DE4021617A1 - Vorrichtung zum messen des eisengehaltes in zinkschichten - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen des Eisengehaltes in Zinkschichten und/oder der Stärke der Zinkschicht bei verzinktem Stahl, mittels Röntgen­ strahlungsquelle und Strahlungsdetektor. Bei der Stahlerzeugung wird bandförmiger Stahl zur Erhöhung des Korrosionswiderstandes mit Zink beschichtet. Diese Beschichtung erfolgt beispielsweise in einem so­ genannten Galvannealing Prozeß d. h. durch nachträgliches Aufheizen des verzinkten Stahls auf ca. 500 bis 600°C. Durch dieses "galvannealing" diffundiert Eisen in die Zinkschicht, so daß intermetallische Verbände zwischen Zink und Eisen gebildet werden. Dieser intermetallische Verband ist für die Weiterverarbeitbarkeit des beschichteten Stahls und das Haftverhalten der Zinkschicht von außerordentlich großer Bedeutung. Dabei kommt es insbesondere darauf an, während des Herstel­ lungsvorganges, den Eisenanteil in der Zinkschicht in engen Grenzen einzustellen, wozu man die jeweils ge­ nauen Prozentwerte des Eisengehaltes in der Zink­ schicht kennen muß. Zur Bestimmung dieses Eisenprozentanteils bzw. zum Messen des Eisenanteils in der Zinkschicht wird von der Kawasaki Seitetsu Giho unter dem Titel "CONTINUOUS MEASUREMENT OF FE CONTENT IN GALVANNEALED COATING" vom 28.01.88, ein Verfahren zur Messung der kristallographischen Gitterkonstanten für die FE/ZN-Kristallisationen mit Hilfe der Bragg- Methode beschrieben. Dieses Verfahren ist jedoch nur für den Laborbetrieb geeignet, da der apparative Auf­ wand sehr hoch ist, die Meßzeiten relativ lang sind, nämlich länger als 20 Sekunden und eine Lageänderung des Meßgutes zu fehlerhaften Meßergebnissen führt.

Weiterhin ist ein Verfahren bekannt, bei welchem durch einen Röntgenstrahler eine Material-Strahlungs- Anregung derart erfolgt, daß eine energieselektive Messung für die Zink- und Eisenanteile mit Hilfe eines Proportionalzählers erfolgen kann. Dieses Verfahren wird von Schikawa Works Nisshin Steel Co. Ltd, Japan unter dem Titel "MEASURING THE DEGREE OF ALLOYING OF GALVANNEALED STEEL SHEETS BY X-RAY DIFFRACTION TECHNIQUE AND ITS FRACTICAL USE" beschrieben. Nach diesem Verfahren wird der Proportionalzähler (Detektor) während des Meßvorganges in verschiedenen Winkeln zur Oberfläche des Meßguts gebracht, so daß aus diesen Meßergebnissen die Kristallstruktur ermittelt werden kann. Dabei treten ganz erhebliche Stablitätsprobleme auf, so daß beispielsweise alleine die Bewegung des Meßgutes, d. h. die Bewegungen des Materials um die Auflagefläche, zu Fehlmessungen führen muß. Damit ist auch dieses Verfahren lediglich für den Laborbetrieb geeignet.

Keines der bisher bekannten Verfahren zum Messen des Eisengehaltes in Zinkschichten bei verzinktem Stahl ist geeignet für Messungen während des Produktionsvor­ ganges eingesetzt zu werden, um damit die aktuellen Werte erkennbar zu machen, so daß die Prozeßsteuerung entsprechend vorgenommen werden kann.

Die Erfindung hat sich daher die Aufgabe gestellt eine Vorrichtung zum Messen des Eisengehaltes in Zink­ schichten und/oder der Zinkschichtstärke bei verzink­ tem Stahl zu schaffen, durch die während des rauhen Produktionsablaufes die aktuellen Beschichtungsmeß­ werte ermittelt werden.

Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Vorrichtung einen Meßkopf aufweist, in dem eine Hochspannungs-Röntgenstrahlungsquelle in einem Winkel zwischen 60° und 120° - zur Ebene des zu messenden Ma­ terials - und mindestens zwei mit selektiver Empfind­ lichkeit ausgestattete Detektoren von denen ein Detek­ tor in einem Winkel von maximal 30° und der andere De­ tektor in einem Winkel zwischen 60° und 120° angeord­ net sind.

Diese Meßvorrichtung ermöglicht, im sogenannten on­ line-Betrieb, direkt nach dem Auftrag der Zinkschicht die Messungen so vorzunehmen, daß der Eisengehalt in der Zinkschicht festgestellt wird. Gleichzeitig kann damit auch die Stärke der Zinkschicht gemessen und an­ gezeigt werden.

Auf der Zeichnung ist eine beispielsweise Ausführungs­ form der erfindungsgemäßen Vorrichtung schematisch dargestellt.

Es zeigen:

Fig. 1 einen Querschnitt durch die Vorrichtung.

Fig. 2 einen Querschnitt durch einen Ionisationskam­ mer-Detektor mit Absorptionsfilter.

Fig. 3 einen Querschnitt durch einen Halbleiterdioden-Detektor mit Absorptionsfil­ ter.

Fig. 4 einen Querschnitt durch einen Halbleiterdioden-Detektor mit Pulsdiskriminie­ rung.

Der mit 1 bezeichnete Meßkopf weist eine Hochspannungs-Röntgenstrahlungsquelle 2 sowie minde­ stens zwei Detektoren 3 und 4 auf. Der dritte Detekor 5 ist dann anzuordnen, wenn bestimmte Produktionsbe­ dingungen bzw. -abläufe, wie nachfolgend noch beschrieben, dieses erfordern.

Die Röntgenstrahlungsquelle 2 ist in einem Winkel Gamma zur Ebene des zu messenden Materials 6 (verzinkter Stahl) befestigt, während der Detektor 3 und 5 unter dem Winkel Alpha und Detektor 4 unter Win­ kel Beta, ebenfalls zur Ebene des zu messenden Materials 6, angeordnet sind. Der Winkel Gamma liegt zwischen 60° und 120°, der Winkel Alpha beträgt maxi­ mal 30° und der Winkel Beta liegt ebenfalls zwischen 60° bis 120°.

Die Detektoren 3, 4 und 5 sind als mit selektiver Empfindlichkeit ausgestattete Detektoren aufgebaut, das bedeutet, daß mittels dieser Detektoren die Inten­ sität einer bestimmten Art von ionisierender Strahlung (selektiv) in ein elektrisches Signal gewandelt und damit meßbar gemacht wird.

Die Detektoren 3, 4 und 5 detektieren die charakteristischen K-Linien von Zn (Zink) und Fe (Eisen), wobei entweder entsprechende Absorptionsfilter oder die Pulsdiskriminierung zum Erreichen der selektiven Empfindlichkeit eingesetzt werden. Beispielsweise einsetzbare Bauformen von Detektoren werden anhand der Fig. 2, 3 und 4 erläutert.

Der in Fig. 2 schematisch dargestellte Detektor be­ steht aus einem mit Edelgas gefüllten Metallgehäuse 7, das als Ionisationskammer 18 bezeichnet wird. Das Gehäuse 7 ist mit einem Eintrittsfenster 8, beispielsweise aus Kunststoffolie, versehen. Im Inneren des Gehäuses 7 - und gegenüber dem Gehäuse 7 isoliert - ist eine oder sind mehrere Metallelektroden 9 angebracht. Zwischen den Elektroden 9 und dem Gehäuse 7 ist während des Betriebes Hochspannung angelegt.

Tritt nun durch das Eintrittsfenster 8 ionisierende Strahlung in das Gehäuse 7 ein, so bewirkt diese, durch Drift der Ladungsträger im elektrischen Feld der Hochspannung, einen meßbaren Stromfluß an den Elektroden 9, welcher durch ein empfindliches Amperemeter 11 meßbar ist. Dieser Stromfluß reflektiert die Intensität der Strahlung. Die selektive Empfindlichkeit des Detektors wird durch das Anbringen einer entsprechenden Metallfolie 10, als Absorptionsfilter, vor das Eintrittsfenster 8, erzielt.

Derartige Absorptionsfilter bestehen beispielsweise aus Kupfer, Eisen oder anderen geeigneten Metallen.

In Fig. 3 ist ein Halbleiterdioden-Detektor mit seinen p- und n-leitenden Zonen 13 und 14 schematisch dargestellt, dessen selektive Empfindlichkeit ebenfalls durch die Anbringung einer Metallfolie 10 vor der Diode bewirkt wird. Ähnlich dem in Fig. 2 gezeigten Ionisationskammer-Detektoren wird auch bei dem Halbleiterdioden-Detektor, mittels Hochspannung in Sperrichtung der Dioden, eine große, ladungsträgerarme Zone 12 gebildet, in der bei Eintritt von ionisierender Strahlung, durch die Bildung von La­ dungsträgerpaaren, ein meßbarer Stromfluß erzeugt wird, der in einem empfindlichen Amperemeter 11 gemessen werden kann.Dieser Stromfluß reflektiert wiederum die Intensität der Strahlung.

In Fig. 4 ist ein Halbleiterdetektor gezeigt, der in seinem inneren Aufbau dem nach Fig. 3 entspricht.

Durch die Ankopplung eines sehr empfindlichen Verstärkers 15 werden elektronisch gut zu verarbeitende Impulse geliefert, deren Pulshöhen die Energie der einzelnen Strahlungsquanten (der ionisierenden Strahlung) reflektiert. Die selektive Empfindlichkeit des Detektors wird durch die elektronische Selektion der Pulshöhen in einem Einkanaldiskriminator 16 erzielt.

Die Wirkungsweise ist folgende:

Das Meßgut 6, d. h. der zinkbeschichtete Stahl wird mit Röntgenstrahlen aus der Röntgenröhre 2 bestrahlt und zur Emission von Röntgen-Fluoreszenzlinien angeregt. Dabei handelt es sich um die sogenannte charakteristi­ sche K-Strahlung von Zink und Eisen. Diese Fluoreszenzstrahlungen werden durch Detektoren 3 und 4 eventuell 5, die in den angegebenen Winkelbereichen Alpha, Beta und Gamma angeordnet sind, nachgewiesen. Der eine Detektor 3 bzw. 5, vor welchem sich beispielsweise eine Kupfer-Metallfolie 10 als Absorptionsfilter befindet, ist unter einem flachen Winkel Alpha von maximal 30° zum Meßgut 6 montiert. Die im Meßgut 6 angeregte Zinkstrahlung hat demzufolge sehr lange Strecken zu durchqueren und erfährt daher eine von der Zinkschichtstärke des Materials 6 nahezu unabhängige Schwächung im Meßgut 6 selbst. Dieses führt dazu, daß dieser Detektor 3 bzw. 5 in erster Näherung nur den Eisengehalt der Beschichtung registriert. Der andere Detekor 4 ist unter einem Winkel Beta von 60° bis 120° zum Meßgut 6 positioniert, um eine möglichst große Eindringtiefe der Beobachtung zu erzielen. Vor diesem Detektor 4 be­ findet sich als Absorptionsfilter z. B. eine Metallfolie 10 aus Eisen, so daß dieser zum Nachweis der Eisenstrahlung ausgerüstet ist. Die Schwächung der Intensität der ionisierenden Strahlung in der Beschichtungsstärke wird in diesem Detektor 4 gemessen und ergibt in erster Näherung die Zink-Flächenmasse der Beschichtung.

Zur genauen Bestimmung der Meßwerte für die Zink-Flä­ chenmasse und den prozentualen Eisengehalt in der Be­ schichtung werden die Signale aus den o. g. Detektoren 3 und 4 einem mathematischen Algorithmus unterzogen, bei dem der prozentuale Anteil Fe in der Zn Schicht abhängig ist von dem Verhältnis der Flächenmasse zum Eisengehalt. Diese Signale werden in allgemein bekann­ ten elektronischen Datenverarbeitungseinrichtungen 17 verarbeitet, angezeigt und/oder registriert und zur Steuerung des Herstellungsprozesses verwendet.

Sollte aufgrund bestimmter Produktionsgegebenheiten, während des Produktionsablaufes, Verkippungen oder Flatterbewegungen des Meßgutes 6 erfolgen, so daß da­ mit Meßungenauigkeiten befürchtet werden müssen, so können diese Meßungenauigkeiten durch die Anordnung eines dritten Detektors 5 eliminiert werden. Dieser dritte Detektor 5 muß symmetrisch zu dem Detektor 3, d.h. im gleichen Winkel Alpha zum Meßgut 6 angebracht sein, so daß beispielsweise bei Verkippung des Meß­ gutes 6 entgegen dem Uhrzeigersinn die geringere Meß­ wertfeststellung des Detektors 3 durch eine größere Meßwertfeststellung des Detektors 5 eliminiert ist.

Claims (6)

1. Vorrichtung zum Messen des Eisengehaltes in Zinkschichten und/oder der Stärke der Zinkschicht bei verzinktem Stahl, bestehend aus Röntgenstrahlungsquelle und Strahlungsdetektor, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung einen Meßkopf (1) aufweist in dem eine Hochspannungs- Röntgenstrahlungsquelle (2) in einem Winkel (Gamma) zwischen 60° und 120° und mindestens zwei mit selektiver Empfindlichkeit ausgestattete Detektoren (3, 4) von denen ein Detektor (3) in einem Winkel (Alpha) von maximal 30° und der andere Detektor (4) in einem Winkel (Beta) zwischen 60° bis 120° jeweils zur Ebene des zu messenden Materials (6) angeordnet sind.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßkopf (1) eine Hochspannungs-Röntgenstrahlungsquelle (2) und drei Detektoren (3, 4 und 5) aufweist,wobei die Detektoren (3 und 5) im gleichen Winkel (Alpha) zur Ebene des zu messenden Materials (6) angeordnet sind.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren (3, 4, 5) durch Anbringung einer Metallfolie (10) als Absorptionsfilter, selektive Empfindlichkeit aufweisen.

4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren (3, 4, 5) als Halbleiterdioden-Detektoren ausgebildet und jeweils an einen empfindlichen Verstärker (15) gekoppelt sind, wobei die Verstärkerimpulse in einem Einkanaldiskriminator (16) zur Erzielung der selektiven Empfindlichkeit der Detektoren (3, 4, 5) elektronisch auswählbar sind.

5. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren-Signale (3, 4, 5) einer an sich bekannten elektronischen Datenverarbeitungseinrichtung zur Darstellung und/oder Sichtbarmachung der Meßergebnisse zugeleitet werden.

6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß mit den Meßergebnissen durch an sich bekannte Mittel der Fertigungsprozess gesteuert ist.