DE4022228A1 - Verfahren und einrichtung zum materialbearbeiten mit laserstrahlen - Google Patents
Verfahren und einrichtung zum materialbearbeiten mit laserstrahlenInfo
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- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/03—Observing, e.g. monitoring, the workpiece
- B23K26/032—Observing, e.g. monitoring, the workpiece using optical means
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- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Einrichtung
zum Materialbearbeiten mit Laserstrahlen.
Bei der Bearbeitung von Werkstoffen mit Laserstrahlen oder bei me
dizinischen Anwendungen von Laserstrahlen können Beeinträchtigungen
durch zu starke Erhitzung des Laserauftreffpunktes einschließlich
seiner Umgebung, sowie unzureichend behandelter Bereiche entstehen
und insgesamt zu einem unbefriedigenden Ergebnis führen. Während das
Bearbeiten von Materialien mit Laserstrahlen im Werkstoffbereich
durch Wiederholen erfolgreich abgeschlossen werden kann, ist dies
im medizinischen Bereich im Regelfall nicht möglich. Dies ist aber
äußerst unbefriedigend und daher ist es wünschenswert die Laser
strahlen für Materialbearbeitungsverfahren exakt zu dosieren.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde ein Verfahren zum
Bearbeiten von Materialien mit Laserstrahlen zu schaffen das eine
optimale Dosierung der Laserstrahlen gewährleistet. Diese Aufgabe
ist gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß die Temperatur vom Auf
treffpunkt des Lasers auf das Material und/oder der Umgebung mit
einer Meßeinrichtung erfaßt und zur Temperaturhaltung als Signal
einer Regeleinrichtung zur Steuerung der Laserleistung zugeführt
wird.
Die erfindungsgemäße Maßnahme sichert durch einen Regelungsprozeß
genau definierte Temperaturen im Auftreffpunkt des Lasers und sei
ner Umgebung, so daß Schäden durch übermäßige Dosierungen oder
Fehler durch zu geringe Lasereinwirkungen vermieden werden. Für die
Temperaturmessung kann ein nach dem Prinzip der Thermographie ar
beitendes Meßgerät, ein mit einer Sonde nach dem Prinzip der Di
rektmessung arbeitendes Meßgerät, gegebenenfalls mit faseroptischer
Sonde oder ein Strahlungsthermometer benutzt werden.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung, insbesondere
Einrichtungen zur Durchführung des Verfahrens sind den Ansprüchen
6 bis 22 zu entnehmen.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild für einen ersten schematischen Aufbau
einer Meßeinrichtung,
Fig. 2 ein Blockschaltbild für einen zweiten schematischen Aufbau
einer Meßeinrichtung,
Fig. 3 ein Blockschaltbild für einen dritten schematischen Aufbau
einer Meßeinrichtung,
Fig. 4 ein Blockschaltbild eines parameteradaptiven Regelkreises,
Fig. 5 das Prinzip eines mit einem Laser bestrahlten und mit einer
Wärmebildkamera beobachteten Werkstückes und
Fig. 6 ein Diagramm über den Aufheizvorgang eines mit einem Laser
bestrahlten Werkstückes.
Wie die Darstellung nach Fig. 1 zeigt, wird ein Objekt 1 mit einem
Laser 2 zur Materialbearbeitung bestrahlt und der Auftreffpunkt
des Lasers 2 auf dem Objekt 1 wird mit einem Thermographiesystem 3
beobachtet. Ein vom Thermographiesystem 3 gesteuerter Monitor 4 ge
stattet es auch den Bearbeitungsvorgang in vergrößerter Form zu
beobachten. Wie Fig. 2 und Fig. 3 zeigen, ist es auch möglich, ge
meinsame und/oder getrennte Endoskope 5, 5′ für die Laserstrahlen und
den Beobachtungsvorgang zu benutzen. Die Temperaturerfassung des La
serauftreffpunktes mit Hilfe der Thermographie hat den Vorteil von
der Wellenlänge des benutzten Lasers nicht abhängig zu sein. Es ist
aber auch möglich direkte Meßverfahren mit Sonden einschließlich fa
seroptischer Verfahren oder Strahlungsthermometer zu benutzen. Für
die Temperaturerfassung mit der Thermographie wird ein kalibriertes
Wärmebildsystem eingesetzt, das aus einer Wärmebildkamera, einer
Bildverarbeitungsstufe, einer Bildauswertestufe sowie dem Monitor
zur Bilddarstellung besteht. Die wesentliche Komponente der Wärme
bildkamera ist ein starrender Mosaikdetektor oder ein Detektorarray
mit Abtasteinrichtung, wobei wie Fig. 1 bis 3 zeigen Laser und Ther
mographie auf verschiedene Arten eingesetzt werden können. Der La
ser dient dabei als Stellglied innerhalb eines im Zusammenhang mit
Fig. 4 noch zu erläuternden Regelkreises, dessen Leistung je nach
den Erfordernissen des zu regelnden Bearbeitungsprozesses eingestellt
wird.
Der Aufbau der Meßeinrichtung muß sicherstellen, daß sich der durch
den Laser erwärmte Oberflächenausschnitt ohne Verdeckung im Gesichts
feld der Wärmebildkamera befindet. Dies kann durch eine ständige
Messung der Entfernung zwischen dem Laserauftreffpunkt und dem La
ser selbst erkannt und berücksichtigt werden. Mit einer angeschlos
senen Auswerteeinheit kann eine Verdeckung dann als eine über eine
durch die Benutzeroberfläche (Sichtbild des Monitors) zu setzende
Schwelle hinausgehende Entfernungsänderung erkannt und dem Benutzer
auf dem Monitor angezeigt werden. Gleichzeitig wird um Schäden zu
vermeiden der Laser abgeschaltet bzw. für eine fortschreitende Ent
fernungsmessung auf eine verträgliche Laserleistung zurückgeschal
tet.
Eine Entfernungsmessung wird ferner durchgeführt um die Fokussierung
der Optik für die Wärmebildkamera bei der Thermographie sicherzu
stellen. Bei Wärmebildkameras mit Mosaikdetektoren kann die Entfer
nungsmessung bzw. Regelung der Fokussierung durch Einstellung des
Signals der Laserstrahlung auf maximalen Kontrast erfolgen, da die
Mosaikdetektoren in spektraler Hinsicht hinreichend empfindlich für
die Laserstrahlen sind. Ein derartig aufgebautes Meßgerät arbeitet
zweckmäßigerweise mit einem Impulslaser, so daß die Phase für die
Entfernungsmessung bzw. Fokussierung stets mit der Phase der Ther
mographie wechselt. Bei einer mit einem Mosaikdetektor bestückten
Wärmebildkamera können die Phasen für die Entfernungsmessung und
die Thermographie mit den für die Bearbeitung erforderlichen Laser
takten gekoppelt und eingestellt werden. Das bedeutet, daß inner
halb des auf die Oberfläche des zu bearbeitenden Objektes einwir
kenden Laserimpulses, die Entfernungsmessung bzw. Fokussierung
durchgeführt wird. In der Laserstrahlungspause wird die Wärmebild
kamera dann als Meßgeber für die Regelung des Lasers eingesetzt.
Hierzu wird das Stellglied, und zwar der Laser, neu für den näch
sten Impuls eingestellt, die Beobachtungszeit für die Thermographie
entsprechend vorgewählt und in der Thermographieauswertung entspre
chend berücksichtigt. Für diesen Zweck kann auch die Bandbreite der
möglichen und einstellbaren Detektorintegrationszeiten ausgenutzt
werden. Bei einem Dauerstrichlaser oder einem Laser sehr kurzer
Strahlungspausen ist es zweckmäßig, insbesondere wenn die Wellen
länge des Lasers im Spektralbereich der Wärmebildkamera liegt, ein
spektrales Sperrfilter in den Strahlengang der Wärmebildkamera ein
zuschalten. Dieses Sperrfilter wird dann, wenn der Laser auch zur
Entfernungsmessung bzw. Fokussierung dient, entsprechend ein- und
ausgeschaltet.
Die Thermographie bietet die Möglichkeit das erfaßte Wärmebild nach
entsprechender Bildverarbeitung auf dem Monitor darzustellen. Da
bei kann mittels Falschfarben und Isothermen auch die Temperaturver
teilung angezeigt werden. Weiterhin ist es durch Vorgabe weiterer Pa
rameter z. B. des Lasertyps möglich eine Vorhersage über die Tempe
raturverteilung in der Materialtiefe vorzunehmen. Diese Information
kann über den Regelkreis, und zwar falschfarbkodiert, ebenfalls auf
dem Monitor dargestellt werden.
Bei der erfindungsgemäßen Materialbearbeitung wird, wie bereits er
wähnt, die Temperatur, und zwar der Punkt der höchsten Temperatur
im gesamten Gesichtsfeld der Wärmebildkamera oder einem innerhalb des
Sichtfeldes des Monitors vorgegebenen und mit Hilfe der Bildverarbei
tung immer wieder identifizierbaren Teilgesichtsfeld geregelt. Da
es sich bei dem Bearbeitungsprozeß um ein nichtlineares zeitvariantes
Mehrgrößensystem mit teilweise unbekannten Prozeßparametern handelt,
ist es wegen der geforderten bleibenden hohen Regelgüte und für die
Aufrechterhaltung der Stabilität der Regelkreises erforderlich, den
fest eingestellten Regler den sich verändernden Prozeßeigenschaften
anzupassen.
Ein Regelkreis, der diesen Anforderungen genügt, ist in Fig. 4 dar
gestellt. Der zu regelnde Prozeß 6 bildet zusammen mit einem in Form
einer rekursiven Differentialgleichung vorliegenden digitalen Reg
ler 7, dem Laser 2, einer Wärmebildkamera 8 und einer digitalen Bild
verarbeitungsstufe 9 einen Grundregelkreis, in dem der Regler 7 aus
der Regeldifferenz den aktuellen Stellwert u(k) für die erforderli
che Laserintensität berechnet. Der Regelgröße kann ein Störsignal
n(k) überlagert sein. Dem Grundregelkreis übergeordnet ist eine Adap
tionsebene, die eine Stufe zur Identifikation des unbekannten Pro
zeßverhaltens 10 und eine Stufe für die Bestimmung der Reglerpara
meter 11 enthält. Bei der Identifikation des unbekannten Prozeßver
haltens werden die unbekannten Parameter RID eines in seiner Struk
tur vorgegebenen Prozeßmodells mit der Methode der rekursiven Para
meterermittlung nur aufgrund gemessener aktueller und vergangener
Prozeßeingangs- und Prozeßausgangssignalwerte bestimmt. Hierzu bein
haltet die Stufe 11 zur Bestimmung der Reglerparameter eine program
mierbare Synthesevorschrift, um die Reglerparameter ΓRG einer vorge
gebenen digitalen Reglerstruktur aus den Parametern RRS des geschätz
ten Prozeßmodells zu berechnen. Die Prozeßidentifikation und die
Berechnung der Reglerparameter wird in der Basisstruktur des para
meteradaptiven Regelkreises nach jedem Abtastschritt durchgeführt,
wobei die Reglerparameter zum Zeitpunkt k aus den zum Zeitpunkt
k ermittelten Prozeßparametern RID berechnet und beim nachfolgenden
Abtastschritt k+1 im Grundregelkreis zur Regelung herangezogen wer
den.
Dem Grundregelkreis und der Adaptionsebene ist in einer weiteren
Rückführung eine Überwachungs- und Koordinationsebene übergeordnet.
In dieser Ebene 12 werden der Start der parameteradaptiven Regelung
gesteuert, entschieden zu welchem Zeitpunkt ein Reglerentwurf durch
geführt wird, Prüfungen vorgenommen um Fehlverhalten bei der Iden
tifikation und Berechnung der Reglerentwürfe zu erkennen und Über
wachungen durchgeführt damit der geschlossene Regelkreis im stabi
len Zustand gehalten werden kann.
Fig. 5 zeigt ein mit einem Laser 2 bestrahltes Werkstück im Schnitt
das mit einer Wärmebildkamera 8 beobachtet wird. Die gestrichelt
dargestellten Linien sind Isothermen (13), welche die Eindringtiefe
bzw. die Verbreitung der Temperatur vom Auftreffpunkt aus zeigen.
Bei der Regelung stehen folgende Prozeßparameter zur Verfügung:
- Temperaturwerte ϑi(t)
- die Fläche Fi(t)- die Temperaturänderung
für i = 1, 2, 3, 4, . . n.
- die Fläche Fi(t)- die Temperaturänderung
für i = 1, 2, 3, 4, . . n.
Als Führungsgrößen könnten die maximale Randtemperatur ϑRmax, oder
eine Fläche mit dem Radius rR dem Regelprozeß eingegeben werden.
Die adaptive Regelung ist notwendig, da bei inhomogener Materie
folgende Ungleichung gilt:
In der Darstellung nach Fig. 6 ist der Aufheizvorgang eines Auf
treffpunktes bei Translation des Lasers dargestellt. Bei der Trans
lation des Lasers von a nach b wird die Restwärme im Punkt P1 bei
einem erneuten Aufheizvorgang berücksichtigt, so daß Temperatur
spitzen in den Überdeckungsgebieten vermieden werden.
Bezugszahlen
1 Material
2 Laser
3 Meßeinrichtung
4 Monitor
5 Endoskop
6 Prozeß
7 digitaler Regler
8 Wärmebildkamera
9 digitale Bildverarbeitung
10 Identifikationsstufe
11 Stufe zur Bestimmung der Reglerparameter
12 Überwachungs- und Koordinationsebene
13 Isothermen
2 Laser
3 Meßeinrichtung
4 Monitor
5 Endoskop
6 Prozeß
7 digitaler Regler
8 Wärmebildkamera
9 digitale Bildverarbeitung
10 Identifikationsstufe
11 Stufe zur Bestimmung der Reglerparameter
12 Überwachungs- und Koordinationsebene
13 Isothermen
Claims (22)
1. Verfahren zum Materialbearbeiten mit Laserstrahlen,
dadurch gekennzeichnet, daß die Temperatur vom Auftreffpunkt des
Lasers (2) auf dem Material (1) und/oder der Umgebung mit einer Meß
einrichtung (3) erfaßt und zur Temperaturregelung des Auftreffpunktes
als Signal einer Regeleinrichtung zur Steuerung der Laserleistung
zugeführt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß für die Temperaturmessung ein nach dem Prinzip der Thermographie
arbeitendes Meßgerät (3) benutzt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß für die Temperaturmessung ein nach dem Prinzip der
Direktmessung mit einer Sonde arbeitendes Meßgerät benutzt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß für die Direktmessung ein Meßgerät mit faseroptischer Sonde
benutzt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß für die Temperaturmessung ein Strahlungsthermometer benutzt
wird.
6. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach
einem der Ansprüche 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, daß für die
Temperaturmessung ein kalibriertes Wärmebildsystem eingesetzt ist,
das aus einer auf den Auftreffpunkt des Lasers (2) gerichteten Wär
mebildkamera (8) besteht, deren Bildsignale über eine Bildverarbei
tungsstufe (9) und einer den Laser (2) steuernden Bildauswertestu
fe (7) einem Monitor (4) zur Darstellung des Auftreffpunktes zuge
leitet sind.
7. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der Laser (2) und/oder die Wärmebildkamera (8) über gemeinsame
und/oder getrennte Endoskope (5, 5′) auf das zu bearbeitende Material
(1) gerichtet sind.
8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die Endoskope (5, 5′) mit Lichtleitfasern zur Durchführung flexi
bler Bearbeitungs- und Beobachtungsvorgänge auf das zu bearbeitende
Material (1) gerichtet sind.
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß für die Wärmebildkamera (8) ein starrender Mo
saikdetektor eingesetzt ist.
10. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß für die Wärmebildkamera (8) ein Detektorarray
mit einer Zeilenabtasteinrichtung eingesetzt ist.
11. Einrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, daß der auf das zu bearbeitende Material (1) gerich
tete Laserstrahl gleichzeitig als Entfernungsmeßeinrichtung dient, um
Verdeckungen des Materials (1) zu erfassen und/oder die Fokussierung
der Optik für die Wärmebildkamera (8) sicherzustellen.
12. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 11, da
durch gekennzeichnet, daß das mit einem Impulslaser ausgelöste und
von einer mit einem Mosaikwandler bestückten Wärmebildkamera (8) er
faßte Bildsignal des Auftreffpunktes auf maximalen Kontrast einge
stellt ist, und daß die Entfernungsmessung bzw. die Fokussierung der
Wärmebildkamera (8) ständig mit der Phase der Thermographie wechselt.
13. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 11, da
durch gekennzeichnet, daß für den Laser (2) ein Dauerstrichlaser oder
ein Impulslaser sehr kurzer Strahlungspausen eingesetzt ist, und
daß in den Strahlengang zur Wärmebildkamera (8) ein auf die Wellenlän
ge des Lasers (2) abgestimmtes spektrales Sperrfilter eingesetzt ist.
14. Einrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeich
net, daß das spektrale Sperrfilter zur Durchführung der Entfernungs
messung und/oder Aufrechterhaltung der Fokussierung ein- und aus
schaltbar ist.
15. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 14, da
durch gekennzeichnet, daß das mit der Wärmebildkamera (8) erfaßte
und von der Bildverarbeitungsstufe (9) verarbeitete Wärmebild des
Laserauftreffpunktes auf dem Monitor (4) mittels Falschfarben und/
oder Isothermen (13) darstellbar ist.
16. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 15, da
durch gekennzeichnet, daß die Wärmeverteilung in der Materialtiefe
eines bearbeiteten Materials (1) durch eine programmierbare Parame
tervorgabe als Wärmebild, vorzugsweise falschkodiert, auf dem Moni
tor (4) darstellbar ist.
17. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 16, da
durch gekennzeichnet, daß die Bildverarbeitungsstufe (9) über eine
als digitaler Regler (7) ausgebildete Bildauswertestufe den Laser
(2) steuert, und daß der digitale Regler (7) derart programmierbar
ist, daß der Punkt der höchsten Temperatur im gesamten Gesichtsfeld
oder eines Teilgesichtsfeldes der Wärmebildkamera (8) geregelt wird.
18. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 17, da
durch gekennzeichnet, daß der digitale Regler (7) mit dem Laser (2),
der Wärmebildkamera (8) und der digitalen Bildverarbeitungsstufe (9)
einen Grundregelkreis bildet, dem eine Adaptionsebene mit einer Stufe
(10) zur ldentifikation des unbekannten Prozeßverhaltens und einer
Stufe (11) für die Bestimmung der Reglerparameter sowie eine Überwa
chungs- und Koordinationsebene (12) in einer weiteren Rückführung
zugeordnet ist.
19. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 18, da
durch gekennzeichnet, daß die Identifikationsstufe (10) die unbekann
ten Parameter RID eines in seiner Struktur programmierbaren Prozeßmo
dells mit der Methode der rekursiven Parameterbestimmung aufgrund
gemessener aktueller und vergangener Prozeßeingangs- und Prozeßaus
gangswerte bestimmt.
20. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 19, da
durch gekennzeichnet, daß die Stufe (11) zur Bestimmung der Regler
parameter eine programmierbare Synthesevorschrift zur Berechnung der
Reglerparameter RRS des Prozeßmodells enthält.
21. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 20, da
durch gekennzeichnet, daß die Prozeßidentifikation und die Berech
nung der Reglerparameter nach jedem Abtastschritt in der Basisstruk
tur des parameteradaptiven Regelkreises durchgeführt werden, und
daß die Reglerparameter ΓRG zum Abtastzeitpunkt k aus den zu diesem
Zeitpunkt ermittelten Prozeßparametern RID berechnet und für den Ab
tastschritt k+1 im Grundregelkreis eingesetzt werden.
22. Einrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 21, da
durch gekennzeichnet, daß die Stufen (12) der Überwachungs- und Ko
ordinationsebene den Start der parameteradaptiven Regelung steuern;
entscheiden, zu welchem Zeitpunkt die Bestimmung der Reglerparame
ter erfolgt; Fehlverhalten bei der Identifikation und Bestimmung
der Reglerparameter erkennen und den geschlossenen Regelkreis zur
Aufrechterhaltung eines stabilen Zustandes überwachen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904022228 DE4022228A1 (de) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | Verfahren und einrichtung zum materialbearbeiten mit laserstrahlen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904022228 DE4022228A1 (de) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | Verfahren und einrichtung zum materialbearbeiten mit laserstrahlen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4022228A1 true DE4022228A1 (de) | 1992-01-23 |
Family
ID=6410168
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904022228 Withdrawn DE4022228A1 (de) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | Verfahren und einrichtung zum materialbearbeiten mit laserstrahlen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4022228A1 (de) |
Cited By (3)
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