DE3622557A1 - Piezoelektrische feinpositioniervorrichtung - Google Patents
Piezoelektrische feinpositioniervorrichtungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine piezoelektrische Feinposi
tioniervorrichtung für die Bewegung eines Objektes in
drei Koordinatenrichtungen und ein Verfahren zur Steu
erung der Feinpositioniervorrichtung.
Als Feinpositionierung im Sinne der Erfindung wird eine
Positioniergenauigkeit von besser als 10-10 m verstanden,
d.h. eine Bewegung im Bereich atomarer Dimensionen. Vor
richtungen dieser Art bilden z.B. die Grundlage für die
Untersuchung der Oberflächentopographie unter Ausnutzung
des Tunneleffekts. Die Feinpositioniervorrichtung bewegt
eine spitze Abtastnadel dabei in einem vorgegebenen Ab
stand rasterförmig über die zu untersuchende Oberfläche,
wobei z.B. der Tunnelstrom zur Regelung des Abstandes
herangezogen und die Regelgröße in Abhängigkeit von dem
Positionssignal der Abtastspitze dargestellt wird (Ra
ster-Tunnel-Mikroskopie).
Die Feinpositioniervorrichtung muß insbesondere zwei An
forderungen erfüllen. Sie muß mechanisch besonders stabil
sein, um das System unempfindlich gegen Vibrationen der
Umgebung zu machen. Die Resonanzfrequenz der Vorrichtung
soll so hoch wie möglich sein, um eine möglichst hohe Ra
stergeschwindigkeit für die Abtastung erreichen zu kön
nen, die neben größerer räumlicher Auflösung auch eine
bessere Zeitauflösung bei der Beobachtung dynamischer
Prozesse erlaubt.
Die bisher bekannten Vorrichtungen dieser Art benutzen
als Stellelemente piezoelektrische Bauteile. Beim in
Phys. Rev. Lett., Vol. 49, No. 1 (1982), pp 57-61, be
schriebenen Piezodreibein werden z.B. drei rechtwinklig
zueinander stehende Streifen einer Piezokeramik in Form
einer Pyramide zusammengefügt. Die Spitze der Pyramide
kann durch Verändern der Länge der Streifen in die drei
Raumrichtungen bewegt werden. Nachteilig an dieser An
ordnung ist ihre relativ große Masse, die zu einer nie
drigen Resonanzfrequenz und damit zu einer erhöhten An
fälligkeit bezüglich thermischer Drifterscheinungen
führt.
Bei einer anderen, aus Rev. Sci. Instrum., Vol. 56, No. 8
(August 1985), pp 1573-1576, bekannten Bauform werden
sehr kleine Piezokeramikwürfel und Metallwürfel schach
brettartig aufeinandergeklebt. Diese Positioniervorrich
tung hat zwar eine kleinere Masse, aber hier wird ein
großer Anteil der Gesamtmasse aus piezoelektrisch nicht
aktivem Material gebildet. Die zwischengefügten Metall
würfel verringern auch hier die Resonanzfrequenz.
Beiden Bauformen ist gemeinsam, daß sie aus mindestens
drei verschiedenen Stücken einer Piezokeramik bestehen,
die miteinander durch Kleben, Schrauben, Klemmung oder
ähnliches verbunden sind. Dadurch werden mechanische
Schwachstellen eingeführt, die bei zyklischer thermischer
Beanspruchung aufgrund unterschiedlicher thermischer Aus
dehnungskoeffizienten der starr miteinander verbundenen
Materialien mechanisch stark belastet werden.
Der Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, eine Fein
positioniervorrichtung zu schaffen, die eine geringe Vi
brationsempfindlichkeit zeigt, eine hohe Resonanzfrequenz
besitzt, die weitgehend temperaturunempfindlich ist und
insbesondere auch im Tieftemperaturbereich einsetzbar
ist, die eine flache Bauweise und einen möglichst ein
fachen Aufbau ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei einer piezoelektrischen Feinposi
tioniervorrichtung der eingangs genannten Art erfindungs
gemäß durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1
gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus den
Unteransprüchen 2 bis 9. Ein Verfahren zur Steuerung der
Feinpositioniervorrichtung ist im Anspruch 10 angegeben.
Hervorstehendes Merkmal der erfindungsgemäßen Vorrichtung
ist die konsequente Minimierung parasitärer, piezoelek
trisch nicht aktiver Massen bei gleichzeitig äußerst
geringer Gesamtmasse des eigentlichen Antriebskörpers.
Er besteht aus einem einzigen, in sich homogenen
piezoelektrischen Bauteil. Die relativ zum Antriebs
körper ruhende Einspannvorrichtung kann aus einem
Material gefertigt werden, dessen thermischer Ausdeh
nungskoeffizient dem des Antriebskörpers angepaßt ist.
Bei der Steuerung des Antriebskörpers findet darüber
hinaus nur eine vernachlässigbare Relativbewegung
zwischen dem Antriebskörper und den Einspannpunkten
statt. Soweit Abstandsvariationen zwischen den Ein
spannpunkten auftreten, werden sie durch die Elastizität
der Gabelschenkel der Einspannvorrichtung aufgefangen.
Ausführungsbeispiele der erfindungsgemäßen Vorrichtung
sind in der Zeichnung schematisch dargestellt. Ihre Ar
beitsweise wird nachstehend anhand der Figuren beschrie
ben. Im einzelnen zeigen:
Fig. 1 eine Unteransicht der Feinpositioniervor
richtung
Fig. 2 eine Aufsicht auf die Feinpositioniervor
richtung
Fig. 3 eine Frontansicht der Feinpositioniervor
richtung
Fig. 4 eine schematische Darstellung der Bewe
gungen in
- a, b) tangentialer,
c) axialer und
d) radialer Richtung
Fig. 5 eine andere Möglichkeit der Elektrodenan
ordnung
Fig. 6 ein Blockschaltbild der Steuerung
Die in Fig. 1 dargestellte Feinpositioniervorrichtung
enthält eine aus zwei Schenkeln 1, 2 bestehende gabel
förmige Einspannvorrichtung. Die beiden Schenkel 1, 2
werden durch eine Lagerschraube 4 zusammengehalten und
können durch eine Spannschraube 3 als Zange gegeneinander
verstellt werden. In einer einfacheren Ausgestaltung
können die Schenkel im Bereich der Spannschraube fest
verbunden sein, wobei im Bereich der Schraube 4 dann eine
Verspannung gegen die Federkraft der Schenkel erfolgen
kann. Die Einspannvorrichtung kann aus Messing gefertigt
sein. Es kann aber auch ein keramisches oder glaskerami
sches Material gewählt werden, wenn dies z.B. wegen der
thermischen Eigenschaften zweckmäßiger ist.
Innerhalb der Schenkel 1, 2 ist der eigentliche Antriebs
körper angeordnet, der aus einer runden, annähernd plan
parallelen piezoelektrischen Scheibe 5 besteht. Die in
Fig. 1 gezeigte Unterseite der piezoelektrischen Scheibe
5 ist mit drei flächigen Elektroden 6, 7, 8 belegt, an die
jeweils über elektrische Anschlüsse 9, 10, 11 eine elektri
sche Steuerspannung gelegt werden kann. Die Trennlinie 12
zwischen den Elektrodenfeldern hat die Form eines Y. Die
Flächen der Elektroden 6, 7 sind zumindest annähernd
gleich groß, während die der Elektrode 8 im Vergleich da
zu sehr klein ist. Ihre maximale Länge und Breite sollen
nicht größer als die Dicke der Scheibe 5 sein.
Die piezoelektrische Scheibe 5 wird in den Andruckpunkten
13, 14 von den äußeren Teilen der Schenkel 1, 2 gehalten
und liegt im inneren Bereich der Schenkel an zwei dicht
nebeneinander liegenden Punkten 15, 16 an, die auch als
ein einziger Andruckpunkt angesehen werden können. Die
Schenkellänge bezüglich der Andruckpunkte 13, 14 ist so
gewählt, daß der Mittelpunkt der Scheibe 5 zwar innerhalb
der durch die Verbindungslinie zwischen den Andruck
punkten 13, 14 abgeschlossenen Gabelfläche der Einspann
vorrichtung aber in der Nähe dieser Verbindungslinie
liegt. Durch diese Maßnahme wird erreicht, daß die
Scheibe 5 einerseits nicht nach vorne aus der Ein
spannvorrichtung herausgeschoben werden kann und an
dererseits ein möglichst großer Bereich der Scheiben
fläche außerhalb der durch die Andruckpunkte 13, 14, 15, 16
eingeschlossenen Scheibenfläche liegt. Es hat sich als
zweckmäßig erwiesen, wenn die Andruckpunkte 13, 14 so ge
wählt werden, daß mindestens 1/3 des Scheibenumfangs den
freien Teil der Gabelschenkel 1, 2 überspannt.
Die Orientierung der Elektrodenflächen ist so gewählt,
daß die Trennlinie zwischen den Elektroden 6, 7 auf der
Symmetrielinie der Einspannvorrichtung und die im Keil
des Y liegende Fläche außerhalb der durch die Andruck
punkte 13, 14, 15, 16 eingeschlossenen Scheibenfläche liegt.
Aus der in Fig. 2 dargestellten Aufsicht ist zu ersehen,
daß die Oberseite der piezoelektrischen Scheibe 5 voll
flächig mit einer weiteren Elektrode 17 belegt ist, an
die über einen elektrischen Anschluß 18 ebenfalls ein
bestimmtes elektrisches Potential gelegt werden kann. Im
Zusammenwirken mit den Elektroden 6, 7, 8 kann dies z.B.
auch das Masse-Potential sein. Sämtliche Elektroden sind
so auf der piezoelektrischen Scheibe 5 aufgebracht, daß
sie untereinander und gegenüber der Einspannvorrichtung
ausreichend elektrisch isoliert sind. Lediglich bei einer
als Masse-Elektrode vorgesehenen Elektrode kann es zweck
mäßig sein, diese direkt mit der Einspannvorrichtung
elektrisch zu verbinden, wenn diese aus elektrisch
leitendem Material besteht.
Auf der Elektrode 17 ist als zu positionierendes Objekt
eine Abtastnadel 19 angebracht. Für die Anwendung in ei
nem Tunnelmikroskop kann dies z.B. eine Wolframspitze
sein. Die Abtastnadel 19 kann z.B. mit einem elektrisch
isolierenden Kleber auf der Elektrodenfläche 17 befestigt
sein, so daß ein durch die Abtastnadel 19 aufgenommener
Stromfluß für Meßzwecke über einen elektrischen Anschluß
20 abgeleitet werden kann. Der Befestigungsort der Ab
tastnadel 19 liegt im elektrischen Feldbereich der Elek
trode 8. Die Spitze der Abtastnadel 19 reicht in
Verlängerung der bereits genannten Symmetrielinie der
Einspannvorrichtung geringfügig über den Rand der
piezoelektrischen Scheibe hinaus.
Die Frontansicht in Fig. 3 macht deutlich, wie die pie
zoelektrische Scheibe 5 in den Schenkeln 1, 2 der Ein
spannvorrichtung gehalten wird. Als Ergänzung zu den
Fig. 1 und 2 ist hier die Einspannvorrichtung auf einer
Grundplatte 21 befestigt. Das kann z.B. ein Glasplättchen
sein. Die Feinpositioniervorrichtung wird damit selbst zu
einem positionierfähigen Objekt, das z.B. durch die in
der älteren Anmeldung P 36 14 996.9 beschriebene elek
trisch steuerbare Antriebsvorrichtung verschoben werden
kann.
Anhand der in Fig. 4 gezeigten stark vereinfachten und
hinsichtlich der Volumenverschiebungen in der piezoelek
trischen Scheibe 5 stark übertriebenen Darstellungen
sollen die als tangential, axial und radial bezeichneten
Bewegungen der Spitze der Abtastnadel 19 erläutert wer
den. Die Darstellungen der Fig. 4a, b, c sind aus der
Frontansicht der Fig. 3 abgeleitet, Fig. 4d entspricht
einer Seitenansicht der Fig. 2.
Es ist bekannt, daß durch eine an die Elektroden einer
piezoelektrischen Scheibe gelegte elektrische Spannung
eine Kontraktion oder Dilatation der Dicke der Scheibe
erzeugt werden kann, die wegen der Volumenkonstanz der
Scheibe in der Regel mit einer Durchmesseränderung
verbunden ist. In der älteren Anmeldung P 36 14 996.9
wurde jedoch eine Elektrodenanordnung mit einer spe
ziellen Spannungsversorgung angegeben, bei der sich
Volumenverschiebungen innerhalb der Scheibe ausbilden,
die den Durchmesser konstant halten. Von diesem Effekt
wird auch beim vorliegenden Erfindungsgegenstand in Be
zug auf die Positionierung in tangentialer Richtung, d.h.
eine Bewegung der Abtastnadel 19 in einer Richtung pa
rallel zu der Verbindungslinie zwischen den Andruck
punkten 13, 14, Gebrauch gemacht.
Eine Bewegung in tangentialer Richtung wird demnach
erreicht, wenn bei konstanter Summe der Potentiale an den
Elektroden 6, 7 die Differenz der Potentiale geändert
wird. Im Feldbereich dieser Elektroden ist die Dicke der
Scheibe klein im Vergleich zur Länge oder Breite der
Scheibe, so daß der Haupteffekt der Spannungsänderung
eine Streckung bzw. Stauchung der unter den Elektroden
liegenden Piezobezirke in Richtung der Scheibenebene be
wirkt. Da die Effekte im Bereich der beiden Elektroden
aufgrund der speziellen Steuerspannungen (Konstanz der
Potentialsumme) zueinander gegenläufig sind, wird die
Mittellinie der piezoelektrischen Scheibe, die dieselbe
Richtung wie die Trennlinie zwischen den Elektroden 6, 7
hat, seitwärts bewegt. Die auf dieser Linie befestigte
Abtastnadel 19 bewegt sich daher ebenfalls in dieser als
tangential bezeichneten Richtung.
Fig. 4a veranschaulicht den Fall, daß das Potential an
der Elektrode 6 eine maximale Dilatation und an der Elek
trode 7 eine maximale Kontraktion erzeugt. Da die äußere
Begrenzung der Scheibe 5 wegen der Einspannung nicht aus
weichen kann, geschieht der notwendige Volumenausgleich
im Bereich der Mittellinie. Die Abtastnadel folgt dem
wandernden Volumen nach links. Fig. 4b zeigt die Ver
hältnisse bei Potentialvertauschung. Die Abtastnadel wird
nach rechts verschoben. Der maximale Stellweg wird durch
die Differenz der Steuerpotentiale bestimmt, die Nullage
durch die Summe der Potentiale. Die beim Auswandern aus
der Nullage aus den beiden Fig. 4a, b ablesbare,
gleichzeitig auftretende Bewegung der Abtastnadel in
axialer Richtung kann, wie vorstehend bereits ausgeführt
wurde, in der Praxis vernachlässigt werden.
Für die Bewegung der Abtastnadel 19 in axialer Richtung,
d.h. eine Bewegung senkrecht zur Scheibenebene, ist das
potential der Elektrode 8 verantwortlich. Da in diesem
Bereich die piezoelektrische Scheibe 5 nicht fixiert ist,
bewirkt eine Spannungsänderung in diesem Bereich im we
sentlichen eine Dickenänderung. Die Lage der Nadelspitze
ändert sich dabei um die halbe Dickenänderung, wie Fig.
4c veranschaulicht. Wie bereits oben ausgeführt, ist in
diesem Feldbereich die Dicke der Scheibe größer als die
Länge und Breite der Elektrode 8. Die mit der Dicken
änderung wegen Volumenkonstanz verbundene Längenänderung
im Durchmesser der Scheibe ist daher in der Praxis ver
nachlässigbar.
Die Bewegung der Abtastnadel 19 in radialer Richtung,
d.h. im Ausführungsbeispiel in Richtung der Längsachse der
Nadel, wird erreicht, indem die Summe der Potentiale der
Elektroden 6, 7 bei konstanter Differenz geändert wird.
Wie bereits erwähnt, wird dabei die piezoelektrische
Scheibe 5 insgesamt in Richtung der Scheibenoberfläche
gestreckt oder gestaucht. Die aus der Volumenkonstanz
resultierende Längenänderung in radialer Richtung kann
sich wegen der Einspannung der Scheibe 5 nur in Richtung
des offenen Endes der Schenkel 1, 2 auswirken. Die aus
Fig. 4d dabei ablesbare, überlagerte Bewegung in axialer
Richtung ist wegen des Verhältnisses zwischen Scheiben
durchmesser und Scheibendicke in der Praxis vernachläs
sigbar.
Die in Fig. 5 dargestellte Elektrodenanordnung unter
scheidet sich von der vorgenannten dadurch, daß nunmehr
die den beiden Elektroden 6, 7 entsprechenden Elektroden
6′, 7′ als Halbkreisflächen ausgebildet sind. Die der klei
nen Elektrode 8 entsprechende Elektrode 8′ ist in die der
Elektrode 17 entsprechende Elektrode 17′ integriert und
trägt hier die Abtastnadel 19. Die den einzelnen Poten
tialen an diesen Elektroden zugewiesenen Bewegungsauf
gaben sind dieselben wie vorstehend beschrieben. Auch die
Orientierung der piezoelektrischen Scheibe in der Ein
spannvorrichtung ist analog. Die einfachere Geometrie der
Elektrodenanordnung bringt gewisse Vorteile bei ihrer
Herstellung und der gegenseitigen elektrischen Isolation
der Elektrodenflächen.
Die vorstehenden Ausführungen haben deutlich gemacht, daß
die maximalen Verstellwege in den drei angesprochenen,
zueinander orthogonalen Richtungen neben den angewendeten
absoluten und relativen Werten der Potentiale auch von
der Geometrie der piezoelektrischen Scheibe abhängen. Un
ter der Voraussetzung, daß die Breite und Länge der klei
nen Elektrode 8 etwa so groß wie die Dicke der piezo
elektrischen Scheibe 5 ist, gilt bei maximaler Dicken
änderung Δ d:
maximale tangentiale Auslenkung
maximale axiale Auslenkung
maximale radiale Auslenkung
wobei r der Radius der Scheibe und h ihre Dicke ist.
Durch Wahl einer geeigneten Geometrie der Scheibe kann
die Vorrichtung der jeweiligen Meßaufgabe hinsichtlich
Resonanzfrequenz und maximaler Auslenkung angepaßt
werden.
Fig. 6 zeigt ein Blockschaltbild für die Erzeugung der
erforderlichen Potentiale an den Elektroden 6, 7, 8, 17 der
Feinpositioniervorrichtung nach Fig. 1, 2, 3.
Die Spannungen U rad , U tan , U ax sind den drei
Raumkoordinaten des zu positionierenden Objekts
proportional und unabhängig regelbar. Der Elektrode 6
wird ein Addierer und der Elektrode 7 ein Subtrahierer
vorgeschaltet. Das für die radiale Bewegung erforderliche
Grundpotential U rad wird sowohl dem Addierer als auch dem
nicht invertierenden Eingang des Subtrahierers als Eingangsspannung
zugeführt. Die für die tangentiale Bewegung
verantwortliche Spannung U tan wird dem Addierer und dem
invertierenden Eingang des Subtrahierers zugeführt. Die
Ausgangsspannungen des Addierers und Subtrahierers werden
jeweils einem Hochspannungsverstärker 60, 70 als Steuerspannung
zugeleitet, dessen Ausgänge die jeweiligen
Elektroden mit den gewünschten Potentialen versorgten.
Bei konstantem U rad bleibt somit die Summe der Potentiale
an den Elektroden 6 und 7 konstant, auch wenn sich die
Differenz der Potentiale durch Veränderung von U tan ändert.
Die für die axiale Bewegung erforderliche Spannung
U ax wird ebenfalls über einen Hochspannungsverstärker 80
der Elektrode 8 unabhängig von den anderen Spannungen zugeführt.
Die Elektrode 17 liegt über einen Hochspannungsverstärker
170 auf einem konstanten Potential, das
auch das Masse-Potential sein kann, wobei auf den Hochspannungsverstärker
verzichtet werden kann.
Für eine rasterförmige Abtastung eines nicht dargestellten
Objektes mit der Abtastnadel 19 wird U tan
zweckmäßigerweise periodisch linear zwischen seinen
Maximalwerten gesteuert, wobei gleichzeitig U ax linear
erhöht wird. Der Wert Δ U tan bestimmt dann die Länge einer
Abtastzeile, während Δ U ax für eine Halbperiode der
Regelung von U tan den Abstand der Abtastzeilen bestimmt.
U ax kann auch jeweils am Ende einer Abtastzeile sprunghaft
um den Wert eines Zeilenabstandes erhöht werden.
U rad bestimmt den Abstand der Nadelspitze von dem zu
untersuchenden Objekt. Er kann über U rad so geregelt
werden, daß sich ein konstantes Meßsignal ergibt. Es kann
aber auch während einer Messung U rad konstant gehalten
werden, wobei das sich ändernde Meßsignal aufgezeichnet
wird.
Die für die gewünschte Bewegung der Abtastnadel erfor
derliche Regelung der Spannungen kann in an sich be
kannter Weise vorteilhaft durch einen Mikroprozessor
gesteuert werden. Dabei können die vorstehend als in der
Praxis vernachlässigbar bezeichneten überlagerten Be
wegungen durch in diese Richtung wirkende entsprechende
Gegenspannungen auch noch ausgeglichen werden.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung wurde mit einer pie
zoelektrischen Scheibe von ca. 10 mm Durchmesser und 2 mm
Dicke aus einem unter der Bezeichnung PXE 5 (Fa.Valvo)
bekannten Material und Silberelektroden getestet, wobei
die Einspannvorrichtung aus Messing gefertigt wurde. Als
zu positionierendes Objekt wurde eine Wolframspitze ver
wendet, mit der eine Goldschicht bei Normalbedingungen
und einer Ölimmersion zwischen Spitze und Goldschicht
untersucht wurde. Dabei konnten einzelne Atome in der
Goldschicht eindeutig detektiert werden, was einer
lateralen Auflösung von besser als 3 × 10-10 m entspricht.
Claims (10)
1. Piezoelektrische Feinpositioniervorrichtung für die
Bewegung eines Objektes in drei Koordinatenrichtungen,
gekennzeichnet durch
- a) eine zumindest annähernd planparallel geschnittene piezoelektrische Scheibe (5),
- b) eine mit elektrischen Anschlüssen (9, 10, 11, 18) versehene Elektrodenanordnung (6, 7, 8, 17) auf den zu einander parallelen Flächen, mit der drei unabhängig steuerbare elektrische Felder in der piezoelektrischen Scheibe (5) einstellbar sind,
- c) eine gabelförmige Einspannvorrichtung (1, 2), die die piezoelektrische Scheibe (5) an mindestens drei symme trisch zueinander liegenden Andruckpunkten (13, 14, 15, 16) an der Umfangsfläche derart elektrisch isoliert gegenüber der Elektrodenanordnung (6, 7, 8, 17) umfaßt, daß
- d) eine der Elektroden (8) in dem offenen Teil der gabelförmigen Einspannvorrichtung (1, 2) liegt, wobei
- e) das zu positionierende Objekt (19) elektrisch iso liert auf einer Elektrodenfläche (17) im Feldbereich dieser Elektrode (8) angeordnet ist.
2. Feinpositioniervorrichtung nach Anspruch 1, da
durch gekennzeichnet, daß die Elek
trodenanordnung (6, 7, 8, 17) so gestaltet ist, daß die eine
Seite der Scheibe (5) vollflächig mit einer
Elektrodenschicht (17) belegt ist und die andere Seite in
drei Elektrodenfelder (6, 7, 8) mit Y-förmiger Trennlinie
aufgeteilt ist.
3. Feinpositioniervorrichtung nach Anspruch 2, da
durch gekennzeichnet, daß die im
Keil der Y-förmigen Trennlinie liegende Elektrodenfläche
(8) wesentlich kleiner als die beiden anderen, unter
einander zumindest annähernd flächengleichen Elektro
denflächen (6, 7) ist und in dem offenen Teil der gabel
förmigen Einspannvorrichtung (1, 2) liegt.
4. Feinpositioniervorrichtung nach Anspruch 3, da
durch gekennzeichnet, daß das zu posi
tionierende Objekt (19) im elektrischen Feldbereich der
kleineren Elektrode (8) liegend auf der vollflächigen
Elektrode (17) angeordnet ist.
5. Feinpositioniervorrichtung nach Anspruch 1, da
durch gekennzeichnet, daß die Elek
trodenanordnung so gestaltet ist, daß die eine Seite der
Scheibe (5) in zwei Halbkreisflächen (6′, 7′) aufgeteilt
ist und die andere Seite in eine größere (17′) und eine
im Vergleich dazu kleine Fläche (8′) aufgeteilt ist, wo
bei die kleinere Fläche (8′) im Randbereich der Scheibe
(5), der Trennlinie der Halbkreisflächen (6′, 7′) gegen
überliegend angeordnet ist und diese Fläche (8′) das zu
positionierende Objekt (19) trägt.
6. Feinpositioniervorrichtung nach einem der vorherge
henden Ansprüche, dadurch gekennzeich
net, daß die piezoelektrische Scheibe (5) rund ist und
die Andruckpunkte (13, 14) der Einspannvorrichtung (1, 2)
an den äußeren Enden der Gabelschenkel so gewählt sind,
daß der Scheibenmittelpunkt innerhalb der durch die Ver
bindungslinie zwischen diesen Andruckpunkten (13, 14)
abgeschlossenen Gabelfläche liegt.
7. Feinpositioniervorrichtung nach Anspruch 6, da
durch gekennzeichnet, daß mindestens
1/3 des Scheibenumfangs den offenen Teil der Gabel
schenkel überspannt.
8. Feinpositioniervorrichtung nach einem der vorherge
henden Ansprüche, dadurch gekennzeich
net, daß die maximale Länge und Breite der kleinen
Elektrode (8, 8′) nicht größer als die Dicke der piezo
elektrischen Scheibe (5) sind.
9. Feinpositioniervorrichtung nach Anspruch 6, da
durch gekennzeichnet, daß der Durch
messer 2r der Scheibe (5) etwa fünfmal so groß ist wie
ihre Dicke h.
10. Verfahren zur Steuerung der Feinpositioniervorrich
tung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß die elek
trischen Anschlüsse der Elektroden (6, 7, 8, 17; 6′, 7′, 8′,
17′) mit einer regelbaren Gleichspannungsquelle derart
verbunden werden, daß sowohl der Mittelwert der Potentia
le der jeweils gleichgroßen Elektroden (6, 7; 6′, 7′) wie
die Differenz ihrer Potentiale und das Potential der
kleinen Elektrode (8; 8′) unabhängig voneinander geregelt
werden.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3812684A1 (de) * | 1988-04-16 | 1989-11-02 | Klaus Prof Dr Dransfeld | Verfahren zum schnellen abrastern von unebenen oberflaechen mit dem raster-tunnelmikroskop |
DE19548587A1 (de) * | 1995-12-23 | 1997-07-10 | Univ Dresden Tech | Positioniersystem |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8928952D0 (en) * | 1989-12-21 | 1990-02-28 | Queensgate Instr Ltd | Piezo-electric actuators |
US5055680A (en) * | 1990-04-03 | 1991-10-08 | Lk Technologies, Inc. | Scanning tunneling microscope |
US5432395A (en) * | 1993-08-02 | 1995-07-11 | Bonneville Scientific Incorporated | Direct-drive field actuator motors |
US5925969A (en) * | 1995-10-17 | 1999-07-20 | O'neill; Cormac G. | Ferroelectric transducers |
CN1306247C (zh) * | 2005-08-26 | 2007-03-21 | 哈尔滨工业大学 | 宏/微双重驱动的大行程高速纳米级精度的平面定位系统 |
US11387402B2 (en) * | 2019-08-28 | 2022-07-12 | Signal Solutions, Llc | Piezoelectric sensor assembly |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0071666B1 (de) * | 1981-08-10 | 1985-02-06 | International Business Machines Corporation | Elektrische bewegbare Träger |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1769360A (en) * | 1925-03-24 | 1930-07-01 | Adolph A Thomas | Piezo-electric translating device |
BE489589A (de) * | 1948-06-12 | |||
US3902084A (en) * | 1974-05-30 | 1975-08-26 | Burleigh Instr | Piezoelectric electromechanical translation apparatus |
US4128616A (en) * | 1977-08-11 | 1978-12-05 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Micropositioners using a crystal having moveable domain walls |
US4489609A (en) * | 1981-12-08 | 1984-12-25 | National Research Development Corporation | Gyroscopes |
JPS6032110A (ja) * | 1983-08-03 | 1985-02-19 | Victor Co Of Japan Ltd | ヘツド位置制御装置 |
US4678955A (en) * | 1986-04-18 | 1987-07-07 | Rca Corporation | Piezoelectric positioning device |
-
1986
- 1986-07-04 DE DE19863622557 patent/DE3622557A1/de active Granted
-
1987
- 1987-07-02 WO PCT/DE1987/000296 patent/WO1988000399A1/de not_active Application Discontinuation
- 1987-07-02 US US07/183,187 patent/US4859896A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-07-02 EP EP87904233A patent/EP0273942A1/de not_active Withdrawn
- 1987-07-02 JP JP62503976A patent/JPH01500223A/ja active Pending
-
1988
- 1988-02-08 KR KR1019880700141A patent/KR880701975A/ko not_active Application Discontinuation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0071666B1 (de) * | 1981-08-10 | 1985-02-06 | International Business Machines Corporation | Elektrische bewegbare Träger |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
G.F.A. van de Walle, I.W. Gerritsen, H. van Kempen, P. Wyder: High-stability scanning tunneling microscope, Rev. Sci. Instrum., Vol. 56, No. 8, August 1985, S. 1573-1576 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3812684A1 (de) * | 1988-04-16 | 1989-11-02 | Klaus Prof Dr Dransfeld | Verfahren zum schnellen abrastern von unebenen oberflaechen mit dem raster-tunnelmikroskop |
DE19548587A1 (de) * | 1995-12-23 | 1997-07-10 | Univ Dresden Tech | Positioniersystem |
DE19548587C2 (de) * | 1995-12-23 | 2002-11-28 | Univ Dresden Tech | Mikropositioniersystem |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1988000399A1 (en) | 1988-01-14 |
US4859896A (en) | 1989-08-22 |
DE3622557C2 (de) | 1988-05-11 |
EP0273942A1 (de) | 1988-07-13 |
JPH01500223A (ja) | 1989-01-26 |
KR880701975A (ko) | 1988-11-07 |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
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