DE4103236A1 - Beleuchtungseinrichtung - Google Patents
BeleuchtungseinrichtungInfo
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/702—Reflective illumination, i.e. reflective optical elements other than folding mirrors, e.g. extreme ultraviolet [EUV] illumination systems
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B27/00—Photographic printing apparatus
- G03B27/32—Projection printing apparatus, e.g. enlarger, copying camera
- G03B27/52—Details
- G03B27/54—Lamp housings; Illuminating means
- G03B27/542—Lamp housings; Illuminating means for copying cameras, reflex exposure lighting
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/04—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for exposing, i.e. imagewise exposure by optically projecting the original image on a photoconductive recording material
- G03G15/04036—Details of illuminating systems, e.g. lamps, reflectors
Description
Die erfindungsgemäße Beleuchtungseinrichtung ist in optischen
Kopiergeräten und Geräten der Kinomatografie einsetzbar,
wo Originale, die mittels Projektionsobjektiv
abgebildet werden, mit einer hohen Lichtintensität gleichmäßig
ausgeleuchtet werden sollen. Besonders vorteilhaft
ist die Erfindung in der optischen Projektionslithografie
einsetzbar, wie sie zur Herstellung von Strukturen auf
Halbleiterscheiben bzw. Schablonen bei der Schaltkreisproduktion
verwendet wird.
In Beleuchtungseinrichtungen werden häufig Ellipsoidreflektoren
genutzt, um einen großen Bereich des von der Lichtquelle
ausgeleuchteten Raumwinkels zu erfassen und damit
einen großen Wirkungsgrad des Systems zu erreichen. Dabei
befindet sich die Lichtquelle zumindest annähernd symmetrisch
zu einem Brennpunkt des Rotationsellipsoids. Die
sich in der Nähe des anderen Brennpunktes ergebende Lichtverteilung
kann als Sekundärlichtquelle für ein nachgeordnetes
optisches System betrachtet werden. Auch hier sind
neben der Leuchtdichte die Winkelcharakteristik und die
Ortscharakteristik wichtige Parameter, die sich unmittelbar
oder mittelbar auf die Eigenschaften der Gesamtbeleuchtung
auswirken.
Da die Ellipsoidreflektoren in photolithografischen Geräten
hauptsächlich in Verbindung mit Kurzbogenlampen verwendet
werden, ist die nachfolgende Aufstellung von Charakteristika
für das in der sekundären Brennebene Leuchtfeld auf
diesen Fall beschränkt.
- - Die Intensitätsverteilung über den Aperturwinkel (Winkelcharakteristik) ist im sekundären Brennfleck von der Entfernung des betrachteten Flächenelementes von der Ellipsoidachse abhängig. Damit werden bei einer nachfolgenden Objektabbildung in verschiedenen Feldpunkten unterschiedliche Kohärenzbedingungen wirksam.
- - Im Integral über die Fläche des sekundären Brennflecks erzeugt der Ellipsoidreflektor über den Aperturwinkel eine ungleichmäßige Intensitätsverteilung. Dies ist für die Gleichmäßigkeit der Ausleuchtung im Feld von Nachteil.
- - Im sekundären Brennfleck erhalten kleine Aperturwinkel keine Strahlenanteile, während große Aperturwinkel nur in der Nähe der Ellipsoidachse Strahlenanteile erhalten.
- - Die vom Ellipsoid erzeugte große Kondensorkonstante (Produkt aus dem Durchmesser des sekundären Brennflecks und dem Sinus des maximalen Aperturwinkels) ist nur vorgetäuscht, da bestimmte Bereiche im r-α-Koordinatensystem keine bzw. nur geringe Strahlenanteile erhalten (r= Entfernung des betrachteten Punktes von der optischen Achse (Ellipsoidachse) im sekundären Brennfleck), α=Aperturwinkel im betrachteten Punkt).
- - Bei eingeschränkter Kondensorkonstante treten Strahlungsverluste auf, da nicht der volle Abstrahlwinkel im sekundären Brennfleck oder/und nicht der volle Durchmesser des sekundären Brennflecks ausgenutzt werden kann.
- - Von einem begrenzten Teilstück des Reflektors wird auch nur ein begrenzter Winkelbereich im sekundären Brennfleck ausgeleuchtet. Da ein bestimmter Winkel im sekundären Brennfleck optisch gebunden ist an einen definierten Ort in der Feldebene, wirken sich lokale Fehler auf der Ellipsoidfläche direkt auf die Ausleuchtungsgleichmäßigkeit aus.
Häufig werden Wabenkondensoren zur Lichtmischung verwendet,
die insbesondere die drei erstgenannten Nachteile mindern.
Sie können diese jedoch nicht völlig beseitigen. Hinzu
kommt, daß in der Abbildungsebene der durch den Wabenkondensor
geschaffenen Sekundärlichtquelle das Zentrum keine
Strahlungsanteile hat (Aperturloch).
Der Einsatz von Streuscheiben führt zu hohem Intensitätsverlust.
Durch die Anordnung einer Linse im sekundären Brennfleck
kann man zwar eine Umverteilung der Lichtintensität in den
verschiedenen Winkelbereichen erlangen, der maximale Aperturwinkel
wird jedoch auf Grund der symmetrischen Abbildung
grundsätzlich vergrößert.
Ziel der Erfindung ist es, ein Objektfeld mit geringem
technischen Aufwand möglichst gleichmäßig und mit hoher
Intensität auszuleuchten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die abgegebene
Energie einer Lichtquelle so in einem Leuchtfeld zu bündeln,
daß das Produkt aus Leuchtfeldgröße und dem Sinus des
maximalen Aperturwinkels möglichst klein ist und darüber
hinaus eine hohe Gleichmäßigkeit der Intensitätsverteilung
über die Fläche und/oder über die Aperturwinkel in dem
Leuchtfeld zu realisieren.
Die erfindungsgemäße Aufgabe ist mit einer Beleuchtungseinrichtung
nach Anspruch 1 gelöst. Um die Energie der Lichtquelle
maximal auszunutzen ist es von Vorteil, wenn der
Durchmesser des Blendenringes gleich dem Durchmesser der
Blende ist.
Entsprechend dem Hauptanspruch kommen zwei Teilstücke der
Ellipse als Erzeugende für den Rotationskörper in Betracht.
Wenn der Rotationskörper mit dem Teilstück erzeugt wird,
welches keinen Hauptscheitel beinhaltet, wird ein Teil des
Abbildes der Lichtquelle durch die Blende abgeschattet, der
an den Brennpunkt reflektorseitig angrenzt. Um eine möglichst
hohe Leuchtfeldintensität zu erlangen, ist es deshalb
von Vorteil die Lichtquelle zur sekundären Brennebene
hin so verschoben anzuordnen, daß die Lichtquelle vom
Brennpuntk lediglich begrenzt wird.
Ist die Erzeugende des Rotationskörpers das Teilstück,
welches einen Hauptscheitel beinhaltet, wird entsprechend
ein Teil des Abbildes der Lichtquelle durch die Blende
abgeschattet, der an den primären Brennpunkt seitens der
sekundären Brennebene angrenzt.
Es ist deshalb vorteilhaft, die Lichtquelle hauptscheitelseitig
zum primären Brennpunkt anzuordnen.
Die von den einzelnen Flächenelementen des Reflektors erzeugten
Bilder der Lichtquelle liegen nicht mehr symmetrisch
zur optischen Achse, wie das bei herkömmlichen
Ellipsoidreflektoren der Fall ist. Achsnahe Flächenelemente
bewirken somit eine große Abbildung mit kleinen Aperturwinkeln
um die optische Achse, während durch achsferne Flächenelemente
kleine Abbildungen mit großen Aperturwinkeln
im Randbereich der Blende entstehen.
Durch die Einfügung eines brechenden Elementes an den Ort
des sekundären Brennrings kann eine Änderung der Aperturwinkelverteilung
so erfolgen, daß auch kleine Aperturwinkel
beleuchtet werden, und daß das von einem Flächenelement des
Reflektors kommende Licht über einen großen Aperturwinkel
verteilt wird, so daß sich Flächenfehler am Reflektor nicht
direkt auf die Gleichmäßigkeit der Ausleuchtung auswirken.
Des weiteren entsteht dadurch die Möglichkeit, durch
Erweiterung des Reflektors einen größeren von der Lichtquelle
ausgeleuchteten Raumwinkel auszunutzen, da die
Aperturwinkel der vom Rand kommenden Strahlen verkleinert
werden. Bei der Verwendung einer Quecksilberhochdrucklampe
mit einem ausgeprägten Katodenfleck kann durch eine Anordnung
entsprechend den Unteransprüchen 6 und 7 die Gleichmäßigkeit
der Intensitätsverteilung über den Aperturwinkel
bzw. den Leuchtfeldradius r erhöht werden.
Die Erfindung soll nachstehend an zwei Ausführungsbeispielen
näher erläutert werden. Dazu zeigt
Fig. 1 das Konstruktionsschema für die Reflektoren einer
erfindungsgemäßen Beleuchtungseinrichtung, die des
weiteren nach ihrer theoretischen Entstehung als
äußerer Reflektor 1a und als innerer Reflektor 1i
bezeichnet werden,
Fig. 2 eine erfindungsgemäße Beleuchtungseinrichtung mit
einem äußeren Reflektor 1a und einer Streulinse 4,
Fig. 3 eine erfindungsgemäße Beleuchtungseinrichtung mit
einem inneren Reflektor 1i und einer Sammellinse 5,
Fig. 4 die Intensitätsverteilung über den Aperturwinkel α
im Leuchtfeld und dessen Radius r für eine Beleuchtungseinrichtung
mit einem herkömmlichen Ellipsoidreflektor,
Fig. 5 die Intensitätsverteilung für eine Beleuchtungseinrichtung
mit einem äußeren Reflektor 1a,
ohne brechendem Element,
Fig. 6 die Intensitätsverteilung für eine Beleuchtungseinrichtung
mit einem inneren Reflektor 1i,
ohne brechendem Element,
Fig. 7 die Intensitätsverteilung für eine erfindungsgemäße
Beleuchtungseinrichtung mit einem äußeren Reflektor 1a
einer Streulinse 4 und
Fig. 8 die Intensitätsverteilung für eine erfindungsgemäße
Beleuchtungseinrichtung mit einem inneren Reflektor 1i
und einer Sammellinse 5.
Der das Wesen der Erfindung bestimmende Reflektor entsteht
theoretisch durch die Rotation einer Ellipse, deren große
Halbachse gegenüber der Rotationsachse geneigt ist.
In Fig. 1 sind die beiden in einer Ebene möglichen Lagen
dieser rotierenden Ellipse dargestellt. Die Hauptachse der
Ellipse ist in ihrem primären Brennpunkt F um den Winkel ß
gegenüber der Rotationsachse, die gleich der optischen
Achse O eines nachgeordneten optischen Systems ist,
geneigt. Der Winkel ß wurde dabei vorteilhafterweise so
gewählt, daß der sekundäre Brennpunkt bei der Rotation der
Ellipse einen Brennring beschreibt, dessen Durchmesser
ungefähr gleich dem Durchmesser einer in der Ebene des
Brennrings angeordneten Blende 2 entspricht.
Wie aus Fig. 1 ersichtlich, werden bei der Rotation der
Ellipse ein äußerer Rotationskörper 1a und ein innerer
Rotationskörper 1i beschrieben.
Bei der Abbildung einer symmetrisch zum primären Brennpunkt
F angeordneten Lichtquelle 3 über den äußeren Rotationskörper
1a, wird die Abbildung des den Brennpunkt F reflektorseitig
ausgedehnten Teils der Lichtquelle 3 durch die
Blende 2 abgeschattet. Entsprechend des in Fig. 1 dargestellten
Brennpunktstrahles, welcher durch den sekundären
Brennpunkt F′a verläuft, schneidet keiner der reflektierten
Brennpunktstrahlen die optische Achse O vor der sekundären
Brennebene.
Umgekehrt verhält es sich bei der Abbildung der Lichtquelle
3 über den inneren Reflektor 1a. Hier wird der Teil
des Abbildes der Lichtquelle 3 abgeschattet, der sich nicht
reflektorseitig vom primären Brennpunkt F befindet. Die
reflektierten Brennpunktstrahlen schneiden, wie der dargestellte,
durch den sekundären Brennpunkt F′i verlaufende
Strahl, die optische Achse O vor ihrer Abbildung im sekundären
Brennring.
Wie bei herkömmlichen Ellipsoidreflektoren wird die Lichtquelle
3 in Abhängigkeit von der Lage des reflektierenden
Flächenelementes in unterschiedlichem Maßstab abgebildet.
Je weiter das reflektierende Flächenelement von der optischen
Achse O entfernt ist, desto kleiner ist der Abbildungsmaßstab.
Ein wesentlicher Unterschied eines Reflektors der erfindungsgemäßen
Beleuchtungseinrichtung zu diesen herkömmlichen
Ellipsoidreflektoren besteht neben dem bereits
genannten Brennring in der unsymmetrischen Lage der Abbildungen
zur optischen Achse O. Je achsferner die reflektierenden
Flächenelemente liegen, desto weiter konzentriert
sich die Abbildung in den Randbereich der Blende 2 und
desto größer werden hier die Aperturwinkel.
In den Fig. 2und 3 ist dieser Sachverhalt gut erkennbar
dargestellt.
Fig. 2 zeigt eine erfindungsgemäße Beleuchtungseinrichtung
mit einem äußeren Reflektor 1a und einer Streulinse 4.
Die eindimensional ausgedehnte Lichtquelle 3 grenzt seitens
der Blende 2 an den primären Brennpunkt F, so daß durch
die Blende 2 keine Abschattung der Abbildung der Lichtquelle
3 stattfindet. Durch die Anordnung einer Streulinse
4 unmittelbar nach der Blende 2 erfolgt eine gleichmäßigere
Verteilung der Aperturwinkel α über die Fläche des Leuchtfeldes
und eine Verringerung der großen Aperturwinkel α
besonders im Randbereich.
In ähnlicher Weise wirkt die Sammellinse 5 der in Fig. 3
dargestellten Beleuchtungseinrichtung mit einem inneren
Reflektor 1i. Hier allerdings ist die eindimensional ausgedehnte
Lichtquelle 3 reflektorseitig an den primären Brennpunkt
F angrenzend angeordnet.
Zum besseren Verständnis der Wirkungsweise einer erfindungsgemäßen
Beleuchtungseinrichtung sind in den Fig. 4
bis 8 Intensitätsverteilungen im Leuchtfeld über dessen
Radius r und den Aperturwinkel α für verschiedene Beleuchtungseinrichtungen
dargestellt.
Die schraffierten Flächen geben hierbei die Bereiche im α-r-
Koordinatensystem an, die durch die jeweilige Beleuchtungseinrichtung
Lichtintensität erhalten.
Der Ort O entspricht dem der optischen Achse rmax gibt den
Außenradius des Leuchtfleckes an.
αmin und αmax kennzeichnen den minimalen bzw. den maximalen
Aperturwinkel α, der im Leuchtfeld auftritt.
In Fig. 4 ist die Wirkung eines herkömmlichen Ellipsoidreflektors
dargestellt. Erkennbar ist die annähernd symmetrische
Verteilung der Intensität um die optische Achse O
für alle Aperturwinkel α, das Fehlen der Intensität für
kleine Winkelbereiche über das ganze Leuchtfeld und das
Fehlen der Intensität in dessen Randbereich.
Fig. 5 zeigt die Wirkung mit einem äußeren Reflektor 1a
und Fig. 6 mit einem inneren Reflektor 1i einer erfindungsgemäßen
Beleuchtungseinrichtung (ohne brechendes Element).
In beiden Fällen ist die Intensitätsverteilung nicht mehr
für alle Winkelbereiche symmetrisch zur optischen Achse O.
Der Außenradius rmax des Leuchtfelds und der maximale sowie
minimale Aperturwinkel αmax und αmin haben sich nur unwesentlich
geändert.
Die Fig. 7 und 8 zeigen die Wirkung einer erfindungsgemäßen
Beleuchtungseinrichtung zum einen mit einem äußeren Reflektor
1a und einer Streulinse 4 (Fig. 7) und zum anderen mit
einem inneren Reflektor 1i und einer Sammellinse 5 (Fig. 8).
Die Wirkung der Linsen wird durch die Pfeile charakterisiert.
Es entsteht eine Verschiebung der Aperturwinkelverteilung
über den Radius r. Der maximale Aperturwinkel αmax verkleinert
sich bei annähernd gleichbleibender Leuchtfeldgröße.
Kleine Aperturwinkel erhalten bis α=0 Lichtintensität.
Bei Verwendung einer Quecksilberhochdrucklampe mit einem
ausgeprägten Kathodenfleck muß dieser in den primären
Brennpunkt F gelegt werden, um eine gleichmäßige Intensitätsverteilung
über den Aperturwinkel α im Leuchtfeld zu
erhalten. In diesem Fall wird die hohe Intensität des
Katodenflecks durch alle Reflektorbereiche in den Randbereich
des Leuchtfeldes projiziert (in den Fig. 5 bis 8 mit
xxxx gekennzeichnet). Auch bei Einsatz der Linsen bleibt
der Bereich hoher Intensität örtlich konzentriert (große
Ungleichmäßigkeit über das Leuchtfeld), aber winkelmäßig
über den ganzen Aperturwinkelbereich verteilt.
Wird die Anoden-Seite der Lichtquelle 3 in den primären
Brennpunkt F gelegt, verteilt sich die hohe Intensität des
Kathodenflecks weitgehend über das Leuchtfeld (in den Fig. 5
bis 8 mit oooo gekennzeichnet). Bei Einsatz der Linsen
konzentriert sich die hohe Intensität im wesentlichen auf
die großen Aperturwinkel α. Es ergibt sich eine ungleichmäßige
Intensitätsverteilung über den Aperturwinkel α bei
einer weitgehend gleichmäßigen Verteilung über den Radius
r.
Claims (7)
1. Beleuchtungseinrichtung mit einem Rotationskörper als
Reflektor, einer Lichtquelle (3) im primären Brennpunkt
(F) des Reflektors und einer Blende (2), die in dessen
sekundärer Brennebene symmetrisch zur optischen Achse (O)
angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet,
daß die Erzeugende des Rotationskörpers ein einseitig durch die Rotationsachse, die mit der optischen Achse (O) zusammenfällt, begrenztes Teilstück einer Ellipse ist, deren große Halbachse im primären Brennpunkt (F) die optische Achse (O) so schneidet, daß der Reflektor einen sekundären Brennring aufweist, dessen Durchmesser nicht größer ist, als der Durchmesser der Blende (2),
daß in der sekundären Brennebene oder in deren unmittelbaren Nähe ein rotationssymmetrisches brechendes Element angeordnet ist und
daß die Lichtquelle (3) entlang der optischen Achse (O) ausgedehnt ist.
daß die Erzeugende des Rotationskörpers ein einseitig durch die Rotationsachse, die mit der optischen Achse (O) zusammenfällt, begrenztes Teilstück einer Ellipse ist, deren große Halbachse im primären Brennpunkt (F) die optische Achse (O) so schneidet, daß der Reflektor einen sekundären Brennring aufweist, dessen Durchmesser nicht größer ist, als der Durchmesser der Blende (2),
daß in der sekundären Brennebene oder in deren unmittelbaren Nähe ein rotationssymmetrisches brechendes Element angeordnet ist und
daß die Lichtquelle (3) entlang der optischen Achse (O) ausgedehnt ist.
2. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Durchmesser des sekundären Brennrings gleich dem Durchmesser der Blende (2) ist.
daß der Durchmesser des sekundären Brennrings gleich dem Durchmesser der Blende (2) ist.
3. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet,
daß das Teilstück der Ellipse keinen Hauptscheitel beinhaltet, die Lichtquelle (3) zum sekundären Brennring hin verschoben ist und das brechende Element eine vorwiegend divergierende Wirkung hat.
daß das Teilstück der Ellipse keinen Hauptscheitel beinhaltet, die Lichtquelle (3) zum sekundären Brennring hin verschoben ist und das brechende Element eine vorwiegend divergierende Wirkung hat.
4. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet,
daß das Teilstück der Ellipse einen Hauptscheitel beinhaltet, die Lichtquelle (3) vom sekundären Brennring weg verschoben ist und das brechende Element eine vorwiegend konvergierende Wirkung hat.
daß das Teilstück der Ellipse einen Hauptscheitel beinhaltet, die Lichtquelle (3) vom sekundären Brennring weg verschoben ist und das brechende Element eine vorwiegend konvergierende Wirkung hat.
5. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 1, 2, 3 oder 4 dadurch
gekennzeichnet,
daß die Lichtquelle (3) eine Quecksilberhochdrucklampe mit einem ausgeprägten Katodenfleck ist.
daß die Lichtquelle (3) eine Quecksilberhochdrucklampe mit einem ausgeprägten Katodenfleck ist.
6. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Erhöhung der Gleichmäßigkeit der Intensitätsverteilung über den Aperturwinkel die Katode der Quecksilberhochdrucklampe im primären Brennpunkt (F) angeordnet ist.
daß zur Erhöhung der Gleichmäßigkeit der Intensitätsverteilung über den Aperturwinkel die Katode der Quecksilberhochdrucklampe im primären Brennpunkt (F) angeordnet ist.
7. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Erhöhung der Gleichmäßigkeit der Intensitätsverteilung über den Leuchtfeldradius (r) die Anode im primären Brennpunkt (F) angeordnet ist.
daß zur Erhöhung der Gleichmäßigkeit der Intensitätsverteilung über den Leuchtfeldradius (r) die Anode im primären Brennpunkt (F) angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914103236 DE4103236A1 (de) | 1991-02-02 | 1991-02-02 | Beleuchtungseinrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914103236 DE4103236A1 (de) | 1991-02-02 | 1991-02-02 | Beleuchtungseinrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4103236A1 true DE4103236A1 (de) | 1992-08-06 |
Family
ID=6424296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19914103236 Withdrawn DE4103236A1 (de) | 1991-02-02 | 1991-02-02 | Beleuchtungseinrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4103236A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10256271A1 (de) * | 2002-12-03 | 2004-06-24 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Beleuchtungsanordnung |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE7335191U (de) * | 1972-10-26 | 1976-12-23 | Ducellier Et Cie., Paris | Beleuchtungsvorrichtung |
-
1991
- 1991-02-02 DE DE19914103236 patent/DE4103236A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE7335191U (de) * | 1972-10-26 | 1976-12-23 | Ducellier Et Cie., Paris | Beleuchtungsvorrichtung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
DE-Z.: Bild und Ton, Heft 4, 1984, S. 101-108 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10256271A1 (de) * | 2002-12-03 | 2004-06-24 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Beleuchtungsanordnung |
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Legal Events
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