DE2256617C3 - Einrichtung zur Analyse einer Vorlage - Google Patents
Einrichtung zur Analyse einer VorlageInfo
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- DE2256617C3 DE2256617C3 DE19722256617 DE2256617A DE2256617C3 DE 2256617 C3 DE2256617 C3 DE 2256617C3 DE 19722256617 DE19722256617 DE 19722256617 DE 2256617 A DE2256617 A DE 2256617A DE 2256617 C3 DE2256617 C3 DE 2256617C3
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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Description
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Analyse
einer Vorlage gemäß dem Gattungsbegriff des Anspruchs 1.
Bei dieser aus der DE-OS 2053 611 bekannten
Einrichtung wird ein Bild abgetastet, in ein elektrisches Videosignal umgesetzt, das Videosignal in ein binärcodiertes Signal übergeführt und eine Abfrage des
binärcodierten Signals durchgeführt Diese bekannte Schaltungsanordnung betrifft die Synchronisation der
signalverarbeitenden Stufen und hat insbesondere die Aufgabe, sicherzustellen, daß die einzelnen Schaltungsstufen in genauer Synchronisation arbeiten. Dazu weist
die bekannte Schaltungsanordnung einen Taktsignalgenerator, der Taktimpulse vorgegebener oder veränderlicher Frequenz erzeugt, eine Abfragestufe, die das
binärcodierte Signal in Abhängigkeit von den Taktimpulsen abfragt sowie eine Schaltungsstufe mit bistabilen
Schaltungselementen, einem Schieberegister und Verknüpfungsglieder auf, die durch Kombination des
eigentlichen Videosignals und eines verzögerten Videosignals zur Synchronisation der Schieberegisteransteuerung und der Arbeitsweise der übrigen Schaltungselemente ein abgeändertes Videosignal erzeugt Bei dieser
bekannten Einrichtung wird jedoch keine Vorsorge getroffen, auch kleine und kleinste Fehlstellen in einem
komplizierten Muster zuverlässig und sicher festzustellen.
Bis jetzt werden komplizierte Muster, z. B. gedruckte
Schaltungen oder auf kleinen Plättchen angeordnete, integrierte Schaltungen durch Personen geprüft, die
Fehlstellen durch optische Untersuchung ermitteln. Da die nachzuweisenden Fehlerstellen gewöhnlich Bestandteile des betreffenden, komplizierten Musters sind
und sehr kleine Abmessungen aufweisen, werden sie
jedoch häufig übersehen und nicht entdeckt Darüber
hinaus nimmt die Prüfung und das Absuchen derartiger komplizierter Muster auch dann eine erhebliche Zeit in
Anspruch, wenn die dss Muster prüfende Person geübt ist Außerdem tritt eine ständig zunehmende Ermüdung
der Prüfperson ein, wenn solche optische Prüf arbeiten während einer längeren Zeit durchgeführt werden. Um
die Produktivität zu steigern und die Lohnkosten zu verringern, wurde bereits eine automatisierte Analyseeinrichtung vorgeschlagen, die es ermöglicht, Fehlste!-
len, die einen Bestandteil eines einfachen Musters auf
einem ebenen Hintergrund wie Papier, Glas, Stahl od. dgl bilden, nachzuweisen, doch sind bis jetzt keine
automatisch arbeitenden Prüfanlagen vorgeschlagen worden, die insbesondere geeignet sind, Fehlstellen, und
vor allem mikroskopische Fehlstellen nachzuweisen, die bei einem komplizierten Muster, z. B. einer gedruckten
Schaltung oder auf Plättchen angeordneten integrierten Schaltkreisen vorhanden sind. Daher besteht seit
langem der Wunsch, eine automatisierte Anarrse- bzw.
Prüfeinrichtung zur Verfugung zu haben, bei der mit
Videoinformationen gearbeitet wird.
Ferner ist bereits ein Prüfverfahren vorgeschlagen worden, bei dem ein Bezugsbild benutzt wird, das
keinerlei Fehlstellen enthält und sich aus Flächen oder Elementen von zwei verschiedenen Arten, z. B. hellen
und dunklen Flächen zusammensetzt, und das optisch in Deckung mit einem Bild eines zu prüfenden Erzeugnisses gebracht wird, das Fehlstellen aufweist, so daß es
möglich ist, die Fehlstellen nachzuweisen. Das Bezugs-
oder Vergleichsbild muß mit sehr hoher Genauigkeit in Deckung mit dem Bild des zu prüfenden Erzeugnisses
gebracht werden. Zu diesem Zweck werden ein Bezugsgegenstand bzw. ein .Vergleichsnormal und ein
zu prüfendes Erzeugnis oder Bauteil genau in der richtigen Lage festgehalten, und der Bezugsgegenstand
wird mit rotem licht beleuchtet, während das zu prüfende Erzeugnis mit grünem licht beleuchtet wird,
so daß der Prüfer die so erzeugten Bilder durch einen halbdurchsichtigen Spiegel betrachten kann. Wenn das
Vergleichsoriginal genau mit dem zu prüfenden Erzeugnis übereinstimmt, erscheinen die dunklen
Flächen in schwarzer Farbe, während die hellen Flächen in weißer Farbe erscheinen, da rotes und grünes licht
Komplementärfarben sind. Jedoch erscheint eine in der
dunklen Fläche enthaltene helle Fehlstelle in grüner Farbe, während eine in der hellen Fläche enthaltene
dunkle Fehlstelle in roter Farbe erscheint, so daß sich beide Arten von Fehlstellen leicht nachweisen lassen.
Dieses Verfahren hat jedoch den Nachteil, daß das Bild des Bezugsgegenstandes mit einer sehr hohen Genauigkeit in Deckung mit dem zu prüfenden Erzeugnis
gebracht werden muß, so diiß sich dieses Verfahren nur
von einem geübten Prüfer durchführen läßt Wenn ein Deckungsfehler zwischen den beiden Bildern vornan
den ist, erscheint der falsch angeordnete Teil in grüner
oder roter Farbe, so daß der betreffende Teil irrtümlich
als Fehlstelle betrachtet wird. Daher ist dieses Verfahren nicht geeignet, bei einer automatisierten
Analyseeinrichtung angewendet zu werden. w>
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine vollautomatisch arbeitende Einrichtung
zur Analyse einer Vorlage zu schaffen, mit der komplizierte Muster, beispielsweise gedruckte Schaltungen oder integrierte Halbleiterplättchen schnell und ts
zuverlässig auf kleine und kleinste Fehlstellen geprüft werden können.
kennzeHüjv^den Teil des Anspruchs 1 angegebenen
Merkma < .·. gciöst
Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Analyseeinrichtung sind in den Unteransprüchen angegeben.
In einem über das Gesamtraster zu verschiebenden Teilraster werden die eindimensional vorliegenden,
binären Videosignale in ein zweidimensional umgeordnetes Videosignal übergeführt und gespeichert In einer
nachfolgenden Signalverarbeitungsstufe wird dann daraus ein Signal gewonnen, das einem kleinen,
beispielsweise in seiner Helligkeit abgestuften Bereich des zu untersuchenden Musters entspricht, so daß diese
kleinen Bereiche oder Fehlstellen des Musters beispielsweise auf einen Schirm sichtbar gemacht werden
können.
Die Erfindung und vorteilhafte Einzelheiten der Erfindung werden im folgenden anhand schematischer
Zeichnungen an Ausführungsbeispielen näher erläutert Es zeigt
F i g. 1 eine Analyseeinrichtung bzw. Prüf anlage in einem Blockschaltbild,
Fig.5 in einem Blockschaltbild eine ähnliche
Prüf anlage wie F i g. 1, bei der jedoch ein »schwimmender«, mit einem Schwellwert arbeitender Analog-Digital-Umsetzer vorhanden ist,
Fig.6 ein Beispiel eines Bildes eines zu prüfenden
Musters,
F i g. 7 in einem Blockschaltbild eine Prüfanlage, die der in F i g. 1 dargestellten ähnelt mit dem Unterschied,
daß eine Einrichtung zum Erzeugen eines zweidimensionalen Bildes vorhanden ist,
F ig. 8 in einem Biockschaubild eine Prüf anlage ähnlich derjenigen nach Fig.7, bei der jedoch eine
abgeänderte Ausführungsform einer Einrichtung zum Erzeugen eines zweidimensionalen Bildes vorhanden ist
F i g. 9 in einem Blockschaltbild eine Prüf anlage, die derjenigen nach Fig.7 ähnelt, mit dem Unterschied,
daß eine weitere abgeänderte Ajsführungsform einer Einrichtung zum Erzeugen eines zweidimensionalen
Bildes vorhanden ist
F i g. 10 Einzelheiten eines Bestandteils der Prüfanlage nach F i g. 9,
F i g. 11 eine Darstellung, die zur Erläuterung der
Wirkungsweise der Prüfanlage nach F i g. 9 dient
Fig. 12 bis 15 verschiedene Darstellungen, die dazu
dienen, ein erfindungsgemäßes Verfahren zum Festlegen der Abstände von Begrenzungslinien zu erläutern,
F i g. 16 in einem Blockschaltbild weitere Einzelheiten der Prüf anlage nach F i g. 1,
F i g. 17 schematisch eine Schaltung zum Nachweisen eines mikroskopischen Elements, deren Wirkungsweise
auf dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Festlegen der Abstände von Begrenzungslinien beruht,
F i g. 18 in mehreren Darstellungen logische Muster, die dazu dienen, das Verfahren zum Festlegen der
Abstände von Begrenzungslinien zu erläutern,
F i g. 19 schematisch weitere Einzelheiten der Schaltung nach F i g. 16 zum Nachweisen von Begrenzungslinien,
F i g. 20 mehrere Darstellungen von logischen Mustern, die zur Erläuterung des erfindungsgemäßen
Verfahrens zum Nachweisen von Begrenzungslinien dienen,
F i g. 21 ein Ausfühmngsbeispiel für einen bei der
Prüf anlage nach F i g. 16 verwendeten Komparator,
Fig.22 bis 27 verschiedene Darstellungen zur Erläuterung des Vergrößerungs-Verkleinerungs-Ver-
fahrens nach der Erfindung,
F i g. 28 in einem Blockschaltbild eine Prüfanlage, die
derjenigen nach F i g. 1 ähnelt, mit dem Unterschied,
daß eine Einrichtung zum Verarbeiten eines kleinen Ausschnitts vorhanden ist, deren Wirkungsweise auf
dem erfindungsgemäßen Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahren beruht,
Fig.29A und 29B schematisch Einzelheiten einer
Schaltung zum Nachweisen eines kleinen Ausschnitts, deren Wirkungsweise auf dem Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahren beruht,
Fig.30 perspektivisch eine nach dem Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahren arbeitende optische
Verarbeitungseinrichtung,
Fig.31 bis 35 Darstellungen zur Erläuterung des is
erfindiingsgemäßen Verfahrens zum Ausmitteln von
Begrenzungslinien,
Fig.36 eine Darstellung zur Erläuterung des
Verfahrens zum Nachweisen eines kleinen Ausschnitts,
F i g. 37 in einem Blockschaltbild eine Prüfanlage, die derjenigen nach F i g. 1 ähnelt, abgesehen davon, daß die
Wirkungsweise der Einrichtung zum Verarbeiten eines kleinen Ausschnitts auf dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Nachweisen eines kleinen Ausschnitts
beruht,
F i g. 38 in mehreren Darstellungen logische Muster, die zur Erläuterung eines Verfahrens zum Nachweisen
von Fehlstellen dienen, und
F i g. 39 schematisch eine Einrichtung zum Nachweisen eines mikroskopischen Ausschnitts, deren Wir-
kungsweise auf dem Verfahren zum Nachweisen eines kleinen Ausschnitts beruht
Im folgenden wird zunächst auf den Grundgedanken der Erfindur.g eingegangen. Die erfindungsgemäße
Prüfanlage dient zum Prüfen eines mehrdimensionalen Musters, das sich aus Elementen zusammensetzt, die
zwei verschiedenen Zuständen, z. B. »ein« und »aus« oder »hell« und »dunkel« entsprechen; diese Zustände
werden im folgenden als »die binären Zustände« bezeichnet Bei den zu prüfenden Mustern kann es sich
um ein eindimensionales Muster, z.B. einen Telegraphenkode, oder um ein zweidimensionales Muster in
Form einer Sichtvorlage, sich aus weißen und schwarzen Flächen zusammensetzt, oder um ein
dreidimensionales Muster od. dgL handeln.
Bei der folgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen der Erfindung wird ein zweidimensionales
Muster behandelt, doch ist zu bemerken, daß sich die
Erfindung nicht auf diesen Anwendungsfall beschränkt, sondern sich auch bei beliebigen anderen mehrdimensionalen Mustern anwenden läßt
Ein zweidimensionales binäres Muster wird z.B. durch ein auf weißes Papier gedrucktes schwarzes
Schriftzeichen od. dgL gebildet, doch sei bemerkt, daß
sich die zweidimensionalen binären Muster nicht auf das weiter oben beschriebene Muster beschränken, das sich
im engsten Sinne des Wortes aus den genannten binären Zuständen zusammensetzt Beispielsweise "können die
binären Informationen einem mehrfarbigen Plakat mit Hilfe eines optischen Filters entnommen werden, und es
ist sogar möglich, einen Gegenstand mit einem komplizierten Profil und einem Oberflächenmuster als
zweidimensionales binäres Bild zu behändem, wenn der
Gegenstand vor einem geeigneten Hintergrund beleuchtet wird. Im letzteren Fall ist es nicht unbedingt
erforderlich, eine binäre Umsetzungsschaltung der weiter unten beschriebenen Art zu benutzen.
verschiedenen »Pegeln«, bei dem die Tönung schrittweise oder kontinuierlich variiert, um den gewünschten
Kontrast zu liefern, kann das Muster in ein zweidimensionales Muster verwandelt werden, wenn man ein mit
einem Schwellwert arbeitendes Verfahren anwendet
Die erfindungsgemäßen Prüfanlagen sind geeignet, zweidimensionale Muster der vorstehend beschriebenen Art zu verarbeiten.
Gemäß F i g. 1, die eine grundsätzliche Analyseeinrichtung nach der Erfindung wiedergibt, wird eine
Vorlage, ein zu prüfender Gegenstand, beispielsweise
ein elektronischer Bauteil U, der geprüft werden soll, mittels einer Stufe zur Gewinnung eines Videosignals,
z.B. einer Fernsehkamera 12, abgetastet Erforderlichenfalls kann zwischen dem Bauteil U und der
Fernsehkamera 12 ein optisches Filter angeordnet sein.
Das Videoausgangssignal der Fernsehkamera 12 wird mittels einer Stufe zur Abfrage des Videosignals,
nachfolgend kurz mit Abfrageschaltung 13 bezeichnet, abgefragt, die so ausgebildet sein kann, daß sie die
Abtastsignale der Fernsehkamera 12 in vorbestimmte Zeitintervalle unterteilt Das Ausgangssignal der Abfrageschaltung 13, dessen Pegel in Abhängigkeit von den
Eigenschaften des zu prüfenden Bauteils 11 variiert, in
einer Stufe zur Bewertung und/oder Codierung bzw. einer Quantisierungsschaltung oder eines Analog-Digital-Umsetzers 14 in binäre Signale umgesetzt, die die
hellen und dunklen Flächen des Bauteils U repräsentieren. Im vorliegenden Fall wird das Ausgangssignal der
Fernsehkamera 12 zuerst abgefragt und dann in die binären Signale verwandelt Es ist jedoch auch möglich,
das Ausgangssignal der Fernsehkamera 12 in binäre Signale zu verwandeln und diese Signale dann
abzufragen. Die Quantisierungsschaltung 14 kann als analoger Komparator oder ein Analog-Digital-Umsetzer ausgebildet sein, dessen mehrere Pegel aufweisende
Ausgangssignale durch einen mit einem Schwellwert arbeitenden Diskriminator in die binären Signale
verwandelt werden können. Gemäß der Erfindung wird ein Verfahren angewendet, bei dem mit einem festen
Schwellwert gearbeitet wird. Inn weiteren wird dann noch ein Verfahren beschrieben, bei dem von einem
sogenannten »schwimmenden« Schwellwert, also einem veränderbaren bzw. regelbaren Sichwellwert Gebrauch
gemacht wird. Das Ausgangssignal der Quantisierungsschaltung 14 wird einer Stufe zur Signalverarbeitung
bzw. einer Stufe zum Verarl>eiten eines kleinen Ausschnitts, kurz Verarbeitungsstufe bzw. -einrichtung
16 genannt, zugeführt Bei der Verarbeitungsstufe 16 kann es sich um einen elektronischen Rechner handeln.
Anstelle eines kostspieligen Rechners werden bei der vorliegenden Erfindung statt dessen eigens konstruierte,
im folgenden im einzelnen beschriebene Einrichtungen benutzt, die es ermöglichen, erstens ein Verfahren zum
Festlegen von Begrenzungslinien, zweitens ein Ver
grSßcrungs-Verklciscruiigs-Vcrfshrcn,
Verfahren zum Ausmitteln eines Umfangs und viertens ein Verfahren zum Nachweiseil eines kleinen Ausschnitts durchzuführen. Die Erfindung beschrankt sich
jedoch nicht auf die g dieser vier Verfahren. Gemäß Fig.1 wird eine Warneinrichtung oder ein
Farbfernsehempfänger als Anzeige- oder Darsteuungseinrichtung an eine Ausgangsklemme 17 angeschlossen.
Zum Nachweisen oder Ermitteln des kleinen Ausschnitts eines mehrdimensionalen Musters kann man
von einem simultanen oder parallelen Verarbeitungsverfahren und einem Folge verfahren oder einem
seriellen Verfahren Gebrauch machen. Das Simultan-
oder Parallel- Verarbehungsverfahren biet j ι Jen Vorteil,
dciß sich die Verarbeitung sehr schnell durchführen läßt, doch hat es den Nachteil, daß sich die Anzahl der
benötig'en Bauteile erheblich vergrößert, was zu hohen Herstellungskosten führt Das Folge- ocier Serien-Verarbeitungsverfahren
arbeitet nicht so schnell wie das Simultan- oder Parallelverfahren, doch benötigt man
hierbei für jedes tinzelbüd nur eine Zeitspanne in der
Größenordnung von 10 ms, so daß sich in der Praxis keine größeren Schwierigkeiten ergeben. Die Verarbeitung
nach dem Folgeverfahren wird gemäH Fig. 1 mit
Hilfe einer Speicherstufe in Form eines zweidimensionalen
Pufferspeichers 15 durchgeführt. Die in Fig. 1 dargestellten Einrichtungen werden im folgenden näher
beschrieben.
QuantisierungsschaUung
bzw. Analog-Digital-Umsetzer
bzw. Analog-Digital-Umsetzer
Das durch die interne Fernsehkamera 12 erzeugte kontinuierliche Videosignal wird durch eine Gletchstromregenerationsschaltung
auf dem Pegel Null gehalten, wobei der Schwarzpegel auf 0 V eingestellt ist, und dann wird dieses Signal in die binären Signale
verwandelt, wobei entweder mit einem festen oder mit einem schwimmenden Schwellwert gearbeitet wird.
Bei dem mit einem festen Schwellwert arbeitenden Verfahren handelt es sich um das einfachste und
gebäuchlichste Verfahren. Bei diesem Verfahren wird das optische Bild des zu prüfenden Bauteils in der
internen Fernsehkamera mit Hilfe eines photoelektrischen Wandlers abgetastet und in kontinuierliche
elektrische Signale umgesetzt, die dann unter Anwendung eines vorbestimmten Schwellwertes in die binären
Signale verwandelt werden. Der Schwellpegel kann z. B. auf einen mittleren Pegel zwischen dem Weißpegel und
dem Schwarzpegel des Bildes festgelegt werden, doch hat dies den Nachteil, daß sich nur eine große Fehlstelle
nachweisen läßt, während sich eine Fehlstelle mit äußerst kleinen Abmessungen wegen des begrenzten
Auflösungsvermögens des verwendeten photoelektrischen Wandlers nicht nachweisen läßt
F i g. 2 zeigt das Muster eines zu prüfenden Bauteils, das Fehlstellen aufweist Handelt es sich bei dem zu
prüfenden Bauteil um eine Maske zum Herstellen eines integrierten Schaltkreises, repräsentiert die dunkle
Fläche z. B. Chrom, das auf einer durchsichtigen Glasplatte niedergeschlagen worden ist Die Fehlstellen
innerhalb der dunklen Fläche sind in F i g. 2 mit 18 und 19 und in der hellen Fläche mit 20 und 21 bezeichnet
Das Videosignal 23 entsteht während des Abtastens längs der durch die Fehlstellen verlaufenden gestrichelten
Linie 22. Die Fehlstellen erscheinen gemäß dem unteren Teil von F i g. 2 in dem Videosignal bei 18', 19',
20' und 21'. Ein Schwellpegel 24 wird gemäß Fi g. 2 in
der Mitte zwischen dem Weißpegel und dem Schwarzpegel festgelegt. Wenn «Se Fehlstellen i9 und 21 bn
Vergleich zum Durchmesser des Elektronenstrahls zu klein sind, erreichen die Pegel der Signale 19' und 21',
welche die Fehlstellen 19 und 21 repräsentieren, nicht
den Schwellpegel 24. Daher werden gemäß F i g. 3 nur binäre Signale entsprechend der Linie 25 erzeugt, und es
ist ersichtlich, daß die kleinen Fehlstellen 19 und 21 nach F i g. 2 Oberhaupt nicht nachgewiesen werden.
Bei dem mit einem schwimmenden Schwellpegel arbeitenden Verfahren wird dagegen der Schwellpegel
in Abhängigkeit vom Dunkelpegel und vom Hellpegel eines Bildes variiert, so daß auch die äußerst kleinen
Fehlstellen 19 und 20 nachgewiesen werden können. Beispielsweise wird gemäß Fig.? mit einem variablen
Schwellpegel 26 gearbeitet, der gesenkt wird, wenn der Pi'gei des Videosignals niedrig ist, der jedoch angehoben
wird, wenn der Pegel des Videosignals hoch ist Der '. Mittelwert des schwimmenden Schwellpegels 26 fällt
mit dem festen Schwellpegel 24 zusammen, und er sinkt etwas tiefer als der Pegel des Videosignals 23. Das die
jeweilige Fehlstelle repräsentierende Signal weist eine Polarität auf, die der Polarität des den Hintergrund
i:i repräsentierenden Signals entgegengesetzt ist, und der
schwimmende Schwellpegel muß im Vergleich zu der Polaritätsumkehr des Videosignals 23 hinreichend
langsam variiert werden. Auf diese Weise ist es möglich, die in Fig.4 dargestellten binären Signale 27 zu
gewinnen. Es ist ersichtlich, daß das Videoausgangssignal sehr schnell auf die Heliigkeitsumkehrung des
Bildes an den Fehlstellen und den Grenzen zwischen den dunklen und den hellen Flächen anspricht. Der
schwimmende Schwellpegel 26 soll vorzugsweise möglichst hoch liegen, soweit dies möglich ist, ohne daß
die Rauschpegel sowohl bei dem Hellpegel als auch bei dem Dunkelpegel erreicht werden. Zwar wird der
schwimmende Schwellpegel aus dem Videosignal abgeleitet, doch wenn eine zu lange Ansprechzeit
benötigt wird, fällt das eine Fehlstelle repräsentierende Signal nicht mit der tatsächlichen Lage der Fehlstelle
zusammen; ist dagegen die Ansprechzeit zu kurz, verschlechtert sich das Auflösungsvermögen. Daher
muß man entsprechend dem betreffenden Bild und dem zu prüfenden Bauteil jeweils einen Kompromiß
zwischen der Ansprechzeit und dem Auflösungsvermögen anstreben.
Fig.5 zeigt in einem Blockschaltbild eine gemäß F i g. 1 ausgebildete Prüfanlage, die mit einer Einrichtung
der beschriebenen Art zum Erzeugen binärer Signale versehen ist, welche mit einem schwimmenden
Schwellpegel arbeitet Der zu prüfende Gegenstand 11,
z. B. eine gedruckte Schaltung oder eine Maske für einen integrierten Schaltkreis, wird von einer internen
Fernsehkamera 12 abgetastet Ein Generator 28 für einen festen Schwellwert liefert einen festen Schwellpegel,
der sich nach den Hell- und Dunkelpegeln eines Bildes richtet In Fig.5 ist das Ausgangssignal der
internen Fernsehkamera 12 mit 28a bezeichnet; das Ausgangssignal des Generators 28 ist mit 34 bezeichnet;
ferner ist gemäß F i g. 5 eine Subtraktionsschaltung 29 vorhanden, die das Ausgangssignal 34 von dem
Ausgangssignal 28a abzieht, so daß der mittlere Schwellpegel nahezu auf Null gehalten werden kann;
so das Ausgangssignal der Subtraktionsschaltung 29 ist in F i g. 5 mit 35 bezeichnet; ferner ist eine Kompressionsund
Glättungsschaltung 30 vorhanden, deren Verstärkung bezüglich des Ausgangssignals 35 etwas kleiner ist
als 1, und die dem Eingangssignal langsam nacheilt In der Praxis sind die Subtraktionsschaltung 29 und die
Schaltung 3G als Operationsverstärker ausgebildet; einer dieser Verstärker bildet eine sogenannte lineare
Verzögerungsleitung mit einem Widerstand und einem Kondensator, die in die Rückkopplungsschleife eingeschaltet
ist, und der andere Verstärker ist ein Inverter, der mit einer Verstärkung von weniger als 1 arbeitet
und zum Umkehren der Polarität dient Weiterhin ist eine Additionsschaltung 31 vorhanden, die dazu dient,
das Ausgangssignal 36 der Schaltung 30 zum Ausgangssignal 34 des Generators 28 für den festen Schwellwert
zu addieren, so daß der mittlere Pegel des Signals 36 mit
dem Pegel des Videosignals 28a übereinstimmen kann. Das Ausgangssignal 37 der Additionsschaltung 31 bildet
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gemäß I" i g. 2 den schwimmenden Schwellpegel 26. F.inc
Umsetzerschaltung 32 in Form eines Kornparators 32 vergleicht die beiden Eingangssignale 35 und 37 und
liefen je nach dem Unterschied zwischen diesen Signalen eine »1« oder eine »0«. Das Ausgangssignal 38
des !Comparators 32 einspricht dem in F ig. 4
dargestellten Signa! 27, bei dem es sich um ein Linares Signal handelt.
In dem Generator 28 für den festen Schwellpegel kann eine Spannung, die einer Quelle für eine konstante
Spannung entnommen wird, mittels eines verstellbaren Widerstandes geteilt werden, und die übrigen Einrichtungen
29. 30, 31 und 32 können als einfache Operationsverstärker ausgebildet sein.
Im vorliegenden Fall wird der photoelektrische Umsetzer 12 als interne Fernsehkamera bezeichnet, die
dazu dient, das zu prüfende Bauteil 11 abzutasten, so daß
aufeinanderfolgende Videosignale erzeugt werden, doch kann man die erfindungsgemäße, mit einem
schwimmenden Schwellpegel arbeitende Anordnung auch bei einer Anordnung verwenden, bei der
zweidimensionale Informationen gleichzeitig verarbeitet werden, und zwar mit Hilfe eines photoelektrischen
Umsetzers 12, der so ausgebildet ist, daß er es ermöglicht, ein fokussiertes Bild mit Hilfe einer
Anordnung von Photozellen zu speichern; hierbei nimmt der Speicher ein Bild auf, das innerhalb seiner
gesamten Fläche eine gleichmäßige Helligkeit hat, und dessen mittlerer Pegel, bei dem es sich um den
räumlichen Mittelwert handelt, festliegt. Der anstelle des Generators 28 verwendete Speicher kann z. B. als
Einzelbildspeicher ausgebildet sein. Alternativ kann man ein Linsensystem benutzen, das geeignet ist, ein
Bild zu speichern, das mittels eines Tiefpaßfilters übermittelt wird, weiches geeignet ist, die räumlichen
Variationen des Eingangsbildes zu unterbrechen. Anstelle der Subtraktionsschaltung 29 kann man z. B. eine
Anordnung oder Gruppe von Operationsverstärkern verwenden, die dazu dienen, die Helligkeit eines Bildes
dadurch zu verändern, daß sie den Mittelwert der Helligkeit von dem Helligkeitswert abziehen. Bei der
Schaltung 30 handelt es sich um eine Fiitereinrichtung, z. B. ein Tiefpaßfilter, das geeignet ist, die erforderliche
Unscharfe hervorzurufen. Die Einrichtung 31 ist als Bildadditionseinrichtung und die Einrichtung 32 als
Bildkomparator ausgebildet. Hierbei wird das Schwellwertsignal 37 des Bildes zu einer zweidimensionalen
Information in Gestalt einer leicht gewellten Wellenform, und hieraus wird der diesen Schwcllpcgcl
überschreitende steile Bildteil abgeleitet.
Bei Elektrokardiogrammen und Elektroencephalogrammen, bei denen sehr schwache elektrische Signale
verarbeitet werden müssen, führt die Auswanderung der "Detektoren zu erhebliciien Schwierigkeiten, doch wird
bei einer erfindungsgemäßen Anordnung, bei der mit einem schwimmenden Schwellpegel gearbeitet wird,
der Schwellpegel in Abhängigkeit von der langsamen Auswanderang variiert, so daß die Auswanderung nicht
zu Schwierigkeiten führt, wenn die Signale in die binären Signale verwandelt werden. Daher läßt sich
auch eine sehr kleine Spitze, die eine Pohlstelle repräsentiert, leicht nachweisen.
Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Benutzung eines schwimmenden Schwellpegels besteht bei
der Anwendung der Erfindung bei einer Mustererkennungseinrichtung
darin, daß die durch eine Fernsehkamera od-dgL herbeigeführte Bildabschattung nicht zu
Schwierigkeiten führt Mit anderen Worten, wenn der Schweilpegd 24 niedrig ist, damit gemäß F i g. 2 die
Fehlstelle 19' n.'fchgewitsen werden kann, ist die Kurve
des. Schwarzpegels im allgemeinen wegen der ungleich
mäßigen Empfindlichkeit des Bildes gekrümmt. Wird ■■ das gebräuchliche Verfahren mit einem festen Schwellwen
angewendet, besieht dis.· Gefahr, daß das Signal,
das den normalen Schwarzpegel mit Ausnahme einer Fehlstelle repräsentiert, den Schwellpegel überschreitet,
so daß das Signal irrtümlich den Weißpegel repräsen-
;i) tiert. Wird dagegen gemäß der Erfindung mit einem
schwimmenden Schwellpegel gearbeitet, ist es möglich. die fehlerhafte binäre Umsetzung, die auf die ungleichmäßige
Empfindlichkeit, z. B. die Bildabschattung, zurückzuführen ist, so weit zu verhindern, daß sich die
Ii Schwarz- und Weißpegei des Videosignals nicht
überlappen, was insoweit gilt, als diese Pegel innerhalb des Bereichs außerhalb des mittleren Pegels variieren.
Zweidimensionaler Pufferspeicher
2u Der zweidimensionale Pufferspeicher dient dazu, die
zweidimensional angeordneten Informationen, z. B. das Videosignal oder magnetische oder mechanische
Informationen, die im folgenden- als »Musterinformationen« bezeichnet werden, in eindimensionale zeitabhängige
Informationen dadurch zu verwandeln, daß eine Abtastung bewirkt wird, woraufhin die Informationen
entsprechend einer zweidimensionalen Musterinformation neu geordnet werden.
Bei einer Einrichtung zum Verarbeiten optischer
Bei einer Einrichtung zum Verarbeiten optischer
3d Informationen wird das Bild eines Gegenstandes, das
mit Hilfe einer Videosignal-Eingabeeinrichtung, z. B. einer Fernsehkamera, gewonnen wird, im allgemeinen
in Signale verwandelt, die die Intensitätswerte der Bildelemente repräsentieren.
J5 Die bis jetzt übliche Verarbeitung der informationen
der beschriebenen Art wird gewöhnlich mit Hilfe eines Digitalrechners durchgeführt. Hierbei ist es erforderlich,
eine sehr große Menge von Videoinformationen in einem Kern- oder Trommelspeicher zu speichern, und
jede einzelne Information wird verarbeitet, um die Eigenschaften des Gegenstandes darzustellen. Wenn
z. B. ein Einzelbild in der Längsrichtung durch 240 Linien und in der seitlichen Richtung durch 320 Linien
unterteilt wird, enthält jedes Einzelbild 76 800 Bildele-ϊ mente. Werden jeweils sechs Bits verwendet, um die
hellen und dunklen Bildelemente zu repräsentieren, benötigt man einen Speicher von großem Fassungsvermögen,
der 461 000 Bits aufnehmen kann. Außerdem müß jedes Bildelernent verarbeitet werden. Benötigt
man 100 Mikrosekunden zum Verarbeiten jedes Bildelements, würde die Verarbeitung aller Bildelemente
eines Einzelbildes etwa 7,7 sec in Anspruch nehmen. Die Tatsache, daß in dem Speicher eine große Menge
von Informationen gespeichert sind, und daß sich eine längere Verarbeitungszeit ergibt, bedeutet, daß man
einen elektronischen Rechner von hoher Leistung während einer Zeitspanne von erheblicher Länge
einsetzen muß. Hieraus ergeben sich sehr hohe Kosten für die Prüfanlage.
bo Im Gegensatz zu dem bekannten Verfahren, bei dem die Videoinformationen zuerst in einem Speicher
gespeichert und dann verarbeitet werden, ist es gemäß der Erfindung möglich, die Musterinformationen bei
ihrem Eintreffen augenblicklich zu verarbeiten. Daher bietet die Erfindung den Vorteil, daß sich die
Musterinformationen mit einer Geschwindigkeit verarbeiten lassen, die gleich der Eingabegeschwindigkeit ist
Bis jetzt ist keine Eingabeeinrichtung vorgeschlagen
worden, die geeignet ist, gleichzeitig die gesamten /weidimensionalen Informationen aufzunehmen Im
allgemeinen werden die Videosignale ζ. Β dadurch gewonnen, daß der Gegenstand mittels einer Fernsehkamera
abgetastet wird. Bei dem zweidimensionalen Pufferspeicher nach der Erfindung wird der zweidnncnsionale
Raum durch einen Abtastvorgang in eindimensionale zeitliche Informationen umgewandelt, die dann
mit Hilfe einiger weniger Speicher in die zweidimensionalen
Informationen umgewandelt werden, so daß es :,, möglich ist, die Videoinformationen im Hinblick auf die
Aufgabe der Erfindung auf optimale Weise zu verarbeiten.
Beim Verarbeiten von Videoinformationen ist es häufig erwünscht, bei einem Bild der in Fig. 6 ι τ
dargestellten Art das Rauschen zu beseitigen. Zu diesem Zweck wurde bereits ein sehr einfaches Verfahren zum
Beseitigen des Rauschens aui» den Signalen vorgeschlagen,
gemäß welchem eine Abtastung unter Benutzung eines Zeilfilters durchgeführt wird. Hierbei handelt es :o
sich jedoch um ein eindimensional arbeitendes Verfahren, so daß die zu den abgetasteten Zeilen rechtwinkligen
Komponenten unberücksichtigt bleiben. Um die zweidimensionalen Informationen zu verarbeiten, ist es
erforderlich, die bei den vorausgehenden Abtastvorgar- >·-,
gen gewonnenen Informationen zu speichern, so daij auch die orthogonalen Komponenten verarbeitet
werden können. In der Praxis werden vorzugsweise mindestens die in F i g. 6 mit 39 bezeichneten Informationen
in der Verarbeitungseinrichtung gespeichert. Die jo einfachste technische Lösung besteht darin, sämtliche
Informationen über das Bild zu speichern, so daß die in Fig.6 mit 39 bezeichneten Informationen in jedem
beliebigen Zeitpunkt verwendet werden können. Dies geschieht in der vorstehend beschriebenen Weise mit v,
Hilfe eines Digitalrechners, doch benötigt man hierbei eine außerordentlich große Anzahl von Speicherstellen,
und das Ein- und Ausgeben bedingt einen erheblichen Zeitverbrauch, so daß sich ein komplizierter Aufbau der
Verarbeitungseinrichtung ergibt und hohe Kosten w entstehen. Gemäß der Erfindung werden jedoch nur die
in F i g. 6 mit 39 bezeichneten Informationen gespeichert und verarbeitet, so daß man die Anzahl der
Speicherelemente verarbeitet, so daß man die Anzahl der Speicherelemente verringern kann. Außerdem 4=i
werden die Informationen verarbeitet, sobald die durch
das Abtasten gewonnenen Videoinformationen eintreffen, so daß sich die Verarbeitungszeit erheblich
abkürzen läßt. Daher ist es gemäß der Erfindung möglich, eine Einrichtung von einfacher Konstruktion
zu schaffen und die zweidimensionalen Informationen sehr schnei! zu verarbeiten.
Enthalten die in Fig.6 mit 39 bezeichneten Informationen m abzutastende Zeilen, von denen jede
die Länge I hat, müssen Informationen verarbeitet
werden, die dem Produkt von m und 1 entsprechen. Wenn der Ausschnitt m χ 1 eine Speicherfunktion hat,
ist die Speicherkapazität derart, daß nur die Informationen gespeichert zu werden brauchen, die einer um 1
verkleinerten Zeilenzahl entsprechen, d h, es brauchen nicht alle m Zeilen abgetastet zu werden. Die zu
benutzende Einrichtung würde sehr kompliziert und teuer werden, wenn die Speicherelemente zum Speichern
der Informationen längs der Abtastlinie / derart wären, daß sich kontinuierlich ändernde Helligkeitsinformationen
gespeichert werden können. Daher wird eines von mehreren praktisch brauchbaren Verfahren
angewendet, das darin besteht, daß die Abtastlinie in
bestimmten Intervallen unterteilt wird, die sich nach den Abständen zwischen benachbarten Abtastlinien richten,
wobei in der Praxis die Abtastlinie / zeitabhängig abgefragt wird, und daß die abgefragten Informationen
zum Zweck des Speicherns quantisiert werden. Unterteilt man die Abtastlinie oder Zeile /inn Abschnitte und
benutzt man zum Quantisieren k Bits, ergibt sich die benötigte Kapazität zum Speichern der Informationen
39 als das Produkt aus m, η und k. Die quantisierten
Informationen können in Registern, Verzögerungsleitungen oder mit Blasenspeichern arbeitenden Verschiebungsschaltungen
gespeichert werden. Kontinuierliche Informationen lassen sich in einer Analogplatte
speichern, so daß es nicht unbedingt erforderlich ist, Abfrage- und Quantisierungsvorgänge durchzuführen.
F i g. 7 zeigt eine Ausführungsform der Erfindung, bei der m gleich i, η gleich 4 und Ar gleich 2 ist. Die
Fernsehkamera 12, z.B. ein Vidikon, dient dazu, das optische Bild in elektrische Signale umzusetzen. Ferner
ist ein Steuersignalgenerator 40 vorhanden, der die Synchronisations- oder Taktsignale und die Abtastsignale
für die Fernsehkamera 12 und die Abfrageeinrichtung 13 liefert. In Abhängigkeit von dem Abtastsignal
führt die Fernsehkamera 12 auf bekannte Weise eine Waagerechtabtastung durch, so daß das zweidimensionale,
sich aus dunklen und hellen Elementen zusammensetzende Bild in die eindimensionalen elektrischen
Informationen umgesetzt werden kann, die Dunkelheits- und Helligkeitsinformationen enthalten.
Die elektrischen Informationen werden durch die Abfrageschaltung 13 in Abhängigkeit von dem Steuersignal
abgefragt, das ihr von dem Steuersignalgenerator
40 aus zugeführt wird und mit dem Abtastsignal synchron ist. Daher wird die Abtastzeile / in η
Abschnitte unterteilt Eine Quantisierungsschaltung 14, z. B. ein Analog-Digital-Umsetzer, verwandelt die
analogen elektrischen Informationen in digitale Informationen, und zwar in Abhängigkeit von dem
Synchronisationssignal, das der Steuersignalgenerator 40 synchron mit der Abtastperiode erzeugt. Die der
Quantisierungsschaltung entnommenen digitalen Informationen setzen sich aus k Bits zusammen.
Gemäß F i g. 7 sind Schieberegister 41 und 41' vorhanden, die dazu dienen, die quantisierten Informationen
für jede abgetastete Zeile zu speichern und ihren Inhalt in Richtung auf ihren Ausgang in Abhängigkeit
von dem Synchronisationssignal zu verschieben, das ihnen von dem Steuersignalgenerator 40 synchron mit
der Abfragefrequenz zugeführt wird. Jedes Schieberegister enthält η χ k Bitspeicherelemente, und das aus k
Bits bestellende Ausgangssignal wird dem Schieberegister 41 und von diesem aus dem Schieberegister 4Γ
zugeführt.
Ferner ist ein Schieberegister 42 vorhanden, das m χ η χ k Bitspeicherelemente enthält und dazu dient,
die Informationen 39 nach Fig.6 zu speichern; dem
Schieberegister kann jedes Bit eingegeben und entnommen werden. Das Ausgangssignal der Quantisierungsschaltung
40 wird den Eingangsklemmen bzw. den i-Klemmen der untersten Stufe des Schieberegisters 42,
das Ausgangssignal des Schieberegisters 41 den Eingangsklemmen der mittleren Stufe und das Ausgangssignal
des Schieberegisters 41' den Eingangsklemmen der obersten Stufe zugeführt Alle genannten
Ausgangssignale werden in Abhängigkeit vom Synchronisationssigna] des Steuersignaigenerators 40 synchron
mit der Abfragefrequenz eingegeben. Ferner wird in Abhängigkeit von dem Synchronisationssignal das
Signal mit k Bits in jeder Rcgisierstufe nach rechts
verschoben. Die in dem Schieberegister 42 gespeicherten Bitinformationen werden einer Verarbeitungsstufe
16 zugeführt. Das Ausgangssigual dieser Verarbeitungseinrichtung kann einer weiteren Einrichtung zugeführt
oder dem Schieberegister 42 eingegeben werden. Die Verarbeitung der Informationen durch die Verarbeitungsstufe 16 erfolgt ebenfalls in Abhängigkeit von dem
durch den Steuersignalgenerator 40 erzeugten Synchronisationssignal.
Das Bild wird von links nach rechts abgetastet, wie es
in der Fernsehtechnik üblich ist, so daß dann, wenn die
rechte untere Ecke der Informationen 39 nach F i g. 6 abgetastet worden ist, alle Informationen 39 in dem
Schieberegister 42 gespeichert sind Die Schaltung 16 zum Verarbeiten der in dem Schieberegister 42
gespeicherten Informationen wird je nach der gewünschten Verarbeitung der Daten an weitere Schaltungen angeschlossen, die jedoch nicht einen Gegenstand der Erfindung bilden.
Während sich die Abtast- und Abfragevorgänge abspielen, wird der Inhalt der Schieberegister 41,41' und
42 verschoben. Mit anderen Worten, die einer Verschiebung entsprechenden Informationen werden in
dem Schieberegister 42 gespeichert, und das von den genannten Informationen völlig verschiedene Ausgangssignal wird der Verarbeitungsstufe 16 entnommen.
Während das Bild abgetastet wird, gibt die Verarbeitungsstufe 16 die verarbeiteten Informationen ab, so daß
dann, wenn die Ausgangssignale der Verarbeitungsstufe 16 in Abhängigkeit vom Abtastsignal des Steuersignalgenerators 40 neu geordnet werden, das verarbeitete
Bild zur Verfugung steht
Bei einer in Fig.8 dargestellten weiteren Ausführungsform der Erfindung werden anstelle der Schieberegister 4t und 41' Verzögerungsleitungen oder
Analogspeicherplatten 43 und 43' verwendet, um die analogen Signale zu speichern, und anstelle der
Abfrageschaltung 13 nach F i g. 7 sind drei Abfrageschaltungen 44, 44' und 44" vorhanden, die in
Abhängigkeit von den durch den Steuersignalgenerator 40 erzeugten Synchronisationssignalen betätigt werden.
Ferner ist die Quantisierungsschaltung 14 nach F i g. 7 durch drei Quantisierungsschaltungen 45, 45' und 45"
ersetzt worden, die ebenfalls in Abhängigkeit von den Synchronisationssignalen des Steuersignalgenerators 40
arbeiten. Die Wirkungsweise der Anordnung nach F i g. 8 ist im wesentlichen die gleiche wie diejenige der
anhand von Fig.7 beschriebenen, so daß sich eine
nähere Erläuterung erübrigen dürfte. Auch auf das Schieberegister 42 wird hier nicht näher eingegangen,
da es aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, daß es zum Verarbeiten analoger Informationen
geeignet ist
F i g. 9 zeigt eine Weiterbildung der Ausführungsform nach F i g. 7 zum Speichern von Informationen für je y
Abtastzeilen in dem Schieberegister 42. Die Eingänge der Schieberegister 41 und 4Γ werden durch 46 und 46'
gesteuert, die ihrerseits durch die Synchronisationssignale gesteuert werden, welche von dem auch die
Abtastsignale liefernden Steuersignalgenerator 40 geliefert werden. Im vorliegenden Fall ist angenommen,
daß y gleich 3 ist, und daß die Informationen über die erste Abtastzeile in dem Schieberegister 42 gespeichert
worden sind. In Abhängigkeil vom Abtasten der ersten Zeile wird das Einschaltsignal des Steuersignalgenerators 40 den Verknüpfungsgliedern 46 und 46' zugeführt,
so daß das Glied zum Zuführen des Ausgangssignals der
Quantisierungsschaltung 14 zu dem Schieberegister 41
geöffnet wird, während das Glied zum Zuführen des Ausgangssignals des Schieberegisters 41 zu der
Eingangsklemme geschlossen wird, und entsprechend wird das Glied zum Zuführen des Ausgangssignals des
Schieberegisters 41 zum Eingang des Schieberegisters 41' geöffnet, während das Glied zum Zuführen des
Ausgangssignals des Schieberegisters 41' zu der Eingangsklemme geschlossen wird. Andererseits wird in
ι ο Abhängigkeit vom Abtasten der zweiten und der dritten
Zeile ein Abschaltsignal den Gliedern 46 und 46' zugeführt, so daß das Glied zum Zuführen des
Ausgangssignals der Quantisierungsschaltung 14 zum Eingang des Schieberegisters; 41 geschlossen wird,
während das Glied zum Zuführen des Ausgangssignals des Schieberegisters 41 zu der Eingangsklemme
geöffnet wird; entsprechend wird das GGed zum Zuführen des Ausgangssignals des Schieberegisters 41
zum Eingang des Schieberegisters 41' geschlossen,
während das Glied zum Zuführen des Ausgangssignals
des Schieberegisters 41' zu der Eingangsklemme geöffnet wird. Mit anderen Worten, der Inhalt der
Schieberegister 41 und 41' wird umgewälzt bzw. er zirkuliert, während die zweite und die dritte Zeile
abgetastet werden. I-■ Abhängigkeit vom Abtasten der
vierten Zeile wiederholen sich die vorstehend bezüglich des ersten Abtastvorgangs beschriebenen Vorgänge. In
der weiter oben beschriebinen Weise wird das Ausgangssignal der Quantisierungsschaltung 14 dem
Schieberegister 41 zugeführt, dessen Inhalt zum Zweck des Speicherns in das Schieberegister 41' überführt
wird. Entsprechend werden die Informationen über jeweils drei Abtastzeilen in dem Schieberegister 42
gespeichert Auf diese Weise ist es möglich, die
Videoinformationen im wesentlichen in der gleichen
Weise zu verarbeiten, wie es bezüglich der Ausführungsform nach F i g. 7 beschrieben wurde.
Gemäß F i g. IC können zu jedem der Glieder 46 und
46' jeweils ein UND-Glied 47, ein NAND-Glied 48 und
ein ODER-Glied 49 gehören.
Sollen die Grobvideoinformationen über eine abgetastete Zeile der Verarbeitungsstufe 16 eingegeben
werden, kann man gemäß Fig. 11 die von dem Schieberegister 42 zu der Verarbeitungsstufe 16
führenden Ausgangsleitungen überspringen bzw. zusammenfassen, und hierbei muß die Breite des der
Verarbeitungseinrichtung zugeführten Taktsignals des Steuersignalgenerators 40 entsprechend vergrößert
werden. Diese Anordnung erweist sich insbesondere
so dann als vorteilhaft, wenn zwei verschiedene Informationen in de/ Einrichtung 16 verarbeitet werden, und
wenn die Verarbeitung der Informationen innerhalb der Abfrageperiode der Abfrageschaltung 13 nicht zu Ende
geführt werden kann.
Anordnung zum Gewinnen eines kleinen
Ausschnitts
1. Begrenzungslinienabstandsverfahren
wi Fig. 12 zeigt ein zu prüfendes Bauteil, bei dem das
zweidimensionale Hell-Dunkel-Muster an den Begrenzungslinien zwischen den dunklen und den hellen
Flächen seine Intensität allmählich ändert. Die hellen
und dunklen Flächen enthalten gemäß Fig. 12 Fehlstel-
br> len 50 und 51. Fig. 13 zeigt eine Wiedergabe des Bildes
nach Fig. 12, das abgefragt und unter Benutzung des
binären Pegels quantisiert worden ist, und bei dem die Fehlstellen 50' und 51' den Fehlstellen 50 und 51 nach
Fig, 12 entsprechen. Man erkennt, daß die Begrenzungslinien einen Vorsprung 52 und eine Einkerbung 53
aufweisen, deren Entstehung auf die Quantisierung des
Bildes zurückzuführen ist In der Verarbeitungseinrichtung werden die mikroskopischen Ausschnitte 50', 51',
52 und 53, bei denen es sich um die Fehlstellen handeln kann, dem quantisierten Bild nach Fig. 13 entnommen
und ohne Rücksicht darauf nachgewiesen, ob es sich tatsächlich um Fehlstellen oder lediglich um einen
Vorsprung oder eine Einkerbung an der Begrenzungslinie handelt, so daß es möglich ist, nur die Fehlstellen
herauszuziehen und nachzuweisen.
Im folgenden wird anhand von F i g. 14 der Grundgedanke des Verfahrens erläutert, das dazu dient, die
mikroskopischen Ausschnitte herauszuziehen, bei denen es sich um Fehlstellen oder aber um VorsprOnge oder
Einkerbungen an den Begrenzungslinien handeln kann. Das Verfahren zum Gewinnen eines mikroskopischen
Ausschnitts außerhalb der Begrenzungslinie besteht darin, daß diejenigen Bildelemente herausgezogen
werden, deren Helligkeit sich in Beziehung zu den Bildeiementen in einer bestimmten Richtung gegenüber
einem hellen Zustand oder einem dunklen und hellen oder dunklen Zustand oder einem hellen und dunklen
Zustand ändert Beispielsweise ist es möglich, die Fehlstellen 50' und 51' nachzuweisen, da sich die
Helligkeit längs der waagerechten Linien 54 und 55 von hell nach dunkel und hell und dunkel sowie von dunkel
nach hell ändert Es besteht jedoch die Gefahr, daß ein in der waagerechten Richtung langgestreckter mikroskopischer Ausschnitt oder eine Fehlstelle nicht nachgewiesen wird, so daß es erforderlich ist, eine Fehlstelle in der
senkrechten Richtung und notfalls in einer geneigten Richtung nachzuweisen. Auf diese Weise ist es möglich,
in der Praxis jede beliebige Fehlstelle mit der erforderlichen Genauigkeit nachzuweisen.
Zum Ermitteln der Vorsprünge oder Einkerbungen an
den Begrenzungslinien werden die beiden mikroskopischen Ausschnitte so gewählt daß sich jedes Bildelement zwischen ihnen anordnen läßt Wenn einer der
mikroskopischen Ausschnitte dunkel oder hell ist, während der andere mikroskopische Ausschnitt hell
oder dunkel ist, können die Vorsprünge oder Einkerbungen an den Begrenzungslinien identifiziert werden.
Beispielsweise liegt der Vorsprung 52 an der Begrenzungslinie zwischen zwei mikroskopischen Ausschnitten
56 und 56', und der Ausschnitt 56 ist hell, während der Ausschnitt 56' dunkel ist, so daß sich der Vorsprung 52
identifizieren läßt Entsprechend liegt die Einkerbung 53 zwischen zwei mikroskopischen Ausschnitten 57 und
57', von denen der erstere dunkel und der letztere hell ist Es sei bemerkt, daß man die mikroskopischen
Ausschnitte so wählen muß, daß man ein unempfindliches Band erhält Werden die mikroskopischen
Ausschnitte, die nach einem der vorstehend beschriebenen Verfahren herausgezogen worden sind, miteinander
verglichen, kann man die Fehlstellen 50" und 51" von dem in Fig. 15 gezeigten Vorsprung und der Einkerbung unterscheiden.
Nachstehend wird die nach dem Begrenzungslinienabstandsverfahren arbeitende Verarbeitungseinrichtung oder -stufe anhand von F i g. 16 beschrieben, wo in
einem Blockschaltbild die Anordnung nach Fig. 1 in Verbindung mit einer Verarbeitungseinrichtung dargestellt ist. Das optische Bild eines Bauteils It, z. B. einer
zu prüfenden gedruckten Schaltung, wird durch einen photoelektrischen Wandler, z. B. eine Fernsehkamera
12, in elektrische Videosignale verwandelt. Gemäß
F i g. 16 enthält der Diagrammblock 59 die die Schaltung
14 zum Erzeugen der binären Signale, die Abfrageschaltung 13 und die Speicherstufe 15 zum Entnehmen der
zweidimensionalen Videoinformationen 58 für einen
mikroskopischen Ausschnitt aus dem kontinuierlichen
Videosignal. Ferner gehört zu der Prüfanlage eine Schaltung 61 zum Entnehmen der mikroskopischen
Ausschnitte aus dem Muster auf der Basis des vorstehend beschriebenen Begrenzungslinienabstands-
ο Verfahrens sowie eine Schaltung 62 zum Entnehmen der
Begrenzungslinien des Musters. Anstelle der Einrichtung 61 könnte man auch eine weiter unten beschriebene Einrichtung benutzen, deren Wirkungsweise auf dem
Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahren oder einem
Begrenzungslinien-Ausmittelungsverfahren beruht Das für den mikroskopischen Ausschnitt geltende Signal
bzw. das örtliche Videosignal 60 wird sowohl der Schaltung 61 zum Entnehmen des mikroskopischen
Ausschnitts als auch der Schaltung 62 zum Entnehmen
der Begrenzungslinien zugeführt, und die so gewonnenen Ausgangssignale 63 und 64 werden einem
Komparator 65 zugeführt, dessen Ausgangssignal dann eine tatsächlich vorhandene Fehlstelle repräsentieren
kann. Diese Fehlstelle wird dann mit Hilfe einer
>5 Darstellungseinrichtung 67, z. B. eines Fernsehmonitors
dargestellt Erforderlichenfalls ist es möglich, nicht nur die Fehlstellen, sondern auch den Hintergrund in
verschiedenen Farben wiederzugeben, wie es in F i g. 15
gezeigt ist so daß sich die Lage, die Größe, die Art usw.
jo der betreffenden Fehlstelle leichter erkennen läßt.
Ein Ausführungsbeispiel einer Schaltung 61 zum Entnehmen eines kleinen Ausschnitts ist in F i g. 17
dargestellt Einige Beispiele für Teile des Bildes, das sich aus 5x5 Bildelementen zusammensetzt, sind in F i g. 18
gezeigt; jeder mikroskopische Ausschnitt, der zwei Bildelemente oder nur ein Bildelement enthält, soll
nachgewiesen und entnommen werden können. In Fig. 15 erkennt man bei 75 ein logisches Muster zum
Nachweisen und Entnehmen eines mikroskopischen
Ausschnitts in der senkrechten Richtung, bei 76 und 77
logische Muster für die waagerechte Richtung sowie bei 78,79,80 und 81 solche für die diagonalen Richtungen.
Die Schaltung 61 ist in Fig. 17 in Verbindung mit den logischen Mustern 74 und 75 dargestellt und das
4> Ausgangssignal 70a wird eine »1«, wenn ein mikroskopischer Ausschnitt vorhanden ist, der aus einem
Bildelement oder einer senkrechten Reihe von Bildelementen besteht Gemäß F i g. 17 sind UND-Glieder 68a,
686, 68c und 68c/ vorhanden, und die invertierten
Eingangssignale werden den mit einem kleinen Kreis bezeichneten Eingängen zugeführt An diese UND-Glieder ist ein ODER-Glied 69 angeschlossen. Die in
Fig. 17 gezeigte Schaltung ist so ausgebildet, daß ihr
Ausgangssigna] 70a eine »1« ist, wenn das mittlere
Bildelement 71 einer »1« entspricht und die beiden
Bildelemente 72 und 73 jeweils einer »0« entsprechen, oder wenn das mittlere Bildelement 71 einer »0«
entspricht und die Bildelemente 72 und 73 einer »1« entsprechen. Auf ähnliche Weise werden den logischen
bo Schaltungen für die logischen Muster 76 bis 81 nach
Fig. 18 die Ausgangssignale 70i, 70c und 70c/
entnommen, die alle jeweils einer »1« entsprechen. Wenn das Bildelement 71 eines von zwei benachbarten
Bildelementen oder ein einziges Bildelement ist liefert
bi daher das ODER-Glied 63 das Ausgangssignal»1«.
Ein Ausführungsbeispiel der Schaltung 62 zum Entnehmen der Begrenzungslinien des Musters ist in
F i g. 19 dargestellt, und die logischen Muster, die durch
809 635/208
diese Schaltung verarbeitet werden, sind in Fig.20
gezeigt Die logischen Muster 84 und 85 sowie 86 und 87 dienen zum Entnehmen der Begrenzungslinien, die
keine Fehlstelle in einer diagonalen Richtung, in der senkrechten oder der waagerechten Richtung aufweisen.
Betrachtet man das mittlere Bildelement 71, und entsprechen die Bildelemente innerhalb der mikroskopischen
Bereiche 82 und 83 alle einer »0« und »1« bzw. einer »1« und einer »0«, wird das Bildelement 71 als ein
solches identifiziert, das auf einer Begrenzungslinie liegt,
die keine Fehlstelle aufweist Die Bildelemente, zu denen das mittlere Element 71 gehört, jedoch nicht die
Bildelemente in den mikroskopischen Bereichen 62 und
83 gehören zu dem unempfindlichen Bereich. Gemäß Fig. 19 wird das logische Muster 84 nach Fig.20
benutzt so daß dann, wenn die Begrenzungslinie keine Fehlstelle in einer diagonalen Richtung aufweist die
Schaltung 61 das Ausgangssignal 88a l'sfert das ein^r
»1« entspricht Entsprechend liefert die Schaltung 61 bei den logischen Mustern 85,86 und 87 das Signal »1«, das
anzeigt daß die Begrenzungslinie keine Fehlstelle aufweist. Somit erhält man gemäß Fig. 19 das
Ausgangssignal 64 in Form einer »1«, wenn das mittlere Bildelement 71 auf einer Begrenzungslinie ohne
Fehlstellen liegt. Somit kann man die keine Fehlstelle aufweisende Begrenzungslinie mit Hilfe der räumlichen
logischen Verarbeitung entnehmen, bei dei das
unempfindliche Band den Mittelpunkt uingibi. F.s sei
bemerkt, daß man die vorstehend beschriebene Schaltung 62 zum Entnehmen eines Begrenzungsteils
auch in Kombination mit einer Einrichtung zum Entnehmen eines kleinen Ausschnitts benutzen kann,
deren Wirkungsweise auf dem Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahren
oder dem Begrenzungslinienausmittelungsverfahren beruht. In diesem Fall wird in die
nächste Stufe ein Komparator 65 eingeschaltet.
Fig. 21 zeigt eine Ausführungsform eines Komparators
65 zum Vergleichen des Ausgangssignals 63 der Schaltung 61 zum Entnehmen eines kleinen Ausschnitts
mit dem Ausgangssignal 64 der Schaltung 62 zum Entnehmen eines Begrenzungsteils. Mit Hilfe dieses
Komparators 65 wird nur der tatsächlich vorhandene mikroskopische Ausschnitt bzw. die Fehlstelle ermittelt.
Mit anderen Worten, wenn das mittlere Bildelement 71 nachgewiesen und als Fehlsteile entnommen wird, wird
das Ausgangssignal 63 zu einer »1«, doch wenn das Bildelement 71 als auf der Begrenzung liegend
nachgewiesen wird, wird das Ausgangssignnl 64 zu einer
»1«. Daher wird das Ausgangssignal 66 zu einer »0«, so daß das Bildelement 71 als Vorsprung oder Einkerbung
der Begrenzung identifiziert wird. Ist das Ausgangssignal 64 eine »0«, wird das Ausgangssignal 66 zu einer
»1«, die anzeigt, daß das Bildelement 71 einer gegenüber der Begrenzung versetzten Fehlstelle entspricht.
2. Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahren
Zum Zweck der Erläuterung sei angenommen, daß das zu prüfende Bauteil 11 nach Fig. I ein Muster
aufweist, das sich aus Einsen und Nullen zusammensetzt. Als Beispiel sei ein Bildelement betrachtet, das einer»!«
entspricht. Wird diese 1-Fläche zweidimensional vergrößert oder erweitert und dann wieder verkleinert,
verschwindet die in der Fläche »1« enthaltene relativ kleine Fläche »0«. Wird die Fläche »0« zweidimensional
vergrößert und dann wieder verkleinert, verschwindet entsprechend die in der Fläche »0« enthaltene relativ
kleine Fläche »1«. Das wichtige Merkmal dieses Vergrößerungs- und Verkleinerungs-Verfarirens besteht
darin, daß die Fläche »1« oder »0« wieder in ihre ursprüngliche Form und Lage zurückgeführt wird, daß
hierbei jedoch die darin enthaltene kleine Fläche »0« bzw. »1« verschwindet
Wenn man ein zweidimensionales Muster, das eine sehr kleine Fehlstelle aufweist mit Hilfe des Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahrens
verarbeitet folgt hbraus, daß man das gleiche Muster erhalten kann, das
die Fehlstelle nicht aufweist Dieses wiederhergestellte
ίο Muster kann zu verschiedenen Zwecken verwendet
werden. Beispielsweise kann man eine gedruckte Schaltung mit einer Fehlstelle fotografieren und das Bild
in der vorstehend beschriebenen Weise verarbeiten. Alternativ kann man das Bild der gedruckten Schaltung
is in elektrische Signale umsetzen, die dann in der
beschriebenen Weise verarbeitet und schließlich wieder in ein optisches Bild zurückverwandelt werden.
Das verarbeitete Muster kann mit dem ursprünglichen Muster verglichen werden, so daß sich nur die
fehlerhafte Fläche auf eine nachstehend erläuterte Weise entnehmen läßt In F i g. 22 sei angenommen, daß
die schraffierte Fläche einer »1« und die weiße Fläche einer »0« entspricht Die Fläche »1« enthält eine kleine
0-Fläche 96, während die Fläche »0« eine kleine 1-Fläche 97 enthält
Zuerst wird die Fläche »1« in F i g. 22 vergrößert d. h. die Begrenzung der Fläche »1« wird in Richtung auf die
Fläche »0« längs der gleichen Strecke erweitert, so daß man das Mustei 90 nach F i g. 22 erhält. Hierdurch wird
in die 0-Fläche 96 verkleinert, bis sie verschwindet,
während die 1 -Fläche vergrößert wird.
Hierauf wird die 1-Fläche des Musters 90 verkleinert,
so daß sich die zugehörige Begrenzun.gslinie längs der gleichen Strecke in Richtung auf die Mitte dieser Räche
si von der 0-Fläche aus zusammenzieht und man das
Muster 91 nach Fig. 22 erhält. Man erkennt, daß die
kleine Fläche 96 nicht erneut erscheint, daß jedoch die
ursprüngliche Fläche 89 wiederhergestellt wird. Mit anderen Worten, die in der 1-Fläche enthaltene kleine
4ii 0-Fläche wird beseitigt, wie es in F i g. 22 bei 91 gezeigt
ist.
Vergleicht man das usprüngliche Muster 89 mit dem verarbeiteten Muster 91, erhält man gemäß Fi g. 22 ein
Muster 92, das die 1 -Fläche an den Punkt enthält, der der -, Fehlstelle oder 0-Fläche % entspricht.
Wird die 1-Fläche des Musters 89 verkleinert, erhält
man das Muster 93 nach Fig. 22. Wird die 1-Fläche des
Musters 93 vergrößtert oder erweitert, erhält man gemäß F i g. 22 das Muster 94. Man erkennt daß die in
,Ii der 0-Fläche des Musters 89 enthaltene relativ kleine
1-Fläche zum Verschwinden gebracht worden ist. Vergleicht man das ursprüngliche Muster 89 mit dem
verarbeiteten Muster 94, erhält man gernäß F i g. 22 das
Muster 95, das die 1-Fläche an einem Punkt enthält, der
v, der 1-Fläche 97 bei dem ursprünglichen Muster 89 enthält.
Aus den Mustern 92 und 95 werden die in dem ursprünglichen Muster 89 enthaltenen Flächen nachgewiesen
und entnommen. Es sei bemerkt, daß eine
w) Verkleinerung bzw. Vergrößerung der 1-Fläche einer
Verkleinerung und Vergrößerung der 0-Hache entspricht.
Im folgenden werden einige praktische Beispiele für das Vergrößerungs-VerkleinerungsVeifahren anhand
h-, von Fi ρ 23 beschrieben, wo zweidimensional Muster
dargestellt sind, die durch räumliches Abfragen jeweils in mehrere gleichartige quadratische Bildelemente
unterteilt werden. Dieses Abfrageverfahren wird beim
Verarbeiten von Bildern mit Hilfe digitaler Einrichtungen
in großem Umfang angewendet
Zuerst wird jede Begrenzungslinie eines Bildelements in tier waagerechten Richtung verlagert, und dann wird
jede Begrenzungslinie in der senkrechten Richtung verlagert. Gemäß F i g. 23 enthält das zu verarbeitende
Muster 98 schraffierte 1-Bildelemente und zweite O-BUdelemente. Das Verfahren zum Vergrößern der
1-Flächen und zum darauffolgenden Verkleinern dieser
Flächen bis zu ihrer ursprünglichen Größe ist in F i g. 23 bei 99, 100, 101 und 102 dargestellt, während das
Verfahren zum Verkleinern der O-Flächen oder
Bildelemente und zum darauffolgenden Vergrößern bis zu ihrer ursprünglichen Größe bei 103,104,105 und 106
dargestellt ist Die folgende Beschreibung bezieht sich nur auf die Verarbeitung eines mikroskopischen
Ausschnitts zum Zweck des Wiederherstellens oder des Beseitigens.
Die !-Elemente des Musters 98 werden in der waagerechten Richtung vergrößert, so daß die Nudelemente
A und B bei dem Muster 99 aus 0-Elementen in
1-Elemente verwandelt werden. Werden die 1-Bildelemente
bei den vergrößerten Bildelementen in der senkrechten Richtung erweitert, werden die Bilde'«*-
mente C und D bei dem Muster 99 aus 0-Elementen in
1-Elemente verwandelt, so daß man das Muster 1Oi
erhält. Hierauf werden die 1-Bildelemente des Musters
100 in der senkrechten Richtung verkleinert, so daß ie Bildelemente C" und D' des Musters 101 a.is
1-Elementen in 0-Elemente verwandelt wr den; werden
die Bildelemente weiter in der waagerechten Richtung verkleinert, werden die Bildelemente A' und B' aus
1-Elementen in 0-Elemente verwandelt, so daß man das
Muster 102 erhält. Man erkennt sofort, daß das verarbeitete Muster 102 das gleiche ist wie das
ursprüngliche Muster 98, und daß dann, wenn eine mikroskopische !-Fläche vergrößert und dann wieder
verkleinert wird, diese Fläche ohne Rücksicht darauf, wie klein der mikroskopische Ausschnitt ist, wieder in
seine ursprüngliche Form gebracht wird. Dies bedeutet, daß die großen und kleinen !-Flächen des Musters 91
nach F i g. 22 reproduziert werden.
Werden die 1-Bildelemente des Musters 98 in der
senkrechten Richtung verkleinert oder komprimiert, werden die Bildelemente C'und D'des Musters 103 aus
1-Elementen in 0-Elemente verwandelt. Werden die 1-Bildelemente in der waagerechten Richtung weiter
verkleinert oder komprimiert, wird das Bildelement B' aus einem !-Element :n ein 0-Element verwandelt, so
daß man das Muster 104 erhält. Wird das Muster 104 vergrößert oder erweitert, erhält man zunächst das
Muster 105 und danach das Muster 106, doch enthält in der Praxis das Muster 104 das Element »1« nicht, und
daher wird das Vergrößemngs- oder Erweiterungsverfahren
nicht durchgeführt. Wird das bzw. jedes 1-Bildelement verkleinen oder komprimiert und dann
wieder vergrößert oder erweitert, wird somit jedes 1-Bildelement zum Verschwinden gebracht. Dies entspricht
der !-Fläche 97 des Muslers 94, die durch das Verkleinerungs-Vergrößerungsverfahren zum Verschwinden
gebracht wird.
Nachstehend wird ein Verfahren beschrieben, das es ermöglicht, einen mikroskopischen Ausschnitt mit Hilfe
des Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahrens zu beseitigen,
ohne daß von dem räumlichen Abfragen, d. h. von einem kontinuierlichen räumlichen Muster, Gebrauch
gemacht wird. Bei diesem Verfahren werden photographische Filme verwende'; ein unbelichteter
Film wir** a: Γ einen belichteten und entwickelten Film aufgeleg* md dann von der Rückseite des entwickelten
Films aus belichtet Es sei angenommen, daß der entwickelte Film ein Muster aufweist das sich aus
dunklen und hellen Flächenelementen zusammensetzt so daß dann, wenn der durch diesen Film hindurch
belichtete Film entwickelt und fixiert wird, die dunklen und die hellen Flächenelemente miteinander vertauscht
sind. Dieses Verfahren wird im folgenden als />Umkehrverfahren« bezeichnet In manchen Fällen wird ein
entwickelter oder Originalfilm zusammen mit einem unbelichteten Film in allen Richtungen um gleich große
Beträge gereckt während relative Drehbewegungen der Filme verhindert werden. Dieses Verfahren wird im
folgenden als »Ausdehnungs-Umkehrverfahren« bezeichnet Hierbei wird ein unbelichteter Film so
behandelt, daß selbst eine kleine Fläche, die mit Licht belichtet worden ist das auch nur während einer sehr
kurzen Zeit durch den Originalfilm gefallen ist zu einer dunklen Fläche wird. Entsprechend wird eine überhaupt
nicht belichtete Fläche so behandelt, daß eine helfe Fläche entsteht. Diese Bedingungen lassen sich leicht
erfüllen, wenn man mit bekannten, leicht zu beschaffenden kontrastreichen Filmen arbeitet
Der Bilderzeugungsvorgang wird im folgenden anhand von Fig.24 und 25 näher erläutert Das
ursprüngliche Bild oder Muster auf einem Film setzt sich aus dunklen (schraffierten) hellen Flächen zusammen.
Die große dunkle Fläche enthält einen hellen mikrosko-
jo pischen Ausschnitt 118, während die große helle Fläche
einen dunklen mikroskopischen Ausschnitt 117 enthält.
Im folgenden wird zuerst das Verfahren zum Beseitigen dieser mikroskopischen Ausschnitte beschrieben.
Mit Hilfe des Umkehrverfahrens erhält man gemäß
]3 F i g. 24 aus dem Muster 107 ein Muster 108, aus dem
man mit Hilfe des Ausdehnungs-Umkehrverfahren ein Muster 109 gewinnt. Das Musler 109 enthält die
erweiterten oder vergrößerten dunklen Flächen des ursprünglichen Musters 107, und der mikroskopische
4(i Ausschnitt 118 in der dunklen Fläche ist zum
Verschwinden gebracht worden.
Mit Hilfe des Ausdehungs-Umkehrverfahrens gewinnt man aus dem Muster 109 gemäß Fig.24 das
Muster 110, aus dem man mit Hilfe des Umkehrverfah-
•43 rens das Muster 111 erhält, bei dem die dunkle Fläche
des Musters 109 verkleinert oder komprimiert ist. Das Muster oder Bild 111 ähnelt im wesentlichen dem
ursprünglichen Muster 107, abgesehen davon, daß der in der dunklen Fläche des ursprünglichen Musters
5» enthaltene helle mikroskopische Ausschnitt oder Fleck
zum Verschwinden gebracht worden ist.
Gemäß der vorstehenden Beschreibung kann man einen hellen mikroskopischen Ausschnitt, der in der
dunklen Fläche eines ursprünglichen Bildes oder
si Musters enthalten ist dadurch beseitigen, daß man die
dunkle Fläche zuerst vergrößert und dann wieder verkleinert, was praktisch dem Verfahren des Vergrößerns
und des darauffolgenden Verkleinerns der hollen Fläche entspricht
w) Vergleicht man das ursprüngliche Bild 107 mit dem
entwickelten Film 111, läßt sich der beseitigte mikroskopische Ausschnitt leicht nachweisen. Wird der
Originalfilm 107 auf den entwickelten Film 110 aufgelegt u.id mit ihm in Deckung gebracht, läßt nur der
hi helle mikroskopische Ausschnitt 118 Licht durch, so daß
er leicht nachgewiesen werden kann.
Als nächstes wird im folgenden anhand von F i g. 25 das Verfahren zum Entnehmen des Htinklpo mi f rncWnni.
sehen Ausschnitts 117 aus dem gleichen ursprünglichen
Muster 107 beschrieben. Mit Hilfe der Ausdehnungs-Umkehrbehandlung des ursprünglichen
Bildes 107 erhält man gemäß Fig.25 das Muster 114, bei dem der dunkle mikroskopische Fleck 117 beseitigt ,
ist. Durch eine Umkehrbehandlung des Musters 114 kann man das Muster HS gewinnen, bei dem die dunkle
Fläche des ursprünglichen Bildes 107 verkleinert oder komprimiert ist.
Durch eine Umkehrbehandlung des Film 115 erhält m
man gemäß Fig. 25 das Muster 114', und aus diesem Muster entsteht durch Anwendung des Ausdehnungs-Umkehrverfahrens
ein Muster 116, bei dem die in dem Muster 115 enthaltene dunkle Fläche erweitert oder
vergrößert ist. Zwar ähnelt das Muster 114 im π wesentlichen dem Muster 114', da man das Muster 114
mit Hilfe der Ausdehnungs-Umkehrbehandlung des Originalbildes 107 erhält, und da das Muster 116 durch
die Ausdehnungs-Umkehrbehandlung des Musters 114' gewonnen wird, doch um eine genaue Übereinstimmung
zwischen den in Fig.24 und 25 dargestellten Verfahrens
herzustellen, werden im folgenden die Muster 114' und 115 beschrieben.
Bei dem Muster 116 ist die dunkle Fläche des Musters
115 erweitert oder vergrößert, und das Muster 116 eines
im wesentlichen dem ursprünglichen Muster 107, abgesehen davon, daß der dunkle mikroskopische Fleck
117 beseitigt worden ist.
Gemäß der vorstehenden Beschreibung kann der dunkle mikroskopische Fleck innerhalb der hellen jo
Fläche dadurch beseitigt werden, daß man die dunkle Fläche verkleinert oder komprimiert und sie dann
vergrößert oder erweitert, was dem Verfahren des Vergrößerns oder Erweiterns und des nachfolgenden
Verkleinerns oder Komprimierens der hellen Fläche js
gleichwertig ist
Durch Vergleichen des Originals 107 mit dem Muster
116 läßt sich der dunkle mikroskopische Fleck 117 leicht
nachweisen. Bringt man die Muster 107 und 116 in Deckung miteinander, läßt nur der mikroskopische
Fleck 117 Licht durch, so daß er leicht zu erkennen ist. Bringt man alternativ die Muster 110 und 116 zur
Deckung, lassen sich alternativ alle in dem ursprünglichen Muster 107 enthaltenen mikroskopischen Flecke
117 und 118 leicht nachweisen. ' Gemäß F i g. 24 erhält man das Muster 112 durch die
Ausdehnungs-Umkehrbehandlung des Musters 111, und
durch die Ausdehnungs-Umkehrbehandlung des Musters 112 gewinnt man das Muster 113, bei dem alle
ursprünglich in dem Original 107 enthaltenen mikroskopischen Flecke 117 und 118 beseitigt sind. Man erkennt,
daß das Muster 113 im wesentlichen dem ursprünglichen Muster 107 ähnelt, daß jedoch die mikroskopischen
Flecke verschwunden sind.
Bei dem Verfahren zum Gewinnen des Musters 113 aus dem Original 107 wird die dunkle Fläche vergrößert,
verkleinert, nochmals verkleinert und dann weder vergrößert, was dem Verfahren gleichwertig ist, bei dem
die helle Fläche zuerst verkleinert, vergrößert, nochmals
vergrößert und dann wieder verkleinert wird, und μ
hierdurch werden die in dem Original 107 enthaltenen mikroskopischen Flecke sämtlich beseitigt Durch
Vergleichen des Originals 107 mit dem Muster 113 lassen sich die Lage und die Fom der mikroskopischen
Ausschnitte oder Fehlstellen leicht ermitteln. Wenn das Original 107, wie beschrieben, in Deckung mit dem
Muster 110 gebracht wird, läßt sich der helle mikroskopische Fleck 118 innerhalb der dunklen Fläche
nachweisen, und wenn man das Muster 108 in Deckung mit dem Muster 113 bringt, kann der dunkle Fleck 117 in
der hellen Fläche nachgewiesen werden.
Zusammenfassend kann man feststellen, daß alle innerhalb eines Musters vorhandenen mikroskopischen
Flecke beseitigt werden können, wenn man eine dunkle oder eine helle Fläche innerhalb eines zweidimensionalen
binären Musters räumlich um den gleichen Betrag bzw. die gleiche Strecke vergrößert und dann wieder um
den gleichen Betrag verkleinert, oder wenn man zuerst
eine räumliche Verkleinerung um einen vorbestimmien Betrag und dann wieder eine Vergrößerung um den
gleichen Betrag durchführt. Durch Vergleichen eines Originalmusters mit dem Muster, das nach dem bzw.
jedem der vorstehend beschriebenen Verfahren behandelt worden ist läßt sich jeder in dem ursprünglichen
Muster enthaltene mikroskopische Fleck nachweisen.
Im allgemeinen sind die Fehler oder Rauschkomponenten, die bei einem Muster vorhanden sind, sehr klein
bzw. gering, so daß sie sich leicht mit Hilfe der beschriebenen Verfahren herausziehen lassen.
Bei den vorstehend beschriebenen Verfahren ist es nicht erforderlich, eine genaue Deckungslage herbeizuführen,
wie es bei Mustererkennungssystemen im allgemeinen notwendig ist. Der Ausdruck »Deckungslage«
bezeichnet hier ein Verfahren zum Bestimmen einer genauen relativen Lage eines vorher gespeicherten
Btzugsmusters und eines eingegebenen Bildes eines zu erkennenden oder zu prüfenden Musters. Das Herbeiführen
einer genauen Deckung ist äußerst schwierig, da ein zu erkennendes oder zu prüfendes Muster nicht in
allen Einzelheiten mit dem Bezugsmuster übereinstimmt. Dies läßt sich leicht daraus erklären, daß der zu
prüfende Gegenstand bzw. das Muster verschiedene Fehistellen aufweisen kann. Im Hinblick hierauf
erweisen sich die erfindungsgemäßen Verfahren als sehr einfach. Diese Verfahren lassen sich beim Prüfen
gedruckter Schaltungen, integrierter Schaltkreise oder gedruckter Schriftzeichen anwenden. Bei den bekannten
Verfahren, bei denen die Herstellung einer Deckungslage erforderlich ist erweist es sich als äußerst
schwierig, die Fehlstellen oder Abweichungen nachzuweisen, wenn nicht hierdurch ein genaues Bezugsmuster
gespeichert worden ist; gemäß der Erfindung ist keine Speicherung eines Bezugsmusters erforderlich, so daß
auf die Benutzung einer Speichereinrichtung verzichtet werden kann. Ferner läßt sich jedes neue Muster prüfen,
das vorher noch niemals verarbeitet worden ist
Bei den vorstehend beschriebenen Verfahren bestimmt das Ausmaß der Vergrößerung bzw. der
Verkleinerung die Größe der nachweisbaren mikroskopischen Ausschnitte oder Fehlstellen. Daher darf man
die Parameter, die benutzt werden, um bei einem relativ großen Muster einen relativ großen mikroskopischen
Ausschnitt oder eine Fehlstelle nachzuweisen, nicht anwenden, wenn bei einem kleinen Muster ein relativ
kleiner mikroskopischer Ausschnitt oder eine Fehlstelle nachgewiesen werden soll. Die in Frage kommenden
Prüfbedingungen sind im allgemeinen in den einschlägigen Prüfvorschriften beschrieben.
F i g. 26 zeigt eine große Anzahl von Speicherelementen,
die in der bei 119 und 120 dargestellten Weise angeordnet sind, und deren Lage der Lage von
Bildelementen entspricht Jedes Speicherelement kann Informationen aufnehmen und ausgeben, und im
vorliegenden Fall werden Flip-Flop benutzt Bei den Anordnungen 119 und 120 repräsentiert jedes durch
gestrichelte Linien abgegrenzte Quadrat "ein Bildele-
ment, gegenüber welchem der zugehörige Flip-Flop bzw. das Speicherelement angeordnet ist.
Jeder Flip-Flop der Anordnung 119 wird in Abhängigkeit davon, ob das betreffende Bildelement
hell oder dunkel ist, in den 1-Zustand oder in den r>
O-Zustand gebracht Wenn als Bildeingabeeinrichtung 12 z. B. eine Fernsehkamera benutzt wird, bei der der
Aufnahmegegenstand waagerecht von links oben nach rechts unten abgetastet wird, werden die Ausgangssignale
der Quantisierungsschaltung 14 in den Flip-Flop der Anordnung 119 nacheinander von links oben bis
rechts unten gespeichert Da diese Anordnung bekannt ist, dürfte sich eine nähere Beschreibung erübrigen.
Die Flip-Flop-Anordnung 120, die der Anordnung 119
im wesentlichen ähnelt, dient dazu, die zu verarbeitenden Informationen auf eine noch zu erläuternde Weise
zu speichern. In Fig.26 wird jeder FHp Flop der
Anordnung 119 und 120 durch die Koordinaten (i, j) identifiziert
Ein ODER-Glied 121 dient dazu, das beschriebene Vergrößerungsverfahren durchzuführen. Der Inhalt der
fünf Flip-Flops (i-1, j), (i,j- 1), (U)(U+1) und (i+IJ)
der Anordnung 119 wird dem ODER-Glied 121 zugeführt Das Ausgangssignal des Flip-Flops (i, j) der
Anordnung 120 wird dem ODER-Glied 121 ebenfalls zugeführt. Auf ähnliche Weise ist solch ein ODER-Glied
für jeden Wert von / und j vorhanden. Wenn z. B.
/=1,2... π und /=1,2 ... η ist sind insgesamt m χ η
ODER-Glieder vorhanden. Die Anzahl der Eingänge des ODER-Glieds ist kleiner als fünf, wenn sich / und j
dem Wert / oder m oder η nähern. Daher wird die
vergrößerte »1« der Flip-Flop-Anordnung 120 von der Flip-Flop-Anordnung 119aus zugeführt
Werden z. B. Informationen in der in Fig.27
gezeigten Weise in der Flip-Flop-Anordnung 119 gespeichert, bei der die schraffierten Quadrate im
1-Zustand befindliche Flip-Flops und die gleichen Quadrate im O-Zustand befindliche Flip-Flops repräsentieren,
werden die Informationen in der Flip-Flop-Anordnung 120 so gespeichert, wie es in Fig.27 bei 123
dargestellt ist, was bedeutet daß die schraffierten Flächen vergrößert oder erweitert worden sind.
Als nächstes wird das Verfahren beschrieben, mittels dessen der Flip-Flop-Anordnung 120 die Information
für die verkleinerte Fläche aus der Flip-Flop-Anordnung
119 gespeichert werden. Um eine solche Speicherung durchzuführen, kann man anstelle der in
Fig.25 dargestellten ODER-Glieder 121 auch UND-Glieder
benutzea Mit anderen Worten die Informationen, die in der Flip-Flop-Anordnung 119 in den in so
Fig.27 bei 123 dargestellten Weise gespeichert sind,
können in der Flip-Flop-Anordnung 120 so gespeichert werden, wie es in Fig.27 bei 124 gezeigt ist was
bedeutet, daß die in Fig.27 bei 123 dargestellten
schraffierten Flächen in der bei 124 dargestellten Weise verkleinert worden sind.
Die bei 122 gezeigten schraffierten Flächen werden in der bei 123 dargestellten Weise vergrößert Und dann so
verkleinert, wie es bei 124 gezeigt ist Man erkennt, daß
eine in der schraffierten Fläche bei 122 enthaltene zweite Fläche bei dem bei 123 dargestellten Muster
verschwindet Hieraus geht hervor, daß die vorstehend beschriebene Anordnung grundsätzlich richtig ist
Das Verfahren kann in der vorstehend beschriebenen
Weise in zwei Schritten durchgeführt werden, so daß die
Anlage in der Praxis Einrichtungen aufweisen kann, die dazu dienen, die Videoinformationen zu speichern,
ferner mehrere ODER-Glieder, von denen jede an mehrere vorbestimmte Speicherelemente der Einrichtung
zum Speichern der Videoinformationen angeschlossen ist. damit das ODER-Glied-Ausgangssignal
der vorbestimmten Speicherelemente zur Verfügung steht, Speichereinrichtungen zum Speichern der Ausgangssignale
der verschiedenen ODER-Glieder, mehrere UND-Glieder, von denen jedes an mehrere
vorbestimmte Speicherelemente der Einrichtung zum Speichern der Ausgangssignale der ODER-Glieder
angeschlossen ist so daß die UND-Ausgangssignale der vorbestimmten Speicherelemente verfügbar sind, sowie
Einrichtungen zum Speichern der UND-Ausgangssignale der verschiedenen UND-Glieder. Die jeweiligen
Zustände der vorstehend an der dritten bzw. der fünften Stelle genannten Einrichtung sind in Fig.27 bei 123
bzw. 124 dargestellt.
Wenn man die an der zweiten und der vierter. Stelle genannten Einrichtungen miteinander vertauscht, werden
die schraffierten Flächen zuerst komprimiert und dann wieder vergrößert. Der Zustand der an der fünften
Stelle genannten Einrichtung ist in Fig.27 bei 126 dargestellt, wo zu erkennen ist daß die in der großen
O-Fläche vorhandene kleine 1-Fläche beseitigt worden
ist. Die Zustände der in der ersten bzw. der dritten Stelle genannten Einrichtungen sind in Fig.27 bei 122 bzw.
125 dargestellt.
Bei jeder der Anordnungen, bei denen die Information bzw. die Fläche zuerst komprimiert und dann
vergrößert oder zuerst vergrößert und dann verkleinert wird, kann man m χ π exklusive ODER-Glieder
verwenden, die so geschaltet sind, daß die Ausgangssignale der entsprechenden Speicherelemente der an der
ersten und der fünften Stelle genannten Einrichtungen jedem der exklusiven ODER-Glieder zugeführt werden
können. Dann bedeutet das Ausgangssignal »1« der exklusiven ODER-Gliedanordnung, daß sich die Zustände
der entsprechenden Speicherelemente der an der ersten und der fünften Stelle genannten Speichereinrichtungen
unterscheiden. Daher ist es möglich, eine in einer großen Fläche enthaltene kleine Fläche herauszuziehen,
d. h. eine Fehlstelle zu ermitteln.
F i g. 28 zeigt in einem Blockschaltbild eine Ausführungsform der Erfindung, die auf dem vorstehend
beschriebenen Grundgedanken des Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahrens basiert Die binären Ausgangssignale
der binären Signale erzeigenden Quantisierungsschaltung 14 werden in einer Speichereinrichtung
127 gespeichert, die ähnlich aufgebaut ist und ähnlich arbeitet wie die Flip-Flop-Anordnung 119 nach
F i g. 26. Die in der Speichereinrichtung 127 gespeicherten Informationen werden mit Hilfe eines ODER-Glied-Netzwerks
128 verarbeitet das bezüglich seines Aufbaus und seiner Wirkungsweise den verschiedenen
ODER-Gliedern 121 nach Fig.26 ähnelt und seine
Ausgangssignale einer Speichereinrichtung 129 zuführt, die ebenfalls bezüglich ihres Aufbaus und ihrer
Wirkungsweise der Flip-Flops-Anordnung 120 nach Fig.26 ähnelt Die in der Speichereinrichtung 129
gespeicherten Informationen werden durch ein UND-Glied-Netzwerk 130 verarbeitet, das bezüglich seiner
Konstruktion und Wirkungsweise den verschiedenen vorstehend beschriebenen UND-Gliedern ähnelt, und
dessen Ausgangssignale einer weiteren Speichereinrichtung 131 zugeführt werden, die der Flip-Flop-Anordnung
120 nach F i g. 26 ähnelt Ferner ist gemäß F i g. 28 ein exklusives ODER-Glied-Netzwerk 132 vorhanden,
das in der schon beschriebenen Weise arbeitet, um das exklusive ODER-Ausgangssignal aus den Ausgangssi-
809 635/208
gnalen der entsprechenden Speicherelemente der Speichereinrichtungen 127 und 131 zu erzeugen. Die in
Fig.28 dargestellten Netzwerke 128', 129', 130', 13Γ
und 132' ähneln bezüglich ihrer Konstruktion und Wirkungsweise den beschriebenen Einrichtungen 128,
129,130,131 und 132. Ferner ist ein ODER Glied-Netzwerk 133 vorhanden, das das ODER-Ausgangssignal aus
den Ausgangssignalen der entsprechenden Speicherelemente der Speichereinrichtungen 132 und 132' erzeugt.
Das Ausgangssignal des ODER-Glied-Netzwerks 133 wird in einer weiteren Speichereinrichtung 134 gespeichert
Wie beschrieben, entsprechen die im 1-Zustand befindlichen Speicherelemente der Speichereinrichtung
129 der Vergrößerung oder Erweiterung der Speicherelemente »1« in der Speichereinrichtung 127. Die im
1 -Zustand befindlichen Speicherelemente der Speichereinrichtung 131 entsprechen der Verkleinerung der
Speicherelemente, die sich bei der Speichereinrichtung 129 im 1-Zustand befinden. Die im 1-Zustand befindlichen Speicherelemente der Speichereinrichtung 129'
entsprechen der Verkleinerung der Speicherelemente, die sich bei der Speichereinrichtung 27 im 1-Zustand
befinden. Die im 1-Zustand befindlichen Speicherelemente der Speichereinrichtung 131' entsprechen der
Vergrößerung der Speicherelemente, die sich in der Speichereinrichtung 129' im 1-Zustand befinden. Daher
wird die in der großen 1-Fläche in der Speichereinrichtung 127 enthaltene kleine Fläche in der Speichereinrichtung 131 beseitigt Die in der großen 0-Fläche in der
Speichereinrichtung 127 enthaltene kleine 1-Fläche wird in der Speichereinrichtung 131' beseitigt Wenn die
exklusiven ODER-Ausgangssignale den Ausgängen der entsprechenden Speicherelemente der Speichereinrichtungen 127 und 131 entnommen werden, wird nur die
kleine 0-Fläche, die in der großen 1-Fläche in der
Speichereinrichtung 127 enthalten ist, als 1-Fläche entnommen. Auf ähnliche Weise wird die kleine
1-Räche, die in der großen O-Fläche in der Speichereinrichtung 127 enthalten ist, als die 1-Fläche entnommen,
wenn die exklusiven ODER-Ausgangssignale dem Inhalt der Speichereinrichtungen 127 und 13Γ entnommen werden. Wenn die ODER-Ausgangssignale den
Ausgängen der entsprechenden Speicherelemente der Speichereinrichtungen 132 und 132' entnommen werden, werden in der Speichereinrichtung 134 nur die
kleinen Flächen in der Speichereinrichtung 127 als 1-Elemente gespeichert
Die Netzwerke 127 bis 134 und 128' bis 132' sind mit weiteren Einzelheiten in Fig.29A dargestellt Der
Deutlichkeit halber ist nur eine senkrechte Reihe dargestellt, doch ist zu bemerken, daß in der Praxis
ähnliche Schaltungselemente zu einem Stapel vereinigt sind, der sich im rechten Winkel zur Zeichenebene von
Fig.29A erstreckt Die Eingangsklemmen der UND-Glieder, der ODER-Glieder und der exklusiven
ODER-Glieder sind im wesentlichen ebenso angeordnet, wie es vorstehend beschrieben ist und daher der
Deutlichkeit halber in F i g. 29A nicht dargestellt
Bei den Speichereinrichtungen 127, 129, 131, J29',
131' und 134 repräsentiert jedes Quadrat ein Speicherelement für jedes Bildelement, das eine »1« oder »C«
speichert, was sich jeweils danach richtet, ob das betreffende Bildelement hell oder dunkel ist Die
Bezugszahlen 128, 130' und 133 bezeichnen die ODER-Glied-Netzwerke, die Bezugszahlen 130 und
128', die UND-Glied-Netzwerke und die Bezugszahlen 132 und 132' die exklusiven ODER-Glied-Netzwerke.
Jedes exklusive ODER-Glied kann durch zwei UND- oder NAND-Glieder 136 und 136' und ein ODER-Glied
137 gespeist werden, deren Schaltung in Fig.29B dargestellt ist.
> Bei" dem hier beschriebenen Ausführungsbeispiel
werden das mittlere Bildelement sowie vier benachbarte Bildelemente verarbeitet, doch sei bemerkt, daß sich die
Anzahl der zu verarbeitenden Bildelemente nicht auf fünf beschränkt. Wenn eine zu verarbeitende Fehlstelle
ίο oder ein mikroskopischer Fleck größer ist als ein
Bildelement, muß man die Anzahl der zu verarbeitenden Bildelemente entsprechend erhöhen. Um das Problem
der Richtungen zu lösen, in denen die Vergrößerung bzw. Verkleinerung erfolgt, ist es zweckmäßig, vorzugs
weise alle Bildelemente zu verarbeiten, die in einem
Kreis liegen, dessen Mittelpunkt mit dem mittleren Bildelement zusammenfällt Wenn ein Muster mit
Ausnahme einer Fehlstelle aus sich waagerecht oder senkrecht erstreckenden Räche besteht, ist es zweck
mäßig, ein kreuzförmiges Bildelement als mittleres
Bildelement zu verarbeiten, d. h. ein mittleres Bildelement das sich sowohl in senkrechter als auch in
waagerechter Richtung erstreckt
In manchen Fällen ist es zweckmäßiger, die
Bildelemente schrittweise und nicht etwa alle Bildelemente gleichzeitig zu verarbeiten. Beispielsweise ist es
möglich, statt ein Bildelement in der anhand von F i g. 26 beschriebenen Weise sowohl senkrecht als auch
waagerecht zu vergrößern, das mittlere Bildelement nur
jo in der senkrechten oder nur in der waagerechten
Richtung um ein Bildelement zu vergrößern. Hierbei lassen sich ähnliche Ergebnisse erzielen. Dabei wird das
anhand von F i g. 23 beschriebene Verfahren angewendet Wird das Verfahren schrittweise durchgeführt,
verlängert sich die Verarbeitungszeit, doch kommt man mit einer Verarbeitungsanlage von einfacherer Konstruktion aus.
Nachstehend wird anhand von F i g. 30 eine Vorrichtung zum Durchführen des anhand von F i g. 24 und 25
geschilderten optischen Verarbeitungsverfahrens beschrieben. In der Praxis ist eine nicht dargestellte
Kondensorlinse zwischen einer Lichtquelle 138 und einem Originalfilm 139 angeordnet, um den Film
gleichmäßig zu beleuchten. Ein unbelichteter Film 140
wird in einen Rahmen 143 eingelegt Der Originalfilm
139 entspricht dem ursprünglichen Muster 107 nach Fig.24 und 25, während der unbelichtete Film 140
benutzt wird, um das Muster 108 zu erhalten. Wird das in Fig.24 gezeigte Muster 108 als Originalfilm 139
so verwendet, dient der unbelichtete RIm 140 dazu, das
Muster 109 zu erzeugen. Das Bild des Originalfilms 139 wird mit Hilfe eines Projetionsobjektivs 141 in der
gleichen Größen auf dem in den Rahmen 143 eingelegten unbelichteten Film 140 fokussiert Der
Originalfilm wird in einen Rahmen 142 eingelegt, der
seinerseits in einem Rahmen 144 verschiebbar ist, welcher auf einem weiteren Rahmen 145 in der
Längsrichtung gleitend geführt ist Die Lage der Lichtquelle 138, des Rahmens 145 und des Objektivs 141
bleibt unverändert
Gemäß F i g. 30 ist ein Betätigungsteil 146 vorhanden,
dessen eines Ende an dem Rahmen 142 befestigt ist und der eine öffnung 147 aufweist und in die ein an dem
Rahmen 145 befestigter, nicht dargestellter Stift
eingreift, so daß die mit Hilfe des Betätigungsteils 146
herbeiführbare Bewegung des Rahmens 142 durch den mit der öffnung 147 zusammenarbeitenden Stift
begrenzt wird.
Im folgenden ist die Wirkungsweise der Vorrichtung nach F i g. 30 beschrieben. Zuerst wird die Lichtquelle
138 ausgeschaltet, und das Betätigungsteil 146 wird so eingestellt, daß sich der nicht dargestellte Stift in der
Mitte der öffnung 147 befindet. Dann wird der Rahmen
143 so eingestellt, daß das Bild des Originalfilms 139 durch das Projektionsobjektiv 141 auf dem unbelichteten
Film 140 fokussiert wird. Hierauf wird die Lichtquelle 138 eingeschaltet, und das Betätigungsteil
146 wird so bewegt, daß sich der Stift längs des ganzen Umfang der öffnung 147 bewegt Schließlich wird die
Lichtquelle 138 abgeschaltet, und der belichtete Film 140 wird entwickelt, so daß man das erwähnte,
vergrößerte und umgekehrte Bild erhält Soll nur ein umgekehrtes Bild erzeugt werden, darf man das
Betätigungsteil 146 nicht bewegen.
Die soeben beschriebene Belichtung muß in einem dunklen Raum durchgeführt werden. Hierbei verwendet
man vorzugsweise einen kontrastreichen Film, wie er zum Herstellen einer Druckform verwendet wird. Die
Größe der öffnung 147 des Betätigungsteils 146 richtet sich nach dem gewünschten Vergrößerungs- oder
Verkleinerungsmaßstab und natürlich auch nach dem Durchmesser des Stiftes. Die öffnung 147 ist gewöhnlich
kreisrund, damit beim Vergrößern oder Verkleinen die Bewegungsrichtung nicht berücksichtigt zu werden
braucht; in manchen Fällen kann die öffnung jedoch entsprechend der jeweils zu lösenden Aufgabe eine
andere Form erhalten. Die Lage des Rahmens 143 muß genau bestimmt sein, da sie den Abstand zwischen dem
Originalfilm 139 und dem unbelichteten Film 140 sowie die Genauigkeit der Deckung zwischen zwei entwickelten
Filmen bestimmt, wenn diese Filme aufeinander gelegt werden, damit in der anhand von Fig.24
beschriebenen Weise mit Hilfe der beiden Muster 110 und 107 ein mikroskopischer Ausschnitt gewonnen
werden kann. Daher wird der Rahmen 143 in der Vorrichtung nach F i g. 30 vorzugsweise in einer
vorbestimmten Lage angeordnet
Die Vorrichtung nach F i g. 30 kann z. B. benutzt werden, um ein Muster zu korrigieren, das einen
mikroskopischen Fleck oder eine Fehlstelle aufweist Ein Muster, das beim Herstellen gedruckter Schaltungen
oder dergleichen verwendet wird und das Fehlstellen aufweist, die beim Anfertigen der Zeichnung
entstanden sind, kann mit Hilfe dieser Vorrichtung korrigiert werden. Ferner ist es mit Hilfe dieser
Vorrichtung möglich, einen Originalfilm zum Herstellen mehrerer Kopien zu korrigieren, so daß der Originalfilm
keinerlei Fehlstellen enthält Weiterhin kann die Vorrichtung dazu dienen, ein Muster zu erzeugen, das
nur die Fehlstellen erkennen läßt
Werden gedruckte Schaltungen mit einem Muster hergestellt das einen scharf ausgeprägten Winkel
aufweist, und werden solche Schaltungen mit Hilfe einer
erfindungsgemäßen Vorrichtung geprüft, kann ein Ausschnitt, der einen solchen scharfen Winkel enthält,
als Fehlstelle bezeichnet werden. Wird jedoch das bei der Prüfung benutzte Originalmuster in der vorstehend
beschriebenen Weise korrigiert, kann man den den scharfen Winkel aufweisenden Ausschnitt zum Verschwinden
bringen, so daß dieser Ausschnitt nicht fälschlicherweise als Fehlstelle betrachtet wird Somit
ermöglicht es die Vorrichtung, ein Bezugsmuster herzustellen, das auf optimale Weise geeignet ist, in
Verbindung mit einer erfindungsgemäßen Anlage zum Prüfen mikroskopischer Ausschnitte benutzt zu werden.
Natürlich beeinträchtigt die Benutzung eines Bezugsmusters, bei dem in dem Originalmuster ein scharf
gewinkelter Abschnitt vorhanden ist das Ergebnis der Prüfung der nach dem Originalmuster hergestellten
Erzeugnisse nicht.
r> Wie weiter oben beschrieben, wird eine einem
binären Zustand entsprechende Fläche innerhalb einer zweidimensionalen binären Anordnung im zweidimensionalen
Raum vergrößert oder verkleinert und dann erneut verkleinert oder vergrößert, so daß es möglich
ίο ist, die in dem Muster enthaltenen Fehlstellen oder
dergleichen zu beseitigen.
Durch Vergleichen des Originalmusters mit einem Muster, das mit Hilfe eines bzw. jedes der vorstehend
beschriebenen Verfahren gewonnen worden ist, ist es möglich, nur die im Originalmuster vorhandenen
mikroskopischen Flecke oder Fehlstellen herauszuziehen und nachzuweisen. Beim und Verkleinern wird die
Begrenzungslinie vorzugsweise im rechten Winkel zu ihrem Verlauf vergrößert oder ausgedehnt und dann
wieder verkleinert oder komprimiert doch beschränkt sich die Erfindung nicht auf diese Verfahrensweise.
Der beseitigte oder herausgezogene mikroskopische Fleck bzw. die Fehlstelle steht in einer sehr engen
Beziehung zur Verbreiterung und Kompression der Begrenzungslinie. Je größer das Vergrößerungs- oder
Verkleinerungsverhältnis ist desto größer werden die Abmessungen des zu beseitigenden oder herauszuziehenden
mikroskopischen Flecks bzw. der Fehlstelle.
Wenn gemäß der Erfindung ein mikroskopischer Fleck oder eine Fehlstelle beseitigt oder nachgewiesen werden soll, wird daher vorzugsweise dafür gesorgt, daß das Muster, bei dem sich um das richtige, fehlerfreie Muster handeln muß, größere Abmessungen hat als eine Fehlstelle. Nur wenn sich das Originalmuster und die Fehlstelle bezüglich ihrer Größe unterscheiden, ist es möglich, die Fehlstelle auszuschalten oder zu beseitigen, ohne daß das Originalmuster nachteilig beeinflußt wird; hierbei muß die Verlagerung der Begrenzungslinie beim Vergrößern oder Verkleinern entsprechend gewählt werden.
Wenn gemäß der Erfindung ein mikroskopischer Fleck oder eine Fehlstelle beseitigt oder nachgewiesen werden soll, wird daher vorzugsweise dafür gesorgt, daß das Muster, bei dem sich um das richtige, fehlerfreie Muster handeln muß, größere Abmessungen hat als eine Fehlstelle. Nur wenn sich das Originalmuster und die Fehlstelle bezüglich ihrer Größe unterscheiden, ist es möglich, die Fehlstelle auszuschalten oder zu beseitigen, ohne daß das Originalmuster nachteilig beeinflußt wird; hierbei muß die Verlagerung der Begrenzungslinie beim Vergrößern oder Verkleinern entsprechend gewählt werden.
Selbst wenn die vorstehend genannten Bedingungen nicht vollständig erfüllt sind, ist es möglich, eine
Fehlstelle teilweise zu beseitigen, und wenn man das gleiche Verfahren wiederholt, kann die betreffende
Fehlstelle vollständig beseitigt werden. Daher ergeben sich in der Praxis keinerlei Schv/ierigkeiten. Beispielsweise
ist bei einer gedruckten Schaltung eine Fehlstelle gewöhnlich kleiner als irgendein leitfähiger oder nicht
leitfähiger Teil des Musters. Überschneidet eine relativ
so große Fehlstelle das ursprüngliche Muster, z. B. ein Leiterplattenmuster, ist an der Kreuzungsstelle gewöhnlich
ein spitzer Winkel vorhanden, so daß die Möglichkeit besteht, daß eine Lücke zwischen der
Fehlstelle und dem ursprünglichen Muster als mikroskopischer Fleck oder Fehlstelle nachgewiesen wird. Daher
kann mit Hilfe der Lücke zwischen der Fehlstelle und dem ursprünglichen Muster eine relativ große Fehlstelle
in der beschriebenen Weise nachgewiesen werden.
Gemäß der Erfindung kann man aus einem Originalmuster
einen relativ kleinen Fleck entfernen oder herausziehen, so daß es möglich ist, ein kompliziertes
Muster zu korrigieren, d. h. ein Muster herzustellen, das
von allen Rauschkomponenten befreit ist Alternativ ist es möglich, nur die Fehlstellen oder die zu einem
Rauschen führenden Teile eine komplizierten Musters wiederum in Form eines Musters zu reproduzieren.
Beispielsweise kann man einen dünnen Teil oder einen nicht abgedruckten Teil eines Zeichenmusters
korrigieren, so daß es möglich ist, ein richtiges
Zeichenmuster zum Zweck der Wiedergabe oder dergleichen zu erzeugen. Wird die Erfindung bei einem
Muster- oder Zeichenerkennungssystem angewendet, läßt sich daher der bei der Zeichenerkennung erzielte
Wirkungsgrad erheblich steigern. Ferner ist es möglich, nur die Fehlstellen herauszuziehen und darzustellen,
damit man eine Unterlage für die Korrektur erhält
2. Begrenzungslinien-Ausmittelungsverfahren
Das Begrenzungslinien-Ausmittelungsverfahren zum Herausziehen oder Beseitigen eines in einem Muster
vorhandenen mikroskopischen Fleckes wird irrr folgenden anhand von Fig.31 beschrieben. Zuerst wird ein
zentraler Punkt 149 eines Musters 148 gewählt, und die den zentralen Punkt umgebende Fläche wird untersucht.
Wenn die Anzahl der in der Umgebung vorhandenen 1-Flächen oder 0-Flächen größer ist als die Anzahl der
0- oder 1-Flächen, wird der zentrale Punkt 149 so festgelegt, daß er einer »1« oder einer »0« entspricht,
und an der der Lage des zentralen Punktes 149 entsprechenden Stelle wird ein neues Muster 149'
erzeugt, daß eine »1« oder eine »0« repräsentiert Diese Arbeitsschritte werden Ober die gesamte Fläche des
Musters 148 hinweg wiederholt, so daß es möglich ist einen in dem Muster vorhandenen mikroskopischen
Fleck zu beseitigen. Zwar zeigt F i g. 31 das zweidimensionale abgefragte Muster oder Bild, doch läßt sich das
Begrenzungslinien-Ausmittelungsverfahren auch bei einem n-dimensionalen Bild oder Muster, bei dem n= 1
ist, abwenden, und bei dem es sich um ein kontinuierliches oder abgefragtes Muster oder Bild handeln kann.
Bei einem kontinuierlichen Bild wird die Fläche »1« mit der Fläche »0« verglichen. Bei dem in Fig.31
dargestellten Beispiel werden 13 Bildelemente untersucht, die das zentrale Bildelement 149 umgeben, doch
kann sich die Anzahl der zu untersuchenden Bildelemente nach der Größe des nachzuweisenden mikroskopischen Flecks richten. Bei einem kontinuierlichen Bild
wird der Schwellpegel so festgelegt, daß er einer Hälfte der zu untersuchenden Räche entspricht
F i g. 31 zeigt eine Vorrichtung 150, die so ausgebildet ist, daß sie dann, wenn die Anzahl der 1- oder
O-Eingangssignale, die den das zentrale Bildelement umgebenden Bildelementen entsprechen, höher ist als
die Hälfte der Anzahl der in der Umgebung untersuchten Bildelemente, das !Signal »1« oder das
Signal »0« liefert
Im folgenden wird das Begrenzungslinien-Ausmittelungsverfahren weiter bezüglich eines möglichst einfachen eindimensionalen Bildes oder Musters beschrieben. Fig.32A zeigt eine Einrichtung zum Erzeugen
eines Musters durch eine Parallelverarbeitung eines eindimensionalen Bildes, das abgefragt wird, und
Fig.32B zeigt eine Einrichtung zum Erzeugen eines Musters durch eine serielle Verarbeitung eines eindimensionalen Bildes, das ebenfalls abgefragt wird. Zu der
Einrichtung nach F i g 32A gehören Vorrichtungen 150Ä 150/ 150* usw. bis 150p, deren Aufbau aus Fig.33
ersichtlich ist Die in F i g. 32B dargestellte Vorrichtung 150' ähnelt der Vorrichtung nach Fig.33. Es sei
angenommen, daß ein Bildelement 152 ausgewählt worden ist, mittels dessen ein Muster 152' erzeugt
werden soll. In diesem Fall werden zwei benachbarte Bildelemente 151 und 153 zusammen mit dem
Bildelement 152 untersucht, und die zugehörigen Ausgangssignale werden der Vorrichtung 150/ über
Eingänge 160, 161 und 162 (Fig.33) zugeführt. Werden
der Vorrichtung 150/ mehr als zwei Ausgangssignale zugeführt steigt eine an einem Widerstand Ri
erscheinende Spannung so weit an, daß ein Verknüpfungsglied 164 geöffnet wird und ein Ausgangssignal an
einer Ausgangsklemme 163 erscheint Auf diese Weise
wird bei 152' das Muster »1« oder »0« erzeugt Auf
entsprechende Weise werden die weiteren Muster 153',
154' usw. gewonnea
ίο das Originalmuster als auch das daraus gewonnene
Muster gleichzeitig verschoben, so daß die Muster nur mit Hilfe der einen Vorrichtung 150' erzeugt werden.
Die parallel oder seriell arbeitenden Verarbeitungseinrichtungen nach F i g. 32A und 32B können auch bei
einem n-dimensionalen Bild oder Muster benutzt
werden, das abgefragt wird, doch dürfte sich eine nähere
einschlägigen Maßnahmen geläufig sind.
lungen eine Einrichtung zum Erzeugen eines Musters durch eine Parallelverarbeitung eines eindimensionalen
Bildes, das abgefragt wird. Bei A und Fist ein Originaloder Ausgangsmuster dargestellt; Bei B und G ist das
Originalmuster nach links verschoben worden, während
es bei Cund //nach .echts verschoben worden ist; bei D
und /ist ein Muster dargestellt, wie man es erhält wenn man die nach rechts bzw. links verschobenen Bilder des
Originalmusters addiert; bei E und / ist das durch die /iddition gewonnene Muster binär verschlüsselt darge
stellt; bei K erkennt man ein Muster, das sich aus der
Addition der Muster F, G und //ergibt Es ist ersichtlich,
daß die Summe von je drei beliebigen, einander benachbarten Bildelementen jeweils einem bei D
dargestellten Bildelement entspricht dessen Lage dem
mittleren Bildelement von drei bei A dargestellten,
einander benachbarten Bildelementen entspricht
Fig.35 zeigt schematisch eine Schaltung für die
serielle Verarbeitung eines eindimensionalen kontinuierlichen Bildes. Zu dieser Schaltung gehören eine
Eingangsklemme 165, eine Ausgangsklemme 166 sowie Verzögerungsleitungen D1, D 2 usw. bis Dn. Das einem
Ausgangsmuster entsprechende Ausgangssignal wird der Eingangsklemme 165 und den Verzögerungsleitungen zugeführt Sobald die an einem Widerstand Rl
erscheinende Spannung einen vorbestimmten Pegel überschreitet, wird ein Glied 167 geöffnet damit der
Klemme 166 ein Ausgangssignal zum Erzeugen eines Musters entnommen werden kann.
3. Verfahren zum Gewinnen eines kleinen Ausschnitts
Im Gegensatz zu dem Begrenzungslinien-Abstandverfahren, dem Vergrößerungs-Verkleinerungs-Verfahren und den Begrenzungslinien-Ausmittelungsverfahren
benötigt man bei dem Verfahren zum Ermitteln einer
Fehlstelle keine Schaltung zum Ermitteln einer Begrenzungslinie. Zwar kann man jede der auf den drei
vorstehend beschriebenen Verfahren basierenden Schaltungen zum Ermitteln eines mikroskopischen
Flecks bei einer Einrichtung zum Verarbeiten mikrosko-
bo pischer Flecke oder Ausschnitte benutzen, doch besteht
hierbei die Gefahr, daß die Vorsprünge und Einkerbungen der Begrenzungslinien als Fehlstellen bezeichnet
werden. Daher muß man die betreffenden Schaltungen in Verbindung mit einer Schaltung der beschriebenen
h1) Art zum Ermitteln einer Begrenzungslinie benutzen.
Jedoch kann eine Verarbeitungseinrichtung, die aul
dem nachstehend beschriebenen Verfahren zum Ermitteln einer Fehlstelle basiert, sowohl die Aufgabe einer
Schaltung zum Herausziehen eines mikroskopischen Flecks als auch die Aufgabe einer Schaltung zum
Nachweisen einer Begrenzungslinie erfüllen.
In Fig. 13 bezeichnen die schraffierten Flächen eine Kupferfolie auf einer gedruckten Schaltung oder eine
Chromschicht oder eine Emulsion auf einer Maske zum Herstellen eines integrierten Schaltkreises. Die Fehlstellen 50' und 51' liegen in einer hellen bzw. einer
dunklen Fläche. An den Begrenzungslinien entstehen infolge des Abfragens des Musters der Vorsprung 52
und die Einkerbung 53.
Die Prüfanlage, deren Wirkungsweise auf dem Verfahren zum Nachweisen eines mikroskopischen
Flecks basiert, bietet den Vorteil, daß nur die Fehlstellen
50' und 51' festgestellt werden, während der Vorsprung 52 und die Einkerbung 53 an den Begrenzungslinien
unberücksichtigt bleiben und nicht nachgewiesen werden.
Gemäß F i g. 36 wird ein Bildelement 168 ausgewählt,
und die dieses Bildelement vollständig umschließenden Bereiche 169a bis 179n werden untersucht Form und
Größe dieser Bereiche werden entsprechend der Kompliziertheit des ζυ prüfenden Originalmusters
gewählt Vorzugsweise ist jeder dieser Bereiche segment-, ei- oder ellipsenförmig oder dergleichen, und
die längere Achse jedes Bereichs verläuft bis in Richtung auf das gewählte Bildelement 168, wobei die
Länge kleiner ist als die halbe Breite eines normalen Musters.
Im folgenden wird das Verfahren beschrieben, mittels dessen festgestellt wird, ob das Bildelement 168 eine
Fehlstelle oder ein Teil eines normalen Musters ist Es sei angenommen, daß das Bildelement 168 einem
logischen Zustand Pq (»1« oder »0«) entspricht Das
Bildelement 168 wird als Teil eines normalen Musters dann, und nur dann nachgewiesen, wenn alle Bildelemente innerhalb mindestens eines dieses Bildelement
umgebenden Bereichs dem logischen Zustand P0 entsprechen, d. h. wenn die folgende logische Funktion
gilt:
PoDU
;- 1 i
Π PI
Ii-I
Hierin bezeichnet /V—Pn' die logischen Zustände
der Bildelemente 170a bis 170/7 innerhalb des Umgebungsbereichs 169/ Ergibt sich aus der vorstehenden
logischen Funktion der Wert »1«, wird das Bildelement 168 als Teil eines normalen Musters identifiziert Daher
liefert die logische Funktion
G0 = F0 = (pou ή ü Pi) η (PoUη ΰ pi) w
den Wert »1«, wenn es sich bei dem Bildelement 168 um
eine Fehlstelle handelt Die logische Funktion G0 liefert
stets den Wert »1«, wenn mindestens eines der Bildelemente in dem Umgebungsbereich nicht dem
logischen Zustand /Ό entspricht Somit liefert die
logische Funktion G0 den Wert »1«, wenn gemäß Fig. 13 die Fehlstellen 50' und 51' nachgewiesen
werden, doch liefert sie für den Vorsprung 52 und die Einkerbung 53 an den Begrenzungslinien den Wert »0«.
Somit läßt sich aus dem in Fig. 13 gezeigten binären Muster mit den genannten Fehlstellen direkt das in
Fig. 15 dargestellte Muster gewinnen. In Fig. 15 entsprechen die mikroskopischen Ausschnitte 50" und
51" den Fehlstellen 50' und 51' des Musters nach Fig. 13. Werden die herausgezogenen Fehlstellen und
ihr Hintergrund mittels einer Farbdarstellungseinrichtung in verschiedenen Farben dargestellt, lassen sich die
Fehlstellen bezüglich ihrer Art, Größe, Lage usw. leicht nachweisen.
Nachstehend wird eine Prüfanlage, deren Wirkungsweise auf diesem Verfahren zum Feststellen mikroskopischer Flecke berührt, anhand von Fig.37 beschrie-
ben. Das optische Bild eines zu prüfenden Bauteils 11,
z. B. einer gedruckten Schaltung oder einer Maske zum
Herstellen eines integrierten Schaltkreises, wird mittels eines photoelektrischen Umsetzers z. B. einer Fernsehkamera 12 in ein elektrisches Signal verwandelt Das der
Fernsehkamera entnommene Videosignal 171 wird durch eine Quantisierungsschaltung bzw. einen Analog-Digital-Umsetzer 14 in binär kodierte Signale 172
verwandelt Eine Speicherstufe 15 erzeugt aus dem binär kodierten und abgefragten Videosignal 172 seriell
ein zweidimensionales lokales Videosignal 173. Ferner ist eine Verarbeitungsstufe 174 zum Verarbeiten eines
kleinen Ausschnitts vorhanden, die dazu dient, aus dem lokalen Videosignal 173 eine Fehlstelle herauszuziehen,
und ein einer solchen Fehlstelle entsprechendes Signal
175 wird mittels einer Darstellungseinrichtung 176
sichtbar gemacht Bei der Einrichtung 176 kann es sich um eine Farbdarstellungseinrichtung handeln, die eine
Fehlstelle in Farbe und erforderlichenfalls gemäß F i g. 37 mit Hilfe des Signals 172 auch den Hintergrund
sichtbar macht
Fig.38 zeigt einige Beispiele binär kodierter und
abgefragter Muster, die nach dem vorstehend beschriebenen Verfahren zum Feststellen mikroskopischer
Flecke verarbeitet werden können. Gemäß F i g. 38 ist
ein zentrales Bildelement 78 vorhanden, und bei 179 bis
186 erkennt man Bildelementbereiche, die in der
erfindungsgemäßen Weise einer räumlichlogischen
ihrer Form. Die Umgebungszonen 179 bis 186 müssen so
gewählt werden, daß sie insgesamt das zentrale
weiter oben angegebenen logischen Funktion (1) arbeitet Ein UND-Glied 187 liefert das Ausgangssignal
»1«, wenn alle vier in der Zone 179 enthaltenen Bildeleinente in dem zweidimensionalen lokalen Videosignal 173 erscheinen. Dann, und nur dann, wenn alle
Bildelemente, die in den Umgebungszonen 179 bis 186 enthalten sind, das Signal »1« liefern, erscheinen
entsprechend in den Leitungen IWb bis 188/? 1-Ausgangssignale. Wenn alle Bildelemente in irgendeiner der
Zonen 179 bis 186 das Signal »1« liefern, wird das
Ausgangssignal eines ODER-Glieds 189 zu einem
1-Signal, und wenn das zentrale Bildelement 178 einer
»1« entspricht, wird auch das Ausgangssignal eines UND-Glieds 191 zu einem 1-Signal. Dann wird das
zentrale Bildelement 178 als Bestandteil eines normalen
Musters nachgewiesen, so daß das Ausgangssignal 175
eines NOR-Glieds 192 zu einem 0-Srgnal wird. Entspricht dagegen das zentrale Bildelement 178 einer
»0«, und liefern alle Bildelemente in jeder der Umgebungszonen 179 bis 186 ein 0-Signal, wird das
^s Ausgangssignal des UND-Glieds 193 zu einem 1-Signal,
so daß am Ausgang 175 des NOR-Glieds 192 ein O-Signal erscheint. Wenn irgendeine der Umgebungszonen 179 bis 186 ein dem zentralen Bildelement 178
entgegengesetztes Bildelement enthält, wird das letztere
als Bestandteil einer Fehlstelle nachgewiesen, und das NOR-Glied 192 liefert als Ausgangssignal eine »1«.
Wie vorstehend beschrieben werden gemäß der Erfindung die lokalen Videosignale für die dunklen und
hellen Elemente eines Musters oder Bildes; seriell erzeugt, und eine in dem lokalen Videosignal enthaltene
Fehlstelle wird sicher und zuverlässig nachgewiesen und herausgezogen. Hierbei ist es möglich, zu verhindern,
daß die Vorsprünge oder Einkerbungen der Begrenzungslinien fälschlicherweise als Fehlerstellen betrachtet
werden, und die bei gedruckten Schaltungen oder integrierten Schaltkreisen mit komplizierten Mustern
tatsächlich vorhandenen Fehlstellen lassen sich leicht nachweisen und lokalisieren. Ferner ist es möglich, nur
die Fehlstellen mit Hilfe einer Darstellungsvorrichtung sichtbar zu machen und eine Warnvorrichtung zu
betätigen, wenn die Anzahl der Fehlstellen eine vorbestimmte Zahl erreicht Weiterhin ist es mit Hilfe
des durch die Warnvorrichtung erzeugten Signals möglich, eine Vorrichtung zum kontinuierlichen oder
intermittierenden Zuführen zu prüfender Bauteile zu der Prüfanlage nach der Erfindung zeitweilig stillzusetzen
und ein fehlerhaftes Erzeugnis, z. B. eine gedruckte Schaltung mit einer Fehlstelle, automatisch auszuscheiden.
Hierzu 16 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Einrichtung zur Analyse einer Vorlage mit einer Stufe zur Gewinnung eines Videosignals durch
rasterfcnnige Abtastung der Vorlage, einer Stufe zur Abfrage des Videosignals während vorgegebenen Zeitintervallen, einer Stufe zur Bewertung
und/oder Kodierung des dabei jeweils ermittelten Signalwertes, und einer Stufe zur Signalverarbeitung, gekennzeichnet durch eine Speicherstufe (15; 41,41', 42;45,45', 45", 42), deren Kapazität
der kodierten Signalinformation eines über das Gesamtraster zu verschiebenden TeSrasters (39) des
Gesamtrasters entspricht, und die die Information in zweidimensionaler Zuordnung gemäß dem erfaßten
Teilrasterbereich speichert
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewertungs- und/oder Kodierungsstufe (14) eine Subtraktionsschaltung (29), die
einen vorgegebenen Betrag vom Videosignal abzieht, eine das Ausgangssignal der Subtraktionsstufe
(29) komprimierende und glittende Schaltung (30),
eine den vorgegebenen Betrag mit dem Ausgangssignal der Kompressions- und Glittungsschaltung 2s
(30) addierende Schaltung (31) und eine Umsetzerschaltung (32) umfaßt, die das Videosignal unter
Verwendung des Ausgangssignals der Additionsschaltung (31) als Schwellwert in ein binarkodiertes
Signal umsetzt(Fig. 5).
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine der Speicherstufe (15,41,
41', 42; 45,45', 45", 42) nachgeschaltete Signalverarbeitungsstufe (16) erste Verarbeitungsstufen (61,62)
aufweist, die eine Schaltungsstufe (61), welche das in
einem bestimmten Zustand befindliche, binärkodierte Videosignal komprimiert und danach dehnt, sowie
eine zu der Kompressions- und Dehnungsstufe (61) parallel oder in Reihe liegende Schaltungsstufe (62),
welche das in einem bestimmten Zustand befindliche binarkodierte Videosignal dehnt und danach komprimiert, umfaßt (F i g. 16).
4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungsstufe (16) zweite Verarbeitungsstufen (65)
umfaßt, die das ursprüngliche Muster mit einem Muster, welches von den ersten Verarbeitungsstufen
(61, 62) erhalten wird und in welchem ein kleiner Ausschnitt eliminiert ist, vergleichen und den im
ursprünglichen Muster enthaltenen kleinen Ausschnitt herausziehen (P i g. 16).
5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungsstufe (16) folgende Schaltungsteile aufweist:
eine einen kleinen Ausschnitt herausziehende Stufe (61), die ein Ausgangssignal bereitstellt, wenn die
Zahl der binärkodierten Signale, die einen von zwei Zuständen mehrerer Bildelemente wiedergibt, die in
irgendeinem von mehreren kontinuierlichen, in mehreren Richtungen durch ein vorgegebenes bo
Bildelement laufenden Muster enthalten sind, kleiner ist als eine vorgegebene Zahl, eine einen Grenzbereich herausziehende Stufe (62), die ein Ausgangssignal bereitstellt, wenn die binären Signale, die die
Binärzustände von zwei lokalen Bereichen wieder- β">
geben, welche mit einem unempfindlichen Bereich, der in dem zwischen den zwei lokalen Bereichen
liegenden, vorgegebenen Bildelement enthalten ist.
in mehreren Richtungen ausgewählt werden, einander unterschiedlich sind, und eine Vergleicherstufe
(65), der die Ausgangssignale der einen kleinen Ausschnitt herausziehenden Stufe (6.1) und der einen
Begrenzungsbereich herausziehenden Stufe (62) zugeleitet werden und ein Ausgangssignal dann und
nur dann bereitstellen, wenn die einen Begrenzungsbereich herausziehende Stufe (62) kein Ausgangssignal bereitstellt (F ig. 16 bis 21).
6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherstufe (15)
einen Schaltungsteil (41, 41'), in welchem ein Element oder mehrere Elemente (41,4Γ) in Reihe
geschaltet sind, welche die Musterinformation der durch die rasterförmige Abtastung erhaltenen
Abtastlinien jeweils speichern und die gespeicherte Musterinformation in Abhängigkeit der Verschiebung des Abtastpunktss der Musterinformation
verschieben, wobei diese Verschiebung in Abhängigkeit eines gleichzeitig mit einem Abtastsignal
auftretenden Synchronsignals vorgenommen wird, sowie einen Schaltungsteil (42) enthält, der die dem
ersten Element (41) des ersten Schaltungsteils (41, 41') bereitgestellte Eingangsinfonnation und die
Ausgangssignale aller Elemente (41,41') des ersten Schaltungsteils (41, 41') speichert und die gespeicherte Information in Abhängigkeit des Synchronsignals verschiebt, so daß die in irgendeinem dieser
-Elemente (41, 41') gespeicherte Information nach Bedarf bereitgestellt werden kann (F i g. 7).
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JPS5371563A (en) * | 1976-12-08 | 1978-06-26 | Hitachi Ltd | Automatic inspection correcting method for mask |
GB1564181A (en) * | 1977-02-11 | 1980-04-02 | Paabo M | Device for examination of distances in a picture |
JPS5863838A (ja) * | 1981-10-14 | 1983-04-15 | Fuji Electric Co Ltd | 欠陥検出回路 |
US4692690A (en) * | 1983-12-26 | 1987-09-08 | Hitachi, Ltd. | Pattern detecting apparatus |
JPH0616013B2 (ja) * | 1984-11-22 | 1994-03-02 | 肇産業株式会社 | 自動検査装置 |
CA2478243C (en) | 2002-03-22 | 2012-07-24 | British Telecommunications Public Limited Company | Anomaly recognition |
CA2479223C (en) | 2002-03-22 | 2012-09-04 | British Telecommunications Public Limited Company | Comparing patterns |
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