DE345949T1 - Detektion von strahlung in einem schmalen frequenzband und pruefung von objekten oder gebieten. - Google Patents

Detektion von strahlung in einem schmalen frequenzband und pruefung von objekten oder gebieten.

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DE345949T1 DE198989304642T DE89304642T DE345949T1 DE 345949 T1 DE345949 T1 DE 345949T1 DE 198989304642 T DE198989304642 T DE 198989304642T DE 89304642 T DE89304642 T DE 89304642T DE 345949 T1 DE345949 T1 DE 345949T1
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Martin Marlow Buckinghamshire Sl7 2Re Cooper
Martin Phillip Wargrave Berkshire Rg10 8Bb Smith
Robin Wyncliffe Croydon Surrey Cr0 6Xj Smith
Paul Martin Reading Berkshire Rg6 4Ed Spear
Andrew David Garry Ashampstead Reading Berkshire Stewart
Christopher Mark Sunningdale Berkshire Welbourn
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Claims (46)

Patentansprüche
1. Gerät zur Untersuchung von Objekten oder zur Untersuchung eines Gegenstandes, umfassend:
eine Erregerstrahlungsvorrichtung zur Bestrahlung einer Linie quer über die Objekte oder Gegenstände und
eine Betrachtungsvorrichtung zur Betrachtung der gesamten Linie oder eines ausgedehnten Teils derselben und zur Erfassung eines schmalen Strahlungsfrequenzbandes, das durch die spezifischen Objekte oder Zonen des Artikels bei Erregung durch die Erregerstrahlung emittiert wird, wobei die Betrachtungsvorrichtung ein Schmalbandpaßfilter, das innerhalb eines spezifischen Einfallswinkels im wesentlichen alle Strahlung mit Ausnahme des schmalen Frequenzbandes ausfiltert, eine Erfassungsvorrichtung zur Erfassung der durch das Filter hindurchgetretenen Strahlung und eine Blendenvorrichtung umfaßt, die Strahlung außerhalb des genannten Einfallswinkels an einem Durchtritt durch das Filter und an einem Auftreffen auf die Erfassungsvorrichtung verhindert.
2. Gerät nach Anspruch 1, wobei die Betrachtungsvorrichtung eine Sammelvorrichtung umfaßt, die den beiden Strahlungsanteilen innerhalb des genannten Einfallswinkels und außerhalb des genannten Einfallswinkels einen Durchtritt durch das Filter erlaubt, und eine Blendenvorrichtung zur Abblendung von Strahlung, die außerhalb des spezifischen Einfallswinkels durch das Filter hindurchgetreten ist.
3. Gerät zur Untersuchung einer großen Anzahl von Objekten, die innerhalb eines Gebietes verteilt sind, oder zur Untersuchung eines
25 Gegenstandes, umfassend:
ein Schmalbandpaßfilter, das innerhalb eines spezifischen Einfallswinkels im wesentlichen alle Strahlung mit Ausnahme des genannten schmalen Frequenzbandes ausfiltert;
eine Sammelvorrichtung, die einen Strahlungsdurchtritt durch das FiI-ter sowohl für Strahlung innerhalb des Einfallswinkels als auch für Strahlung außerhalb des Einfallswinkels zuläßt, und eine Blendenvorrichtung zur Abblendung jeder Strahlung, die außerhalb
des spezifischen Einfallswinkels-durch- das Filter hindurchgetreten ist.
4. Gerät nach Anspruch 2 oder 3, wobei längs der genannten Linie gesehen die Sammelvorrichtung eine Wirkung im wesentlichen äquivalent einer Sammellinse hat.
5. Gerät nach Anspruch 4, wobei in Richtung der genannten Linie gesehen die Sammelvorrichtung von der Linie ausgehende Strahlung im wesentlichen als Parallelstrahlen abbildet.
6. Gerät nach Anspruch 2 oder 3, wobei die Sammelvorrichtung unter einem Winkel von 90* zu der genannten Linie gesehen jeweils von einem Punkt der Linie ausgehende Strahlung im wesentlichen in ein Parallelstrahlbündel abbildet und mindestens eines der Strahlenbündel durch das Filter innerhalb des genannten spezifischen Einfallswinkels hindurchschickt.
7. Gerät nach Anspruch 6, wobei die Sammelvorrichtung eine Wirkung im wesentlichen äquivalent einer Reihe nebeneinander angeordneter Sammellinsen hat, so daß die Linsen von den genannten Punkten der Linie ausgehende Strahlung weitgehend in Parallelstrahlen abbilden.
8. Gerät nach Anspruch 7, wobei diese Wirkung äquivalent einer Anordnung dieser Linsen mit langgestreckter Gestalt in Richtung der optischen Achse in solcher Ausrichtung ist, daß in der Ebene normal zur optischen Achse die Hauptachsen der Linsen im wesentlichen parallel zueinander ausgerichtet sind.
9. Gerät nach Anspruch 6, wobei die Sammelvorrichtung Elemente in einer Reihe umfaßt, die sich im wesentlichen parallel zu der genannten Linie erstreckt, wobei jedes Element zum Empfang von Strahlung aus jeweils einem Punkt, der im wesentlichen dem jeweiligen Element gegenüberliegt, und zur Formung dieser Strahlung im wesentlichen in Parallelstrahlen, die nicht durch die Blendenvorrichtung abgeblendet werden, und zum Empfang der Strahlung von anderen Punkten und zur Abbildung dieser Strahlen im wesentlichen in Parallelstrahlen, die durch die Blendenvorrichtung ausgeblendet werden.
10. Gerät nach Anspruch 9, wobei jedes Element in einem dreidimensionalen Sektor empfängt, der in Richtung der Linie gesehen wesentlich größer als unter einem Winkel von 90* zu der genannten Linie gesehen ist.
11. Gerät nach Anspruch 2 oder 3, wobei die Sammelvorrichtung eine Wirkung im wesentlichen äquivalent einer Zylindersammellinse hat.
12. Gerät nach einem der Ansprüche 2 bis 4, wobei die Sammelvor-
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richtung in Richtung der Linie gesehen Strahlung von den einzelnen Punkten im wesentlichen in Parallelstrahlen abbildet und unter einem Winkel von 90* zu der genannten Linie gesehen die Richtung der Strahlung von diesen Punkten im wesentlichen nicht abändert.
13. Gerät nach einem der Ansprüche 3 bis 12, wobei die Blendenvorrichtung eine Konvergenzvorrichtung umfaßt, die unter einem Winkel von 90* zu der genannten Linie gesehen Strahlung aus den genannten Punkten sammelt und eine telezentrische Feldblende umfaßt, die Strahlen abblendet, die durch das Filter außerhalb des spezifischen Einfallswinkels gelangt sind.
14. Gerät nach Anspruch 13, wobei unter einem Winkel von 90 * zu der genannten Linie gesehen die Sammelvorrichtung Strahlung von den jeweiligen Punkten im wesentlichen auf die Transversalebene der Blende fokussiert.
15. Gerät nach Anspruch 13, wobei unter einem Winkel von 90* zu der genannten Linie gesehen die Sammelvorrichtung Strahlung von den einzelnen Punkten jeweils auf eine Transversalebene hinter der Blende fokussiert.
16. Gerät nach Anspruch 1, wobei die Betrachtungsvorrichtung eine Abbildvorrichtung umfaßt, die unter einem Winkel von 90* zu der genannten Linie gesehen Strahlung von jedem Punkt der genannten Linie oder von einem ausgedehnten Teil derselben im wesentlichen in Parallelstrahlen abbildet und die diese Parallelstrahlen durch das Filter leitet.
17. Gerät zur Erfassung eines ausgewählten schmalen Frequenzbandes von Strahlung, die von einem Punkt längs einer ausgedehnten Linie empfangen werden kann, umfassend:
ein Schmalbandpaßfilter, das innerhalb eines spezifischen Einfallswinkels im wesentlichen alle Strahlung mit Ausnahme des schmalen Frequenzbandes ausfiltert und
eine Abbildvorrichtung, die unter einem Winkel von 90* zu der genannten Linie gesehen Strahlung von einem Punkt dieser Linie oder von einem ausgedehnten Teil derselben im wesentlichen in Parallelstrahlen innerhalb des spezifischen Einfallswinkels abbildet und diese Parallelstrahlen durch das Filter leitet.
18. Gerät nach Anspruch 17, wobei die Abbildvorrichtung einen Konzentrator umfaßt und das Filter innerhalb der Parallelstrahlzone des Konzentrators liegt.
19. Gerät nach Anspruch 18, wobei die Abbildvorrichtung minde-
stens die erste Hälfte eines parafrolisehen"Konzentrators umfaßt.
20. Gerät nach einem der Ansprüche 16 bis 19 und umfassend eine Sammelvorrichtung, die die Strahlung in eine Fläche mit wesentlich schmalerem Querschnitt konzentriert, bevor die Strahlung in die Abbildvorrichtung eintritt.
21. Gerät nach Anspruch 20, wobei die Sammelvorrichtung einen Lichtleiter umfaßt.
22. Gerät nach Anspruch 20 oder 21, wobei die Sammelvorrichtung eine Zylinderlinse einschließt.
23. Gerät nach einem der vorstehenden Ansprüche und umfassend eine Erregerstrahlungsvorrichtung zur Aufbringung von Erregerstrahlung längs der genannten Linie, wobei die Erregerstrahlung eine Emission der zu untersuchenden Strahlung bewirkt.
24. Gerät nach Anspruch 23, wobei die ausgewählte Strahlungsfrequenz diejenige einer Raman-Emission ist.
25. Gerät nach Anspruch 23, wobei die ausgewählte Strahlungsfrequenz diejenige einer antistokesschen Emission ist.
26. Gerät nach einem der Ansprüche 23 bis 25, wobei die ausgewählte Strahlungsfrequenz diejenige eines Diamanten ist.
27. Gerät nach einem der vorstehenden Ansprüche und umfassend eine Bewegungsvorrichtung zur Erzeugung einer gegenseitigen Bewegung zwischen den Objekten oder einem Artikel und der genannten Linie in einer Richtung im wesentlichen quer zu dieser Linie.
28. Gerät nach Anspruch 27 zur Sortierung diskreter Objekte auf einem Transportband, wobei sich die Linie quer über das Transportband erstreckt.
29. Gerät nach einem der vorstehenden Ansprüche und umfassend eine Erfassungsvorrichtung für Strahlung, die durch das Filter gelangt und nicht abgeblendet worden ist.
30. Gerät nach einem der vorstehenden Ansprüche und umfassend eine Strahlaufspaltvorrichtung zur Aufspaltung der Strahlung, bevor sie auf das Schmalbandpaßfilter trifft, wobei ein erster Strahlenanteil auf das Schmalbandpaßfilter gerichtet wird und ein zweiter Strahlungsanteil auf ein zweites Bandpaßfilter gerichtet wird, das einen Teil der Strahlung bei einer zweiten Frequenz in der Nähe, jedoch verschieden von der ausgewählten Frequenz durchläßt, ferner eine zweite Erfassungsvorrichtung zur Erfassung der Emissionsstrahlung bei der zweiten Frequenz und eine Vergleichervorrichtung zum Vergleich der ausgewählten Strahlungsfrequenz, die in der ersten Erfassungsvorrich-
tung erfaßt wird, und der zweiten Strahlungsfrequenz, die in der zweiten Erfassungsvorrichtung erfaßt wird, um dadurch im wesentlichen jede Hintergrundstrahlung bei der ausgewählten Frequenz auszuscheiden.
31. Gerät nach Anspruch 30 und umfassend eine Strahlaufspaltvorrichtung zur Aufspaltung der Strahlung, bevor dieselbe das Schmalbandpaßfilter erreicht, wobei eine erste Strahlung auf das Schmalbandpaßfilter, eine zweite Strahlung auf ein zweites Bandpaßfilter und eine dritte Strahlung auf ein drittes Bandpaßfilter gerichtet wird, wobei das zweite und das dritte Bandpaßfilter jeweils Strahlungsanteile bei einer zweiten und dritten Frequenz in der Nähe jedoch verschieden von der ausgewählten Frequenz und auf jeder Seite der ausgewählten Frequenz durchlassen, ferner zweite und dritte Erfassungsvorrichtungen zur Erfassung der Strahlung bei der zweiten und dritten Frequenz und eine Vergleichervorrichtung zum Vergleich der ausgewählten Strahlungsfrequenz, die in der ersten Erfassungsvorrichtung erfaßt wird, mit dem Mittelwert der zweiten und dritten Strahlungsfrequenz, die durch die zweite und dritte Erfassungsvorrichtung erfaßt wird, um dadurch im wesentlichen jede Hintergrundstrahlung bei der ausgewählten Frequenz auszuscheiden.
32. Gerät nach Anspruch 30 oder 31, wobei die Strahlaufspaltvorrichtung so angeordnet ist, daß die Energie des ersten Strahls ein Vielfaches der Energie eines jeden der anderen Strahlen ausmacht und wobei das zweite oder das zweite und das dritte Bandpaßfilter ein Frequenzband durchlassen, dessen Breite wesentlich größer als die Breite des Frequenzbandes, das durch das Schmalbandpaßfilter tritt, ist.
33. Gerät nach einem der vorstehenden Ansprüche und umfassend eine Kennzeichnungsvorrichtung zur Kennzeichnung spezifischer diskreter Objekte oder Zonen auf der genannten Linie, die die ausgewählte Strahlungsfrequenz emittieren.
34. Gerät nach Anspruch 33, wobei die Kennzeichnungsvorrichtung eine weitere Erfassungsvorrichtung zur Erfassung der Strahlung von der genannten Linie umfaßt, wobei die Strahlung die weitere Erfassungsvorrichtung ohne Durchgang durch das Schmalbandpaßfilter erreicht, wobei diese weitere Erfassungsvorrichtung ein Signal entsprechend der Lage längs der genannten Linie abgibt und wobei die Kennzeichnungsvorrichtung ein Objekt oder eine Zone kennzeichnet, wenn die Erfassungsvorrichtung für die ausgewählte Frequenz und die weitere Erfassungsvorrichtung gleichzeitig ansprechen.
35. Gerät nach- Anspruch- 33- oder -34 "zum Sortieren von Objekten, wobei die Kennzeichnungsvorrichtung eine Blasvorrichtung umfaßt, die Objekte in einen abweichenden Weg bläst, die die ausgewählte Strahlungsfrequenz emittieren.
36. Gerät zur Untersuchung oder zum Nachweis eines Edelsteins zur Verwendung in Verbindung mit einer Strahlungsvorrichtung zur Erregung der Steine mit einer Erregungsstrahlung, die eine Raman-Emission erregt, wobei das Gerät eine Nachweisvorrichtung zum Nachweis der Emission einer antistokesschen Strahlungscharakteristik des Edelsteins umfaßt.
37. Gerät zur Überprüfung einer großen Anzahl von Objekten, die über eine Fläche verteilt sind, oder zur Überprüfung eines Gegenstandes, um die jeweiligen Objekte oder Zonen zu erkennen, die auf eine Erregerstrahlung durch Emission von Lumineszenzstrahlung ansprechen, umfassend:
eine Strahlungsvorrichtung zur Bestrahlung einer Linie längs dieser Fläche oder des Gegenstandes zur Erregung von Lumineszenz in den Gegenständen oder Zonen;
eine Bewegungsvorrichtung zur Erzeugung einer relativen Bewegung zwi— sehen der Lage der genannten Linie und der Fläche oder dem Gegenstand, um dadurch die Fläche oder den Gegenstand abzutasten; eine Nachweisvorrichtung zum Nachweis der emittierten Lumineszenzstrahlung, wobei die Nachweisvorrichtung auf die Stelle, von der die Lumineszenzstrahlung emittiert ist, anspricht, um dadurch die Lage des jeweiligen Objektes oder der jeweiligen Zone zu erkennen.
38. Verfahren zur Überprüfung von Gegenständen oder zur Überprüfung eines Gegenstandes, umfassend
Bestrahlung einer Linie, die über die Objekte oder den Gegenstand reicht und
Betrachtung der gesamten Linie oder eines ausgedehnten Teils derselben und Erfassung einer Schmalbandstrahlung, die von den spezifischen Objekten oder Zonen des Gegenstandes bei Erregung durch die Erregerstrahlung emittiert wird unter Verwendung eines Schmalbandpaßfilters, das innerhalb eines spezifischen Einfallswinkels im wesentlichen alle Strahlung außer dem genannten Schmalband ausfiltert, wobei die durch das Filter tretende Strahlung erfaßt wird und Strahlen außerhalb des genannten Einfallswinkels an einem Durchtritt durch das Filter gehindert und von der Erfassungseinrichtung abgeblendet werden.
39. Verfahren nach Anspruch 38, das unter Verwendung des Gerätes
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nach einem der Ansprüche 2 bis 37 durchgeführt wird.
40. Verfahren zur Überprüfung und zum Nachweis eines Edelsteins, umfassend Bestrahlung des Steins mit Erregerstrahlung, die eine Raman-Emission erregt, und durch Nachweis der Gegenwart oder andererseits der antistokesschen Strahlungscharakteristik des zu identifizierenden oder nachzuweisenden Edelsteins.
41. Verfahren zur Überprüfung einer großen Anzahl von Objekten, die innerhalb einer Fläche verteilt sind, oder zur Überprüfung eines Gegenstandes, um spezifische Objekte oder Zonen auf dem Gegenstand zu erkennen, die auf eine Erregerstrahlung durch Lumineszenzemission ansprechen, wonach eine Linie quer über die Fläche oder den Gegenstand bestrahlt wird, um eine Lumineszenz in den Objekten oder Zonen anzuregen;
Erzeugung einer relativen Bewegung zwischen der genannten Linie und der Fläche oder dem Gegenstand, um dadurch die Fläche oder den Gegenstand abzutasten;
Nachweis der Lumineszenzemission unter Verwendung einer Nachweisvorrichtung, die auf die Lage anspricht, von der die Lumineszenz emittiert ist, und dadurch die Lage des jeweiligen Objekts oder der jeweiligen Zone zu identifizieren.
42. Verfahren nach einem der Ansprüche 38 bis 41 in Anwendung auf die Erkennung von Edelsteinen in Ganggesteinsteilen, die sich auf einer Bahn bewegen, deren Breite eine Anzahl von Edelsteinen aufnehmen kann.
43. Überwachungsvorrichtung für ein Gerät zur Durchführung einer Überprüfung, das eine Abtastvorrichtung zur Abtastung der Erregerstrahlung längs der genannten Linie einschließt, wobei die Überwachungsvorrichtung umfaßt:
eine erste Zone auf der genannten Linie, die eine Strahlung beim Auftreffen einer Erregerstrahlung emittiert, eine zweite Zone auf der genannten Linie, die im wesentlichen alle oder einen großen Anteil der Einfallsstrahlung absorbiert und wenig oder im wesentlichen keine Strahlung emittiert, mindestens in einem vorgegebenen Frequenzband, wenn sie von der Erregerstrahlung getroffen wird,
und eine Erfassungsvorrichtung zur Erfassung der von der ersten Zone und von der zweiten Zone emittierten Strahlung, die ein Signal abgibt, wenn die erfaßte Strahlung jeder Zone sich von vorgegebenen Werten unterscheidet.
44. Verfahren zur Überwachung--eines Gerätes, das eine Überprüfung durch ein Verfahren einschließlich der Abtastung einer Erregerstrahlung längs einer Linie durchführt, dieses Verfahren umfassend die Erkennung einer emittierten Strahlung aus einer ersten Zone auf dieser Linie, die Strahlung emittiert, wenn sie von der Erregerstrahlung getroffen wird, und von einer zweiten Zone auf dieser Linie, die einen großen Anteil oder im wesentlichen die gesamte Erregerstrahlung absorbiert und wenig oder im wesentlichen keine Strahlung emittiert, zumindest in einem vorgegebenen Frequenzband, wenn sie von der Erregerstrahlung getroffen wird, und Abgabe eines Signals, wenn die erfaßte Strahlung aus der ersten Zone oder aus der zweiten Zone sich von jeweils vorgegebenen Werten unterscheidet.
45. Gerät im wesentlichen wie beschrieben unter Bezugnahme auf eine der Figuren der anliegenden Zeichnungen.
46. Verfahren im wesentlichen wie beschrieben unter Bezugnahme auf eine der Figuren der anliegenden Zeichnungen.
DE198989304642T 1988-05-06 1989-05-08 Detektion von strahlung in einem schmalen frequenzband und pruefung von objekten oder gebieten. Pending DE345949T1 (de)

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GB (1) GB2219394B (de)

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2219079B (en) * 1988-05-06 1992-09-09 Gersan Ets A method of identifying individual objects or zones
GB2219081B (en) * 1988-05-06 1992-12-02 Gersan Ets Identifying specific objects or zones
US5206699A (en) * 1988-05-06 1993-04-27 Gersan Establishment Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones
GB2219080B (en) * 1988-05-06 1992-11-04 Gersan Ets Identifying gemstones
GB2219394B (en) * 1988-05-06 1992-09-16 Gersan Ets Sensing a narrow frequency band of radiation and examining objects or zones
GB2219082B (en) * 1988-05-06 1992-08-26 Gersan Ets A method of identifying specific objects or zones
GB2219078B (en) * 1988-05-06 1992-08-26 Gersan Ets Identifying the position of objects or zones
GB9009132D0 (en) * 1990-04-24 1990-06-20 Gersan Ets Method and apparatus for examining an object
US5835200A (en) * 1990-04-24 1998-11-10 Gersan Establishment Method and apparatus for examining an object
GB9103552D0 (en) 1991-02-20 1991-04-10 Gersan Ets Classifying or sorting
GB2280956B (en) * 1991-02-20 1995-08-30 Gersan Ets Classifying or sorting
DE4137008A1 (de) * 1991-11-11 1993-05-13 Heribert F Dr Ing Broicher Vorrichtung zur feststellung von qualitaetsaenderungen von massenguetern auf laufenden foerderbaendern
US5811817A (en) * 1996-04-25 1998-09-22 Ravich; Gilbert Norman Method & apparatus for detecting fracture filled diamonds
BE1011076A3 (nl) 1997-03-28 1999-04-06 Ruymen Marc Werkwijze en inrichting voor het detecteren van onregelmatigheden in een produkt.
CA2241470C (en) * 1997-06-26 2005-06-21 De Beers Consolidated Mines Limited Diamond detection using coherent anti-stokes raman spectroscopy
DE19816881B4 (de) * 1998-04-17 2012-01-05 Gunther Krieg Verfahren und Vorrichtung zur Detektion und Unterscheidung zwischen Kontaminationen und Gutstoffen sowie zwischen verschiedenen Farben in Feststoffpartikeln
WO2000070331A1 (de) * 1999-05-14 2000-11-23 Gunther Krieg Verfahren und vorrichtung zur detektion und unterscheidung zwischen kontaminationen und gutstoffen sowie zwischen verschiedenen farben in feststoffpartikeln
BE1013056A3 (nl) * 1999-06-28 2001-08-07 Barco Elbicon Nv Werkwijze en inrichting voor het sorteren van producten.
ZA200608025B (en) * 2004-03-12 2008-06-25 Univ Witwatersrand Jhb Detection of diamonds
AT501020B8 (de) * 2004-10-18 2007-02-15 M A M I Modern Allround Man In Sortiervorrichtung und sortierverfahren für stückgut
KR101332786B1 (ko) * 2005-02-18 2013-11-25 쇼오트 아게 결함 검출 및/또는 분류 방법 및 장치
DE102007044553B3 (de) * 2007-09-07 2009-03-26 Siemens Ag Verfahren und Anordnung zum Bestimmen des Zustands eines Turbinenbauteil
DK2198983T3 (da) 2008-12-19 2011-12-12 Omya Development Ag Fremgangsmåde til separering af mineralske urenheder fra calciumcarbonat-holdige klippestykker ved røntgensortering
CH701812A1 (de) * 2009-09-10 2011-03-15 Alstom Technology Ltd Verwendung von Laser-optischen Vorrichtungen.
DE102010005723A1 (de) * 2010-01-26 2011-07-28 WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH, 89081 Raman-Vorrichtung, insbesondere Raman-Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Detektion eines Raman-Signals einer Probe
DE102010047237B4 (de) * 2010-08-13 2021-07-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum Trennen von Detektionssignalen im Strahlengang einer optischen Einrichtung
RU2438800C1 (ru) * 2010-11-19 2012-01-10 Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник" Способ рентгенолюминесцентной сепарации минералов
RU2437725C1 (ru) * 2010-11-19 2011-12-27 Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник" Способ разделения минералов по их люминесцентным свойствам
EP2791660A1 (de) 2011-12-12 2014-10-22 Visys NV System und verfahren zur individuellen prüfung von einem strom aus produkten und sortiervorrichtung mit einem solchen system
JP6126400B2 (ja) * 2013-02-08 2017-05-10 リオン株式会社 生物粒子計数システム及び生物粒子計数方法
CN107003253B (zh) * 2014-07-21 2020-10-16 7386819曼尼托巴有限公司 用于肉类中骨头扫描的方法和装置
GB201511461D0 (en) 2015-06-30 2015-08-12 Beers Uk De Ltd Luminescence measurements in diamond
DE102015122570B4 (de) * 2015-12-22 2021-07-29 ProASSORT GmbH Sortierung von Rohstoffstücken
WO2018038628A1 (ru) * 2016-08-26 2018-03-01 Акционерная компания "АЛРОСА" (публичное акционерное общество) Устройство для идентификации алмаза
AU2019254727B2 (en) * 2018-04-20 2022-03-03 Outotec (Finland) Oy X-ray fluorescence analyzer system and a method for performing X-ray fluorescence analysis of an element of interest in slurry
US20240005624A1 (en) 2020-12-23 2024-01-04 Mayekawa Mfg. Co., Ltd. Target detection device, machine learning implementation device, target detection program, and machine learning implementation program
KR102428014B1 (ko) * 2021-12-30 2022-08-03 (주)광산기공 탄소중립 지향의 희소광물 회수 시스템
CN116299366B (zh) * 2023-05-17 2023-08-15 合肥中科光博量子科技有限公司 一种温度拉曼激光雷达在线标定方法

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3736428A (en) * 1958-03-27 1973-05-29 Thompson Ramo Wooldridge Inc Detecting with ultraviolet light
GB993063A (en) * 1962-04-30 1965-05-26 Gunsons Sortex Ltd Photoelectric sorting machine
FR1489010A (fr) * 1965-10-29 1967-07-21 Electro Chimie Soc D Procédé et appareil de contrôle non destructif de métaux ferromagnétiques
US3562525A (en) * 1967-06-29 1971-02-09 Minnesota Mining & Mfg X-ray fludrescence gauging employing a single x-ray source and a reference sample for comparative measurements
US3456997A (en) * 1967-07-20 1969-07-22 Sylvania Electric Prod Apparatus for eliminating image distortions
DE2037755C3 (de) * 1970-07-30 1979-08-30 National Rejectors Inc. Gmbh, 2150 Buxtehude Vorrichtung zum Prüfen von Wertscheinen
GB1370300A (en) * 1970-09-17 1974-10-16 Royal Institution Of Great Bri Method and apparatus for measuring luminescence in specimens of materials
US3813140A (en) * 1971-12-13 1974-05-28 Bendix Corp Rotating prism scanning system having range compensation
FR2253410A5 (de) * 1973-12-03 1975-06-27 Inst Nat Sante Rech Med
FR2356931A1 (fr) * 1976-07-02 1978-01-27 Anvar Microsonde microscope optique moleculaire a effet raman excitee par laser
US4127773A (en) * 1977-03-31 1978-11-28 Applied Photophysics Limited Characterizing and identifying materials
AU526871B2 (en) * 1977-12-09 1983-02-03 Howard Machinery Limited Transfer of fragile object between conveyors
AU521558B2 (en) * 1978-01-31 1982-04-08 De Beers Industrial Diamond Division (Proprietary) Limited Diamond detection
GB2081891A (en) * 1980-08-11 1982-02-24 Wiggins Teape The Group Ltd Web monitoring apparatus
JPS57187628A (en) * 1981-05-14 1982-11-18 Satake Eng Co Ltd Photo-electric detector for color selecting machine
EP0064842A1 (de) * 1981-05-12 1982-11-17 Sphere Investments Limited Materialsortierung
GB2121535B (en) * 1982-06-02 1986-04-30 Anglo Amer Corp South Africa Detector for use in sorting system
GB2133531B (en) * 1983-01-07 1986-12-17 Delta Technology Corp Agricultural product sorting
GB2140555B (en) * 1983-05-24 1987-03-25 British Petroleum Co Plc Diamond separation
GB8514992D0 (en) * 1985-06-13 1985-07-17 British Nuclear Fuels Plc Differentiation technique
JPH0690149B2 (ja) * 1986-01-31 1994-11-14 東洋ガラス株式会社 透光度検査装置
DE3790473T (de) * 1986-08-20 1988-08-25
GB2211931B (en) * 1987-11-02 1992-02-26 De Beers Ind Diamond Sorting apparatus
GB2219078B (en) * 1988-05-06 1992-08-26 Gersan Ets Identifying the position of objects or zones
GB2219081B (en) * 1988-05-06 1992-12-02 Gersan Ets Identifying specific objects or zones
GB2219394B (en) * 1988-05-06 1992-09-16 Gersan Ets Sensing a narrow frequency band of radiation and examining objects or zones
GB2219082B (en) * 1988-05-06 1992-08-26 Gersan Ets A method of identifying specific objects or zones
GB2219080B (en) * 1988-05-06 1992-11-04 Gersan Ets Identifying gemstones

Also Published As

Publication number Publication date
AU626860B2 (en) 1992-08-13
EP0345949A3 (de) 1991-03-06
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CA1334895C (en) 1995-03-28
EP0552820A2 (de) 1993-07-28
GB2219394A (en) 1989-12-06
GB2219394B (en) 1992-09-16
EP0345949A2 (de) 1989-12-13
AU1077892A (en) 1992-05-14
EP0552821A3 (de) 1994-02-02
EP0552820A3 (de) 1994-02-02
EP0552819A2 (de) 1993-07-28

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