DE3689648T2 - Kompensationsmethode zum Korrigieren von thermisch induzierten Aus-Spur-Fehlern in Plattenantrieben. - Google Patents

Description

• Diese Erfindung betrifft allgemein Magnetplattenspeichergeräte und insbesondere den wärmeausgleich im Positionierungssystem des Meßwandlers in einem Plattenlaufwerk.
• Plattenlaufwerkgeräte dienen zur Aufzeichnung und Wiedergabe von auf konzentrischen kreisförmigen Spuren gespeicherten Informationen, wobei diese Spuren auf Magnetplatten aufgezeichnet sind. Die Spuren werden von einem magnetischen Meßwandler beschrieben und gelesen, der mit der Plattenoberfläche kooperiert. Viele der heutigen plattenlaufwerke verwenden von Schrittmotoren angetriebene Seilscheiben-Mechanismen, um die Lese-/Schreibköpfe zu positionieren. So ist beispielsweise eine detaillierte Darstellung eines Plattenlaufwerks und insbesondere des linearen Stellantriebs zur Positionierung der Köpfe im Abgleich mit einer ausgewählten Spur auf einer Platte in unserem U.S.-Patent 4,323,939 zu finden; eine Darstellung eines Dreh-Stellantriebs, der durch einen Schrittmotor positioniert wird, ist in unserer EP-A-016261 zu finden.
• Solche Laufwerke setzen die Drehbewegung der Schrittmotor- Welle in eine lineare oder rotierende Bewegung eines Schlittens um, der die von einem Ende des Schlittens getragenen Meßwandler über die Platte bewegt, um die auf konzentrischen kreisförmigen Plattenspuren befindlichen Daten zu lesen und aufzuzeichnen. Das Antriebsseil ist um die an der Welle befestigte Motorwellenscheibe geführt und ist an seinen Enden am Schlitten befestigt. Die Drehung der Wellen wickelt ein Seilende um die Scheibe und wickelt das andere Seilende ab, wodurch der Schlitten den Kopf von Spur zu Spur bewegt.
• Die Forderungen der Industrie nach größeren Speicherkapazitäten in immer kleineren physikalischen Paketgrößen machen es erforderlich, daß die Spuren so nah zueinander beabstandet sind wie irgend möglich.
• Dadurch entsteht jedoch das Problem, daß die Köpfe in bezug auf jede Spur sehr genau positioniert werden müssen, so daß die Köpfe nicht auf einer falschen Spur oder zu weit entfernt von der Mittellinie einer gewünschten Spur landen. Eine besonders schwierige Situation tritt bei relativ preisgünstigen, starren Plattenlaufwerken auf; um eine bedeutende Reduzierung der Kosten und Komplexität zu erzielen, wie dies durch die Wettbewerbssituation des Geschäfts verlangt wird, ist in den Stellantrieb des Kopfes, der den Meßwandler auf die jeweiligen Spuren positioniert, keine Positionierungssteuerung mit geschlossenem Wirkungskreis eingebaut.
• Daher ist ein Ziel dieser Erfindung, einen Positionierungsmechanismus für das Plattenlaufwerk bereitzustellen, der Positionierungsfehler auch ohne geschlossenes Rückkopplungssteuerungssystem auf ein Minimum reduziert.
• Aufgrund der groben Bandbreite der Betriebskonfigurationen, in denen ein Plattenlaufwerk eingesetzt werden kann, wurde festgestellt, daß eine der kritischen Quellen für Spurfehler bei der Positionierung des Kopfes in bezug auf die gewünschte Spur in der thermischen Ausdehnung und Zusammenziehung der verschiedenen Komponenten bei Veränderungen der Umgebungstemperatur liegt. Dies ist auf die Tatsache zurückzuführen, daß es sehr schwierig ist, den jeweiligen thermischen Ausdehnungskoeffizienten der verschiedenen Materialien gerecht zu werden, die bei der Konstruktion des Plattenlaufwerks verwendet werden müssen, insbesondere für deren Grundplatte, den Wellenmotor und den Positionierungs-Stellantrieb für den Meßwandler. Wie bereits erwähnt, ist das thermische Spurfehler-Problem besonders schwerwiegend in einem Antrieb mit offenem Regelkreis, der in der Industrie für kostengünstigere starre Platten üblich ist; es gibt keinen Spurfolge-Steuerungsmechanismus, der gewährleistet, daß der Kopf mittig auf der gewünschten Spur positioniert wird, oder der angibt, daß diese Spur eingehalten wurde. Das Spurfehlerproblem, das durch Schwankungen der Umgebungstemperatur verursacht werden kann, wird erst ersichtlich, wenn Daten nicht korrekt gelesen oder geschrieben werden, und selbst dann existiert keine inhärente Selbstkorrektur-Einrichtung.
• Es ist daher ein Ziel dieser Erfindung, ein Plattenlaufwerk mit Mitteln bereitzustellen, um thermisch bedingte Spurfehler einzuschränken.
• Thermische Spurfehler können beispielsweise dadurch korrigiert werden, indem zusätzliche Komponenten mit verschiedenen thermischen Ausdehnungskoeffizienten in den Positionierungsmechanismus eingebaut werden; dies führt jedoch typischerweise zu erhöhten Gerätekosten.
• Bisher wurde auf thermische Spurfehler bei offenem Regelkreis mit Verfahren eingegangen, wie sie in US-A-3,412,386 dargestellt sind, wobei der Meßwandlerkopf stationär über einer Nullspur positioniert ist und von dieser Position aus die Signale ungleich Null erfassen kann, die von den Spuren kommen, die dicht an der Nullspur liegen. Das Vorhandensein dieser Signale ungleich Null zeigt Spurfehler an. In dieser Darstellung wird jedoch kein Kompensierungsverfahren beschrieben.
• In EP-A-0162614 wird ein Kompensierungsverfahren beschrieben, das mit dem gleichen Erfassungsverfahren arbeitet, wie es im U.S.-Patent Nr. 3,412,386 dargestellt ist. EP-A-0162614 fordert auch, daß der Meßwandlerkopf so über einer Nullspur positioniert werden muß, daß der Meßwandlerkopf bei sich drehender Platte stationär bleibt und Kompensierung bewirkt wird.
• Ein Ziel dieser Erfindung besteht darin, ein verbessertes Kompensierungssystem für thermisch bedingte Spurfehler bereitzustellen.
• Um die Kosten der zusätzlichen Komponenten zu minimieren, besteht ein Ziel dieser Erfindung darin, die im Plattenlaufwerkssystem bereits vorhandene Positionierungselektronik zu verwenden, um ein Kompensierungsverfahren für thermisch bedingte Spurfehler bereitzustellen, die aufgrund von Änderungen der Umgebungstemperatur entstehen.
• Diese Erfindung stellt ein Verfahren zur Korrektur thermisch bedingter Spurfehler in einem Plattenlaufwerk mit einer sich drehenden Platte mit mehreren voneinander beabstandeten kreisförmigen Spuren zur Speicherung aufgezeichneter Daten und Stellantriebsmitteln für den Zugriff auf die Daten bereit, einschließlich eines Schlittens, Mitteln zur Montage eines Meßwandlers auf einem Ende des Schlittens und neben dem Umfang der sich drehenden Platte gelegenen Mitteln zum Antreiben und Positionieren des Schlittens entlang eines vorbestimmten Pfades, um den Meßwandler in bezug auf die Platte und die Spuren zu positionieren, wobei dieses Verfahren folgende Schritte aufweist: Definierung einer ausgewählten Prüfspur und einer Referenzspur auf mindestens einer Seite der Prüfspur auf dieser Platte, wobei beide Spuren so angeordnet sind, daß vom Benutzer nicht auf sie zugegriffen werden kann, Positionierung des Meßwandlers auf die Prüfspur und Bestimmung einer Korrektur der Spursteuerung in Übereinstimmung mit einem von der Referenzspur empfangenen Referenzsignal; dabei wird nach der Positionierung des Meßwandlers auf der Prüfspur der Meßwandler in festgelegten Inkremental-Mikroschritten von der Prüfspur in Richtung auf die Referenzspur bewegt, wobei die Mikroschritte wesentlich kleiner sind als der Nennabstand zwischen den beiden Spuren, das Referenzsignal wird erfaßt, die Anzahl der Mikroschritte, die erforderlich sind, um den Meßwandler von der Prüfspur bis zur Erfassung des Referenzsignals zur Referenzspur zu bewegen, wird dazu verwendet, die thermische Abweichung des Meßwandlers in bezug auf die Spuren auf der Platte zu bestimmen, und die Daten der bestimmten thermischen Abweichung werden auf nachfolgende Überprüfungen derjenigen Datenspuren angewendet, auf die der Benutzer zugreifen kann.
• Genauer gesagt wird eine thermische Prüfspur außerhalb des Plattenbereichs definiert, auf den der Benutzer zugreifen kann, und eine Spur mit einer bekannten Frequenz wird dann zu beiden Seiten dieser thermischen Prüfspur aufgezeichnet, die vorzugsweise von dieser im halben normalen Spurabstand entfernt ist. Um die thermische Kompensierungskonstante zu ermitteln, wird der Meßwandler auf die thermische Prüfspur bewegt, ohne daß dabei eine Kompensierung erfolgt. Auf diese Weise wird jeder thermisch bedingte Spurfehler, durch den eine Beeinträchtigung der Positionierungen auf Datenspuren entsteht, auf die vom Benutzer zugegriffen werden kann, als Spurabweichung von der Nennposition der thermischen Prüfspur wiedergegeben. Der Meßwandler wird anschließend in einer Reihe von bestimmten Inkrementalschritten oder "Mikroschritten", die kleiner sind als die normalen Schritte von Spur zu Spur, von der nicht kompensierten Position auf der thermischen Spur auf eine der Spuren bewegt, auf denen die bekannte Frequenz aufgezeichnet ist. Wenn die Daten auf der beschriebenen Spur auf der einen Seite der thermischen Prüfspur erfaßt werden, wird die Anzahl der Mikroschritte notiert, um die der Meßwandler bewegt wurde. Der Meßwandler wird dann in Inkremental-Mikroschritten in die andere Richtung bewegt, bis die auf der anderen Seite der thermischen Prüfspur aufgezeichneten Daten erfalt werden. Ein einfacher Vergleich zwischen der Anzahl dieser beiden Mikroschrittvorgänge ergibt die bestehende thermische Abweichung, die mittels einer einfachen Tabelle in eine thermische Kompensierungskonstante für den Positionierungsmechanismus des Meßwandlers umgesetzt werden kann.
• Natürlich wird für die Durchführung dieser thermischen Korrekturfunktion einige Zeit benötigt. Um die bei der Durchführung dieser Funktion beim Positionierungsvorgang verlorene Zeit auf ein Mindestmaß zu beschränken, wird daher in einer bevorzugten erfindungsgemäßen Ausführungsform die Funktion nur dann ausgeführt, wenn ein Thermistor, der in das Plattenlaufwerk eingebaut ist, eine Veränderung der Umgebungstemperatur von beispielsweise 5-10 registriert.
• Die Erfindung ist im Zusammenhang mit ihren Vorteilen und Merkmalen unter Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen besser verständlich, wobei:
• Fig. 1 eine Planansicht eines durch einen Schrittmotor angetriebenen Stellgliedes und einer Datenaufzeichnungsplatte darstellt, in die diese Erfindung eingebaut werden kann;
• Fig. 2 eine Übersicht eines Beispiels der thermischen Prüfspur und der benachbarten Datenspuren ist, die im thermischen Kompensierungssystem dieser Erfindung verwendet werden;
• Fig. 3 ein einfaches Blockschaltbild der elektrischen Elemente im Plattenlaufwerks-Steuersystem ist, die zur Ausführung der Bediensequenz dieser Erfindung verwendet werden; und
• Fig. 4 ein Fließdiagramm der Schrittfolge darstellt, die verwendet wird, um die thermische Kompensierung und Korrekturmerkmale dieser Erfindung zu bewirken.
• Insbesondere wird auf Fig. 1 verwiesen, in der ein Meßwandler 10 dargestellt ist, der auf einer an einem Stellantriebs-Arm 21 befestigten Biegung 20 montiert ist, um mittels einer Bewegung eines Antriebarms 32 auf jeder Datenspur einer Platte 12 positioniert zu werden. Die Platte 12 wird von einem Wellenmotor 25 in konstanter Drehung angetrieben. Die Positionierung des Stellantriebs erfolgt durch den Schrittmotor 30, der eine Scheibe 36 antreibt, die über ein flexibles Band 38 mit den Kopfteilen 19a, 19b des Stellantriebs-Arms 32 verbunden ist. Wenn sich die Motorscheibe 36 dreht, werden die Abschnitte des flexiblen Bands 38 auf der Scheibe 36 auf- und abgewickelt, wodurch der Meßwandler 10 von Spur zu Spur bewegt wird. Der Vorgang wird vom Mikroprozessor 40 gesteuert, der in einer Ecke des Plattenlaufwerks schematisch dargestellt ist; er stellt die Steuersignale zum Schrittmotor 30 auf extern empfangene Positionierungsbefehle bereit. Solche Positionierungsbefehle werden immer dann empfangen, wenn der Meßwandler von seiner aktuellen Position auf eine neu addressierte Spur bewegt werden soll.
• In Fig. 2 wird in einem Bereich auf der Plattenoberfläche, auf den der Benutzer der Platte nicht zugreifen kann, eine thermische Prüfspur definiert, in diesem Beispiel außerhalb der Spur 0 (d. h. in Richtung auf den äußeren Umfang der Platte 12). Wie in Fig. 2 im einzelnen dargestellt, ist die thermische Prüfspur in diesem Beispiel die Spur -3. Ein konstanter Frequenzpegel, der in diesem Fall mit 1,8 MHz gewählt wurde, wird zu jeder Seite der Spur im halben Spurabstand zur Mittellinie der thermischen Prüfspur aufgezeichnet.
• Wie vorher bereits erwähnt, wäre es unpraktisch, den thermischen Kompensierungsfaktor für jeden einzelnen Positionierungsvorgang zu bestimmen. Dies würde den Benutzerzugriff auf das Plattenlaufwerk erheblich verlangsamen. Statt dessen ist ein Satz einer Temperaturerfassungs-Logik eingebaut, die im allgemeinen als Thermistorschaltungen 72 in Fig. 3 dargestellt wird. Die Thermistorschaltungen 72 enthalten einen Thermistor oder eine andere Temperaturerfassungs-Vorrichtung sowie den dazugehörigen Stromkreis und stellen fest, wann eine Temperaturveränderung eingetreten ist, die einen vorbestimmten kennzeichnenden Bereich überschreitet. Dieser Bereich wurde in diesem Beispiel in 5 Intervalle unterteilt. Wenn die Temperaturüberwachungs-Schaltung feststellt, daß die Betriebstemperatur über diesen Bereich von 5 hinaus gestiegen oder gefallen ist, wird in den Thermistorschaltungen 72 ein logischer Merker gesetzt und bleibt dort gesetzt, bis er vom Mikroprozessor 40 bestätigt und gelöscht wird. Diese Bestätigung tritt erst dann ein, wenn der Host-Computer im System, der Bit dem Plattenlaufwerk arbeitet, an das Plattenlaufwerk den Befehl gibt, eine neue Spur zu suchen.
• Dieser Ereignisablauf ist vielleicht in Zusammenhang mit dem Fließdiagramm in Fig. 4 am besten zu verstehen. Nach Erhalt des Positionierungsbefehls 70 ruft der Mikroprozessor den logischen Merker in den Thermistorschaltungen 72 ab, um zu bestimmen, ob sich die Betriebstemperatur des Plattenlaufwerks seit dem letzten, vorhergehenden Positionierungsbefehl (Schritt 71) wesentlich (um mehr als 5) geändert hat. Wie das Fließdiagramm in Fig. 3 zeigt, wird, falls keine bedeutende Temperaturveränderung eingetreten ist (d. h. es ist kein Merker gesetzt), vom Plattenlaufwerk die Positionierung auf die adressierte Spur (Schritt 90) vorgenommen, wobei die zuletzt erhaltene thermische Korrektur angewendet wird (Schritt 92). Wenn jedoch ein Merker gesetzt ist, löscht der Mikroprozessor den Merker (Schritt 72) und gibt die Sequenz zur Bestimmung eines neuen thermischen Kompensierungsfaktors durch die Initiierung einer spezifischen Positionierung auf die thermische Prüfspur 60 (Schritt 73) ein.
• Wenn der Kopf ohne jede Kompensierung der thermischen Ausdehnung oder Zusammenziehung zur thermischen Prüfspur 60 bewegt wird, wird er immer noch zwischen den beiden Prüfdatenspuren (62, 64 in Fig. 2) positioniert, auf die die bekannte Frequenz vorher aufgezeichnet wurde.
• Sobald der Kopf bei Spur 60 gelandet ist, erfolgt der erste Mikroschritt auf eine der speziellen Datenspuren 62, 64 hin, wie in Block 74 gezeigt. Der Frequenzdiskriminator 50 wird, wie in Schritt 76 gezeigt, abgelesen. Wird ein oberer Pegel erkannt, hat der Kopf die Prüfdatenspur 62 oder 64 bereits erreicht und die zur Erreichung dieser Position erforderliche Schrittanzahl wird gespeichert. Wie im Entscheidungsblock 78 gezeigt ist, erfolgt, falls noch keine Daten gelesen wurden, ein weiterer Schritt und die Sequenz kehrt zu Block 74 zurück. Nur vier Schritte erfolgen auf der Suche nach dem aufgezeichneten Datenpegel, da eine Reihe von vier Mikroschritten, von denen jeder 3% des Abstandes von Spur zu Spur entspricht, 12% des Abstandes zwischen den einzelnen Spuren ausmachen (bzw. 24% des Abstandes zwischen der thermischen Prüfspur 60 und den Prüfdatenspuren 62, 64), und die mechanische Konstruktion des Plattenlaufwerks so ausgelegt ist, daß größere Fehler nicht thermischer Natur sein können.
• Eine nähere Betrachtung von Fig. 2 wird dies noch verdeutlichen. In Plattenlaufwerken, die nach dem bekannten Stand der Technik konstruiert sind, befindet sich zwischen benachbarten Spuren ein Sicherungsstreifen, der etwa 20% des Abstandes von Spur zu Spur entspricht. Betrachtet man die Prüfdatenspuren 62, 64 als normale Datenspuren, dann befindet sich die thermische Prüfspur 60 in der Mitte des Sicherheitsstreifens zwischen den beiden aufgezeichneten bekannten Frequenzen, wobei sich maximal 10% dieses Sicherheitsstreifens zu beiden Seiten der Nennposition der thermischen Prüfspur befinden.
• Nach der Lokalisierung der ersten der beiden Prüfdatenspuren kehrt die Mikroschritt-Vorrichtung wieder zur thermischen Spur 60 zurück und nimmt die Mikroschritte auf der Suche nach einer beschriebenen Datenspur in die entgegengesetzte Richtung vor. Dieser Vorgang ist in den Blocks 81, 82 dargestellt. Bei jedem Mikroschritt in Richtung auf die entgegengesetzte Prüfdatenspur wird der Frequenzdiskriminator wiederum abgelesen, wie dies in Schritt 84 gezeigt ist, und auf einen oberen Pegel abgesucht, wie in Schritt 86 dargestellt. Wenn die Prüfdatenspur gefunden wurde, wird die Anzahl der Mikroschritte gespeichert. Aufgrund der Daten, die aus diesen Sequenzen von Meßwandler-Schritten und vom Frequenzdiskriminator 50 erzeugten Ablesewerten gespeichert wurden, kann eine thermische Korrektur in Schritt 88 berechnet werden.
• Der Meßwandler 10 wird dann zur Befehlsspur bewegt, wie in Block 90 dargestellt. Wenn die Spur erreicht wird, wird die ermittelte thermische Korrektur angewendet, wie in Schritt 92 gezeigt, um den Meßwandler 10 exakt über der Spur zu positionieren.
• Die Positionierungssequenz ist damit abgeschlossen und die thermische Korrektur gespeichert, so daß in jedem Fall bis zum Eintreten einer anderen bedeutenden Abweichung der Umgebungstemperatur immer die gleiche thermische Korrektur angewendet werden kann.
• Ein Fachmann der Technik für Plattenlaufwerke, der diese Darstellung der Erfindung aufmerksam liest, wird feststellen, daß Modifizierungen hinsichtlich der vorher beschriebenen bevorzugten Ausführungsform durchgeführt werden können. So kann beispielsweise eine Spur mit Prüfdaten nur auf einer Seite der thermischen Prüfspur 60 aufgezeichnet werden, oder die Ermittlung einer thermischen Kompensierungskonstante kann in regelmäßigen Zeitabständen anstatt bei Eintreten bedeutender Veränderungen der Umgebungstemperatur durchgeführt werden. Daher darf der Anwendungsbereich der vorliegenden Erfindung nur durch die folgenden Ansprüche begrenzt werden.

Claims (10)

1. Verfahren zur Korrektur thermisch bedingter Spurfehler in einem Plattenlaufwerk mit einer sich drehenden Platte (12) mit mehreren voneinander beabstandeten kreisförmigen Spuren zur Speicherung eingegebener Daten und Stellantriebsmitteln für den Zugriff auf die Daten, einschließlich eines Schlittens, Mitteln zur Montage eines Meßwandlers (10) auf einem Ende des Schlittens und neben dem Umfang der sich drehenden Platte gelegenen Mitteln zum Antreiben und Positionieren des Schlittens entlang eines vorbestimmten Pfades, um den Meßwandler in bezug auf die Platte und die Spuren zu positionieren, wobei dieses Verfahren folgende Schritte aufweist: Definierung einer ausgewählten Prüfspur und einer Referenzspur auf mindestens einer Seite der Prüfspur auf dieser Platte (12), wobei beide Spuren so angeordnet sind, daß vom Benutzer nicht auf sie zugegriffen werden kann, Positionierung des Meßwandlers (10) auf die Prüfspur und Bestimmung einer Korrektur der Spursteuerung in Übereinstimmung mit einem von der Referenzspur empfangenen Referenzsignal, dadurch gekennzeichnet, daß nach der Positionierung des Meßwandlers auf der Prüfspur der Meßwandler in festgelegten Inkremental-Mikroschritten von der Prüfspur in Richtung auf die Referenzspur bewegt wird, wobei die Mikroschritte wesentlich kleiner sind als der Nennabstand zwischen den beiden Spuren, daß das Referenzsignal erfaßt wird, daß die Anzahl der Mikroschritte, die erforderlich sind, um den Meßwandler von der Prüfspur bis zur Erfassung des Referenzsignals zur Referenzspur zu bewegen, dazu verwendet wird, die thermisch bedingte Abweichung des Meßwandlers in bezug auf die Spuren auf der Platte (12) zu bestimmen, und daß die Daten der bestimmten thermisch bedingten Abweichung auf nachfolgende Überprüfungen derjenigen Datenspuren angewendet werden, auf die der Benutzer zugreifen kann.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Referenzsignal zu beiden Seiten der Prüfspur aufgezeichnet wird, und daß der Meßwandler in Richtung auf jede der Referenzsignalpositionen bewegt wird, um das aufgezeichnete Signal zu beiden Seiten der Prüfspur zu erfassen, und daß daraufhin die thermische Abweichung des Meßwandlers in bezug auf die Plattenspuren berechnet wird.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß kein Signal auf der Prüfspur aufgezeichnet ist und der Meßwandler nur ein Rauschen liest, wenn er auf dieser Prüfspur zentriert wird.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Referenzsignal entlang einer Linie aufgezeichnet ist, die sich etwa in der Mitte des Abstands zwischen der thermischen Prüfspur und der nächsten, danebenliegenden Spur auf der Platte befindet.

5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Plattenlaufwerk mit Mitteln zur Temperaturerfassung für die Überwachung der Betriebstemperatur des Laufwerks ausgestattet ist, wobei dieses Verfahren die Schritte zur periodischen Erfassung der Umgebungstemperatur des Plattenlaufwerks und zur Weiterführung des Meßwandlers auf die Prüfspur als Reaktion auf die Erfassung einer bestimmten Veränderung der Umgebungstemperatur umfaßt.

6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß diese bestimmte Veränderung der Umgebungstemperatur mindestens 5ºC beträgt.

7. Verfahren nach Anspruch 1, das des weiteren umfaßt:

periodische Weiterführung des Meßwandlers zur Prüfspur während der Überprüfungszyklen des Meßwandlers (10),

Entwicklung einer Ausgleichskonstanten zur genauen Positionierung des Meßwandlers (10) von der Prüfspur auf jedes der aufgezeichneten Referenzsignale, um das aufgezeichnete Referenzsignal zu erfassen,

Bestimmung des zurückgelegten Abstands zwischen den einzelnen Spuren von der Prüfspur aus, und

Entwicklung der Ausgleichskonstanten auf der Basis dieses Abstands.

8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß auf der Prüfspur kein Signal aufgezeichnet ist und der Meßwandler nur Rauschen liest, wenn er auf der Prüfspur zentriert wird.

9. Verfahren nach Anspruch 7 oder Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Referenzsignal entlang einer Linie aufgezeichnet ist, die sich etwa in der Mitte des Abstands zwischen der thermischen Prüfspur und der nächsten, danebenliegenden Spur auf der Platte befindet.

10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Plattenlaufwerk mit Mitteln zur Temperaturerfassung für die Überwachung der Betriebstemperatur des Laufwerks ausgestattet ist, wobei dieses Verfahren die Schritte zur periodischen Erfassung der Umgebungstemperatur des Plattenlaufwerks und zur Weiterführung des Meßwandlers auf die Prüfspur als Reaktion auf die Erfassung einer bestimmten Veränderung der Umgebungstemperatur umfaßt.