DE2730715C2 - Einrichtung zur Längenmessung - Google Patents
Einrichtung zur LängenmessungInfo
- Publication number
- DE2730715C2 DE2730715C2 DE2730715A DE2730715A DE2730715C2 DE 2730715 C2 DE2730715 C2 DE 2730715C2 DE 2730715 A DE2730715 A DE 2730715A DE 2730715 A DE2730715 A DE 2730715A DE 2730715 C2 DE2730715 C2 DE 2730715C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- control
- scale
- phototransistors
- sections
- groups
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 10
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 210000001503 joint Anatomy 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/363—Direction discrimination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
- G01D5/245—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains using a variable number of pulses in a train
- G01D5/2454—Encoders incorporating incremental and absolute signals
- G01D5/2455—Encoders incorporating incremental and absolute signals with incremental and absolute tracks on the same encoder
- G01D5/2457—Incremental encoders having reference marks
Description
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Längenmessung mit einem aus zwei oder mehreren Teilstücken
bestehenden, inkremental Maßstab und einem über diesen Maßstab verstellbaren Meßschlitten, der zur
Steuerung von Zählwerken oder sonstigen Anzeigeeinrichtungen für die gemessene Länge zwei Gruppen von
Phototransistoren aufweist, die in einem größer als die mögliche Spaltbreit^ zwischen zwei Teilstücken des
Maßstabes gehaltenen Abstand voneinander angeordnet sind und für die ein jeweils nur eine dieser Gruppen
mit dem Zählwerk verbindender Umschalter vorgesehen ist, der bei der Überquerung jedes Stoßbereiches
durch den Schlitten betätigbar ist, so daß er wechselweise von der zum Stoßbereich gelangenden und diesen
überquerenden Abtastgruppe auf die jeweils andere Abtastgruppe umschaltet, wobei die Maßstabteilstücke
neben der Inkrementalteilung Steuermarken für am
Schlitten angeordnete, mit ihren Ausgangssignalen den Umschalter steuernde, zusätzliche Steuer-Phototransistoren aufweisen.
Es ist üblich, bei größeren Meßlängen den Maßstab aus mehreren Teilstücken zusammenzusetzen, da vor
allem inkrementale Glasmaßstäbe rationell nur in verhältnismäßig kleinen Längen hergestellt werden kön
nen, wenn, wie dies erwünscht ist, ein relativ kleiner
Querschnitt, z. B. eine Dicke von 2 mm und eine Breite
von höchstens 10 mm, eingehalten werden solL Nach einer Möglichkeit müssen die Maßstabteilstücke beim
Zusammensetzen exakt ausgerichtet werden, wobei vor allem die Größe der Stoßfuge bis auf Mikrometer genau
eingebalten werden muß. Man findet hier zwar mit einer Abtastgruppe am Meßschlitten das Auslangen, muß
aber das schwierige Ausrichten der Maßstabteilstücke
ίο in Kauf nehmen, wozu noch kommt, daß es auch bei
ordnungsgemäßer Verklebung der Maßstabteilstücke im Laufe der Lebensdauer der Meßeinrichtung durch
Erschütterungen, mechanische Belastung der Maßstabteilstücke und auch durch unterschiedliche Wärmedeh-
nung der Maßstabteilstücke und ihrer Halterung auf einem Maschinenbett od. dgL zu Verlagerungen kommen kann, die Änderungen der Spaltbreite und damit
Meßfehler bedingen. Zur Vermeidung dieser Nachteile dienen Längenmeßeinrichtungen der gegenständlichen
Art, bei denen zwei Gruppen von Phototransistoren oder ähnlichen zur photoelektrischen Abtastung eines
Meßstabes geeigneten lichtempfindlichen Elementen vorgesehen sind, wobei über den Umschalter jeweils die
den Spalt zwischen zwei Maßstabteilstücken überque
rende Abtastgruppe abgeschaltet und die andere Ab
tastgruppe eingeschaltet wird, so daß die Signalerzeugung für die Längenmessung jeweils Ear Gänze von
einer auf ein einziges Maßstabteilstück gerichteten Abtastgruppe erfolgt Zum Verständnis der Erfindung sei
noch erwähnt, daß es bei Längenmeßeinrichtungen der gegenständlichen Art üblich ist, durch Abtastung des
Inkrementalmaßstabes mit mehreren Phototransistoren unter Verwendung von Ablesegittern zwei oder mehrere gegeneinander phasenverschobene Meßsignale zu
erzeugen, bei denen es sich um sinusähnliche Signale handelt, deren Länge der Maßstabteilung entspricht
Aus diesen Signalen können durch elektronische Unterteilung weitere gegeneinander phasenverschobene Signale abgeleitet werden, so daß der Inkrementalmaß-
stab elektronisch weiter unterteilt v/ϊλ, also in kleineren
Längeneinheiten gemessen werden kann, als der Maßstabteilung entspricht Aus den phasenverschobenen Signalen kann auch die Verstellrichtung des Schlittens
bestimmt und zur Erzeugung von Befehlen für die An-
Zeigeeinrichtung, z. B. für die Umsteuerung eines Vor-
und Rückwärtszählers, herangezogen werden. Die Längenmessung erfolgt dadurch, daß gezählt wird, wie viele
Zählschritte ein bestimmter Punkt von einem anderen bestimmten Punkt entfernt ist Da einfach gezählt wird,
50. ist es gleichgültig, welche der beiden Abtastgruppen mit
der Auswerte- bzw. Zähleinrichtung verbunden ist Durch die vorgesehene Umschaltung wird eine aktive
Aotastung im Spaltbereich zwangsweise vermieden, so daß relativ große Toleranzen für die zulässige Spaltbrei
te zwischen zwei Maßstabteilstücken gewählt werden
können, ohne daß dadurch die Meßgenauigkeit leidet Bei der Umschaltung von der einen Abtastgruppe auf
die andere Abtastgruppe kann es zu geringen Phasenverschiebungen im erzeugten Meßsignal kommen, die in
der Praxis möglicherweise eine Ungenauigkeit von einem Zählschritt hervorrufen. Diese Ungenauigkeit liegt
aber im zulässigen Toleranzbereich bei großen Meßlängen und ist praktisch geringer als der bei Abtastung des
gesamten, aus Teilstücken zusammengeklebten Meß-
Stabes mit nur einer Abtastgruppe wegen öe.r unver
meidlichen Spalttoleranzen auftretende Meßfehler.
Es ist an und für sich bekannt, einen über neben dem Maßstab angeordnete Schaltnocken oder Schaltkulis-
sen betätigten Umschalter zur Umsteuerung von der
einen auf die andere Abtastgruppe vorzusehen. Hier ergibt sich ein zusätzlicher Platzbedarf und der prinzipielle
Nachteil, daß mechanische Schalter zum Prellen neigen, so daß die Auswerte- bzw. Zählelektronik der
Meßeinrichtung gestört werden kann und beträchtliche Meßfehler auftreten. Für die Steuerung des Umschalters
über Steuer-Phototransistoren werden bei einer aus der DE-OS 17 73 460 bekannten Einrichtung jeweils
in größerem Abstand neben der Meßteiiung an den Maßstabteilstücken Steuermarken vorgesehen, wobei
die Abtasteinheit neben dem Abtastgitter für den Maßstab zusätzliche Abtastöffnungen für diese Marken aufweist
und die Abtastöffnungen beim Fluchten mit den Steuermarken das Entstehen eines Umsteuersignales
am Phototransistor bewirken. Es wird dabei am Steuer-Phototransistor
möglichst ein Signal mit hoher Flankensteilheit angestrebt, das nur in einer bestimmten Relativlage
des Schlittens gegenüber dem Maßstab auftritt jeweils ein Steuer-Phototransistor ist neben einer Abtastgruppe
angeordnet und bei aufeinanderfolgenden fviaBstabieiisiücken liegen die Steuerrnarken an einander
entgegengesetzten Seiten der Meßteiluug. Das genannte
Umsteuersignal für den Umschalter wird erst über eine Auswertelogik zu einem den Steuerbefehl erzeugenden
Signi-t geformt
Die Anbringung der Steuermarken muß praktisch mit gleicher Genauigkeit wie die Herstellung des Maßstabes
selbst erfolgen, wobei auch die Signale von den beiden verschiedenen Steuer-Phototransistorin zu verarbeiten
sind und eine Richtungserkennung über die Verstellrichtung des Schlittens notwendig ist, die von
der Logik ebenfalls berücksichtigt werden muß. Damit ergibt sich bei der bisher bekannten Einrichtung für die
photoelektrische Umsteuerung von einer Abtastgruppe auf die andere ein beträchtlicher technischer Aufwand,
die Notwendigkeit die Maßstabteilstücke wesentlich breiter als normale Maßstabteilstücke herzustellen und
der prinzipielle Nachteil, daß trotz des hohen Aufwandes immer die Gefahr besteht daß die Steuerlogik bei
manchen \ erstellgeschwindigkeiten keine eindeutigen Steuersignale erhält bzw. auf Grund von Störsignalen
falsche Steuerbefehle, also Umschaltbefefr'e erzeugen
kann und überdies die ganze Anordnung sehr empfindlich gegen Alterung der Beleuchtungseinrichtung bzw.
Verschmutzung wird.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Einrichtung der genannten Art so zu verbessern, daß sie bei geringem
technischem Aufwand weitgehend störungsfrei und unempfindlich gegen Störungen arbeitet.
Die gestellte Aufgabt wird dadurch gelöst daß die
Steuermarken in Form einer über die Teilstücke durchgehenden Steuerspur an einer Seite der Inkrementalteilung
vorgesehen sind und die Steuerspur helle und dunkle Teilstrecken umfaßt die, je über eine Vielzahl
von Maßstabinkrementen reichend, in jeder Stellung der Abtasteinheit mit den Steuer-Phototransistoren
über den Umschalter die Einschaltung einer Phototransistorengruppe (Abtastgruppe) bestimmen. Prinzipiell
kann bei der erfindungsgemäßen Einrichtung die Stellung des Umschalters in jeder Relativlage des Schlittens
gegenüber dem Maßstab durch eine helle oder dunkle Teilstrecke der Steuerspur vorausbestimmt werden. Es
ist also hier keine Auswertelogik mehr notwendig, da die Steuerung dun-*h Erkennen des hellen oder dunklen
Bereiches durch Jie Steuer-Phototransistoren erfolgt.
Die durchgehende Steuerspur kann unmittelbar neben der Maßstabteilung angebracht werden und ist, da sie
nur aus hellen oder dunklen Teilstücken, also lichtdurchlässigen
und lichtundurchlässigen Teilstücken besteht, leicht herzustellen. Für ihre Anbringung ist nur ein sehr
geringer zusätzlicher Platzbedarf notwendig, so daß praktisch die Maßstabbreite nicht vergrößert werden
muß.
Nach einer weiteren Ausbildung sind die Steuer-Phototransistoren am Schlitten zwischen den Phototransistorgruppen
(Abtastgruppen) angeordnet und der kürzeste Abstand zwischen ihnen und den Gruppen ist größer
als die Spaltbreite zwischen den Teilstücken des Maßstabes gewählt Es wird dadurch möglich, daß die
Steuer-Phototransistoren dann den Umsteuerbefehl geben,
wenn sie sich unmittelbar neben, aber nicht mehr über dem Spalt befinden.
In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand beispielsweise dargestellt Es zeigt
F i g. 1 eine erfindungsgemäße Längenmeßeinrichtung im Teilquerschnitt
F i g. 2 ein Teilstück der wesentlichen Teile der Längenmeßeinrichtung
nach Fi g. 1 bei ';jöffnetem Gehäuse
stark schematisiert in Draufsicht
F i g. 3 ein Blockschaltschema einer erfindungsgemäßen
Längenmeßeinrichtung und
F i g. 4 zur Erläuterung der Funktionsweise den Stoßbereich
zweier Maßstabteilstücke mit verdickt unproportional gezeichneter Steuerspur und verschiedenen
Schlittenstellungen.
Nach den F i g. 1 und 2 besitzt die Längenmeßeinriciitung
ein Führungsgehäuse 1, in dem ^in aus mehreren
Teilstücken 2,2a usw. bestehender Glasmaßstab angeordnet
ist der eine Inkrementalteilung 3 trägt die nur durch abstandsweise angeordnete Striche angedeutet
wurde. Neben der Inkrementalteilung 3 tragen die Teilstücke 2,2a des Maßstabes eine durchlaufende Steuerspur
4,5, die aus einem von dem einen Ende jedes Maßstabteiles 2, 2a ausgehenden lichtundurchlässigen Teilstück
4 und einem durchsichtigen Fenster 5 bzw. Teilstück im anderen Endbereich besteht
Im Gehäuse 1 ist ein Meßschlitten 6 so geführt, daß zwei von ihm getragene Gruppen I bzw. Il von Meß-Ph
jtotransistoren die Inkrementalteilung 3 und Steuer-Phototransistoren
7,8 die Steuerspur 4,5 berührungslos abtasten können. Jede der Gruppen I bzw. II umfaßt
vier Meß-Phototransistoren, die zwei Steuer-Phototransistoren 7,8 sind gegenüber den Gruppen ί, Π versetzt.
Die Meßtransistoren der Gruppen I bzw. II sind hinter Abtastgittern angeordnet, die die gleiche Inkrementalteilung
wie die Maßstabteile 2, 2a aufweisen können und die gemeinsam mit den Meß-Phototransistoren der
Gruppen I, II über die Meßteilung bewegt werden. Innerhalb jeder Gruppe I. II sind die einzelnen Transistoren
1Md die zugeordneten Gitter gegeneinander versetzt,
so daß sie bei eingeschalteter Meßgruppe 5 oder II und über die Inkrenentalteilung 3 bewegtem Schlitten 6
untereinander phasenverschobene Sinussignale erzeugen.
Für jeden Phototransistor ist an der Rückseite des Maßstabes 2 eine Leuchtdiode vorgesehen. Die dargestellte
Leuchtdiode Ia beleuchtet durch den Maßstab 2 und das zugeordnete Abtastgitter den entsprechenden
Maß-Phototransistor der Transistorengruppe I. Die Leuchtdiode 7a beleuchtet die Steuerspur 4, 5 von hinten,
so daß der Steuer-Phototransistor 7 beleuchtet wird, wenn er sich üb^r dem Fenster 5 (oder einem Spalt
zwischen aufeinanderfolgenden Teilstücken 2, 2a des Maßstabes) befindet.
Die von der jeweils eingeschalteten Gruppe I, Il von MeD-Phototransistoren erzeugten phasenverschobenen
Siiiussignale werden gemäß F i g. 3 über Leitungen 9,10
getrennten Auswertungsstufen 11, 12 zugeführt, die ihrerseits
über Leitungen 13,14 digitale Zählimpulse und über Leitungen 15 bzw. 16 Signale abgeben, die angeben,
in welcher Richtung der Schlitten 6 gegenüber der Inkrementalteilung 3 bewegt wird. Die über die Leitungen
15, 16 abgegebenen Signale bestimmen in weitere Folge das Vorzeichen, mit dem die Zählimpulse auf ei-Vien
über eine Leitung 17 angeschlossenen Zähler gelegt werden. Man kann das Vorzeichen auf eine Leitung 18
legen, die den Zähler entsprechend steuert. Dabei ist ein Umschalter 19 vorgesehen, der von den Steuer-Phototransistoren
7, 8 über eine Leitung 20 gesteuert wird und je nach Stellung die Leitung 13 oder 14 mit der
Leitung 17 und die Leitung 15 oder 16 mit 18 verbindet. Über eine Leitung 21 kann auch eine Nullungstaste 22
auf den Umschalter gelegt werden, wodurch der Nullpunkt, von dem aus mit der Zählung begonnen wird,
festgelegt und dabei der Zähler auf Null gestellt wird.
Die Art der Umwandlung der von den Gruppen I und II der Meß-Phototransistoren erzeugten Sinussignale in
Steuersignale zur digitalen Steuerung eines Zählers und zur Erkennung der Verstellungsrichtung des Schlittens ;s
6 bzw. zur Vorzeichenbestimmung ist an sich bekannt und nicht Gegenstand der vorliegenden Erfindung.
Bei der Anordnung der Gruppen I, Il der Meß-Phototransistoren und der Steuer-Phototransistoren 7,8 nach
F i g. 2 sollen zur Erzielung einer richtigen Steuerung folgende Bedingungen erfüllt sein: die Spaltbreite A
zwischen zwei Maßstabteilstücken 2,2a muß kleiner als der nur für den linken Steuer-Phototransistor 7 zum
benachbarten Transistor der Gruppe I eingezeichnete Abstand flsein, der auch zwischen dem Steuer-Phototransistor
8 und dem nächsten benachbarten Meßtransistor der Gruppe Il gegeben ist. Ferner muß der eingezeichnete
Abstand C etwas kleiner ais die Länge D des Fensters 5 gehalten sein. Beim dargestellten Ausführungsbeispiel
ist der Gesamtabstand der Gruppen I und Il bedingt durch die Art der Steuerung größer 2ß, also
wesentlich größer als die Spaltbreite A, Unabhängig davon, muß man auf jeden Fall zwischen den Gruppen I
und II einen Mindestabstand einhalten, der größer ist als A, damit die an den zueinander weisenden Enden der
Gruppen I und II vorgesehenen Meßtransistoren nicht gleichzeitig über dem Spalt liegen können.
In Fig.4 sind übereinander verschiedene mögliche
Stellungen des Schlittens 6 angedeutet Diese Stellungen wurden mit dem Buchstaben a bis e bezeichnet Die
jeweils eingeschaltete Gruppe I bzw. II wurde durch ein in ihre Maß-Phototransistoren eingetragenes Af gekennzeichnet
Die Sieuer-Phototransistoren 7, 8 wurde durchsichtig dargestellt, so daß man durch sie hindurch
die Steuerspur 4,5, also entweder das dunkle Teilstück 4 bzw. das Fenster 5 oder den Spalt A erkennen kann.
In der Stellung a befinden sich beide Steuer-Transistoren
7 und 8 über dem dunklen Teilstück 4 der Steuerspur 4,5 und es sind die Meß-Transistoren der Gruppe
Il eingeschaltet so daß die von ihnen abgegebenen Signale in 11 zu Zählsignalen umgeformt und dem Zähler
über die Leitungen 13,15 und den entsprechend gestellten Umschalter 19 sowie die Leitungen 17,18 zugeführt
werden.
In der Stellung b befindet sich der Steuertransistor 8
bereits über dem Fenster 5 der Steuerspur 4, 5, was bedeutet daß die Gruppe II in die Nähe des Spaltes A
gelangt Die Steuertransistoren 7, 8 steuern über den ihnen nachgeordneten Steuerkreis den Umschalter 19
um, so daß nun die Gruppe I eingeschaltet ist Dieser Schaltzustand bleibt erhalten, während die Gruppe Il
den Spalt A überquert (Stellung d). Sobald beide Steuertransistoren
7,8 sich wieder über dem dunklen Teilstück 5 der Steuerspur 4,5, nun am Maßstabteilstück 2a befinden
(Stellung e), schaltet der Umschalter 19 wieder die Gruppe II der Meßtransistoren ein, was bedeutet, daß
ein Steuerungszustand analog zu a hergestellt ist und nun die Abtastung der Inkrementalteilung 3 des Maßstabteilstückes
2a erfolgt.
Wird der Schlitten 6 von rechts nach links, also von 2a nach 2 verstellt, dann erfolgt die Umsteuerung in umgekehrter
Reihenfolge, also analog zu den Stellungen e bis a.
Die dargestellte Ausführungsform ist nur beispielsweise
angegeben. Die Steuertransistoren 7, 8 könnten auch an den Schlittenenden angeordnet werden. An
Stelle von Phototransistoren und zugeordneten Leuchtdioden können andere lichtempfindliche Steuer- bzw.
Abtasteinrichtungen verwendet werden.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (2)
1. Einrichtung zur Längenmessung mit einem aus zwei oder mehreren Teilstücken bestehenden, inkrementalen Maßstab und einem über diesen Maßstab
verstellbaren Meßschlitten, der zur Steuerung von Zählwerken oddgL Anzeigeeinrichtungen für die
gemessene Länge zwei Gruppen von Phototransistoren aufweist, die in einem größer als die mögliche
Spaltbreite zwischen zwei Teilstücken des Maßstabes gehaltenen Abstand voneinander angeordnet
sind und für die ein jeweils nur eine dieser Gruppen mit dem Zählwerk verbindender Umschalter vorgesehen ist, der bei der Oberquerung jedes Stoßbereiches durch den Schlitten betätigbar ist, so daß er
wechselweise von der zum Stoßbereich gelangenden und diesen überquerenden Abtastgruppe auf die jeweils andere Abtastgruppe umschaltet, wobei die
Maßstabteilstücke neben der Inkrementalteilung Steuermark?* für am Schlitten angeordnete, mit ihren Ausgangssignalen den Umschalter steuernde,
zusätzliche Steuer-Phototransistoren aufweisen, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuermarken in Form einer über die Teilstücke durchgehenden Steuerspur (4, 5) an einer Seite der Inkrementalteilung (3) vorgesehen dnd und die Steuerspur helle und dunkle Teilstrecken umfaßt, die je
über eine Vielzahl von Maßstabinkrementen reichen und in jeder Stellung der Abtasteinheit mit den Steuer-Phototransistoren (7,8) über den Umschalter (19)
die Einschaltung einer Phototransistorengruppe (I bzw. II) bestimmen.
2. Langenmeßeinrichfing nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die teuer-Phototransistoren (7, 8) am Schlitten (1) zwischen den Phototransistorgruppen (I, II) angeordnet sind und der
kürzeste Abstand (inzwischen ihnen und den Gruppen (I, II) größer als die Spaltbreite (/Inzwischen den
Teilstücken (2,2a)des Maßstabes gewählt ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT617574A AT362046B (de) | 1973-09-13 | 1974-07-26 | Dialysegeraet |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2730715A1 DE2730715A1 (de) | 1978-02-23 |
DE2730715C2 true DE2730715C2 (de) | 1991-08-29 |
Family
ID=3583636
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2730715A Expired DE2730715C2 (de) | 1974-07-26 | 1977-07-07 | Einrichtung zur Längenmessung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4158509A (de) |
DE (1) | DE2730715C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3316144A1 (de) * | 1982-05-04 | 1983-11-10 | Canon K.K., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zum messen des ausmasses einer bewegung |
DE10300918B4 (de) * | 2003-01-13 | 2014-11-06 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen der Relativbewegung zweier relativ zueinander bewegbarer Maschinenteile |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2948854A1 (de) * | 1979-12-05 | 1981-06-11 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementales messsystem |
DE3039483C2 (de) * | 1980-10-18 | 1986-09-11 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementale Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
US4429219A (en) | 1981-04-10 | 1984-01-31 | Harris Corporation | Apparatus for determining and indicating the position of a movable member |
DE3144334C2 (de) * | 1981-11-07 | 1985-06-13 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Wegmeßeinrichtung mit Referenzmarken |
DE3151798C2 (de) * | 1981-12-29 | 1985-12-12 | MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Länge einer Strecke oder eines Bogens |
DE3204012C1 (de) * | 1982-02-05 | 1983-02-03 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementale Messeinrichtung |
DE3307639C2 (de) * | 1983-03-04 | 1986-10-30 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München | Optisches Potentiometer |
DE3308813C2 (de) * | 1983-03-12 | 1985-02-07 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Meßeinrichtung |
US4561846A (en) * | 1983-09-02 | 1985-12-31 | Denar Corporation | Dental pantograph |
AT396631B (de) * | 1984-07-06 | 1993-10-25 | Rsf Elektronik Gmbh | Inkrementales messsystem |
DE3504520A1 (de) * | 1985-02-09 | 1986-08-14 | Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf | Laengenmesseinrichtung fuer messvorrichtungen und -maschinen |
DE3526206A1 (de) * | 1985-07-23 | 1987-02-05 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Wegmesseinrichtung |
JP2567036B2 (ja) * | 1988-05-10 | 1996-12-25 | キヤノン株式会社 | 光学式エンコーダ |
JP2648181B2 (ja) * | 1988-08-31 | 1997-08-27 | オ−クマ株式会社 | リニアエンコーダ |
DE59305801D1 (de) * | 1993-12-08 | 1997-04-17 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Längenmesssystem |
US5734173A (en) * | 1996-05-24 | 1998-03-31 | Braun; Paul-Wilhelm | Method and device for positioning of moving machinery parts |
DE19628765B4 (de) * | 1996-07-17 | 2007-04-05 | Braun, Paul-Wilhelm, Dipl.-Ing. | Verfahren und Vorrichtung zur Positionsbestimmung von nicht-geradlinig bewegten, insbesondere rotierenden Maschinenteilen |
DE19724732A1 (de) * | 1997-06-12 | 1998-12-17 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Längenmeßsystem mit modular aufgebautem Maßstab |
DE19738023B4 (de) * | 1997-08-30 | 2007-04-12 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur exakten Justage von Teilungsträgern |
DE69943311D1 (de) * | 1998-12-24 | 2011-05-12 | Canon Kk | Trägerplattesteuerungsvorrichtung, Belichtungsapparat und Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung |
US6922907B2 (en) | 2001-04-05 | 2005-08-02 | Anton Rodi | Measuring system for recording absolute angular or position values |
DE10117193B4 (de) * | 2001-04-05 | 2013-04-04 | Anton Rodi | Messsystem zur Absolutwerterfassung von Winkeln oder Wegen |
GB2378243B (en) * | 2001-07-30 | 2005-12-14 | Hewlett Packard Co | Position measurement system and method |
FR2921480B1 (fr) * | 2007-09-20 | 2010-03-05 | Renault Sas | Capteur de position absolue a lecture serie |
DE102011085636A1 (de) * | 2011-11-02 | 2013-05-02 | Hamilton Bonaduz Ag | Linearmotor mit mehreren Sensoreinheiten und modularem Statoraufbau |
EP2866337B1 (de) | 2013-08-30 | 2016-09-28 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Schlitten für linearen einen Förderer und ein linearer Förderer |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1208087B (de) * | 1964-04-22 | 1965-12-30 | Wenczler & Heidenhain | Einrichtung zum Messen von Laengen mittels Impulszaehlung |
GB1143542A (de) * | 1965-11-16 | |||
DE1773460A1 (de) * | 1968-05-17 | 1971-09-23 | Heidenhain Johannes Dr | Anordnung zum Bestimmen der Relativlage zweier Teile |
DE1798266A1 (de) * | 1968-09-18 | 1972-01-20 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Anordnung zum Ausloesen von Steuervorgaengen |
DE1938377B2 (de) * | 1969-07-29 | 1970-11-19 | Leitz Ernst Gmbh | Digitale Absolut-Messanordnung mit Synchronisation des Ziffernsprungs in den Grobstellen der Anzeige |
-
1977
- 1977-07-07 DE DE2730715A patent/DE2730715C2/de not_active Expired
- 1977-07-27 US US05/819,568 patent/US4158509A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3316144A1 (de) * | 1982-05-04 | 1983-11-10 | Canon K.K., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zum messen des ausmasses einer bewegung |
DE10300918B4 (de) * | 2003-01-13 | 2014-11-06 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen der Relativbewegung zweier relativ zueinander bewegbarer Maschinenteile |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2730715A1 (de) | 1978-02-23 |
US4158509A (en) | 1979-06-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2730715C2 (de) | Einrichtung zur Längenmessung | |
DE2952106C2 (de) | Lichtelektrische inkrementale Längen- oder Winkelmeßeinrichtung | |
AT404300B (de) | Drehgeber | |
EP0171383B1 (de) | Inkrementales Messsystem | |
AT395914B (de) | Photoelektrische positionsmesseinrichtung | |
EP0819913B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Positionierung von zyklisch bewegten insbesondere rotierenden Maschinenteilen | |
DE3037810C2 (de) | Inkrementale Längen- oder Winkelmeßeinrichtung | |
DE2850940A1 (de) | Bandmessgeraet | |
DE2248194B2 (de) | Mehrkoordinatenmaschine, insbesondere laengenmessmaschine | |
EP0268558A2 (de) | Längen- oder Winkelmesseinrichtung | |
EP1995566B1 (de) | Maßstab für eine Positionsmesseinrichtung und Positionsmesseinrichtung | |
DE2501373B2 (de) | Anordnung zur Winkel- oder Längenmessung | |
DE1448903B2 (de) | Fotoelektrische abtastvorrichtung | |
AT410485B (de) | Positionsmesseinrichtung | |
EP0395844B1 (de) | Positionsmesseinrichtung mit Referenzmarken | |
DE3542514C2 (de) | ||
EP0303008B1 (de) | Inkrementale Längen- oder Winkelmesseinrichtung | |
EP0381658A2 (de) | Inkrementales Messsystem | |
DE2436510C3 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Lage eines gegenüber einer Skala beweglichen Bauteils | |
DE1950881A1 (de) | Vorrichtung zur Fehlerkorrektur in Positioniersystemen | |
CH617006A5 (en) | Device for length measurement. | |
DE2713004A1 (de) | Lage-messwertgeber fuer werkzeugmaschinen und messvorrichtungen oder -maschinen | |
DE3102125A1 (de) | Inkrementale laengen- oder winkelmesseinrichtung | |
DE2333530A1 (de) | Messanordnung zur umformung einer entfernung in ein kodiertes signal | |
DE4111873C2 (de) | Meßeinrichtung an einer Werkzeugmaschine zum Bestimmen des jeweiligen Standorts eines beweglichen Bauteils |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01B 11/00 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8366 | Restricted maintained after opposition proceedings | ||
8305 | Restricted maintenance of patent after opposition | ||
D4 | Patent maintained restricted | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |