DE3829235A1 - Pruefvorrichtung und pruefverfahren fuer ein speichermedium fuer optische daten - Google Patents
Pruefvorrichtung und pruefverfahren fuer ein speichermedium fuer optische datenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung und ein
Prüfverfahren für physikalische Kenndaten, beispielsweise
mechanische Kenndaten, wie statische Abweichung, dynamische
axiale Auslenkung, eine Beschleunigung der axialen
Auslenkung, eine dynamische, radiale Auslenkung, eine
Beschleunigung der radialen Auslenkung, eine axialen
Neigungswinkel, eine Rundheit und dergleichen eines
Speichermediums für optische Daten, wie beispielsweise
einer Bildplatte oder dergleichen, die einen Laserlichtstrahl
bei einem berührungslosen optischen Betrieb verwendet.
Es wird auf den Stand der Technik Bezug genommen.
In jüngster Zeit wurde ein Speichermedium für optische
Daten, wie beispielsweise eine Bildplatte oder dergleichen,
in grossem Umfang in einer Bilddatenspeicher-Suchvorrichtung,
einer Bildwiedergabevorrichtung oder einer
Musik- bzw. Tonwiedergabevorrichtung verwendet. Wie in
dem Bericht "Optical Disk Test System" im Yokogawa Technical
Report, Bd. 31, Nr. 1, 1987, beschrieben ist, werden bei
der Herstellung einer Bildplatte ihre verschiedenen
Qualitäten als letzter Schritt in einem Fertigungsvorgang
darauf überprüft, ob sie den Normanforderungen genügen
oder nicht genügen. Bei einem bekannten Verfahren werden
die Qualitäten der Bildplatte unter Verwendung eines
Optikkopfes geprüft, und Fokussier- und
Nachführservospannungen des Optikkopfes werden aufgenommen.
Anschliessend werden die Änderungsgrössen des Optikkopfes
in der Fokussier- und Nachführrichtung aus den erfassten
Servospannungen berechnet, um mechanische Kenndaten zu
prüfen, beispielsweise statische Abweichung, dynamische
axiale Auslenkung, Beschleunigung einer axialen Auslenkung,
dynamische, radiale Auslenkung, Beschleunigung einer
radialen Auslenkung, axiale Neigungswinkel, Rundheit und
dergleichen der Bildplatte.
Wird bei einer bekannten Prüfvorrichtung für ein
Speichermedium für optische Daten die optische Information
unter Verwendung des Laserlichtstrahles in die Bildplatte
in einem berührungslosen optischen Vorgang eingeschrieben
oder ausgelesen, so ist es gewöhnlich notwendig, den
Optikkopf um einen geeigneten Betrag zu bewegen, um die
Abweichung und die axiale Auslenkung der Bildplatte bei
deren zulässigen Fehlern zu korrigieren, so dass der
Laserlichtstrahl genau auf die gewünschte Position der
Bildplatte fokussiert wird.
Das heisst, in diesem Fall werden ein fokussierendes
Servosteuergerät zur Aufrechterhaltung eines konstanten
Abstandes zwischen einem Objektiv eines Optikkopfes und
einer Scharfeinstellungsfläche einer Bildplatte und ein
Nachführservosteuergerät zum Folgen einer Bahn der
Bildplatte betrieben, indem das Objektiv in Radialrichtung
zur Korrektur einer radial Auslenkung einer Bahn der
Bildplatte bewegt wird. Ferner enthalten die Fokussier- und
Nachführservosteuergeräte jeweils Fokussier- und
Nachführspulen, und das am Optikkopf befestigte Objektiv
wird in geeigneter Weise gesteuert, um durch die Zufuhr
elektrischer Ströme zu den Fokussier- und Nachführspulen
in Fokussier- und Nachführrichtung bewegt zu werden. Die
Stromgrössen, die der Fokussier- und Nachführspule zugeführt
werden, sind proportional der Bewegungsgrösse des Objektivs
in den Fokussier- und Nachführrichtungen, und durch
Erfassung dieser Stromgrössen als Spannungsbeträge können
die Änderungsgrössen des Optikkopfes in den Fokussier- und
Nachführrichtungen wiederum berechnet werden. Damit können
die mechanischen Kenndaten der Bildplatte aus den
Änderungsgrössen des Optikkopfes berechnet werden. Da
jedoch bei der bekannten Vorrichtung die Änderungsgrössen
des Optikkopfes aus den Steuerstromgrössen für die
Fokussier- und Nachführservosteuergeräte berechnet werden,
sind Genauigkeit, Auflösungsvermögen und
Ansprechgeschwindigkeit bei der Messung der mechanischen
Kenndaten der Bildplatte niedrig oder unzureichend.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine
Prüfvorrichtung für ein Speichermedium für optische Daten,
wie beispielsweise eine Bildplatte, zu schaffen, die
optisch Berührungsfrei arbeitet und die vorausgehend
aufgeführten Beschwernisse und Mängel des Standes der
Technik nicht aufweist und die in der Lage ist, die
mechanischen Kenndaten der Bildplatte mit hoher Genauigkeit,
hohem Auflösungsvermögen und rascher Ansprechgeschwindigkeit
zu prüfen.
Ferner liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein
Prüfverfahren für ein Speichermedium für optische Daten,
wie beispielsweise eine Bildplatte, zu schaffen, das
berührungsfrei optisch arbeitet und frei von den
vorausgehend aufgeführten Beschwernissen und Mängeln des
Standes der Technik ist und das in der Lage ist, die
mechanischen Kenndaten der Bildplatte mit hoher Genauigkeit,
hohem Auflösungsvermögen und rascher Ansprechgeschwindigkeit
zu messen.
Zur Lösung der eingangs genannten Aufgabenstellung betrifft
die Erfindung gemäss einem Aspekt derselben eine
Prüfvorrichtung zur Erfassung eines mechanischen Kennwertes
eines optischen Datenspeichers, die durch einen ersten
Laserstrahl fokussiert wird, um die auf dem optischen
Datenspeicher aufgezeichneten Daten wiederzugeben, und
die gekennzeichnet ist durch
eine Vorrichtung zur Fokussierung des ersten Laserstrahls gegen den optischen Datenspeicher;
eine Vorrichtung zur Erzeugung eines zweiten Laserstrahls;
eine Vorrichtung, um den zweiten Laserstrahl gegen die Fokussiervorrichtung zu richten;
eine Vorrichtung zum Erfassen des zweiten Laserstrahls, der von der Fokussiervorrichtung reflektiert wird, um die Lage der Fokussiervorrichtung gegenüber dem optischen Datenspeicher zu erfassen; und
eine Vorrichtung, die auf die Vorrichtung zum Richten des Laserstrahls anspricht, um den mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers zu erfassen.
eine Vorrichtung zur Fokussierung des ersten Laserstrahls gegen den optischen Datenspeicher;
eine Vorrichtung zur Erzeugung eines zweiten Laserstrahls;
eine Vorrichtung, um den zweiten Laserstrahl gegen die Fokussiervorrichtung zu richten;
eine Vorrichtung zum Erfassen des zweiten Laserstrahls, der von der Fokussiervorrichtung reflektiert wird, um die Lage der Fokussiervorrichtung gegenüber dem optischen Datenspeicher zu erfassen; und
eine Vorrichtung, die auf die Vorrichtung zum Richten des Laserstrahls anspricht, um den mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers zu erfassen.
Nach einem weiteren Aspekt der Erfindung wird eine
Prüfvorrichtung zur Erfassung eines mechanischen Kennwertes
eines optischen Datenspeichers geschaffen, die gekennzeichnet
ist durch eine Vorrichtung zur Erzeugung eines Laserstrahls,
eine Vorrichtung, um den Laserstrahl gegen den optischen
Datenspeicher zu richten, eine Vorrichtung zur Erfassung
des vom optischen Datenspeicher reflektierten Laserstrahls
zur Erfassung der Lage des optischen Datenspeichers, und
eine Vorrichtung, die auf die Richtvorrichtung anspricht,
um den mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers
zu erfassen.
Im Einklang mit einem weiteren Aspekt der Erfindung wird
eine berührungslos optisch arbeitende Prüfvorrichtung für
einen optischen Datenspeicher geschaffen, die
gekennzeichnet ist durch eine Vorrichtung zur Erzeugung
eines Laserstrahls, eine optische Nachführvorrichtung zum
Folgen einer Rille des optischen Datenspeichers, und
zum Reflektieren des Laserstrahls, und eine Vorrichtung
zur Erfassung des mechanischen Kennwertes des optischen
Datenspeichers aus dem von der optischen Nachführvorrichtung
reflektierten Laserstrahl.
Im Einklang mit einem weiteren Aspekt der Erfindung wird
ein Prüfverfahren zur Erfassung eines mechanischen Kennwertes
eines optischen Datenspeichers geschaffen, das
gekennzeichnet ist durch folgende Schritte: Erzeugen eines
Laserstrahls; Richten des Laserstrahls gegen eine optische
Vorrichtung zum Abtasten einer Rille des optischen
Datenspeichers; und Erfassen des mechanischen Kennwertes
des optischen Datenspeichers mittels einer Detektorvorrichtung
entsprechend dem von der optischen Vorrichtung reflektierten
Laserstrahl.
Die aufgeführten und weitere Aufgabenstellungen, Merkmale
und Vorteile der Erfindung ergeben sich im einzelnen aus
der nachfolgenden Beschreibung von bevorzugten
Ausführungsformen in Verbindung mit den anliegenden
Zeichnungen; es zeigen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer
Ausführungsform einer
erfindungsgemässen
Prüfvorrichtung für ein
Speichermedium für optische
Daten;
Fig. 2 eine schematische Draufsicht
auf ein optisches System,
das in der Vorrichtung nach
Fig. 1 verwendet wird;
Fig. 3 eine perspektivische Teilansicht,
teilweise geschnitten, eines
in Fig. 1 dargestellten
Optikkopfes; und
Fig. 4 ein Blockschaltbild einer
weiteren Ausführungsform einer
erfindungsgemässen
Prüfvorrichtung für ein
Speichermedium für optische
Daten.
Es wird auf die Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen
Bezug genommen. In den Zeichnungen, in denen gleiche
Bezugszeichen in den verschiedenen Figuren gleiche oder
entsprechende Teile darstellen, ist in den Fig. 1 bis 3
eine Ausführungsform einer erfindungsgemässen
Prüfvorrichtung für ein Speichermedium für optische Daten,
wie beispielsweise eine Bildplatte, dargestellt.
In den Zeichnungen enthält die Prüfvorrichtung einen
Spindelmotor (3) zum Antrieb einer Bildplatte (1) mit einer
darauf angeordneten, zu prüfenden Führungsrille (1 a), und
einen Optikkopf (5) mit einem Objektiv (52), das an einem
beweglichen oder verschiebbaren Tisch (7) zur Bewegung
oder zum Betrieb des Optikkopfes (5) in die gewünschte
Position der Bildplatte (1) dient. Der Optikkopf (5) ist
in der Lage, sich zu bewegen oder seine eigene Position
derart zu ändern, dass das Objektiv (53) mechanischen
Kenndaten folgen kann, beispielsweise einer statischen
Abweichung, einer dynamischen, axialen Auslenkung, einer
Beschleunigung einer axialen Auslenkung, einer dynamischen
radialen Auslenkung, einer Beschleunigung der radialen
Auslenkung, einem axialen Neigungswinkel, einer Rundheit
und dergleichen der Rille (1 a) der Bildplatte (1). Das
heisst, wenn das Objektiv (53) des Optikkopfes nicht genau
der Führungsrille (1 a) der Bildplatte folgen kann,
beispielsweise wegen einer Verformung derselben, so
überspringt sie, d.h. sie nimmt eine gewisse Menge der in
der Bildplatte (1) gespeicherten, optischen Daten nicht
auf und ein Fehlerdetektor (9) erfasst eine derartige
übersprungene Menge, die in der Änderung der
Führungsrille (1 a) der Bildplatte (1) enthalten ist und
gibt ein Fehlersignal entsprechend der übersprungenen
Menge ab.
Ein Laserübertrager (11) erzeugt einen Laserlichtstrahl
(A), beispielsweise den parallelen He-Ne-Laserlichtstrahl,
zur Erfassung der Änderung der Führungsrille (1 a) der
Bildplatte (1) an reflektierenden Spiegeln (58) (58 T, 58 F),
die an einem Halteblock (56) des Optikkopfes (5) befestigt
sind, über Interferometer (15) (15 T, 15 F), die am Tisch
(7) befestigt sind und Fokussierlinsen (13)( 13 T, 13 F), die
am Tisch (7) befestigt sind, um die parallelen und
unterteilten Laserlichtstrahlen (A) an den jeweiligen
reflektierenden Spiegeln (58) (58 T, 58 F) zu fokussieren.
Die von den reflektierenden Spiegeln (58) reflektierten
Laserlichtstrahlen (A) werden zu den Interferometern (15)
über die Fokusierlinsen (13) (13 T, 13 F) zurückgebracht und
die Interferometer (15) (15 T, 15 F) überlagern die
reflektierten Laserlichtstrahlen dem vom Laserübertrager
(11) erzeugten Laserlicht. Anschliessend treten die
überlagerten Laserlichtstrahlen aus den Interferometern
(15) (15 T, 15 F) in die am Tisch (7) befestigten Detektoren
(17) (17 T, 17 F) ein, um die Änderungen des das Objektiv
(53) aufnehmenden Halteblockes (56) in Fokussier- und
Nachführrichtung (Y, Z) zu erfassen, die sich jeweils in
einer Richtung parallel zur optischen Achse des Objektives
(53), und in einer weiteren Richtung senkrecht zur optischen
Achse und zur Richtung der Bahn der Bildplatte (1)
erstreckt. Die Detektoren (17) (17 T, 17 F) geben
Änderungssignale aus, entsprechend den Fokussier- und
Nachführänderungen des Halteblockes (56) des Objektives (53)
des Optikkopfes (5).
Die Änderungssignale werden von den Detektoren (17) (17 T, 17 F)
einem Verstärker (21) zur Verstärkung der Änderungssignale
zugeführt, und die verstärkten Änderungssignale werden einem
Digital/Analog (D/A)-Umsetzer (23) zwecks Umsetzung der
digitalen Änderungssignale in analoge Änderungssignale
eingespeist. Anschliessend wird der Fehlersignalausgang
aus dem Fehlerdetektor (9) den analogen Änderungssignalen
zur Korrektur derselben zugeführt, und darauf werden die
korrigierten, analogen Änderungssignale einem
Analog/Digital (A/D)-Umsetzer (25) zugeführt und dort in
korrigierte, digitale Änderungssignale umgewandelt. Die
korrigierten, digitalen Änderungssignale werden einer
Zentraleinheit (CPU) (27) zugeführt. Der Spindelmotor (3)
und der Tisch (7) enthalten jeweilige, darin angeordnete
(nicht dargestellte) Antriebssteuerungen, die
aufeinanderfolgend jeweilige Positionsdatensignale an die
Zentraleinheit (27) abgeben, die beispielsweise einem
Drehwinkel des Spindelmotors (3) und einem Abstand des
Optikkopfes (5) vom Mittelpunkt der Drehachse des Motors
(3) entsprechen. Die Zentraleinheit (27) bearbeitet die
mechanischen Kenndaten aus den vom A/D-Umsetzer zugeführten
korrigierten, digitalen Änderungssignalen entsprechend
den Positionsdaten, die in den Positionsdatensignalen
enthalten sind, die vom Spindelmotor (3) und dem Tisch (7)
ausgegeben werden, und führt das erarbeitete Ergebnis,
wie beispielsweise die mechanischen Kennwerte, zusammen
mit den Positionsdaten einer Anzeige (29) zu. Die Anzeige
(29) zeigt die erarbeiteten mechanischen Kennwerte zusammen
mit den Lagedaten an.
In Fig. 2 ist ein optisches System zur Erfassung der
Änderungen des Objektives (53) des Optikkopfes (5) in der
Fokussier- und Nachführrichtung (Y, Z) in der Prüfvorrichtung
gemäss Fig. 1 dargestellt. Der vom Laserübertrager (11)
erzeugte Laserlichtstrahl (A) wird einem 50%-Strahlenteiler
(12) zugeführt und ein 50%iger Anteil des Laserlichtstrahls
(A) zur Erfassung der Nachführungsänderung des Objektives
(53) des Optikkopfes (5) wird in Nachführrichtung (Z)
unterteilt, und über das Interferometer (15 T) und die
Fokussierlinse (13 T) dem reflektierenden Spiegel (58 T)
zugeführt, der an dem Halteblock (56) des Optikkopfes (5)
befestigt ist. Der vom Spiegel (58 T) reflektierte
Laserlichtstrahl (A) wird über die Fokussierlinse (13 T) zum
Interferometer (15) zurückgeführt und gelangt anschliessend
in den Detektor (17 T) und dieser erfasst die
Nachführänderung des Objektives (53) des Optikkopfes (5) aus
dem Laserlichtstrahl (A).
Inzwischen fällt ein weiterer 50%-Anteil des
Laserlichtstrahls (A) zum Erfassen der Fokussieränderung
des Objetives (53) des Optikkopfes (5) in
Fokussierrichtung (Y), der durch den 50%-Strahlenteiler
(12) hindurchtritt, auf den reflektierenden Spiegel (58 F),
der ebenfalls im Halteblock (56) des Optikkopfes (5)
befestigt ist, und zwar über ein total reflektierendes
Prisma (14), das Interferometer (15 F) und die
Fokussierlinse (13 F). Anschliessend wird der
Laserlichtstrahl (A) vom Spiegel (58 T) reflektiert, um
über die Fokussierlinse (13 F) zum Interferometer (15 F)
zurückzukehren und tritt dann in den Detektor (17 F) ein.
Der Detektor (17 F) erfasst die Fokussieränderung des
Objektives (53) des Optikkopfes (5) aus dem eingetretenen
Laserlichtstrahl (A).
In Fig. 3 ist ein wesentlicher Aufbau einer Ausführungsform
des Optikkopfes (5) dargestellt, der in der
Prüfvorrichtung gemäss Fig. 1 verwendet wird. Im Optikkopf
(5) erzeugt eine Laserdiode (50) einen weiteren
Laserlichtstrahl und eine Sammellinse (51) macht den
Laserlichtstrahl parallel. Der parallel ausgerichtete
Laserlichtstrahl wird durch ein halbreflektierendes Prisma
(52) zu dem vom Halteblock (56) gehaltenen Objektiv (53)
reflektiert. Das Objektiv (53) fokussiert den Laserlichtstrahl
auf die Bildplatte (11) in Form eines Lichtstrahlpunktes.
Der von der Bildplatte (11) reflektierte Laserlichtstrahl
tritt durch das halbreflektierende Prisma (52) und eine
Zylinderlinse (54) hindurch, um in einen Fotodetektor (55)
zur Erfassung der Intensität des einfallenden
Laserlichtstrahles zu gelangen. Der Halteblock (56) ist
mit einer (nicht dargestellten) darauf aufgewickelten
Fokussierspule ausgestattet, um den Halteblock (56) in
Fokussierrichtung (Y) zu bewegen, sowie mit einer an ihm
angebrachten (nicht dargestellten) Nachführspule, um den
Halteblock (56) in Nachführrichtung (Z) zu bewegen. Vier
Magnete (57) sind um den Halteblock (56) angeordnet. Der
vorausgehend beschriebene Optikkopf (5) hat einen üblichen
Aufbau, ist jedoch nicht auf die in Fig. 3 angegebene
Anordnung beschränkt.
Der erfindungsgemässe Optikkopf (5) weist ferner ein
Paar reflektierender Spiegel (58 F) zur Erfassung der
Änderung des Objektives (53) des Optikkopfes (5) in
Fokussierrichtung (Y) und ein weiteres Paar reflektierender
Spiegel (58 T) zur Erfassung der Änderung des Objektives
(53) des Optikkopfes (5) in Nachführrichtung (Z) auf,
und die reflektierenden Spiegel (58 F, 58 T) sind am
Halteblock (56) in Ebenen angeordnet, die jeweils senkrecht
zur Fokussier- und Nachführrichtung liegen. Der Optikkopf
(5) enthält ferner ein Paar total reflektierender Prismen
(59) zur Reflexion des horizontal einfallenden
Laserlichtstrahls (A) in Fokussierrichtung, um den
reflektierten Laserlichtstrahl (A) auf die Spiegel (58 F)
zu fokussieren. Bei dieser Ausführungsform ist das Paar
reflektierender Spiegel (58 F) oder (58 T) am Optikkopf (5)
vorgesehen, um den Laserlichtstrahl (A) aus entgegengesetzten
Richtungen dem Optikkopf (5) zuzuführen, und somit wird
in der Praxis gewöhnlich nur einer der Spiegel (58 F, 58 T)
verwendet.
Anschliessend wird der Betrieb der vorausgehend beschriebenen
Prüfvorrichtung in Verbindung mit den Fig. 1 bis 3
beschrieben.
Zunächst wird die Bildplatte (1) am Spindelmotor (3)
befestigt und der Spindelmotor (3) wird mit einer bestimmten
Geschwindigkeit, beispielsweise etwa 600 Upm angetrieben
oder zum Stillstand gebracht, abhängig von der jeweiligen
Prüfung der mechanischen Kenndaten, wie nachfolgend im
einzelnen erläutert wird. Dann wird durch Verwendung des
Optikkopfes (5) der Prüfvorgang der Bildplatte (1) eingeleitet.
Darauf wird andererseits der Laserübertrager (11) angetrieben,
um den Laserlichtstrahl (A) für die reflektierenden Spiegel
(58 F, 58 T) unter Zwischenschaltung des 50%-Strahlenteilers
(12), des total reflektierenden Prismas (14), der
Interferometer (15 F, 15 T) und der Fokussierlinsen (13 F, 13 T)
in der vorausgehend beschriebenen Weise zu erzeugen, und
die von den reflektierenden Spiegeln (58 F, 58 T) reflektierten
Laserlichtstrahlen (A) werden jeweils über die
Fokussierlinsen (13 F, 13 T) zu den Interferometern (15 F, 15 T)
zurückgeführt. In den Interferometern (15 F,15 T) werden
die zurückgeführten Laserlichtstrahlen (A) den jeweiligen
Laserlichtstrahlen überlagert, die durch den
50%-Strahlenteiler (12) und das total reflektierende
Prisma (14) reflektiert werden und durch diese hindurchtreten,
und die Detektoren (17 F, 17 T) nehmen die jeweils überlagerten
Laserstrahlen auf und geben Änderungssignale an den
Verstärker (21) aus, die den Fokussier- und
Nachführänderungen des Objektives (53) des Optikkopfes
entsprechen.
Die Änderungssignale werden im Verstärker (21) verstärkt
und die verstärkten Änderungssignale werden anschliessend
dem D/A-Umsetzer (23) zugeführt und in analoge
Änderungssignale umgewandelt. Der Fehlersignalausgang aus
dem Fehlerdetektor (9) wird den analogen Änderungssignalen
hinzugegeben, um die übersprungene Menge der optischen
Daten der Bildplatte (1) in den analogen Änderungssignalen
abhängig davon zu korrigieren, dass das Objektiv (53) nicht
den mechanischen Kenndaten der Rille der Bildplatte (1)
folgen kann. Die korrigierten analogen Änderungssignale
werden dann im A/D-Umsetzer (25) in korrigierte, digitale
Änderungssignale umgewandelt, und die korrigierten
digitalen Änderungssignale werden als Fokussier- und
Nachführänderungen des Objektives (53), entsprechend den
Positionsdaten verarbeitet, die durch den Spindelmotor (3)
und den Tisch (7) geliefert werden, damit die
mechanischen Kenndaten der Bildplatte (1) erhalten werden.
Die erhaltenen mechanischen Kenndaten werden auf der
Anzeige (29) zusammen mit den Positionsdaten angezeigt.
Im Optikkopf (5) wird, wie vorausgehend beschrieben, der
Halteblock (56) durch die Fokussier- und Nachführspulen,
abhängig von der dynamischen, axialen Auslenkung oder
der dynamischen, radialen Auslenkung der Rille der Bildplatte
(1) in Fokussier- und Nachführrichtung (Y, Z) angetrieben,
wodurch ein Nachführen der Rille der Bildplatte (1)
erfolgt.
Anschliessend wird die Prüfung der mechanischen Kenndaten
eines Speichermediums für optische Daten, wie beispielsweise
einer Bildplatte, unter Verwendung der vorausgehend
beschriebenen Prüfvorrichtung erläutert.
Zunächst wird die Prüfung der statischen Auslenkung der
Bildplatte (1) durchgeführt. Das heisst, die Bildplatte (1)
wird am Spindelmotor (3) befestigt, und während der
Spindelmotor (3) still steht, wird die Oberfläche der
Bildplatte (1) von innen nach aussen in Nachführrichtung
durch den Optikkopf (5) abgetastet. Dieser Abtastvorgang
wird dreimal nach jeder 120°-Drehung der Bildplatte (1)
durchgeführt. Die Änderung des Optikkopfes (5) in
Fokussierrichtung, beispielsweise die statische Abweichung,
wird gegenüber dem Abstand des Optikkopfes vom Zentrum
der Bildplatte (1) erfasst.
Die Abweichung und die dynamische, axiale Auslenkung werden
geprüft. Der Motor (3) wird angetrieben, um die Bildplatte (1)
beispielsweise mit 600 Upm anzutreiben, und die Oberfläche
der Bildplatte (1) wird zur Gänze nach aussen längs einer
Spirallinie in radialer Richtung durch den Optikkopf in
der gleichen Weise, wie vorausgehend beschrieben wurde,
abgetastet.
Die dynamische, axiale Auslenkung wird geprüft. Die Bildplatte
(1) wird mit 600 Upm in gleicher Weise, wie vorausgehend
beschrieben, gedreht, und der Optikkopf (5) wird an dem
vorgegebenen Radius eingestellt, um die Änderung des
Abstandes zwischen der Oberfläche der Bildplatte (1) und
dem Optikkopf (5) zu erfassen, d.h. die Änderung in
Fokussierrichtung. Dieser Vorgang wird etwa an fünf
verschiedenen Radien bestimmt. Die dynamische, axiale
Auslenkung wird bezüglich des Drehwinkels (0 bis 360°) der
Bildplatte erfasst.
Es erfolgt die Prüfung der Beschleunigung der axialen
Auslenkung. Die Bildplatte (1) wird mit 600 Upm in gleicher
Weise,wie vorausgehend beschrieben, gedreht, und der
Optikkopf wird an den vorgegebenen Radius eingestellt.
Anschliessend wird, während die Daten der dynamischen,
axialen Auslenkung abgefragt werden, die Beschleunigung
der axialen Auslenkung der Bildplatte (1) in
Fokussierrichtung durch den Optikkopf (5) erfasst. Dies
wird bei 600 Upm durchgeführt und der ermittelte Wert
wird in den Wert bei 1800 Upm umgewandelt.
Die dynamische, radiale Auslenkung wird geprüft. Die
Bildplatte (1) wird mit 600 Upm in gleicher Weise wie
vorausgehend erwähnt, gedreht, und der Optikkopf (5)
wird im vorgegebenen Radius eingestellt. Der Optikkopf
(5) wird derart betätigt, dass er fokussiert und der Rille
der Bildplatte (1) nachgeführt wird, und die Änderung des
Optikkopfes (5) in Radialrichtung je einer Umdrehung der
Bildplatte (1) wird erfasst. Aus den erfassten Daten
wird der Mittelpunkt der Rille der Bildplatte (1) berechnet
und anschliessend wird der Unterschied zwischen dem
Mittelpunkt der Rille und dem Mittelpunkt der Spindel des
Motors erhalten.
Es wird die Prüfung der Beschleunigung der radialen
Auslenkung durchgeführt. Die Bildplatte (1) wird mit
600 Upm in gleicher Weise, wie vorausgehend erläutert,
gedreht, und der Optikkopf (5) wird an dem vorbestimmten
Radius eingestellt. Anschliessend wird, während die
Daten der dynamischen radialen Auslenkung abgefragt werden,
die Beschleunigung der radialen Auslenkung der Bildplatte
(1) in radialer Richtung durch den Optikkopf (5) erfasst.
Dies wird bei 600 Upm durchgeführt und der erfasste Wert
wird in den Wert bei 1800 Upm umgewandelt.
Es wird die Rundheit der Rille der Bildplatte geprüft.
Die Bildplatte (1) wird bei 600 Upm in gleicher Weise wie
vorausgehend beschrieben, gedreht und der Optikkopf (5) wird
an dem vorgegebenen Radius eingestellt. Anschliessend wird,
während die Daten der dynamischen radialen Auslenkung
abgefragt werden und eine Drehung eines Durchschnittskreises
beschrieben wird, die Änderung des Radius des Kreises durch
den Optikkopf (5) erfasst.
Es wird der axiale Neigungswinkel, beispielsweise ein
umfangsseitiger, axialer Neigungswinkel oder ein radialer
axialer Neigungswinkel, geprüft. Zuerst wird der
umfangsseitige, axiale Neigungswinkel geprüft. Die Bildplatte
(1) wird mit 600 Upm in gleicher Weise wie vorausgehend
beschrieben, gedreht, und der Optikkopf wird auf den
vorgegebenen Radius eingestellt. Anschliessend wird, während
die Daten der dynamischen, axialen Auslenkung bei jedem
bestimmten Drehwinkel, beispielsweise bei 256 Punkten je
Drehung in Umfangsrichtung, abgefragt werden, die Bildplatte
(1) einmal gedreht, und der Optikkopf (5) erfasst eine
Änderung eines Winkels, der durch den Mittelpunkt der
Drehung und zwei benachbarte Punkte der Bildplatte (1)
während einer Drehung gebildet wird. Anschliessend wird
der radiale, axiale Neigungswinkel geprüft. Werden die
Abweichung und die dynamische, axiale Auslenkung durch
Abtasten der Oberfläche der Bildplatte auswärts längs der
Spirallinie in Radialrichtung in gleicher Weise wie
vorausgehend beschrieben geprüft, so werden die Daten bei
jedem bestimmten Intervall, beispielsweise 1 mm in
Radialrichtung, und bei jedem bestimmten Drehwinkel,
beispielsweise 22,5°, durch den Optikkopf (5) abgefragt, und
der Optikkopf (5) erfasst eine Änderung eines Winkels, der
durch den Mittelpunkt der Drehung und zwei benachbarte
Punkte gebildet wird, die längs der gleichen
Radialwinkelrichtung fluchtend angeordnet sind.
Bei der vorausgehend beschriebenen Ausführungsform erfolgt
die Prüfung der mechanischen Kenndaten der Bildplatte,
wie beispielsweise der statischen Abweichung, der dynamischen,
axialen Auslenkung, der Beschleunigung der axialen
Auslenkung, der dynamischen, radialen Auslenkung, der
Beschleunigung der radialen Auslenkung, des axialen
Neigungswinkels, der Rundheit und dergleichen nacheinander,
wie vorausgehend beschrieben wurde, und nach Beendigung
der obigen Prüfung werden die erhaltenen Prüfungsergebnisse
der Bildplatte mit vorgegebenen Normwerten verglichen, um
die Bildplatten auszuwählen, die den Normanforderungen
entsprechen. Selbstverständlich können die zu prüfenden
Grössen nach Bedarf ausgewählt werden.
Wie vorausgehend bei der ersten Ausführungsform beschrieben
wurde, werden die Fokussier- und Nachführänderungen des
Optikkopfes, der der Rille der Bildplatte entsprechend
den mechanischen Kenndaten folgt, unmittelbar erfasst,
unter Verwendung des Laserlichtstrahles, ohne die
Stromgrössen der Servosteuergeräte zu verwenden, so dass
die Prüfung der mechanischen Kenndaten der Bildplatte mit
hoher Genauigkeit, hohem Auflösungsvermögen und rascher
Ansprechgeschwindigkeit durchgeführt werden kann, ohne
einen Einfluss auf die Servosteuergeräte des Optikkopfes
(5) auszuüben.
In Fig. 4 ist eine zweite Ausführungsform einer
erfindungsgemässen Prüfvorrichtung für ein Speichermedium
für optische Daten dargestellt.
Bei dieser Ausführungsform hat die Prüfvorrichtung den
gleichen Aufbau wie die erste Ausführungsform gemäss
Fig. 1, ausser dass ein reflektierender Spiegel (8) an
einem beweglichen Tisch (7) montiert ist, anstelle des
Optikkopfes (5) der ersten Ausführungsform, und in
Nachführrichtung (Z) beweglich ist, dass der Fehlerdetektor
(9) der ersten Ausführungsform nicht erforderlich ist
und weggelassen werden kann, wie anschliessend näher
erläutert wird, und dass ein einziger Satz aus einer
Fokussierlinse (13), einem Interferometer (15) und einem
Detektor (17) am beweglichen Tisch (7) befestigt ist.
Somit wird in diesem Fall ein Laserlichtstrahl (A), der
von einem Laserübertrager (11) abgegeben wird, direkt
über das Interferometer (15), die Fokusierlinse (13) und
den reflektierenden Spiegel (8) auf die Oberfläche der
Bildplatte (1) fokussiert, und der von der Bildplatte (1)
reflektierte Laserlichtstrahl (A) wird zum Interferometer
(15) über den reflektierenden Spiegel (8) und die
Fokussierlinse (13) in ähnlicher Weise, wie bei der
vorausgehend beschriebenen ersten Ausführungsform
zurückgeführt. Im Interferometer (15) wird der
zurückgeführte Laserlichtstrahl mit dem Laserlichtstrahl
überlagert, der vom Laserübertrager (11) abgegeben wird,
und anschliessend gelangt der überlagerte Laserlichtstrahl
in den Detektor (17). Der Detektor (17) gibt ein
Änderungssignal an einen Verstärker (21) ab, das die
Fokussieränderung der Rille der Bildplatte (1) darstellt.
Bei der zweiten Ausführungsform ist die Tiefenschärfe des
optischen Systems einschliesslich der Fokussierlinse (13),
des reflektierenden Spiegels (8) und dergleichen ausreichend
tief bemessen, so dass die Fokussieränderung der Rille
der Bildplatte immer ohne Schwierigkeit erfasst werden
kann. Da ferner die Änderung der Rille der Bildplatte (1)
durch unmittelbares Auftreffen des Laserlichtstrahls auf die
Oberfläche der Bildplatte (1) über den reflektierenden
Spiegel (8) erfasst wird, kann die Fokussieränderung der
Rille der Bildplatte (1) genauer erfasst werden, verglichen
mit der ersten Ausführungsform, ohne dass irgendein
Überspringen über die optischen Daten der Bildplatte (1)
als Folge des Versagens einer getreuen Nachführung des
Objektives (53) des Optikkopfes (5) längs der Rille der
Bildplatte (1) verursacht wird. Infolgedessen ist der
Fehlerdetektor (9) der ersten Ausführungsform nicht
erforderlich und kann weggelassen werden. Bei dieser
Ausführungsform kann die Nachführänderung an der Rille der
Bildplatte (1) nicht erfasst werden und diese kann daher
durch Verwendung des Optikkopfes der ersten Ausführungsform
ermittelt werden, wie vorausgehend beschrieben wurde.
Das vom Detektor (17) ausgegebene Änderungssignal und die
von einem Spindelmotor (3) und dem Tisch (7) ausgegebenen
Positionsdatensignale werden in gleicher Weise verarbeitet
wie bei der ersten, vorausgehend beschriebenen Ausführungsform
und somit kann die nähere Beschreibung desselben zur
Vermeidung von Längen der Beschriebung vermieden werden.
Bei der zweiten Ausführungsform kann die Prüfung der
mechanischen Kenndaten der Bildplatte in gleicher Weise
wie bei der ersten Ausführungsform durchgeführt werden.
Wie vorausgehend in Verbindung mit den bevorzugten
Ausführungsformen der Erfindung beschrieben wurde, ist
es mühelos erkennbar, dass, wenn die physikalischen
Kennwerte beispielsweise die mechanischen Kennwerte, wie
statische Abweichung, dynamische, axiale Auslenkung,
Beschleunigung der axialen Auslenkung, dynamische, radiale
Auslenkung, Beschleunigung der radialen Auslenkung,
axialer Neigungswinkel, Rundheit und dergleichen, der
Bildplatte (1) geprüft werden, der Laserlichtstrahl auf
den Optikkopf gerichtet wird, der sich bewegt und der
Rille der Bildplatte, abhängig von den mechanischen
Kenndaten folgt, oder unmittelbar auf die Bildplatte
gerichtet wird, und die mechanischen Kenndaten aus dem
Laserlichtstrahl, der von dem am Optikkopf befestigten
Spiegel oder die Bildplatte reflektiert wird, mit hoher
Genauigkeit, hohem Auslösevermögen und rascher
Ansprechgeschwindigkeit geprüft werden.
Obgleich die Erfindung in ihren bevorzugten Ausführungsformen
unter Bezugnahme auf die anliegenden Zeichnungen beschrieben
wurde, ist es offensichtlich, dass sie nicht auf die
vorausgehend beschriebenen, bevorzugten Ausführungsformen
beschränkt ist, und dass verschiedene Änderungen und
Modifikationen vom Fachmann durchgeführt werden können, und
diese werden im Rahmen der anliegenden Ansprüche von der
Erfindung mitumfasst.
Claims (23)
1. Prüfvorrichtung zur Erfassung eines mechanischen
Kennwertes eines optischen Datenspeichers, der durch
einen ersten Laserstrahl fokussiert wird, um Daten
wiederzugeben, die auf dem optischen Datenspeicher
aufgezeichnet sind, gekennzeichnet
durch:
eine Vorrichtung (13; 13 T, 13 F) zur Fokussierung des ersten Laserstrahls gegen den optischen Datenspeicher;
eine Vorrichtung (12) zur Erzeugung eines zweiten Laserstrahls;
eine Vorrichtung (14), um den zweiten Laserstrahl gegen die Fokussiervorrichtung (13) zu richten;
eine Vorrichtung (17) zum Erfassen des zweiten Laserstrahls, der von der Fokussiervorrichtung reflektiert wird, um die Lage der Fokussiervorrichtung gegenüber dem optischen Datenspeicher (1) zu erfassen; und
eine Vorrichtung (27), die auf die Vorrichtung zum Richten des Laserstrahls anspricht, um den mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers zu erfassen.
eine Vorrichtung (13; 13 T, 13 F) zur Fokussierung des ersten Laserstrahls gegen den optischen Datenspeicher;
eine Vorrichtung (12) zur Erzeugung eines zweiten Laserstrahls;
eine Vorrichtung (14), um den zweiten Laserstrahl gegen die Fokussiervorrichtung (13) zu richten;
eine Vorrichtung (17) zum Erfassen des zweiten Laserstrahls, der von der Fokussiervorrichtung reflektiert wird, um die Lage der Fokussiervorrichtung gegenüber dem optischen Datenspeicher (1) zu erfassen; und
eine Vorrichtung (27), die auf die Vorrichtung zum Richten des Laserstrahls anspricht, um den mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers zu erfassen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass die Fokussiervorrichtung
umfasst:
eine Optikkopfanordnung (5) zum Abtasten einer Rille des optischen Datenspeichers, die sich entsprechend dem mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers bewegen kann; und
eine Vorrichtung (58 T, 58 F) zur Reflexion des zweiten Laserstrahls, die an der Optikkopfanordnung befestigt ist.
eine Optikkopfanordnung (5) zum Abtasten einer Rille des optischen Datenspeichers, die sich entsprechend dem mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers bewegen kann; und
eine Vorrichtung (58 T, 58 F) zur Reflexion des zweiten Laserstrahls, die an der Optikkopfanordnung befestigt ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass der mechanische
Kennwert aus der Gruppe gewählt ist, die eine dynamische,
radiale Auslenkung, eine Beschleunigung der radialen
Auslenkung und einen axialen Neigungswinkel umfasst.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass der mechanische
Kennwert aus der Gruppe gewählt ist, die eine statische
Abweichung, eine dynamische, axiale Auslenkung, eine
Beschleunigung einer axialen Auslenkung und eine
Rundheit umfasst.
5. Prüfvorrichtung zur Erfassung eines mechanischen
Kennwertes eines optischen Datenspeichers,
gekennzeichnet durch eine Vorrichtung
(11) zur Erzeugung eines Laserstrahls;
eine Vorrichtung (12, 14, 13 T, 13 F), um den Laserstrahl gegen den optischen Datenspeicher (1) zu richten;
eine Vorrichtung (17 T, 17 F) zur Erfassung des vom optischen Datenspeicher reflektierten Laserstrahls, um die Lage des optischen Datenspeichers zu erfassen; und
eine Vorrichtung (27), die auf die Richtvorrichtung für den Laserstrahl anspricht, um den mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers zu erfassen.
eine Vorrichtung (12, 14, 13 T, 13 F), um den Laserstrahl gegen den optischen Datenspeicher (1) zu richten;
eine Vorrichtung (17 T, 17 F) zur Erfassung des vom optischen Datenspeicher reflektierten Laserstrahls, um die Lage des optischen Datenspeichers zu erfassen; und
eine Vorrichtung (27), die auf die Richtvorrichtung für den Laserstrahl anspricht, um den mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers zu erfassen.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, dass die
Richtvorrichtung umfasst:
eine Reflektoranordnung (59) zum Abtasten einer Rille des optischen Datenspeichers, zum Reflektieren des Laserstrahls, der von der Vorrichtung zum Erzeugen des Laserstrahls erzeugt wurde, auf den optischen Datenspeicher (1), und ferner zum Reflektieren des Laserstrahls, der vom optischen Datenspeicher reflektiert wurde.
eine Reflektoranordnung (59) zum Abtasten einer Rille des optischen Datenspeichers, zum Reflektieren des Laserstrahls, der von der Vorrichtung zum Erzeugen des Laserstrahls erzeugt wurde, auf den optischen Datenspeicher (1), und ferner zum Reflektieren des Laserstrahls, der vom optischen Datenspeicher reflektiert wurde.
7. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, dass der mechanische
Kennwert aus der Gruppe gewählt ist, die eine dynamische
radiale Auslenkung, eine Beschleunigung der radialen
Auslenkung und einen axialen Neigungswinkel umfasst.
8. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, dass der mechanische
Kennwert aus der Gruppe gewählt ist, die eine
statische Abweichung, eine dynamische axiale Auslenkung,
eine Beschleunigung einer axialen Auslenkung und eine
Rundheit umfasst.
9. Prüfvorrichtung für einen optischen Datenspeicher, der
optisch und berührungsfrei arbeitet,
gekennzeichnet durch:
eine Vorrichtung (11) zur Erzeugung eines Laserstrahls;
eine optische Vorrichtung (5) zur Abtastung einer Rille des optischen Datenspeichers und zum Reflektieren des Laserstrahls; und
eine Vorrichtung (27) zur Erfassung des mechanischen Kennwertes des optischen Datenspeichers aus dem von der optischen Vorrichtung reflektierten Laserstrahls.
eine Vorrichtung (11) zur Erzeugung eines Laserstrahls;
eine optische Vorrichtung (5) zur Abtastung einer Rille des optischen Datenspeichers und zum Reflektieren des Laserstrahls; und
eine Vorrichtung (27) zur Erfassung des mechanischen Kennwertes des optischen Datenspeichers aus dem von der optischen Vorrichtung reflektierten Laserstrahls.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, dass die optische
Vorrichtung umfasst:
eine Optikkopfanordnung (5) zum Abtasten der Rille des optischen Datenspeichers, die sich entsprechend dem mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers (1) bewegen kann; und
eine Vorrichtung (58 F, 58 T) zum Reflektieren des Laserstrahls, die an der Optikkopfanordnung befestigt ist.
eine Optikkopfanordnung (5) zum Abtasten der Rille des optischen Datenspeichers, die sich entsprechend dem mechanischen Kennwert des optischen Datenspeichers (1) bewegen kann; und
eine Vorrichtung (58 F, 58 T) zum Reflektieren des Laserstrahls, die an der Optikkopfanordnung befestigt ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch
gekennzeichnet, dass der Laserstrahl
durch einen Strahlenteiler (12) in einen ersten und
zweiten Laserstrahl geteilt wird, die jeweils in
Abtast- und Fokussierrichtung verlaufen, und dass
die Vorrichtung zum Reflektieren des Laserstrahls einen
ersten Reflektor (58 F) enthält, der in einer ersten
Ebene senkrecht zur Abtastrichtung liegt, um den
ersten Laserstrahl zu reflektieren, der aus der
Abtastrichtung auftrifft, und einen zweiten Reflektor
(58 T), der in einer zweiten Ebene senkrecht zur
Fokussierrichtung angeordnet ist, um den zweiten
Laserstrahl zu reflektieren, der aus der Fokussierrichtung
einfällt.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, dass die Optikkopfanordnung
(5) einen Halteblock (56) enthält, um ein Objektiv
(53) zu tragen, und dass der erste und zweite Reflektor
(58 F, 58 T) am Halteblock befestigt sind.
13. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, dass die
Erfassungsvorrichtung ein erstes und zweites
Interferometer (15 T, 15 F) zur Überlagerung des ersten
und zweiten Laserstrahls mit dem ersten und zweiten
Laserstrahl aufweist, der jeweils vom ersten und
zweiten Reflektor reflektiert wurde, und einen ersten
und zweiten Detektor (17 T, 17 F), um die Änderungen
der Abtast- und Fokussierrichtung des optischen
Datenspeichers aus den überlagerten Laserstrahlen zu
erfassen, die jeweils vom ersten und zweiten
Interferometer zugeführt werden.
14. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, dass die optische
Vorrichtung eine Reflektorvorrichtung (59) umfasst,
um den Laserstrahl, der durch die Laserstrahlerzeugervorrichtung
(11) erzeugt wurde, auf den optischen Datenspeicher (1)
zu reflektieren, und um den Laserstrahl zu reflektieren,
der durch den optischen Datenspeicher reflektiert wurde.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch
gekennzeichnet, dass die
Detektorvorrichtung ferner ein Interferometer (15)
aufweist, um den von der Laserstrahlerzeugervorrichtung
(11) erzeugten Laserstrahl mit dem vom optischen
Datenspeicher (1) reflektierten Laserstrahl zu
überlagern, und einen Detektor (17) zum Erfassen der
Änderung des optischen Datenspeichers aus einem vom
Interferometer zugeführten überlagerten Laserstrahl.
16. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, dass der mechanische
Kennwert aus einer Gruppe gewählt ist, die eine
dynamische radiale Auslenkung, eine Beschleunigung
der radialen Auslenkung und eine Rundheit umfasst.
17. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, dass der mechanische
Kennwert aus der Gruppe gewählt ist, die eine
statische Abweichung, eine dynamische, axiale Auslenkung,
eine Beschleunigung einer axialen Auslenkung und einen
axialen Neigungswinkel umfasst.
18. Prüfverfahren zur Erfassung eines mechanischen
Kennwertes eines optischen Datenspeichers,
gekennzeichnet durch folgende Schritte:
Erzeugen eines Laserstrahls;
Richten des Laserstrahls gegen eine optische Vorrichtung zum Abtasten einer Rille des optischen Datenspeichers, und
Erfassen des mechanischen Kennwertes des optischen Datenspeichers mittels einer Detektorvorrichtung entsprechend dem von der optischen Vorrichtung reflektierten Laserstrahl.
Erzeugen eines Laserstrahls;
Richten des Laserstrahls gegen eine optische Vorrichtung zum Abtasten einer Rille des optischen Datenspeichers, und
Erfassen des mechanischen Kennwertes des optischen Datenspeichers mittels einer Detektorvorrichtung entsprechend dem von der optischen Vorrichtung reflektierten Laserstrahl.
19. Verfahren nach Anspruch 18, dadurch
gekennzeichnet, dass die optische
Vorrichtung sich entsprechend dem mechanischen
Kennwert des optischen Datenspeichers bewegt und den
Laserlichtstrahl gegen die Detektorvorrichtung
richtet.
20. Verfahren nach Anspruch 19, gekennzeichnet
durch Teilen des Laserstrahles (A) in einen ersten
und zweiten Laserstrahl, der jeweils in Abtast- und
Fokussierrichtung liegt, mittels eines Strahlenteilers
(12, 14),
Richten des ersten und zweiten Laserstrahls auf einen ersten und zweiten Reflektor (58 T, 58 F), die an der optischen Vorrichtung befestigt sind und in einer ersten und zweiten Ebene liegen, jeweils senkrecht zur Abtast- und Fokussiervorrichtung verläuft; und
Reflektieren des ersten und zweiten Laserstrahls auf einen ersten und zweiten Detektor (17 T, 17 F), um jeweils Abtast- und Fokussieränderungen des optischen Datenspeichers (1) zu erfassen.
Richten des ersten und zweiten Laserstrahls auf einen ersten und zweiten Reflektor (58 T, 58 F), die an der optischen Vorrichtung befestigt sind und in einer ersten und zweiten Ebene liegen, jeweils senkrecht zur Abtast- und Fokussiervorrichtung verläuft; und
Reflektieren des ersten und zweiten Laserstrahls auf einen ersten und zweiten Detektor (17 T, 17 F), um jeweils Abtast- und Fokussieränderungen des optischen Datenspeichers (1) zu erfassen.
21. Verfahren nach Anspruch 18, dadurch
gekennzeichnet, dass die optische
Vorrichtung den vom Lasergenerator (11) erzeugten
Laserstrahl gegen den optischen Datenspeicher (1)
richtet und ferner den vom optischen Datenspeicher
(1) reflektierten Laserstrahl zur Detektorvorrichtung
(17) reflektiert.
22. Verfahren nach Anspruch 18, dadurch
gekennzeichnet, dass der mechanische
Kennwert aus der Gruppe gewählt ist, die eine dynamische
Auslenkung, eine Beschleunigung einer radialen Auslenkung
und eine Rundheit umfasst.
23. Verfahren nach Anspruch 18, dadurch
gekennzeichnet, dass der mechanische
Kennwert aus der Gruppe gewählt ist, die eine statische
Abweichung, eine dynamische axiale Auslenkung, eine
Beschleunigung einer axialen Auslenkung und einen
axialen Neigungswinkel umfasst.
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