DE3741827C2 - - Google Patents

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DE3741827C2
DE3741827C2 DE19873741827 DE3741827A DE3741827C2 DE 3741827 C2 DE3741827 C2 DE 3741827C2 DE 19873741827 DE19873741827 DE 19873741827 DE 3741827 A DE3741827 A DE 3741827A DE 3741827 C2 DE3741827 C2 DE 3741827C2
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Hans-Peter Willi Dipl.-Ing. 7039 Weil Im Schoenbuch De Puttkammer
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ADTEC SOFT- und HARDWARE ENTWICKLUNGSGESELLSCHAFT MBH 7039 WEIL DE
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ADTEC SOFT- und HARDWARE ENTWICKLUNGSGESELLSCHAFT MBH 7039 WEIL DE
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks

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DE3741827A1 (de) 1989-06-22

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