JPS6111940A - 光デイスクの面振れおよび偏芯測定装置 - Google Patents
光デイスクの面振れおよび偏芯測定装置Info
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- JPS6111940A JPS6111940A JP13131584A JP13131584A JPS6111940A JP S6111940 A JPS6111940 A JP S6111940A JP 13131584 A JP13131584 A JP 13131584A JP 13131584 A JP13131584 A JP 13131584A JP S6111940 A JPS6111940 A JP S6111940A
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- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はビデオディスク等に使用される光ディスクの面
振れ量および偏芯量を測定する装置に関するものである
。
振れ量および偏芯量を測定する装置に関するものである
。
従来例の構成とその問題点
光ディスクにおいては、面振れや偏芯が大きいと光ディ
・スフ装置の光学ピックアップのサーボ追従性が悪くな
り、記録再生ができなくなる。このため、光ディ゛スク
の面振れ量や偏芯量を検萱する必要がある。
・スフ装置の光学ピックアップのサーボ追従性が悪くな
り、記録再生ができなくなる。このため、光ディ゛スク
の面振れ量や偏芯量を検萱する必要がある。
以下に従来の光ディスクの面振れおよび偏芯測定装置に
ついて説明する。
ついて説明する。
第１図は従来の光ディスクの面振れおよび偏芯測定装置
の一例の概略構成図を示すものであυ、１は光ディスク
で情報トラック１ａが形成されている。２はディス・ク
モータで１光デイスク１を回転させる。・３は光学ピッ
クアップであり、レーザー光源やレンズ等の光学系を塔
載した（図示せず）可動部４及びボイスコイルモータ等
の既知の駆動部６よりなり、可動部４は矢印゛λおよび
ｂの面振れ方向および偏芯方向に移動可能になっている
。また、可動部４に味面振れ検出板６および偏芯検出板
７が固定されている。８は光学ピックアップ３の可動部
４の面振れ方向の変位量５を検出するうず電流変位計等
からなる面振れ用変位計で、測定プローブ８ａと測定回
路８ｂよりなる。９は光学ピックアップ３の可動部４の
偏芯方向の変位量を検出する偏芯用変位計で、面振れ用
変位計７と同様に測定プローブ９ａと測定回路９ｂより
なる。なお第１図のＣは光学ピックアップ３から出射し
たレーザー光の径路を示している。
の一例の概略構成図を示すものであυ、１は光ディスク
で情報トラック１ａが形成されている。２はディス・ク
モータで１光デイスク１を回転させる。・３は光学ピッ
クアップであり、レーザー光源やレンズ等の光学系を塔
載した（図示せず）可動部４及びボイスコイルモータ等
の既知の駆動部６よりなり、可動部４は矢印゛λおよび
ｂの面振れ方向および偏芯方向に移動可能になっている
。また、可動部４に味面振れ検出板６および偏芯検出板
７が固定されている。８は光学ピックアップ３の可動部
４の面振れ方向の変位量５を検出するうず電流変位計等
からなる面振れ用変位計で、測定プローブ８ａと測定回
路８ｂよりなる。９は光学ピックアップ３の可動部４の
偏芯方向の変位量を検出する偏芯用変位計で、面振れ用
変位計７と同様に測定プローブ９ａと測定回路９ｂより
なる。なお第１図のＣは光学ピックアップ３から出射し
たレーザー光の径路を示している。
以上のような構成された光ディスクの面振れおよび偏芯
測定装置について、以下その動作について説明する。
測定装置について、以下その動作について説明する。
ディスクモータ２に装着された光ディスク１の情報トラ
ック１ａは面振れおよび偏芯をともなって回転している
。この情報トラック１ａにレーザー光を追従させるため
、既知のフォーカス、トラッキング制御方式により、光
学ピックアップ３の駆動部６に制御電圧を印加し、可動
部４を面振れ方向および偏芯方向に変位させている。す
なわちフォーカス、トラッキング制御を行なうことによ
り、光学ピックアップ３の可動部４の動きは光ディスク
１の面振れ量および偏芯量と同一になる。
ック１ａは面振れおよび偏芯をともなって回転している
。この情報トラック１ａにレーザー光を追従させるため
、既知のフォーカス、トラッキング制御方式により、光
学ピックアップ３の駆動部６に制御電圧を印加し、可動
部４を面振れ方向および偏芯方向に変位させている。す
なわちフォーカス、トラッキング制御を行なうことによ
り、光学ピックアップ３の可動部４の動きは光ディスク
１の面振れ量および偏芯量と同一になる。
可動部４には面振れ検出板６１よび偏芯検出板７が固定
されており、これらの変位を面振れ用変位計８、偏芯用
変位計９で測定することにより、光ディスク１の面振れ
および偏芯を測定することができる。
されており、これらの変位を面振れ用変位計８、偏芯用
変位計９で測定することにより、光ディスク１の面振れ
および偏芯を測定することができる。
しかしながら上記のような構成では、測定用の検出板が
必要となシ、光学ピックアップの形状が複雑となるとと
もに余分な負荷が加わシ、不必要な機械共振が発生し、
光学ピックアップの制御特性が劣化して正確な測定が困
難であった。また、測定にうず電流変位計等の変位針を
２つ必要とするため、高価になるとともに、変位針の測
定プローブが大きいため、光学ピックアップの取付方法
がむつかしく、ビデオディスク等の光デイスク装置に使
用されている光学ピックアップを大幅に改良する必要が
あった。
必要となシ、光学ピックアップの形状が複雑となるとと
もに余分な負荷が加わシ、不必要な機械共振が発生し、
光学ピックアップの制御特性が劣化して正確な測定が困
難であった。また、測定にうず電流変位計等の変位針を
２つ必要とするため、高価になるとともに、変位針の測
定プローブが大きいため、光学ピックアップの取付方法
がむつかしく、ビデオディスク等の光デイスク装置に使
用されている光学ピックアップを大幅に改良する必要が
あった。
発明の目的
本発明は上記従来の欠点を解消するもので、簡単な構成
で正確に光ディスクの面振れおよび偏芯を測定できる光
ディスクの面振れおよび偏芯測定装置を提供することを
目的とする。
で正確に光ディスクの面振れおよび偏芯を測定できる光
ディスクの面振れおよび偏芯測定装置を提供することを
目的とする。
発明の構成
本発明は光ディスクの面振れおよび偏芯に追従している
光学ピックアップ可動部の面振れ方向および偏芯方向の
各々のエツジ部に、光源から発光した平行な光ビームを
第１の光ファイバーを通して照射し、その透過光を第２
．第３の光ファイバーを通して第１．第２の光検出器に
導く構成にした光ディスクの面振れおよび偏芯測定装置
であシ、光ディスクの面振れ量および帰芯量を測定でき
るものである。
光学ピックアップ可動部の面振れ方向および偏芯方向の
各々のエツジ部に、光源から発光した平行な光ビームを
第１の光ファイバーを通して照射し、その透過光を第２
．第３の光ファイバーを通して第１．第２の光検出器に
導く構成にした光ディスクの面振れおよび偏芯測定装置
であシ、光ディスクの面振れ量および帰芯量を測定でき
るものである。
実施例の説明
第２図は本発明の第１の実施例における光ディスクの面
振れおよび偏芯測定装置の概略図を示すものである。第
３図は第２図におけるＸ−Ｙ断面図である。なお第１図
と同一の番号は同一部材を示してお虱説明は省略する。
振れおよび偏芯測定装置の概略図を示すものである。第
３図は第２図におけるＸ−Ｙ断面図である。なお第１図
と同一の番号は同一部材を示してお虱説明は省略する。
第２図、第３図において、１ｏは光ビームを発光する光
源で半導体レーザーよりなる。１１は光ビームを平行光
にするコリメータレンズ、１２は光ビームが光学ピック
アップ３の可動部４の面振れ方向のエツジ部および偏芯
方向のエツジ部を横切るように導く、コリメータレンズ
側が１本で、光学ピックアップ可動部側が面振れ用ファ
イバー１２ａと偏芯用ファイバー１２ｂとの２本に分枝
した第１の光ファイバーである。１３は第２の光ファイ
バー、１４は面振れ測定用の第１の光検出器であり、第
２の光ファイバー１３により、第１の光ファイバー１２
の。面振れ用ファイバー１２ａからの光ビームを第イ゛
の光検出器１４に導く。プは第１の光検出器１・３の出
力を増幅して面振れ量を読み出す第１ののアンプ回路で
ある。１６は第３の光ファイバー、１７は側窓測定用の
第２の光検出器、１８は偏芯量を読み出す第、２のアン
プ′回路であシ、第２の光ファイバー１３、第１の光検
出器１４、第１の光検出器１５と同様な構成となってい
る。
源で半導体レーザーよりなる。１１は光ビームを平行光
にするコリメータレンズ、１２は光ビームが光学ピック
アップ３の可動部４の面振れ方向のエツジ部および偏芯
方向のエツジ部を横切るように導く、コリメータレンズ
側が１本で、光学ピックアップ可動部側が面振れ用ファ
イバー１２ａと偏芯用ファイバー１２ｂとの２本に分枝
した第１の光ファイバーである。１３は第２の光ファイ
バー、１４は面振れ測定用の第１の光検出器であり、第
２の光ファイバー１３により、第１の光ファイバー１２
の。面振れ用ファイバー１２ａからの光ビームを第イ゛
の光検出器１４に導く。プは第１の光検出器１・３の出
力を増幅して面振れ量を読み出す第１ののアンプ回路で
ある。１６は第３の光ファイバー、１７は側窓測定用の
第２の光検出器、１８は偏芯量を読み出す第、２のアン
プ′回路であシ、第２の光ファイバー１３、第１の光検
出器１４、第１の光検出器１５と同様な構成となってい
る。
以上のように構成されたこの実施例の光ディスクの面振
れおよび偏芯測定装置について、第２図。
れおよび偏芯測定装置について、第２図。
第３図を用いて以下その動作を説明する。
光源１０から発光した光ビームはコリメータレンズ１１
により平行光となって第１の光ファイバー１２に入射す
る。第１の光ファイバー１２にて光ビームは２つにわか
れ、一方は面振れ用ファイバー１２ ａ Ｊ： り出射
して、光学ピックアップ３の可動部４の面振れ方向のエ
ツジ部を横切シ、他方は偏芯用ファイバー１２ｂより出
射して、光学ピックアップ３の可動部４の偏芯方向のエ
ツジ部を横切る。第１の光ファイバマの面振れ用ファイ
バー１２ ａおよび偏芯用ファイバー１２ｂより出射し
た光ビームは、光学ピックアップ３の可動部に一部さえ
ぎられ、透過光だけが第２の光ファイバー１３、第３の
光ファイバー１６に゛入射する。第２の光ファイバー１
３から出射した光ビームは第２の光検出器１４に入射し
て、光強度に比例した電圧に変換され、第１のアンプ回
路１６で増幅されて出力される。前述したように光学ピ
ックアップ３の可動部４は光ディスク１の面振れｐよび
偏芯に追従して動いているため、芦２の光ファイバー１
３に入射する光ビームの光量は可動部４の面振れ方向の
変位量に対応して変動するだめ、第１のアンプ回路１６
の出力にはディスク１の面振れ量に対応した出力が得ら
れ、面振れの測定が可能となる。偏芯の測定に関しても
面振れの測定と同様な原理にて、第３の光ファイバーＩ
Ｊ、第２の光検出器１７、第２のアンプ回路１Ｂの構成
にて、偏芯の測定、が可能となる。
により平行光となって第１の光ファイバー１２に入射す
る。第１の光ファイバー１２にて光ビームは２つにわか
れ、一方は面振れ用ファイバー１２ ａ Ｊ： り出射
して、光学ピックアップ３の可動部４の面振れ方向のエ
ツジ部を横切シ、他方は偏芯用ファイバー１２ｂより出
射して、光学ピックアップ３の可動部４の偏芯方向のエ
ツジ部を横切る。第１の光ファイバマの面振れ用ファイ
バー１２ ａおよび偏芯用ファイバー１２ｂより出射し
た光ビームは、光学ピックアップ３の可動部に一部さえ
ぎられ、透過光だけが第２の光ファイバー１３、第３の
光ファイバー１６に゛入射する。第２の光ファイバー１
３から出射した光ビームは第２の光検出器１４に入射し
て、光強度に比例した電圧に変換され、第１のアンプ回
路１６で増幅されて出力される。前述したように光学ピ
ックアップ３の可動部４は光ディスク１の面振れｐよび
偏芯に追従して動いているため、芦２の光ファイバー１
３に入射する光ビームの光量は可動部４の面振れ方向の
変位量に対応して変動するだめ、第１のアンプ回路１６
の出力にはディスク１の面振れ量に対応した出力が得ら
れ、面振れの測定が可能となる。偏芯の測定に関しても
面振れの測定と同様な原理にて、第３の光ファイバーＩ
Ｊ、第２の光検出器１７、第２のアンプ回路１Ｂの構成
にて、偏芯の測定、が可能となる。
以上のようにこの実施例によれば、光デ°イスクの面振
れおよび偏芯に追従している光学ピックアップの可動部
の面振れ方向のエツジ部と偏芯方向のエツジ部に、光源
から発光した平行な光ビームを、光源側が１本でピック
アップ側が２本に分校した第１の光ファイバーを通して
照射し、その透過光を第２．第３の光ファイバーを通し
て、第１゜第２の光検出器に導くように設けることによ
り、光デイスク装置等の光学、ピックアップを改良する
ことなく使用できるため従来より安価で、正確な測定が
できるとともに、測定部が従来より小型かつ光ファイバ
ーの採用により自由な装置が可能であシ、取付が容易で
ある。また測定系の光源が１つで光ディスクの面振れお
よび偏芯を測定することができるため、測定系を従来に
比べて安価にできる。
れおよび偏芯に追従している光学ピックアップの可動部
の面振れ方向のエツジ部と偏芯方向のエツジ部に、光源
から発光した平行な光ビームを、光源側が１本でピック
アップ側が２本に分校した第１の光ファイバーを通して
照射し、その透過光を第２．第３の光ファイバーを通し
て、第１゜第２の光検出器に導くように設けることによ
り、光デイスク装置等の光学、ピックアップを改良する
ことなく使用できるため従来より安価で、正確な測定が
できるとともに、測定部が従来より小型かつ光ファイバ
ーの採用により自由な装置が可能であシ、取付が容易で
ある。また測定系の光源が１つで光ディスクの面振れお
よび偏芯を測定することができるため、測定系を従来に
比べて安価にできる。
以下本発明の第２の実施例について、図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
第４図は本発明の第２の実施例を示す光ディスクの面振
れおよび偏芯測定装置の第１の光ファイバーの断面図で
ある。
れおよび偏芯測定装置の第１の光ファイバーの断面図で
ある。
同図において、第１の光ファイバー１２は微細な光ファ
イバー１２ｃの束より構成され、入口と出口側との光フ
ァイバー１２ｃの配列がランダムに配置されている。ま
た、面振れファイバー１２ａおよび偏芯ファイバー１２
ｂの出口の断面形状は矩形になっている。
イバー１２ｃの束より構成され、入口と出口側との光フ
ァイバー１２ｃの配列がランダムに配置されている。ま
た、面振れファイバー１２ａおよび偏芯ファイバー１２
ｂの出口の断面形状は矩形になっている。
上記のように構成された第１の光ファイバー１２の作用
について説明する。
について説明する。
一般に光源１０から発光した光ビームは第５図に示すよ
うなガウス分布番しており、光強度が均一でない。この
光ビームを第１の光ファイバー１２に入射すると、出口
側の面振れ７フイバー１２ａおよび偏芯ファイバー１２
ｂの出射部のレーザー光の光強度は、微細な光７フイパ
ー１２ａがランダムに配列されているため、平均化され
た光強度となシ、光ファイバーの位置にかかわらず図６
のような均一な分布を得ることができる。さらに第１の
光ファイバーの出口の断面形状を矩形にすることにより
、光学ピックアップ３の可動部４の動きに対１て、光ビ
ー１の透過光量は比例することになる。すなわち、第７
図に示すよう（、ガウス分布で円形状の光ビームの可動
部４を透過した光強度は光学ピックアップ３の可動部４
の変位に対して、ＡのようなＳ字曲線となシ回路処理や
コンピユータ−処理による補正が必要であったが２本実
施例の可動部４を透過した光ビームの光強度は、Ｂのよ
うな直線となシ、可動部４の変位量と光ビームの光強度
とが比例し、従来のような補正の必要がない。
うなガウス分布番しており、光強度が均一でない。この
光ビームを第１の光ファイバー１２に入射すると、出口
側の面振れ７フイバー１２ａおよび偏芯ファイバー１２
ｂの出射部のレーザー光の光強度は、微細な光７フイパ
ー１２ａがランダムに配列されているため、平均化され
た光強度となシ、光ファイバーの位置にかかわらず図６
のような均一な分布を得ることができる。さらに第１の
光ファイバーの出口の断面形状を矩形にすることにより
、光学ピックアップ３の可動部４の動きに対１て、光ビ
ー１の透過光量は比例することになる。すなわち、第７
図に示すよう（、ガウス分布で円形状の光ビームの可動
部４を透過した光強度は光学ピックアップ３の可動部４
の変位に対して、ＡのようなＳ字曲線となシ回路処理や
コンピユータ−処理による補正が必要であったが２本実
施例の可動部４を透過した光ビームの光強度は、Ｂのよ
うな直線となシ、可動部４の変位量と光ビームの光強度
とが比例し、従来のような補正の必要がない。
以上のように、この実施例によれば、第１の光ファイバ
ーを微細な光ファイバーの束より形成し、各々の微細な
光ファイバーはコリメータレンズ側と光学ピックアップ
側とでランダムな配列になっているとともに、光学ピッ
クアップ側の断面形状を矩形にすることにょシ、光学ピ
ックアップの可動部の動きと第１および第２の光検出器
に入射する光ビームの光強度とを比例関係にすることが
でき、従来のような回路処理やコンピューターによる近
似曲線補正の必要がなくなり０、簡単な構成で正確な光
ディスクの面振れおよび偏芯の測定が可能である。
ーを微細な光ファイバーの束より形成し、各々の微細な
光ファイバーはコリメータレンズ側と光学ピックアップ
側とでランダムな配列になっているとともに、光学ピッ
クアップ側の断面形状を矩形にすることにょシ、光学ピ
ックアップの可動部の動きと第１および第２の光検出器
に入射する光ビームの光強度とを比例関係にすることが
でき、従来のような回路処理やコンピューターによる近
似曲線補正の必要がなくなり０、簡単な構成で正確な光
ディスクの面振れおよび偏芯の測定が可能である。
発明の効果
本発明の光ディスクの面振れおよび偏芯測定装置は、光
ビームを発光する光源と、光ビームを平行光にするコリ
メータレンズと、平行な光ビームが光デ、イスクの面振
れおよび偏芯に追従している光学ピックアップ可動部の
面振れ方向のエツジ部および偏芯方向のエツジ部を横切
るように導く、コリメータレンズ側が１本で光学ピック
アップ可動部側が２本に分枝した第１の光ファイバーと
、第１の光ファイバーから出射した２つの光ビームのう
ち、一方を面振れ測定用の第１の光検出器に導く第２の
光ファイバーと、他方を側窓測定用の第２の光検出器に
導く第３の光ファイバーより構成することにより、光デ
イスク装置等の光学ピックアップをそのまま使用するこ
とができるので、従来のような光学ピックアップを改良
したり新しく作る必要がなく、また光学ピックアップの
不必要な機械共振もなく、廉価で正確な光ディスクの面
振れおよび偏芯の測定ができる。また、光源が１つで光
ディスクの而振れおよび偏芯を測定することができるた
め、従来のうず電流変位計等の変位計を２つ必要とする
測定装置にくらべ、測定部を格段に廉価にすることがで
きる。さらに、測定部が光ファイバーの採用にょシ従来
にくらべ小型かつ自由な配置が可能となシ、測定部の取
付が容易となる。
ビームを発光する光源と、光ビームを平行光にするコリ
メータレンズと、平行な光ビームが光デ、イスクの面振
れおよび偏芯に追従している光学ピックアップ可動部の
面振れ方向のエツジ部および偏芯方向のエツジ部を横切
るように導く、コリメータレンズ側が１本で光学ピック
アップ可動部側が２本に分枝した第１の光ファイバーと
、第１の光ファイバーから出射した２つの光ビームのう
ち、一方を面振れ測定用の第１の光検出器に導く第２の
光ファイバーと、他方を側窓測定用の第２の光検出器に
導く第３の光ファイバーより構成することにより、光デ
イスク装置等の光学ピックアップをそのまま使用するこ
とができるので、従来のような光学ピックアップを改良
したり新しく作る必要がなく、また光学ピックアップの
不必要な機械共振もなく、廉価で正確な光ディスクの面
振れおよび偏芯の測定ができる。また、光源が１つで光
ディスクの而振れおよび偏芯を測定することができるた
め、従来のうず電流変位計等の変位計を２つ必要とする
測定装置にくらべ、測定部を格段に廉価にすることがで
きる。さらに、測定部が光ファイバーの採用にょシ従来
にくらべ小型かつ自由な配置が可能となシ、測定部の取
付が容易となる。
なお、第１の光ファイバーは微細な光ファイバーの束よ
り形成し、各々の微細な光ファイバーをコリメータレン
ズ側と光学ピックアップ側とでランダムな配列にすると
ともに、光学ピックアップ側の断面形状を矩形に構成す
れば、光学ピックアップの可動部の動きと測定部の出力
電圧とを比例関係にすることができ、従来のような回路
処理やコンピューターによる近似曲線補正め必要がなく
、簡単な構成でより正確な光ディスクの面振れおよび偏
芯の測定ができ、その実用的効果は大きい。
り形成し、各々の微細な光ファイバーをコリメータレン
ズ側と光学ピックアップ側とでランダムな配列にすると
ともに、光学ピックアップ側の断面形状を矩形に構成す
れば、光学ピックアップの可動部の動きと測定部の出力
電圧とを比例関係にすることができ、従来のような回路
処理やコンピューターによる近似曲線補正め必要がなく
、簡単な構成でより正確な光ディスクの面振れおよび偏
芯の測定ができ、その実用的効果は大きい。
第１図は従来の光ディスクの面振れおよび偏芯測定装置
の概略構成図、第２図は本発明の第１の実施例における
光ディスクの面振、れおよび偏芯測定装置の概略構成図
、第３図は第２図におけるＸ−Ｙ断面図、第４図は本発
明の第２の実施例における光ディスクの面振れおよび偏
芯測定装置の第１の光ファイバーの断面図、第６図は光
源から発光した光ビームの光強度分布図、第６図は本発
明の第２の実施例における光ディスクの面振れおよび偏
芯測定装置の第１の光フアイバー出口の光ビームの光強
度分布図、第７図は光学ピックアップ可動部の変位量と
光ビームの透過光強度との関係を示す図である。 １・・・・・パ光ディスク、２・・・・・・ディスクモ
ータ、３・・−・・・光学ピックアップ、４・・・・・
・光学ピックアップ可動部、６・・・・・・光学ピック
アップ駆動部、１０・・・・・・光源、１１・・・・・
・コリメータレンズ、１２・・・・・・第１の光ファイ
バー、１３・・・・・・第２の光ファイバー、１４・・
・・・・第１の光検出器、１５・・・・・・第１のアン
プ回路、１６・・・・・・第３の光ファイバー、１７・
・・・・・第２の光検出器、１８・・・・・・第２のア
ンプ回路０代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほ
か１名第１図 第２図 第３図 第４図 ＩどＣ 第５図 梗 鉛 城 州 閣 釈 第７図 受 劃 転 駅 Ｉ。 １゜ 一−−Ｖ／ｌ＋ 尤２？イノζ−７）蓋
の概略構成図、第２図は本発明の第１の実施例における
光ディスクの面振、れおよび偏芯測定装置の概略構成図
、第３図は第２図におけるＸ−Ｙ断面図、第４図は本発
明の第２の実施例における光ディスクの面振れおよび偏
芯測定装置の第１の光ファイバーの断面図、第６図は光
源から発光した光ビームの光強度分布図、第６図は本発
明の第２の実施例における光ディスクの面振れおよび偏
芯測定装置の第１の光フアイバー出口の光ビームの光強
度分布図、第７図は光学ピックアップ可動部の変位量と
光ビームの透過光強度との関係を示す図である。 １・・・・・パ光ディスク、２・・・・・・ディスクモ
ータ、３・・−・・・光学ピックアップ、４・・・・・
・光学ピックアップ可動部、６・・・・・・光学ピック
アップ駆動部、１０・・・・・・光源、１１・・・・・
・コリメータレンズ、１２・・・・・・第１の光ファイ
バー、１３・・・・・・第２の光ファイバー、１４・・
・・・・第１の光検出器、１５・・・・・・第１のアン
プ回路、１６・・・・・・第３の光ファイバー、１７・
・・・・・第２の光検出器、１８・・・・・・第２のア
ンプ回路０代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほ
か１名第１図 第２図 第３図 第４図 ＩどＣ 第５図 梗 鉛 城 州 閣 釈 第７図 受 劃 転 駅 Ｉ。 １゜ 一−−Ｖ／ｌ＋ 尤２？イノζ−７）蓋
Claims (2)
- （１）光ビームを発光する光源と、光ビームを平行光に
するコリメータレンズと、平行な光ビームが光ディスク
の面振れおよび偏芯に追従している光学ピックアップ可
動部の面振れ方向のエッジ部および偏芯方向のエッジ部
を横切るように導く、コリメータレンズ側が１本で光学
ピックアップ可動部側が２本に分枝した第１の光ファイ
バーと、第１の光ファイバーから出射した２つの光ビー
ムのうち、一方を面振れ測定用の第１の光検出器に導く
第２の光ファイバーと、他方を側窓測定用の第２の光検
出器に導く第３の光ファイバーより構成されたことを特
徴とする光ディスクの面振れおよび偏芯測定装置。 - （２）第１の光ファイバーは微細な光ファイバーの束よ
り形成され、各々の微細な光ファイバーはコリメータレ
ンズ側と光学ピックアップ側とでランダムな配列になっ
ているとともに、光学ピックアップ側の断面形状が矩形
になっていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記
載の光ディスクの面振れおよび偏芯測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13131584A JPS6111940A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 光デイスクの面振れおよび偏芯測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13131584A JPS6111940A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 光デイスクの面振れおよび偏芯測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6111940A true JPS6111940A (ja) | 1986-01-20 |
Family
ID=15055078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13131584A Pending JPS6111940A (ja) | 1984-06-26 | 1984-06-26 | 光デイスクの面振れおよび偏芯測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6111940A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6459003A (en) * | 1987-08-29 | 1989-03-06 | Toshiba Corp | Optical information storage medium inspecting device |
-
1984
- 1984-06-26 JP JP13131584A patent/JPS6111940A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6459003A (en) * | 1987-08-29 | 1989-03-06 | Toshiba Corp | Optical information storage medium inspecting device |
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