DE3535400A1 - Pruefverfahren und pruefvorrichtung - Google Patents
Pruefverfahren und pruefvorrichtungInfo
- Publication number
- DE3535400A1 DE3535400A1 DE19853535400 DE3535400A DE3535400A1 DE 3535400 A1 DE3535400 A1 DE 3535400A1 DE 19853535400 DE19853535400 DE 19853535400 DE 3535400 A DE3535400 A DE 3535400A DE 3535400 A1 DE3535400 A1 DE 3535400A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- test object
- signal
- video signal
- parts
- optical image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
Prüfverfahren und Prüfvorrichtung
Die Erfindung betrifft ein Prüfverfahren zur
automatischen Prüfung von Gegenständen, ferner eine Prüfvorrichtung zur Anwendung dieses Prüfverfahrens.
Durch die Erfindung soll insbesondere eine automatische Prüfung von Produkten und Bauteilen
im Hinblick auf etwa vorhandene Mängel erfolgen, wobei ein optischer Bildsensor eine wesentlich
einfachere Prüfung ermöglicht als bekann
te Systeme, die die Objekte körperlich abtasten bzw. ausmessen.
Es sind bereits verschiedene Prüfeinrichtungen bekannt, die einen optischen Bildsensor verwenden
und damit die visuelle Überprüfung von Produkten bzw. Bauteilen mittels des menschlichen
Auges ersetzen. So hat man etwa Fernsehkameras zur lichtelektrischen Abtastung von Produkten
oder Bauteilen verwendet, wobei dann die von der
Kamera gelieferten Bildsignale datentechnisch weiterverarbeitet werden, um auf diese Weise Form
Abmessungen, Oberflächenbeschaffenheit usw. der Produkte zu überprüfen.
25
25
Anhand der Figuren 1 bis 3 werden zunächst einige Ausführungsbeispiele bekannter Prüfeinrichtungen
näher erläutert.
Die Ausführung gemäß Fig. 1 enthält eine Fernseh
kamera 1, eine Einrichtung 2 zur elektronischen Datenverarbeitung, die das von der Fernsehkame-
ra 1 gelieferte Videosignal weiterverarbeitet. Lichtquellen 3 und 3a dienen zur Beleuchtung
eines fehlerfreien Standardobjektes 6 und eines PrüfObjektes 7. Das Licht wird über Spiegel 4,4A und 5,5A von der Fernsehkamera 1 aufgenommen.
Die von der Fernsehkamera 1 erfaßten Bilder des Standardobjektes 6 und des Prüfobjektes
7 überlappen sich durch die Wirkung der Spiegel 4, 4A, 5, 5A. Stimmt das Bild des
Prüfobjektes 7 vollständig mit dem Bild des Standardobjektes 6 überein, so wird das Prüfobjekt
7 als gut bewertet. Die Einrichtung liefert in diesem Fall kein Ausgangssignal.
Wird dagegen irgendeine Differenz zwischen
den beiden Bildern festgestellt, so liegt am Prüfobjekt 7 ein Fehler vor. Die Einrichtung
2 liefert in diesem Falle ein Fehlersignal.
Bei dem in Fig.1 veranschaulichten bekannten
Verfahren werden somit das Standardobjekt 6
und das Prüfobjekt 7 während der Bestrahlung durch die zugehörige Lichtquelle an unterschiedlichen
Stellen angeordnet, wobei die Überlappung der beiden Bilder durch Spiegel
bewirkt wird und die Prüfung davon abhängig
gemacht wird, ob sich die beiden Bilder decken oder nicht.
Bei der in Fig.2 veranschaulichten weiteren
bekannten Ausführung ist angenommen, daß das Prüfobjekt 7 aus einem undurchsichtigen bzw.
schwarz gefärbten Teil 7A und einem durchsichtigen Teil 7B besteht, während das Standardobjekt
8 komplementär (das heißt als Negativbild) ausgebildet ist; es enthält also gegenüber dem durchsichtigen Teil 7B einen
undurchsichtigen Teil 8A und gegenüber dem undurchsichtigen Teil 7A einen durchsichtigen
Teil 8B. Auf der dem Prüfobjekt abgewandten Seite des Standardobjektes 8 ist ein Spiegel
9 angeordnet. Das Prüfobjekt 7 und das Standard objekt 8 befinden sich daher auf derselben
optischen Achse der Fernsehkamera 1, die sich auf der Seite des Prüfobjektes 7 befindet.
Ist in diesem Falle das Prüfobjekt genau komplentär zum Standardobjekt 8 ausgebildet
(entsprechen also die durchsichtigen Teile des Prüfobjektes 7 genau den undurchsichtigen
Teilen des Standardobjektes 8 und umgekehrt), ist also das Prüfobjekt 7 ein-
wandfrei, so dringt kein Licht von der Lichtquelle 3 (die auf der Seite des Prüfobjektes
" angeordnet ist) durch die beiden Objekte hindurch. Die Kamera 1 nimmt in diesem Falle kein
vom Spiegel 9 reflektiertes Licht auf. Ist da-
gegen das Prüfobjekt 7 mit einem Fehler behaftet, so gelangt Licht durch die Fehlerstelle
auf den Spiegel 9. Das reflektierte Licht wird von der Fernsehkamera 1 erfaßt, sodaß die Einrichtung
2 ein Fehlersignal abgibt.
Bei dem in Fig.3 dargestellten weiteren bekann-
•35354Q0 - /-
ten Ausführungsbeispiel wird das mittels einer Fernsehkamera 1 aufgenommene Bild
des Prüfobjektes 7 mit dem in einem Speicher der Einrichtung 2A gespeicherte Stan-
dardbild verglichen.
Die Prüfverfahren gemäß den Fig.1 und 2 benötigen
somit ein Standardobjekt, mit dem das Prüfobjekt verglichen wird. Bei der bekannten
Ausführung gemäß der Fig.3 sind die
Einzelheiten des Standardobjektes in der Einrichtung
zur Datenverarbeitung gespeichert, wobei das aufgenommene Bild des Prüfobjektes
mit diesem gespeicherten Bild verglichen wird.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, ein Prüfverfahren sowie eine Prüfeinrichtung
zu entwickeln, die die automatische Feststellung eines etwaigen Fehlers im Prüfobjekt ermöglichen,
ohne daß hierfür ein Standardobjekt benötigt wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die
kennzeichnenden Merkmale des Anspruches 1 gelöst.
Zweckmäßige Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
AO
In der Zeichnung zeigen
Fig.1, 2 und 3 Schemadarstellungen von bekannten Prüfeinrichtungen,
Fig.4 Prinzipdarstellungen zur Er
läuterung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig.5 ein Blockschaltbild einer er
findungsgemäßen Prüfeinrichtung,
Fig.6 und 7 Schemadarstellungen von Prüf-Objekten.
Anhand der Fig.4A bis 4C soll zunächst das Grundprinzip der Erfindung näher erläutert werden.
Fig.4A veranschaulicht ein optisches Bild 7A eines (nicht dargestellten) Prüfobjektes auf dem Bildschirm
(bzw. dem photoelektrischen Wandlerschirm) S einer Fernsehkamera, die das Prüfobjekt aufnimmt.
Im angenommenen Fall besitzt das Prüfobjekt die Form eines gleichschenkligen Dreiecks ABC. Wird
der Bildschirm S gemäß Fig.4A durch eine Linie X-Y, die durch die Spitze A des gleichschenkligen
Dreiecks ABC läuft, in zwei Hälfte geteilt, so zerfällt hierdurch das Bild 7A des gleichschenkligen
Dreiecks in die Teile A1 und A2. Die Linie x-y wird dabei so gewählt, daß die Teile A1 und
A2 zueinander symmetrisch - bezogen auf die Linie X-Y - sind. Jedes der beiden Teile A1, A2
~ 0 —
läßt sich daher als Standard für den anderen Teil auffassen. Werden nun die von
den einzelnen Bereichen der Bildteile A1 und A2 herrührenden Signale der Fernsehkamera
nacheinander verglichen, so können
hierdurch etwaige Fehler des Prüfobjektes erfaßt werden. Sind in den beiden Bildteilen
A1 und A2 keine Fehler vorhanden, so liefern diese beiden Bildteile glelehe
Ausgangssignale der Fernsehkamera.
In diesem Falle wird das Prüfobjekt als gut bewertet. Stimmen dagegen die Signale
der beiden Bildteile nicht überein, so wird das Prüfobjekt als schlecht ausgesondert.
Der Vergleich der beiden Bildteile A1 und A2 wird nun anhand eines Ausführungsbeispieles
näher erläutert. Es sei angenommen,daß der Bildschirm S der Fernsehka
mera aus einer Anzahl kleiner Bildelemente besteht, die gitterförmig angeordnet
sind (wie später noch erläutert wird, werden die Bildsignale der Fernsehkamera
durch eine elektronische Einrichtung zur
Datenverarbeitung ausgewertet). Die Helligkeit, die die Bildteile A1 und A2 des
Prüfobjektes auf den entsprechenden Bildelementen des Bildschirmes S erzeugen, wird
in elektrische Signale umgewandelt, die
dann miteinander verglichen werden, was im folgenden anhand des Formvergleiches der
/a
Geraden AB und AC des Dreiecks gemäß Fig.4A erläutert wird. Dabei sei angenommen, daß
die Gerade AC einwandfrei ist, während die Gerade AB die aus Fig.4A ersichtliche Feilen lerstelle F aufweist. Vor die folgende Erläuterung
wird daher auf den Bereich Ala des Bildteiles A1, der die Fehlerstelle F enthält,
und den entsprechenden Bereich A2a des Bildteiles A2 Bezug genommen (diese beiden
IQ Bereiche sind in den Fig. 4B und 4C vergrößert
veranschaulicht). Die Bildelemente des Bereiches Ala werden rasterförrr.ig in der
Folge a, b, c, w, x, y abgetastet,
entsprechend die Bildelemente des Eereiches
A2a in der Folge a1 , b1 , c' , w1 , χ1 ,
y1·
Die von den einander entsprechenden Bildelementen a...y und a'...y' der Bereiche A1a und
A2a erzeugten elektrischen Signale werden
nacheinander verglichen. Im angenommenen Falle enthält nun der Teil des Prüfobjektes, der
auf die Bildeleinente n, r,und q des Bereiches A1a projiziert wird, die Fehlerstelle F, Es ergibt
sich infolge dessen eine Differenz zwischen den elektrischen Signalen,die diesen
Bildelementen n, r, q entsprechen und den elektrischen Signalen, die zu den benachbarten
Bildelementen h, 1 und m gehören - einerseits - und den elektrischen Signalen der entsprechenden
Bildelemente n', r1, q1 sowie h',
I1, m' des Bereiches A2a. Auf diese Weise werden
die Geraden AB und AC als unterschiedlich ermittelt.
BAD ORIGINAL
Das Prüfobjekt wird demgemäß als fehlerhaft
erkannt.
Anhand von Fig.5 wird im folgenden ein prak-
° tisches Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen
Prüfeinrichtung erläutert. Das von der Fernsehkamera 1 gelieferte Bildsignal eines
(nicht dargestellten) Prüfobjektes wird gleichzeitig einem Bildsignalverstärkers TO, einer
Synchronisiersignal-Trenneinrichtung 11 und
einem Fernsehmonitor 12 zugeführt, die zu c^r
datenverarbeitenden Einrichtung 2 gehören. Der Bildsignalverstärker 10 liefert ein verstärktes
Bildsignal an einen Analog - Digital - Viand-
I^ ler 14, der das Analog - Bildsignal in ein Digitalsignal
umformt. Die Synchronisiersignal-Trenneinrichtung 11 trennt aus dem Bildsignal
die vertikalen und horizontalen Synchronisiersignale ab. Ist eine solche Trenneinrichtung
^ ohnehin in der Fernsehkamera 1 enthalten, so
ist die Trenneinrichtung 1 nicht erforderlich.
Mittels des Fernsehmonitors 12 wird überprüft, ob sich das (nicht dargestellte) Prüfobjekt
in der richtigen Position, d. h. innerhalb
des Gesichtsfeldes der Fernsehkamera 1, befindet.
Weiterhin dient der Fernsehmonitor 12 zur Kontrolle, daß das Prüfobjekt von der
Fernsehkamera 1 mit der richtigen Fokussierung usw. aufgenommen wird.
Das vertikale und horizontale Synchronisiersignal wird von der Trenneinrichtung 11 einer
BAD
Adressen - Steuereinrichtung 15 zugeführt.
Sie liefert Adressensignale, die mit den vertikalen und horizontalen Synchronisiersignalen
synchronisiert sind, über einen Schalter 16 an den Adresseneingangsanschluß eines Bild
speichers 17. Das digitalisierte Bildsignal des Analog - Digital - Wandlers 14 wird andererseits
über einen Ein - Aus - Schalter 18, der mit dem Schalter 16 zur gemeinsamen Betatigung
gekoppelt ist, dem Bildspeicher 17 zu
geführt. Entsprechend der durch die beiden Synchronisiersignale bewirkten zeitlichen Steuerung
wird das digitalisierte Bildsignal in der richtigen Reihenfolge im Bildspeicher 17 gespeichert.
Da derartige Bildspeicher handels
üblich sind, brauchen ihre Einzelheiten hier nicht näher erläutert zu werden.
Ein Vergleichsadressengenerator 19 erzeugt nacheinander die Adressensignale für die zu vergleichenden
Teile innerhalb des Bildes. Die Ausgangssignale des Bildspeichers 17 und des Vergleichsadressengenerators
19 werden einem Datenverteiler 20 zugeführt. Die zwei Ausgangsdaten ~5 dieses Datenverteilers 20 gelangen zu einer di
gitalen Vergleichseinrichtung 21. 22 ist eine Alarmeinrichtung.
Im folgenden sei die Funktion der datenverarbeitenden
Einrichtung 2 näher erläutert.
BAD ORIGINAL
Das Bildsignal des Prüfobjektes wird durch den Analog - Digital - Wandler 14 in ein digitales
Signal umgeformt und in Form eines Rasters bzw. eines Halbbildes im Bildspeicher 17 gespeichert.
Dann werden die Schalter 16 und 18 aus der in
Fig.15 veranschaulichten Position in die entgegengesetzte
Schalterstellung gebracht. Die Zuführung von Signalen vom Analog - Digital - Wandler
14 zum Bildspeicher 17 wird hierdurch unterbrechen.
Gleichzeitig wird der Adresseneingangsanschluß des Bildspeichers 17 mit dem Adressensignalausgangsanschluß
des Vergleichsadressengenerators 19 über den Schalter 16 verbunden.
Nunmehr werden daher die Adressensigale, die jeweils
den zu vergleichenden Teilen im Bild entsprechen, von Vergleichsadressengenerator. 19
dem Bildspeicher 17 zugeführt. Im oben erläuterten Falle der Fig.4B und'4C werden daher vom
Vergleichsadressengenerator 19 die Adressensigna-2Ό Ie entsprechend den Bildelementen a, a1; b, b1;...
y, y1zugeführt.
Nach der erwähnten Umschaltung der Schalter 16 und 18 werden somit die im Bildspeicher 17 gespeicherten
digitalisierten Bildsignale in der
genannten Folge nacheinander dem Datenverteiler 20 zugeführt, d. h. entsprechend den vom Vergleichsadressengenerator
19 gelieferten Adressensignalen. Nachdem die'Adressensignale für die
zwei miteinander zu vergleichenden Elemente, bei
spielsweise die beiden Adressensignale für das
erste Paar der Elemente a und a1, dem Bildspei-
BAD ORIGINAL
α eher 17 zugeleitet wurden, liefert der Vergleichsadressengenerator
19 ein Steuersignal an den Datenverteiler 20, der infolgedessen die
den Bildelementen a und a' entsprechenden Daten ^ abgibt. Der Datenverteiler 20 führt infolgedessen
gleichzeitig die beiden Daten (d. h. die digitalisierten Bildsignale) der Bildelemente a und a1,
die ihm vom Bildspeicher 17 zugeleitet wurden, den Eingangsanschlüssen der digitalen Vergleichs-
^q einrichtung 21 zu. Da die Daten der Bildelemente
a und a' dem Datenverteiler 20 nacheinander zugeleitet
werden, enthält der Datenverteiler 20 eine logische Schaltung mit Speicherfunktion,
beispielsweise Schieberegister oder Relais.
Die Vergleichseinrichtung 21 vergleicht die beiden Daten. Wird eine Differenz zwischen den beiden
Daten festgestellt (hat also das Prüfobjekt an der gerade betrachteten Stelle einen Fehler},
so gibt die Vergleichseinrichtung 21 ein Signal
ab, das beispielsweise die Alarmeinrichtung 22
betätigt. Werden die PrüfObjekte während der Prüfung auf einem Förderer transportiert, so kann durch
dieses von der Vergleichseinrichtung 21 bei Feststellung
eines Fehlers abgegebene Signal auch
eine Einrichtung betätigt werden, die das fehlerhafte Produkt vom Förderer entfernt.
Das erläuterte Ausführungsbeispiel der Erfindung ist für die Prüfung eines Objektes mit ein
facher Form (etwa einer Form gemäß Fig.4A) bestimmt.
Auch dann, wenn das Prüfobjekt eine kom-
BAD ORiQlNAL
pliziertere Form aufweist, genügen jedoch we
nige änderungen in der Schaltung, Das Äusführungsbeispiel
gemäß Fig. 5 wurde vor allern deshalb bewußt einfach gewählt, um das Prinzip der
Erfindung verständlich zu erläutern.
Ohne Verwendung einer Hardware - Konstruktion gemäß Fig.5 läßt sich das erfindungsgemäße Verfahren
in noch einfacherer Weise dadurch realisieren, daß eine zentrale Datenverarbeitungsan
lage mittels eines geeigneten Programmes gesteuert wird. Da die Entwicklung eines geeigneten
Programmes anhand des erläuterten Funktionsprinzipes einem Fachmann keine Schwierigkeiten bereitet,
soll hierauf nicht näher eingegangen werden. ,
So kann beispielsweise die Einstellung der gegen- »
seitig zu vergleichenden Bildbereiche bei Herstellung des Programmes vorgegeben werden. Stattdessen
kann die Einstellung auch jeweils im Einzel
fall mittels eines äußeren Tastenfeldes oder durch einen Lichtschreiber erfolgen. Der Benutzer kann
daher in einem solchen Falle die Prüfeinrichtung auf einfache Weise dem jeweiligen Prüfzweck anpassen.
Wird eine noch genauere Untersuchung des Prüfobjektes
gewünscht, sollen also beispielsweise die aus Fig.4D ersichtlichen Bildteile genauer geprüft
werden, so wird die Fläche des Dreieckes
BAD ORIGINAL
ABC (vgl. Fig.4A) durch zwei senkrecht zur Geraden X-Y verlaufende Geraden 1 , 1„ weiter unterteilt,
wodurch die Zahl der im Raster angeordnete Bildelemente weiter vergrößert wird. Auf diese
Weise werden beispielsweise symmetrische Teile
A3, A31; A4, A41; A5, A5' gebildet. Das Prüfobjekt
wird dann als gut bewertet, wenn A3 = A3', A4 = A4', A5 = A5'. Der aufeinanderfolgende Vergleich
der symmetrischen Bildteilc wird hier in gleicher Weise wie bereits erläutert durchgeführt.
Auf diese Weise läßt sich beispielsweise auch
die nähere Umgebung einer Fehlstelle genauer untersuchen .
Die Bildunterteilung mu3 nicht unbedingt so er
folgen, wie dies in Fig.4A oder 4D dargestellt ist. Je nach der Form des Prüfobjektes oder der gewünschten
Genauigkeit kann die Unterteilung auch in anderer Weise erfolgen, wobei jedoch das Bild
des Prüfobjektes stets so unterteilt wird, daß
hierdurch symmetrische Bildteile entstehen.
Fig.4E veranschaulicht ein weiteres Beispiel einer solchen Unterteilung. Besitzt das Bild des Prüf-Objektes
die Form eines gleichseitigen Dreiecks,
so wird das Dreieck durch die vom Mittelpunkt 0 zu den Spitzen A, B und C verlaufenden Geraden
in drei symmetrische Teile A6, A7 und A8 unterteilt. Da hierbei gilt A6 = A7 = A8,kann die Prüfung
in der bereits erläuterten Weise durchge
führt v/erden.
BAD ORIGINAL
Der Bildschirm S muß ferner nicht unbedingt in
der anhand von Fig.4 erläuterten Weise in ein
Raster von Bildeleraenten unterteilt v/erden. Bezogen
auf das Beispiel in Fig.4A ist es z. B. δ auch möglich, die jeweiligen Abstände der Punkte
auf den Geraden AB und AC von der Linie X-Y festzustellen
und zu vergleichen bzw. die Abstände zwischen der Linie X-Y und den beiden Außenlinien
AB bzw. AC des Dreiecks.
10
10
Anhand der Fig.6 und 7 wird beispielsweise erläutert,
wie tatsächliche industrielle Produkte (z. B. elektronische Bauteile) bildmäßig unterteilt
werden können. Fig.6 veranschaulicht eine Anschlußleiste 30 für eine elektrische Schaltung. .*
Fig.6A zeigt dabei die Aufsicht und Fig.6B die Seitenansicht. Dabei bestehen die Teile.3OA und
3OB aus Isolierstoff und die Teile 3OC, 3OD und 3OE aus Metall. Wird in diesem Falle die Anschlußleiste
30 durch die gestrichelten Linien n1, n2, n3 und n4, die parallel zueinander verlaufen, unterteilt,
so erfüllen die hierdurch entstehenden Teile die Bedingung 3OA = 3 0B und 3OC = 3OD = 3OE.
Durch zwei Vergleichsprüfungen nach dem erläuterten Schema kann auf diese Weise die Prüfung der An
schlußleiste 30 erfolgen.
Fig. 7A veranschaulicht den Innenaufbau des (üblicherweise aus Kunststoff bestehenden) Isolier-
^O stoffkörpers eines Netzsteckers 40 für den häus
lichen Bedarf (100 - 240 V); Fig.7B veranschaulicht die Seitenansicht des Netzsteckers 40. Nach
8AD
χ der gleichen Unterteilungsmethode wie anhand der
Fig.4A, 4D, 4E und "6 läßt sich der Netzstecker 40 - bezogen auf die Linie X-Y - in untereinander
symmetrische Teile 4O1, 40'^ 4O2, 40'2; 4O3, 40'3
und 40., 40'. unterteilen, so daß die Beziehungen gelten 40. = 40^, 4O3 = 40' 3, 4O4 = 40'4· Werden
einander entsprechende Teile in der bereits erläuterten Weise miteinander verglichen, so kann auf
diese Weise der Netzstecker 40 sehr einfach auf etwaige Fehler überprüft werden.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird somit
zur untersuchung eines Prüfobjektes kein Standard·
objekt (Vergleichsobjekt) benötigt. Es wird vielmehr
das Bild des Prüfobjektes so unterteilt, daß
ein Teilbereich als Standard, d. h. zum Vergleich eines anderen Teilbereiches dienen kann. Der hierbei
durchzuführende Vergleich zwischen den einzelnen Bildbereichen führt zu einer besonders einfachen
Prüfung.
Vorraussetzung ist selbstverständlich, daß sich das Prüfobjekt so unterteilen läßt, daß hierbei
zueinander symmetrische Teile entstehen, die rniteinander verglichen werden können. Diese Voraus
setzung wird jedoch von den meisten industriellen Produkten erfüllt.
Die erfindungsgemäße Prüfeinrichtung zeichnet sich
durch einen sehr einfachen Aufbau, eine leichte
Bedienung und umfassende Anwendungsmöglichkeit aus.
BAD ORlQINAL
- Leerseite -
Claims (8)
1. Verfahren zur automatischen Prüfung eines Objektes,
gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte :
a) das Prüfobjekt wird beleuchtet;
b) das Prüfobjekt wird durch einen optischen Bildsensor
aufgenommen, der ein Videosignal liefert;
c) das optische Bild des aufgenommenen Prüfobjektes wird in wenigstens zwei Bildteile unterteilt,
die synunetrisch zueinander sind;
d) zur Feststellung des Vorhandenseins etwaiger Fehlstellen im Prüfobjekt werden die Videosignale,
die den symmetrischen Bildteilen entsprechen, sequentiell
miteinander verglichen.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Videosignal in ein Digitalsignal umgewandelt wird.
3. Verfahren nach Anspruch Z dadurch gekennzeichnet, daß zur Unterteilung des optischen Bildes in wenigstens
zwei symmetrische Bildteile
- das digitale Videosignal des Prüfobjektes synchron
mit einem im Videosignal enthaltenen Syn
chronisiersignal aufeinanderfolgend gespeichert wird
- und die digitalen Videosignale der einmal gleichzeitig gespeicherten entsprechenden
Bildteile gleichzeitig miteinander verglichen werden.
4. Vorrichtung zur automatischen Prüfung ei
nes Prüfobjektes, das durch eine Lichtquelle
beleuchtet wird, wobei das Prüfobjekt durch einen optischen Bildsensor aufgenommen
wird, dessen Bildschirm eine Anzahl von
I^ rasterförmig angeordneten Bildelementen enthält,
wobei ein vom optischen Bildsensor geliefertes Videosignal durch eine elektronische
Datenverarbeitungseinrichtung weiterverarbeitet wird, woraus eine Aussage gewonnen
wird, ob das Prüfobjekt einen Fehler besitzt
oder nicht, dadurch gekennzeichnet, daß die elektronische Datenverarbeitungseinrichtung
folgende Teile enthält:
a) eine Einrichtung zur Unterteilung des von dem
optischen Bildsensor aufgenommenen Bildes des Prüfobjektes in wenigstens zwei zueinander
symmetrische Bildteile;
b) eine Einrichtung zum aufeinanderfolgenden Vergleich
von Videosignalen, die von entsprechenden Bereichen der beiden Bildteile herrühren.
BAD ORIGINAL
^ ■
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung zur Unterteilung des Bildes folgende Schaltungsteile enthält:
= - einen Wandler zur Umwandlung des von dem opti
schen Bildsensor gelieferten Videosignales in ein digitales Videosignal,
eine Einrichtung zur Speicherung des digitalen ^q Videosignales synchron mit horizontalen und
vertikalen Synchronisiersignalen, die im Ausgangssignal des optischen Bildsensors enthalten
sind, - '
- eine Einrichtung zur Gewinnung gespeicherter
digitaler Videosignale von entsprechenden Bereichen der beiden Bildteile zur gleichen Zeit.
6. Vorrichtung zur automatischen Prüfung eines durch eine Lichtquelle beleuchteten Prüfobjek
tes, wobei das Prüfobjekt durch einen optischen
Bildsensor aufgenommen wird, dessen Bildschirm eine Anzahl von Bildelementen enthält, die in
einem Raster angeordnet sind, und wobei ferner das vom optischen Bildsensor gelieferte Videosignal
durch eine Einrichtung zur elektronischen Datenverarbeitung weiterverarbeitet wird, sodaß
hieraus eine Aussage gewonnen wird, ob das Prüfobjekt eine Fehlstelle besitzt oder nicht,
dadurch gekennzeichnetfdaß die Einrichtung zur
elektronischen Datenverarbeitung folgende Schaltungsteile
enthält:
BAD OR1@SNAL
a) eine Einrichtung zur Umwandlung des vom optischen
Bildsensor gelieferten Videosignales in ein digitales Videosignal;
b) eine Einrichtung zur Abtrennung vertikaler und horizontaler Synchronisiersignale aus
dem Ausgangsvideosignal des optischen Bildsensors;
c)'eine Einrichtung zur Erzeugung eines Adressen-
signales synchron mit den abgetrennten vertikalen und horizontalen Synchronisiersignalen,
d) eine Einrichtung zur Speicherung des digitalen I^ videosignales entsprechend der durch das Adressensignal
bewirkten zeitlichen Steuerung,
e) eine Einrichtung zur Erzeugung eines Vergleichs-
adressensignales und eines Steuersignales, 20
f) eine Einrichtung zur gesonderten Zuführung eines Adressensignales und des Vergleichsadressensignales
zur Speichereinrichtung,
"^ g) eine Einrichtung zum aufeinanderfolgenden Empfang
der Videosinale von der Speichereinrichtung, basierend auf dem Vergleichsadressensignal
,
h) eine Einrichtung zum Vergleich digitaler Videosignale
von wenigstens zwei Bildteilen, wobei diese Videosignale entsprechend dem Steuersig-
_5 _
nal zugeführt werden und beim Auftreten einer
Fehlerstelle ein Fehlersignal durch die Vergleichseinrichtung
erzeugt wird.
7, Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich
net daß, ein Fernsehmonitor vorgesehen ist, der das Videosignal des optischen Bildsensors erhält
und ein Bild des PrüfObjektes liefert.
8. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich
net, daß eine Alarmeinrichtung vorgesehen ist, die bei Empfang des Fehlersignales einen Alarm
erzeugt.
BAD ORlSSMAL
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59247743A JPH0616013B2 (ja) | 1984-11-22 | 1984-11-22 | 自動検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3535400A1 true DE3535400A1 (de) | 1986-05-22 |
Family
ID=17168006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19853535400 Ceased DE3535400A1 (de) | 1984-11-22 | 1985-10-03 | Pruefverfahren und pruefvorrichtung |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4692800A (de) |
JP (1) | JPH0616013B2 (de) |
AU (1) | AU576398B2 (de) |
CA (1) | CA1267219A (de) |
DE (1) | DE3535400A1 (de) |
FR (1) | FR2573531B1 (de) |
GB (1) | GB2167553B (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3737869A1 (de) * | 1987-11-09 | 1989-05-24 | Wagner Hans Juergen Dipl Ing | Verfahren und einrichtung zum optischen pruefen von gegenstaenden |
DE19534716A1 (de) * | 1995-09-19 | 1997-03-20 | Autronic Bildverarbeitung | Einrichtung zum Erfassen von Fehlstellen auf einer glatten Oberfläche |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4649621A (en) * | 1986-02-21 | 1987-03-17 | Artos Engineering Company | Wire processing apparatus having control means |
US4771468A (en) * | 1986-04-17 | 1988-09-13 | International Business Machines Corporation | System for automatic inspection of periodic patterns |
US4787715A (en) * | 1987-06-22 | 1988-11-29 | Westinghouse Electric Corp. | Fuel assembly grid inspection apparatus |
US4865800A (en) * | 1987-06-22 | 1989-09-12 | Westinghouse Electric Corp. | Fuel assembly grid inspection method |
US4929893A (en) * | 1987-10-06 | 1990-05-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Wafer prober |
US4991007A (en) * | 1989-05-05 | 1991-02-05 | Corley Ferrand D E | Image evaluation of at least one characteristic of an object, and method of evaluation |
IL99823A0 (en) * | 1990-11-16 | 1992-08-18 | Orbot Instr Ltd | Optical inspection method and apparatus |
IL107603A (en) † | 1992-12-21 | 1997-01-10 | Johnson & Johnson Vision Prod | Ophthalmic lens inspection method and apparatus |
US6883711B2 (en) * | 2001-08-17 | 2005-04-26 | Borgwarner Inc. | Missing link/part detector employing scanning engine |
EP2335337B1 (de) | 2008-10-02 | 2020-03-11 | ecoATM, LLC | Zweitmarkt- und verkaufssystem für geräte |
US7881965B2 (en) | 2008-10-02 | 2011-02-01 | ecoATM, Inc. | Secondary market and vending system for devices |
US11010841B2 (en) | 2008-10-02 | 2021-05-18 | Ecoatm, Llc | Kiosk for recycling electronic devices |
US10401411B2 (en) | 2014-09-29 | 2019-09-03 | Ecoatm, Llc | Maintaining sets of cable components used for wired analysis, charging, or other interaction with portable electronic devices |
CA2964214C (en) | 2014-10-02 | 2020-08-04 | ecoATM, Inc. | Wireless-enabled kiosk for recycling consumer devices |
EP3201885B1 (de) | 2014-10-02 | 2021-03-10 | ecoATM, LLC | Anwendung zur vorrichtungsevaluierung und für andere prozesse im zusammenhang mit dem recycling von vorrichtungen |
US10445708B2 (en) | 2014-10-03 | 2019-10-15 | Ecoatm, Llc | System for electrically testing mobile devices at a consumer-operated kiosk, and associated devices and methods |
CA3056457A1 (en) | 2014-10-31 | 2016-05-06 | Mark Vincent Bowles | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
WO2016069742A1 (en) | 2014-10-31 | 2016-05-06 | ecoATM, Inc. | Methods and systems for facilitating processes associated with insurance services and/or other services for electronic devices |
CA3227945A1 (en) | 2014-11-06 | 2016-05-12 | Ecoatm, Llc | Methods and systems for evaluating and recycling electronic devices |
US11080672B2 (en) | 2014-12-12 | 2021-08-03 | Ecoatm, Llc | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
US10127647B2 (en) | 2016-04-15 | 2018-11-13 | Ecoatm, Llc | Methods and systems for detecting cracks in electronic devices |
WO2017192496A1 (en) * | 2016-05-06 | 2017-11-09 | ecoATM, Inc. | Methods and systems for detecting damage in edge regions of mobile electronic devices |
US9885672B2 (en) | 2016-06-08 | 2018-02-06 | ecoATM, Inc. | Methods and systems for detecting screen covers on electronic devices |
US10269110B2 (en) | 2016-06-28 | 2019-04-23 | Ecoatm, Llc | Methods and systems for detecting cracks in illuminated electronic device screens |
CA3124435A1 (en) | 2018-12-19 | 2020-06-25 | Ecoatm, Llc | Systems and methods for vending and/or purchasing mobile phones and other electronic devices |
EP3924917A1 (de) | 2019-02-12 | 2021-12-22 | ecoATM, LLC | Verbinderträger für ein elektronischen vorrichtungskiosk |
AU2020221211A1 (en) | 2019-02-12 | 2021-09-23 | Ecoatm, Llc | Kiosk for evaluating and purchasing used electronic devices |
EP3928254A1 (de) | 2019-02-18 | 2021-12-29 | ecoATM, LLC | Auf einem neuronalen netzwerk basierte physikalische zustandsbeurteilung von elektronischen vorrichtungen und zugehörige systeme und verfahren |
US11922467B2 (en) | 2020-08-17 | 2024-03-05 | ecoATM, Inc. | Evaluating an electronic device using optical character recognition |
WO2022040667A1 (en) | 2020-08-17 | 2022-02-24 | Ecoatm, Llc | Evaluating an electronic device using a wireless charger |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3011014A1 (de) * | 1979-03-22 | 1980-10-02 | Hajime Industries | Fehlerpruefvorrichtung |
DE3149169A1 (de) * | 1980-12-22 | 1982-07-01 | Owens-Illinois, Inc., 43666 Toledo, Ohio | Verfahren und einrichtung zum vergleich von signalen bei einer pruefvorrichtung fuer behaelter |
DE3205726A1 (de) * | 1981-02-20 | 1982-10-07 | Kirin Beer K.K., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zur fehlerfeststellung an einer flasche |
DE3228010A1 (de) * | 1981-07-30 | 1983-02-17 | Kirin Beer K.K., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zur fehlerfeststellung in einem gegenstand |
DE3237818A1 (de) * | 1981-10-14 | 1983-04-28 | Fuji Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa | Verfahren zum pruefen von gegenstaenden auf fehler |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3647961A (en) * | 1970-04-09 | 1972-03-07 | Western Electric Co | T.v. -aided flaw detection using rotating image techniques |
DE2256617C3 (de) * | 1971-11-19 | 1978-08-31 | Hitachi, Ltd., Tokio | Einrichtung zur Analyse einer Vorlage |
US4056716A (en) * | 1976-06-30 | 1977-11-01 | International Business Machines Corporation | Defect inspection of objects such as electronic circuits |
DE2803653C3 (de) * | 1978-01-27 | 1986-05-28 | Texas Instruments Deutschland Gmbh, 8050 Freising | Ausrichtvorrichtung |
US4247203A (en) * | 1978-04-03 | 1981-01-27 | Kla Instrument Corporation | Automatic photomask inspection system and apparatus |
DE3013833C2 (de) * | 1979-04-13 | 1986-07-03 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Vorrichtung zur Prüfung eines auf einem Gegenstand befindlichen Musters auf Fehler |
DE3116802C2 (de) * | 1981-04-28 | 1983-05-05 | Krauser Kraftfahrzeugzubehör Vertriebs-GmbH, 8905 Mering | Vierventil-Zylinderkopf für einen Viertaktmotor |
EP0070017B1 (de) * | 1981-07-14 | 1986-10-29 | Hitachi, Ltd. | Mustererkennungssystem |
US4532650A (en) * | 1983-05-12 | 1985-07-30 | Kla Instruments Corporation | Photomask inspection apparatus and method using corner comparator defect detection algorithm |
JPH0236896B2 (ja) * | 1983-10-31 | 1990-08-21 | Matsushita Electric Works Ltd | Jikutaishobutsutainoketsukankensasochi |
-
1984
- 1984-11-22 JP JP59247743A patent/JPH0616013B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-09-05 US US06/772,759 patent/US4692800A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-09-11 CA CA000490482A patent/CA1267219A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-10-03 DE DE19853535400 patent/DE3535400A1/de not_active Ceased
- 1985-10-04 GB GB8524540A patent/GB2167553B/en not_active Expired
- 1985-10-30 AU AU49218/85A patent/AU576398B2/en not_active Ceased
- 1985-10-30 FR FR8516108A patent/FR2573531B1/fr not_active Expired
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3011014A1 (de) * | 1979-03-22 | 1980-10-02 | Hajime Industries | Fehlerpruefvorrichtung |
DE3149169A1 (de) * | 1980-12-22 | 1982-07-01 | Owens-Illinois, Inc., 43666 Toledo, Ohio | Verfahren und einrichtung zum vergleich von signalen bei einer pruefvorrichtung fuer behaelter |
DE3205726A1 (de) * | 1981-02-20 | 1982-10-07 | Kirin Beer K.K., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zur fehlerfeststellung an einer flasche |
DE3228010A1 (de) * | 1981-07-30 | 1983-02-17 | Kirin Beer K.K., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zur fehlerfeststellung in einem gegenstand |
DE3237818A1 (de) * | 1981-10-14 | 1983-04-28 | Fuji Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa | Verfahren zum pruefen von gegenstaenden auf fehler |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3737869A1 (de) * | 1987-11-09 | 1989-05-24 | Wagner Hans Juergen Dipl Ing | Verfahren und einrichtung zum optischen pruefen von gegenstaenden |
DE19534716A1 (de) * | 1995-09-19 | 1997-03-20 | Autronic Bildverarbeitung | Einrichtung zum Erfassen von Fehlstellen auf einer glatten Oberfläche |
DE19534716C2 (de) * | 1995-09-19 | 1999-06-17 | Autronic Bildverarbeitung | Einrichtung zum Erfassen von Fehlstellen auf einer glatten Oberfläche |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4692800A (en) | 1987-09-08 |
AU4921885A (en) | 1986-05-29 |
JPS61126454A (ja) | 1986-06-13 |
GB8524540D0 (en) | 1985-11-06 |
GB2167553B (en) | 1989-04-12 |
GB2167553A (en) | 1986-05-29 |
FR2573531B1 (fr) | 1987-07-17 |
AU576398B2 (en) | 1988-08-25 |
JPH0616013B2 (ja) | 1994-03-02 |
CA1267219A (en) | 1990-03-27 |
FR2573531A1 (fr) | 1986-05-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3535400A1 (de) | Pruefverfahren und pruefvorrichtung | |
DE3347645C1 (de) | Verfahren und Einrichtung zum opto-elektronischen Pruefen eines Flaechenmusters an einem Objekt | |
DE3315109C2 (de) | ||
DE69325729T2 (de) | Verfahren und Anordnung zur Prüfung einer gedruckten Leiterplatte | |
DE3012559C2 (de) | ||
DE4410603C1 (de) | Verfahren zur Erkennung von Fehlern bei der Inspektion von strukturierten Oberflächen | |
DE3838032C2 (de) | ||
DE2230650C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung einer Oberfläche | |
DE2830846C2 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken | |
DE2937335A1 (de) | Pruefsystem fuer das aeussere erscheinungsbild von gegenstaenden | |
DE3119688A1 (de) | Vorrichtung zur ueberpruefung eines objektes auf unregelmaessigkeiten | |
DE3123703A1 (de) | Optisches messsystem mit einer fotodetektoranordnung | |
DE3124949A1 (de) | Fehlerpruefverfahren und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE2508992A1 (de) | Verfahren zur ueberpruefung des einwandfreien zustands von bauteilen | |
DE2250387A1 (de) | Ueberwachungsverfahren und -vorrichtung | |
DE2811288C2 (de) | ||
DE3204086A1 (de) | Vorrichtung zur automatischen optischen beschaffenheitspruefung | |
DE2653590C3 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken | |
EP0708325B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Gegenständen, insbesondere von Flaschen | |
DE2830871B2 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern | |
DE1950573A1 (de) | Anlage zur UEberlagerung sichtbarer Bilder auf einem dynamischen Fernsehbild | |
DE2256617C3 (de) | Einrichtung zur Analyse einer Vorlage | |
DE2700252A1 (de) | Verfahren zum pruefen definierter strukturen | |
DE3226999A1 (de) | Verfahren und geraet fuer die erfassung von anomalien in der wiedergabe eines musters | |
DE2605705A1 (de) | Vorrichtung zur automatischen behandlung von aufzeichnungssignalen eines oszillografenbildschirms |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8131 | Rejection |