DE3818734A1 - Verfahren zum trimmen elektrischer bauelemente mittels laser - Google Patents
Verfahren zum trimmen elektrischer bauelemente mittels laserInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Trimmen elektrischer
Bauelemente mittels Laser.
Widerstände, die aus Widerstandsmaterial auf einem Substrat
bestehen und zwei Elektroden an zwei Enden des Materials
haben, werden durch Laser getrimmt, um in präziser Weise
Material zwischen den Elektroden wegzunehmen und dadurch
den gewünschten Widerstandswert des Widerstandes zu erzielen.
Durch Wegnahme von Material wird das Fließen von Elektrizität
erschwert, wodurch sich der Widerstandwert erhöht. Die
Trimmung kann durch einen sogenannten Stichschnitt erfolgen
(ein einziger Einschnitt, der sich von einer Seite her
und quer zur Richtung zwischen den Elektroden in das Ma
terial erstreckt), oder einen sogenannten L-Schnitt (be
stehend aus zwei Teilstücken, deren eines sich von einer
Seite her und quer zur Richtung zwischen den Elektroden
in das Material erstreckt und deren anderes parallel zur
besagten Richtung verläuft), oder einen sogenannten U-Schnitt
(bestehend aus drei Teilstücken, von denen sich zwei von
einer Seite her und quer zur besagten Richtung erstrecken,
während ein Teilstück parallel zur besagten Richtung
läuft), oder durch einen flächenabtastenden Schnitt (wieder
holte, sich überlappende Schnitte, die einen großen Teil des
Materials wegnehmen).
U-Schnitte sind für manche Anwendungen zweckmäßig, weil sie
im Gegensatz zu den Stich- und L-Schitten keine abschließenden
Endpunkte haben (welche im allgemeinen den Elektronen
fluß unterbrechen und Überschläge erlauben können, z. B. wenn
sie in Überspannungsableitern verwendet werden) sie sind
ferner schneller auch mit geringerer Wärmebelastung
durchzuführen als flächenabtastende Schnitte. Für die Er
zielung genauer Widerstandswerte mit U-Schnitten wurde bis
her häufig ein Schneidbetrieb mit wiederholten Start-, Stop
und Meßschritten angewandt, also ein nicht-kontinuierliches
Zuschneiden, das zu Mikrorissen führen kann. Eine Methode,
bei welcher das Stoppen des schneidenden Lasers vermieden
wird, besteht in der Herstellung mehrerer sich überlappender
U-Schnitte, wobei in aufeinanderfolgenden U-Schnitten das
erste und dritte Teilstück zunehmend länger und das zweite
Teilstück zunehmend kürzer wird.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, die
Lasertrimmung eines elektrischen Bauelementes in einer ge
nau gesteuerten Weise vorzunehmen. Diese Aufgabe wird er
findungsgemäß durch ein Verfahren gemäß dem Patentanspruch 1
bzw. gemäß dem Patentanspruch 10 gelöst. Vorteilhafte Aus
gestaltungen der Erfindung sind in Unteransprüchen gekenn
zeichnet.
Es wurde gefunden, daß sich die Lasertrimmung eines elektrischen
Bauelementes (z. B. eines Widerstandes) gut steuern bzw.
kontrollieren läßt, indem man den Wert der Länge eines Teil
stücks eines Einschnittes des Bauelementes unter Bezugnahme
auf eine Information bestimmt, die auf Schnitten von Teil
stücken unterschiedlicher Längen in einem oder mehreren Bau
elementen beruht, das dieselbe Geometrie wie das zu trimmende
Bauelement hat.
In bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung ist der in
das Bauelement eingebrachte Schnitt ein U-Schnitt. Die
interessierende elektrische Kenngröße des Bauelementes (z. B.
ein Widerstandswert) wird während des zweiten Teilstückes
gemessen. Der Übergang vom zweiten zum dritten Teilstück
erfolgt bei einem vorbestimmten Kennwert, der so bemessen
ist, daß der gewünschte Wert nach dem Schneiden des dritten
Teilstückes erzielt wird. Die zum Schneiden des ersterwähnten
Teilstückes benutzte Information ist ein Längenmaß, das gleich
A|PRETEST | B ist, wobei A und B Konstanten sind, die durch
Schnitte bestimmt werden, welche gewählten PRETEST-Werten
(prozentualer Unterschied zwischen dem anfänglichen und dem
gewünschten Widerstandswert) und erzwungenen Werten DRES
für den gewünschten Endwiderstand zugeordnet sind. Der er
wähnte vorbestimmte Kennwert, mit SRES bezeichnet, ist der
Prozentanteil, um den Wiederstandwert geringer als der
gewünschte Widerstand (DRES) am Ende des zweiten Teilstückes
ist. SRES wird gleich A′/PRETEST / B′ gesetzt, wobei A′ und
B′ Konstanten sind, die ebenfalls durch Schnitte in einem
Bauelement bestimmt werden, das dieselbe Geometrie wie das
zu trimmende Bauelement hat.
Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung gehen aus
der nachstehenden Beschreibung hervor, in der bevorzugte
Ausführungsformen anhand von Zeichnungen erläutert werden:
Fig. 1 ist eine schematische perspektivische Darstellung
eines Lasertrimmgerätes zur Durchführung eines erfindungsge
mäßen Verfahrens;
Fig. 2. ist ein Blockschaltbild von Steuereinrichtungen
des Lasertrimmgerätes nach Fig. 1;
Fig. 3 zeigt schematisch in Draufsicht einen Widerstand,
der durch einen erfindungsgemäß hergestellten U-Schnitt ge
trimmt ist;
Fig. 4. zeigt in einer graphischen Darstellung die Funk
tion der Länge eines Schnittes (CL) abhängig von der Größe
PRETEST, wie sie bei der Steuerung des Trimmvorgangs mit
dem Gerät nach Fig. 1 bestimmt angewandt wird;
Fig. 5 ist eine graphische Darstellung der Funktion
von SRES (Prozentsatz eines Widerstandswertes) abhängig
von PRETEST, wie sie beim Steuern des Gerätes nach Fig. 1
bestimmt und angewandt wird;
Fig. 6 ist ein Flußdiagramm eines Verfahrens zur Ge
winnung von Koeffizienten, welche die in Fig. 4 dargestellte
Funktion beschreiben;
Fig. 7 ist ein Flußdiagramm eines Verfahrens zur Ge
winnung von Koeffizienten, welche die in Fig. 5 dargestellte
Funktion beschreiben;
Fig. 8 ist ein Flußdiagramm eines Trimmverfahrens unter
Verwendung des Gerätes nach Fig. 1.
In der Fig. 1 ist ein Lasertrimmgerät 10 dargestellt, dessen
Struktur und Arbeitsweise ausführlich in der US-Patentan
meldung 7 98 584 beschrieben ist, die am 15. November 1985
unter dem Titel "Light Beam Positioning Apparatus" einge
reicht wurde auf die hiermit verwiesen wird. Das Gerät
10 enthält eine Neodym-YAG-Laserquelle 12, die einen 1,06 µ-
Strahl 14 liefert, ferner eine Strahlverschiebungseinrich
tung 16, ein strahlerweiterndes Teleskop 18, einen schwenk
baren Reflektor 20 zur Strahlenablenkung in Richtung der X-
Achse, einen schwenkbaren Reflektor 22 zur Strahlablenkung
in Richtung der Y-Achse, eine telezentrische Abtastlinse
24 und einen beweglichen Support 25, der ein Substrat 26
trägt, auf dem sich Widerstände 28 befinden. Die Strahl
verschiebungseinrichtung 16 enhtält ein optisch ebenes
Brechungselement 30 (ein ebenes Stück auf Glas), das schwenk
bar an einem Galvanometer 32 aufgehängt ist. Das Brechungs
element 30 ist in seiner Aufhängung bezüglich der vertikalen
senkrechten Achse gegenüber dem Strahl 14 geneigt, aus weiter
unter erläuterten Gründen. Die schwenkbaren Reflektoren
20, 22 enthalten Spiegel 34, 36, die so an Galvanometer 42,
44 befestigt sind, daß sie um jeweils eine zugehörige Achse
38 bzw. 40 geschwenkt werden können. Das Gerät 10 enthält
ferner Sonden, die beweglich (durch nicht dargestellte Mittel)
mit Kontaktelektroden 54 (Fig. 3) eines Widerstandes 28 ver
bunden sind, um Widerstandswerte zu messen.
Wie das vereinfachte Blockschaltbild der Fig. 2 zeigt,
wird das Trimmungssystem, das insgesamt mit 46 bezeichnet
ist und das Lasertrimmgerät 10 enthält, durch einen externen
Computer 48 gesteuert und enthält einen Mechanismus 50
zur Grobverschiebung des Substrats 26, um einzelne Wider
stände 48 jeweils in eine Position zu bewegen, in welcher
sie durch einen fokussierten Laserstrahl 52 (Fig. 1) ab
getastet werden können. Eine Galvanometer-Steuereinheit 54
wandelt digitale Steuersignale in analoge Stellsignale für
die Galvanometer um.
Gemäß der Fig. 3 enthält ein Widerstand 28 Widerstandsma
terial 52, das mit Elektroden 54 verbunden ist und eine
Breitenabmessung RW und eine Längenabmessung RL hat. In
das Widerstandsmaterial 52 ist ein U-förmiger Schnitt 56
in erfindungsgemäßer Weise eingebracht. Der Schnitt 56 hat
ein erstes Teilstück 58, ein zweites Teilstück 60, ein
drittes Teilstück 62 und gekrümmte Übergänge oder Ecken 64
zwischen den Teilstücken. Das erste Teilstück 58 und das
zweite Teilstück 62 haben jeweils eine Länge CL, und das
zweite Teilstück 60 hat eine Länge CW.
Es sei nun der Ablauf des Trimmverfahrens beschrieben. All
gemein werden, nach einer anfänglichen Kennzeichnungsprozedur
(Charakterisierung), bei welcher durch Trimmung von Wi
derständen 28 und Messung resultierender Widerstandsänderungen
(wie weiter unten ausführlich beschrieben) eine Daten
bank erzeugt wird, einzelne Widerstände 28 getrimmt, indem
ihr Anfangswiderstand RRES gemessen und dann die Trimmung
erfolgt, um den gewünschten Widerstand (Sollwiderstand)
DRES zu erzielen, der höher ist als RRES.
Für den Trimmbetrieb wird ein Substrat 26 mit darauf befind
lichen Widerständen 28, die durch Belichtung mit dem fokussier
ten Laserstrahl 52 getrimmt werden sollen, auf dem Support
25 angeordnet. Der Substrat-Verschiebungsmechanismus 50 be
wegt einzelne Widerstände 28 auf dem Substrat 25 in eine
Position, bei welcher sie mit der telezentrischen Abtast
linse 24 ausgerichtet sind, und mittels der Galvanometer 32,
42, 44 wird der fokussierte Strahl 52 schnell und genau auf
den jeweils zu trimmenden Widerstand 28 gerichtet.
Das Galvanometer 42 schwenkt den Spiegel 34 so, daß sich
der fokussierte Strahl 52 in der X-Richtung über das Substrat
26 bewegt, und das Galvanometer 44 schwenkt den Spiegel 36
so, daß der fokussierte Strahl 52 in Y-Richtung bewegt wird.
Alle diese Bewegungen geschehen unter Steuerung durch den
Computer 48. Anhängig von der Schwenkstellung des Spiegels
34 verstellt das Galvanometer 32 das Brechungselement 30,
um den Strahl 14 seitlich um das notwenidge Maß zu bewegen,
damit er vom Spiegel 34 auf den Mittelpunkt 56 der Pupille
45 reflektiert wird, wie es ausführlich in der weiter oben
genannten US-Patentanmeldung beschrieben ist.
Die Errichtung der Datenbank erfolgt in zwei Schritten.
Der erste Schritt bezieht sich auf Widerstandsänderungen
infolge Änderungen von CL (d. h. der Längen des ersten und
dritten Teilstücks), und der zweite Schritt bezieht sich
auf Widerstandsunterschiede vor und nach dem Schneiden des
dritten Teilstücks, die zum Kontrollieren der Längen CW des
zweiten Teilstücks während eines Schnittes benutzt werden.
Ein in beiden Schritten benutzter Parameter ist die Größe
PRETEST, die definiert ist als der prozentuale Unterschied
zwischen dem gemessenen Widerstandswert RRES und dem ge
wünschten WertDRES und die durch folgende Formel gegeben
ist:
(PRETEST ist also für Lasertrimmung stets negativ.)
Beim ersten Schritt wird die Formel erzeugt, welche die in
Fig. 4 dargestellte Funktion der Länge CL abhängig von
PRETEST beschreibt, indem CL-Werte ermittelt werden, die
zu folgenden PRETEST-Werten α führen: -3%, -8%, -13%, -18%,
-23%, -28%, -33%, -38%.
Gemäß dem Flußdiagramm der Fig. 6 wird für jeden Wert von
α ein anderer Widerstand verwendet. Sonden 51 kontaktieren
die Elektroden 54 eines zu trimmenden Widerstandes 28, und
dessen Widerstandswert RRES wird gemessen. DRES wird nach
der folgenden Formel bestimmt:
Dieser DRES-Wert gibt, für den gegebenen PRES-Wert, den
endgültigen Widerstandswert (nach der Trimmung durch einen
U-Schnitt) an, der dem jeweiligen α zugeordnet ist. CW wird
für den gesamten ersten Schritt im Falle kleiner Widerstände
(RW kleiner als 2,54 mm) gleich 0,60 RW und im Falle
großer Widerstände (RW größer als 2,54 mm) gleich 0,833 RW
gesetzt. Es erfolgt zunächst eine Aufgangstrimmung des Wi
derstandes 28 mit der kleinstmöglichen Schrittweise von
CL, die das Gerät hervorbringen kann; der resultierende
Wert RRES wird dann gemessen und mit DRES verglichen. Die
ser Vorgang wird wiederholt, wobei CL bei jedem nachfol
genden Schnitt um einen Schritt vergrößert wird, bis PRES
größer ist als DRES. Der CL-Wert unmittelbar vor diesem
letzten Schritt ist das größte hervorzubringende Maß, bei
dem der Widerstandswert immer noch kleiner als der erwartete
Wert gehalten wird. Dieser CL-Wert bildet mit dem be
treffenden PRETEST-Wert für die Funktion nach
Fig. 4.
Für den nächsten α-Wert wird dann ein neuer Widerstand 28
(mit derselben Geometrie) verwendet, usw., bis alle α an
die Reihe gekommen sind. Die resultierende 8-Daten-Bank,
die für jedes α jeweils einen CL-Wert enthält, wird dann
benutzt, um Koeffizienten A und B für die folgende Polynom-
Näherung der CL/PRETEST-Funktion zu erzeugen:
CL = A|PRETEST | B .
Im einzelnen wird eine lineare Regression des log CL als
Funktion von log A plus B mal log |PRETEST | mit den acht
Werten der Datenbank benutzt, um A und B zu erhalten.
Verwendet man zur Trimmung nur die Information der Fig. 4,
indem man nur CL ändert, dann läßt sich eine Genauigkeit
von ±3% für kleine Widerstände erzielen. Ändert man in ent
sprechender Weise auch die Länge des zweiten Teilstückes,
wobei man die Information des nachstehend zu beschriebenden
zweiten Schrittes benutzt, dann läßt sich eine noch größere
Genauigkeit erzielen.
Beim zweiten Schritt wird eine Formel erzeugt, welche die
in Fig. 5 dargestellte Funktion des SRES-Wertes abhängig
von PRETEST beschreibt. SRES gibt vor, welchen Widerstands
wert RRES am Ende des Schneidens des zweiten Teilstückes
haben soll, damit sich nach dem Schneiden des dritten Teil
stückes der gewünschte DRES-Wert einstellt. (Das Schneiden
des dritten Teilstückes bewirkt eine weitere Reduzierung
des Widerstandswertes um z. B. 2%.) SRES wird als Prozent
anteil von DRES ausgedrückt; so bedeutet z. B. ein SRES-
Wert von -2%, daß das Schneiden des zweiten Teilstückes
beendet wird, wenn RRES gleich 98% von DRES ist.
Gemäß dem Blockschaltbild der Fig. 7 wird SRES für jeden
Wert von α (und den entsprechenden Wert von CL) errechnet,
indem zunächst SRES gleich 0 gesetzt wird. (Der Widerstand
nach dem Schneiden des zweiten Teilstückes ist als DRES.)
Der PRETEST-Wert nach dem Schneiden des dritten Teilstückes
(eine positive Zahl) steht also in Beziehung zu der Wider
standsdifferenz, die durch das Schneiden des dritten Teil
stückes bewirkt wird. Die negative Form dieses PRETEST-
Wertes wird als SRES in einem nachfolgenden Schnitt bei
selbem α benutzt, und wenn der resultierende Endwiderstand
im Bereich DRES ±0,5% liegt, wird dieser SRES-Wert für α
verwendet. Wenn nicht, werden weitere Schnitte durchgeführt,
wobei SRES jeweils geändert wird (mehr negativ, wenn der
resultierende PRETEST-Wert positiv ist, oder mehr positiv,
wenn der resultierende PRETEST-Wert negativ ist), bis der
resultierende gemessene Widerstandswert innerhalb des Be
reichs von DRES ±0,5% liegt.
Dasselbe Verfahren wird für die anderen α-Werte angewandt,
und die resultierende Datenbank wird dazu benutzt, Koeffi
zienten A′ und B′ in der folgenden Polynom-Nährung der
SRES/PRETEST-Funktion zu erzeugen:
SRES = A′|PRETEST | B′ .
Die in der vorstehend beschriebenen Weise errechneten Ko
effizienten A, B, A′ und B′ sind Konstanten, die im Ver
lauf einer Serie von Widerständen, welche die gleiche Geo
metrie des Widerstandsmaterials und gleiches DRES
haben, nicht geändert werden.
Während der eigentlichen Trimmung, wenn das Trimmungssystem
46 einzelne Widerstände 28 zuschneidet, mißt dieses System
den Anfangswiderstand RRES, benutzt die Konstanten A, B,
A′, B′ zur Bestimmung von CL und SRES und schneidet konti
nuierlich ohne anzuhalten einen U-Schnitt 60 unter Durch
führung von Berechnungen im Fluge. Das erste Teilstück 58
wird über die Länge CL geschnitten. Während des Schneidens
des zweiten Teilstücks 60 wird RES ständig überwacht und
mit einem Wert (1-SRES) mal DRES verglichen. Wenn RRES
gleich diesem Wert ist (oder ihn erstmalig überschreitet),
beginnt das System 46 mit dem Schneiden des dritten Teil
stückes, an dessen Ende der resultierende Widerstand ziem
lich genau gleich DRES ist. Die Fig. 8 zeigt dieses Verfahren.
Neben den vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen
sind auch andere Ausgestaltungen im Rahmen der Erfindung
möglich. Die Erfindung kann z. B. bei anderen elektrischen
Bauelementen als Widerständen angewandt werden und auch
benutzt werden, um andere elektrische Kenngrößen als Wider
standswerte zu trimmen (z. B. eine Spannung, eine Frequenz oder
irgendeine andere Größe, die vom Trimmen abhängt). Auch kann
statt des vorstehend beschriebenen Systems, das drei Galva
nometer und eine telezentrische Abtastlinse verwendet, ein
nicht telezentrisches Abtastsystem mit zwei Galvanometern
verwendet werden.
Claims (13)
1. Verfahren zur Trimmung eines elektrischen Bauelementes
mittels Laser zur Erzielung einer gewünschten elektrischnen
Kenngröße des Bauelementes, dadurch gekennzeichnet,
daß in ein Steuergerät der gewünschte Wert der Kenn größe des zu trimmenden Bauelementes (28) eingegeben wird;
daß der Anfangswert der Kenngröße des zu trimmenden Bauelementes (28) gemessen wird;
daß der Wert der Länge (CL) eines ersten Teilstückes (58) eines in das Bauelement (28) einzubringenden Schnit tes (56) anhand von Informationen bestimmt wird, die auf Schnitten von Teilstücken unterschiedlicher Längen in einem Bauelement beruhen, das dieselben Geometrie wie das zu trimmende Bauelement (28) hat;
daß in das zu trimmende Bauelement (28) unter Verwen dung des Lasers (12) das erste Teilstück (58) des Schnittes (56) eingebracht wird.
daß in ein Steuergerät der gewünschte Wert der Kenn größe des zu trimmenden Bauelementes (28) eingegeben wird;
daß der Anfangswert der Kenngröße des zu trimmenden Bauelementes (28) gemessen wird;
daß der Wert der Länge (CL) eines ersten Teilstückes (58) eines in das Bauelement (28) einzubringenden Schnit tes (56) anhand von Informationen bestimmt wird, die auf Schnitten von Teilstücken unterschiedlicher Längen in einem Bauelement beruhen, das dieselben Geometrie wie das zu trimmende Bauelement (28) hat;
daß in das zu trimmende Bauelement (28) unter Verwen dung des Lasers (12) das erste Teilstück (58) des Schnittes (56) eingebracht wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das erste Teilstück (58) Bestandteil eines U- Schnittes (56) ist, der aus dem besagten ersten Teil stück, einem zweiten Teilstück (60) und einem dritten Teilstück (62) besteht;
daß ein vorbestimmter Wert der Kenngröße bestimmt wird, bei dessen Erreichen das Schneiden des zweiten Teilstückes (60) zu beenden ist, um den gewünschten Wert der Kenn größe nach dem Schneiden des dritten Teilstückes (62) zu erreichen.
daß das erste Teilstück (58) Bestandteil eines U- Schnittes (56) ist, der aus dem besagten ersten Teil stück, einem zweiten Teilstück (60) und einem dritten Teilstück (62) besteht;
daß ein vorbestimmter Wert der Kenngröße bestimmt wird, bei dessen Erreichen das Schneiden des zweiten Teilstückes (60) zu beenden ist, um den gewünschten Wert der Kenn größe nach dem Schneiden des dritten Teilstückes (62) zu erreichen.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Bauelement (28) ein Widerstand ist.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die Kenngröße ein Widerstandswert ist.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Informationen Längeninformationen des Teilstücks als
Funtktion eines Wertes PRETEST sind, der die prozentuale
Differenz zwischen einem gemessenen Wert RRES der Kenn
größe und dem gewünschten Wert DRES der Kenngröße ist.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die Längeninformation gleich A|PRETEST | B ist, wobei A
und B Konstanten sind, die durch Schnitte bestimmt werden,
welche ausgewählten PRETEST-Werten und erzwungenen
DRES-Werten zugeordnet sind.
7. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
das Bauelement (28) ein Widerstand ist.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
der vorbestimmte Wert der Kenngröße in Beziehung steht zu
demjenigen Prozentanteil SRES, um den der Widerstandswert
am Ende des zweiten Teilstücks (60) kleiner ist als der
gewünschte Widerstandswert DRES.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
SRES gleich A′|PRETEST | B′ ist, wobei A′ und B′ Konstan
ten sind, die durch Schnitte in Bauelementen bestimmt
werden, welche die gleiche Geometrie wie das zu trimmen
de Bauelemt (28) haben.
10. Verfahren zur Trimmung eines elektronischen Bauelementes
mittels Laser zur Erzielung einer gewünschten elektrischen
Kenngröße, dadurch gekennzeichnet,
daß in ein Steuergerät der gewünschte Wert der Kenn größe des zu trimmenden Bauelementes (28) eingegeben wird;
daß der Anfangswert der Kenngröße des zu trimmenden Bauelementes (28) gemessen wird;
daß ein vorbestimmter Wert der Kenngröße bestimmt wird, bei welchem ein Teilstück (60) eines Schnittes (56) zu beenden ist, um einen gewünschten Wert der Kenngröße zu erzielen;
daß das Teilstück (60) unter Messung der Kenngröße ge schnitten wird, bis der gemessene Wert gleich dem vorbe stimmten Wert ist und daß dann dieses Teilstück (60) beendet wird.
daß in ein Steuergerät der gewünschte Wert der Kenn größe des zu trimmenden Bauelementes (28) eingegeben wird;
daß der Anfangswert der Kenngröße des zu trimmenden Bauelementes (28) gemessen wird;
daß ein vorbestimmter Wert der Kenngröße bestimmt wird, bei welchem ein Teilstück (60) eines Schnittes (56) zu beenden ist, um einen gewünschten Wert der Kenngröße zu erzielen;
daß das Teilstück (60) unter Messung der Kenngröße ge schnitten wird, bis der gemessene Wert gleich dem vorbe stimmten Wert ist und daß dann dieses Teilstück (60) beendet wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
das Teilstück (60) das zweite Teilstück eines U-Schnittes
(56) ist, der aus einem ersten Teilstück (58), dem be
sagten zweiten Teilstück (60) und einem dritten Teilstück
(62) besteht, und daß das Bauelement ein Widerstand ist
und daß der gewünschte Wert der Kenngröße der Widerstands
wert bei Beendigung des dritten Teilstückes (62) ist.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
der vorbestimmte Wert in Beziehung zu demjenigen Prozent
anteil SRES steht, um den am Ende des zweiten Teilstücks
(60) der Widerstandswert kleiner ist als der gewünschte
Widerstandswert DRES.
13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß SRES gleich A′|PRETEST | B′ ist, wobei A′ und B′
Konstanten sind, die durch Schnitte in Bauelementen
bestimmt werden, welche die gleiche Geometrie wie das
zu trimmende Bauelement (28) haben.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/057,428 US4772774A (en) | 1987-06-02 | 1987-06-02 | Laser trimming of electrical components |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3818734A1 true DE3818734A1 (de) | 1988-12-22 |
Family
ID=22010514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3818734A Ceased DE3818734A1 (de) | 1987-06-02 | 1988-06-01 | Verfahren zum trimmen elektrischer bauelemente mittels laser |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4772774A (de) |
JP (1) | JPS6449203A (de) |
DE (1) | DE3818734A1 (de) |
FR (1) | FR2616263A1 (de) |
GB (1) | GB2205975A (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3917718A1 (de) * | 1989-05-31 | 1990-12-06 | Siemens Ag | Verfahren zum abgleichen von schichtwiderstaenden |
DE4304437A1 (de) * | 1993-02-13 | 1994-08-18 | Ego Elektro Blanc & Fischer | Integrierte Schaltung, insbesondere für Berührungsschalter, sowie Verfahren zur Herstellung einer integrierten Schaltung |
DE19807759B4 (de) * | 1997-03-10 | 2004-12-09 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo | Verfahren zum Herstellen elektronischer Bauelemente mit gleichmässigen Widerstandswerten |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4998207A (en) * | 1988-02-01 | 1991-03-05 | Cooper Industries, Inc. | Method of manufacture of circuit boards |
DE3901157A1 (de) * | 1989-01-17 | 1990-07-26 | Hella Kg Hueck & Co | Elektrisches geraet |
IL94340A (en) * | 1990-05-09 | 1994-05-30 | Vishay Israel Ltd | Selectable high precision resistor and technique for production thereof |
US5256849A (en) * | 1991-10-03 | 1993-10-26 | Biolight, Inc. | Apparatus and method for making and using high index of refraction materials |
EP0546495B1 (de) * | 1991-12-09 | 1997-03-12 | Toshiba Lighting & Technology Corporation | Fixier-Heizelement und Verfahren zu dessen Herstellung |
US5231536A (en) * | 1992-05-01 | 1993-07-27 | Xrl, Inc. | Robust, LED illumination system for OCR of indicia on a substrate |
US5737122A (en) * | 1992-05-01 | 1998-04-07 | Electro Scientific Industries, Inc. | Illumination system for OCR of indicia on a substrate |
US5298717A (en) * | 1992-08-17 | 1994-03-29 | Derossett Jr Thomas A | Method and apparatus for laser inscription of an image on a surface |
US5420515A (en) * | 1992-08-28 | 1995-05-30 | Hewlett-Packard Company | Active circuit trimming with AC and DC response trims relative to a known response |
WO1995006539A1 (en) * | 1993-09-03 | 1995-03-09 | Thomas Derossett | Method and apparatus for laser inscription of an image on a surface |
US6217151B1 (en) | 1998-06-18 | 2001-04-17 | Xerox Corporation | Controlling AIP print uniformity by adjusting row electrode area and shape |
US6461535B1 (en) | 1999-12-03 | 2002-10-08 | Pan American Health Organization | Composition for arsenic removal from ground water |
US6664500B2 (en) * | 2000-12-16 | 2003-12-16 | Anadigics, Inc. | Laser-trimmable digital resistor |
US6875950B2 (en) * | 2002-03-22 | 2005-04-05 | Gsi Lumonics Corporation | Automated laser trimming of resistors |
US6972444B1 (en) * | 2003-08-06 | 2005-12-06 | National Semiconductor Corporation | Wafer with saw street guide |
TWI629459B (zh) * | 2013-02-06 | 2018-07-11 | 藤倉股份有限公司 | Method for manufacturing pressure detecting device, pressure detecting device, pressure detecting device and electronic device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2850375A1 (de) * | 1977-11-22 | 1979-06-13 | Stackpole Component Co | Ohm'scher widerstand |
DE3223930A1 (de) * | 1982-06-26 | 1984-01-26 | Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn | Verfahren zum abgleichen eines schichtwiderstandes |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5110350A (en) * | 1974-07-17 | 1976-01-27 | Fujitsu Ltd | Teikososhino choseisochi |
DE2622324C3 (de) * | 1976-05-19 | 1980-10-02 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zur Herstellung eines genau abgeglichenen elektrischen Netzwerkes |
US4184062A (en) * | 1977-10-25 | 1980-01-15 | Schmidt Robert A | Laser resistance trimmer |
US4381441A (en) * | 1980-10-30 | 1983-04-26 | Western Electric Company, Inc. | Methods of and apparatus for trimming film resistors |
JPS5788704A (en) * | 1980-11-21 | 1982-06-02 | Nippon Electric Co | Method of controlling resistance element |
JPS5848448A (ja) * | 1981-09-16 | 1983-03-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 厚膜抵抗体のトリミング方法 |
US4403133A (en) * | 1981-12-02 | 1983-09-06 | Spectrol Electronics Corp. | Method of trimming a resistance element |
-
1987
- 1987-06-02 US US07/057,428 patent/US4772774A/en not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-06-01 DE DE3818734A patent/DE3818734A1/de not_active Ceased
- 1988-06-01 FR FR8807300A patent/FR2616263A1/fr not_active Withdrawn
- 1988-06-02 JP JP63136621A patent/JPS6449203A/ja active Pending
- 1988-06-02 GB GB08813013A patent/GB2205975A/en not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2850375A1 (de) * | 1977-11-22 | 1979-06-13 | Stackpole Component Co | Ohm'scher widerstand |
DE3223930A1 (de) * | 1982-06-26 | 1984-01-26 | Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn | Verfahren zum abgleichen eines schichtwiderstandes |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Firmendruckschrift "Vollautomatisches mikroprozessorgesteuertes Widerstandstrimmsystem Modell 685" der Firma Laser-Optronic, 8000 München, II-JGJ * |
H. Delfs "Hybridschaltungen-Abgleichverfahren für Widerstände" in: Internationale Elektronische Rundschau 1971, Nr. 8, S. 195-199 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3917718A1 (de) * | 1989-05-31 | 1990-12-06 | Siemens Ag | Verfahren zum abgleichen von schichtwiderstaenden |
DE4304437A1 (de) * | 1993-02-13 | 1994-08-18 | Ego Elektro Blanc & Fischer | Integrierte Schaltung, insbesondere für Berührungsschalter, sowie Verfahren zur Herstellung einer integrierten Schaltung |
DE19807759B4 (de) * | 1997-03-10 | 2004-12-09 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo | Verfahren zum Herstellen elektronischer Bauelemente mit gleichmässigen Widerstandswerten |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6449203A (en) | 1989-02-23 |
FR2616263A1 (fr) | 1988-12-09 |
GB2205975A (en) | 1988-12-21 |
US4772774A (en) | 1988-09-20 |
GB8813013D0 (en) | 1988-07-06 |
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