DE4204448C2 - Halbleiterspeichereinrichtung zum Speichern von zwei Arten binärer Zahlen, Verwendung einer Halbleiterspeichereinrichtung und Betriebsverfahren dafür - Google Patents
Halbleiterspeichereinrichtung zum Speichern von zwei Arten binärer Zahlen, Verwendung einer Halbleiterspeichereinrichtung und Betriebsverfahren dafürInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Halbleiterspeichereinrichtung zum
Speichern von zwei Arten binärer Zahlen, die Verwendung einer
Halbleiterspeichereinrichtung und ein Betriebsverfahren dafür.
Die Entwicklung der Halbleitertechnologie, die eine Integration
einer großen Zahl von Schaltkreiselementen auf einem einzelnen Chip
ermöglicht, ist bemerkenswert. Darüber hinaus gibt es eine starke
Forderung nach einer weiteren Beschleunigung der
Verarbeitungsgeschwindigkeit, und insbesondere nimmt die Forderung
nach einer Verarbeitung arithmetischer Operationen mit hoher
Geschwindigkeit zu. Als Verfahren zur Verarbeitung arithmetischer
Operationen mit hoher Geschwindigkeit hat die Verwendung von
Schaltkreisen, die redundante Binärzahlen verwenden, Beachtung
gewonnen.
Allgemeine Binärzahlen, bei denen jede Stelle durch zwei Ziffern,
d. h. 0 und 1, ausgedrückt wird, werden im folgenden als Binärzahlen
bezeichnet. Demgegenüber werden Binärzahlen, bei denen jede Stelle
unter Verwendung von drei Ziffern 1, 0, und -1 ausgedrückt wird, als
redundante Binärzahlen bezeichnet. Eine Binärzahl mit n Bit wird
allgemein als xn xn-1 . . . x₁ dargestellt. Hier wird eine Binärzahl
mit binärer Darstellung ohne Vorzeichen als [xn xn-1 . . . x₁]₂ und
eine Binärzahl mit 2′-Komplementdarstellung als [xn xn-1 . . . x₁]c2
dargestellt. In diesem Fall stellen die xn, xn-1, . . . , x₁ jeweils 1,
0 oder -1 dar.
In binärer Darstellung wird die Dezimalzahl "3" als [011]₂
ausgedrückt. Andererseits wird in der redundanten Binärdarstellung
die Dezimalzahl "3" als [0,1,1]SD2 oder [1,0,-1]SD2 dargestellt.
Damit kann in der redundanten binären Darstellung eine Zahl auf
mehrfache Weise dargestellt werden.
Die wechselseitige Umwandlung binärer und redundanter binärer Zahlen
ist z. B. in "A VLSI-Oriented High-Speed Multiplier Using a Redundant
Binary Addition Tree", Papers of the Institute of Electronics and
Communication Engineers of Japan, 83/6 Vol. J66-D No. 6, S. 683-690
von Takagi, Yasuura und Yajima beschrieben.
Eine binäre Darstellung stimmt mit einer der redundanten
Binärdarstellungen überein. Beispielsweise stimmt die
Binärdarstellung [011]₂ mit der redundanten Binärdarstellung
[0,1,1]SD2 überein. Entsprechend sind keine Verarbeitungen
erforderlich, um eine binäre Zahl in eine redundante binäre Zahl
umzuwandeln.
Andererseits kann die Umwandlung einer redundanten Binärzahl in eine
Binärzahl durch Subtraktion zweier Binärzahlen ausgeführt werden.
Eine Binärzahl wird erhalten, indem die Bits entsprechend den
Ziffern "1" in einer redundanten Binärzahl auf "1" und die
restlichen Bits auf "0" gesetzt werden. Die andere Binärzahl wird
durch Setzen der Bits entsprechend den Stellen "-1" in einer
redundanten Binärzahl auf "1" und Setzen des restlichen Bits auf "0"
erhalten. Durch Subtraktion der zweiten Binärzahl von der einen
Binärzahl erhält man eine Binärzahl in 2′-Komplementdarstellung.
Die redundante Binärzahl [1,0,-1]SD2 wird z. B. wie unten beschrieben
in die Binärzahl [011]c2 umgewandelt.
[1,0,-1]SD2=[100]₂-[001]₂=[011]c2
Die Subtraktion von zwei Binärzahlen wird durch Addition unter
Verwendung binärer Zahlen in 2′-Komplementdarstellung ausgeführt.
Entsprechend erfolgt die Umwandlung einer redundanten Binärzahl in
eine Binärzahl hauptsächlich unter Verwendung eines
Addiererschaltkreises.
Beim Betrieb mit binären Zahlen tritt aufgrund der Ausbreitung des
Übertragsignals eine Verzögerung auf, so daß die Ausführungszeit mit
der Datenbitlänge ansteigt. Andererseits kann eine einzelne Zahl in
redundanter Binärzahldarstellung in mehrfacher Weise dargestellt
werden, so daß die Anzahl der Überträge reduziert wird. Addition und
Multiplikation unter Verwendung redundanter Binärzahlen sind in der
oben angegebenen Druckschrift des Institute of Electronics and
Communications Engineers of Japan beschrieben.
Nun wird ein Beispiel für eine einfache Addition beschrieben. Wenn
die Addition 3+1=4 unter Verwendung binärer Zahlen ausgeführt wird,
wie in Fig. 10 dargestellt ist, erzeugt das niederwertigste Bit
einen Übertrag für das zweite Bit, und vom zweiten Bit wird ein
Übertrag zum dritten Bit erzeugt. Wie in Fig. 11 gezeigt ist, wird
andererseits die Dezimalzahl "3" als redundante Binärzahl [1,0,-
1]SD2 und die Dezimalzahl "1" als redundante Binärzahl [0,0,1]SD2
dargestellt. In einer solchen Addition mit redundanten Binärzahlen
wird kein Übertrag erzeugt. Entsprechend ermöglicht die Verwendung
redundanter Binärzahlen einen Betrieb mit hoher Geschwindigkeit.
In einem Betriebsschaltkreis, der redundante Binärzahlen verwendet,
ist eine große Zahl von Schaltkreiselementen erforderlich, aber das
ist wegen der kürzlichen Entwicklung im Bereich der
Halbleitertechnologie unerheblich. Entsprechend ist ein
Betriebsschaltkreis, der redundante Binärzahlen verwendet und eine
hohe Arbeitsgeschwindigkeit aufweist, in einer integrierten
Halbleiterschaltkreiseinrichtung enthalten. Ein Betriebsschaltkreis,
der redundante Binärzahlen verwendet, ist z. B. in Yamashita et al,
"A 200MHz 16-Bit BiCMOS Signal Processor", 1989 ISSCC DIGEST OF
TECHNICAL PAPERS, S. 172-173 und Edamatsu et al, 11A 33-MFLOPS
Floating Point Processor Using Redundant Binary Representation",
1988 ISSCC DIGEST OF TECHNICAL PAPERS, S. 152-153 beschrieben.
Wie oben beschrieben ist, befinden sich Hochgeschwindigkeits-
Operationsschaltkreise, die redundante Binärzahlen verwenden, in der
Entwicklung. In den meisten Datenverarbeitungssystemen werden jedoch
binäre Zahldaten verwendet. Entsprechend ist eine wechselseitige
Umwandlung zwischen redundanten Binärzahlen und Binärzahlen
notwendig, um einen Betriebsschaltkreis, der redundante Binärzahlen
verwendet, mit anderen Systemen verbinden zu können. Entsprechend
ist ein Binärzahl-Addierschaltkreis wie beschrieben erforderlich und
die Betriebszeit steigt durch die Umwandlung an.
Besonders in normalen Mikroprozessoren werden arithmetische und
logische Verarbeitungen für eine große Datenmenge ausgeführt. Die
arithmetischen Verarbeitungen können unter Verwendung redundanter
Binärzahldaten ausgeführt werden, die logischen Verarbeitungen aber
nicht.
In Fig. 12 ist ein allgemeiner Mikroprozessor und hauptsächlich
seine Ausführungseinheit gezeigt. Ein Mikroprozessor 300 weist einen
Registersatzschaltkreis (RF) 310 und einen Verarbeitungsschaltkreis
(arithmetische und logische Einheit; ALU) 320 auf. Mit dem
Mikroprozessor 300 ist eine Hauptspeichereinrichtung 200 verbunden.
Der Mikroprozessor 300 ist aus einem einzelnen LSI und die
Hauptspeichereinrichtung 200 aus einem anderen LSI gebildet. In der
Hauptspeichereinrichtung 200 werden Binärzahldaten gespeichert. Die
Verarbeitungseinheit 320 führt Verarbeitungen aus, wie z. B.
arithmetische Verarbeitungsprozesse, logische Verarbeitungsprozesse
usw. Der Registersatzschaltkreis 310 besteht aus einem normalen RAM
(Direktzugriffsspeicher), der Daten speichert, die bei der
Verarbeitung von Daten in der Hauptspeichereinrichtung 200 durch die
Verarbeitungseinheit 320 notwendig sind.
Unter der Annahmen, daß ein Operationsschaltkreis benutzt wird, der
unter Verwendung redundanter Binärzahlen betrieben werden und eine
wechselseitige Umwandlung von redundanten Binärzahlen und
Binärzahlen ausführen kann, wird nun der Betrieb in diesem Fall
beschrieben.
Zuerst werden Binärzahldaten, die für die Verarbeitung durch den
Verarbeitungsschaltkreis 320 erforderlich sind, von der
Hauptspeichereinrichtung 200 zum Registersatzschaltkreis 310
übertragen, worin die Daten gespeichert werden. Wenn z. B. eine
Anweisung zur Addition zweier Zahlen ausgeführt wird, werden zwei
Binärzahldaten von der Hauptspeichereinrichtung 200 zum
Registersatzschaltkreis übertragen.
Als nächstes führt der Verarbeitungsschaltkreis 320 die Addition der
zwei Datenbestandteile aus. Da Binärzahldaten als redundante
Binärzahldaten betrachtet werden können, führt der
Verarbeitungsschaltkreis 320 in diesem Fall eine Operation unter
Verwendung redundanter Binärzahlen aus. Damit wird die Betriebszeit
vermindert. Das Ergebnis der Operation ist ein redundanter
Binärzahlwert.
Üblicherweise kann der Registersatzschaltkreis 310 keine redundanten
Binärzahldaten speichern. Entsprechend wandelt der
Verarbeitungsschaltkreis 320 die redundanten Binärzahldaten in
Binärzahldaten um. Die umgewandelten Binärzahldaten werden im
Registersatzschaltkreis 310 gespeichert. In diesem Fall muß der
Verarbeitungsschaltkreis 320 zusätzlich zur Verarbeitung eine
Umwandlung ausführen, so daß schließlich eine lange Ausführungszeit
notwendig ist.
Wird angenommen, daß der Registersatzschaltkreis 310 redundante
Binärzahldaten speichern kann, so wird das Verarbeitungsergebnis im
Registersatzschaltkreis 310 in der Form redundanter Binärzahlen
gespeichert. Falls die Anweisung, die das Verarbeitungsergebnis als
nächstes verwendet, eine arithmetische Anweisung ist, kann die
Operation unter Verwendung der redundanten Binärzahldaten ausgeführt
werden.
Wenn die Anweisung, die das Verarbeitungsergebnis als nächstes
verwendet, jedoch eine Anweisung für eine logische Operation ist,
müssen die redundanten Binärzahldaten in Binärzahldaten umgewandelt
werden. In diesem Fall muß der Verarbeitungsschaltkreis 320 die
Umwandlung ausführen, was zu einem Anstieg der Ausführungszeit
führt.
Selbst wenn keine Anweisungen für eine logische Operation
existieren, werden die im Registersatzschaltkreis 310 gespeicherten redundanten Binärzahldaten schließlich in der
Hauptspeichereinrichtung 200 abgelegt. Die Hauptspeichereinrichtung
200 ist außerdem mit anderen Schaltkreisen im System verbunden, so
daß die Daten notwendigerweise in der Form binärer Zahlen
gespeichert werden müssen. Entsprechend werden redundante
Binärzahldaten, die im Registersatzschaltkreis 310 gespeichert sind,
zur Hauptspeichereinrichtung 200 übertragen, nachdem sie vom
Verarbeitungsschaltkreis 320 in Binärzahldaten umgewandelt worden
sind.
Damit wird zusätzliche Zeit benötigt, um redundante Binärzahldaten
in Binärzahldaten umzuwandeln, was zu einer geringen
Ausführungsgeschwindigkeit führt. Entsprechend ist es nicht damit
getan, nur einen Betriebsschaltkreis, der redundante Binärzahldaten
verwendet, in einen Mikroprozessor einzubauen.
Es besteht aber eine erhebliche Forderung, Mikroprozessoren weiter
zu beschleunigen, indem arithmetische Operationen mit redundanten
Binärzahlen ausgeführt werden.
Aus der US 4 970 690 ist eine Halbleiterspeichereinrichtung mit
einer zur Informationsverarbeitung tauglichen Speicherzelle im
besonderen für bitserielle Arithmetik bekannt.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine
Halbleiterspeichereinrichtung, die einen gegebenen Wert sowohl in
der Form binärer als auch der Form redundanter binärer Zahlen
speichern kann, und eine Betriebsverfahren hierfür zu schaffen
und eine Verwendung hierfür anzugeben.
Die Aufgabe wird gelöst durch eine Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1
bzw. durch ein Verfahren nach Anspruch 16.
Wenn bei der Halbleiterspeichereinrichtung redundante Binärzahldaten
durch den Schreibschaltkreis in die Speicherzelle des
Speicherschaltkreises geschrieben werden, werden die redundanten
Binärzahldaten vom Umwandlungsschaltkreis in Binärzahldaten
umgewandelt. Wenn die redundanten Binärzahldaten erforderlich sind,
werden vom Auswahlschaltkreis die redundanten Binärzahldaten, die in
der Speicherzelle gespeichert sind, ausgewählt und vom
Leseschaltkreis gelesen. Wenn Binärzahldaten notwendig sind, werden
vom Auswahlschaltkreis die vom Umwandlungsschaltkreis umgewandelten
Binärzahldaten ausgewählt und vom Leseschaltkreis gelesen.
Wenn vom Schreibschaltkreis Binärzahldaten in die Speicherzelle des
Speicherschaltkreises geschrieben werden, können die Binärzahldaten
unverändert als redundante Binärzahldaten betrachtet werden. In
diesem Fall weisen die in der Speicherzelle gespeicherten und die
vom Umwandlungsschaltkreis umgewandelten Daten dieselbe Form auf.
Wie oben beschrieben ist, können in beiden Fällen, wo entweder die
redundanten Binärzahldaten oder die Binärzahldaten in einen
Speicherschaltkreis geschrieben werden, die Daten in der Form
redundanter Binärzahldaten oder in der Form von Binärzahldaten wie
erforderlich gelesen werden.
Eine weitere Lösung der oben beschriebenen Aufgabe ist durch eine Halb
leiterspeichereinrichtung nach Anspruch 9 bzw. ein Verfahren nach Anspruch 17
bzw. die Verwendung nach Anspruch 15 gegeben.
In der Halbleiterspeichereinrichtung werden die redundanten
Binärzahldaten vom Umwandlungsschaltkreis in Binärzahldaten
umgewandelt, wenn redundante Binärzahldaten extern angelegt werden.
Die umgewandelten Binärzahldaten werden vom Schreibschaltkreis in
die erste Speicherzelle und die redundanten Binärzahldaten in die
zweite Speicherzelle des Speicherschaltkreises geschrieben. Wenn
Binärzahldaten erforderlich sind, werden vom Leseschaltkreis die in
der ersten Speicherzelle des Speicherschaltkreises gespeicherten
Binärzahldaten gelesen. Wenn redundante Binärzahldaten notwendig
sind, werden die in der zweiten Speicherzelle des
Speicherschaltkreises gespeicherten redundanten Binärzahldaten vom
Leseschaltkreis gelesen.
Wenn Binärzahldaten extern angelegt werden, können die
Binärzahldaten unverändert als redundante Binärzahldaten betrachtet
werden. In diesem Fall weisen die in der ersten Speicherzelle des
Speicherschaltkreises gespeicherten Daten und die in der zweiten
Speicherzelle des Speicherschaltkreises gespeicherten Daten dieselbe
Form auf.
Selbst wenn redundante Binärdaten oder Binärdaten extern angelegt
werden, werden wie oben beschrieben diese Daten in den beiden Formen
redundanter Binärzahldaten und Binärzahldaten im Speicherschaltkreis
gespeichert. Entsprechend können die Daten wie erforderlich in der
Form redundanter Binärzahldaten und der Form von Binärzahldaten
gelesen werden.
Wenn Daten geschrieben werden, werden die Daten in den beiden Formen
Binärzahldaten und redundante Binärzahldaten gespeichert, so daß
beim Daten lesen die Daten sofort in der gewünschten Form gelesen
werden können. Entsprechend besteht keine Notwendigkeit, eine
wechselseitige Umwandlung zwischen Binärzahldaten und redundanten
Binärzahldaten in anderen Schaltkreisen auszuführen, die diese Daten
verwenden. Damit können durch Verwendung der erfindungsgemäßen
Halbleiterspeichereinrichtungen integrierte
Halbleiterschaltkreiseinrichtungen mit einer hohen
Verarbeitungsgeschwindigkeit erzielt werden.
Eine Verwendung der Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1
oder 9 in einer integrierten Halbleiterschaltkreiseinrichtung nach
Anspruch 15 hat den Vorteil, daß eine Datenverarbeitung mit hoher
Geschwindigkeit ausgeführt werden kann, ohne daß die Ausführungs
zeit auf Grund der Umwandlung redundanter Binärzahlen in Binärzahlen
ansteigt. Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
angegeben.
Es folgt die Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der Figuren. Von
den Figuren zeigt
Fig. 1 ein Blockdiagramm der Konfiguration einer
Halbleiterspeichereinrichtung nach einer Ausführungsform;
Fig. 2 ein Blockdiagramm der Konfiguration eines
Speicherschaltkreises, der in der Halbleiterspeicher
einrichtung der Ausführungsform enthalten ist;
Fig. 3 ein Diagramm eines Beispiels für ein Darstellungsverfahren
redundanter Binärzahldaten;
Fig. 4 ein Schaltbild, das die Konfiguration eines
Umwandlungsschaltkreises darstellt;
Fig. 5 ein Schaltbild, das die Konfiguration eines
Auswahlschaltkreises darstellt;
Fig. 6 ein Blockdiagramm der Konfiguration eines Mikroprozessors,
der die Halbleiterspeichereinrichtung der Ausführungsform
verwendet;
Fig. 7 ein Blockdiagramm der Konfiguration einer
Halbleiterspeichereinrichtung nach einer weiteren
Ausführungsform;
Fig. 8 ein Blockdiagramm der Konfiguration eines
Speicherschaltkreises, der in der Halbleiterspeicher
einrichtung der Ausführungsform von Fig. 7 enthalten ist;
Fig. 9 ein Schaltbild, das die Konfiguration eines Lese-/Schreib-
Umwandlungsschaltkreises darstellt;
Fig. 10 ein Beispiel für die Addition von Binärzahlen;
Fig. 11 ein Beispiel für die Addition von redundanten Binärzahlen;
und
Fig. 12 ein Blockdiagramm der Konfiguration der Ausführungseinheit
eines herkömmlichen Mikroprozessors.
Wie in Fig. 1 gezeigt ist, weist eine Halbleiterspeichereinrichtung
1 eine Mehrzahl von Speicherschaltkreisen 10, die in einer Mehrzahl
von Zeilen und Spalten angeordnet sind, einen Lese-
/Schreibschaltkreis 20 und einen Dekodersteuerschaltkreis 30 auf.
Erste und zweite Bitleitungen BL1 und BL2 sind entsprechend den
jeweiligen Spalten der Speicherschaltkreise 10 und Wortleitungen WL
entsprechend den jeweiligen Zeilen der Speicherschaltkreise 10
gebildet. Die ersten und zweiten Bitleitungen BL1, BL2 sind mit dem
Lese-/Schreibschaltkreis 20 verbunden. Jede Wortleitung WL ist mit
dem Dekodersteuerschaltkreis 30 verbunden. Die Anzahl der Spalten
der Speicherschaltkreise 10 entspricht der Anzahl von Bits der
gespeicherten Daten D. Entsprechend werden in jeder Zeile der
Speicherschaltkreise 10 n-Bit-Daten gespeichert, wenn die Anzahl der
Spalten von Speicherschaltkreisen 10 gleich n ist.
Jeder Speicherschaltkreis 10 ist mit der entsprechenden Wortleitung
WL und den entsprechenden ersten und zweiten Bitleitungen BL1, BL2
verbunden. Ein vom ersten Speicherschaltkreis 10 einer jeden Zeile
ausgegebenes Übertragsignal CR wird dem Speicherschaltkreis 10 für
ein höherwertiges Bit zugeführt.
Binärzahldaten D oder redundante Binärzahldaten D werden dem Lese-
/Schreibschaltkreis 20 extern zugeführt. Binärzahldaten D oder
redundante Binärzahldaten D werden vom Lese-/Schreibschaltkreis 20
aus der Halbleiterspeichereinrichtung 1 ausgegeben. Ein
Auswahlsignal SEL und ein Lese-/Schreibsignal RW werden extern an
den Lese-/Schreibschaltkreis 20 angelegt. Das Auswahlsignal SEL wird
auch an alle Speicherschaltkreise 10 angelegt. Das Adreßsignal AD
wird dem Dekodersteuerschaltkreis 30 extern zugeführt.
Die Konfiguration eines jeden Speicherschaltkreises 10 ist in Fig. 2
gezeigt. Der Speicherschaltkreis 10 weist eine Datenbitspeicherzelle
11, eine Vorzeichenbitspeicherzelle 12, einen Umwandlungsschaltkreis
13 und einen Auswahlschaltkreis 14 auf. Die Datenbitspeicherzelle 11
und die Vorzeichenbitspeicherzelle 12 speichern Daten zu 1 Bit.
Der Eingangsanschluß der Datenbitspeicherzelle 11 ist mit einer
entsprechenden ersten Bitleitung BL1 verbunden. Der Steueranschluß
der Datenbitspeicherzelle 11 ist mit der entsprechenden Wortleitung
WL verbunden. Der Eingangsanschluß der Vorzeichenbitspeicherzelle 12
ist mit einer entsprechenden zweiten Bitleitung BL2 verbunden. Der
Steueranschluß der Vorzeichenbitspeicherzelle 12 ist mit der
entsprechenden Wortleitung WL verbunden. Der Ausgangsanschluß der
Datenbitspeicherzelle 11 ist mit einem Eingangsanschluß des
Umwandlungsschaltkreises 13 und einem Eingangsanschluß des
Auswahlschaltkreises 14 verbunden. Der Ausgangsanschluß der
Vorzeichenbitspeicherzelle 12 ist mit dem anderen Eingangsanschluß
des Umwandlungsschaltkreises 13 und einer entsprechenden zweiten
Bitleitung BL2 verbunden.
Der Ausgangsanschluß des Umwandlungsschaltkreises 13 ist mit dem
anderen Eingangsanschluß des Auswahlschaltkreises 14 verbunden. Der
Steueranschluß des Auswahlschaltkreises 14 ist mit der
entsprechenden Wortleitung WL verbunden. Der Ausgangsanschluß des
Auswahlschaltkreises 14 ist mit einer entsprechenden ersten
Bitleitung BL1 verbunden. Das Auswahlsignal SEL wird dem
Auswahlschaltkreis 14 zugeführt. Der Umwandlungsschaltkreis 13
empfängt ein Übertragsignal CR vom Umwandlungsschaltkreis in einem
Speicherschaltkreis entsprechend einem niederwertigen Bit und legt
das Übertragsignal CR an den Umwandlungsschaltkreis im
Speicherschaltkreis entsprechend einem höherwertigen Bit an.
Wie in Fig. 3 gezeigt ist, wird ein redundanter Binärzahlwert aus
einem Vorzeichenbit und einem Datenbit gebildet. Eine redundante
Binärzahl "-1" wird durch ein Vorzeichenbit "1" und ein Datenbit
"1", eine redundante Binärzahl "1" durch ein Vorzeichenbit "0" und
ein Datenbit "1" und eine redundante Binärzahl "0" durch ein
Vorzeichenbit "0" und ein Datenbit "0" dargestellt. Wenn in diesem
Fall das Datenbit gleich "0" ist, wird dieses Bit ohne Verbindung
mit dem Wert des Vorzeichenbits als redundante Binärzahl "0"
erkannt.
Jedes Bit der Binärzahldaten wird einer ersten Bitleitung BL1
zugeführt. Das Datenbit jeder Ziffer der redundanten Binärzahldaten
wird einer ersten Bitleitung BL1 und das Vorzeichenbit jeder Zahl
der redundanten Binärzahldaten einer zweiten Bitleitung BL2
zugeführt. Die Datenbitspeicherzelle 11 speichert ein Datenbit jeder
Ziffer der Binärzahldaten oder ein Datenbit jeder Ziffer der
redundanten Binärzahldaten. Die Vorzeichenbitzelle 12 speichert ein
Vorzeichenbit jeder Stelle der redundanten Binärzahldaten. Wenn das
jeweilige Bit der Binärzahldaten der Datenbitspeicherzelle 11
zugeführt wird, wird "0" an die Vorzeichenbitspeicherzelle 12
angelegt.
Der Umwandlungsschaltkreis 13 weist im wesentlichen einen
Volladdierer auf und wandelt auf der Basis eines Übertragsignals CR,
eines Datenbit und eines Vorzeichenbit die redundanten
Binärzahldaten ohne externe Anweisung automatisch in Binärzahldaten
um. Eine Mehrzahl von Umwandlungsschaltkreisen 13 entsprechend einer
einzelnen, in Fig. 1 dargestellten Zeile wandelt die redundanten
Binärzahldaten mit n Ziffern entsprechend dem oben beschriebenen
Verfahren in Binärzahldaten um. Das bedeutet, daß n
Umwandlungsschaltkreise 13 entsprechend einer einzelnen Zeile aus
gegebenen redundanten Binärzahldaten zwei Arten von Binärzahldaten
erzeugen und eine Addition dieser Abschnitte von Binärzahldaten mit
einem Volladdierer ausführen, um die gegebenen redundanten
Binärzahldaten in Binärdaten umzuwandeln.
In Fig. 4 ist eine detaillierte Konfiguration des
Umwandlungsschaltkreises 13 gezeigt.
Der Umwandlungsschaltkreis 13 weist N-Kanal MOS-Transistoren T1-T6
und Inverter G1-G7 auf. Der Eingangsanschluß A empfängt ein
Vorzeichenbit von einer Vorzeichenbitspeicherzelle 12, und der
Eingangsanschluß B empfängt ein Datenbit von einer
Datenbitspeicherzelle 11. Der Übertrageingangsanschluß CI empfängt
ein Übertragsignal CR von einem Umwandlungsschaltkreis innerhalb des
Speicherschaltkreises, der einem niederwertigen Bit entspricht. Das
Ergebnis der Umwandlung wird von einem Ausgangsanschluß S
ausgegeben. Das an den Umwandlungsschaltkreis innerhalb des
Speicherschaltkreises, der dem höherwertigen Bit entspricht,
anzulegende Übertragsignal CR wird vom Übertragausgangsanschluß CO
ausgegeben.
Wenn das dem Eingangsanschluß B zugeführte Datenbit gleich "1" ist,
schaltet der Transistor T1 durch. Wenn das dem Eingangsanschluß A
zugeführte Vorzeichenbit gleich "1" ist, schalten die Transistoren
T3, T6 durch. Damit wird ein invertiertes Signal des Übertragsignals
CR, das an den Übertrageingangsanschluß CI angelegt wird, vom
Ausgangsanschluß S ausgegeben. Ein dem Eingangsanschluß B
zugeführtes Datenbit "1" wird vom Übertragausgangsanschluß CO
ausgegeben. Wenn das dem Eingangsanschluß A zugeführte Vorzeichenbit
gleich "0" ist, schalten die Transistoren T4 und T5 durch. Damit
wird das dem Übertrageingangsanschluß CI zugeführte Übertragsignal
CR vom Ausgangsanschluß S ausgegeben. Außerdem wird das an den
Übertrageingangsanschluß CI angelegte Übertragsignal CR vom
Übertragausgangsanschluß CO ausgegeben.
Wenn das an den Eingangsanschluß B angelegte Datenbit gleich "0"
ist, schaltet der Transistor T2 durch. Wenn das an den
Eingangsanschluß A angelegte Vorzeichenbit gleich "1" ist, schalten
die Transistoren T4 und T5 durch. Damit wird das an den
Übertrageingangsanschluß CI angelegte Übertragsignal CR vom
Ausgangsanschluß S ausgegeben. Außerdem wird das an den
Übertrageingangsanschluß CI angelegte Übertragsignal CR auch vom
Ausgangsanschluß CO ausgegeben. Wenn das an den Eingangsanschluß A
angelegte Vorzeichenbit gleich "0" ist, schalten die Transistoren T3
und T6 durch. Damit wird ein invertiertes Signal des Übertragsignals
CR, das an den Übertrageingangsanschluß CI angelegt wird, vom
Ausgangsanschluß S ausgegeben. Vom Übertragausgangsanschluß CO wird
das Datenbit "0" abgegeben, das dem Eingangsanschluß B zugeführt
wird.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 1 und 2 wird nun der Betrieb der
Halbleiterspeichereinrichtung 1 beschrieben.
Der Datenlesebetrieb oder der Datenschreibbetrieb wird durch das
Lese-/Schreibsignal RW ausgewählt. Wenn redundante Binärzahldaten
geschrieben werden, werden redundante Binärzahldaten D zu n Bit
extern in den Lese-/Schreibschaltkreis 20 eingegeben. Der Lese-
/Schreibschaltkreis 20 legt Datenbit der jeweiligen Ziffern der
redundanten Binärzahldaten an die ersten Bitleitungen BL1 und
Vorzeichenbits der entsprechenden Ziffern der redundanten
Binärzahldaten an die zweiten Bitleitungen BL2 an.
Der Dekodersteuerschaltkreis 30 wählt in Abhängigkeit von einem
extern zugeführten Adreßsignal AD eine der Mehrzahl von
Wortleitungen WL aus. Damit werden n Speicherschaltkreise 10
ausgewählt, die mit der ausgewählten Wortleitung WL verbunden sind.
Dadurch erreichen die Datenbitspeicherzelle 11 und die
Vorzeichenbitspeicherzelle 12 in den jeweiligen
Speicherschaltkreisen 10 einen aktiven Zustand (siehe Fig. 2). Damit
wird das Datenbit auf der entsprechenden ersten Bitleitung BL1 in
die Datenbitspeicherzelle 11 geschrieben, und das Datenbit wird von
der Datenbitspeicherzelle 11 ausgegeben. Ein Vorzeichenbit auf der
entsprechenden zweiten Bitleitung BL2 wird in die
Vorzeichenbitspeicherzelle 12 geschrieben, und auch das
Vorzeichenbit wird von der Vorzeichenbitspeicherzelle 12 ausgegeben.
Die Umwandlungsschaltkreise 13 entsprechend der ausgewählten Zeile
wandeln redundante Binärzahldaten auf der Basis der Datenbits und
der Vorzeichenbits in Binärzahldaten um. Jeder der
Umwandlungsschaltkreise 13 hält das entsprechende Bit der
umgewandelten Binärzahldaten und gibt es an den Auswahlschaltkreis
14 aus.
Wie oben beschrieben ist, werden redundante Binärzahldaten in den
Datenbitspeicherzellen 11 und den Vorzeichenbitspeicherzellen 12 in
den Speicherschaltkreisen 10 der einen ausgewählten Reihe
gespeichert, und es werden Binärzahldaten in den
Umwandlungsschaltkreisen 13 in den Speicherschaltkreisen 10 der
ausgewählten Zeile gespeichert.
Wenn Binärzahldaten geschrieben werden, wird dieselbe Operation
ausgeführt. In diesem Fall wird ein einzelnes Bit der Binärzahldaten
in die Datenbitspeicherzelle 11 des jeweiligen Speicherschaltkreises
10 und es wird "0" in die Vorzeichenbitspeicherzelle 12 geschrieben.
Da Binärzahldaten ohne weitere Änderung als redundante
Binärzahldaten betrachtet werden können, sind keine speziellen
Verarbeitungen und Umwandlungszeiten notwendig, um Binärzahldaten in
redundante Binärzahldaten umzuwandeln.
Wenn Daten gelesen werden sollen, wird der Lesebetrieb durch ein
Lese-/Schreibsignal ausgewählt. Der Dekodersteuerschaltkreis 30
wählt in Abhängigkeit von einem extern angelegten Adreßsignal AD
eine Wortleitung WL der Mehrzahl von Wortleitungen aus. Damit werden
n Speicherschaltkreise 10 ausgewählt, die mit der ausgewählten
Wortleitung verbunden sind. Damit nehmen die Datenbitspeicherzelle
11, die Vorzeichenbitspeicherzelle 12 und der Auswahlschaltkreis 14
im jeweiligen ausgewählten Speicherschaltkreis 10 den aktiven
Zustand an. Binärzahldaten oder redundante Binärzahldaten werden
durch ein extern zugeführtes Auswahlsignal SEL ausgewählt.
Wenn Binärzahldaten gelesen werden, legt der Auswahlschaltkreis 14
das Ausgangssignal des Umwandlungsschaltkreises 13 an die
entsprechende erste Bitleitung BL1 an. Damit werden Binärzahldaten
auf eine Mehrzahl von ersten Bitleitungen BL1 ausgelesen. Der Lese-
/Schreibschaltkreis 20 gibt die Binärzahldaten auf der Mehrzahl
erster Bitleitungen BL1 als Ausgangssignal aus der
Halbleiterspeichereinrichtung 1 aus.
Wenn redundante Binärzahldaten gelesen werden, legt der
Auswahlschaltkreis 14 das Ausgangssignal der Datenbitspeicherzelle
11 an die entsprechende erste Bitleitung BL1 an. Außerdem wird auch
das Ausgangssignal der Vorzeichenbitspeicherzelle 12 an die
entsprechende zweite Bitleitung BL2 angelegt. Damit werden
redundante Binärzahldaten auf eine Mehrzahl erster und zweiter
Bitleitungen BL1, BL2 ausgelesen. Der Lese-/Schreibschaltkreis 20
gibt die redundanten Binärzahldaten auf der Mehrzahl erster und
zweiter Bitleitungen BL1, BL2 als Ausgangssignal aus der
Halbleiterspeichereinrichtung 1 aus.
Selbst wenn nur Binärzahldaten oder nur redundante Binärzahldaten
extern angelegt werden, werden bei der Halbleiterspeichereinrichtung
dieser Ausführungsform diese Daten in der Form von Binärzahldaten
und von redundanten Binärzahldaten gespeichert, wie oben beschrieben
ist. Entsprechend können die gespeicherten Daten wie erforderlich in
der Form von Binärdaten und auch in der Form redundanter Binärdaten
ausgelesen werden.
Fig. 6 zeigt ein Blockdiagramm der Konfiguration eines
Mikroprozessors, der die Halbleiterspeichereinrichtung nach der oben
beschriebenen Ausführungsform verwendet. Der Mikroprozessor 100
weist einen ersten Verarbeitungsschaltkreis 110, einen zweiten
Verarbeitungsschaltkreis 120, einen Registersatzschaltkreis 130,
eine Steuerung 140 und einen Eingabe-
/Ausgabeschnittstellenschaltkreis 150 auf. Der erste
Verarbeitungsschaltkreis 110, der zweite Verarbeitungsschaltkreis
120, der Registersatzschaltkreis 130 und der Eingabe-
/Ausgabeschnittstellenschaltkreis 150 sind mit einem ersten Datenbus
DB1 verbunden. Der zweite Verarbeitungsschaltkreis 120 und der
Registersatzschaltkreis 130 sind auch mit einem zweiten Datenbus DB2
verbunden. Der erste Datenbus DB1 ist ein Datenbus für
Binärzahldaten und der zweite Datenbus DB2 ein Datenbus für
redundante Binärzahldaten. Die Hauptspeichereinrichtung 200 ist mit
dem Eingabe-/Ausgabeschnittstellenschaltkreis 150 verbunden.
Der erste Verarbeitungsschaltkreis 110 führt Logikoperationen unter
Verwendung von Binärzahldaten aus. Der zweite
Verarbeitungsschaltkreis 120 führt arithmetische Operationen unter
Verwendung von redundanten Binärzahldaten aus. Die
Halbleiterspeichereinrichtung nach der oben beschriebenen
Ausführungsform wird als Registersatzschaltkreis 130 verwendet. Die
Steuerung 140 steuert den Betrieb der Schaltkreise des
Mikroprozessors. Der Eingabe-/Ausgabeschnittstellenschaltkreis 150
führt eine Schnittstellensteuerung der Schaltkreise innerhalb des
Mikroprozessors und externer Einrichtungen aus.
Die Konfiguration des Auswahlschaltkreises 14 ist in Fig. 5 gezeigt.
Der Auswahlschaltkreis 14 weist einen Inverter G8, UND-Gatter G9 und
G10 und ein ODER-Gatter G11 auf. Der Eingangsanschluß a empfängt das
Ausgangssignal der Datenbitspeicherzelle 11 und der Eingangsanschluß
b das Ausgangssignal des Umwandlungsschaltkreises 13. Der
Auswahlanschluß sa empfängt das Auswahlsignal SEL. Der
Ausgangsanschluß o ist mit der Bitleitung BL1 verbunden. In Fig. 5
ist der Steueranschluß nicht dargestellt.
Wann das Auswahlsignal SEL gleich "1" ist, wird das an den
Eingangsanschluß a angelegte Signal vom Ausgangsanschluß o
ausgegeben. Wenn das Auswahlsignal SEL gleich "0" ist, wird das an
den Eingangsanschluß b angelegte Signal vom Ausgangsanschluß o
ausgegeben.
Nun wird der Betrieb des in Fig. 6 gezeigten Mikroprozessors 100
beschrieben. Die erforderlichen Binärzahldaten unter den
Binärzahldaten, die in der Hauptspeichereinrichtung 200 gespeichert
sind, werden durch eine Anweisung der Steuerung 140 in den Eingabe-
/Ausgabeschnittstellenschaltkreis 150 übernommen. Die Binärzahldaten
werden unter der Kontrolle der Steuerung über einen ersten Datenbus
DB1 zum Registersatzschaltkreis 130 übertragen. Die Daten werden im
Registersatzschaltkreis 130 in der Form von Binärdaten und der Form
redundanter Binärdaten gespeichert.
Wenn eine Logikoperation ausgeführt wird, werden die erforderlichen
Binärzahldaten vom Registersatzschaltkreis 130 über den ersten
Datenbus DB1 zum ersten Verarbeitungsschaltkreis 110 übertragen. Die
als Operationsergebnis vom ersten Verarbeitungsschaltkreis 110
ausgegebenen Binärzahldaten werden über den ersten Datenbus DB1 zum
Registersatzschaltkreis 130 übertragen.
Wenn eine arithmetische Operation ausgeführt wird, werden die
erforderlichen redundanten Binärzahldaten vom
Registersatzschaltkreis 130 über den zweiten Datenbus DB2 zum
zweiten Verarbeitungsschaltkreis 120 übertragen. Die als
Operationsergebnis vom zweiten Verarbeitungsschaltkreis 120
ausgegebenen redundanten Binärzahldaten werden über den zweiten
Datenbus DB2 zum Registersatzschaltkreis 130 übertragen. Der
Registersatzschaltkreis 130 wandelt die redundanten Binärzahldaten
in Binärzahldaten um und speichert diese Bestandteile von
redundanten Binärzahldaten und von Binärzahldaten.
Die im Registersatzschaltkreis 130 gespeicherten Binärzahldaten
werden über den ersten Datenbus DB1 und den Eingabe-
/Ausgabeschnittstellenschaltkreis 150 wie erforderlich zur externen
Hauptspeichereinrichtung übertragen. Die oben angeführte
Übertragungssteuerung erfolgt durch die Steuerung 140.
Da Binärzahldaten als redundante Binärzahldaten betrachtet werden
können, kann der zweite Verarbeitungsschaltkreis 120 auch direkt
Binärzahldaten von der Hauptspeichereinrichtung 200 über den
Eingabe-/Ausgabeschnittstellenschaltkreis 150 und den ersten
Datenbus DB1 empfangen, um arithmetische Operationen unter
Verwendung der Binärzahldaten auszuführen.
Beim in Fig. 6 dargestellten Mikroprozessor führen der erste und
zweite Verarbeitungsschaltkreis 110 und 120 keine wechselseitige
Umwandlung zwischen Binärzahldaten und redundanten Binärzahldaten
aus, und der zweite Verarbeitungsschaltkreis 120 führt die
arithmetische Operation unter Verwendung redundanter Binärzahldaten
aus. Das erhöht die Ausführungsgeschwindigkeit.
Fig. 7 zeigt ein Blockdiagramm der Konfiguration einer
Halbleiterspeichereinrichtung nach einer weiteren Ausführungsform.
Die in Fig. 7 gezeigte Halbleiterspeichereinrichtung 1a weist eine
Mehrzahl von Speicherschaltkreises 10a, die in einer Mehrzahl von
Zeilen und Spalten angeordnet sind, einen Lese-/Schreib-
Umwandlungsschaltkreis 20a und einen Dekodersteuerschaltkreis 30
auf. Entsprechend den jeweiligen Spalten von Speicherschaltkreisen
10a sind erste, zweite und dritte Bitleitungen BL1, BL2, BL3
gebildet. Entsprechend den jeweiligen Zeilen von
Speicherschaltkreisen 10a sind Wortleitungen WL gebildet.
Erste, zweite und dritte Bitleitungen BL1, BL2, BL3 für die
jeweiligen Spalten sind mit dem Lese-/Schreib-Umwandlungsschaltkreis
20a verbunden. Eine Wortleitung WL für die jeweilige Zeile ist mit
dem Dekodersteuerschaltkreis 30 verbunden. Das Auswahlsignal SEL1
und das Lese-/Schreibsignal RW werden extern an den Lese-/Schreib-
Umwandlungsschaltkreis 20a angelegt. Das Adreßsignal AD wird extern
an den Dekodersteuerschaltkreis 30 angelegt.
In Fig. 8 ist die Konfiguration eines jeden Speicherschaltkreises
10a gezeigt. Der Speicherschaltkreis 10a weist eine erste
Speicherzelle 21, eine zweite Speicherzelle 22 und eine dritte
Speicherzelle 23 auf. Die erste Speicherzelle 21 ist mit der
entsprechenden ersten Bitleitung BL1, die zweite Speicherzelle 22
mit der entsprechenden zweiten Bitleitung BL2 und die dritte
Speicherzelle 23 mit der entsprechenden dritten Bitleitung BL3
verbunden. Die Steueranschlüsse der ersten Speicherzelle 21, der
zweiten Speicherzelle 22 und der dritten Speicherzelle 23 sind mit
einer entsprechenden Wortleitung WL verbunden. Jede der ersten,
zweiten und dritten Speicherzellen 21, 22, 23 speichert ein
Datenbit.
Jedes der Bits von Binärdaten wird der ersten Bitleitung BL1
zugeführt. Ein Vorzeichenbit der jeweiligen Ziffer der redundanten
Binärzahldaten wird an die zweite Bitleitung BL2 angelegt. Ein
Datenbit der jeweiligen Ziffer der redundanten Binärzahldaten wird
an die dritte Bitleitung BL3 angelegt. Die erste Speicherzelle 21
speichert ein Bit von Binärzahldaten, die zweite Speicherzelle 22
eine Ziffer des Vorzeichenbits der redundanten Binärzahldaten und
die dritte Speicherzelle 23 eine Ziffer der Datenbits der
redundanten Binärzahldaten.
In Fig. 9 ist die Konfiguration des Lese-/Schreib-
Umwandlungsschaltkreises 20a gezeigt. In Fig. 9 ist nur der
Schaltkreisabschnitt 200 entsprechend 1 Bit dargestellt. In
Wirklichkeit weist der Lese-/Schreib-Umwandlungsschaltkreis 20a eine
Mehrzahl von Schaltkreisabschnitten 200 entsprechend der Mehrzahl
von Bits auf, die die in Fig. 9 dargestellte Konfiguration besitzen.
Der Schaltkreisabschnitt 200 weist einen Umwandlungsschaltkreis 13,
Auswahlschaltkreise 14a und 14b, N-Kanal MOS-Transistoren T7 und T8
und einen Inverter G12 auf. Der Ein-/Ausgangsanschluß DB empfängt
ein Datenbit und der Ein-/Ausgangsanschluß SB ein Vorzeichenbit. Der
Eingangsanschluß RWI empfängt ein Lese-/Schreibsignal RW. Der
Übertrageingangsanschluß CI empfängt ein Übertragsignal CR vom
Schaltkreisabschnitt entsprechend einem niederwertigen Bit. Das vom
Übertragausgangsanschluß CO abgegebene Übertragsignal CR wird dem
Schaltkreisabschnitt entsprechend dem höherwertigen Bit zugeführt.
Der Auswahlanschluß sa des Auswahlschaltkreises 14a empfängt das
Auswahlsignal SEL1 zum Schreiben. Der Auswahlanschluß sa des
Auswahlschaltkreises 14b empfängt das Auswahlsignal SEL2 zum Lesen.
Der Ausgangsanschluß so des Auswahlschaltkreises 14a und der
Eingangsanschluß b des Auswahlschaltkreises 14b sind mit der
Bitleitung BL1 verbunden. Der Eingangsanschluß A des
Umwandlungsschaltkreises 13 ist mit der Bitleitung BL2 verbunden.
Der Eingangsanschluß B des Umwandlungsschaltkreises 13 ist mit der
Bitleitung BL3 verbunden.
Wenn das Lese-/Schreibsignal RW gleich "1" ist, wird ein Lesebetrieb
ausgeführt. Zu diesem Zeitpunkt sperrt der Transistor T7 und der
Transistor T8 schaltet durch. Der Auswahlschaltkreis 14b wählt in
Abhängigkeit vom Auswahlsignal SEL2 ein Bit der Binärzahldaten, die
auf die Bitleitung BL1 ausgelesen worden sind, oder ein Datenbit der
redundanten Binärzahldaten, die auf die Bitleitung BL3 ausgelesen
worden sind, aus, und führt es dem Ein-/Ausgangsanschluß DB zu. Ein
auf die Bitleitung BL2 ausgelesenes Vorzeichenbit wird dem Ein-
/Ausgangsanschluß SB zugeführt.
Wenn das Lese-/Schreibsignal RW gleich "0" ist, wird ein
Schreibbetrieb ausgeführt.
Zu diesem Zeitpunkt schaltet der Transistor T7 durch und der
Transistor T8 sperrt. Ein Bit der Binärzahldaten, die dem Ein-
/Ausgangsanschluß DB zugeführt worden sind, oder ein Datenbit der
redundanten Binärzahldaten werden der Bitleitung BL3, dem
Eingangsanschluß B des Umwandlungsschaltkreises 13 und dem
Eingangsanschluß a des Auswahlschaltkreises 14a zugeführt. Ein
Vorzeichenbit der redundanten Binärzahldaten, die an den Ein-
/Ausgangsanschluß SB angelegt worden sind, werden der Bitleitung BL2
und dem Eingangsanschluß A des Umwandlungsschaltkreises 13
zugeführt. Der Auswahlschaltkreis 14a wählt in Abhängigkeit vom
Auswahlsignal SEL1 ein Bit der Binärzahldaten oder ein Datenbit der
redundanten Binärzahldaten, die an den Eingangsanschluß a angelegt
werden sind, oder das Ausgangssignal des Umwandlungsschaltkreises
13, das an den Eingangsanschluß b angelegt wird, aus, und führt es
der Bitleitung BL1 zu.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 7 und 8 wird nun der Betrieb der
Halbleiterspeichereinrichtung 1a der vorliegenden Ausführungsform
beschrieben.
Beim Schreiben redundanter Binärzahldaten wird mit dem Lese-
/Schreibsignal RW und dem Auswahlsignal SEL1 der Schreibbetrieb
redundanter Binärzahldaten ausgewählt. Damit wandelt der Lese-
/Schreib-Umwandlungsschaltkreis 20a extern angelegte redundante
Binärzahldaten D in Binärzahldaten um. Darüber hinaus legt der Lese-
/Schreib-Umwandlungsschaltkreis 20a die jeweiligen Bits
umgewandelter Binärzahldaten an die jeweiligen ersten Bitleitungen
an, legt jeweilige Ziffern der Vorzeichenbits der extern angelegten
redundanten Binärzahldaten an die jeweiligen zweiten Bitleitungen
BL2 an und führt die jeweiligen Ziffern der Datenbits der extern
angelegten redundanten Binärzahldaten den jeweiligen dritten
Bitleitungen BL3 zu.
Andererseits wählt der Dekodersteuerschaltkreis 30 eine der Mehrzahl
von Wortleitungen WL in Abhängigkeit von einem extern angelegten
Adreßsignal AD aus. Damit erreichen erste, zweite und dritte
Speicherzellen 21, 22, 23 innerhalb der jeweiligen Speicherzellen
10a, die mit der ausgewählten Wortleitung verbunden sind, aktive
Zustände an. Dadurch werden Binärzahldaten auf der Mehrzahl erster
Bitleitungen BL1 in erste Speicherzellen 21 in den
Speicherschaltkreisen 10a der Zeile geschrieben. Ferner werden
Vorzeichenbits der redundanten Binärzahldaten auf der Mehrzahl
zweiter Bitleitungen BL2 in die zweiten Speicherzellen 22 in den
Speicherschaltkreisen 10a der einzelnen Zeile geschrieben, und es
werden Datenbits der redundanten Binärzahldaten auf der Mehrzahl
dritter Bitleitungen BL3 in dritte Speicherzellen 23 in den
Speicherschaltkreisen 10a einer Zeile geschrieben.
Beim Schreiben von Binärzahldaten wird der Schreibbetrieb der
Binärzahldaten mit dem extern angelegten Lese-/Schreibsignal RW und
dem Auswahlsignal SEL1 ausgewählt. In diesem Fall legt der Lese-
/Schreib-Umwandlungsschaltkreis 20a das jeweilige Bit der extern
angelegten Binärzahldaten an die jeweilige erste Bitleitung BL1 und
die jeweilige dritte Bitleitung BL3 an und führt "0" der jeweiligen
zweiten Bitleitung BL2 zu.
Andererseits wählt der Dekodersteuerschaltkreis 30 eine der Mehrzahl
von Wortleitungen WL in Abhängigkeit von einem extern angelegten
Adreßsignal AD aus. Damit erreichen erste, zweite und dritte
Speicherzellen 21, 22, 23 in den jeweiligen Speicherschaltkreisen
10a, die mit der ausgewählten Wortleitung WL verbunden sind, aktive
Zustände. Dadurch werden Binärzahldaten auf einer Mehrzahl von
ersten und dritten Bitleitungen BL1, BL3 in erste Speicherzellen 21
und dritte Speicherzellen 23 in den Speicherschaltkreisen 10a einer
Zeile geschrieben, und "0" wird in die zweiten Speicherzellen 22
eingeschrieben.
Beim Lesen redundanter Binärzahldaten wird der Lesebetrieb der
redundanten Binärzahldaten durch das Lese-/Schreibsignal RW und das
Auswahlsignal SEL1 ausgewählt. Auch in diesem Fall wird eine
Wortleitung WL durch den Dekodersteuerschaltkreis 30 ausgewählt und
erste, zweite und dritte Speicherzellen 21, 22, 23 in den jeweiligen
Speicherschaltkreisen 10a, die mit der ausgewählten Wortleitung WL
verbunden sind, erreichen einen aktiven Zustand. Damit wird jedes
Bit von Binärdaten, die in den jeweiligen der ersten Speicherzellen
21 gespeichert sind, auf die entsprechende erste Bitleitung BL1
ausgelesen. Ferner wird das Vorzeichenbit der jeweiligen Ziffer
redundanter Binärzahldaten, das in den jeweiligen zweiten
Speicherzellen 22 gespeichert ist, auf eine entsprechende zweite
Bitleitung BL2 ausgelesen, und das Datenbit der jeweiligen Stelle
redundanter Binärzahldaten, das in den jeweiligen der dritten
Speicherzellen 23 gespeichert ist, wird auf eine entsprechende
dritte Bitleitung BL3 ausgelesen. In diesem Fall gibt der Lese-
/Schreib-Umwandlungsschaltkreis 20a redundante Binärzahldaten als
Ausgangssignal auf der Mehrzahl zweiter und dritter Bitleitungen
BL2, BL3 aus.
Beim Lesen von Binärzahldaten wird der Lesebetrieb der
Binärzahldaten durch das Lese-/Schreibsignal RW und das
Auswahlsignal SEL1 ausgewählt. In diesem Fall werden in der gleichen
Weise wie oben das jeweilige Bit der Binärzahldaten auf die
jeweilige erste Bitleitungen BL1, das Vorzeichenbit der jeweiligen
Ziffer redundanter Binärzahldaten auf die jeweilige zweite
Bitleitung BL2 und das Datenbit der jeweiligen Ziffer redundanter
Binärzahldaten auf die jeweilige dritte Bitleitung BL3 ausgelesen.
In diesem Fall gibt der Lese-/Schreib-Umwandlungsschaltkreis 20a die
Binärzahldaten auf der Mehrzahl erster Bitleitungen BL1 als
Ausgangssignal nach außen ab.
Bei dieser Ausführungsform weist nicht jeder Speicherschaltkreis 10a
einen Umwandlungsschaltkreis auf, sondern es ist nur ein einzelner
Umwandlungsschaltkreis in der Halbleiterspeichereinrichtung 1a
gebildet, so daß deren Schaltkreisgrößenordnung klein ist.
Selbst wenn nur Binärzahldaten oder nur redundante Binärzahldaten
geschrieben werden, werden diese Daten bei dieser Ausführungsform in
den beiden Formen Binärzahldaten und redundante Binärzahldaten
geschrieben. Entsprechend ermöglicht die Verwendung der
Halbleiterspeichereinrichtung 1a in dieser Ausführungsform als
Registersatzschaltkreis 100 im Mikroprozessor 100, der in Fig. 6
gezeigt ist, eine Verarbeitung mit hoher Geschwindigkeit.
Claims (18)
1. Halbleiterspeichereinrichtung mit
mindestens einer Speichereinrichtung (10), die eine Speicherzelle (11, 12) zum Speichern einer ersten Art von Binärzahldaten, eine Umwandlungseinrichtung (13) zum automatischen Umwandeln deer ersten Art von Binärzahldaten, die in der Speicherzelle (11, 12) gespeichert sind, in eine zweite Art von Binärzahldaten, und eine Auswahleinrichtung (14) zum Auswählen der ersten Art von Binärzahldaten, die in der Speicherzelle (11, 12) gespeichert sind, oder der zweiten Art von Binärzahldaten, die von der Umwandlungseinrichtung (13) umgewandelt worden sind und in der Umwandlungseinrichtung (13) gespeichert werden, aufweist,
einer Schreibeinrichtung (20) zum Schreiben der zweiten Art von Binärzahldaten oder der ersten Art von Binärzahldaten in die Speicherzelle (11, 12) der Speichereinrichtung (10), und
einer Leseeinrichtung (20) zum Lesen der Daten, die von der Auswahleinrichtung (14) aus der Speichereinrichtung ausgewählt worden sind, wobei die von der Schreibeinrichtung (20) geschriebenen Binärzahldaten der zweiten Art gleichzeitig Binärzahldaten der ersten Art sind.
mindestens einer Speichereinrichtung (10), die eine Speicherzelle (11, 12) zum Speichern einer ersten Art von Binärzahldaten, eine Umwandlungseinrichtung (13) zum automatischen Umwandeln deer ersten Art von Binärzahldaten, die in der Speicherzelle (11, 12) gespeichert sind, in eine zweite Art von Binärzahldaten, und eine Auswahleinrichtung (14) zum Auswählen der ersten Art von Binärzahldaten, die in der Speicherzelle (11, 12) gespeichert sind, oder der zweiten Art von Binärzahldaten, die von der Umwandlungseinrichtung (13) umgewandelt worden sind und in der Umwandlungseinrichtung (13) gespeichert werden, aufweist,
einer Schreibeinrichtung (20) zum Schreiben der zweiten Art von Binärzahldaten oder der ersten Art von Binärzahldaten in die Speicherzelle (11, 12) der Speichereinrichtung (10), und
einer Leseeinrichtung (20) zum Lesen der Daten, die von der Auswahleinrichtung (14) aus der Speichereinrichtung ausgewählt worden sind, wobei die von der Schreibeinrichtung (20) geschriebenen Binärzahldaten der zweiten Art gleichzeitig Binärzahldaten der ersten Art sind.
2. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß
die erste Art von Binärzahldaten redundante Binärzahldaten aufweist, und
die zweite Art von Binärzahldaten allgemeine Binärzahldaten aufweist.
die erste Art von Binärzahldaten redundante Binärzahldaten aufweist, und
die zweite Art von Binärzahldaten allgemeine Binärzahldaten aufweist.
3. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Speicherzelle
eine erste Speicherzelle (11) zum Speichern von einem Bit von allgemeinen
Binärzahldaten oder einem Bit von redundanten Binärzahldaten und
eine zweite Speicherzelle (12) zum Speichern eines Vorzeichenbits
der redundanten Binärzahldaten aufweist.
4. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, daß
die Schreibeinrichtung (20) ein Bit von Binärzahldaten in die erste
Speicherzelle (11) der Speichereinrichtung und eine logische "0" in
die zweite Speicherzelle (12) der Speichereinrichtung schreibt, wenn
allgemeine Binärzahldaten geschrieben werden.
5. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 3 oder 4, gekennzeichnet
durch eine Mehrzahl von Speichereinrichtungen (10), die in einer Mehrzahl
von Zeilen und Spalten angeordnet sind, und
eine Zeilenauswahleinrichtung (30) zum Auswählen von einer der
Mehrzahl von Zeilen.
6. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 5, gekennzeichnet
durch
eine Mehrzahl von ersten Bitleitungen (BL1), die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der ersten Speicherzelle (11) in der Speichereinrichtung (10) an der entsprechenden Spalte verbunden sind,
eine Mehrzahl von zweiten Bitleitungen (BL2), die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der zweiten Speicherzelle (12) in der Speichereinrichtung (10) an der entsprechenden Spalte verbunden sind, und
eine Mehrzahl von Wortleitungen (WL), die entsprechend der Mehrzahl von Zeilen gebildet und mit der ersten Speicherzelle (11) und der zweiten Speicherzelle (12) in der Speichereinrichtung (10) an der entsprechenden Zeile verbunden sind,
wobei die Zeilenauswahleinrichtung (30) eine der Mehrzahl von Wortleitungen (WL) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Adreßsignal auswählt, und
beim Datenschreiben Daten in die ersten und zweiten Speicherzellen (11, 12) in der Speichereinrichtung (10), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Schreibeinrichtung (20) über die Mehrzahl von ersten und zweiten Bitleitungen (BL1, BL2) geschrieben werden, und beim Datenlesen ausgewählte Daten in der Speichereinrichtung (10), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Leseeinrichtung (20) über die Mehrzahl von ersten und/oder zweiten Bitleitungen (BL1, BL2) gelesen werden.
eine Mehrzahl von ersten Bitleitungen (BL1), die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der ersten Speicherzelle (11) in der Speichereinrichtung (10) an der entsprechenden Spalte verbunden sind,
eine Mehrzahl von zweiten Bitleitungen (BL2), die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der zweiten Speicherzelle (12) in der Speichereinrichtung (10) an der entsprechenden Spalte verbunden sind, und
eine Mehrzahl von Wortleitungen (WL), die entsprechend der Mehrzahl von Zeilen gebildet und mit der ersten Speicherzelle (11) und der zweiten Speicherzelle (12) in der Speichereinrichtung (10) an der entsprechenden Zeile verbunden sind,
wobei die Zeilenauswahleinrichtung (30) eine der Mehrzahl von Wortleitungen (WL) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Adreßsignal auswählt, und
beim Datenschreiben Daten in die ersten und zweiten Speicherzellen (11, 12) in der Speichereinrichtung (10), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Schreibeinrichtung (20) über die Mehrzahl von ersten und zweiten Bitleitungen (BL1, BL2) geschrieben werden, und beim Datenlesen ausgewählte Daten in der Speichereinrichtung (10), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Leseeinrichtung (20) über die Mehrzahl von ersten und/oder zweiten Bitleitungen (BL1, BL2) gelesen werden.
7. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß
jede der Auswahleinrichtungen (14) der Mehrzahl von
Speichereinrichtungen (10) beim Datenlesen aktiviert wird, wenn die
entsprechende Wortleitung (WL) ausgewählt wird, und ein Bit von allgemeinen
Binärzahldaten, die von der entsprechenden Umwandlungseinrichtung
(13) umgewandelt worden sind, oder ein Datenbit von redundanten
Binärzahldaten, das in der entsprechenden ersten Speicherzelle (11)
gespeichert ist, in Abhängigkeit von einem extern angelegten
Auswahlsignal an die entsprechende erste Bitleitung (BL1) anlegt.
8. Halbleiterspeichereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß
die Schreibeinrichtung (20) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Schreibbestimmungssignal arbeitet, und
die Leseeinrichtung (20) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Lesebestimmungssignal arbeitet.
die Schreibeinrichtung (20) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Schreibbestimmungssignal arbeitet, und
die Leseeinrichtung (20) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Lesebestimmungssignal arbeitet.
9. Halbleiterspeichereinrichtung, mit
einer Speichereinrichtung (10a) mit einer ersten Speicherschaltkreiseinrichtung (21) zum Speichern von Binärzahldaten und einer zweiten Speicherschaltkreiseinrichtung (22, 23) zum Speichern von redundanten Binärzahldaten,
einer Umwandlungseinrichtung (20a) zum Umwandeln extern angelegten redundanter Binärzahldaten in Binärzahldaten,
einer Schreibeinrichtung (20a) zum Schreiben der extern angelegten redundanten Binärzahldaten und der Binärzahldaten, die von der Umwandlungseinrichtung (20a) umgewandelt worden sind, in die erste bzw. zweite Speicherschaltkreiseinrichtung (21-23) der Speichereinrichtung (10a), und
einer Leseeinrichtung (20a) zum selektiven Lesen der Binärzahldaten, die in der ersten Speicherschaltkreiseinrichtung (21) der Speichereinrichtung (10a) gespeichert sind, oder der redundanten Binärzahldaten, die in der zweiten Speicherschaltkreiseinrichtung (22, 23) der Speichereinrichtung (10a) gespeichert sind.
einer Speichereinrichtung (10a) mit einer ersten Speicherschaltkreiseinrichtung (21) zum Speichern von Binärzahldaten und einer zweiten Speicherschaltkreiseinrichtung (22, 23) zum Speichern von redundanten Binärzahldaten,
einer Umwandlungseinrichtung (20a) zum Umwandeln extern angelegten redundanter Binärzahldaten in Binärzahldaten,
einer Schreibeinrichtung (20a) zum Schreiben der extern angelegten redundanten Binärzahldaten und der Binärzahldaten, die von der Umwandlungseinrichtung (20a) umgewandelt worden sind, in die erste bzw. zweite Speicherschaltkreiseinrichtung (21-23) der Speichereinrichtung (10a), und
einer Leseeinrichtung (20a) zum selektiven Lesen der Binärzahldaten, die in der ersten Speicherschaltkreiseinrichtung (21) der Speichereinrichtung (10a) gespeichert sind, oder der redundanten Binärzahldaten, die in der zweiten Speicherschaltkreiseinrichtung (22, 23) der Speichereinrichtung (10a) gespeichert sind.
10. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruchs dadurch
gekennzeichnet, daß
die erste Speicherschaltkreiseinrichtung eine erste Speicherzelle (21) zum Speichern von einem Bit von Binärzahldaten und
die zweite Speicherschaltkreiseinrichtung eine zweite Speicherzelle (22) zum Speichern von einem Bit von redundanten Binärzahldaten und eine dritte Speicherzelle (23) zum Speichern eines Vorzeichenbits der redundanten Binärzahldaten aufweist.
die erste Speicherschaltkreiseinrichtung eine erste Speicherzelle (21) zum Speichern von einem Bit von Binärzahldaten und
die zweite Speicherschaltkreiseinrichtung eine zweite Speicherzelle (22) zum Speichern von einem Bit von redundanten Binärzahldaten und eine dritte Speicherzelle (23) zum Speichern eines Vorzeichenbits der redundanten Binärzahldaten aufweist.
11. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 9 oder 10,
gekennzeichnet durch
eine Mehrzahl von Speichereinrichtungen (10a), die in einer Mehrzahl von Zeilen und Spalten angeordnet sind
und eine Zeilenauswahleinrichtung (30) zum Auswählen von einer der Mehrzahl von Zeilen.
eine Mehrzahl von Speichereinrichtungen (10a), die in einer Mehrzahl von Zeilen und Spalten angeordnet sind
und eine Zeilenauswahleinrichtung (30) zum Auswählen von einer der Mehrzahl von Zeilen.
12. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 11, gekennzeichnet
durch
eine Mehrzahl von ersten Bitleitungen (BL1), die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der ersten Speicherzelle (21) in der Speichereinrichtung (10a) an der entsprechenden Spalte verbunden sind,
eine Mehrzahl von zweiten Bitleitungen (BL2) , die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der zweiten Speicherzelle (22) in der Speichereinrichtung (10a) an der entsprechenden Spalte verbunden sind,
eine Mehrzahl von dritten Bitleitungen (BL3), die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der dritten Speicherzelle (23) in der Speichereinrichtung (10a) an der entsprechenden Spalte verbunden sind, und
eine Mehrzahl von Wortleitungen (WL), die entsprechend der Mehrzahl von Zeilen gebildet und jeweils mit der ersten, zweiten und dritten Speicherzelle (21-23) in der Speichereinrichtung (10a) an der entsprechenden Zeile verbunden sind,
wobei die Zeilenauswahleinrichtung (30) eine der Mehrzahl von Wortleitungen (WL) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Adreßsignal auswählt, und
beim Datenschreiben Binärzahldaten in die erste Speicherzelle (21) in der Speichereinrichtung (10a), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Schreibeinrichtung (20a) über die Mehrzahl von ersten Bitleitungen (BL1) und redundante Binärzahldaten in die zweite und dritte Speicherzelle (22, 23) in der Speichereinrichtung (10a), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Schreibeinrichtung (20a) über die Mehrzahl von zweiten und dritten Bitleitungen (BL2, BL3) geschrieben werden, und beim Datenlesen Binärdaten, die in der ersten Speicherzelle (21) in der Speichereinrichtung (10a), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, oder redundante Binärzahldaten, die in der zweiten und dritten Speicherzelle (22, 23) in der Speichereinrichtung (10), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Leseeinrichtung (20a) über die Mehrzahl von ersten Bitleitungen oder die Mehrzahl von zweiten und dritten Bitleitungen (BL2, BL3) gelesen werden.
eine Mehrzahl von ersten Bitleitungen (BL1), die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der ersten Speicherzelle (21) in der Speichereinrichtung (10a) an der entsprechenden Spalte verbunden sind,
eine Mehrzahl von zweiten Bitleitungen (BL2) , die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der zweiten Speicherzelle (22) in der Speichereinrichtung (10a) an der entsprechenden Spalte verbunden sind,
eine Mehrzahl von dritten Bitleitungen (BL3), die entsprechend der Mehrzahl von Spalten gebildet und jeweils mit der dritten Speicherzelle (23) in der Speichereinrichtung (10a) an der entsprechenden Spalte verbunden sind, und
eine Mehrzahl von Wortleitungen (WL), die entsprechend der Mehrzahl von Zeilen gebildet und jeweils mit der ersten, zweiten und dritten Speicherzelle (21-23) in der Speichereinrichtung (10a) an der entsprechenden Zeile verbunden sind,
wobei die Zeilenauswahleinrichtung (30) eine der Mehrzahl von Wortleitungen (WL) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Adreßsignal auswählt, und
beim Datenschreiben Binärzahldaten in die erste Speicherzelle (21) in der Speichereinrichtung (10a), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Schreibeinrichtung (20a) über die Mehrzahl von ersten Bitleitungen (BL1) und redundante Binärzahldaten in die zweite und dritte Speicherzelle (22, 23) in der Speichereinrichtung (10a), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Schreibeinrichtung (20a) über die Mehrzahl von zweiten und dritten Bitleitungen (BL2, BL3) geschrieben werden, und beim Datenlesen Binärdaten, die in der ersten Speicherzelle (21) in der Speichereinrichtung (10a), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, oder redundante Binärzahldaten, die in der zweiten und dritten Speicherzelle (22, 23) in der Speichereinrichtung (10), die mit der ausgewählten Wortleitung (WL) verbunden ist, durch die Leseeinrichtung (20a) über die Mehrzahl von ersten Bitleitungen oder die Mehrzahl von zweiten und dritten Bitleitungen (BL2, BL3) gelesen werden.
13. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die Leseeinrichtung (20a) von einem extern
angelegten Auswahlsignal abhängig ist, zum Auswählen der
Binärzahldaten auf der Mehrzahl der ersten Bitleitungen (BL1) oder
der redundanten Binärzahldaten auf der Mehrzahl der zweiten und
dritten Bitleitungen (BL2, BL3), um die ausgewählten Daten zu lesen.
14. Halbleiterspeichereinrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 13, dadurch
gekennzeichnet, daß
die Schreibeinrichtung (20a) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Schreibbestimmungssignal arbeitet, und
die Leseeinrichtung (20a) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Lesebestimmungssignal arbeitet.
die Schreibeinrichtung (20a) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Schreibbestimmungssignal arbeitet, und
die Leseeinrichtung (20a) in Abhängigkeit von einem extern angelegten Lesebestimmungssignal arbeitet.
15. Verwendung der Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1 oder 9 in einer
integrierten Halbleiterschaltkreiseinrichtung, mit
einer ersten Verarbeitungseinrichtung (110) zum Ausführen einer Verarbeitung unter Verwendung von Binärzahldaten,
einer zweiten Verarbeitungseinrichtung (120) zum Ausführen einer Verarbeitung unter Verwendung von redundanten Binärzahldaten,
einer Speicherschaltkreiseinrichtung (130) zum Speichern von Binärzahldaten und von redundanten Binärzahldaten,
einem Datenbus (DB1, DB2), der mit der ersten und zweiten Verarbeitungseinrichtung (110, 120) und der Speicherschaltkreiseinrichtung (130) verbunden ist, und einer Ein-/Ausgabeschnittstelleneinrichtung (150) zum Eingeben/Ausgeben von Daten auf dem Datenbus (DB1, DB2), wobei die Speicherschaltkreiseinrichtung (130) die Halbleiterspeichereinrichtung aufweist.
einer ersten Verarbeitungseinrichtung (110) zum Ausführen einer Verarbeitung unter Verwendung von Binärzahldaten,
einer zweiten Verarbeitungseinrichtung (120) zum Ausführen einer Verarbeitung unter Verwendung von redundanten Binärzahldaten,
einer Speicherschaltkreiseinrichtung (130) zum Speichern von Binärzahldaten und von redundanten Binärzahldaten,
einem Datenbus (DB1, DB2), der mit der ersten und zweiten Verarbeitungseinrichtung (110, 120) und der Speicherschaltkreiseinrichtung (130) verbunden ist, und einer Ein-/Ausgabeschnittstelleneinrichtung (150) zum Eingeben/Ausgeben von Daten auf dem Datenbus (DB1, DB2), wobei die Speicherschaltkreiseinrichtung (130) die Halbleiterspeichereinrichtung aufweist.
16. Betriebsverfahren für eine Halbleiterspeichereinrichtung mit
einer Speicherzelle (11, 12) zum Speichern einer ersten Art von
Binärzahldaten oder einer Art von Binärzahldaten, mit
den Schritten:
Schreiben einer ersten oder einer zweiten Art von Binärzahldaten in die Speicherzelle (11, 12),
Umwandeln der ersten Art von Binärzahldaten, die in der Speicherzelle (11, 12) gespeichert sind, in die zweite Art von Binärzahldaten,
Auswählen der ersten Art von Binärzahldaten, die in der Speicherzelle (11, 12) gespeichert sind, oder der umgewandelten Binärzahldaten, und
Lesen der ausgewählten Daten.
Schreiben einer ersten oder einer zweiten Art von Binärzahldaten in die Speicherzelle (11, 12),
Umwandeln der ersten Art von Binärzahldaten, die in der Speicherzelle (11, 12) gespeichert sind, in die zweite Art von Binärzahldaten,
Auswählen der ersten Art von Binärzahldaten, die in der Speicherzelle (11, 12) gespeichert sind, oder der umgewandelten Binärzahldaten, und
Lesen der ausgewählten Daten.
17. Betriebsverfahren für eine Halbleiterspeichereinrichtung mit
einer ersten Speicherzelle (22, 23) zum Speichern einer ersten Art
von Binärzahldaten und einer zweiten Speicherzelle (21) zum
Speichern einer zweiten Art von Binärzahldaten,
Schritten:
Umwandeln der extern angelegten ersten Art von Binärzahldaten in eine zweite Art von Binärzahldaten,
Schreiben der extern angelegten ersten Art von Binärzahldaten und der umgewandelten zweiten Art von Binärzahldaten in die erste bzw. zweite Speicherzelle (21-23), und
selektives Lesen der ersten Art von Binärzahldaten, die in der ersten Speicherzelle (22, 23) gespeichert sind, und der zweiten Art von Binärzahldaten, die in der zweiten Speicherzelle (21) gespeichert sind.
Umwandeln der extern angelegten ersten Art von Binärzahldaten in eine zweite Art von Binärzahldaten,
Schreiben der extern angelegten ersten Art von Binärzahldaten und der umgewandelten zweiten Art von Binärzahldaten in die erste bzw. zweite Speicherzelle (21-23), und
selektives Lesen der ersten Art von Binärzahldaten, die in der ersten Speicherzelle (22, 23) gespeichert sind, und der zweiten Art von Binärzahldaten, die in der zweiten Speicherzelle (21) gespeichert sind.
18. Verfahren nach Anspruch 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, daß
die erste Art von Binärzahldaten redundante Binärzahldaten aufweist, und
die zweite Art von Binärzahldaten allgemeine Binärzahldaten aufweist.
die erste Art von Binärzahldaten redundante Binärzahldaten aufweist, und
die zweite Art von Binärzahldaten allgemeine Binärzahldaten aufweist.
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