DE3937950C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3937950C2 DE3937950C2 DE3937950A DE3937950A DE3937950C2 DE 3937950 C2 DE3937950 C2 DE 3937950C2 DE 3937950 A DE3937950 A DE 3937950A DE 3937950 A DE3937950 A DE 3937950A DE 3937950 C2 DE3937950 C2 DE 3937950C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- image
- pixels
- test
- boundary line
- gray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/44—Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components
- G06V10/443—Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components by matching or filtering
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/44—Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components
- G06V10/457—Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components by analysing connectivity, e.g. edge linking, connected component analysis or slices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur optischen Prüfung
einer Oberfläche auf einen Fehler, insbesondere
einen Sprung, einen
Fleck oder ein Unregelmäßigkeit, mit den Merkmalen des
Oberbegriffs des Patentanspruchs 1, wie aus der DE 30 28 942 A1
bekannt.
Aus der genannten DE 30 28 942 A1 ist ein Verfahren zum Prüfen
einer Flasche auf Verunreinigungen und Beschädigungen
bekannt, bei dem die Flasche beleuchtet, das Bild der
Flasche abgetastet, der Grauwert ermittelt, die Gradienten
benachbarter Bildpunkte ermittelt und eine Grenzlinie
in dem Grauwertbild ermittelt wird. Dieses bekannte
Verfahren versagt, wenn Fehler erkannt werden sollen,
deren Bild sich von dem Hintergrund nur gering abhebt.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein verbesserters
Verfahren zur optischen Überprüfung einer Oberfläche
zu schaffen, das einen Fehler einer Oberfläche
erkennen läßt, dessen Bild sich von dem ihn umgebenden
Bereich der Oberfläche des Gegenstands nur geringfügig
abhebt.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei einem Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 durch dessen kennzeichnende
Merkmale gelöst. Die Unteransprüche geben
vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung an.
Bei dem Verfahren nach der Erfindung wird die zu prüfende
Oberfläche abgetastet, um ein Grauwertbild und ein
Grenzlinienbild zu schaffen. Das ursprüngliche Grauwertbild
ist ein zweidimensionales Bild, das aus Bildpunkten
zusammengesetzt ist, die die Helligkeit der Oberfläche
des Gegenstands darstellen. Das Grenzlinienbild ist ein
binäres Bild, das die Grenze der Oberfläche des Gegenstandes
und einen Rand, der einen Fehler wie einen
Sprung, einen Einschnitt oder ähnliche Oberflächenunregelmäßigkeiten
markiert, wiedergibt. Wenn bei dem Abtasten
eine Grenzlinie erkannt wird, wird der betreffende
Bildpunkt als Prüfpunkt definiert. Sodann werden eine
Vielzahl von Bildpunkten in der Nähe des Prüfpunkts ausgewählt,
die in einer Richtung im wesentlichen rechtwinklig
zu dem Verlauf des Randes auf den jeweiligen
Seiten des Prüfpunktes verlaufen. Die ausgewählten Bildpunkte
werden anhand ihrer Grauwerte in dem ursprünglichen
Grauwertbild daraufhin ausgewertet, ob eine kritische
Differenz zwischen den Bildpunkten auf den gegenüberliegenden
Seiten des Prüfpunktes gegeben ist. Auf
diese Weise können eine Mehrzahl von Bildpunkten um den
Prüfpunkt betrachtet werden, um den Kontrast zwischen
den Bereichen auf den gegenüberliegenden Seiten der
Grenzlinie zu vergrößern, wodurch eine verbesserte und
genaue Fehlerbewertung ermöglicht wird. Infolgedessen
ist es mit dem Verfahren nach der vorliegenden Erfindung
möglich, auch einen unscharfen Defekt zuverlässig zu erkennen,
der nur einen geringen Kontrast gegenüber dem
benachbarten Normalbereich zeigt und der daher durch eine
einfache Oberflächenprüfung schwer zu erkennen ist.
Bei einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
wird eine Suchspur abgefahren, um die Punkte als Prüfpunkte
zu definieren, an denen die Suchspur die Grenzlinie
quert. Sodann werden die Bildpunkte, die entlang der
Suchspur auf den gegenüberliegenden Seiten des Prüfpunktes
angeordnet sind, ausgewählt, um die Zone der ausgewählten
Bildpunkte zu bilden. Die Zone weist mehrere Paare
von Bildpunkten auf, die symmetrisch an gegenüberliegenden
Seiten des Prüfpunkts angeordnet sind. Die Grauwerte
der beiden Bildpunkte in jedem symmetrischen Paar
werden genommen, um eine individuelle Differenz zwischen
diesen zu bestimmen. Die so für alle symmetrischen Paare
bestimmten individuellen Grauwertunterschiede werden
addiert und deren Summe mit einem vorgegebenen Bezugswert
verglichen.
Bei einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung wird eine Suchzone in dem Grenzlinienbild gebildet.
Die Suchzone wird nach einem Punkt der Grenzlinie
abgetastet, um einen Ausgangs-Prüfpunkt zu bestimmen,
an dem die Abtastlinie erstmalig die Grenzlinie
quert. Ausgehend von dem so bestimmten Ausgangsprüfpunkt
wird der Grenzlinie kontinuierlich gefolgt, um zusätzliche
Prüfpunkte zu bestimmen, die mit dem ursprünglichen
Prüfpunkt eine Reihe von Prüfpunkten definieren, die
entlang der Richtung der Grenzlinie angeordnet sind. Für
jeden der Prüfpunkte wird eine Mehrzahl von Bildpunkten
gewählt, die in einer Richtung im wesentlichen
rechtwinklig zu der Richtung des Randes angeordnet sind
und eine vergrößerte Prüfzone bilden, in der mehr als
ein Paar von ausgewählten Bildpunkten symmetrisch an den
gegenüberliegenden Seiten des Ausgangsprüfpunkts angeordnet
sind. Die Prüfzone wird analysiert, um in Übereinstimmung
mit den entsprechenden Bildpunkten in dem
Grauwertbild zu bestimmen, ob eine erhebliche Differenz
der Grauwerte zwischen den Bildpunkten in den symmetrischen
Paaren vorliegt, oder um zu bestimmen, ob eines
der Bildpunkte in dem symmetrischen Paar einen Grauwert
hat, der kritisch von einem vorgegebenen Schwellenwert
abweicht. Eine derartige Abweichung des Grauwerts wird
sukzessiv für die individuellen Prüfzonen bestimmt, die
in Richtung des Randes angeordnet sind, bis ein tatsächliches
Vorhandensein eines Fehlers festgestellt wird. Mit
dieser Technik das Analysierens sukzessiver Punkte des
Randes in Hinblick auf die Grauwerte verschiedener, über
jeden der Punkte angeordneten Bildpunkte unter Folgen
der Richtung des Randes wird eine genauere Fehlerbeurteilung
bewirkt.
Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich
aus den Ansprüchen und aus der Beschreibung, in der
Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand einer Zeichnung
erläutert werden. Dabei zeigt
Fig. 1 eine Blockdarstellung eines optischen
Oberflächenprüfsystems;
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines
Grauwertbildes eines Bereichs, der
eine zu prüfende Gegenstandsfläche
einschließt;
Fig. 3 eine schematische Darstellung eines
Grenzlinienbildes, das aus dem Grauwertbild
abgeleitet ist;
Fig. 4 eine schematische Darstellung eines
Feldes von Bildpunkten, die in einem
Quadrat angeordnet sind, unter Darstellung
eines bestimmten Bildpunktfeldes
und der acht benachbarten
Bildpunkte;
Fig. 5 eine schematische Darstellung eines
Absolutgradientenbildes, das von dem
Grauwertbild abgeleitet ist;
Fig. 6 eine schematische Darstellung ähnlich
wie Fig. 5, jedoch aufgeschnitten
durch einen Bezugsschwellenwert
zum Entfernen eines Rauschfaktors
vor Gewinnung des Grenzlinienbildes;
Fig. 7 eine Flußdarstellung des optischen
Oberflächenprüfverfahrens nach einem
ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 8 die Art und Weise, in der das Grenzlinienbild
entlang einer Suchspur
nach dem ersten Ausführungsbeispiel
abgetastet wird;
Fig. 9 die aus Fig. 9A bis 9D besteht,
verschiedene Formen der Suchspuren,
die bei dem Abtasten des Grenzlinienbildes
verwendet werden können;
Fig. 10 einen Satz von Bildpunkten, die eine
Prüfzone bilden und auf der Suchspur
auf den gegenüberliegenden Seiten
der Randlinie angeordnet sind;
Fig. 11 ein Flußdiagramm des optischen Oberflächenprüfverfahrens
nach einem zweiten
Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 12 die aus den Fig. 12A bis 12D besteht,
verschiedene Formen der
Suchspuren, die verwendet werden
können bei dem Scannen nach dem Rand
nach dem zweiten Ausführungsbeispiel;
Fig. 13 ein Flußdiagramm des optischen Chlorflächenverfahrens
in Übereinstimmung mit einem
dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 14 einen Satz von Prüfspuren, die zur
Erkennung eines Randes eines Fehlers
nach dem dritten Ausführungsbeispiel
angeordnet sind,
Fig. 15 ein Flußdiagramm des optischen Oberflächenprüfverfahrens
nach einem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung,
Fig. 16 eine Fig. 8 entsprechende Darstellung
bei Anwendung eines vierten
Ausführungsbeispiels,
Fig. 17 den Abtastvorgang bei dem vierten
Ausführungsbeispiel, und
Fig. 18 die Prüfstrategie bei dem vierten
Ausführungsbeispiel.
Das optische Verfahren zum Prüfen einer Oberfläche nach
der vorliegenden Erfindung ist zum Prüfen einer gedruckten
Schaltung ausgebildet, auf diesen Anwendungsfall jedoch
nicht beschränkt. Es dient zum Erkennen eines Fehlers
in oder auf den Leitern und den elektronischen Komponenten,
die die gedruckte Schaltung bilden. Ein solcher
Fehler kann ein Flecken, eine Vertiefung, eine Bohrung,
ein Sprung, ein Vorsprung oder eine ähnliche Oberflächenunregelmäßigkeit
sein, die manchmal dazu zwingt,
die gedruckte Schaltkarte zu verwerfen.
Anhand der Fig. 1 bis 10 wird ein erstes Ausführungsbeispiel
der Erfindung erläutert.
Fig. 1 zeigt, daß das vorliegende Verfahren eine Lichtquelle
10 verwendet, die zu der Oberfläche eines Gegenstands
A geneigt ausgerichtet ist und diese diffus beleuchtet.
Der Gegenstand A wird in Fig. 1 mit einem
Fehler X behaftet dargestellt, der durch einen Einschluß
Q außerhalb benachbart des Gegenstands A wiedergegeben
ist. Eine Fernsehkamera 20 ist oberhalb der Oberfläche
des Gegenstandes angeordnet, wobei ihre optische Achse
sich im wesentlichen senkrecht zu der Oberfläche des Gegenstandes
erstreckt, um ein zweidimensionales analoges
Bild des den Gegenstand A einschließenden Bereiches aufzunehmen.
Das Analogbild wird sodann auf einen Analog/
Digital-Wandler 30 gegeben, wo es digitalisiert wird, um
ein Grauwertbild zu schaffen, das in einem Grauwertbildspeicher
51 gespeichert wird. Das Grauwertbild
besteht aus einer Mehrzahl von Bildpunkten, die individuelle
Grauwerte haben, die der Helligkeit oder der Dunkelheit
des von dem den Gegenstand A aufnehmenden Bereich
reflektierten Lichts entsprechen.
Das Grauwertbild I₁, das so gewonnen ist, repräsentiert,
beispielsweise, wie in Fig. 2 gezeigt, eine Oberfläche
des zu prüfenden Gegenstandes A, den Fehler X auf
der Oberfläche des Gegenstands A und den Einschluß Q.
Das Grauwertbild I₁ wird weiter in einem Vorverarbeitungsabschnitt
40 verarbeitet, um drei andere Bilder, nämlich
I₂ des absoluten Gradienten, ein Bild I₃ eines gerichteten
Gradienten und ein Grenzlinienbild I₄ zu schaffen,
die jeweils in einem der Speicher 52 bis 54 gespeichert
werden. Das Grenzlinienbild I₄ ist ein Binärbild, das
durch Verarbeiten der anderen drei Bilder gewonnen ist,
und das, wie in Fig. 3 schematisch gezeigt ist, Randlinien
BL, EX und EQ repräsentiert und die Grenzlinien der
Oberfläche des Gegenstandes A, des Fehlers X und des
Einschlusses Q angibt.
Das Verfahren des Umsetzens des Grauwertbildes I₁ in
das Grenzlinienbild I₄ basiert auf der Tatsache, daß ein
Rand oder eine Grenzlinie zwischen benachbarten Bildpunkten
auftritt, die einen erheblichen Unterschied in
ihren Grauwerten haben. Infolgedessen wird das Grenzlinienbild
I₄ von dem Grauwertbild I₁ durch Differenzieren
des Grauwerts jedes der Bildpunkte in dem Grauwertbild
extrahiert. Ein solches Differenzierverfahren,
wie es in Fig. 4 dargestellt wird, verwendet ein Fenster
oder ein quadratisches Feld W von Bildpunkten, um einen
absoluten Gradientenwert (d. h. einen Differentialwert)
als auch einen gerichteten Gradientenwert für einen zentralen
Bildpunkt e in bezug auf die acht benachbarten
Bildpunkte a, b, c, d, f, g, h und i zu bestimmen. Der
absolute Gradientenwert ABS [Pe] kann durch die folgende
Formel bestimmt werden:
ABS [Pe] = (V²+H²)1/2,
wobei V die Grauwertsumme der oberen Reihe der Bildpunkte
[a, b, c] abzüglich derjenigen der unteren Reihe der
Bildpunkte [g, h, i] ist, wie dies durch die Gleichung
V=(Va+Vb+Vc)-(Vg+Vh+Vi)
angegeben wird.
H ist die Grauwertsumme der linken Spalte von Bildpunkten
[a, d, g] abzüglich derjenigen der rechten Spalte
von Bildpunkten [c, f, i], wie dies durch folgende Gleichung
angegeben wird:
H=(Va+Vd+Vg)-(Vc+Vf+Vi),
wobei Va, Vb, Vc, Vd, Vf, Vg, Vh und Vi Grauwerte der
entsprechenden Bildpunkte a bis d und f bis i sind.
Aus der obigen Definition ergibt sich, daß der absolute
Gradientenwert ABS [Pe] einen maximalen Grauwertgradienten
angibt, der den jeweiligen Bildpunkt [e] im Verhältnis
zu den benachbarten Bildpunkten zeigt.
Sodann wird eine Grenzlinie mit einer Ein-Bildpunkt-
Breite gebildet. Die sich ergebende Randlinie RL erstreckt
sich entlang einer geschwungenen Oberfläche des
absoluten Gradientenwertbildes I₂ wie dies in Fig. 5 gezeigt
ist. Die entsprechenden Bildpunkte sind dabei in
der X- und der Y-Richtung angeordnet, der absolute Gradientenwert
der Bildpunkte ist in Z-Richtung wiedergegeben.
Jede Grenzlinie wird unabhängig davon extrahiert,
ob die absoluten Gradientenwerte groß oder klein sind.
Die so extrahierten Grenzlinien können unvermeidliche
Fehler aufweisen, die auf einem Rauschen beruhen. Es
werden daher nur die Grenzlinien extrahiert, die den
Gradientenwerten folgen, die einen geeigneten Schwellenwert
THL übersteigen, wie dies in Fig. 6 gezeigt ist.
Dies dient der Elimination des Rauscheffektes.
Das so gewonnene Grenzlinienbild I₄ wird zusammen mit
dem Grauwertbild I₁, dem absoluten Gradientenbild I₂
und dem gerichteten Gradientenbild I₃ in den entsprechenden
Speichern 51 bis 54 gespeichert. Es ist hier zu
beachten, daß diese Bilder aus den individuellen Bildpunkten
zusammengesetzt sind und daß die Bildpunkte in
dem Grauwertbild I₁ den einzelnen Bildpunkten in den
drei anderen Bildern I₂ bis I₄ eins zu eins entsprechen.
In der folgenden Beschreibung werden die drei unterschiedlichen
Bilder durch ein X-Y-Koordinatensystem gekennzeichnet,
so daß die Werte eines gegebenen Bildpunkts
für das Grauwertbild, das absolute Gradientenbild,
das gerichtete Gradientenbild und das Grenzlinienbild
jeweils durch f₁ (x, y), f₂ (x, y), f₃ (x, y) und f₄ (x, y)
angegeben werden. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
werden die Grauwerte f₁ (x, y) des Grauwertbildes
durch ein 8-Bit-Wort definiert, so daß der Grauwert
f₁ (x, y) 0 bis 255 Helligkeitsstufen haben kann. Der absolute
Gradientenwert f₂ (x, y) wird als ein 6-Bit-Wort
definiert und kann daher 0 bis 63 Werte annehmen. Der
Wert f₄ (x, y) des Grenzlinienbildes wird durch ein einziges
Bit definiert und kann entweder "1" oder "0" haben
abhängig davon ob er die Grenzlinie bilder oder nicht.
Wie gewöhnlich bei der Beschreibung der Helligkeit oder
der Dunkelheit durch Grauwerte, werden die Grauwerte
als mit zunehmender
Helligkeit ansteigend angegeben.
Nachdem das obige Vorverarbeiten abgeschlossen ist und
die einzelnen Bilder in den Speichern 51 bis 54 gespeichert
sind, wird auf das Grenzlinienbild I₄ nach einer
programmierten Routine zugegriffen, wie diese in Fig. 7
gezeigt ist. Zunächst addressiert die Routine einen Abtastverarbeitungsabschnitt
60 in Fig. 1, um eine Suchspur
S zu schaffen innerhalb des Bereichs der Grenzlinie
BL der Oberfäche des Gegenstandes. Die Suchspur S ist
als eine geschlossene Schleife mit einem gemeinsamen
Start- und Endpunkt CP für die Suche definiert und kann
jede geeignete Ausbildung haben, z. B. diejenigen nach
den Fig. 9A bis 9D. Sodann schreitet das Programm fort,
um der Suchspur S ausgehend von dem Startpunkt CP zu
folgen und einen Punkt zu suchen, bei dem f₄ (x, y)=1
ist, d. h. wo der Bildpunkt, an dem die Suchspur S erstmalig
den Rand EX des Fehlers erreicht,
als Prüfpunkt F zu bestimmen.
Sodann wird ein Zonenprüfverarbeitungsabschnitt 70 aufgerufen,
um eine Zone M der Bildpunkte L₁ bis Ln, F und
R₁ bis Rn in dem Grenzlinienbild I₄ zu definieren, die
wie durch gestrichelte Linien in Fig. 8 angegeben, ausgewählt
sind, die entlang der Suchspur S auf gegenüberliegenden
Seiten des Prüfpunktes F angeordnet sind. Die
Zone M deckt (2n+1) Bildpunkte ab, wobei wenigstens zwei
Bildpunkte symmetrisch zu dem Prüfpunkt F angeordnet
sind. Die Bildpunkte L₁ bis Ln und R₁ bis Rn in der Zone
M in dem Grenzlinienbild I₄ können durch Verwendung des
gemeinsamen X-Y-Koordinatensystems als L₁ (XF-1, YF-1) bis
Ln (Xf-n, XF-n), F(XF, YF) und R₁(XF+1, YF+1) bis Rn(XF+n, YF+n)
bestimmt werden. In einem Grauwertverarbeitungsabschnitt
80 werden die entsprechenden Bildpunkte in dem Grauwertbild
I₁ ausgewählt, um eine Summe D der individuellen
Grauwertdifferenzen zwischen den Bildpunkten in jedem
symmetrischen Paar zu berechnen. Die Summe D wird
durch folgende Gleichung ausgedrückt:
D=|Li(XF+i, YF+i)-Ri(XF-i, YF-i)|,
wobei i=1, 2, . . . n oder i=m, m+1, . . . n (m<1),
wobei n und m ganzzahlig sind.
Die Summe D wird in einem Auswertungsverarbeitungsabschnitt
90 mit einem vorgegebenen Schwellenwert TH₁ verglichen,
um zu beurteilen, ob der jeweilige Prüfpunkt F
der Suchspur S wirklich den Fehler X angibt, ob also die
Summe D den Schwellenwert TH₁ übersteigt. Dies basiert
darauf, daß die Zone M die Grenzlinie EX des Fehlers X
kreuzt, und sich daher über den nicht-fehlerhaften Bereich
und den fehlerhaften Bereich erstreckt und daher
die Summe D die kritische Grauwertdifferenz zwischen
diesen beiden Kontrastbereichen angibt. Da die Summe D
die Grauwertdifferenz für mehr als ein symmetrisches
Paar von Bildpunkten, die sich weiter in die fehlerhaften
und nicht fehlerhaften Bereiche erstrecken, erfaßt,
ist es möglich, den Kontrast zwischen den beiden Bereichen
auf den gegenüberliegenden Seiten des Randes oder
des Prüfpunktes F zu vergrößern, wodurch die Zuverlässigkeit
und Genauigkeit der Prüfung verbessert wird.
Wenn sich zeigt, daß die Summe D den Schwellenwert TH₁
nicht übersteigt, folgt das Verfahren weiter der Suchspur
S in Richtung auf den Endpunkt zur Erkennung eines
anderen Prüfpunktes auf der Spur S. Wenn kein Prüfpunkt
erkannt wird oder jeder Prüfpunkt bewertet ist und die
Summe D den Schwellenwert TH₁ nicht übersteigt, wird
festgestellt, daß kein Fehler auf der Suchspur S erkannt
worden ist.
Das in den Fig. 11 und 12 dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht weitestgehend dem ersten Ausführungsbeispiel
mit der Ausnahme, daß es eine Suchspur S verwendet,
deren Startpunkt und Endpunkt nicht zusammenfallen.
Die Suchspur S ist innerhalb des Bereichs der
Gegenstandsfläche in dem Grenzlinienbild definiert und
kann gestreckt, geschwungen, oder aber gezackt sein, wie
dies beispielhaft in den Fig. 12A bis 12D gezeigt ist.
Dieselbe Verarbeitung wird wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel
zum Erkennen eines Prüfpunktes F auf der
Suchspur S durchgeführt, um eine entsprechende Prüfzone
M der Bildpunkte in dem Grenzlinienbild zu definieren
und eine entsprechende Summe D der individuellen Grauwertdifferenz
zwischen den Bildpunkten jedes symmetrischen
Paares in der Zone M zu gewinnen.
Bei diesem Ausführungsbeispiel werden der Prüfpunkt F
oder die Prüfzone M als einen Fehler angebend bezeichnet,
wenn die Summe D den oben erwähnten Schwellenwert
TH₁ überschreitet. Auf diese Weise werden alle Prüfpunkte,
die entlang der gesamten Suchspur S erkannt worden
sind, daraufhin bewertet, ob sie als einen Fehler angebende
Punkte bezeichnet werden können. Sodann wird die
Gesamtanzahl H der einen Fehler angebenden Punkte mit
einem vorgegebenen Schwellenwert TH₂ verglichen, um so das
Vorhandensein eines Fehlers auf der Suchspur S anzugeben,
wenn K<TH₂. Die Auswerteroutine dieses Ausführungsbeispiels
ist in Fig. 11 gezeigt.
Die Fig. 13 und 14 zeigen ein drittes Ausführungsbeispiel
der Erfindung.
In Fig. 13 wird eine programmierte Routine für eine Fehlerbewertung
in Übereinstimmung mit einem dritten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung gezeigt.
Fig. 14 verdeutlicht dabei, daß bei diesem Ausführungsbeispiel
eine Vielzahl von im wesentlichen parallelen
Suchspuren S₁ bis Sn verwendet werden, die innerhalb der
Grenzlinie der Gegenstandsfläche in dem Grenzlinienbild
liegen. Jede der Suchspuren Sn wird abgetastet und als
eine einen Defekt angebende Linie definiert, wenn sie
als einen Defekt angebend bewertet worden ist, wie dies
anhand des ersten oder des zweiten Ausführungsbeispiels
erläutert worden ist. Eine Fehlerbewertung wird bei diesem
Ausführungsbeispiel gemacht, indem die Anzahl L aufeinander
folgender oder benachbarter Suchspuren bestimmt
wird, die jeweils als einen Fehler angebend erkannt worden
sind. Die Anzahl L dieser Linien wird mit einem vorgegebenen
Schwellenwert TH₃ verglichen, wobei Vorhandensein
eines Fehlers angenommen wird, wenn L<TH₃. Die
Programmroutine von Fig. 13 beinhaltet gestrichelt
die zum Wiedergeben der den Defekt angebenden erforderlichen Schritte
eines Fehlerbewertungsprozesses, wie er bei dem zweiten
Ausführungsbeispiel verwendet wird. Durch Verzicht auf
die gestrichelt dargestellten Schritte wird die Routine
von Fig. 13 ausgeführt.
Die Fig. 16 bis 18 zeigen ein viertes Ausführungsbeispiel
der Erfindung.
Bei diesem vierten Ausführungsbeispiel werden dieselben
Vorverarbeitungsschritte wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel
angewendet, um ein ursprüngliches Grauwertbild
zu gewinnen und ein Grenzlinienbild eines Bereichs, der
die zu prüfende Oberfläche beinhaltet. Anschließend an
die Vorverarbeitung wird eine Prüfzone Z₁ definiert innerhalb
der Grenzlinie BL der Gegenstandsfläche in dem
Grenzlinienbild I₄, wie es in Fig. 16 gezeigt ist. Auch
wird eine Bezugszone Z₂ gesondert innerhalb der Grenzlinie
BL definiert. Diese Zonen Z₁ und Z₂ sind geeignet
ausgebildet in Übereinstimmung mit einem bekannten Muster
oder einer Ausbildung der Gegenstandsfläche, die
geprüft werden soll.
Das Bewertungsverfahren nach diesem Ausführungsbeispiel
wird so durchgeführt, wie es in Fig. 15 wiedergegeben ist.
In einem ersten Schritt wird ein Bezugsgrauwert Gref berechnet,
der einem Durchschnitt der Grauwertpegel aller
Bildpunkte in dem ursprünglichen Grauwertbild I₁ entsprechend
solcher, die in der Bezugszone Z₂ angeordnet sind, entspricht.
Sodann wird die Prüfzone Z₁ durch ein Rasterabtasten
analysiert, wie dies in Fig. 17 wiedergeben ist,
um einen Punkt zu erkennen, wo f₄ (x, y)=1, oder aber
der Bildpunkt, an dem die Abtastlinie erstmalig die
Grenzlinie EX erreicht. Der Bildpunkt, der als erster
als die Grenzlinie angebend erkannt wird, wird als ein
Ausgangsprüfpunkt F₀ bezeichnet, dessen Koordinaten als
(x₀, y₀) angegeben werden können. Weiter wird den Bildpunkten,
die die Grenzlinie bilden, gefolgt. Diese definieren
mit dem Ausgangsprüfpunkt eine Reihe von Prüfpunkten
F₀ bis Fi, die entlang der Grenzlinie
verlaufen.
Unter Bezug auf die so definierten Reihen von Prüfpunkten
wird die Analyse zunächst bezüglich des Ausgangsprüfpunkts
F₀ (x₀, y₀) und nachfolgend auf die benachbarten
Bildpunkte Fn (xn, yn), die im Uhrzeigersinn angeordnet
sind, durchgeführt, wie dies in Fig. 18 gezeigt ist.
Die Analyse für einen gegebenen Prüfpunkt Fi (xi, yi),
wobei i eine ganze Zahl ist, weist die folgenden Schritte
auf. Zunächst wird ein gestrichelter Gradientenwert
f₃ (xi, yi) von dem Bild I₃ in dem Speicher 53 entsprechend
einem gegebenen Prüfpunkt Fi (xi, yi) abgeleitet.
Basieren auf dem gerichteten Gradientenwert f₃ (xi,
yi) wird eine Zone M definiert, um die Bildpunkte zu definieren,
die in einer Richtung senkrecht zu der Richtung
angeordnet sind, die durch den Richtungswert (in
Fig. 18 durch einen Pfeil in einem Kreis angegeben) bestimmt
wird. In diesem Ausführungsbeispiel sind die
Bildpunkte, die die Zone M definieren, symmetrisch an
gegenüberliegenden Seiten des Prüfpunktes Fi (xi, yi) angeordnet.
Diese Bildpunkte werden durch die jeweiligen Koordinaten
von (xi+m, yi+m), (xi+n, yi+n), (xi-n, yi-n) und (xi-m,
yi-m) ausgedrückt.
Die Erkennung eines Fehlers erfolgt dann wie in den eben
erläuterten Ausführungsbeispielen.
Claims (6)
1. Verfahren zur optischen Prüfung einer Oberfläche
auf einen Fehler mit den Schritten:
- - Beleuchten der Oberfläche des Gegenstandes,
- - Abtasten des Bildes des Gegenstandes,
- - Ermitteln der Grauwerte des Bildes,
- - Bestimmen der Gradienten der Grauwerte einander benachbarter Bildpunkte, und
- - Ermitteln einer durch das Grauwertbild verlaufenden Grenzlinie anhand des Gradientenbildes,
gekennzeichnet durch
- - Definieren eines Punktes der Grenzlinie als Prüfpunkt,
- - Definieren einer sich beidseits der Grenzlinie zum Prüfpunkt symmetrisch erstreckenden Prüfzone, und
- - Prüfen einer Differenz der Grauwerte der Bildpunkte der Prüfzone beidseits des Prüfpunkts auf das Überschreiten eines Schwellenwerts.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß
- - die Prüfpunkte sind, auf denen eine Suchspur die Grenzlinie schneidet, und
- - die Prüfzone durch Punkte der Suchspur gebildet wird.
3. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfpunkte
einander benachbarte Punkte der Grenzlinie
sind.
4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch
- - Ermitteln der Summe der Beträge der Differenzen der Grauwerte der zum Prüfpunkt symmetrischen Paare von Bildpunkten, und
- - Vergleichen des Summenwertes mit dem Schwellenwert.
5. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch
- - Ermitteln der Anzahl der Prüfpunkte, bei denen der Summenwert den Schwellenwert übersteigt, und
- - Vergleichen dieser Anzahl mit einer Bezugszahl.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63288167A JPH02133883A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | 外観検査方法 |
JP1063120A JPH0718811B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 欠陥検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3937950A1 DE3937950A1 (de) | 1990-07-19 |
DE3937950C2 true DE3937950C2 (de) | 1993-09-09 |
Family
ID=26404206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3937950A Granted DE3937950A1 (de) | 1988-11-15 | 1989-11-15 | Verfahren zum pruefen optischer oberflaechen |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4974261A (de) |
DE (1) | DE3937950A1 (de) |
Families Citing this family (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5129058A (en) * | 1988-07-06 | 1992-07-07 | Ricoh Company, Ltd. | Parallel optical image processing system |
US5046111A (en) * | 1989-02-09 | 1991-09-03 | Philip Morris Incorporated | Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products |
US5146510A (en) * | 1989-02-09 | 1992-09-08 | Philip Morris Incorporated | Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products |
DE69032318T2 (de) * | 1989-08-31 | 1998-09-24 | Canon Kk | Vorrichtung zur Bildverarbeitung |
JPH0810196B2 (ja) * | 1989-11-17 | 1996-01-31 | 松下電器産業株式会社 | はんだ外観検査装置 |
JPH0834544B2 (ja) * | 1990-08-14 | 1996-03-29 | 株式会社東芝 | 画像の復元処理方法 |
US5142591A (en) * | 1990-09-21 | 1992-08-25 | Fmc Corporation | High resolution camera with hardware data compaction |
GB9021444D0 (en) * | 1990-10-02 | 1990-11-14 | Delco Electronic Overseas Corp | Light mask |
IT1246047B (it) * | 1990-12-21 | 1994-11-07 | Pirelli Prod Diversificati | Procedimento ed apparecchiatura per individuare difettosita' supeficiali su strati e/o manicotti in materiale elastomerico |
JPH05126750A (ja) * | 1991-11-01 | 1993-05-21 | Fuji Electric Co Ltd | 円形容器内面検査装置 |
US5237621A (en) * | 1991-08-08 | 1993-08-17 | Philip Morris Incorporated | Product appearance inspection methods and apparatus employing low variance filter |
WO1993012615A1 (en) * | 1991-12-19 | 1993-06-24 | The United States Of America, Represented By The Secretary, United States Department Of Commerce | Method and apparatus for assessment of surface smoothness using reflected energy |
JP3044961B2 (ja) * | 1993-02-12 | 2000-05-22 | 富士電機株式会社 | 円形容器内面検査装置 |
US5365596A (en) * | 1992-12-17 | 1994-11-15 | Philip Morris Incorporated | Methods and apparatus for automatic image inspection of continuously moving objects |
US5305392A (en) * | 1993-01-11 | 1994-04-19 | Philip Morris Incorporated | High speed, high resolution web inspection system |
DE4312241A1 (de) * | 1993-04-15 | 1994-10-20 | Deutsche Aerospace | Verfahren zur Nahtvermessung |
DE4432741C2 (de) * | 1993-09-14 | 1997-01-30 | Ricoh Kk | Bildverarbeitungseinrichtung |
US6178262B1 (en) * | 1994-03-11 | 2001-01-23 | Cognex Corporation | Circle location |
USH1616H (en) * | 1994-05-31 | 1996-12-03 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Web inspection system having enhanced video signal preprocessing |
DE4434475C2 (de) * | 1994-09-27 | 1998-05-28 | Basler Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle eines Gegenstandes, insbesondere einer Compact-Disc |
US5982500A (en) * | 1995-05-07 | 1999-11-09 | Platsch; Hans Georg | Device for measuring the surface of a print product |
US5923554A (en) * | 1996-01-16 | 1999-07-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for assessing the number and type of flaws |
US5751834A (en) * | 1996-02-07 | 1998-05-12 | Basf Corporation | Image analysis method for determining pigment levels in fabric |
AUPN800796A0 (en) * | 1996-02-09 | 1996-03-07 | Unisearch Limited | Visual inspection system for leather hide |
JPH09229642A (ja) * | 1996-02-27 | 1997-09-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の外観検査方法 |
US6335982B1 (en) * | 1996-06-26 | 2002-01-01 | Toshiba Engineering Corporation | Method and apparatus for inspecting streak |
US5774177A (en) * | 1996-09-11 | 1998-06-30 | Milliken Research Corporation | Textile fabric inspection system |
DE19650234C1 (de) * | 1996-12-04 | 1998-04-30 | Duerkopp Adler Ag | Gegenstand zur Kennzeichnung einer Auswahlfläche in einem Arbeitsstück, insbesondere einer Tierhaut |
US6704435B1 (en) * | 1997-04-28 | 2004-03-09 | International Business Machines Corporation | Surface inspection tool |
US6208772B1 (en) * | 1997-10-17 | 2001-03-27 | Acuity Imaging, Llc | Data processing system for logically adjacent data samples such as image data in a machine vision system |
KR100361244B1 (ko) * | 1998-04-07 | 2002-11-18 | 오므론 가부시키가이샤 | 화상 처리 장치 및 방법, 화상 처리를 위한 프로그램을기억한 매체 및 검사장치 |
DE19837084B4 (de) * | 1998-08-17 | 2009-10-08 | Volkswagen Ag | Verfahren zur optischen Erkennung von Schweißnähten zwischen einer Radschüssel und einer Radfelge eines Kfz-Rades |
US6560547B1 (en) * | 1999-09-28 | 2003-05-06 | Asi Datamyte, Inc. | Real time sampling system and method for measuring an interrupted surface |
CA2296143A1 (fr) | 2000-01-18 | 2001-07-18 | 9071 9410 Quebec Inc. | Systeme d'inspection optique |
CN100485371C (zh) * | 2005-12-01 | 2009-05-06 | 渤海船舶重工有限责任公司 | 钢板预处理过程中的上、下表面缺陷在线自动检测方法 |
JP4597946B2 (ja) * | 2006-06-12 | 2010-12-15 | シャープ株式会社 | 端部傾斜角測定方法、起伏を有する被検査物の検査方法および検査装置 |
US8358830B2 (en) * | 2010-03-26 | 2013-01-22 | The Boeing Company | Method for detecting optical defects in transparencies |
US10001445B2 (en) * | 2011-09-27 | 2018-06-19 | Ring Container Technologies, Llc | Vision system |
US20140172144A1 (en) * | 2012-12-17 | 2014-06-19 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | System and Method for Determining Surface Defects |
US9488589B2 (en) * | 2013-10-29 | 2016-11-08 | The Boeing Company | Mapping damaged regions on objects |
CN110670404B (zh) | 2016-11-23 | 2021-07-30 | 美国Ibs公司 | 监控造纸机的系统和方法以及控制系统 |
CN109903283A (zh) * | 2019-03-04 | 2019-06-18 | 江苏维普光电科技有限公司 | 一种基于图像法向量的掩模图形边缘缺陷检测方法 |
US10502691B1 (en) | 2019-03-29 | 2019-12-10 | Caastle, Inc. | Systems and methods for inspection and defect detection |
CN110441315B (zh) * | 2019-08-02 | 2022-08-05 | 英特尔产品(成都)有限公司 | 电子部件测试设备和方法 |
CN111080582B (zh) * | 2019-12-02 | 2023-06-02 | 易思维(杭州)科技有限公司 | 工件内外表面缺陷检测方法 |
US11920299B2 (en) | 2020-03-06 | 2024-03-05 | Ibs Of America | Formation detection system and a process of controlling |
CN111896550A (zh) * | 2020-03-31 | 2020-11-06 | 广西师范大学 | 一种表面缺陷检测装置及方法 |
CN114519714B (zh) * | 2022-04-20 | 2022-07-26 | 中导光电设备股份有限公司 | 一种显示屏脏污缺陷判定的方法和系统 |
CN115035115B (zh) * | 2022-08-11 | 2022-10-25 | 聊城市宏伟电器有限公司 | 一种纸包铜扁线质量监测方法 |
CN116168020B (zh) * | 2023-04-21 | 2023-08-25 | 纳琳科新材料(南通)有限公司 | 一种皮革缺陷检测方法 |
CN116363136B (zh) * | 2023-06-01 | 2023-08-11 | 山东创元智能设备制造有限责任公司 | 一种机动车部件自动化生产在线筛选方法及系统 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4207593A (en) * | 1976-07-31 | 1980-06-10 | Karl Deutsch Pruf- Und Messgeratebau Gmbh & Co. Kg | Method and apparatus for the automatic recognition and evaluation of optical crack indications on the surface of workpieces |
JPS5677704A (en) * | 1979-11-30 | 1981-06-26 | Hitachi Ltd | Inspection system for surface defect of substance |
US4448526A (en) * | 1980-06-27 | 1984-05-15 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Defect detecting method and device |
DE3028942A1 (de) * | 1980-07-30 | 1982-02-18 | Krones Ag Hermann Kronseder Maschinenfabrik, 8402 Neutraubling | Verfahren und inspektionsgeraet zum inspizieren eines gegenstandes, insbesondere einer flasche |
US4492476A (en) * | 1981-02-20 | 1985-01-08 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Defect detecting method and apparatus |
GB2114285B (en) * | 1982-01-29 | 1985-08-29 | Warren Peter Neal Bailey | Optical inspection of machined surfaces |
JPS60159637A (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-21 | Kirin Brewery Co Ltd | 欠陥検出方法および装置 |
US4817184A (en) * | 1986-04-14 | 1989-03-28 | Vartec Corporation | Electronic inspection system and methods of inspection |
US4863275A (en) * | 1988-04-20 | 1989-09-05 | Ball Corporation | Portable, shock-proof container surface profiling instrumentation |
-
1989
- 1989-11-09 US US07/433,823 patent/US4974261A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-15 DE DE3937950A patent/DE3937950A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3937950A1 (de) | 1990-07-19 |
US4974261A (en) | 1990-11-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3937950C2 (de) | ||
DE10000364B4 (de) | Merkmalbasierende Feststellung von Fehlern | |
EP0012724B1 (de) | Verfahren zur maschinellen Beurteilung der Druckqualität eines Druckerzeugnisses sowie Vorrichtung zu dessen Durchführung | |
DE112015004721B4 (de) | Defektdetektion unter verwendung von strukturinformation | |
DE3612233C2 (de) | ||
DE102005011237B3 (de) | Verfahren zur Bestimmung von Defekten in Bildern | |
DE4410603C1 (de) | Verfahren zur Erkennung von Fehlern bei der Inspektion von strukturierten Oberflächen | |
DE19521346C2 (de) | Bilduntersuchungs/-Erkennungsverfahren, darin verwendetes Verfahren zur Erzeugung von Referenzdaten und Vorrichtungen dafür | |
DE60225354T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur herstellung eines referenzbildes bei einer prüfvorrichtung für glasflaschen | |
DE112012001439B4 (de) | Computerimplementierte entwurfsbasierte Inspektion unter Verwendung wiederholender Strukturen | |
DE69822608T2 (de) | Binarisierungsverfahren in einem Zeichenerkennungssystem | |
DE10221318B4 (de) | Verfahren zur Defekterkennung in Mustern aus alternierend angeordneten Linien und Zwischenräumen auf einem Wafer | |
EP2619525B1 (de) | Verfahren zum optischen antasten einer kante in oder an einem oberlächenbereich | |
EP1610270A2 (de) | Verfahren zur qualitativen Beurteilung eines Materials mit mindestens einem Erkennungsmerkmal | |
DE10326035A1 (de) | Verfahren zur adaptiven Fehlererkennung auf einer strukturierten Oberfläche | |
DE3718620C2 (de) | ||
DE102020102853A1 (de) | Fehlerprüfvorrichtung und -verfahren | |
DE2700252C2 (de) | Verfahren zum Prüfen definierter Strukturen | |
DE102017219244B4 (de) | Inspektionsbedingungsbestimmungseinrichtung, inspektionsbedingungsbestimmungsverfahren und inspektionsbedingungsbestimmungsprogramm | |
DE10121811A1 (de) | Fehlererkennung und -korrektur in Referenzstreifen für die Kalibrierung von Scannvorrichtungen | |
DE10331593A1 (de) | Verfahren zur Defektsegmentierung in Strukturen auf Halbleitersubstraten | |
DE10326032B4 (de) | Verfahren zum Selbsttest eines Bildverarbeitungssystems | |
DE3010559C2 (de) | Einrichtungen zur Feststellung von Fehlern in regelmäßigen Mustern | |
DE19527446A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Oberflächenprüfung von Werkstücken | |
DE102008049859B4 (de) | Verfahren und Prüfsystem zur optischen Prüfung einer Kontur eines Prüfobjekts |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) |