DE3914739C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine inkrementale Positionsmeßeinrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1.

Als Beispiel für eine der zahlreichen diesbetref­ fenden Druckschriften sei die DE 30 39 483 C2 ge­ nannt. Dort wird eine Positionsmeßeinrichtung be­ schrieben, bei der den einzelnen Referenzmarken codierte Markierungen zugeordnet sind. Durch Ein­ gabe der entsprechenden Codierung in die Auswerte­ einheit kann jede beliebige Referenzmarke über ihre codierte Markierung ausgewählt und zur Wirkung ge­ bracht werden. Deren absolute - auf einen Bezugs­ punkt bezogene - Position kann durch die Codierung ermittelt werden.

Wenn die absolute Position der ausgewählten Refe­ renzmarke nicht ermittelt zu werden braucht, kann die Auswahl einzelner Referenzmarken auch über op­ tische und/oder magnetische Schaltelemente getroffen werden. Dies ist in der DE 25 40 412 C3 sowie in der DE 32 45 914 C1 beschrieben.

Eine andere Positionsmeßeinrichtung wird in der DE 24 16 212 C3 beschrieben. Dort sind die Referenzmarken abstandscodiert. In der Auswerteeinheit kann durch die inkrementelle Ermittlung des Abstandes zweier Referenzmarken deren absolute - auf einen Bezugspunkt bezogene - Position ermittelt werden.

In der Zeitschrift "Messen Prüfen Automatisieren", Nov. 1985, S. 592 bis 594 ist ferner beschrieben, daß Markierungsspuren in unterschiedlicher Ausführung ausgebildet sein können.

Die Vielfalt der Referenzmarken-Auswahlmöglichkeiten soll dem Käufer von Positionsmeßeinrichtungen - im allgemeinen Werkzeugmaschinenhersteller - eine individuelle Auswahl ermöglichen.

Für den Hersteller hat diese Typenvielfalt jedoch den Nachteil, daß die Herstellungs- und Lagerhaltungskosten verhältnismäßig hoch sind.

Der Erfindung liegt demgemäß die Aufgabe zugrunde, durch Vereinheitlichung der kostenintensiven Baueinheiten der Positionsmeßeinrichtungen die vorgenannten Kosten zu reduzieren, aber dem Kunden die Typenvielfalt zu erhalten.

Diese Aufgabe wird durch Positionsmeßeinrichtungen mit den Merkmalen des Anspruches 1 gelöst.

In den Unteransprüchen sind vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung angegeben.

Die besonderen Vorteile liegen darin, daß die Maß­ verkörperung alle Informationen für die unter­ schiedlichen Referenzmarken-Auswertungsarten be­ reits beinhaltet und daß durch die Betriebsarten­ umschaltung jederzeit die Art der Auswertung be­ stimmt werden kann. Das bedeutet, daß einheitliche Maßverkörperungen hergestellt und eingebaut werden können, und daß zum späteren Zeitpunkt gewählt wer­ den kann, ob alle (codierten) Referenzmarken aus­ gewertet werden sollen, oder ob nur einzelne zur Auswertung gelangen sollen.

Mit Hilfe von Ausführungsbeispielen soll die Er­ findung nachstehend anhand der Zeichnungen noch näher erläutert werden. Es zeigt

Fig. 1A eine Maßverkörperung;

Fig. 1B eine inkrementale Positionsmeß­ einrichtung im Schnitt;

Fig. 1C eine Draufsicht auf die Positi­ onsmeßeinrichtung gemäß Fig. 1B;

Fig. 1D antiparallel geschaltete Foto­ elemente;

Fig. 1E ein Signaldiagramm einer Ab­ tastung mit Fotoelementen gemäß Fig. 1D;

Fig. 1F mehrere Fotoelemente;

Fig. 1G ein Signaldiagramm einer Ab­ tastung mit Fotoelementen gemäß Fig. 1F;

Fig. 2A eine andere Maßverkörperung;

Fig. 2B eine andere Positionsmeßeinrich­ tung im Schnitt;

Fig. 2C eine Fotoelementeschaltung;

Fig. 2D ein Signaldiagramm einer Ab­ tastung mit Fotoelementen gemäß Fig. 2C;

Fig. 2E eine weitere Fotoelementeschal­ tung;

Fig. 2F ein Signaldiagramm einer Ab­ tastung mit Fotoelementen gemäß Fig. 2E;

Fig. 3A eine weitere Maßverkörperung;

Fig. 3B eine weitere Positionsmeßeinrich­ tung im Schnitt;

Fig. 3C eine Draufsicht auf die Positi­ onsmeßeinrichtung gemäß Fig. 3B;

Fig. 3D eine Fotoelementeschaltung;

Fig. 3E ein Signaldiagramm einer Ab­ tastung mit Fotoelementen gemäß Fig. 3D;

Fig. 3F eine weitere Fotoelementeschal­ tung und

Fig. 3G ein Signaldiagramm einer Ab­ tastung mit Fotoelementen gemäß Fig. 3F.

In Fig. 1 ist eine inkrementale Positionsmeßein­ richtung P dargestellt, deren Teilabbildungen Ein­ zelheiten und Signaldiagramme enthalten. Fig. 1A zeigt eine Maßverkörperung 1 mit mehreren Infor­ mations-Spuren. Auf einer der Spuren ist eine in­ krementale Meßteilung 2 in Form eines Strichgitters aufgebracht. Eine zweite Spur 3 weist eine Reihe von codierten Referenzmarken Ri (i = 2, 3, . . . n) auf, die in einem bestimmten Raster angeordnet sind. Auf einer weiteren Spur, die als Schaltspur 4 bezeichnet wird, sind Markierungen Mi (i = 1, 2, 3, . . . n) aufgebracht, die in einem anderen Raster als dem der Referenzmarken Ri angeordnet sind. Das Raster der Markierungen Mi beträgt ein ganzzahliges Vielfaches des Rasters der Referenzmarken Ri. Bei einem praxisnahen Ausführungsbeispiel hat die als Strichgitter ausgebildete Meßteilung 2 eine Tei­ lungsperiode von 20 µm, wobei das Strichgitter aus lichtundurchlässigen Strichen und lichtdurchläs­ sigen Lücken gleicher Breite besteht. Der Abstand der Referenzmarken Ri in der zur Meßteilung 2 par­ allel verlaufenden Spur 3 ist nicht konstant, son­ dern er ist vielmehr definiert unterschiedlich. So kann durch Auszählen der Meßschritte (Inkremente) von einer Referenzmarke Ri zur nächsten Ri+1 deren absolute Position bestimmt werden. Die Abstände zweier Referenzmarken addieren sich hingegen immer auf einen konstanten Abstand von 20 mm, was bedeu­ tet, daß sich ca. alle 10 mm eine Referenzmarke Ri auf der Spur 3 befindet. Die parallel verlaufende Schaltspur 4, deren Markierungen Mi einen viel größeren Abstand voneinander haben, als die Refe­ renzmarken Ri, wird bereits bei der Herstellung der Maßverkörperung 1 auf diese zusammen mit der Git­ terteilung 2 und den Referenzmarken Ri aufgebracht.

In Fig. 1B ist eine Positionsmeßeinrichtung P schematisch im Schnitt gezeigt. Die Maßverkörperung 1 ist geschützt im Inneren eines Gehäuses 5 ange­ ordnet. Die in dieser Ansicht nicht sichtbaren In­ formationsspuren gemäß Fig. 1A werden von einer Abtasteinrichtung 6 lichtelektrisch abgetastet. Diese Art der Abtastung ist Stand der Technik und wird nicht näher erläutert. Die Abtasteinrichtung 6 weist u.a. ein Fotoelement 7 auf, dessen Ausgangs­ spannung von der Beleuchtungsstärke einer Lampe 8 abhängt, die zur lichtelektrischen Abtastung dient. Da diese Ausgangsspannung die Triggerschwelle für die Referenzmarken-Abtastung repräsentiert, wird sie als Gegentaktspannung bezeichnet und das Foto­ element 7 demgemäß als Referenzmarken-Gegentaktfo­ toelement 7.

Ein weiteres Fotoelement - Referenzmarkenfotoele­ ment 9 genannt - dient zur Abtastung der Referenz­ marken Ri in der Spur 3. Ferner sind noch Schalt­ fotoelemente S 1 und S 2 vorgesehen, auf die bei der Signaldiagramm-Erläuterung noch näher eingegangen wird.

Fig. 1D zeigt die beiden antiparallel geschalteten Fotoelemente 7 und 9 - also das Referenzmarkenfo­ toelement 9 und das Referenzmarken-Gegentaktfoto­ element 7. Beide werden von der Lampe 8 beleuchtet und bei Relativverschiebungen zwischen Abtasteinrichtung 6 und Maßverkörperung 1 entsteht ein Signaldiagramm, wie es in Fig. 1E gezeigt ist. Die waagerechte Linie 7′ stellt dabei das Niveau der Triggerschwellenspannung dar, die vom Fotoelement 7 geliefert wird. Das Referenzmarkenfotoelement 9 liefert durch Abtastung der Referenzmarken Ri ca. alle 10 mm einen Impuls dessen Lage durch das vor­ beschriebene Auszählen absolut bestimmbar ist, was durch die Linie 9′ veranschaulicht wird. Bei dieser Betriebsart werden alle Referenzmarken Ri ausge­ wertet.

In den Fig. 1F und 1G sind Fotoelementeschaltung und Signaldiagramm einer anderen Betriebsart dar­ gestellt. Zu den Fotoelementen 7 und 9 aus Fig. 1D sind weitere Fotoelemente als Schaltfotoelemente S 1 und S 2 parallel geschaltet.

Diese Umschaltung der Betriebsart kann in der Ab­ tastbaueinheit mit einem Schalter geschehen, aber sie kann auch durch Umlötung der Fotoelemente oder durch einen externen Schaltbefehl erfolgen.

Durch die zusätzlichen Schaltfotoelemente S 1 und S 2 wird der Triggerpegel angehoben. Eine zusätzliche Lampe 10 beleuchtet das Schaltfotoelement S 1, so daß der Triggerpegel steigt (gestrichelte waagerechte Linie). Die Beleuchtung vom Schaltfotoelement S 1 kann aber bei anderer baulicher Ausgestaltung auch durch die Lampe 8 erfolgen, die hier noch das Schaltfotoelement S 2 zusätzlich beleuchtet, was den Triggerpegel nochmals anhebt (strichpunktierte waagerechte Linie). Das zur Auswertung einer Refe­ renzmarke Ri erforderliche Niveau der Trigger­ schwellenspannung bleibt jedoch durch die Spannung des Referenzmarken-Gegentaktfotoelementes 7 wie ursprünglich erhalten (durchgehende waagerechte Li­ nie).

Referenzmarkenimpulse die oberhalb dieses Niveaus liegen, werden nicht zur Auswertung kommen. Um die­ ses Niveau überhaupt zu erreichen, ist eine im Ge­ häuse 5 der Positionsmeßeinrichtung P (Fig. 1B) verschiebbare Blende 11 vorhanden. Derartige Blen­ den 11 sind aus dem eingangs gewürdigten Stand der Technik an sich bekannt.

Die umgewählte Betriebsart erlaubt nun eine Auswahl von einigen Referenzmarken Rk aus der Reihe von allen Referenzmarken Ri nach folgenden Maßgaben:

An jeder Referenzmarke Ri wird ein Referenzim­ puls erzeugt, der aber nicht zur Wirkung kommt, weil durch die beleuchteten Fotoelemente 7, S 1 und S 2 der Triggerpegel zu hoch liegt.

Parallel zu den Referenzmarken Ri sind in der Schaltspur 4 bei einigen Referenzmarken Ri, Ri+4, Ri+8 usw. Markierungen Mi-1, Mi, Mi+1 aufgebracht. Beim Abtasten einer solchen Mar­ kierung Mi sinkt der Triggerpegel, da das zuge­ hörige Schaltfotoelement S 1 abgedunkelt wird. Ein Referenzimpuls kommt dennoch nicht zur Wir­ kung, da die Triggerschwelle noch nicht erreicht wird.

Die Blende 11 kann einer der Markierungen (oder mehrere Blenden mehreren Markierungen) Mi zugeordnet werden, dann wird beim Abtasten auch deren zugehöriges Schaltfotoelement S 2 abgedun­ kelt und der Triggerpegel sinkt so weit, daß der Referenzimpuls Ri+8 die Triggerschwelle über­ schreitet und zur Wirkung gelangt.

Diese Betriebsart erscheint auf Anhieb umständ­ lich, wenn nicht sogar überflüssig, denn der Fachmann könnte ja einzelnen Referenzmarken Ri in bewährter Weise gleich Blenden 11 oder der­ gleichen zuordnen.

Diese Möglichkeiten sind jedoch durch die Auf­ gabenstellung mit den bekannten Mitteln nicht realisierbar, da einerseits abstandscodierte Referenzmarken in Standard-Bauweise und ande­ rerseits freie Referenzmarkenauswahl mit ein­ fachen Mitteln gefordert sind.

Blenden oder Magnetschalter haben aufgrund ihrer Bauweise eine Schaltcharakteristik, die es nicht ermöglicht, sie einzelnen Referenzmarken Rk se­ lektierend zuzuordnen, wenn diese in der be­ schriebenen Weise abstandscodiert sind. Deshalb werden bereits bei der Herstellung der Maßver­ körperung 1 den Referenzmarken Ri Markierungen Mi zugeordnet, bei denen später die Auswahl mittels Blenden oder dergleichen möglich ist. Die Markierungen Mi haben deshalb einen viel größeren Abstand zueinander als die Referenz­ marken Ri. Auf diese Weise wird eine Maßverkör­ perung 1 geschaffen, die es später ermöglicht, entweder die abstandscodierten Referenzmarken Ri, oder aber Referenzmarken eines anderen Ra­ sters z. B. Ri+4 auszuwerten. Darüber hinaus läßt sich aus den Referenzmarken mit dem Raster Ri+4, das dem Raster der Markierungen Mi ent­ spricht nochmals eine Auswahl treffen. Der An­ wender hat also mindestens drei Möglichkeiten, Referenzmarken auszuwählen, während der Her­ steller nur einen Typ von Maßverkörperungen 1 herstellen muß.

In Fig. 2 ist eine Variante einer Positionsmeß­ einrichtung 2P gezeigt. Zur Straffung der Beschrei­ bung werden grundsätzliche Aussagen zur Erfindung nicht wiederholt; durch die Analogie kann auf die Beschreibung zur Fig. 1 verwiesen werden. Gleich­ artige Bauelemente tragen das in Fig. 1 angezogene Bezugszeichen, dem der Figurenindex "2" bzw. "3" voran gestellt wird.

Eine Maßverkörperung 21 weist eine weitere Schalt­ spur 24a auf. Im Gegensatz zur Schaltspur 24, die in einem bestimmten Raster Markierungen 2Mi auf­ weist, die ihr zugehöriges Schaltfotoelement 2S 1 bei der Abtastung abdunkeln, dunkelt die Schaltspur 24a ihr zugehöriges Schaltfotoelement 2S 1a immer ab, nur in dem Raster der Markierungen 2Mia wird es beleuchtet. Diese Schaltspur 24a stellt sozusagen das Komplement zur Schaltspur 24 dar. Je nach Betriebsartenumschaltung führt dies zu Signal­ diagrammen, wie sie in den Fig. 2D und 2F ge­ zeigt sind.

Es versteht sich, daß auch bei dieser Variante die Möglichkeit besteht, einzelnen, vorausgewählten Referenzmarken 2Ri eine Blende oder dergleichen zuzuordnen. Ferner besteht natürlich auch hier die Möglichkeit, die Betriebsart zu wählen, bei der alle Referenzmarken 2Ri ausgewertet werden.

In Fig. 3 ist eine Positionsmeßeinrichtung 3P ge­ zeigt, bei der eine Komplementbildung ähnlich wie im Beispiel aus Fig. 2 mit nur einer Schaltspur 34 durchgeführt wird. Die Schaltspur 34 ist dazu so ausgebildet, daß die Markierungen 3Mi reflektierend und die Zwischenräume lichtdurchlässig sind.

Zur Signalgewinnung ist ein Schaltfotoelement 3S 1 für die lichtdurchlässigen Bereiche der Schaltspur 34 auf der der Lampe 38 gegenüberliegenden Seite der Maßverkörperung 31 angebracht. Für die reflek­ tierenden Markierungen 3Mi befindet sich hingegen ein Schaltfotoelement 3S 2 auf der gleichen Seite der Maßverkörperung 31, wie die zugehörige Lampe 38. Es kann auch eine separate Beleuchtung in Form einer lichtemittierenden Diode 310 vorgesehen wer­ den.

Je nach Betriebsarten-Umschaltung werden die Sig­ naldiagramme gemäß Fig. 3E oder 3G erzeugt.

Selbstverständlich sind auch bei dieser Ausfüh­ rungsform die anderen bereits beschriebenen Be­ triebsarten auswählbar, und es gilt für alle Bei­ spiele, daß auch eine Betriebsart gewählt werden kann, in der überhaupt keine Referenzmarke ausge­ wertet wird.

Da der Betriebsarten-Umschalter - wie bereits er­ läutert wurde - beliebig ausgebildet sein kann, ist er nur symbolisch als Umschalter B, bzw. 2B und 3B dargestellt und seine elektrische Beschaltung hängt von der Bauart ab.

Bezugszeichenliste:

P, 2P, 3P Positionsmeßeinrichtung
1, 21, 31 Maßverkörperung
2, 22, 32 Meßteilung
3, 23, 33 Referenzmarkenspur
4, 24, 34 Schaltspur
24a Komplement-Schaltspur
Ri, 2Ri, 3Ri Referenzmarken
Mi, 2Mi, 3Mi Markierungen
2Mia Komplement-Markierungen
5, 25, 35 Gehäuse
6, 26, 36 Abtasteinrichtung
7, 27, 37 Referenzmarken-Gegentaktfotoelement
8, 28, 38 Lampe
9, 29, 39 Referenzmarkenfotoelement
10, 310 Zusatzbeleuchtung
S 1, 2S 1, 2S 1a, 3S 1 Schaltfotoelement
S 2, 2S 2, 3S 2 Schaltfotoelement

Claims (6)

1. Inkrementale Positionsmeßeinrichtung mit einer eine Meßteilung tragenden Maßverkörperung, die wenigstens eine Reihe von Referenzmarken aufweist, wobei einem Teil der Referenzmarken Markierungen zur Auswahl von Referenzmarken zugeordnet sind, sowie mit einer Auswerte- und einer Abtasteinrichtung zum Abtasten der Maßverkörperung, und zur Erzeugung von Referenzmarkenimpulsen, dadurch gekennzeichnet, daß ein Betriebsarten- Umschalter (B, 2B, 3B) für mehrere Schaltzustände vorgesehen ist, mit dem die Betriebsarten

• a) Auswertung aller Referenzmarken (Ri) und
• b) Auswertung nur der markierten oder der nicht markierten Referenzmarken (Ri, Ri+4, Ri+8)

auswählbar sind, wobei für die Betriebsart b) Schaltelemente (11; S1, S2; 2S1a, 2S1, 3S1, 3S2) vorgesehen sind, die eine Verschiebung des Triggerpegels der Referenzmarkenimpulse abhängig von der Anordnung der Markierungen (Mi, 2Mi, 2Mia, 3Mi) bewirken.

2. Inkrementale Positionsmeßeinrichtung nach An­ spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Markierungen (Mi, 2Mi, 2Mia, 3Mi) bei der Herstellung der Maßverkörperung (1, 21, 31) vorwählbar auf diese aufgebracht werden und daß den Markierungen zur endgültigen Auswahl der Referenzmarken optische und/oder magnetische Schaltelemente (11; S1, S2; 2S1a, 2S1; 3S1, 3S2) in der Abtasteinrichtung (6, 26, 36) zugeordnet sind.

3. Inkrementale Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Markierungen (Mi, 2Mi, 2Mia, 3Mi) auf zur Meßteilung (2, 22, 32) parallelen Schaltspuren (4, 24, 24a, 34) angeordnet sind.

4. Inkrementale Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltspuren (4, 24, 24a) aus lichtdurchlässigen (2Mia) und lichtundurchlässigen Bereichen (Mi, 2Mi, 24a) bestehen.

5. Inkrementale Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltspur (34) aus lichtdurchlässigen und reflektierenden Bereichen (3Mi) besteht.