DE3619346A1 - Antisaettigungs-schaltung fuer einen integrierten pnp-transistor - Google Patents
Antisaettigungs-schaltung fuer einen integrierten pnp-transistorInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Antisättigungs-
Schaltung für PNP-Transistoren in monolitisch integrierten
Schaltungen. Solche integrierten Schaltungen werden auf
einem einzelnen Halbleiterchip, meistens Silizium, durch
eine geeignete Folge von Fabrikationsphasen gebildet, die
Oberflächenoxydation, Photolithographie, epitaxiale Züchtung,
Störstellendiffusion und Metalisierung aufweisen.
Mit diesen Verfahren werden Dioden, Transistoren und
passive Komponenten gebildet, die untereinander auf dem
Chip selbst mittels geeigneter Metallisierungen verbunden
sind.
Integrierte PNP-Transistoren, die auf dem Substrat, d. h.
auf dem Chip aus Halbleiter-Material, gebildet sind,
stellen im Betrieb ein spezielles Problem dar. Wenn der
PNP-Transistor dazu gebracht wird, in der Sättigungszone
seiner Kennwerte zu arbeiten, kann er Anlaß geben zu einem
Leckstrom in Richtung auf das Substrat, was untolerierbar
werden kann
für die korrekte Betriebsweise der gesamten integrierten
Schaltung. In Sättigungsbedingungen, d. h. mit dem Abfall
im wesentlichen auf 0 der V CE -Spannung des Transistors,
kann die Basis in einen Zustand kommen, wo sie auf einem
niedrigeren Potential ist in Bezug auf das Potential des
Kollektors, und in Folge dessen kann die Basis-Kollektor-
Verbindung vorwärts vorgespannt werden. Diese Tatsache
gibt Anlaß zur Bildung eines parasitären PNP-Transistors
durch die Basis-Kollektor-Verbindung des realen Transistors,
dessen Kollektor als Emitter des parasitären
Transistors arbeitet, dessen Kollektor seinerseits durch
das Substrat des Halbleiter-Materials des Chips dargestellt
wird.
Natürlich taucht diese Problem besonders im Fall von integrierten
PNP-Leistungstransistoren sowohl für die Pegel
der Ströme als auch für die erhöhte Wahrscheinlichkeit auf,
daß solche Transistoren in zufälliger Weise in die Sättigung
gefahren werden, beispielsweise mit der Variation der
Lastimpedanz des Transistors.
Es ist deswegen eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung
eine Schutzschaltung anzugeben, die in der Lage ist zu
vermeiden, daß die Basis-Kollektor-Verbindung eines integrierten
PNP-Transistors vorwärts vorgespannt wird, und
folglich einen wesentlichen Leckstrom zum Substrat zu
verhindern.
Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung
eine Antisättigungs-Schaltung für einen integrierten PNP-
Transistor anzugeben, dessen Funktionen im wesentlichen
unempfindlich auf Temperaturveränderungen sind.
Diese Aufgaben und weitere Vorteile werden erhalten durch
die besonders einfache und wirksame Schaltung der Erfindung,
die einfach auf dem Chip integriert wird, der den
PNP-Transistor enthält, der in wünschenswerter Weise nicht
gesättigt werden sollte oder nicht zu tief gesättigt werden
sollte in dem Fall von zufälligen Bedingungen des
Eingangsignals oder der Last.
Die Schaltung der Erfindung zum Verhindern der Sättigung
eines integrierten PNP-Transistors, die eine allgemeine
Stromquelle in dem Basis-Zweig der Vorspannschaltung aufweist,
die in der Lage ist den maximalen Basisstrom zu begrenzen,
ist gekennzeichnet dadurch, daß die Antisättigungs-
Schaltung im wesentlichen zwei NPN-Transistoren, QN 1
bzw. QN 2, die beide den Emitter verbunden haben mit der
Stromquelle, wobei QN 1 verbunden ist in Reihe in Bezug auf
die Stromquelle mit der Basis des PNP-Transistors durch
seinen Kollektor, der Kollektor von QN 2 verbunden ist mit
dem Emitter des PNP-Transistors, und die Basis von QN 2
durch eine Diode D 1 mit dem Kollektor des PNP-Transistors
verbunden ist, und einen Spannungsteiler aufweist, der
durch zwei Widerstände R 1 und R 2 gebildet wird zum Vorspannen
der Basis von QN 1 in solch einer Art, daß die
Spannung V CE von QN 1 einstellbar ist durch Dimensionieren
von R1 und R2 um eine Gleichung des folgenden Typs zu
erfüllen:
(in Abwesenheit von möglichen passiven Komponenten in dem
Netzwerk), wobei V CB die maximal erträgliche Spannung
zwischen dem Kollektor und der Basis des PNP-Transistors
ist, über die hinaus der QN 2 Transistor leitet und dadurch
den Basisstrom des PNP-Transistors begrenzt und seine
Sättigung verhindert.
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der
vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden
Beschreibung eines Ausführungsbeispiels in Verbindung mit
der Zeichnung. Diese zeigt ein elektrisches Prinzipschaltbild,
das eine praktische Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung darstellt, das besonders bevorzugt ist.
In der Zeichnung ist der PNP-Transistor QP 1 gezeigt, der
mit einem Lastwiderstand R C verbunden ist und der eine
allgemeine Stromquelle I MAX in dem Basiszweig der Vorspann-
Schaltung aufweist. Die Stromquelle ist im allgemeinen
in der Lage den Basisstrom des Transistors auf einen
maximalen voreingestellten Wert zu begrenzen. Die Antisättigungs-
Schaltung der Erfindung wird dargestellt durch
zwei NPN-Transistoren QN 1 bzw. QN 2, durch die Diode D 1und
durch den Teiler, der durch die beiden Widerstände R 1 und
R 2 gebildet wird, die wie gezeigt verbunden sind. Somit
wird der Maximalstrom durch die I MAX Quelle im wesentlichen
durch die Summe des Basisstroms I b des PNP-Transistors
QP 1 und dem möglichen Strom I C durch den Transistor
QN 2 dargestellt.
Für den Fall, daß für einen gewissen Wert der Last R C oder
aus einem andern Grund der Transistor QP 1 sich Sättigungsbedingungen
nähert, ist es ausreichend, daß der Transistor
QN 2 leitet, damit der Basisstrom I b positiv unterhalb des
Maximalwertes begrenzt wird, der in der Stromquelle I MAX
voreingestellt ist.
Deswegen erfüllt, wenn während normalen Betriebsbedingungen
der Transistor QP 1 außerhalb der Sättigung ist, d. h.
seine Kollektor-Emitter-Spannung V CB niedriger ist als
eine gewisse voreingestellte Maximalspannung V CB , die
Spannung zwischen dem Kollektor und dem Emitter des Transistors
QN 1 (in Reihe mit der Basisstromquelle) die
Gleichung:
Durch Zuordnen eines gewissen tolerierbaren voreingestellten
Maximalwertes zu der Kollektor-Basis-Spannung des
Transistors QP 1, V CB , ist es dann möglich, R1 und R2 in
geeigneter Weise zu dimensionieren, damit die Spannung
zwischen dem Kollektor und dem Emitter des Transistors QN 1
die Gleichung erfüllt:
Transistor QN 2 ist normalerweise in abgeschalteten Bedingungen,
d. h. er leitet nicht wegen der großen Spannungsdifferenz,
die über seine Basis und seinen Kollektor existiert.
Wenn der PNP-Transistor QP 1 in die Sättigungszone
eintritt, (beispielsweise bei einem plötzlichen Anstieg
der Lastimpedanz) bringt der plötzliche Abfall der
Spannung zwischen seinem Emitter und seinem Kollektor und
der folgende Anstieg der Spannung über den Lastwiderstand
R C die Basisspannung des Transistors QN 2 dazu, sich anzunähern,
bis sie fast die Spannung seines Kollektors
erreicht und Leitung durch den Transistor zur Folge hat.
Deshalb "subtrahiert" der Strom I C einen wesentlichen
Teil von dem maximalen Basisstrom, der durch die Stromquelle
I MAX bestimmt wird, wobei der effektive Basisstrom
I b des PNP-Transistors QP 1 drastisch reduziert wird, und
dabei die Sättigung verhindert oder ihr Grad begrenzt
wird.
Mit dem Wiedereinstellen von normalen Lastbedingungen
kehrt der Transistor QN 2 in ausgeschaltete Bedingungen
zurück, wobei er dem Abfall seiner Basisspannung folgt und
der Strom I C wieder zu O fällt.
Die Antisättigungsschaltung der vorliegenden Erfindung
bietet einen zusätzlichen Vorteil dadurch, daß sie im
wesentlichen unempfindlich auf Temperaturveränderungen
ist.
Tatsächlich stellen alle Ausdrücke der oben diskutierten
Gleichung die gleiche Art der Temperaturabhängigkeit dar,
alle Spannungen sind abhängig zu Verbindungen der gleichen
Eigenschaft, deswegen nimmt die Spannung V CB , an der
die Antisättigungs-Schaltung eingreift, um die Sättigung
des Transistors QP 1 zu verhindern oder ihren Grad zu
begrenzen, mit steigender Temperatur ab.
Ungeachtet der Tatsache dessen, daß die Erfindung beschrieben
worden ist unter Bezugnahme auf das elektrische
Prinzip-schaltbild der bevorzugten Ausführungsform, ist
beabsichtigt, daß Veränderungen und Modifikationen eines
solchen Schaltbildes durch technische Experten ausgeführt
werden können, ohne daß sie den Geist und den Bereich der
Erfindung verlassen, wie er in den beigefügten Ansprüchen
definiert ist.
Beispielsweise kann die Schaltung der Erfindung andere
Elemente enthalten. Z. B. passive Elemente, so wie Widerstände,
können in verschiedene Zweige der Schaltung eingefügt
werden, d. h. Widerstände können eingefügt werden
aus unterschiedlichen Gründen in dem Basiszweig von einem
oder mehreren der Transistoren QP 1, QN 1 und QN 2 oder in
dem Kollektorzweig des Transistors QN 2, ohne die wesentliche
Funktion der Schaltung der Erfindung zu modifizieren.
Deswegen soll die Gleichung selbst, unabhängig von dem,
was in der Zeichnung gezeigt, in dem Fall, daß ein oder
mehrere passive Elemente in das betrachtete Netzwerk der
Schaltung in Bezug zu der oben diskutierten Gleichung
eingefügt werden, offensichtlich einen Ausdruck V R enthalten,
der den Spannungsabfall in Bezug zu solchen einem
oder mehreren passiven Elementen darstellt, die in dem
Schaltungsnetzwerk bei der Bedingung, die der voreingestellten
tolerierbaren V CB entsprechen, vorhanden
sind.
Claims (2)
1. Antisättigungs-Schaltung für einen integrierten
PNP- Transistor mit einer allgemeinen Stromquelle
in dem Basiszweig seiner Vorspannschaltung, die
fähig ist, den maximalen Basisstrom zu begrenzen,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Antisättigungs-Schaltung im wesentlichen
zwei NPN-Transistoren (QN 1 bzw. QN 2), die beide den
Emitter verbunden haben mit der Stromquelle, wobei
der erste der NPN-Transistoren (QN 1) verbunden ist
in Reihe mit der Stromquelle zwischen letzterer und
der Basis des PNP-Transistors (QP 1) durch seinen
Kollektor, und der Kollektor des zweiten NPN-Transistors
(QN 2) verbunden ist mit dem Emitter des
PNP-Transistors (QP 1), wobei die Basis des zweiten
NPN-Transistors (QN 2) verbunden ist über eine Diode (D 1) mit
dem Kollektor des PNP-Transistors (QP 1), und einen
Spannungsteiler aufweist, der durch zwei Widerstände
(R 1, R 2) gebildet wird, die die Basis des
ersten NPN-Transistors (QN 1) vorspannen, so daß die
Transistors (QN 1) einstellbar ist durch Dimensionierung
der beiden Widerstände (R 1, R 2) so, daß
eine Gleichung der Art:
erfüllt ist, wobei V CB die maximal tolerierbare
Spannung zwischen Kollektor und Basis des PNP-
Transistors (QP 1) ist, über die hinaus der zweite
NPN-Transistor (QN 2) leitet, wodurch der Basisstrom des
PNP-Transistors (QP 1) begrenzt wird und seine
Sättigung verhindert wird, und worin (V R ) ein allgemeiner
Gesamtspannungsabfall ist in Bezug auf ein
oder mehrere passive Elemente, die in dem betrachteten
Netzwerk der Schaltung vorhanden sind bei den
Bedingungen, die der maximalen Spannung (V CB )
entsprechen.
2. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß (V R ) im wesentlichen gleich 0 ist und das
betrachtete Netzwerk der Schaltung frei von
passiven Elementen ist.
Applications Claiming Priority (1)
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Family
ID=11179341
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
DE3619346A Expired - Fee Related DE3619346C2 (de) | 1985-06-24 | 1986-06-09 | Antisättigungs-Schaltung für einen integrierten PNP-Transistor |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4701638A (de) |
JP (1) | JP2560010B2 (de) |
DE (1) | DE3619346C2 (de) |
FR (1) | FR2583922B1 (de) |
GB (1) | GB2176960B (de) |
IT (1) | IT1209647B (de) |
NL (1) | NL8601646A (de) |
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- 1986-06-09 DE DE3619346A patent/DE3619346C2/de not_active Expired - Fee Related
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IT8521272A0 (it) | 1985-06-24 |
JPS61296803A (ja) | 1986-12-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |