DE4108253C2 - Verfahren und Anordnung zur Herstellung von gerasterten Farbauszügen und Druckformen - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der elektronischen Reproduktions­ technik und betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Herstellung von gerasterten Farbauszügen und Druckformen für den Mehrfarbendruck mit Rastern beliebiger Rasterwinkel und Rasterweiten.

Bei einem Farbscanner zur Herstellung gerasterter Farbauszüge werden durch punkt- und zeilenweise optoelektronische Abtastung einer Farbvorlage drei primäre Farbsignale gewonnen, welche in einem Farbrechner in die Farbaus­ zugssignale für die Aufzeichnung der Farbauszüge "Gelb", "Magenta", "Cyan" und "Schwarz" eines Farbsatzes umgewandelt werden. Nach einer Verarbeitung der Farbauszugssignale zusammen mit Rastersignalen erfolgt eine punkt- und zeilenweise Aufzeichnung der vier gerasterten Farbauszüge eines Farbsatzes auf einem Aufzeichnungsmedium. Die gerasterten Farbaus­ züge eines Farbsatzes dienen als Druckformen für den Mehrfarbendruck. In einer Druckmaschine erfolgt der Übereinanderdruck der mit den Druckfarben "Gelb", "Magenta", "Cyan" und "Schwarz" eingefärbten Druckformen auf einem Druckträger zu einer mehrfarbigen Reproduktion.

Durch den Übereinanderdruck von Rasterpunkten können Moir´-Muster auf­ treten, die sich besonders bei Betrachtung des fertigen Drucks störend bemerkbar machen. Die Sichtbarkeit von Moir´-Mustern läßt sich bekanntlich dadurch vermindern, daß die Raster der einzelnen Farbauszüge eines Farbsat­ zes gegeneinander gedreht übereinandergedruckt werden, wozu die Farbaus­ züge mit Rastern unterschiedlicher Rasterwinkel aufgezeichnet werden müs­ sen. Durch den gedrehten Übereinanderdruck der einzelnen Raster wird erreicht, daß die Moir´-Perioden entweder zu klein oder zu groß sind, um im Druck von dem menschlichen Auge als störend wahrgenommen zu werden.

Die Raster der vier Farbauszüge eines Farbsatzes müssen daher mit vier unterschiedlichen Rasterwinkeln aufgezeichnet werden. Um ein Moir´-Mi­ nimum zu erhalten, werden in der Praxis häufig der Farbauszug "Gelb" mit einem Rasterwinkel von 0 Grad, der Farbauszug "Magenta" mit einem Rasterwinkel von -15 Grad, der Farbauszug "Cyan" mit einem Rasterwinkel von +15 Grad und der Farbauszug "Schwarz" mit einem Rasterwinkel von +45 Grad aufgezeichnet. Bei der Herstellung der Farbauszüge müssen diese Rasterwinkel sehr genau eingehalten werden, da bereits bei kleinen Winkel­ abweichungen wieder störende Moir´-Muster auftreten können.

Andere Rasterwinkel als die genannten werden dann benötigt, wenn bei­ spielsweise zusätzlich zu den vier Druckfarben weitere Farben gedruckt, ein anderes Druckmedium verwendet oder unterschiedliche Rasterweiten über­ einandergedruckt werden sollen.

Aus der DE-PS 28 27 596 ist bereits ein Verfahren und eine Einrichtung zur Herstellung von Farbauszügen mit Rastern beliebiger Rasterwinkelung und Rasterweite durch punkt- und zeilenweise Abtastung einer Farbvorlage und durch punkt- und zeilenweise Aufzeichnung von Rasterpunkten mittels eines über ein Aufzeichnungsmedium bewegten Aufzeichnungsorgans bekannt.

Bei dem bekannten Verfahren ist eine Matrix in eine Anzahl von Matrix­ elementen unterteilt und jedem Matrixelement ein Raster-Schwellwert zugeordnet, der einem Tonwert entspricht. Die Raster-Schwellwerte der Matrix repräsentieren die sich periodisch wiederholende Grundstruktur für jede Rastermasche des aufzuzeichnenden gedrehten Rasters (Rasterberg). Die den einzelnen Matrixelementen zugeordneten Raster-Schwellwerte sind in einer Speichermatrix jeweils auf denjenigen Speicherplätzen abgelegt, die der Lage der entsprechenden Matrixelemente innerhalb der Matrix entsprechen. Das Aufzeichnungsmedium für die Farbauszüge ist in eine Vielzahl von Flä­ chenelementen unterteilt, die in Aufzeichnungsrichtung des Aufzeichnungs­ organs und quer dazu ausgerichtet sind. Der Rasterpunkt innerhalb jeder Rastermasche des gedrehten Rasters wird aus aufgezeichneten Flächen­ elementen zusammengesetzt, wobei die Größe des Rasterpunktes entspre­ chend des wiederzugebenden Tonwertes von der Anzahl der belichteten Flächenelemente pro Rastermasche abhängt. Während der Aufzeichnung des gerasterten Farbauszugs überfährt das Aufzeichnungsorgan die einzelnen Flächenelemente Zeile für Zeile, und für jedes überfahrene Flächenelement wird in Abhängigkeit von den in der Farbvorlage ausgemessenen Tonwerten überprüft, ob es als Teil eines Rasterpunktes zu belichten ist oder nicht. Bei der Überprüfung wird die Lage des momentan überfahrenen Flächenelementes innerhalb der Rastermasche des gedrehten Rasters koordinatenmäßig festgestellt und durch eine entsprechende Adressierung der Speichermatrix derjenige Raster-Schwellwert aufgerufen, dessen Lage innerhalb der Matrix der festgestellten Lage des überfahrenen Flächenelementes in der betreffenden Rastermasche entspricht.

Die Entscheidung über eine evtl. Aufzeichnung des überfahrenen Flächenelementes erfolgt durch Vergleich des der betreffenden Rastermasche zugeordneten Tonwertes mit dem aufgerufenen Raster-Schwellwert, wobei aus dem Vergleich ein Aufzeichnungssignal abgeleitet wird, welches das Aufzeichnungsvorgang zur Aufzeichnung des betreffenden Flächenelementes einschaltet oder nicht.

Mit dem bekannten Verfahren lassen sich zwar gedrehte Raster mit beliebigen Rasterwinkeln und Rasterweiten erzeugen, dennoch können gelegentlich störende Moir´-Muster auftreten.

Durch die örtliche Quantisierung des Rasterberges bzw. durch die endliche Bitbreite der Speicheradressen entstehen nämlich bei Rasterwinkeln, die nicht zu ganzzahligen Speicheradressen führen, Abweichungen in der Rastergeometrie. Diese Abweichungen heben sich zwar über eine große Anzahl von Rastermaschen betrachtet auf, führen jedoch zu sich periodisch wiederholenden Streifen, die sich in der Reproduktion störend bemerkbar machen.

Ein Verfahren zur Verringerung von störenden Moir-Mustern wird schon in der DE-PS 29 29 876 angegeben, bei dem den berechneten Speicheradressen Zufallszahlen überlagert werden (Adressen-Wobbelung), was zu zufällig geänderten Rasterpunktformen führt.

Ein weiteres Verfahren zur Herstellung von gerasterten Farbauszügen mit Rastern beliebiger Rasterwinkel wird in der späteren US-PS 4 350 996 angegeben. Zur Verringerung von störenden Moir´-Mustern wird dort vorgeschlagen, entweder den in der Speichermatrix gespeicherten Raster-Schwellwerten oder den zur Adressierung der Speichermatrix berechneten Adressen kleine Zufallsbeträge in Form eines Rauschsignals hinzu zu addieren.

Mit den aus der DE-PS 29 29 876 und der US-PS 4 350 996 bekannten Maßnahmen lassen sich in extremen Fällen störende Moir´-Muster nicht ganz vermeiden.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Anordnung zur Herstellung von gerasterten Farbauszügen und Druckformen mit Rastern beliebiger Rasterwinkelung und Rasterweiten anzugeben, durch die die bekannten Verfahren dahingehend verbessert werden, daß die Ausbildung von störenden Mustern nunmehr nahezu ausgeschlossen ist.

Diese Aufgabe wird bezüglich des Verfahrens durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 und bezüglich der Anordnung durch die Merkmale des Patentanspruchs 10 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen angegeben.

Das angegebene Verfahren hat insbesondere den Vorteil, daß die quantisie­ rungsbedingten Abweichungen der Rasterpunkt-Anordnung von den jeweils vorgegebenen Rasterwinkeln statistisch verteilt auftreten und sich somit keine für das menschliche Auge erkennbaren Konturen bilden, insbesondere keine sich periodisch wiederholenden Streifen.

Die Erfindung wird im folgenden anhand der Fig. 1 bis 3 näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 eine Tabelle zur Erläuterung der mit dem bekannten Verfahren erzeugten Adressen (Stand der Technik),

Fig. 2 ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Anordnung, und

Fig. 3 ein Blockschaltbild eines Zufallsgenerators.

Anhand der Fig. 1 wird der Stand der Technik erläutert. Die Erfindung geht von dem aus der DE-PS 28 27 596 bekannten Verfahren zur Herstellung von gerasterten Farbauszügen und Druckformen mit Rastern beliebiger Raster­ winkel und Rasterweiten sowie von der in Fig. 1 der genannten Druckschrift dargestellten Anordnung zur Durchführung des Verfahrens aus.

Ein Raster besteht aus einer Vielzahl von sich periodisch wiederholenden Rastermaschen, in denen in Abhängigkeit von den Tonwerten einer zu reproduzierenden Vorlage unterschiedlich große Rasterpunkte aufgezeichnet werden. Das Aufzeichnungsmedium ist in eine Vielzahl von in Aufzeichnungs­ richtung eines Aufzeichnungsorgans ausgerichteten Flächenelementen unter­ teilt, die vom Aufzeichnungsorgan aufgezeichnet oder nicht aufgezeichnet werden, wobei sich die Rasterpunkte aus aufgezeichneten Flächenelementen zusammensetzen. Eine Matrix ist in eine Anzahl von Matrixelementen unter­ teilt, und jedem Matrixelement ein Raster-Schwellwert zugeordnet, der einem Tonwert bzw. einem Bildsignalwert entspricht. Die Raster-Schwellwerte der Matrix repräsentieren die Grundstruktur (Rasterberg) einer Rastermasche, die sich in den einzelnen Rastermaschen des Rasters periodisch wiederholt. Die den einzelnen Matrixelementen zugeordneten Raster-Schwellwerte sind in einer adressierbaren Speichermatrix abgelegt. Während der Aufzeichnung wird für jedes vom Aufzeichnungsorgan überfahrene Flächenelement auf dem Aufzeichnungsmedium innerhalb einer Rastermasche dasjenige Matrixele­ ment festgestellt, dessen Lage innerhalb der Matrix mit der Lage des Flächen­ elementes innerhalb der betreffenden Rastermasche übereinstimmt. Der dem festgestellten Matrixelement entsprechende Speicherplatz in der Speicher­ matrix wird adressiert und der auf dem adressierten Speicherplatz abgelegte Raster-Schwellwert ausgelesen. Die jeweils ausgelesenen Raster-Schwellwerte werden mit den entsprechenden Bildsignalwerten der Vorlage verglichen. Durch den Vergleich wird entschieden, ob die Flächenelemente als Teil des Rasterpunktes innerhalb der jeweiligen Rastermasche aufzuzeichnen sind oder nicht und es werden entsprechende Steuersignale zum Ein- bzw. Ausschalten des Aufzeichnungsorgans erzeugt.

Die Adressen (x; y) der Speichermatrix werden durch eine Transformation der Ortskoordinaten (u; v) der Flächenelemente in einem dem Aufzeichnungsme­ dium zugeordneten ersten orthogonalen UV-Koordinaten-System unter Berücksichtigung des jeweiligen Rasterwinkels (β) in Ortskoordinaten (x′; y′) eines dem gedrehten Raster zugeordneten zweiten orthogonalen XY-Koordi­ naten-Systems gemäß den Gleichungen (1):

x′ = K_u · u · cos β + K_v · v · sin β

y′ = -K_u · u · sin β + K_v · v · cos β (1)

und durch Modulo-Bildung gemäß den Gleichungen (2):

x = x′mod x₀

y = y′mod y₀ (2)

gebildet, wobei "K_u" und "K_v" Maßstabsfaktoren sind sowie "x₀" und "y₀" die Anzahl der Matrixelemente in beiden Richtungen des XY-Koordinaten-Systems darstellen.

Die Ortskoordinaten (u; v) der vom Aufzeichnungsorgan überfahrenen Flä­ chenelemente können beispielsweise durch Zählen von vorgegebenen Grund­ schritten Δu und Δv, welche die Ausdehnungen eines Flächenelementes angeben, mit Hilfe von Taktfolgen T_u und T_v nach Gleichungen (3)

u = C_uΔu

v = C_vΔv (3)

ermittelt werden, wobei "C_u" und "C_v" die Anzahl der jeweils gezählten Takte der Taktfolgen T_u und T_v sind. Anschließend erfolgt die Transformation der ermittelten Ortskoordinaten (u; v) in die Ortskoordinaten (x′; y′) nach Gleichun­ gen (1) und die Berechnung der Adressen durch Modulo-Bildung gemäß Glei­ chungen (2).

Alternativ dazu lassen sich die Ortskoordinaten (x′; y′) der einzelnen Flächen­ elemente durch eine fortlaufende Aufaddition (Akkumulation) von vorgege­ benen konstanten Beträgen D_x und D_y mittels der Taktfolgen T_u und T_v berechnen. Diese Beträge D_x und D_y haben die Form:

D_x = K_u Δu cos β + K_vΔv sin β

D_y = -K_u Δu sin β + K_vΔv cos β (4)

Die Ortskoordinaten (x′; y′) eines folgenden Flächenelementes (n+1) werden dann durch Addition der Beträge D_x und D_y nach Gleichungen (4) zu den Ortskoordinaten (x′; y′) des jeweils vorangegangenen Flächenelementes (n) nach den Gleichungen (5)

x′_{(n + 1)} = x′_n + D_x

y′_{(n + 1)} = y′_n + D_y

ermittelt und anschließend wiederum die Modulo-Bildung nach Gleichungen (2) durchgeführt, um die Adressen (x; y) zu erhalten.

Diese zuvor erläuterten Adressen-Berechnungen werden unter Berücksich­ tigung des jeweiligen Rasterwinkels (β) in der Anordnung nach Fig. 1 der DE-PS 28 27 596 in der Transformationsstufe (31) durchgeführt.

Fig. 1 der vorliegenden Patentanmeldung zeigt das Ergebnis der Adres­ senberechnung nach dem bekannten Verfahren in Form einer Tabelle. In die­ ser Tabelle sind die Ortskoordinaten x; y als Dezimalzahlen ausgedrückt und jeweils zusammengehörige Werte von x′ und y′ dargestellt, wobei die Koordi­ nateninkremente, z. B. Δx′ = 1 und Δy′ = tan 15° sind. Die Vorkommastel­ len entsprechen den Adressen x und y. Da bei diesem Beispiel Δx′ eine ganze Zahl ist, treten hierbei keine Quantisierungsprobleme auf. Aus der Tabelle ist jedoch ersichtlich, daß die Adresse y für drei aufeinanderfolgende Werte von x = Null ist. Darauf folgt eine Adresse y = 1 für vier aufeinanderfolgende Schritte. In einer periodischen Folge wechseln sich drei und vier aufeinander­ folgende Schritte mit gleicher Adresse bzw. Raster-Schwellwerten ab, wodurch sich bei der Aufzeichnung der Rasterpunkte eine störende Struktur ergibt. Zur Vermeidung der störenden Strukturen ist nach dem erfindungsgemäßen Verfahren vorgesehen, den jeweiligen Rasterwinkel (β) in einen ersten Winkel (β₁), dessen Tangens eine rationale Zahl ist, und in einen zweiten Winkel (β₂), dessen Tangens irrational ist, aufzuteilen, die Koordinatentransformation für die Winkel (β₁) und (β₂) getrennt durchzuführen und die berechneten Koordi­ natenanteile wieder zu addieren, wobei der mit dem Winkel (β₂) ermittelte Koordinatenanteil nur zufällig berücksichtigt wird.

Fig. 2 zeigt ein Ausführungsbeispiel für eine Anordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens, die beispielsweise die Transformationsstufe (31) in der Anordnung nach Fig. 1 der DE-PS 28 27 596 ersetzen kann.

In der Anordnung erfolgt die Berechnung der Ortskoordinaten (x′; y′) beispiels­ weise durch Akkumulation nach den Gleichungen (4) und (5) und der Adressen (x; y) durch Modulo-Bildung nach den Gleichungen (2).

In einer CPU (1) werden über einen Steuereingang (2) die jeweils benötigten Rasterwinkel (β) eingegeben. In der CPU (1) werden die eingegebenen Raster­ winkel (β), wie bereits vorgeschrieben, in einen ersten Winkel (β₁), dessen Tangens eine rationale Zahl ist, und einen zweiten Winkel (β₂), dessen Tangens eine irrationale Zahl ist, aufgeteilt. Für einen Rasterwinkel β = β₁+β₂ = 15° ergibt sich beispielsweise β₁ = arctan (4/15) und β₂ = 15°-β₁.

Während der "rationale" Winkel (β₁) über eine Datenleitung (3) als 32 Bit breites Signal dem Dateneingang (DI) eines Schreib/Lese-Speichers (4) zuge­ führt wird, gelangt der "irrationale" Winkel (β₂) über eine Datenleitung (5) als ebenfalls 32 Bit breites Signal an den Eingang (E) eines Zufallsgenerators (6). Der Schreib/Lese-Speicher (4) hat beispielsweise eine Größe von 16·32 Bit und verfügt über einen Adressen-Eingang (AW) zum Schreiben, einen Adressen-Ein­ gang (AR) zum Lesen, einen Daten-Ausgang (DO) sowie den Daten-Eingang (DI). In dem Schreib/Lese-Speicher (4) sind für jeden möglichen Winkel (β₁) Beträge D_1x und D_1y gemäß den Gleichungen (6) abrufbar gespeichert.

D_1x = K_uΔu cos β₁ + K_vΔv sin β₁

D_1y = -K_uΔu sin β₁ + K_vΔv cos β₁ (6)

In dem Zufallsgenerator (6) werden für den jeweils eingegebenen Winkel (β₂) folgende Beträge D_2x und D_2y nach den Gleichungen (7) berechnet:

D_2x = K_uΔu cos β₂ + K_vΔv sin β₂

D_2y = -K_uΔu sin β₂ + K_vΔv cos β₂ (6)

Außerdem werden in dem Zufallsgenerator (6) in Abhängigkeit von den berechneten Beträgen D_2x und D_2y Zufallsbeträge erzeugt.

Zur Synchronisation der Abläufe mit der Bewegung des Aufzeichnungsme­ diums in Relation zum Aufzeichnungsorgan weist die Anordnung eine Ablauf­ steuerung (7) auf, der die Taktfolgen T_u und T_v über Leitungen (8) zugeführt werden. Die Taktfolgen werden in an sich bekannter Weise von einem Um­ fangsimpulsgeber und einem Taktgenerator gewonnen, die in der genannten DE-PS 28 27 596 näher beschrieben sind. Jeder Takt der Taktfolge T_u signa­ lisiert jeweils einen Grundschritt Δu in Umfangsrichtung der Aufzeichnungs­ trommel, welche das Aufzeichnungsmedium trägt. Jeder Takt der Taktfolge T_v signalisiert eine Umdrehung der Aufzeichnungstrommel und damit einen Grundschritt Δv in Vorschubrichtung des Aufzeichnungsorgans. In der Ablauf­ steuerung (7) werden verschiedene Steuersignale erzeugt, nämlich ein zwei Bit breites Signal (WI) auf einer Leitung (9), das besagt, welcher von mehreren Rasterwinkeln ausgewählt werden soll, und ein Signal (U/V) auf einer Leitung (10), das angibt, ob ein Verarbeitungsschritt in Umfangsrichtung oder in Vor­ schubrichtung erfolgt. Ferner wird ein Signal X/Y auf einer Leitung (11) gewonnen, welches die sequentielle bzw. zeitmultiplexe Ermittlung der Orts­ koordinaten (x′; y′) steuert, sowie ein weiteres Signal (W-U/V).

Eine solche sequentielle Ermittlung ist möglich, weil sich bei der Aufzeichnung einer Bildlinie (Umfangslinie) jeweils nur die Ortskoordinate x′ in Umfangsrich­ tung ändert, während die Ortskoordinate y′ nur bei einem Bildlinienwechsel nach einer Umdrehung der Aufzeichnungstrommel geändert werden muß.

Zur Berechnung der Ortskoordinaten x′ wird der Betrag D_1x aus dem Schreib/Lese-Speicher (4) und der Zufallsbetrag aus dem Zufallsgenerator (6) ausgelesen und über Datenleitungen (12; 13) einem Addierer (14) zugeführt, der den Betrag D_1x und den Zufallsbetrag zu einem Gesamtbetrag D_x addiert.

Der Gesamtwert D_x wird über eine Datenleitung (15) einem weiteren Addierer (16) zugeführt, der zusammen mit einem zweiten Schreib/Lese-Speicher (17) einen Akkumulator bildet, in dem der Ausgang des Addierers (16) über eine Datenleitung (18) mit dem Dateneingang (DI) des Schreib/Lese-Speichers (17) verbunden ist und der Datenausgang (DO) des Schreib/Lese-Speichers (17) über eine weitere Datenleitung (19) an den zweiten Eingang des Addierers (16) angeschlossen ist. Über einen Eingang (20) werden Startwerte in den Schreib/ Lese-Speicher (17) eingegeben. In dem Akkumulator (16; 17) werden durch fortlaufende Aufaddition des Gesamtbetrages D_x gemäß Gleichungen (5) die Ortskoordinaten x′ als 32-Bit-Werte gebildet. Aus den Ortskoordinaten x′ werden durch Abstreifen von Bits, was der Modulo-Bildung gemäß Gleichun­ gen (2) entspricht, und durch Vernachlässigung der Nachkommaanteile 6-Bit-Wer­ te gebildet, die über eine Datenleitung (21) in ein X-Register (22) als Adressen x eingeschrieben werden.

Die Berechnung der Ortskoordinaten y′, die wie schon erwähnt, sequentiell mit der Berechnung der Ortskoordinaten x′ durchgeführt wird, läuft in analo­ ger Weise ab. Aus dem Schreib/Lese-Speicher (4) wird der Betrag D_1y und aus dem Zufallsgenerator (6) der entsprechende Zufallsbetrag abgerufen und in dem Addierer (14) zu dem Gesamtwert D_y zusammengefaßt. Durch Akkumu­ lation des Gesamtbetrages D_y werden die laufenden Ortskoordinaten y′ und daraus die Adressen y ermittelt, die über eine Datenleitung (21) in ein Y-Regi­ ster (23) eingeschrieben werden. Die auf diese Weise gebildeten Adressen x und y werden über Datenleitungen (24; 25) ausgelesen und zur Adressierung der nicht dargestellten Speichermatrix verwendet, aus der die Raster-Schwell­ werte zum Vergleich mit den Bildsignalwerten der Vorlage abgerufen werden.

Zur sequentiellen Steuerung wird das in der Ablaufsteuerung (7) erzeugte Signal X/Y verwendet, das den Schreib/Lese-Speichern (4; 17), dem Zufallsgene­ rator (6) und dem X-Register (22) zugeführt wird, während das Y-Register (23) mit dem in einem Inverter (26) invertierten Signal beaufschlagt wird, wodurch die berechneten Adressen abwechselnd in die entsprechenden Register (22; 23) eingeschrieben werden.

Die Zufallsbeträge können im Zufallsgenerator (6) beispielsweise durch zufäl­ lige Änderung der berechneten Beträge D_2x bzw. D_2y gewonnen werden, wobei die Zufallsbeträge im Addierer (14) den Beträgen D_1x bzw. D_1y hinzu­ addiert werden. Alternativ dazu können die Zufallsbeträge auch dadurch gewonnen werden, daß die berechneten Beträge D_2x bzw. D_2y den Beträgen D_1x bzw. D_1y zufällig hinzuaddiert oder nicht hinzuaddiert werden. In vorteil­ hafter Weise entsprechen die Mittelwerte der Zufallsbeträge den berechneten Beträgen D_2x und D_2y. Wenn beispielsweise die Addition und Nichtaddition mit einer 50%igen Verteilung erfolgt, werden die zufällig zu addierenden Beträge doppelt so groß wie die berechneten Beträge D_2x und D_2y gewählt, um den Mittelwert zu erreichen.

Auf diese Weise wird bei der Berechnung der Ortskoordinaten eine zufällig verteilte Annäherung erreicht, wodurch in der Adressen-Tabelle, die in Fig. 1 den Stand der Technik wiedergibt, die Periodizität aufgebrochen und bei der gerasterten Reproduktion störende Musterbildungen vermieden werden.

Die in Fig. 2 beschriebene Anordnung ist für die Verwendung eines Aufzeichnungsorgans mit einem Aufzeichnungsstrahl vorgesehen. Bei einem Mehrspur-Aufzeichnungsorgan muß die Anordnung entsprechend erweitert werden.

Fig. 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel für einen Zufallsgenerator, mit dem die Zufallsbeträge zufällig addiert oder nicht addiert werden können. Die Zufalls­ beträge werden über einen Dateneingang (DI) in einen Schreib/Lese-Speicher (28) eingeschrieben, der z. B. eine Kapazität von 8·32 Bit aufweist. Ein Schie­ beregister (29) wird von einem bei (30) zugeführten Taktsignal getaktet. Die Signale an zwei ausgewählten Ausgängen (D_i) und (D_k) werden einer Exklusiv-Oder-Schal­ tung (31) zugeleitet, deren Ausgang mit dem Eingang (SI) des Schie­ beregisters (29) verbunden ist. Bei geeigneter Wahl der Ausgänge (D_i) und (D_k) entstehen am Ausgang der Exklusiv-Oder-Schaltung pseudo-zufällig verteilte Impulse. Diese Impulse werden einem Eingang einer 32-fachen Und-Schaltung (32) zugeführt, so daß die aus dem Schreib/Lese-Speicher (28) ausgelesenen vorgegebenen Werte, die eine Bit-Breite von 32 aufweisen, in Abhängigkeit von den zufällig erzeugten Impulsen am Ausgang (A) anstehen.

Claims (10)

1. Verfahren zur Herstellung gerasterter Druckformen mit Rastern belie­ biger Rasterwinkel und Rasterweiten mittels eines relativ über ein Auf­ zeichnungsmedium bewegten Aufzeichnungsorgans, bei dem das Auf­ zeichnungsmedium in eine Vielzahl von Flächenelementen unterteilt ist und die Rasterpunkte aus von dem Aufzeichnungsvorgang aufgezeichne­ ten Flächenelementen zusammengesetztwerden, bei dem die periodi­ sche Grundstruktur einer Rastermasche des Rasters repräsentierende Raster-Schwellwerte in einer Speichermatrix adressierbar gespeichert sind, bei dem aus den Koordinatenwerten der vom Aufzeichnungsorgan überfahrenen Flächenelemente auf dem Aufzeichnungsmedium unter Berücksichtigung des jeweiligen Rasterwinkels Adressen für die Speicher­ matrix berechnet werden, und bei dem die durch die berechneten Adres­ sen in der Speichermatrix aufgerufenen Raster-Schwellwerte ausgege­ ben und mit Bildsignalwerten verglichen werden, wobei durch den Ver­ gleich entschieden wird, ob ein Flächenelement als Teil eines Rasterpunk­ tes aufgezeichnet wird oder nicht, dadurch gekennzeichnet, daß

• - der jeweilige Rasterwinkel (β) in einen ersten Teilwinkel (β₁), dessen Tangens eine rationale Zahl ist, und in einen zweiten Teilwinkel (β₂), dessen Tangens eine irrationale Zahl ist, unterteilt wird,
• - aus den Koordinatenwerten (u; v) der Flächenelemente in einem in Aufzeichnungsrichtung orientierten, orthogonalen UV-Koordinaten­ system erste Koordinatenanteile (x₁′; y₁′ bzw. D_1x; D_1y) der Flächen­ elemente unter Berücksichtigung des ersten Teilwinkels (β₁) und zweite Koordinatenanteile (x₂; y₂ bzw. D_2x; D_2y) der Flächenele­ mente unter Berücksichtigung des zweiten Teilwinkels (β₂) in einem in Richtung des Rasters ausgerichteten und mit dem UV-Koordinaten­ system den jeweiligen Rasterwinkel (β) einschließenden, orthogona­ len XY-Koordinatensystem ermittelt werden,
• - die zweiten Koordinatenanteile (x_2y′; y₂′ bzw. D_2x; D_2y) zufällig geändert werden,
• - die ersten Koordinatenanteile (x₁′, y₁′ bzw. D_1x; D_1y) und die zufällig geänderten zweiten Koordinatenanteile addiert werden, und
• - aus dem Additionsergebnis die Adressen (x; y) für die Speichermatrix gebildet werden.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel­ werte der zufälligen Änderungen den zweiten Koordinatenanteilen (x₂′; y₂′ bzw. D_2x; D_2y) entsprechen.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zweiten Koordinatenanteile (x₂′; y₂′ bzw. D_2x; D_2y) in zufälliger Folge addiert oder nicht addiert werden.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß

• - aus den Koordinatenwerten (u; v) der Flächenelemente die ersten Koordinatenanteile (x′₁; y′₁) nach den Gleichungen: x′₁ = K_u u cos β₁ + K_v v sin β₁y′₁ = -K_u u sin β₁ + K_v v cos β₁und die zweiten Koordinatenanteile (x′₂; y′₂) nach den Gleichungen:x′₂ = K_u u cos β₂ + K_v v sin β₂y′₂ = -K_u u sin β₂ + K_v v cos β₂ermittelt werden, in denen "K_u" und "K_v" Maßstabsfaktoren und "β₁" und "β₂" die Teilwinkel sind, und
• - die ersten Koordinatenanteile (x′₁; y′₁) und die zufällig geänderten zweiten Koordinatenanteile (x′₂; y′₂) addiert werden, um die Koordi­ natenwerte (x′; y′) zu erhalten.

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Koordi­ natenwerte (u; v) der Flächenelemente durch Zählen von Grundschritten (Δu; Δv) ermittelt werden, welche der Ausdehnung eines Flächenele­ mentes im UV-Koordinatensystem entsprechen.

6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Koordina­ tenwerte (u; v) der Flächenelemente durch fortgesetzte Aufaddition von Grundschritten (Δu; Δv) ermittelt werden, welche der Ausdehnung eines Flächenelementes im UV-Koordinatensystem entsprechen.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß

• - die ersten Koordinatenanteile (D_1x; D_1y) nach den Gleichungen: D_1x = K_u Δ u cos β₁ + K_v Δ v sin β₁D_1y = -K_u Δ u sin β₁ + K_v Δ v cos β₁und die zweiten Koordinatenanteile (D_2x; D_2y) nach den Gleichungen:D_2x = K_u Δ u cos β₂ + K_v Δ v sin β₂D_2y = -K_u Δ u sin β₂ + K_v Δ v cos β₂gebildet werden, in denen "Δu" und "Δv" der Ausdehnung eines Flächenelementes im UV-Koordinatensystem entsprechen, "β₁" und "β₂" die Teilwinkel sowie "K_u" und "K_y" Maßstabsfaktoren sind,
• - die ersten Koordinatenanteile (D_1x; D_1y) und die zufällig geänderten zweiten Koordinatenanteile (D_2x; D_2y) addiert werden, um die Gesamtkoordinatenanteile (D_x; D_y) zu erhalten, und
• - die Koordinatenanteile (x′; y′) jedes folgenden Flächenelementes (n+1) im XY-Koordinatensystem durch fortlaufende Aufaddition der Gesamtkoordinatenanteile (D_x; D_y) zu den Koordinatenwerten (x′; y′) des jeweils vorangegangenen Flächenelementes (n) nach den Gleichungen: x′_{(n + 1)} = x′_n + D_x,y′_{(n + 1)} = y′_n + D_y,ermittelt werden.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ermittlung der Adressen (x; y) der Speichermatrix aus den Koordinatenwerten (x′; y′) durch Modulo-Bildung nach den Gleichungen: x = x′mod x₀,y = y′mod y₀,erfolgt, in denen "x₀" und "y₀" die Anzahl der Speicherelemente in beiden Richtungen des XY-Koordinatensystems sind.

9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Ermittlung der Koordinatenwerte (x′) und der Koordinatenwerte (y′) sequentiell durchgeführt wird.

10. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein erster Schreib/Lese-Speicher (4) vorgesehen ist, dem die ersten Koordinatenanteile zuführbar sind, daß an einen Ausgang des ersten Schreib/Lese-Speichers (4) ein Eingang eines ersten Addierers (14) angeschlossen ist, dessen zweiter Eingang mit einem Zufallsgenerator (6) verbunden ist, daß der Ausgang des ersten Addierers (14) mit einem Eingang eines zweiten Addierers (16) verbunden ist, dessen weiterer Eingang an einen zweiten Schreib/Lese-Speicher (17) angeschlossen ist, und dessen Ausgang mit je einem Register (22; 23) für die Adressen (x; y) und mit einem Dateneingang des zweiten Schreib/Lese-Speichers (17) verbunden ist.