DE3513617A1 - Thermodetektor - Google Patents
ThermodetektorInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Thermodetektor
mit einer Anordnung von Thermodetektorelementen.
Die Erfindung ist sowohl bei linearen als auch
bei zweidimensionalen Detektoranordnungen anwendbar.
Lineare Detektoranordnungen eignen sich insbesondere
für Anwendungen, bei denen sich der
Detektorkopf relativ zu einem abzubildenden Objekt
bewegt. Beispiele umfassen Detektoren, die einen
Alarm bei einem Einbruch auslösen, wobei
sich ein Objekt vor dem Detektorkopf bewegt und
Schiebe-Zeilen-Scannerdetektoren, bei denen ein
sich bewegendes Fahrzeug den Detektorkopf in
kontinuierlicher Bewegung die Szene abtastet.
Anordnungen mit mehreren hunderten Detektorelementen
können erforderlich sein, da jedoch der Detektor
nicht entlang einer Linie gescannt wird, sind
die Bandbreiten schmal. Bei vielen dieser Anwendungen
können Bandbreiten von weniger als 50 Hz erreicht
werden. So führt in dem Beispiel eines
Detektors, der bei Einbruch einen
Alarm gibt, wobei die Objektgeschwindigkeiten
U₀ üblicherweise bei 2 m/s liegen, eine Szenenauflösung
Q von 0,1 m zu einer Bandbreite U₀/2Q,
die kleiner als 50 Hz ist.
Zweidimensionale Detektoranordnungen sind
nützlich für einen großen Bereich von Infrarot-
Überwachungsanwendungen.
Die Entwicklung von Thermodetektoren ist derzeit
auf Anordnungen mit einer großen Anzahl von
Elementen mit kleinem Abstand zwischen diesen
Elementen gerichtet.
Lineare und zweidimensionale Detektoranordnungen
basieren bislang auf dem Auslesen einer Anordnung
pyroelektrischer Elemente mittels ladungsgekoppelter
Vorrichtungen (CCD). Solche CCD-Hybriddetektoren
werden in dem neueren Artikel von R. Watten et al.
"Performance and Technologies for Linear and
Two-Dimensional Pyroelektric Arrays", IEE Conference
Publications No, 228, 2nd International Conference
on Advanced Infrared Detectors and Systems, S. 49-53
(1983) diskutiert. Bei dieser CCD-Hybridanordnung
werden sowohl das an jedem Element anliegende Signal
als auch das Rauschen durch die Verwendung des
CCD-Eingangs am Rasterpunkt abgetastet und gespeichert.
Dies führt zu einem Hereinfalten von
Rauschen am Rasterpunkt, insbesondere für das hereingefaltete
thermische Rauschen im CCD-Gate zu einem
Rauschen von
(4/3 kT α/C)1/2 Volt
(effektiv), wobei C die Detektorkapazität und α
der Injektionswirkungsgrad sind. Da das so entwickelte
pyroelektrische Spannungssignal unabhängig
von der Elementoberfläche A ist, ist das
Signal/Rauschverhältnis für diese dominante
Rauschquelle proportional zu A 1/2, d. h. proportional
zum Abstand der Elemente untereinander.
Im folgenden sind weitere nützliche neuere
Literaturstellen, die sich mit CCD-pyroelektrischen
Hybridschaltungen befassen, angegeben:
R. Watton, et al., Infrared Physics, 22, S. 259-275 (1982);
R. Watton, et al., SPIE Proceedings Vol. 395 (1983); und
D. Buss, et al., IEEE Trans EL Devices, Vol. ED-27, S. 998-1000 (1980).
R. Watton, et al., Infrared Physics, 22, S. 259-275 (1982);
R. Watton, et al., SPIE Proceedings Vol. 395 (1983); und
D. Buss, et al., IEEE Trans EL Devices, Vol. ED-27, S. 998-1000 (1980).
Als Alternative zur Verwendung von CCD′s
wurden Detektorelemente mit Hilfe von zu einer
Multiplexmatrix zusammengefaßten Schaltern und
Busleitungen ausgelesen. Beispiele für diesen
alternativen Lösungsweg sind beschrieben in
G. S. Hopper, US-PS 41 62 402. Nach der dortigen
Beschreibung ist eine Reihe von ferroelektrischen
Detektorelementen über eine Reihe einer gleichen
Anzahl von Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistor-
(MOSFET)-Schaltern an eine Busleitung geschaltet.
Das Signal der Busleitung wird über einen gemeinsamen
Verstärker an einen Videoprozessor geschaltet.
Ein ähnlicher Detektor, wie er hier betrachtet
wird, ist von A. Carlson et al. in dem Artikel
"Solid-state pyroelectric imaging system",
SPIE, Vol. 267 Staring Infrared Focal Plane Technology
S. 86-98 (1981) beschrieben. Dieser Detektor umfaßt
eine Reihe pyroelektrischer Thermodetektorelemente,
eine Halbleiter-Trägerschicht, jeweils einen Eingangsvorverstärker
mit hoher Impedanz mit einem Schalter,
wobei dieser Vorverstärker in der Schicht ausgebildet
und für jedes dieser Elemente vorgesehen ist.
Ferner weist dieser Detektor eine gemeinsame Busleitung
auf. Die Reihe der pyroelektrischen Elemente
ist über die schaltbaren Vorverstärker mit der Busleitung
verbunden. Jeder der schaltbaren Vorverstärker
weist einen Doppel-Gate-PN-Feldeffekttransistor
(JFET) auf. Jedes Detektorelement ist
mit einem Gate seines entsprechenden JFET verbunden,
und die Signalspannung an diesem Gate steuert
den Stromfluß durch den Transistorkanal. Dieser
Vorverstärker wird mittels einer an dessen anderen
Gate angelegten Adressenspannung geschaltet. Ein
mit der Wahl eines solchen Vorverstärkers verbundenes
Problem beruht auf der relativ bedeutsamen
Größe des Gate-Leckstroms. Dies führt zu ernsthaften
Einschränkungen beim Transistordesign und -betrieb.
Um den Leckstrom unter 10-13 A zu halten, muß die
Siliziumanordnung der JFET′s mittels spezieller
Verfahrenstechniken hergestellt werden. Auf die
Busleitung folgt ein Impedanzwandler und ein
Analogschieberegister.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen
Thermodetektor mit einer großen Anzahl von Sensorelementen
anzugeben, der Aufführungsformen ermöglicht,
bei denen der Abstand zwischen den einzelnen
Elementen sehr klein (z. B. <100 µm) ist.
Diese Aufgabe wird anspruchsgemäß gelöst.
Erfindungsgemäß weist der Thermodetektor auf:
- (1) Eine Reihe Thermodetektorelemente, zum Erfassen von Strahlung von einer Szene;
- (2) einen Modulator zum Modulieren der Strahlung von der Szene, so daß jedes Detektorelement abwechselnd mit Hell- und Dunkelphasen beaufschlagt und sequentiell längs der Reihe beleuchtet wird;
- (3) eine mit dem Modulator synchronisierte Adressiereinrichtung zum sequentiellen Entnehmen von Hell- und Dunkelsignalen von jedem Detektorelement an einen gemeinsamen Reihenausgang und
- (4) einen Bandfilter, der so angeordnet ist, daß er die vom gemeinsamen Reihenausgang empfangenen Ausgangssignale der Detektorelemente durchläßt, wobei der Filter eine passende Durchlaßcharakteristik hat, um sowohl hereingefaltetes Rauschen als auch 1/f-Rauschen zu reduzieren.
Mit der Erfindung wird eine Kombination verschiedener
Probleme gelöst, die bei abgetasteten
Thermodetektoranordnungen auftreten. Es hat sich
herausgestellt, daß solche Anordnungen für viele
Anwendungszwecke ein nicht akzeptables Rauschen
aufweisen. Es wurde überraschenderweise festgestellt,
daß die Hauptursache für das Rauschen von
dem Hineinfalten von Hochfrequenzrauschen in das
Basisband, das durch das Abtasten der einzelnen
Detektorelementsignale erzeugt wird, herrührt. Wie
obenstehend diskutiert wurde, dachte man, daß dies
ein Problem sei, das mit Anordnungen pyroelektrischer
Elemente mit CCD-Auslegung zusammenhängt.
Ferner wurde es für notwendig erachtet, das 1/f-
Rauschen (f = Frequenz) zu dämpfen. Es ist jedoch
praktisch unmöglich, verhältnismäßig sperrige
Filterkomponenten angrenzend an einzelne Detektorelemente
mit einer Seitenlänge von beispielsweise
50 µm anzuordnen. Die Erfindung löst diese Probleme
dadurch, daß die zu übertragenden Detektorelementsignale
auf einen gemeinsamen Reihenausgang und
schließlich auf ein Bandfilter geschaltet werden.
Der Filter kann damit außerhalb der Anordnung angebracht
werden und braucht nicht mit einem einzelnen
Detektorelement verbunden zu sein. Ausführungsformen
der Erfindung zeigen eine Rauschverbesserung um
einen Faktor 10 oder mehr im Vergleich zu herkömmlichen
CCD-Auslesethermodetektoren ähnlicher
Geometrie. Die Erfindung führt somit zu wesentlichen
Verbesserungen, insbesondere bei Anordnungen mit
einem Abstand zwischen den einzelnen Elementen von
weniger als 100 µm.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform hat der
Bandfilter eine Hochpaßcharakteristik, die vom
Ausblenden eines Differenzsignals eines Paars von
Hell- und Dunkelsignalen, die von jedem Detektorelement
erzeugt werden, herrührt. Dies geschieht
über eine ausreichende Verzögerung eines Signals,
um dieses mit einem darauffolgenden Signal so zu
synchronisieren, daß eine Subtraktion erfolgt. Signale
können mit einem RC-Filter tiefpaßgefiltert
und anschließend digitalisiert werden, bevor sie in
digitalen Vorrichtungen, die den Hochpaßfilter bilden,
zeitverschoben und subtrahiert werden. Der Tiefßapfilter
kann ein Verstärker und eine Abtast- und
Haltevorrichtung aufweisen.
Die Thermodetektorelemente können vom pyroelektrischen
Typ mit hoher Impedanz sein und jeder
kann jeweils mit einem schaltbaren Vorverstärker mit
hoher Eingangsimpedanz, wie z. B. einer MOSFET-
Source-Folgervorrichtung verbunden sein. Die Vorverstärker
können in einer Siliziumschicht inkorporiert
sein, die die Detektorelemente trägt.
Sie können ebenfalls adressierbare, in ihren Source-Verbindungen
inkorporierte, MOSFET-Schalter aufweisen
und sich einen gemeinsamen Source-Widerstand teilen,
der an einem gemeinsamen Reihenausgang angeordnet
ist. Der schaltbare Vorverstärker kann alternativ
eine Doppel-Gate-JFET-Vorrichtung sein, MOSFET′s
werden jedoch wegen ihres geringeren Leckstroms
und dem entsprechend geringeren Rauschen bevorzugt.
Die Detektorelementreihe kann durch eine oder
mehrere äquivalente Reihen ergänzt werden, um eine
zweidimensionale Anordnung zu bilden, deren Detektorelemente
in Zeilen und Spalten angeordnet sind. Die
Detektorelemente in jeder Spalte können synchron
mittels Adressierungseinrichtungen ausgelesen werden,
die allen Reihen gemeinsam sind. Die Signale
können deshalb auf eine einzige Leitung mittels
eines Schieberegisters und nach Tiefpaßfiltern
übertragen werden. Das Hochpaßfiltern kann dann
mittels eines einzigen Filters für die gesamte
Anordnung durchgeführt werden. Dieser Filter ist
so angeordnet, daß er Signale vom Schieberegister
empfängt.
Die Thermodetektoren können aus pyroelektrischem
Material, wie z. B. Bleizirkonat- (PZT), deuteriertem
Triglycinsulfat- (TGS) oder Strontium-Barium-Niobat-
(SBN) Keramik sein. Alternativ dazu, kann ein
thermisch ansprechendes dielektrisches Material,
wie z. B. eine ferroelektrische Substanz verwendet
werden.
Im folgenden werden Ausführungsformen des erfindungsgemäßen
Thermodetektors anhand der Zeichnung
näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1: ein Blockdiagramm eines pyroelektrischen
linearen Hybriddetektors mit zugehörigen
Vorverstärkern und einem gemeinsamen Tiefpaßfilter,
Fig. 2: ein Blockdiagramm eines Ausschnitts aus
einer zweidimensionalen pyroelektrischen
Hybridanordnung mit den in Fig. 1 gezeigten
Spaltenkomponenten,
Fig. 3: ein Blockdiagramm eines digitalen Hochpaßsubtraktionsfilters,
zur Verwendung
bei einem Detektor nach Fig. 1 oder 2,
Fig. 4: Kurven der Änderung der auf die Anordnung
einfallenden Strahlung und der Änderung
der daraus resultierenden Temperatur der
Anordnungselemente über der Zeit,
Fig. 5: einen exemplarischen Querschnitt durch
ein Detektorelement als einfaches thermisches
Modell für die untenstehend aufgeführte
Analyse,
Fig. 6: eine äquivalente Schaltung für das Rauschen
des in Fig. 2 gezeigten Detektors,
Fig. 7 bis 10: die dem Rauschen äquivalente Temperaturdetektivität
(NETD) als Funktion der
Dicke der Detektorelemente bei drei Werten
der thermischen Leitfähigkeit für eine Anordnung
von 300 Elementen und zwei Werten
für das Spannungsrauschen und für eine
Anordnung von 100 Elementen und den beiden
selben Werten für das Spannungsrauschen,
Fig. 11: die Änderung des effektiven Rauschens und
des Signals über der Dicke eines Elements
und
Fig. 12: die dem Rauschen äquivalente Temperaturdetektivität
(NETD) für einen bekannten
CCD-Hybriddetektor in Abhängigkeit von
der Chopperfrequenz, aufgetragen für drei
verschiedene pyroelektrische Materialien.
Fig. 1 zeigt eine pyroelektrische lineare
oder Reihenanordnung 1, bei der eine geschaltete
MOSFET-Auslesung und ein Antifrequenzfaltungsfilter
verwendet werden. Einzelne pyroelektrische Detektorelemente
3 sind schraffiert dargestellt. Die lineare
Anordnung 1 kann eine Spalte einer zweidimensionalen
Anordnung darstellen, wie sie in Fig. 2 gezeigt ist
und im folgenden näher beschrieben wird. Jedes Rasterelement
der Anordnung 1 weist ein pyroelektrisches
Detektorelement 3, einen MOSFET-Vorverstärker 5 und
einen MOSFET-Schalter 7 auf und ist an eine gemeinsame
Busleitung 9 geschaltet. Eine Widerstandslast R₁
ist am Ausgang der Busleitung angeordnet. Der Widerstand
R₁ wirkt als Source-Folgerlast für jeden
einzelnen Vorverstärker 5, wenn dieser an die Busleitung
9 angeschlossen ist. Die Schalter 7 werden
mittels einer X-Adressenvorrichtung 10 betätigt.
Jeder Vorverstärker 5 dient dazu, die Detektorkapazität
(ungefähr 1 pf) von der viel größeren Streukapazität
C₁ der Leitung (C₁ ∼ 10-50 pf) abzukoppeln.
Das über der Source-Folgerlast R₁ erzeugte
Leitungssignal wird an den Eingang eines Verstärkers
11, und anschließend an einen Antifrequenzfaltungs-
Tiefpaßfilter 13 und an eine Abtast- und Halteschaltung
S/H gelegt. Bei diesem Design sind die relevantesten
Quellen für Rauschen das Rauschen am Detektor 3 und am Vorverstärkereingang
und das Spannungsrauschen am Leitungsverstärker
11. Die pyroelektrische Anordnung 1 ist
so angeordnet, daß sie das Wärmebild einer entfernt
angeordneten Szene aufnimmt, das mittels eines
konventionellen, nicht gezeigten Abbildungssystems
erzeugt wird. Das Abbildungssystem umfaßt einen
Chopper in der Brennebene oder einen auf konventionelle
Weise angeordneten Strahlenmodulator. Der Chopper
erzeugt abwechseln gleiche Hell- und Dunkelzeitperioden
an jedem Detektorelement 3, wobei jedes Element
in Folge beleuchtet wird. Diese Zeitintervalle sind
so gewählt, daß τ l die Zeitperiode darstellt, die
die Hell/Dunkelchopperkante benötigt, um die gesamte
Anordnung oder Reihe 1 zu überstreichen. Der Betrieb
der X-Adressenvorrichtung 10 ist mit der Chopperdrehbewegung
synchronisiert.
Am Ausgang der Leitung 9 wird die Rauschbandbreite
durch den Filter 13 begrenzt. Der Filter 13
ist vereinfacht durch seine Widerstands- und Kapazitätskomponenten
R b und C b dargestellt. Die Ausgangsspannung
des Filters 13 wird abgetastet und
gespeichert. Die lineare Anordnung 1 umfaßt N-Detektoren
und der MOSFET-Schalter 7 an jedem Rasterpunkt
ist für das Zeitintervall τ = τ l /N geschlossen.
Das Schalten erfolgt nacheinander entlang der Anordnung
1, so daß die Leitungsspannung aus einer
Reihe von Impulsen der Dauer τ besteht, wenn aufeinanderfolgende
Elemente 3 adressiert werden. Dies
führt zu zwei Designkriterien, die die Leitungsausgangsschaltung
betreffen. Diese sind:
R₁C₁/(1+g m R₁) < t/2π (1)
R b C b < τ (2)
wobei 1/g m die Ausgangsimpedanz jedes Vorverstärkers 3
ist.
In der Praxis folgt, daß wenn τ l = 2 × 10-2 s
und N = 100, daß dann für C₁ = 30 pf, R₁ < 10⁶ Ω
beträgt. Im Filter 13 sollte die Zeitkonstante
τ b (τ b = R b C b ) kleiner als τ/3 sein. Bei diesem
Wert werden 5% des Signals vom r-ten Rasterpunkt
in den (r-1)-ten Rasterpunkt verloren, da (1-e -τ/τ b)
gleich 0,95 ist. Dies führt zu einer Reduktion
der Modulationsübertragungsfunktion (MTF) auf
90% bei den höchsten Ortsfrequenzen. In der Praxis
wird angenommen, daß für die im folgenden beschriebene
Analyse eine Filterzeitkonstante τ b ≃ τ/10
der passendste Wert ist, um die Filterkomponenten
auf einer vernünftigen Größe zu halten. Dies führt
zu einem kleinen, aber nicht beachtlichen Signalverlust
zwischen benachbarten Rasterpunkten.
Es stellt sich die Frage nach der unteren Grenze
der Rauschbandbreite. Diese ist besonders wichtig
für das Design pyroelektrischer Hybridschaltungen,
da das Schrotrauschen in jedem Leckstrom am Detektoreingang
über der Detektorkapazität auftritt und einen
1/f-Beitrag zum Spannungsrauschen liefert. Fig. 3
zeigt einen Digitalfilter 15, der die Hochpaßfilterung
übernimmt, um das niederfrequente Rauschen abzuschwächen.
Der Filter 15 weist einen Analog/Digital-
Wandler (A/D) (16) auf, der sowohl direkt als auch
über einen Leitungsspeicher 17 an ein Subtraktionsglied
18 geschaltet ist. Der Speicher 17 erzeugt
eine Verzögerung von τ l , so daß aufeinanderfolgende
Hell- und Dunkelsignalproben von jedem Detektorelement
3 subtrahiert werden. Für Rauschterme haben die Leitungsausgangsproben
einen Rauschanteil von V₀ (Rauschen),
was sich aus dem Abtasten der an den Abtastschalter
S/H angelegten Rauschspannung ergibt. Für jedes
Detektorelement 3 ist die Spektralkomponente V f
(Rauschen) dieses Rauschens bei der Frequenz f
nach Subtraktion aufeinanderfolgender Signalproben
an der Stelle 18 gegeben durch:
V f (Rauschen) = V₀ (Rauschen) {e j ω n τ l-e j l(n-1)τ l}
wobei:
Der Parameter n bezeichnet die n-te Signalprobe
eines Detektorelements und Ω = 2 π f. Die niederfrequenten
Rauschterme werden durch einen Filterfaktor,
gegeben durch 2 sin ( Ωτ l /2) effektiv
reduziert. Wie bereits erwähnt, erzeugt der Chopper
(nicht gezeigt) Hell- und Dunkel- bzw. Auf- und Zu-
Intervalle der Länge τ l . Die am Ende jedes Auf- bzw.
Zu-Intervalls abgetasteten Signale haben dann gleiche
Größe, jedoch umgekehrtes Vorzeichen. Die durch
den Digitalfilter 15 durchgeführte Subtraktion führt
dementsprechend zu einem doppelten Beitrag V₀ (Signal)
zum Gesamtausgangssignal V₀ und zum Entfernen von
mit jedem Element 3 verbundenen Versetzungen. Die
Kombination des Hochpaßfilters 15 und des Tiefpaßfilters
13 liefert einen Bandfilter, der dazu ausgelegt
ist, die von den geschalteten MOSFET′s 5 erzeugte
Ausgangsimpulsfrequenz durchzulassen. Im
folgenden werden Ausdrücke für das gechoppte Signal
und die dominanten Rauschterme am Leitungsausgang
hergeleitet. Der Digitalfilter 15 wird auf diese
Frequenzen angesetzt und nach der Integration des
Rauschens auf alle Frequenzen und die dem Rauschen
äquivalente Temperaturdetektivität (NETD) wird berechnet.
In Fig. 4 ist die gechoppte Strahlung von einer
thermischen Szene und die sich ergebende Temperaturfluktuation
in jedem pyroelektrischen Element 3 gezeigt.
Alle Temperaturen beziehen sich auf die Umgebungstemperatur
T a am Detektorkamerakopf. Der
Pegel I m entspricht dann der Strahlung einer mittleren
Szenentemperatur, wobei T m oberhalb T a liegt und
ausgedrückt werden kann durch:
wobei W λ Watt/cm² µm der spektrale Strahlungsemissionsgrad
der Szene und F die F-Zahl der zur Fokussierung
der Strahlung auf die Targetebene verwendeten Optik
ist. Während des "Zu-Intervalls" des Choppers ist
die Strahlung I c auf jedem Element 3 eine Funktion
der Choppertemperatur. Wenn der Chopper angehalten
wird, wenn das Detektorelement 3 der Szene ausgesetzt
ist, beträgt die Gleichgewichtstemperatur
in jedem Element 3 T em und analog, wenn sich der
Chopper in Zu-Stellung befindet, beträgt die Gleichgewichtstemperatur
T ec . Dann gilt:
T em -T ec = (I m -I c )/g (5)
wobei g die thermische Leitfähigkeit jedes Elements 3
pro Einheitsfläche ist. Beim Drehen des Choppers, so
daß die Auf- und Zu-Intervalle τ l betragen, ist die
in Fig. 4 gezeigte Temperaturfluktuation:
wobei τ t die thermische Zeitkonstante eines jeden
Detektorelements 3 ist.
Jedes Element 3 wird am Ende jedes Auf- und Zu-
Feldes abgetastet und die pyroelektrische Ladung,
die mit der Temperaturänderung verbunden ist, ist
gegeben durch pA (T₁-T₂), wobei p der pyroelektrische
Koeffizient und A die Fläche des
Elements ist. Dabei ist das Spannungssignal an
jedem Element, bezogen auf den Mittelwert zwischen
Auf- und Zu-Feldern gegeben durch:
wobei die positiven und negativen Vorzeichen die Auf-
bzw. Zu-Felder bezeichnen, C die elektrische Kapazität
des Detektorelements 3 und C a die elektrische Eingangskapazität
des Vorverstärkers MOSFET 5 ist. Die Detektorelement-
Signaldifferenz Δ V, die zwei Bereichen
auf der Szene mit einem Temperaturunterschied von
1°C entspricht, d. h. Temperaturen T m und T m +1 ist
gegeben durch
In dem oben stehenden Ausdruck wurde angenommen, daß
das thermische Verhalten jedes Detektorelements 3
mit einer einfachen thermischen Zeitkonstante τ t = c t /g
beschrieben werden kann, wobei c t die thermische
Kapazität pro Einheitsfläche ist. Dies ist im allgemeinen
nicht der Fall. Wie in Fig. 5 gezeigt ist,
kann das Design für den Aufbau pyroelektrischer
Elemente 3 eine vielschichtige Sandwichstruktur
von Materialien umfassen - z. B. eine Isolationsmesaschicht
19 und ein Siliziumsubstrat 21. Die
Analyse muß entsprechend modifiziert werden, um für
einen spezifischen Aufbau zu passen.
Bei der einfachen, in Fig. 5 gezeigten Struktur,
wird der Wert der thermischen Leitfähigkeit g im
wesentlichen durch die thermische Isolationsmesaschicht
19 bestimmt, d. h.
g = k i A i /d i A (9),
wobei k i , d i und A i die thermische Leitfähigkeit,
die Dicke und die Fläche der Mesaschicht 19 bezeichnen.
Für eine typische Photowiderstandsmesaschicht
mit k i = 1,5 · 10-3 Watt · cm-1 · °C-1 und A i /A = 0,1 beträgt g = 0,15 Watt cm-2 · °C-1 bei einer
Dicke von 10 µm.
In erster Näherung kann die thermische Kapazität
c t als die Summe der thermischen Kapazität der pyroelektrischen
Schicht 3 und der Mesaschicht 19 beschrieben
werden, d. h.
c t = c p d p + c i d i A i /A = c p (d p + c i d i A i -/c p A) (10),
wobei c p die molare spezifische Wärme des pyroelektrischen
Materials 3 und c i die des isolierenden Materials
19 ist. Die thermische Belastung kann somit
ausgedrückt werden als eine zusätzliche Dicke des
pyroelektrischen Materials, die sich im Bereich
von 1 µm (c i /c p ∼ 0,5) bewegt.
Das Spannungssignal eines jeden Detektorelements
(siehe Gleichung 8) wird für das Zeitintervall
t l /N auf die Busleitung 9 geschaltet. Es wird
durch den Vorverstärker Source-Folger 5 mit einem
Gewinn α₀ = R₁g m /(1+R₁ · g m )und durch den Leitungsverstärker
11 mit einem Gewinn α verstärkt.
Die zu dem Abtast- und Haltekondensator S/H übertragene
Signalspannung V₀ (Signal) beträgt dann
bezogen auf den mittleren Pegel zwischen den Auf-
und Zu-Feldern:
wobei τ b = R b C b .
Schließlich, wenn diese Spannung an den
Digitalfilter 15 angelegt ist und nach Subtraktion
der Dunkel- von den Hell-Signalen beträgt die sich
ergebende Signalkomponente bei der Frequenz f:
V f (Signal) = 2 V₀ (Signal) (12).
Diese Spannung V f (Signal) wird in Verbindung
mit dem berechneten gefilterten Rauschen dazu verwendet,
den NETD herzuleiten.
Die Quellen für das Rauschen sind in dem
Äquivalentschaltbild in Fig. 6 gezeigt. Die
Quellen am Detektor 3 und am Vorverstärkereingang
5 sind in der unten stehenden Tabelle I
aufgeführt, wobei Standardausdrücke für das effektive
Rauschen verwendet werden (siehe dazu Porter, S. G.,
1981, Ferroelectrics, 33, S. 193-206).
Temperaturfluktuationsrauschen:i T = (4kT²gA)1/2pω/g(1+ω²t t ²)1/2;
Rauschen aufgrund des dielektrischen Verlustes:i d = (4kT ωc tanw)1/2;
DC-Widerstandsrauschen (Johnson-Rauschen):-i R = (4kT/R)1/2;
Vorverstärkerspannungsrauschen:e a = ν a ² + z²/f)1/2;
Vorverstärkerstromrauschen:i a = (2ei l )1/2.
In der oben stehenden Tabelle bezeichnet tan δ
den dielektrischen Verlust im pyroelektrischen Material,
z ist die Größe des 1/f-Rauschens des
MOSFET-Vorverstärkers bei 1 Hz, f ist die Frequenz
und T die am Detektorkopf gemessene Umgebungstemperatur.
In der Schaltung nach dem Vorverstärker 5 treten
Strom- und Spannungsrauschquellen auf, die mit dem
Schalter 7 : e s und i s , und mit dem Leitungsverstärker
11 : e α und i α zusammenhängen und es tritt eine
Stromrauschquelle i n auf, die von dem Source-Widerstand
R₁ herrührt.
Als Beispiel für Rauschquellen am Detektor und
Vorverstärkereingang wird das Vorverstärker-
Spannungsrauschen e a und die Rauschkomponente V₀
(Rauschen) bei der Winkelfrequenz ω genommen.
Der abgetastete Pegel V₀ (Rauschen) ist gegeben durch:
wobei α₀ der Source-Folgergewinn ist, der dicht bei
1 liegt und α der Leitungsverstärkergewinn ist und
wobei τ b = R b C b und j = . Entsprechende Ausdrücke
für die Rauschspannung V₀ (Rauschen), abgeleitet
von den Stromrauschquellen am Eingang, die in
Tabelle I aufgeführt sind, können erhalten werden,
in dem e a in Gleichung (13) ersetzt wird durch
i (Rauschen)/j ω (C+C a ) ersetzt wird.
Die nach dem Vorverstärker 5 auftretenden Rauschquellen
e, i n und i α liegen im Nebenschluß zur niedrigen
Ausgangsimpedanz 1/g m . Diese sind daher vernachlässigbar.
Andererseits führt das Spannungsrauschen
am Verstärker 11 zu einem durch Gleichung (13) gegebenen
Ausgabewert, wobei jedoch e a durch e a /α₀ ersetzt
ist. Da α₀ dicht bei 1 liegt ist diese Rauschquelle
signifikant und muß in Quadratur zum Vorverstärker-
Spannungsrauschen e a addiert werden.
Aus Gleichung (13), mit verschiedenen Rauschquellen
anstelle von e a kann das Rauschen am Ausgang
des Digitalfilters nach Gleichung (3) erhalten
werden. Das heißt, Gleichung (13) wird mit dem Faktor 2 sin
(ωτ l /2) multipliziert. Kürzen des Gewinnfaktors αα₀
durch Vergleich mit dem Signal führt zu:
und das gesamte Rauschen ist:
wobei
e t ² = e a ² + e α ²/α₀² + (i T ²+i d ²+i R ²+i a ²)/ω²(C+C a )²-(16).
Die Ergebnisse der Integration sind in der unten
stehenden Tabelle II aufgelistet.
Spannungsrauschen (dominanter Term):V a ²/2τ b ′
I/f-Rauschen:2z²J
Rauschen aufgrund des dielektrischen Verlustes: (4lTC tanδ)J/f (C+C a )²
Stromrauschen:ei L (τ l -t b )/(C+C a )² Johnson-Rauschen:2kT(τ l -t b )/R(C+C a )²
Stromrauschen:ei L (τ l -t b )/(C+C a )² Johnson-Rauschen:2kT(τ l -t b )/R(C+C a )²
In Tabelle II bezeichnet das Symbol J folgendes
Integral:
Wenn τ b = τ/10 beträgt, wie vorgeschlagen, dann
ist a = 10N, wobei N die Anzahl der Elemente 3 in
der Reihe 1 ist. Das Integral J ist untenstehend
für einen Wertebereich für die Werte a tabelliert.
Verwendet man die Werte der integrierten mittleren
quadratischen Rauschspannungen, berechnet sich NETD
wie folgt:
Die folgenden typischen Parameterwerte wurden
verwendet, um die oben stehenden Signal- und Rauschausdrücke
herzuleiten:
p = 3.5 × 10-8 C cm-2 °C-1 ε = 300
c p = 2.8 J · cm-3 p = 6 × 10 ohm · cm
tanδ = 5 × 10-3
MOSFET
u a = 2 × 10-8 V Hz-1/2 z = 1.1 × 10-6 V i L = 10-14 AC a = 1.0 pf
MOSFET
u a = 2 × 10-8 V Hz-1/2 z = 1.1 × 10-6 V i L = 10-14 AC a = 1.0 pf
τ l = 2 × 10-2 N = 100-300 Elemente
τ b = τ/10 = τ l /10N = 2 × 10-5 to 7 × 10-8 s.
Die oben stehenden Berechnungen wurden für ein
Element mit einer typischen Fläche von 50 µm²
ausgeführt. Thermische Leitfähigkeitswerte im Bereich
von g = 0,1 bis 0,3 Watt/cm-2K-1 wurden verwendet
und die NETDs wurden auf einer F/1-Apertur
normiert.
Die Ergebnisse sind angegeben in Ausdrücken
des NETD des Detektors 1 für eine F/1-Apertur
(siehe die in Fig. 7 bis 10 gezeigten Kurven)
für Anordnungen 1 mit 100 bis 300 Detektorelementen 3
und mit Spannungsrauschen an den MOS-Verstärkern 5
von 10 bzw. 20 nVHz-1/2. Diese Werte für das Rauschen
können bei Drainströmen von ungefähr 50 bzw. 10 µA
erhalten werden. Die in Fig. 11 gezeigte Kurve zeigt
die einzelnen Quellen für das Rauschen (RMS) und den
Signalpegel für eine Temperaturdifferenz von 0,1°C
in der Szene. In dieser Kurve bezeichnen die Symbole A
bis J folgendes:
A:Signal für 0,1°C (g = 0,2 W cm-2 °C-1)B:Dielektrisches RauschenC:Spannungsrauschen (300 Elemente: 20 nV Hz-1/2)D:I/f-RauschenE:Spannungsrauschen (100 Elemente: 20 nV Hz-1/2)F:Spannungsrauschen (300 Elemente: 10 nV Hz-1/2)G:SchrotrauschenH:Spannungsrauschen (100 Elemente: 10 nV Hz-1/2)I:TemperaturrauschenJ:Johnson-Rauschen
Die vorstehenden Berechnungen zeigen, daß es
möglich ist, große Anordnungen pyroelektrischer
Detektorelemente 3 in linearem oder zweidimensionalem
Format herzustellen, die einen NETD bei F/1 in dem
Bereich von 0,1 bis 0,2°C (in Abhängigkeit von der
thermischen Isolierung und der bei der Konstruktion
verwandten Vernetzungsstruktur) aufweisen. Eine herkömmliche
Anordnung mit CCD-Auslesung und mit einer
ähnlichen Geometrie wie oben diskutiert, würde einen
um einen Faktor 10 oder einen höheren Faktor schlechteren
NETD aufweisen. Bei pyroelektrischen Strukturen
wird die Leistungsfähigkeit im wesentlichen vom dielektrischen
Verlustrauschen dominiert und die oben
aufgeführten Ergebnisse deuten auf die Wichtigkeit
hin, das Spannungsrauschen am MOS-Verstärker 5 niedrig
zu halten, insbesondere bei sehr großen Anordnungen 1.
Bei dem oben beschriebenen Ausleseschema wird
eine Standard-MOS-Technik angewendet mit nur einer
geringen Anzahl von aktiven Elementen auf dem Niveau
der Rasterpunkte. Damit kann ein geringer Detektorelementabstand
erzielt werden, ohne dabei Miniaturisierungstechnologien
(z. B. im Submikronbereich) anwenden
zu müssen.
Zum Vergleich sind in Fig. 12 die NETD-Kennlinien
herkömmlicher CCD-hybridpolyelektrischer Detektoren
über der Chopperfrequenz aufgetragen. Diese Kurve
ist der neuerlichen Veröffentlichung "Performance
and Technologies for Linear and Two Dimensional
Pyroelectric Arrays" von R. Watton, et al., ICC
Conference Publication No. 228, 2nd International
Conference on Advanced Infrared Detectors and
Systems, S. 49-53 (1983) entnommen. Die drei gezeigten
Kennlinien gelten für Hybridschaltungen aus verschiedenem
pyroelektrischem Material - CCD-Hybridschaltungen
aus Blei-Zirkonat (PZT), Strontium-Barium-Niobat (SBN)
und deuteriertem Triglycinsulfat (DTGS). Für die Berechnung
der gezeigten Kurven wurde die thermische
Leitfähigkeit 9 eines jeden Detektorelements angenommen
als 0,1 W/cm² · °C, ein Wert, der bei der Verwendung
von Photowiderstands-Mesa-Isolationen erreichbar
ist. Das Detektormaterial ist 10 µm dick
und der Detektorelementabstand beträgt 100 µm. Bei
einer typischen Chopper-Feldfrequenz von 50 Hz,
mit τ l = 2 × 10-2 s liegen die berechneten NETDs
zwischen 0,3 und 0,5°C. Dies kann mit den oben
angegebenen Ergebnissen verglichen werden, wo für
die gleiche Dicke von 10 µm von Blei-Zirkonat-
Keramikmaterial (PZT) die berechneten NETDs in dem
Bereich zwischen 0,1 bis 0,15°C liegen. Dies zeigt,
daß eine sehr wesentliche Leistungsverbesserung
erfindungsgemäß erreichbar ist, d. h. eine Verbesserung
um das Doppelte bis um ein Fünffaches.
Die vorstehende Analyse beschränkt sich auf
eine lineare Anordnung oder eine Reihe von N-Detektorelementen.
Zweidimensionale Anordnungen, bestehend aus
zwei oder mehreren solcher Reihen können hergestellt
werden, wie mit Bezug auf Fig. 2 kurz angeschnitten
wurde. In Fig. 2 sind zu Bauelementen aus Fig. 1
identische Bauelemente mit gleichen Bezugszeichen
versehen. Einzelne Reihen von Elementen 3 erstrecken
sich in vertikaler Richtung, d. h. im rechten Winkel
zu der Richtung der Reihe in Fig. 1. Drei Reihen
1 a, 1 b und 1 c von Detektorelementen 3 sind gezeigt.
Jede Reihe weist drei Detektorelemente auf, d. h.
N = 3. Die mittlere Reihe 1 b weist ein Detektorelement
3 auf, das wie gezeigt mit MOSFET′s 5 und
7 verbunden ist. Weitere Detektorelemente und entsprechende
MOSFET′s sind schematisch durch Blöcke
wie z. B. 30 angedeutet. Die mittlere Reihe 1 b ist
wie gezeigt über den Widerstand R₁, den Verstärker 11,
Tiefpaßfilter 13 und S/H an ein Schieberegister 32
geschaltet. Die Reihen 1 a und 1 b sind über äquivalente,
durch die Blöcke 34 a und 34 c angedeutete Schaltungen
an das Schieberegister 32 angeschlossen. Die Ausgabewerte
des Schieberegisters 32 (o/p) werden an einen
Hochpaßdigitalfilter angelegt, wie in Fig. 3 gezeigt
ist. Dementsprechend ist die Anordnung nach Fig. 2
durch einen Tiefpaßfilter pro Reihe gekennzeichnet,
benötigt aber lediglich einen Hochpaßfilter für
die gesamte Anordnung. Die Anordnung wird in
x-Richtung (entlang jeder Reihe mittels einer X-Adressenvorrichtung)
adressiert.
Die in den Fig. 2 und 3 gezeigte Ausführungsform arbeitet
wie folgt: Die X-Adressenvorrichtung betätigt
den n-ten MOSFET-Schalter 7 synchron in
allen Reihen 1 a bis 1 c, wobei n = 1 bis N ist und
N = 3. Entsprechend hält das Schieberegister 32
nach dem n-ten Schaltsignal Signale vom n-ten
Detektorelement jeder Reihe 1 a bis 1 c; d. h. der
Inhalt des Schieberegisters nach dem n-ten Schaltsignal
ist der Ausgangswert der n-ten Spalte von
Detektorelementen 3. Die Zeilen werden synchron
in einer Gesamtzeit τ l oder τ l /N pro Detektorelement
3 ausgelesen, wie in Verbindung mit der
Ausführung nach Fig. 1 beschrieben wurde. Das Schieberegister
32 muß dementsprechend der Reihe nach in
einem Zeitintervall τ l /N ausgelesen werden und
hält M-Detektorelementsignale, wobei M die Anzahl
der Detektorelementzeilen ist und in dieser
Ausführungsform 3 beträgt. Die Auslesezeit pro
Detektorelementsignal beträgt deshalb τ l /NM.
Dies führt zu einer Serie von NM-Signalen (was
einem vollständigen Auslesen der Anordnung entspricht),
während der Zeit τ l , die nun äquivalent
ist zu einer Videozyklusdauer. Darüber hinaus
werden diese Signale seriell auf eine einzelne
Leitung oder einen einzelnen Bus verschaltet,
was für die meisten herkömmlichen Videoanzeigegeräte
erforderlich ist. Diese Signale können deswegen
für eine Rasterabtastanzeige verwendet werden.
Die niederfrequenten Rauschkomponenten von Rauschen
auf diesen Signalen werden durch die Schieberegisterspeicherung
und durch das Auslesen nicht beeinträchtigt,
so daß es vollkommen angemessen ist, einen einzigen
Hochpaßdigitalfilter zum Filtern der Ausgangssignale
der Shiftregister, die von der gesamten Anordnung
erhalten werden, zu verwenden.
Es sind Anzeigen verfügbar, bei denen einzelne
Zeilen parallel, d. h. simultan adressiert werden
können, anstatt sequentiell wie bei herkömmlichen
rasterabgetasteten Kathodenstrahlröhren. LED-Anzeigen
sind ein Beispiel für solche Anzeigevorrichtungen.
Solche Anzeigen benötigen kein Multiplexen
der Schieberegister 32. Jede Anzeigezeile könnte in
diesem Fall die jeweiligen Spaltenausgabewerte direkt
über entsprechende Digitalfilter empfangen.
Claims (11)
1. Thermodetektor mit
- a) einer Reihe (1) Thermodetektorelemente (3), zum Erfassen von Strahlung von einer Szene,
- b) einem Modulator zum Modulieren der Strahlung von der Szene, so daß jedes Detektorelement (3) abwechselnd mit Hell- und Dunkelphasen beaufschlagt und sequentiell längs der Reihe (1) beleuchtet wird, und
- c) einer mit dem Modulator synchronisierten Ausleseeinrichtung (5, 7, 9, 10, 11, R₁) zum Entnehmen der Signale der Detektorelemente,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Ausleseeinrichtung (5, 7, 9, 10, 11, R₁) zum
sequentiellen Abfragen von Hell- und Dunkelsignalen von
jedem Detektorelement (3) und zum Anlegen an einen gemeinsamen
Reihenausgang ausgelegt ist und dieser Ausgang solche
Signale an einen Auslesesignale durchlassenden Bandfilter
(13, 15) anlegt, wobei der Bandfilter (13, 15)
eine passende Durchlaßcharakteristik hat, um sowohl
frequenzgefaltetes Rauschen als auch 1/f-Rauschen zu
reduzieren.
2. Thermodetektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Bandfilter (13, 15) zum Ausblenden eines
Differenzsignals von Hell-Dunkelsignalpaaren von jedem
Detektorelement (3) ausgelegt ist und eine Hochpaßcharakteristik
aufweist.
3. Thermodetektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der Bandfilter (13, 15) angrenzend an ein Ende
der Detektorelement- (3) Reihe (1) angeordnet ist.
4. Thermodetektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ausleseeinrichtung (5, 7, 9, 10, 11 R₁)
jeweils einen Leistungsverstärker (5, 7, 9) für
jedes Detektorelement (3) aufweist, der zwischen
Zuständen schaltbar ist, in denen das jeweilige
Detektorelement (3) mit dem gemeinsamen Reihenausgang
verbunden bzw. von diesem getrennt ist.
5. Thermodetektor nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß jeder Leistungsverstärker (5, 7, 9) einen Feldeffekttransistor-
Source-Folger (5, 9) mit einem
mit dessen Source-Verbindung in Reihe geschalteten
Schalter (7) ist und daß der Leistungsverstärker (5,
7, 9) in einer die Detektorelemente (3) tragenden
Halbleiterschicht (21) ausgebildet ist.
6. Thermodetektor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß sich die Leistungsverstärker (5, 7, 9) einen gemeinsamen,
an den gemeinsamen Reihenausgang geschalteten
Source-Folgerwiderstand (R₁) teilen.
7. Thermodetektor nach einem der Ansprüche 1, 2, 4, 5
oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Reihe (1)
der Detektorelemente (3) die erste Reihe (1 a) einer
zweidimensionalen Anordnung mit mindestens einer zusätzlichen
Reihe (1 b) ist, die eine Zeilen- und Spaltenanordnung
bildet, wobei alle Detektorelemente (3)
so angeordnet sind, daß sie vom Modulator modulierte
Strahlung erfassen und wobei alle Detektorelemente
(3) mit mindestens äquivalenten Ausleseeinrichtungen
(5, 7, 9, 10, 11, R₁) und Filtern (13, 15) verbunden
sind.
8. Thermodetektor nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die Detektorelemente (3) in jeder Spalte
der Anordnung zum synchronen Adressieren durch eine
gemeinsame Adressiereinrichtung angeordnet sind.
9. Thermodetektor nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß Ausgangssignale von jeder Reihe (1 a, 1 b,
1 c) von Detektorelementen (3) einen jeweiligen
Tiefpaßbereich (13) des Bandfilters (13, 15) durchqueren
und aufeinanderfolgend an einen einzigen
Anordnungsausgang geschaltet werden.
10. Thermodetektor nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß der Bandfilter (13, 15) einen einzigen
Hochpaßbereich (15) zum Empfangen von Signalen
vom einzigen Anordnungsausgang aufweist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8409788 | 1984-04-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3513617A1 true DE3513617A1 (de) | 1988-03-03 |
DE3513617C2 DE3513617C2 (de) | 1996-11-14 |
Family
ID=10559698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3513617A Expired - Lifetime DE3513617C2 (de) | 1984-04-16 | 1985-04-16 | Thermodetektor |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4808822A (de) |
AU (1) | AU579150B2 (de) |
DE (1) | DE3513617C2 (de) |
FR (1) | FR2712694B1 (de) |
GB (1) | GB2186146B (de) |
IT (1) | IT1236502B (de) |
NL (1) | NL193390C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3921599A1 (de) * | 1988-07-01 | 1991-10-17 | Telecommunications Sa | Verfahren zur verbindung eines gekuehlten plaettchens zur vorbehandlung von signalen mit einem verarbeitungsplaettchen sowie verarbeitungseinheit zur durchfuehrung des verfahrens |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8812955D0 (en) * | 1988-06-01 | 1988-10-05 | Emi Plc Thorn | Thermal imaging |
GB2219655B (en) * | 1988-06-07 | 1992-09-09 | Philips Electronic Associated | Thermal radiation detection apparatus |
JPH0682073B2 (ja) * | 1988-08-30 | 1994-10-19 | 株式会社村田製作所 | 焦電型赤外線センサ |
FR2638286B1 (fr) * | 1988-10-25 | 1990-12-07 | Thomson Csf | Dispositif photosensible du type a amplification du signal au niveau des points photosensibles |
JPH03274957A (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-05 | Seiko Instr Inc | 画像読取り装置 |
US5083016A (en) * | 1990-03-27 | 1992-01-21 | Hughes Aircraft Company | 3-transistor source follower-per-detector unit cell for 2-dimensional focal plane arrays |
FR2667471B1 (fr) * | 1990-09-28 | 1992-10-30 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif pour prise de vues. |
US5134488A (en) * | 1990-12-28 | 1992-07-28 | David Sarnoff Research Center, Inc. | X-Y addressable imager with variable integration |
US5134489A (en) * | 1990-12-28 | 1992-07-28 | David Sarnoff Research Center, Inc. | X-Y addressable solid state imager for low noise operation |
DE69215943T2 (de) * | 1991-04-04 | 1997-04-30 | Texas Instruments Inc | Verarbeitungsschaltung mit Integrator und Tiefpassfilter für jeden Pixel einer infraroten Bildebene-Matrix |
US5144133A (en) * | 1991-04-04 | 1992-09-01 | Texas Instruments Incorporated | Uncooled infrared detector readout monolithic integrated circuit with individual pixel signal processing |
JPH0534194A (ja) * | 1991-07-29 | 1993-02-09 | Fujitsu Ltd | 赤外線装置 |
EP0563846A1 (de) * | 1992-03-30 | 1993-10-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Öffnungskorrektur mit dynamischer Verzerrung zur Benutzung mit einer CCD-Kamera |
US5448189A (en) * | 1992-04-10 | 1995-09-05 | Loral Infrared & Imaging Systems, Inc. | Signal averaging apparatus |
US5311019A (en) * | 1992-04-14 | 1994-05-10 | Loral Electro-Optical Systems, Inc. | Pyroelectric hybridized long-wave infrared laser radiation detector assembly |
US5324944A (en) * | 1992-12-10 | 1994-06-28 | Hughes Aircraft Company | Infrared detection system and method with distributed signal amplification and sampling |
US5331145A (en) * | 1993-04-30 | 1994-07-19 | Eg&G Reticon Corporation | Diode addressing structure for addressing an array of transducers |
SE503643C2 (sv) * | 1994-01-26 | 1996-07-22 | Foersvarets Forskningsanstalt | Sensoranordning innefattande en matris av detektorer, där varje detektor utgörs av en strålningskänslig komponent |
JP2710228B2 (ja) * | 1994-08-11 | 1998-02-10 | 日本電気株式会社 | ボロメータ型赤外線検知素子、その駆動方法、および検出用積分回路 |
WO1996010162A1 (fr) * | 1994-09-28 | 1996-04-04 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Processeur de signaux pour capteurs pyroelectriques infrarouges |
US6515285B1 (en) | 1995-10-24 | 2003-02-04 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Method and apparatus for compensating a radiation sensor for ambient temperature variations |
GB9524646D0 (en) * | 1995-12-01 | 1996-01-31 | Secr Defence | Infra-red imaging systems |
WO1997031245A1 (en) * | 1996-02-23 | 1997-08-28 | Diasense, Inc. | Synchronous detection system for multichannel infrared spectroscopy |
US6249002B1 (en) | 1996-08-30 | 2001-06-19 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Bolometric focal plane array |
US6791610B1 (en) | 1996-10-24 | 2004-09-14 | Lockheed Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Uncooled focal plane array sensor |
US5920735A (en) * | 1997-01-16 | 1999-07-06 | Gelphman; Janet L. | Method and apparatus to observe the geometry of relative motion |
JP3942793B2 (ja) * | 2000-03-30 | 2007-07-11 | シャープ株式会社 | 電荷量検出回路 |
US6856161B2 (en) | 2000-03-30 | 2005-02-15 | Infineon Technologies Ag | Sensor array and method for detecting the condition of a transistor in a sensor array |
US6730909B2 (en) | 2000-05-01 | 2004-05-04 | Bae Systems, Inc. | Methods and apparatus for compensating a radiation sensor for temperature variations of the sensor |
US6914227B2 (en) * | 2001-06-25 | 2005-07-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus capable of outputting image by converting resolution by adding and reading out a plurality of pixels, its control method, and image sensing system |
US7030378B2 (en) * | 2003-08-05 | 2006-04-18 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. | Real-time radiation sensor calibration |
EP1643754A1 (de) * | 2004-09-29 | 2006-04-05 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA | Festkörper-Bildsensor mit hoher Empfindlichkeit |
JP5962167B2 (ja) * | 2012-04-19 | 2016-08-03 | セイコーエプソン株式会社 | 検出回路、センサーデバイス及び電子機器 |
US20150180493A1 (en) * | 2013-12-23 | 2015-06-25 | Yu-Ren Liu | Capacitor Sensor Circuit with Rectifier and Integrator |
US11368637B1 (en) | 2021-02-17 | 2022-06-21 | Institut National D'optique | Image acquisition method for microbolometer thermal imaging systems |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4091414A (en) * | 1977-01-28 | 1978-05-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Forward locking infrared video processing system having a scene dynamic range expander |
US4162402A (en) * | 1977-12-19 | 1979-07-24 | Texas Instruments Incorporated | Ferroelectric imaging system |
US4301471A (en) * | 1976-12-20 | 1981-11-17 | Hughes Aircraft Company | Moving target indicator system utilizing charge coupled device |
US4363963A (en) * | 1979-03-08 | 1982-12-14 | Nippon Hoso Kyokai | Solid state photo-electric converting device and solid state imaging apparatus employing it |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1605018A (en) * | 1974-05-07 | 1981-12-16 | Secr Defence | Infra-red line scanning target detectors |
US4072863A (en) * | 1976-10-26 | 1978-02-07 | Roundy Carlos B | Pyroelectric infrared detection system |
GB1592500A (en) * | 1977-12-01 | 1981-07-08 | Roundy C B | Pyroelectric infrared detection system |
US4388646A (en) * | 1981-06-04 | 1983-06-14 | Rca Corporation | Low-distortion detection of pulses superimposed on an unknown and variable background signal |
US4524385A (en) * | 1981-06-30 | 1985-06-18 | Ltv Aerospace And Defense Company | Predetection processing of optical information |
US4399466A (en) * | 1981-12-24 | 1983-08-16 | Calspan Corporation | Dark current compensating lens iris control |
JPS58156272A (ja) * | 1982-03-12 | 1983-09-17 | Sony Corp | スミア補正回路 |
US4525743A (en) * | 1984-03-28 | 1985-06-25 | Rca Corporation | Dark current measurement and control for cameras having field-transfer CCD imagers |
-
1985
- 1985-04-02 GB GB08508639A patent/GB2186146B/en not_active Expired
- 1985-04-11 US US06/781,661 patent/US4808822A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-04-12 NL NL8501079A patent/NL193390C/nl not_active IP Right Cessation
- 1985-04-15 FR FR8505626A patent/FR2712694B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1985-04-15 IT IT8547959A patent/IT1236502B/it active
- 1985-04-15 AU AU41423/85A patent/AU579150B2/en not_active Expired
- 1985-04-16 DE DE3513617A patent/DE3513617C2/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4301471A (en) * | 1976-12-20 | 1981-11-17 | Hughes Aircraft Company | Moving target indicator system utilizing charge coupled device |
US4091414A (en) * | 1977-01-28 | 1978-05-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Forward locking infrared video processing system having a scene dynamic range expander |
US4162402A (en) * | 1977-12-19 | 1979-07-24 | Texas Instruments Incorporated | Ferroelectric imaging system |
US4363963A (en) * | 1979-03-08 | 1982-12-14 | Nippon Hoso Kyokai | Solid state photo-electric converting device and solid state imaging apparatus employing it |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Z: IEE Conference Publications No. 228, 2nd International Conference on Advanced Infrared Detectors and Systems, 1983, S. 49-53 * |
Z: SPIE, Vol. 26, Staring Infrared Focal Plane Technology, S. 86-98 (1981) * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3921599A1 (de) * | 1988-07-01 | 1991-10-17 | Telecommunications Sa | Verfahren zur verbindung eines gekuehlten plaettchens zur vorbehandlung von signalen mit einem verarbeitungsplaettchen sowie verarbeitungseinheit zur durchfuehrung des verfahrens |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3513617C2 (de) | 1996-11-14 |
IT8547959A0 (it) | 1985-04-15 |
FR2712694B1 (fr) | 1997-04-30 |
NL193390B (nl) | 1999-04-01 |
FR2712694A1 (fr) | 1995-05-24 |
GB2186146B (en) | 1988-06-22 |
AU579150B2 (en) | 1988-11-17 |
GB8508639D0 (en) | 1987-05-28 |
GB2186146A (en) | 1987-08-05 |
US4808822A (en) | 1989-02-28 |
IT1236502B (it) | 1993-03-11 |
NL8501079A (nl) | 1987-12-01 |
NL193390C (nl) | 1999-08-03 |
AU4142385A (en) | 1987-10-08 |
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