DE3509512C2 - - Google Patents
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- DE3509512C2 DE3509512C2 DE19853509512 DE3509512A DE3509512C2 DE 3509512 C2 DE3509512 C2 DE 3509512C2 DE 19853509512 DE19853509512 DE 19853509512 DE 3509512 A DE3509512 A DE 3509512A DE 3509512 C2 DE3509512 C2 DE 3509512C2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19853509512 DE3509512A1 (de) | 1985-03-16 | 1985-03-16 | Vorrichtung zur interferometrischen pruefung der optischen homogenitaet von transparenten plattenfoermigen werkstuecken |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19853509512 DE3509512A1 (de) | 1985-03-16 | 1985-03-16 | Vorrichtung zur interferometrischen pruefung der optischen homogenitaet von transparenten plattenfoermigen werkstuecken |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3509512A1 DE3509512A1 (de) | 1986-09-18 |
| DE3509512C2 true DE3509512C2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1987-05-21 |
Family
ID=6265415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19853509512 Granted DE3509512A1 (de) | 1985-03-16 | 1985-03-16 | Vorrichtung zur interferometrischen pruefung der optischen homogenitaet von transparenten plattenfoermigen werkstuecken |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE3509512A1 (enrdf_load_stackoverflow) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19749844C2 (de) * | 1997-11-11 | 2001-10-18 | Bat Cigarettenfab Gmbh | Längenmeßeinrichtung und -verfahren für Cigaretten |
| DE19757706C2 (de) * | 1997-12-23 | 2002-01-24 | Jandratek Gmbh | Substrat, Vorrichtung und Verfahren zur schnellen Auswertung von Bindungsreaktionen durch interferometrische Schichtdickenmessung |
| US9581433B2 (en) | 2013-12-11 | 2017-02-28 | Honeywell Asca Inc. | Caliper sensor and method using mid-infrared interferometry |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2803466A1 (de) * | 1978-01-27 | 1979-08-02 | Erhard Dipl Ing Debler | Optisches ebenheitsmessverfahren |
| SE420353B (sv) * | 1980-04-23 | 1981-09-28 | Pharos Ab | Anordning for att kontrollera mattriktighet |
-
1985
- 1985-03-16 DE DE19853509512 patent/DE3509512A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3509512A1 (de) | 1986-09-18 |
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