DE3840225C2 - - Google Patents

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DE3840225C2 DE19883840225 DE3840225A DE3840225C2 DE 3840225 C2 DE3840225 C2 DE 3840225C2 DE 19883840225 DE19883840225 DE 19883840225 DE 3840225 A DE3840225 A DE 3840225A DE 3840225 C2 DE3840225 C2 DE 3840225C2
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2856—Internal circuit aspects, e.g. built-in test features; Test chips; Measuring material aspects, e.g. electro migration [EM]

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DE2944149C2 (de) * 1979-11-02 1985-02-21 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Integrierte Schaltungsanordnung in MOS-Technik

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