DE3803769A1 - Verfahren zum herstellen von duennen, bandfoermigen siliziumkristallen mit ebener oberflaeche, geeignet fuer die solarzellenfertigung - Google Patents
Verfahren zum herstellen von duennen, bandfoermigen siliziumkristallen mit ebener oberflaeche, geeignet fuer die solarzellenfertigungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von dünnen,
bandförmigen Siliziumkristallen mit ebener Oberfläche, bei dem
als Trägerkörper und Kristallisationskeimbildner ein gegenüber
der Siliziumschmelze resistentes und einen höheren Emissionsfaktor
ε aufweisendes netzartiges Fadengewebe verwendet wird,
welches tangierend über die in einer Wanne befindliche Siliziumschmelze
in horizontaler Richtung gezogen und mit Silizium beschichtet
wird.
Ein Verfahren dieser Art ist beispielsweise aus der europäischen
Patentanmeldung 01 70 119 bekannt. Bei diesem Verfahren ist die
Schmelzenwanne so dimensioniert, daß ihre Länge l mindestens so
groß ist wie die Kontaktlänge L; die Ziehrichtung ist im Winkel
α kleiner 10 Grad gegen die Horizontale geneigt eingestellt;
Abstrahlungsverluste von der Schmelzenoberfläche werden durch
Reflektoren geregelt. Durch das bekannte Verfahren (sogenanntes
S-Web-Verfahren) ist die Möglichkeit gegeben, bandförmige Siliziumkristalle
für Solarzellen mit einigermaßen konstanter Dicke
und Breite bei hohen Ziehgeschwindigkeiten herzustellen. Der
verwendete Trägerkörper besteht bei diesem Verfahren aus einem
Gewebe von parallel angeordneten Graphitfäden.
Ein weiteres Verfahren der eingangs genannten Art ist in der
deutschen Patentanmeldung P 37 36 341.7 vorgeschlagen worden.
Bei diesem Verfahren werden dünne (kleiner 300 µm) Siliziumbänder
mit ebenen Oberflächen dadurch erhalten, daß beim horizontalen
Ziehen der Bänder (S-Web-Technik) netzartige Graphitträgerkörper
verwendet werden, deren lichte Maschenweite k in
Anpassung an die Schichtdicke d des zu ziehenden Bandes von
kleiner 300 µm bei einem in der Siliziumschmelze herrschenden
Temperaturgradienten G L von kleiner 25 K kleiner als 2,0 mm
ist. Bei einer Maschenweite von bereits größer 1,5 mm liefert
dieses Verfahren nicht mehr die gewünschten dünnen Siliziumbänder
mit ebener Oberfläche.
Aus Kostengründen und im Hinblick auf höhere Umwandlungswirkungsgrade
ist man bestrebt, die Siliziumbänder möglichst dünn,
das heißt nur etwa 100 bis 300 µm, zweckmäßigerweise unter 100
µm dick zu machen.
Die Aufgabe, die der Erfindung zugrundeliegt, besteht nur darin,
das horizontale Bandziehverfahren, das heißt die sogenannte S-
(= supported)-Web-Technik für hohe Ziehgeschwindigkeiten (im
Bereich von 1 m/min) mit Carbonfasernetzen mit lichten Maschenweiten
von größer 1,5 mm auch für 100 µm dicke Siliziumbänder
nutzbar zu machen, wobei diese Bänder ebene Oberflächen aufweisen
sollen.
Dünne Bänder zeigen an der, der Schmelze zugewandten Seite, auf
der später bei der Herstellung von Solarzellen aus diesem Material
der pn-Übergang erzeugt und zur Kontaktierung ein Grid aufgebracht
wird, eine gewellte Oberfläche, die um so ausgeprägter
ist, je dünner die Siliziumschicht im Mittel ist. Diese Unebenheit
der dünnen Siliziumbänder entsteht durch die unterschiedlich
starke Wärmeabstrahlung von Carbonfasern und Silizium während
des Wachsens der Siliziumschicht. Die höhere Emission der
Carbonfasern ( ε = 0,6) gegenüber der Emission des flüssigen
bzw. festen Siliziums ( ε = 0,3 bzw. ε = 0,46) hat zur Folge,
daß die Silziumschicht im Bereich unter den Carbonfasern schneller
in die Tiefe wächst als in den Bereichen unter den Maschenöffnungen
des Carbonfasernetzes. Die so entstandene Welligkeit,
deren Periodizität etwa der des Netzmusters entspricht, verhindert
bei der Solarzellenherstellung die einwandfreie Aufbringung
eines Grids auf dieser Fläche, welches aus Kostengründen mittels
Siebdrucktechnik erzeugt werden soll.
Die Erfindung löst das Problem der Erzeugung dünner und ebener
Siliziumbänder unter Verwendung netzartiger Trägerkörper mit
Maschenweiten größer 1,5 mm dadurch, daß das gezogene Siliziumband
unmittelbar nach dem Durchlauf der Wachstumsstrecke noch
in Kontakt mit der Schmelzoberfläche in Ziehrichtung des Bandes
eine Abschmelzstrecke mit einer, über der Schmelze angeordneten
Abdeckung durchläuft, deren Temperatur T₁ so eingestellt wird,
daß sie größer oder gleich der mittleren Temperatur T₂ an der
netzseitigen Oberfläche des mit Silizium beschichteten Trägerkörpers
ist. Unter mittlerer Temperatur T₂ wird dabei eine Temperatur
verstanden, die zwischen der Temperatur der Carbonfaseroberflächen
und der Siliziumflächen liegt.
Der Temperaturunterschied dieser beiden Oberflächengebiete
rührt von der unterschiedlichen Wärmeabstrahlung von Carbonfaser
bzw. Silizium in der Wachstumsstrecke her. Wie Berechnungen
zeigen, liegt dieser Temperaturunterschied in der Größenordnung
von 1 K. Nach dem Eintritt des Bandes (S-Web) in die Abschmelzstrecke
gleicht sich dieser geringe Temperaturunterschied aus.
Ist nun die Temperatur T₁ der Abdeckung und die mittlere Temperatur
T₂ der S-Web-Oberfläche gleich groß, dann ist die resultierende
Wärmestromdichte zwischen S-Web-Oberfläche und Abdeckung
praktisch gleich Null. Dies ergibt sich, vergleiche zum
Beispiel "Die Grundgesetze der Wärmeübertragung" von U. Grigull,
Seite 384, Springer-Verlag Berlin/Göttingen/Heidelberg, 1963,
aus der Formel für die Wärmestromdichte Φ 1,2 zwischen zwei
parallelen Flächen 1 (= Abdeckung) bzw. 2 (= S-Web-Oberfläche)
mit Temperaturen T₁ bzw. T₂:
σ = 5,7 · 10-12 W · cm-2 · K-4 ist die Stefan-Boltzmann-Konstante,
ε₁ bzw. ε₂ sind die Emissionszahlen der beiden Flächen
1 bzw. 2. Für T₁ = T₂ ist nach (1) Φ 1,2 = 0. In der Abschmelzstrecke
wirken sich in diesem Fall die unterschiedlichen
Emissionszahlen von Carbonfaser bzw. Silizium an der S-Web-
Oberfläche auf das Abschmelzverhalten nicht aus: bei Wärmezufuhr
durch die Schmelze schmilzt das in der Wachstumsstrecke
kristallisierte Silizium an der Phasengrenze überall mit gleicher
Rate ab, unabhängig davon, ob sich darüber eine mit Carbonfasern
bedeckte Oberfläche oder eine Silizium-Oberfläche befindet.
Man erhält nun sehr dünne und gleichzeitig glatte Siliziumbänder
nach einer ersten Ausführung des Erfindungsgedankens dadurch,
daß man in der Wachstumsstrecke die Siliziumdicke über
die gewünschte Nenndicke hinaus so lange wachsen läßt, bis eine
ebene Phasengrenze erreicht ist und in der anschließenden Abschmelzstrecke
die zu dicke Schicht auf die Nenndicke wieder abschmilzt.
In der zweiten Ausführungsform des Erfindungsgedankens hat die
Abdeckung der Abschmelzstrecke eine höhere Temperatur T₁ als
die mittlere Temperatur T₂ der S-Web-Oberfläche. In diesem Fall
geht ein resultierender Wärmestrom von der Abdeckung zum S-Web
hin. Setzt man in Formel (1) für ε₂ einmal den Wert für die
Carbonfaser (0,6) und einmal den Wert für Silizium (0,46) ein,
dann zeigt sich, daß die Wärmestromdichte zu den Carbonfasern
größer ist als zum Silizium. Nimmt man zum Beispiel an, daß die
Abdeckung aus Graphit ( ε = 0,75) besteht, T₁ = 1745 K (also
60 K über der Siliziumschmelzentemperatur), T₂ = 1680 K (also
5 K unter der Siliziumschmelzentemperatur), dann ergibt sich
aus (1) für die Wärmestromdichte zu den Carbonfasern Φ C = 3,7
W/cm² und für die Wärmestromdichte zum Silizium Φ Si = 3,0 W/cm².
Man hat damit die Möglichkeit, in der Abschmelzstrecke auch ungleichmäßig
abzuschmelzen, dergestalt, daß den Bereichen unter
den Carbonfasern von der Abdeckung her mehr Wärme zugeführt
wird, als den Bereichen unter den Maschenöffnungen. Eventuell
von der Wachstumsstrecke her noch vorhandene Verdickungen der
Siliziumschicht unter den Carbonfasern können auf diese Weise
in der Abschmelzstrecke erfindungsgemäß eingeebnet werden.
Die Länge der Abschmelzstrecke sowie die Wärmestromdichte, die
dem S-Web während des Durchlaufs durch die Abschmelzstrecke zugeführt
wird, bestimmen bei vorgegebener Ziehgeschwindigkeit
die Dicke der abschmelzenden Schicht. Um zum Beispiel bei einer
Länge der Abschmelzstrecke von 20 cm und einer Ziehgeschwindigkeit
von 1 m/min eine Schicht von 100 µm Dicke abzuschmelzen,
ist bei einer Schmelzwärme des Siliziums von 1800 Joule/g eine
Wärmestromdichte von 3,5 W/cm² erforderlich. Im Falle des gleichmäßigen
Abschmelzens (Wärmestrom zwischen Abdeckung und S-Web-
Oberfläche gleich Null) läßt sich diese Wärmestromdichte in der
Schmelze (Wärmeleitfähigkeit 0,6 W/cm · K) mit einem Temperaturgradienten
von 5,8 K/cm erreichen; ein Wert, der technisch ohne
Schwierigkeiten realisiert werden kann, indem die Bodenfläche
der Schmelze entsprechend geheizt wird.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Fig. 1a, 1b und
2a, 2b noch näher erläutert. Dabei zeigen die
Fig. 1a, 1b die S-Web-Technik ohne Abschmelzstrecke,
wobei 1b vergrößert den Querschnitt eines so
hergestellten Bandes mit welliger Unterseite
zeigt; die
Fig. 2a, 2b schematisch die S-Web-Technik mit Abschmelzstrecke
und zugehörigem vergrößertem Bandquerschnitt
mit ebener Oberfläche des Bandes.
Für beide Zeichnungen gelten folgende Bezugszeichen:
1 = Trägerkörper aus Carbonfasernetz
2 = Siliziumschmelze
3 = mit Silizium beschichtetes Carbonfasernetz = Siliziumband
4 = Ziehrichtung
5 = Abdeckung
6 = Schmelzenwanne
W = Wachstumsstrecke
A = Abschmelzstrecke
2 = Siliziumschmelze
3 = mit Silizium beschichtetes Carbonfasernetz = Siliziumband
4 = Ziehrichtung
5 = Abdeckung
6 = Schmelzenwanne
W = Wachstumsstrecke
A = Abschmelzstrecke
Die Temperatur der Abdeckung über der Abschmelzstrecke A kann
durch eine geregelte Heizung 7 den gewünschten Bedingungen angepaßt
werden. Desgleichen kann im Falle des gleichmäßigen Abschmelzens
ein Temperaturgradient in der Schmelze 2 eingestellt
werden, indem die Bodenfläche der Schmelze 2 mit den dort vorhandenen
Heizern 8 entsprechend geheizt wird.
Claims (6)
1. Verfahren zum Herstellen von dünnen, bandförmigen Siliziumkristallen
mit ebener Oberfläche, bei dem als Trägerkörper und
Kristallisationskeimbildner ein gegenüber der Siliziumschmelze
resistenter und einen höheren Emissionsfaktor aufweisendes netzartiges
Fadengewebe verwendet wird, welches tangierend über die
in einer Wanne befindliche Siliziumschmelze in horizontaler
Richtung gezogen und mit Silizium beschichtet wird, dadurch
gekennzeichnet, daß das gezogene Siliziumband
(3) unmittelbar nach dem Durchlauf der Wachstumsstrecke
(W) noch in Kontakt mit der Schmelzoberfläche (2) in
Ziehrichtung (4) des Bandes eine Abschmelzstrecke (A) mit einer
über der Schmelze (2) angeordneten Abdeckung (5) durchläuft,
deren Temperatur T₁ so eingestellt wird, daß sie größer oder
gleich der mittleren Temperatur T₂ an der netzseitigen Bandoberfläche
des mit Silizium beschichteten Trägerkörpers (3) ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß ein netzartiges Fadengewebe (1) aus
Karbonfasern verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet,
daß bei gleicher Temperatur der Abdeckung
(5) und der Siliziumbandoberfläche (3) (T₁ = T₂) die
Temperatureinstellung über eine Boden-Beheizung (8) der Schmelzwanne
(6) erfolgt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß eine Abdeckung (5) aus Graphit
verwendet wird, die mit einer Heizregelung (7) versehen
ist, wobei die Temperatur T₁ mindestens 50 K über die Siliziumschmelztemperatur
und die Temperatur T₂ mindestens 3 K unter
die Siliziumschmelztemperatur eingestellt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß zum Abschmelzen einer 100
µm dicken Siliziumschicht von einem beschichteten Siliziumband
bei einer Ziehgeschwindigkeit von 1 m/min die Abschmelzstrecke
(A) bei einer Wärmestromdichte von 3,5 W/cm² auf 20 cm eingestellt
wird.
6. Verwendung der nach dem Verfahren nach einem der Ansprüche 1
bis 5 hergestellten bandförmigen Siliziumkristalle für Halbleiterbauelemente,
insbesondere für Solarzellen.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19883803769 DE3803769A1 (de) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | Verfahren zum herstellen von duennen, bandfoermigen siliziumkristallen mit ebener oberflaeche, geeignet fuer die solarzellenfertigung |
JP2363489A JPH01226798A (ja) | 1988-02-08 | 1989-02-01 | リボン状シリコン結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19883803769 DE3803769A1 (de) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | Verfahren zum herstellen von duennen, bandfoermigen siliziumkristallen mit ebener oberflaeche, geeignet fuer die solarzellenfertigung |
Publications (1)
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Family Applications (1)
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DE19883803769 Ceased DE3803769A1 (de) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | Verfahren zum herstellen von duennen, bandfoermigen siliziumkristallen mit ebener oberflaeche, geeignet fuer die solarzellenfertigung |
Country Status (2)
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JP (1) | JPH01226798A (de) |
DE (1) | DE3803769A1 (de) |
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