaliberscheibe differiert unter Umständen auch der Meßwert für eine Normmünze. Es ist daher notwendig, für die Herstellung von Kaliberscheiben bestimmte Bedingungen einzuhalten, damit die Toleranzen möglichst gering bleiben.
Claims (3)
- Verfahren zum Eichen eines elektronischen Münzprüfers mit folgenden Verfahrensschritten:a) Gewinnung einer Korrelationsfunktion aus der Korrelation von Meßwerten von mindestens einer Testmünze und mindestens einer Normmünze, wobei die Testmünze sich von der Normmünze unterscheidet, indem mit Hilfe dieser Münzen durch Mehrfacheinwurf in einer Mehrzahl von Münzprüfern eine Anzahl von Meßwerten gewonnen wird, aus den Meßwerten der jeweilige Mittelwert für die Test- und die Normmünze pro Münzprüfer gebildet wird und durch Gegenüberstellung der Mittelwerte die Funktion bestimmt wird, welche die Abhängigkeit zwischen den Mittelwerten der Normmünzen einerseits nicht den Mittelwerten der Testmünzen anderseits beschreibt;b) Speichern der Korrelationsfunktion in einem externen Speicher;c) mindestens eine Testmünze wird im Münzprüfabschnitt des Münzprüfers einer Prüfung unterworfen;d) der Meßwert der Testmünze wird in den programmierbaren Speicher des Münzprüfers eingegeben;e) der Meßwert für die Testmünze wird aus dem Speicher des Münzprüfers in einen Rechner übertragen;f) der Rechner errechnet mit dem Meßwert als unabhängiger Variabler mit Hilfe der Korrelationsfunktion einen Bezugswert für eine Münzsorte undg) der errechnete Bezugswert wird als Bezugswert für diese Münzsorte in den programmierbaren Speicher des Münzprüfers eingegeben.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrelationsfunktion mit Hilfe einer Taylorreihe gebildet wird.
- Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Mittelwertbildung diejenigen Meßwerte, die um einen vorgegebenen Betrag von einem Median abweichen, eliminiert werden.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4242639 | 1992-12-17 | ||
DE4242639A DE4242639C2 (de) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | Verfahren zum Eichen eines elektronischen Münzprüfers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
EP0602474A1 EP0602474A1 (de) | 1994-06-22 |
EP0602474B1 true EP0602474B1 (de) | 1997-10-22 |
Family
ID=6475548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EP93119509A Expired - Lifetime EP0602474B1 (de) | 1992-12-17 | 1993-12-03 | Verfahren zum Eichen eines Münzprüfers |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0602474B1 (de) |
DE (2) | DE4242639C2 (de) |
ES (1) | ES2109414T3 (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4171828B2 (ja) * | 1998-07-16 | 2008-10-29 | 旭精工株式会社 | 電子コインセレクタの基準データ作成方法 |
IT1305807B1 (it) * | 1998-11-04 | 2001-05-16 | O T R Srl | Metodo per abilitare le gettoniere elettroniche al riconoscimento dimonete. |
DE20101025U1 (de) | 2001-01-16 | 2001-04-26 | National Rejectors, Inc. Gmbh, 21614 Buxtehude | System zur Programmierung von bereits in Automaten o.dgl. installierten elektronischen Münzprüfern |
US20050061606A1 (en) * | 2003-09-05 | 2005-03-24 | Scott Juds | Method and apparatus for transfering coin/token signature data between coin/token acceptor devices |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3103371A1 (de) * | 1981-01-27 | 1982-08-05 | Günter Wulff-Apparatebau GmbH, 1000 Berlin | Verfahren zur festlegung der grenzwerte der gut-/schlecht-kennung von muenzen |
EP0072189B1 (de) * | 1981-08-10 | 1986-12-30 | LANDIS & GYR COMMUNICATIONS (U.K.) LTD. | Verfahren und Einrichtung zur Eichung eines Münzprüfers |
US5191957A (en) * | 1991-06-28 | 1993-03-09 | Protel, Inc. | Coin discrimination method |
-
1992
- 1992-12-17 DE DE4242639A patent/DE4242639C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-12-03 ES ES93119509T patent/ES2109414T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1993-12-03 DE DE59307568T patent/DE59307568D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-12-03 EP EP93119509A patent/EP0602474B1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE59307568D1 (de) | 1997-11-27 |
DE4242639A1 (de) | 1994-06-23 |
EP0602474A1 (de) | 1994-06-22 |
DE4242639C2 (de) | 1996-12-12 |
ES2109414T3 (es) | 1998-01-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69028209T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur echtheitsprüfung von geld | |
DE2612613C3 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Identifizieren von Gegenständen, insbesondere von Münzen oder Wertpapieren | |
DE60033535T2 (de) | Geldechtheitsprüfer | |
DE3345252C2 (de) | ||
DE3235114A1 (de) | Muenzpruefgeraet | |
WO1987000661A1 (en) | Device for verifying coins | |
DE2508611A1 (de) | Verfahren zur bestimmung der charakteristischen brechkraefte einer linse und vorrichtung zur durchfuehrung desselben | |
DE69221141T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zum prüfen von geld | |
CH676162A5 (de) | ||
EP0602474B1 (de) | Verfahren zum Eichen eines Münzprüfers | |
WO1983003154A1 (en) | Apparatus for testing coins having different diameters or thicknesses | |
WO1997024605A1 (de) | Verfahren und gerätekombination zur herstellung der vergleichbarkeit von spektrometermessungen | |
DE4121034C1 (de) | ||
DE10204943A1 (de) | Verfahren zur Bestimmung von Schichtdicken | |
DE69620700T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Identifizieren von Münzen | |
EP0590381B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Eichen eines Münzprüfers | |
DE69503383T3 (de) | Vorrichtung zum prüfen von wertgegenständen und verfahren zum kalibrieren einer solchen vorrichtung | |
EP4241049A1 (de) | Verfahren zur kalibration einer messeinrichtung | |
DE4339543C2 (de) | Verfahren zur Prüfung von Münzen | |
DE3743655A1 (de) | Muenzenpruefvorrichtung | |
WO1994004998A1 (de) | Kalibrieren von münzprüfern | |
DE69821083T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Gültigkeitsprüfung von Zahlungsmitteln | |
DE4025073C2 (de) | Verfahren zum Prüfen von zwei oder mehr Münzen unterschiedlichen Wertes | |
EP1223563A2 (de) | Verfahren und System zur Programmierung von elektronischen Münzprüfern | |
DE69912220T2 (de) | Vorrichtung zur Kaliebrierung elektronischer Münzannahmevorrichtungen zum Identifizieren von Münzen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PUAI | Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012 |
|
AK | Designated contracting states |
Kind code of ref document: A1 Designated state(s): CH DE ES FR GB IT LI NL SE |
|
17P | Request for examination filed |
Effective date: 19940621 |
|
17Q | First examination report despatched |
Effective date: 19950925 |
|
GRAG | Despatch of communication of intention to grant |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS AGRA |
|
GRAH | Despatch of communication of intention to grant a patent |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS IGRA |
|
GRAH | Despatch of communication of intention to grant a patent |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS IGRA |
|
GRAA | (expected) grant |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009210 |
|
AK | Designated contracting states |
Kind code of ref document: B1 Designated state(s): CH DE ES FR GB IT LI NL SE |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: NL Free format text: LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date: 19971022 |
|
REG | Reference to a national code |
Ref country code: CH Ref legal event code: EP |
|
REF | Corresponds to: |
Ref document number: 59307568 Country of ref document: DE Date of ref document: 19971127 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: LI Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 19971231 Ref country code: CH Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 19971231 |
|
ITF | It: translation for a ep patent filed | ||
REG | Reference to a national code |
Ref country code: ES Ref legal event code: FG2A Ref document number: 2109414 Country of ref document: ES Kind code of ref document: T3 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: SE Effective date: 19980122 |
|
GBT | Gb: translation of ep patent filed (gb section 77(6)(a)/1977) |
Effective date: 19980114 |
|
ET | Fr: translation filed | ||
NLV1 | Nl: lapsed or annulled due to failure to fulfill the requirements of art. 29p and 29m of the patents act | ||
PLAV | Examination of admissibility of opposition |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS OPEX |
|
PLBQ | Unpublished change to opponent data |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS OPPO |
|
PLBI | Opposition filed |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009260 |
|
REG | Reference to a national code |
Ref country code: CH Ref legal event code: PL |
|
PLBF | Reply of patent proprietor to notice(s) of opposition |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS OBSO |
|
26 | Opposition filed |
Opponent name: MARS INCORPORATED Effective date: 19980721 |
|
PLBF | Reply of patent proprietor to notice(s) of opposition |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS OBSO |
|
PLBO | Opposition rejected |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS REJO |
|
APAC | Appeal dossier modified |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS NOAPO |
|
APAE | Appeal reference modified |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS REFNO |
|
APAC | Appeal dossier modified |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS NOAPO |
|
REG | Reference to a national code |
Ref country code: GB Ref legal event code: IF02 |
|
APBU | Appeal procedure closed |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOSNNOA9O |
|
PLBN | Opposition rejected |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009273 |
|
STAA | Information on the status of an ep patent application or granted ep patent |
Free format text: STATUS: OPPOSITION REJECTED |
|
27O | Opposition rejected |
Effective date: 20030909 |
|
APAH | Appeal reference modified |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOSCREFNO |
|
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: FR Payment date: 20070927 Year of fee payment: 15 |
|
REG | Reference to a national code |
Ref country code: FR Ref legal event code: ST Effective date: 20090831 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: FR Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20081231 |
|
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: GB Payment date: 20091221 Year of fee payment: 17 |
|
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: DE Payment date: 20110205 Year of fee payment: 18 Ref country code: IT Payment date: 20101230 Year of fee payment: 18 |
|
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: ES Payment date: 20101222 Year of fee payment: 18 |
|
GBPC | Gb: european patent ceased through non-payment of renewal fee |
Effective date: 20101203 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: GB Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20101203 |
|
REG | Reference to a national code |
Ref country code: DE Ref legal event code: R119 Ref document number: 59307568 Country of ref document: DE Effective date: 20120703 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: DE Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20120703 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: IT Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20111203 |
|
REG | Reference to a national code |
Ref country code: ES Ref legal event code: FD2A Effective date: 20130703 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: ES Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20111204 |