DE4130826C1 - - Google Patents

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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/50Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval
    • H03M1/52Input signal integrated with linear return to datum

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Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Wandlung eines Analogsignals in ein Digitalsignal, nämlich einer analogen Eingangsspannung (in Form einer vorzugsweise niederfrequenten Rechteckspannung) in ein der Eingangsspannung proportionales digitales Ausgangssignal, bei dem die Eingangsspannung während einer vorgegebenen Aufintegrationszeit auf eine Integratorspannung aufintegriert wird, nach Ablauf der Aufintegrationszeit die Integratorspannung während einer Abintegrationszeit durch eine Referenzspannung auf Null abintegriert wird und aus dem Verhältnis von Abintegrationszeit zu Aufintegrationszeit, multipliziert mit der Referenzspannung die Eingangsspannung bestimmt wird.
Verfahren zur Wandlung eines Analogsignals in ein Digitalsignal sind vielfach bekannt; insbesondere sind das Parallelverfahren, das Wägeverfahren und das Zählverfahren bekannt.
Beim Parallelverfahren wird die Eingangsspannung gleichzeitig mit n Referenzspannungen verglichen; man stellt fest, zwischen welchen beiden Referenzspannungen die Eingangsspannung liegt. Auf diese Weise erhält man das der Eingangsspannung proportionale digitale Ausgangssignal, also eine bestimmte Zahl, in einem Schritt. Allerdings ist der Aufwand sehr hoch, da man für jede mögliche Zahl einen Komparator benötigt. Für einen Meßbereich von 0 bis 100 in Schritten von Eins benötigt man also n=100 Komparatoren.
Beim Wägeverfahren wird nicht das ganze Ergebnis in einem Schritt gebildet, vielmehr wird jeweils nur eine Stelle der Zahl (als Dualzahl) ermittelt. Dabei beginnt man mit der höchsten Stelle und stellt fest, ob die Eingangsspannung größer oder kleiner ist als die Referenzspannung für die höchste Stelle. Ist sie größer, setzt man die höchste Stelle auf Eins und subtrahiert die Referenzspannung. Den Rest vergleicht man mit der nächstniedrigeren Stelle usw. Man benötigt also so viele Schritte, wie die Zahl Stellen besitzt, und ebenso viele Referenzspannungen.
Das einfachste Verfahren ist das Zählverfahren. Dabei zählt man ab, wie oft man die Referenzspannung der niedrigsten Stelle addieren muß, um die Eingangsspannung zu halten. Die Zahl der Schritte ist das Ergebnis.
Das eingangs beschriebene Verfahren zur Wandlung eines Analogsignals in ein Digitalsignal ist eine besondere Art des Zählverfahrens, nämlich das sog. Zwei-Rampen-Verfahren (vgl. die DE-PS 38 14 813). Dabei ist es auch bekannt, dreistufig zu arbeiten, nämlich Aufintegration der Eingangsspannung, Aufintegration der Eingangsspannung und der Referenzspannung und Abintegration durch die Referenzspannung. Der Zeitpunkt, zu dem während der Aufintegration der Eingangsspannung die Referenzspannung zugeschaltet wird, wird dabei derart geregelt, daß der Nulldurchgang der Integratorspannung eine vorgegebene Zeit nach dem Beginn der Aufintegration der Eingangsspannung erfolgt.
Im folgenden wird anhand einer Zeichnung das bekannte Zwei-Rampen-Verfahren und eine entsprechende Schaltungsanordnung beschrieben; es zeigt
Fig. 1 eine Schaltungsanordnung für das Zwei-Rampen-Verfahren,
Fig. 2 eine grafische Darstellung einer in ein digitales Ausgangssignal zu wandelnden Eingangsspannung und
Fig. 3 bei der Schaltungsanordnung nach Fig. 1 auftretende Integratorspannungen.
Die in Fig. 1 dargestellte Schaltungsanordnung zur Durchführung des Zwei-Rampen-Verfahrens weist zunächst funktionsnotwendig einen Integrator 1 und einen Komparator 2 auf. Zusätzlich sind vorgesehen ein Summationsverstärker 3 mit einem D/A-Wandler 4, der, durch einen nicht dargestellten Mikroprozessor gesteuert, die Referenzspannung ersetzt, ein 10 : 1-Teiler 5 zur Vergrößerung der Dynamik und ein ±-Verstärker 6, damit der Komparator 2 immer einseitig abgesteuert wird und damit der Einfluß von Offset und von Reaktionszeiten als additiver Anteil möglichst konstant gehalten werden kann.
Im Ruhezustand ist der Schalter S₁ offen, der Schalter S₃ geschlossen, der D/A-Wandler 4 nicht angesteuert; die Integratorspannung Uint ist Null. Beim Meßbeginn wird ein ausgangsseitig vorhandener, nicht dargestellter Zähler, der Teil eines Mikroprozessors sein kann, gelöscht, der Schalter S₃ geöffnet und der Schalter S₁ geschlossen. Dadurch wird die Eingangsspannung Ue während einer vorgegebenen Aufintegrationszeit tauf, die mit Hilfe des nicht dargestellten Zählers gemessen wird, auf eine bestimmte Integratorspannung Uint aufintegriert. Am Ende der Aufintegrationszeit tauf gilt für die Integratorspannung Uint:
Anschließend wird die Integratorspannung Uint während einer Abintegrationszeit tab durch den D/A-Wandler 4, der eine Referenzspannung Uref ersetzt, also praktisch durch eine Referenzspannung Uref auf Null abintegriert. Mit Hilfe des Komparators 2 und des nicht dargestellten Zählers wird die Abintegrationszeit tab festgestellt. Es gilt
Damit bestimmt sich dann die Eingangsspannung Ue wie folgt:
Der Vorteil des Zwei-Rampen-Verfahrens besteht darin, daß weder die Taktfrequenz, die allerdings stabil sein muß, noch die Integrationszeitkonstante in das Ergebnis eingehen. Im übrigen geht nicht der Momentanwert der Eingangsspannung in das Ergebnis ein, sondern nur ihr Mittelwert über die Aufintegrationszeit. Daher werden Wechselspannungen umso stärker abgeschwächt, je höher ihre Frequenz ist. Wechselspannungen, deren Frequenz gleich einem ganzzahligen Vielfachen des Kehrwerts der Aufintegrationszeit ist, werden vollständig unterdrückt. So kann der Einfluß der Brummspannung der Netzfrequenz durch die Wahl der Aufintegrationszeit beseitigt werden.
Für das bisher beschriebene Zwei-Rampen-Verfahren gilt folgendes:
  • a) Unterschiedliche Eingangsspannungen führen zu unterschiedlicher Aussteuerung des Integrators (siehe die Kurven 1 und 2 in Fig. 3).
  • b) Bei kleiner Aussteuerung des Integrators ist die Übersteuerungsfestigkeit des Integrators klein.
  • c) Kleine Aussteuerungen des Integrators führen automatisch zu dem Problem, eine Gleichspannungskompensation so durchzuführen, daß der Integrator immer um Null herum angesteuert wird.
  • d) Der D/A-Wandler erzeugt unterschiedliche Referenzspannungen. Lineare Abweichungen des D/A-Wandlers gehen somit direkt in das Ergebnis ein. Es muß ein D/A-Wandler mit hoher Auflösung und guter Linearität eingesetzt werden.
  • e) Zur Erweiterung der Dynamik ist ein hochgenauer 10 : 1-Teiler erforderlich.
  • f) Der ±-Verstärker ist nötig, damit der Komparator immer einseitig angesteuert wird und damit man den Einfluß von Offset und von Reaktionszeiten möglichst als additiven Anteil konstanthalten kann.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, das zuvor im einzelnen beschriebene Verfahren zur Wandlung eines Analogsignals in ein Digitalsignal, also das Zwei-Rampen-Verfahren als eine Art des Zählverfahrens, so auszugestalten und weiterzubilden, daß es mit einer einfacheren Schaltungsanordnung und besserem Ergebnis durchgeführt werden kann.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist nun zunächst und im wesentlichen dadurch gekennzeichnet, daß während der Aufintegrationszeit der Eingangsspannung - vorzugsweise aus der Referenzspannung abgeleitete - Aussteuerimpulse überlagert werden und damit die Integratorspannung beeinflußt wird. Damit wird erreicht, daß auch bei unterschiedlichen Eingangsspannungen stets eine gleiche - oder nahezu gleiche - Aussteuerung des Integrators erreicht werden kann. Damit entfallen die weiter oben beschriebenen, mit unterschiedlichen Aussteuerungen des Integrators verbundenen Nachteile des im Stand der Technik bekannten Zwei-Rampen-Verfahrens.
Im einzelnen gibt es nun verschiedene Möglichkeiten, das erfindungsgemäße Verfahren auszugestalten und weiterzubilden, was im folgenden nur beispielhaft angesprochen werden soll.
Zunächst empfiehlt es sich, bei dem erfindungsgemäßen Verfahren der Eingangsspannung je nach Bedarf positive und/oder negative Aussteuerimpulse zu überlagern. Um stets - mehr oder weniger - zu der gleichen Integratorspannung zu kommen, kann es nötig sein, nur mit positiven Aussteuerimpulsen, nur mit negativen Aussteuerimpulsen oder mit positiven und mit negativen Aussteuerimpulsen zu arbeiten.
Damit erfindungsgemäß besonders "feinfühlig" gearbeitet werden kann, wird man mit Aussteuerimpulsen arbeiten, deren Impulsbreite klein ist gegenüber der Aufintegrationszeit. Wählt man Aussteuerimpulse mit einer - relativ zur Aufintegrationszeit - besonders geringen Impulsbreite, so können alle Aussteuerimpulse die gleiche Impulsbreite haben. Man benötigt dann jedoch unter Umständen eine große Anzahl von Aussteuerimpulsen. Deshalb geht eine weitere Lehre der Erfindung dahin, mit Aussteuerimpulsen zu arbeiten, deren Impulsbreite gesteuert wird. Die Steuerung der Impulsbreite kann insbesondere nach der Puls-Width-Modulation (PWM) erfolgen.
Insgesamt kann man dann, wenn man bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die Anzahl und/oder die Polarität und/oder die Impulsbreite der Aussteuerimpulse steuert, das erfindungsgemäße Ziel, unabhängig von der Eingangsspannung zu einer vorgegebenen Integratorspannung zu kommen, nahezu beliebig genau erreichen.
Nach einer weiteren Lehre der Erfindung, der besondere Bedeutung zukommt, erfolgt bei der m-ten Wandlung das Steuern der Anzahl und/oder der Polarität und/oder der Impulsbreite der Aussteuerimpulse in Abhängigkeit davon, welche Integratorspannung bei der (m-1)-ten Wandlung erzielt worden ist; dies ist also ein iteratives Arbeiten.
Im folgenden wird nun das erfindungsgemäße Verfahren, wie das Verfahren im Stand der Technik, von dem die Erfindung ausgeht, ein Zwei-Rampen-Verfahren, und eine erfindungsgemäße Schaltungsanordnung anhand einer Zeichnung nochmals und ergänzend beschrieben; es zeigt
Fig. 4 eine bevorzugte Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 5 eine - der Fig. 2 entsprechende - grafische Darstellung einer in ein digitales Ausgangssignal zu wandelnden Eingangsspannung,
Fig. 6 entsprechend Fig. 3, die bei der Schaltungsanordnung nach Fig. 4 auftretende Integratorspannung und
Fig. 7 eine ergänzte Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Die in den Fig. 4 und 7 dargestellten Schaltungsanordnungen zur Durchführung des Zwei-Rampen-Verfahrens weisen zunächst wiederum, funktionsnotwendig, einen Integrator 1 und einen Komparator 2 auf. Zusätzlich ist ein Aussteuernetzwerk 7 vorgesehen, zu dem zwei Widerstände Rab und Rk und drei Schalter S₂, S₄a und S₄b gehören und das einerseits an der Referenzspannung Uref liegt, andererseits an den Integrationseingang des Integrators 1 angeschlossen ist.
Im Ausführungsbeispiel nach Fig. 7 sind zusätzlich noch, wie im Stand der Technik, ein Summationsverstärker 3, zusätzlich außerdem ein A/D-Wandler 8 vorgesehen. Mit Hilfe des Summationsverstärkers kann auch hier zur weiteren Erhöhung der Dynamik eine Gleichspannungskompensation durchgeführt werden. Da der eingestellte Wert über mehrere Messungen konstantgehalten und nur die Differenz von zwei Messungen bewertet wird, spielen Nichtlinearitäten des D/A-Wandlers keine Rolle. Hier kann also ein sehr preiswerter D/A-Wandler 4 mit acht Bit eingesetzt werden. Der beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 7 zusätzlich vorgesehene A/D-Wandler 8 dient der zusätzlichen Steigerung der Übersteuerungsfestigkeit des Integrators 1. Dazu wird die Integratorspannung während der Aufintegrationszeit ständig mit dem A/D-Wandler 8 gemessen. Weicht sie während der Aufintegrationszeit stark von Vorgabewerten ab, so werden die Aussteuerimpulse so beeinflußt, daß ein gültiges Spannungsfenster erreicht wird. Auch der A/D-Wandler 8 kann preiswert mit acht Bit gewählt werden.
Zur Funktionsweise des erfindungsgemäßen Verfahrens und der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnungen folgendes:
Im Ruhezustand sind die Schalter S₁, S₂, S₄a und S₄b geöffnet, der Schalter S₃ geschlossen; die Integratorspannung Uint ist Null. Beim Meßbeginn wird ein ausgangsseitig vorhandener, nicht dargestellter Zähler, der Teil eines Mikroprozessors sein kann, gelöscht, der Schalter S₃ geöffnet und der Schalter S₁ geschlossen. Während der jetzt beginnenden Aufintegrationszeit werden der Eingangsspannung Ue - aus der Referenzspannung Uref abgeleitete - Aussteuerimpulse überlagert, und zwar dadurch, daß die Schalter S₄a und S₄b gesteuert geöffnet bzw. geschlossen werden. Am Ende der Aufintegrationszeit tauf wird der Schalter S₁ geöffnet. Danach werden die Schalter S₂ und S₄b geschlossen, während der Abintegrationszeit tab die Integratorspannung Uint auf Null abintegriert. Danach gilt für die Eingangsspannung Ue:

Claims (7)

1. Verfahren zur Wandlung eines Analogsignals in ein Digitalsignal, nämlich einer analogen Eingangsspannung (in Form einer vorzugsweise niederfrequenten Rechteckspannung) in ein der Eingangsspannung proportionales digitales Ausgangssignal, bei dem die Eingangsspannung während einer vorgegebenen Aufintegrationszeit auf eine Integratorspannung aufintegriert wird, nach Ablauf der Aufintegrationszeit die Integratorspannung während einer Abintegrationszeit durch eine Referenzspannung auf Null abintegriert wird und aus dem Verhältnis von Abintegrationszeit zu Aufintegrationszeit, multipliziert mit der Referenzspannung die Eingangsspannung bestimmt wird, dadurch gekennzeichnet, daß während der Aufintegrationszeit der Eingangsspannung - vorzugsweise aus der Referenzspannung abgeleitete - Aussteuerimpulse überlagert werden und damit die Integratorspannung so beeinflußt wird, daß auch bei unterschiedlichen Eingangsspannungen stets eine gleiche - oder nahezu gleiche - Aussteuerung des Integrators erreicht wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Eingangsspannung positive und/oder negative Aussteuerimpulse überlagert werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Impulsbreite der Aussteuerimpulse gesteuert wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerung der Impulsbreite der Aussteuerimpulse nach der Puls-Width-Modulation erfolgt.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl und/oder Polarität und/oder die Impulsbreite der Aussteuerimpulse gesteuert wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß bei der m-ten Wandlung das Steuern der Anzahl und/oder der Polarität und/oder der Impulsbreite der Aussteuerimpulse in Abhängigkeit davon erfolgt, welche Integratorspannung bei der (m-1)-ten Wandlung erzielt worden ist.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Integratorspannung während der Aufintegrationszeit ständig - vorzugsweise mit einem A/D-Wandler - gemessen wird und dann, wenn die Integratorspannung während der Aufintegrationszeit von Vorgabewerten abweicht, die Aussteuerimpulse so beeinflußt werden, daß ein vorgegebenes Spannungsfenster erreicht wird.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0620652A3 (en) * 1993-04-14 1995-08-16 Fluke Corp Improved multiple slope analog-to-digital converter.
DE4441043C1 (de) * 1994-11-18 1995-12-07 Krohne Messtechnik Kg Verfahren zur Wandlung eines Analogsignals in ein Digitalsignal

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1434414A (en) * 1973-06-29 1976-05-05 Solartron Electronic Group Analogue to digital converters
US4268820A (en) * 1977-09-09 1981-05-19 Nippon Electric Co., Ltd. Integrating type analog-to-digital converter
DE3814813C1 (en) * 1988-05-02 1989-12-21 Bran & Luebbe Industrie Automation Gmbh & Co, 6900 Heidelberg, De Method and circuit arrangement for analog/digital conversion

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1434414A (en) * 1973-06-29 1976-05-05 Solartron Electronic Group Analogue to digital converters
US4268820A (en) * 1977-09-09 1981-05-19 Nippon Electric Co., Ltd. Integrating type analog-to-digital converter
DE3814813C1 (en) * 1988-05-02 1989-12-21 Bran & Luebbe Industrie Automation Gmbh & Co, 6900 Heidelberg, De Method and circuit arrangement for analog/digital conversion

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BAYATI, A.: Klassifizierung der integrierenden Analog-Digital-Umsetzer. In: Technisches Messen, H. 10, 1982, S. 363-370 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0620652A3 (en) * 1993-04-14 1995-08-16 Fluke Corp Improved multiple slope analog-to-digital converter.
DE4441043C1 (de) * 1994-11-18 1995-12-07 Krohne Messtechnik Kg Verfahren zur Wandlung eines Analogsignals in ein Digitalsignal

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