DE3731009A1 - Verfahren und vorrichtung zur fluessigphasenepitaxie - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur fluessigphasenepitaxieInfo
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- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B19/00—Liquid-phase epitaxial-layer growth
- C30B19/06—Reaction chambers; Boats for supporting the melt; Substrate holders
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Description
Vielfach werden in der modernen Elektronik für Anzeigen
zwecke Leuchtdioden benötigt, die meist aus einem Ele
ment der dritten Gruppe des Periodensystems wie Al, Ga,
In und meist aus einem Element der fünften Gruppe des
Periodensystems wie P, As, Sb zusammengesetzt sind. Die
aus dem Lumineszenzmaterial herauskommende Strahlung
liegt je nach Dotierung und Zusammensetzung im sichtba
ren wie auch im infraroten Bereich. Technologisch be
herrscht werden Verbindungen wie GaP, GaAs und GaAlAs,
deren p-n-Übergänge vielfach mittels Flüssigphasenepi
taxie hergestellt werden. Der für den Aufbau von Lumines
zenzdioden erforderliche p-n-Übergang wird z. B. bei
GaAs dadurch hergestellt, daß auf GaAs-Substrate bei
erhöhter Temperatur eine Schmelze aus Ga und z. B. dem
Dotierstoff Si aufgebracht wird, die das GaAs teilweise
auflöst und bei Verwendung tieferer Temperaturen das
dotierte GaAs wieder abscheiden läßt. Der Dotierstoff
Silizium wird dann bei den erhöhten Temperaturen auf
Gallium-Gitterplätzen eingebaut, was n-Leitung verur
sacht, während er bei den niedrigeren Temperaturen durch
den amphoteren Charakter des Siliziums auf Arsen-Gitter
plätzen sich einbaut, was eine p-leitende Epitaxie
schicht zur Folge hat.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfah
ren zur Flüssigphasenepitaxie anzugeben, welches mit
einfachen Vorrichtungen die epitaktische Abscheidung von
Schichten mittels der Flüssigphasenepitaxie ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren zur Flüssigpha
senepitaxie durch die kennzeichnenden Merkmale des An
spruchs 1 gelöst.
Die Erfindung wird im folgenden an Ausführungsbeispielen
erläutert.
Die Fig. 1 zeigt eine Vorrichtung zur Flüssigphasen
epitaxie nach der Erfindung. Bei der Vorrichtung der
Fig. 1 liegt auf einer unteren Platte 1 eine obere
dickere Platte 2, welche durch einen Distanzring 3 in
einem bestimmten Abstand zur Platte 1 gehalten wird. Die
Platten 1 und 2 bestehen beispielsweise aus Graphit. Auf
der unteren Platte 1 befindet sich, von dem z. B. aus
Graphit bestehenden Distanzring 3 umgeben, eine Substrat
scheibe 4. In der oberen Platte 2 ist die Schmelze 5 in
einer Ausnehmung angeordnet, die über einen Verschluß,
bestehend aus dem Halter 7 und der Ventilstange 8, durch
eine Bohrung 10 mit dem Raum über der Substratscheibe 4
verbunden ist. Außerdem befinden sich seitlich von der
Schmelze 5 zwei oder mehrere Hohlräume oder eine kreis
förmige Ausnehmung 11 in der oberen Platte 2, die mit
einer Substanz 6 wie Flüssigkeit oder festem Körper oder
Gas gefüllt sind (ist). Auf dieser Substanz 6 (z. B.
Flüssigkeit) liegt ein Halter 7 auf, an dem eine ein
stellbare Ventilstange 8 mit der Ventilstangenfeststell
schraube 9 befestigt ist, die mit ihrem unteren Ende
mehr oder weniger tief in die Bohrung 10 hineinragt, die
den Schmelzraum mit dem über dem Substrat 4 liegenden
Raum 12 verbindet. Bei entsprechender Wärmezuführung
dehnt sich die Flüssigkeit oder der Festkörper oder das
Gas in den durch den Halter 7 geschlossenen Zylindern
oder der geschlossenen Ausnehmung 11 aus, was eine Ver
schiebung des Halters 7 nach oben bewirkt. Bei entspre
chender Stellung des Halters 7 gibt die daran befestig
te, in der Höhe verstellbare Ventilstange 8 den Weg der
Schmelze 5 zu dem Substrat 4 frei. Die mehr oder minder
große einstellbare Länge der Ventilstange mittels der
Ventilstangenfeststellschraube 9 bestimmt dabei bei ei
ner Temperaturerhöhung den Einlaufzeitpunkt der Schmel
ze 5 auf das Substrat 4. Dieser Vorgang erfolgt, wie
oben beschrieben, ohne irgendwelche, von außen betätig
te mechanische Hilfsmittel. Selbstverständlich kann die
beschriebene Vorrichtung auch mehrfach über-, neben
oder hintereinander angeordnet werden, so daß viele Sub
stratscheiben gleichzeitig epitaxiert werden können.
Im folgenden wird ein Epitaxieverfahren beschrieben, bei
dem mittels der Vorrichtung der Fig. 1 Substratscheiben
aus Galliumarsenid mit einer Gallium-Schmelze, dotiert
mit Si, in Kontakt gebracht werden. Auf der unteren
Graphitplatte 1 ist ein Galliumarsenidsubstrat 4 inner
halb eines Graphitringes 3 angebracht, der einen gerin
gen Abstand der Platte 1 zu der oberen Platte 2 ein
stellt und ein Auslaufen der Schmelze verhindert. In die
Füllräume des Zylinders 6 der Platte 2 wird z. B. Ga
eingefüllt, der Halter 7 aufgesetzt und die an dem Hal
ter 7 mit der Ventilstangenfeststellschraube befestigte
Ventilstange längenmäßig so eingestellt, daß die Ver
schlußvorrichtung bei Einfüllen der Schmelze 5 geschlos
sen ist. In die Platte 2 wird anschließend durch eine
Öffnung im Halter 7 die Schmelze 5, bestehend aus z. B.
Ga, dem Dotierstoff Silizium und je nach Auflösung des
Substrats auch eventuell Galliumarsenid, eingefüllt.
Dann wird diese Anordnung in einen Epitaxieofen gebracht,
der mit Stickstoff oder mit Wasserstoff, durch eine
Palladiumzelle gereinigt, während des Epitaxievorgangs
gespült wird. Der Ofen wird auf ca. 600°C aufgeheizt
und die Schmelze bei dieser Temperatur ausgeheizt und
vermischt. Danach wird die Temperatur auf eine günstige
Einlauftemperatur wie z. B. 750°C gebracht, bei der die
Schmelze auf das Substrat läuft. Bei dieser Temperatur
wird der Halter 7 durch das sich ausdehnende Gallium in
den Zylindern 6 so weit hochgedrückt, daß die dadurch
entstehende Kraft über den Halter 7 auf die daran be
festigte Ventilstange übertragen wird, die sich anhebt
und die vorher verschlossene Bohrung 10 zum Einlaufen
der Schmelze auf das Substrat freigibt. Anschließend
wird die Temperatur je nach gewünschter Dicke der Epi
taxieschicht und der Anlösung auf z. B. 900°C erhöht
und danach wieder kontinuierlich abgesenkt, wobei die
gewollte Galliumarsenid-Epitaxieschicht mit der gewünsch
ten Si-Dotierung zur Bildung eines p-n-Überganges auf
dem Substrat 4 aufwächst.
Die Fig. 2 zeigt eine weitere Vorrichtung zur Flüssig
phasenepitaxie gemäß der Erfindung, bei der der Schmelz
raum mit der Schmelze 5 durch einen Deckel 13, z. B.
mittels Schrauben 14, geschlossen wird. Die Vorrichtung
der Fig. 2 weist ebenfalls die vorteilhaften Eigenschaf
ten der Vorrichtung der Fig. 1 auf. Die Verbindung des
Schmelzraumes 15 mit dem Substratraum 12 wird durch ein
in der Schmelze 5 nicht lösliches Verschlußteil 16 ver
schlossen. Das Verschlußteil 16, welches beispielsweise
aus einer Graphitplatte besteht, wird mittels eines Hal
ters 17 in seiner Lage fixiert.
Die Freigabe der Austrittsöffnung 10 wird bei der Vor
richtung der Fig. 2 dadurch bewirkt, daß die Graphit
platte 16 durch Ausdehnung der Schmelze bei einer erhöh
ten Temperatur infolge eines Überdruckes gebrochen wird.
Dabei kann die Schmelze 5 durch die freigegebene Öffnung
10 zum Substratraum 12 und damit auch zum Substrat 4
gelangen. Maßgebend für das Brechen der Platte 6 ist
die Ausdehnung des Schmelzmaterials 5 bei einer be
stimmten Temperatur, die Ausdehnung des Materials des
Plättchens 6 (z. B. Graphit), die Dicke des Plättchens 6
und das Volumen des nicht mit Schmelze erfüllten Raumes
über der Schmelze 5.
Im folgenden wird ein Epitaxieprozeß zur Abscheidung von
GaAs mit Si-Dotierung unter Verwendung der in der Fi
gur 2 gezeigten Vorrichtung beschrieben. Das Substrat 4,
bestehend aus Galliumarsenid, wird an der Platte 1 ange
bracht. Ein Schmelzenaufnahmekörper 2, der in der Praxis
plattenförmig ausgebildet ist, wird durch einen Distanz
ring 3 in einem bestimmten Abstand parallel zur Platte 1
gehalten. In eine Ausnehmung in der oberen Platte 2 wird
die Schmelze 5 eingefüllt. Der Schmelzraum 15 ist über
eine Bohrung 10, die durch eine in einem Halter 17 ange
ordnete Graphitplatte zunächst abgedeckt wird, mit dem
Substratraum 12 verbunden. Die Vorrichtung der Fig. 2
wird in einen mit einem geeigneten Schutzgas wie Wasser
stoff gespülten Epitaxieofen gebracht, dessen Temperatur
dann auf ca. 600°C zum Ausheizen und Durchmischen der
Schmelze erhöht wird. Die Temperatur im Epitaxieofen
wird anschließend auf 750°C, der Einlauftemperatur der
Schmelze, erhöht, wobei der Flüssigkeitsdruck der Schmel
ze durch Ausdehnung der Schmelze so groß wird, daß das
Graphitplättchen 6 bricht und den Weg der Schmelze zu
der Substratscheibe 4 freigibt. Die Vorrichtung der
Fig. 2 hat den Vorteil, daß Materialien als Plättchen
material verwendet werden können, die sich nicht in der
Schmelze aufzulösen brauchen und daher keine Zugaben
oder Beimengungen stattfinden.
Claims (14)
1. Verfahren zur Flüssigphasenepitaxie, bei dem eine
Schmelze, die sich in einem mit einer verschließbaren
Austrittsöffnung versehenen Behälter befindet, mit einem
Substrat in Berührung gebracht und dadurch eine epitak
tische Schicht auf dem Substrat hergestellt wird, da
durch gekennzeichnet, daß ein Verschlußteil für die Aus
trittsöffnung mittels einer durch Wärmeeinwirkung aus
dehnbaren flüssigen, gasförmigen oder festen Substanz
oder bei entsprechender Wärmeeinwirkung durch Ausdehnung
der Schmelze betätigt und durch die damit verbundene
Freigabe der Austrittsöffnung das Einfließen der Schmel
ze auf das Substrat ermöglicht wird.
2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach An
spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Behälter für
die Schmelze vorgesehen ist, der eine Austrittsöffnung
für die Schmelze aufweist, die durch ein Verschlußteil
verschließbar ist, und daß dieses Verschlußteil mit
einer Hebevorrichtung verbunden ist, die durch eine bei
Wärmeeinwirkung sich ausdehnende Substanz derart ver
schiebbar ist, daß durch das Verschieben das mit der
Hebevorrichtung verbundene Verschlußteil die Austritts
öffnung für die Schmelze freigibt.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Grundplatte für die Aufnahme des Substrats vor
gesehen ist, daß über dieser Grundplatte im Abstand von
ihr ein plattenförmiger Körper vorgesehen ist, der eine
Ausnehmung für die Aufnahme der Schmelze sowie eine Aus
trittsöffnung für die Schmelze aufweist, daß der platten
förmige Körper eine oder mehrere Ausnehmungen für die
dehnbare Substanz aufweist und daß ein Hebeteil vorge
sehen ist, welches in die Ausnehmung(en) für die dehn
bare Substanz eingreift, beim Ausdehnen dieser Substanz
gehoben wird und durch das Heben ein mit ihm verbundenes
Verschlußteil aus der Austrittsöffnung für die Schmelze
schiebt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß diametral zueinander liegende Ausnehmungen
für die dehnbare Substanz vorgesehen sind und daß die
Hebevorrichtung in den Ausnehmungen gelagert ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Hebevorrichtung bei Vorhandensein von zwei Aus
nehmungen für die dehnbare Substanz einen U-förmigen
Querschnitt aufweist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß nur eine Ausnehmung für die dehnbare Sub
stanz vorgesehen ist, daß diese Ausnehmung konzentrisch
um die Ausnehmung für die Schmelze angeordnet ist und
daß die Hebevorrichtung topfförmig ausgebildet ist.
7. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach An
spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Behälter für
die Schmelze vorgesehen ist, der eine Austrittsöffnung
für die Schmelze aufweist, welche mit einem Verschluß
teil versehen ist, und daß das Verschlußteil derart aus
gebildet ist, daß es bei entsprechender Ausdehnung der
Schmelze infolge Wärmeeinwirkung durch Druckeinwirkung
bricht.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß das Verschlußteil für die Austrittsöffnung platten
förmig ausgebildet ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Verschlußteil aus Graphit besteht.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß das Verschlußteil in einer
Halterung fixiert ist.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 10, da
durch gekennzeichnet, daß der Behälter für die Schmelze
durch einen Deckel verschließbar ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeich
net, daß der Behälterdeckel mittels Schrauben verschließ
bar ist.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 12, da
durch gekennzeichnet, daß der Behälter für die Schmelze
aus einem plattenförmigen Körper besteht, der eine Aus
nehmung für die Schmelze sowie eine Auftrittsöffnung
aufweist, und daß eine Auflagefläche für das über der
Austrittsöffnung befindliche Verschlußteil vorgesehen
ist.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 13, da
durch gekennzeichnet, daß eine Auflagefläche für die
Halterung zum Fixieren des Verschlußteils vorgesehen
ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873731009 DE3731009A1 (de) | 1987-09-16 | 1987-09-16 | Verfahren und vorrichtung zur fluessigphasenepitaxie |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873731009 DE3731009A1 (de) | 1987-09-16 | 1987-09-16 | Verfahren und vorrichtung zur fluessigphasenepitaxie |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3731009A1 true DE3731009A1 (de) | 1989-03-30 |
DE3731009C2 DE3731009C2 (de) | 1990-10-25 |
Family
ID=6336079
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873731009 Granted DE3731009A1 (de) | 1987-09-16 | 1987-09-16 | Verfahren und vorrichtung zur fluessigphasenepitaxie |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3731009A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103290477A (zh) * | 2013-06-21 | 2013-09-11 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种制备InAsSb薄膜的液相外延装置和方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2312288A1 (fr) * | 1975-05-30 | 1976-12-24 | Philips Corp | Contact electrique resistant aux temperatures elevees et destine a l'epitaxie en phase liquide par effet peltier sur des composants de gallium iii-v |
DE2114645B2 (de) * | 1970-04-02 | 1980-01-10 | N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven (Niederlande) | Verfahren zum epitaktischen Aufwachsen einer Halbleiterverbindung |
-
1987
- 1987-09-16 DE DE19873731009 patent/DE3731009A1/de active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2114645B2 (de) * | 1970-04-02 | 1980-01-10 | N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven (Niederlande) | Verfahren zum epitaktischen Aufwachsen einer Halbleiterverbindung |
FR2312288A1 (fr) * | 1975-05-30 | 1976-12-24 | Philips Corp | Contact electrique resistant aux temperatures elevees et destine a l'epitaxie en phase liquide par effet peltier sur des composants de gallium iii-v |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JP 59 1 16 190 A. In: Patents Abstracts of Japan, C-249, Oct.30, 1984, Vol.8, No.236 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103290477A (zh) * | 2013-06-21 | 2013-09-11 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种制备InAsSb薄膜的液相外延装置和方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3731009C2 (de) | 1990-10-25 |
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