DE3444772A1

DE3444772A1 - Pruefhalterung fuer gedruckte schaltungen

Info

Publication number: DE3444772A1
Application number: DE19843444772
Authority: DE
Inventors: Pat Castro Valley Calif. Fowler; Ernest C. Pleasant Hill Calif. Woods
Original assignee: Zehntel Inc
Current assignee: Zehntel Inc
Priority date: 1983-12-07
Filing date: 1984-12-07
Publication date: 1985-06-20
Also published as: GB8430270D0; IL73726A0; GB2151089A; US4573009A

Description

Die Erfindung betrifft eine "Nagelbrett"-Prüfhalterung für das elektrische Testen von gedruckten Schaltkreisplatten. Bei diesem Testen wird die Schaltungsplatte in elektrischen Kontakt mit einer Anzahl von Prüfsonden ge-5 bracht, die so angeordnet sind, daß sie vorbestimmte Prüfknotenpunkte auf der Platte berühren. Eine Überprüfung der gesamten Schaltung, oder einzelner Schaltkreisteile und Komponenten oder beides kann dann durch Fachleuten wohlbekannte Methoden durchgeführt werden.

10 Bei Gegebenheiten, wenn große Zahlen von Schaltkreisplatten geprüft werden müssen, wie z.B. bei einem Zusammen-

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BANK DRfONERBANK HAMBURG 4 030*48 (BLZ 20080000) POSTSCHECK HAMBURG 147607-200 (BLZ 20010020) TELEGRAMM SPECHTZIES

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baufließband für häufig benutzte Schaltkreisplatten, ist es wichtig, daß die Prüfprozedur schnell durchgeführt werden kann. Es ist deshalb wichtig, daß die Schaltkreisplatten leicht auf der Prüfhalterung plaziert und davon entfernt werden können mit einem Minimum von Fachwissen.

Es ist aber auch sehr wichtig, daß ein genaues Register zwischen den Sonden und den entsprechenden Testpunkten auf der Schaltkreisplatte erhalten wird. Dieses Register muß über eine große Anzahl von Prüfzyklen wiederholbar sein. Die Genauigkeit des Registers wird immer wichtiger, da die modernen Techniken eine größere Bauteildichte aufden Platten ermöglichen.

Weitere vorteilhafte Eigenschaften solcher Prüfhalterungen • sind Einfachheit des Zugangs zu den Sonden und zu anderen Prüfausrüstungen und Betriebssicherheit.

Normalerweise ist die Platte, wenn sie zuerst auf der Prüfhalterung plaziert wird, nicht in Kontakt mit den Sonden. Ist sie einmal in Stellung, wird sie in Kontakt mit den Sonden gebracht, so daß der Test beginnen kann. Die einfachste Art von Prüfhalterungen sieht diesen Kontakt vor durch mechanisches Pressen der Platte auf die Sonden unter Benutzung einer Gerätschaft, die einen gleichverteilten

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Druck auf die Platte ausübt und welche über der Platte befestigt ist. Ein Hauptnachteil dieses Systems ist, daß die Vorrichtung in Stellung gebracht werden muß, nachdem die Platte in der Prüfhalterung plaziert ist, und entfernt, bevor die Platte aus der Halterung entfernt werden kann.

Diese zusätzlichen Verfahrensschritte erhöhen die Zeit wesentlich, die nötig ist für das Laden und Entladen der Platte, und erhöhen die Ermüdung des Operators. Ein weiterer Nachteil ist, daß die Vorrichtung über der Platte bedeutet, daß es nicht möglich für den Operator ist, während des Prüfprozesses einen Zugang zu den Bauteilen auf der Platte zu haben. Bei bestimmten Prüfbetrieben ist ein solcher Zugriff wünschenswert.

Die meisten kommerziell erhältlichen Prufhalterungen benutzen ein Teilvakuum, welches in dem Raum zwischen der Platte und dem Testbett erzeugt wird, um eine Relativbewegung dieser beiden zueinander zu erzeugen, um die Platte in Kontakt mit den Sonden zu bringen. Um dies zu erreichen, muß eine flexible luftdichte Dichtung um die Platte herum vorgesehen sein. Dies wurde allgemein durch eine Gummi- f

dichtung geschaffen, welche eine Federvorrichtung aufweist, zum Zurückführen der Platte in die obere Stellung, wenn j

das Vakuum aufgehoben wird. \

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Es ist lebenswichtig für ein erfolgreiches Prüfen, daß die Platte genau im Register mit den Sonden ist, wenn diese miteinander in Kontakt gebracht werden. Dies wird dadurch erreicht, daß die Halterung so gestaltet ist, daß die Platte relativ zu den Sonden genau positioniert wird, wenn sie auf

der Halterung plaziert ist, und durch Vorsehen einer Vorrichtung, die die Platte und die Sonden genau in Kontakt führt, wobei die genaue Positionierung aufrechterhalten wird. Es kann leicht eingesehen werden, daß, um dies zu erreichen, 1-0 die Möglichkeit für seitliche Bewegung der Platte minimiert werden muß. Ferner muß die Ebene der Platte, wenn sie ihre Kontaktposition erreicht, parallel zu ihrer Originalebene sein.

Herkömmlich wurde eine Anzahl von Wegen benutzt, um dieses Register zu erzielen. Bei einem der Wege ist die zu prüfende Platte der Teil, der sich bewegt, und die Führung . wird durch mindestens zwei Richtstifte geschaffen, die auf der Platte befestigt sind, welche die Testsonden trägt und dazu senkrecht sind. Die gedruckte Schaltungsplatte, die getestet werden soll, hat Richtlöcher, die auch beim Herstellungsprozeß der Platte verwendet werden. Die Richtstifte sind so angeordnet, daß die Plattenrichtlöcher darüber passen, wenn die Platte korrekt über den Testsonden positioniert ist. Die Bewegung der Platte in Kontakt mit den Sonden

wird dann durch die Richtstifte geführt.

Im Falle von Platten, die nicht mit Richtlöchern versehen sind, kann ein ähnliches System verwendet werden, welches anstelle von Richtstiften Kantenführungsstifte verwendet.

Die Benutzung von Richtführungsstiften, um eine Führung zu erzielen, hat eine Anzahl von Nachteilen. Bei der Benutzung kann die Platte auf den Stiften festklemmen, * aber wenn zu viel Spiel vorgesehen ist, für das Übergreifen der Stifte durch die Löcher, wird eine seitliche Bewegung möglich.

Es ist für die Platte auch während der Bewegung möglich, sich zu verkanten, so daß sie nicht mehr länger parallel zu ihrer Originalebene ist, was eine Fehlausrichtung verursacht. Ferner können'die Stifte während der Benutzung fehlausgerichtet oder abgearbeitet werden, was die Registergenauigkeit vermindert. Außerdem besteht in dem System eine inhärente Bruchgefahr, da die Abmessungen der Richtlöcher und folglich die Dicke der Richtstifte durch Erfordernisse der Plattengröße und -form begrenzt ist. Die Stifte können zerstört werden, wenn

der Operator unaufmerksam beim Plazieren der Platte ist, oder wenn die Platte mit Gewalt auf die Stifte gedrückt wird. Auch eine geringe Versetzung der Richtlöcher kann ähnliche Probleme verursachen.

Eine weitere herkömmliche Vorrichtung zum Erzeugen eines Registers ist die Benutzung von linearen Lagern, um die Relativbewegungen von Platte und starrer Platte zu führen. Diese Lager haben die gleichen Probleme mit Abnützung, Bruchgefahr und Festklemmen, wenn sie nicht ausreichend geschmiert werden, und die Möglichkeit, daß die Platte während der Bewegung nicht-parallel wird. Da diese Lager ein inneres Spiel haben müssen, um arbeiten zu können, besteht auch die Möglichkeit einer Seitenbewegung. Sie müssen während des Abbaus der Halterung für Wartungszwecke vorsichtig behandelt werden, da jegliche Zerstörung ihre Effektivität ernsthaft beeinflußt. Die genaue Plazierung der Platte auf der Prüfhalterung wird bei diesem System dadurch gewährleistet,.daß kurze Führungs- oder Riehtstifte durch Plattenrichtlöcher greifen.

0 Bei einem dritten herkömmlichen System wird eine feststehende Schaltungsplatte verwendet und die Sondenplatte wird bewegt, um die Testsonden in Kontakt mit der Platte zu bringen. Bei diesem System wird das Register erzielt

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durch Führung der Sonden durch Löcher in einer oberen unbeweglichen Platte. Das Register ist bei diesem System inhärent ungenau aufgrund der Toleranz,die erforderlich ist in den oberen Plattenlöchern, damit die Sonden sich frei hindurchbewegen können. Dieses System hat andere Nachteile, speziell, daß die Löcher häufig verstopft werden durch Bruchstücke der Platten, und daß eine extrem genaue Ausrichtung zwischen den Stiftstellungen der Bodenplatte und den entsprechenden Löchern in der oberen Platte erzielt werden muß, damit nicht ein erheblicher Verlust an Registergenauigkeit entsteht.

Die oben genannten und weitere Nachteile des Standes der Technik werden dadurch überwunden, daß ein Dichtungs-Träger-Teil für die Schaltkreisplatte vorgesehen ist, welches einen Scharniermechanismus trägt, welcher'ein genaues Register zwischen den Testsonden und den Testpunkten auf der Platte schafft, wenn die Platte in Kontakt mit den Sonden bewegt wird.

Die Erfindung schafft eine Prüfhalterung für die Benutzung beim elektrischen Testen von gedruckten Schaltkreisplatten, mit einer im wesentlichen starren Platte, die ein Feld von elektrischen Testsonden trägt, einer im we-

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sentlichen starren Deckplatte, die die zu prüfende gedruckte Schaltungsplatte trägt und einem Gehäuse, welches an der Platte befestigt ist, und welches die Deckplatte über der Platte abstützt. Das Gehäuse ist mit einer elastischen Vorrichtung versehen, welche so ausgestaltet ist, daß sie eine Bewegung der Deckplatte von einer oberen Stellung, in welcher die Schaltungsplatte oben gehalten ist, und außerhalb Kontakt mit den Sonden, und einer unteren Stellung, in welcher die Sonden in elektrischem Kontakt mit der Schaltkreisplatte sind, erlaubt. Die elastische Vorrichtung ist ferner in der Lage, die Bewegung der Deckplatte zu führen, um so sicherzustellen, daß jede Testsonde den entsprechenden Testpunkt auf der Schaltkreisplatte berührt. Eine Vorrichtung zum Bewegen der Schaltkreisplatte von der oberen in die untere Stellung und eine Vorrichtung zum Zurückbringen des Gehäuses in die obere Stellung nach dem Testen ist vorgesehen.

Vorzugsweise erzeugt die Vorrichtung zum Bewegen der Schaltkreisplatte von der oberen in die untere Stellung ein Teilvakuum in der Kammer, die durch das Gehäuse, die Platte, die Deckplatte und die Schaltkreisplatte gebildet wird.

In einer Ausführungsform besteht das Gehäuse aus einem

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oberen Rand, der die Deckplatte hält und abdichtet, und einer Seitenwand, die sich um den Außenumfang des Randes herumerstreckt. Die Seitenwandung ist dichtend mit der Platte verbunden. Der obere Rand ist mit der elastischen Vorrichtung versehen.

In einer anderen Ausführungsform ist die elastische Vorrichtung mindestens ein Paar von Nuten, die einander gegenüberliegend auf der oberen und der unteren Fläche des oberen Randes angeordnet sind, wobei sich jedes Paar von Nuten ganz um den Rand parallel zu seinem Umfang erstreckt.

In einer bevorzugten Ausführungsform besteht die elastische Vorrichtung aus zwei Paaren von einander gegenüberliegenden Nuten auf den oberen und unteren Flächen des oberen Randes, wobei sich ein Paar von Nuten in der Nähe, parallel zu und vollständig um den äußeren Umfang des Randes erstreckt, und das andere Paar von Nuten sich in der Nähe von, parallel zu und völlig um den inneren Umfang des Randes erstreckt.

Vorzugsweise enthält die elastische Vorrichtung weiterhin ein Paar von sich gegenüberliegenden Nuten, die sich diagonal von jeder äußeren Ecke des Randes zur nächstliegenden inneren Ecke des Randes erstrecken.

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In einer weiteren Ausführungsform besteht das Gehäuse aus halbflexiblem Plastikmaterial.

Vorzugsweise besteht das Gehäuse aus Polyolefin.

Die vorliegende Erfindung schafft ferner eine Vorrichtung zum Führen der Bewegung einer Schaltkreisplatte in einer Testhalterung für das elektrische Testen von gedruckten Schaltkreisplatten, von dem Typ, bei welchem die Schaltkreisplatte über einer Platte gehalten wird, die ein Feld von elektrischen Testsonden trägt, und bei welchem die Schaltkreisplatte in elektrischen Kontakt mit den Sonden bewegt wird, um das Testen auszuführen, so daß jede Testsonde den entsprechenden Testpunkt auf der Schaltkreisplatte berührt. Diese Vorrichtung besteht aus einem Gehäuse, welches mit der Platte verbunden ist, und die Schaltkreisplatte oberhalb der Platte trägt. Das Gehäuse hat einen oberen Rand, der dichtend mit einer Vorrichtung zum Tragen der Schaltungsplatte verbunden ist, und eine Seitenwandung, die sich um den äußeren Umfang des Randes erstreckt, und welche mit der Platte verbunden ist.

Der obere Rand ist mit einer Vorrichtung yersehen, die durch Elastizität eine vertikale Bewegung für die Schaltkreisplatte ermöglicht.

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In einer weiteren Ausführungsform der Vorrichtung zum Ermöglichen der vertikalen Bewegung ist die Vorrichtung zum Ermöglichen einer Elastizität im oberen Rand mindestens ein Paar von gegenüberliegenden Nuten auf der oberen und unteren Fläche des Randes, wobei jedes Paar von gegenüberliegenden Nuten sich parallel zum Umfang völlig um den Rand herumerstreckt.

In einer bevorzugten Ausführungsform besteht die elastische Vorrichtung aus zwei Paaren von gegenüberliegenden Nuten, wobei sich ein Paar von Nuten in der Nähe von, parallel zu und völlig um den äußeren Umfang des Randes erstreckt, und das andere Paar sich in der Nähe von, parallel zu und völlig um den inneren Umfang des Randes erstreckt.

Vorzugsweise weist die elastische Vorrichtung auch ein Paar von gegenüberliegenden Nuten-auf, die sich diagonal von jeder Außenecke bis zur nächstliegenden Innenecke des Randes erstreckt.

In einer weiteren Ausführungsform besteht die Vertikalbewegungsvorrichtung aus halbflexiblem Plastikmaterial.

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In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform besteht die Vorrichtung für die Vertxkalbewegung aus Polyolefin.

Der Vorteil der Erfindung ist, daß eine neue und verbesserte Vorrichtung geschaffen ist, die eine Vertikalbewegung auf die Schaltkreisplatte überträgt,ohne die Notwendigkeit von Führungsstiften, linearen Lagern od. dgl., während ein genaues Register zwischen der Schaltkreisplatte und den Testsonden gewährleistet ist. Ein weiterer Vorteil der Erfindung ist, daß sie sicher, billig, langlebig und leicht abbaubar ist für Neuanordnung oder Reparatur der Sonden und der Testvorrichtung, und daß sie einfach zu benutzen ist. Außerdem liefert die Erfindung eine verbesserte luftdichte Dichtung.

Im folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungs- J

beispielen unter Bezugnahme auf die Figuren genauer erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 eine perspektivische Ansicht der gesamten Prüfhalterung;

Fig. 2 einen vertikalen Querschnitt durch die Deck-

i platte, das Gehäuse und die Platte der Prüf- j

halterung;

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Fig. 3 eine Draufsicht auf die Halterung, die die Deckplatte und den oberen Rand des Gehäuses zeigt;

Fig. 4 ein schematischer vertikaler Querschnitt einer Seite des oberen Randes des Gehäuses in der oberen Stellung;

Fig. 5 dieselbe Ansicht in Mittelstellung;

Fig. 6 dieselbe Ansicht in gebogener Stellung; und

Fig. 7 dieselbe Ansicht in der unteren Stellung.

Fig. 1 zeigt die zusammengebaute Prüfhalterung. Die zu testende Schaltungsplatte 10 ist auf der Deckplatte 12 angeordnet, innerhalb der Dichtung 14, die an der Deckplatte befestigt ist. Diese Dichtung, die vorzugsweise aus Neoprenschaum mit geschlossenen Zellen besteht, liefert eine im wesentlichen luftdichte Dichtung zwischen der Platte 10 und der Deckplatte 12 und um die Kanten der Platte 10, v/enn die Halterung teilevakuiert wird. Vorzugsweise ist die Schaltungsplatte 10 auf der Deckplatte 12 mit Hilfe von kurzen Richtstiften 13 positioniert, die auf der Deckplatte befestigt sind und mit Hilfe von Richtlöchern 15 in der Platte 10, die über die Stifte 13 passen. Die Deckplatte 12

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ist innerhalb des oberen Randes 16 des Gehäuses 18 angeordnet. Das Gehäuse ist vorzugsweise aus halbflexiblem Plastikmaterial, wobei die Gruppe der Polyolefine besonders geeignet ist. In der bevorzugten Ausführungsform wird ein ungefülltes Kopolymer von Polypropylen benutzt.

Das Gehäuse 18 hat durchgehende Seitenwandungen 20, die an ihren unteren Kanten an der Platte 22 befestigt sind. Die Platte 22 ruht auf der Basis 24, die Verbindungen zu herkömmlichen Prüfvorrichtungen für gedruckte Schaltkreisplatten enthält.

Fig. 2 zeigt einen vertikalen Querschnitt durch die Halterung ohne die Basis 24. Der obere Rand 16 des Gehäuses 18 ist mit zwei Paaren von gegenüberliegenden Nuten 26 und 28 versehen, wobei jedes Paar von Nuten aus einer Nut 26a und 28a besteht mit einem Querschnittsprofil eines Kreissegments kleiner als ein Halbkreis auf der oberen Fläche, der direkt gegenüber einer Nut 2 6b und 28b liegt mit dem gleichen Querschnittsprofil auf der unteren Fläche des Randes 16. In der bevorzugten Ausführungsform ist der obere Rand ungefähr 0,241 cm in den unausgeschnittenen Bereichen dick und die Nuten sind Kreissegmente mit einem Radius von etwa 0,157 cm

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mit einer Maximaltiefe von ungefähr 0,043 cm.

Die Platte 22 trägt ein Feld von Testsonden 30, die in herkömmlicher Weise mit einer inneren Feder versehen sind. Die Anordnung der Sonden wird bestimmt durch die . Plätze der Testknotenpunkte auf der zu prüfenden Platte, wie dies Durchschnittsfachleuten bekannt ist.

Die Deckplatte 12 ist mit Löchern 32 versehen, die so angeordnet sind, daß die Sonden 3 0 durch die Deckplatte hindurchtreten können und in Kontakt mit der Unterseite der Schaltkreisplatte 10 kommen können.

Die innere Kante des Randes 16 ist mit einem nach unten gestuften Teil 34 versehen, dessen innere Kante 3 6 nach innen und unten unter einem kleinen Winkel, vorzugsweise etwa 10° geneigt ist. Dieser Teil 34 schnappt ein in eine Nut 38 um die Außenkante der Deckhalterung 40. Die Deckhalterung besteht vorzugsweise aus einem im wesentlichen starren Material, wie z.B. glasfaserverstärktes Polykarbonat.

Die obere Fläche der Deckhalterung 4 0 ist eingekerbt mit einer Nut 42 um den gesamten Umfang, welche nahe der inneren Kante liegt. Eine Dichtung 43, vorzugsweise ein

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O-Ring aus Neoprengummi oder ähnlichem Material, ist in der Nut 42 untergebracht. Die Deckplatte 12 paßt auf die Deckhalterung 4 0 und ist in im wesentlichen luftdichtem Kontakt durch eine Anzahl von Deckverankerungsschrauben befestigt, die um den äußeren Umfang der Deckplatte 12 angeordnet sind.

Eine Anzahl von Federn 46 ist um den Umfang der Deckplattenhalterung 4 0 angeordnet, wobei ihre unteren Enden in geeignet geformten Vertiefungen 4 8 in der unteren Fläche des Deckplattenhalters untergebracht sind und ihre oberen Enden in entsprechenden Vertiefungen 50 in der oberen Fläche der Platte 22.

Die Anordnung der paarigen Nuten 26 und 28 auf dem oberen Rand 16 ist ferner mit einem Satz von gepaarten Nuten 52 versehen, die sich direkt auf der oberen und unteren Fläche des Randes gegenüberstehen, und welche sich von der Nut 28 an jeder Außenecke 54 des Randes 16 zur Nut 2 6 an der entsprechenden innenecke 5 6 erstrecken. Vorzugsweise haben diese Nuten ein Querschnittprofil eines Kreissegments geringer als einen Halbkreis, wobei der Radius des Kreises ungefähr 0,318 cm ist und die Maximaltiefe der Nut ungefähr 0,051 cm.

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Die Platte 10, die getestet werden soll, wird auf der Deckplatte 12 plaziert, so daß sie innerhalb der Dichtung liegt und diese zusammendrückt- Der Raum zwischen der Platte 22, der Deckplatte 12 und dem Gehäuse 18 wird dann teilevakuiert mit Hilfe des Vakuumanschlusses 58. Der Luftdruck drückt dann die Platte 10 nach unten in Kontakt mit der Deckplatte 12, wobei die Dichtung 14 eine im wesentlichen luftdichte Dichtung um die Kanten der Platte bildet. Wenn die Evakuierung fortschreitet, wird die Deckplatte 12 durch den Atmosphärendruck nach unten in Richtung auf die Platte gedrückt. Bevor das Abpumpen beginnt, ist der obere Rand in der oberen Stellung von Fig. 4. Wenn die Deckplatte sich nach unten zu bewegen beginnt, bewegt sich der Rand in die Mittelstellung von Fig. 5. Bei zunehmender Evakuierung mit entsprechend zunehmendem Druck auf die Deckplatte 12, beginnt sich der obere Rand 16 nach unten zu biegen zwischen den beiden Paaren von Nuten 26 und 28, wie in Fig. 6 gezeigt. Wenn die Evakuierung weiter anwächst, bewirken Zug- und Druckkräfte im Rand 16, daß sich dieser in die untere gestreckte Stellung von Fig. 7 bewegt. Eine weitere Abwärtsbewegung wird durch Rippen 6 0 auf der Unterseite der Deckplatte 12 und der Deckhalterung 4 verhindert.

Eine seitliche Bewegung der Deckplatte beim Bewegen in

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die untere Stellung wird durch die Tatsache verhindert, daß sich die Nuten völlig um die Deckplatte herum' erstrecken, so daß im wesentlichen gleiche Kräfte nach innen an jeder Kante der Platte auftreten, die ein Gleichgewicht entlang beider Längsachsen der Platte liefern. Diese Kräfte sind die Führungsmittel, die ein genaues Register zwischen der Platte und den Testsonden sicherstellen.

In der unteren Stellung von Fig. 7 sind die Sonden 3 in elektrischem Kontakt mit der Unterseite der Platte durch die Löcher 32. Wenn die Prüfung durchgeführt ist, wird das Vakuum ausgeglichen. Die Federn 46 bringen die

in,

Deckplatte 12 und den oberen Rand 16 in die Fig. 4 gezeigte obere Stellung zurück. Die Platte wird dann durch den Operator entfernt, und die nächste Platte, die getestet werden soll, wird eingesetzt, um den Prüfzyklus neu zu beginnen.

Beim Betrachten der oben beschriebenen Bewegung des oberen Randes 16 wird klar, daß an den Ecken eine Bewegungsabweichung auftritt. Dieses Problem wird gelöst durch 20' das Vorsehen von Eckpaaren von Nuten 52, die ein elastisches Scharnier bilden, die die Fehlbewegung der anliegenden Bereiche der Nuten 26 und 28, wo diese sich an den Ecken und 56 treffen, genügend ausgleichen.

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Man kann sehen, daß, da die Führungsvorrichtung für die Bewegung der Platte gemäß der Erfindung keine gleitenden Kontakte zwischen Teilen braucht, der Nachteil des Standes der Technik vermieden wird, wie z.B. Festsetzen, Abreiben und seitliche Bewegungen aufgrund der Toleranzen, die nötig sind, um ein Gleiten zu erlauben.

Es wurde auch herausgefunden, daß die Einfachheit der Gestaltung der Prüfhalterung, die der Anmelder erfunden
hat, eine längere Lebensdauer mit geringerer Wartung liefert. Die Erfindung resultiert auch in einer besseren

luftdichten Dichtung im Vergleich zu herkömmlichen Halterungen und in geringen Herstellungskosten.

Ein weiterer Vorteil ist, daß der Betrieb des "Scharnier "-Mechanismus des Gehäuses eine ausreichend hohe Geschwindigkeit für den Aufprall zwischen Sonden und der
Platte liefert, so daß die Sonden jeglichen Schmutz,
Oxydschichten oder Rückstände auf den Testpunkten durchdringen können.

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Claims

Patentansprüche

1. Prüfhalterung für die Benutzung beim elektrischen Testen von gedruckten Schaltkreisplatten, mit einer im wesentlichen starren Platte, die eine Vielzahl von elektrischen Testsonden trägt und mit einer im wesentlichen starren Deckplatte, die die gedruckte Schaltungsplatte tragen kann, dadurch gekennzeichnet , daß ein Gehäuse (18) an der Platte (22) befestigt ist und die Deckplatte (12) über der Platte (22) trägt, daß das Gehäuse (18) mit einer elastischen Vorrichtung versehen ist, die eine Bewegung der Deckplatte (12) urid der Schaltungsplatte (10) von einer oberen Stellung, in welcher die Schaltungsplatte im Abstand von den Sonden (30) ge-

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halten ist, in eine untere Stellung, in der die Sonden (.50) in elektrischem Kontakt mit der Schaltungsplatte (10) sind, erlaubt, wobei die elastische Vorrichtung außerdem in der Lage ist, die Bewegung der Deckplatte (12) und der Schaltungsplatte (10) so zu führen, daß jede Testsonde (3 0) einen vorbestimmten entsprechenden Testpunkt auf der Schaltungsplatte (10) berührt; I daß eine Vorrichtung vorgesehen ist zum Bewegen der Schal- \ tungsplatte (10) von der oberen in die untere Stellung; und

daß eine Vorrichtung vorgesehen ist zum Zurückbringen der Schaltungsplatte (10) in die obere Stellung, wenn die Prüfung vollendet ist.

2. Prüfhaiterung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die Vorrichtung zum Bewegen der j Schaltungsplatte (10) von der oberen in die untere Stellung eine Vorrichtung (58) zum Erzeugen eines teilweisen Vakuums in der Kammer ist, welche durch das.Gehäuse (18), die Platte (22), die Deckplatte (12) und die Schaltungsplatte (10) gebildet wird.

3. Prüfhalterung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß das Gehäuse (18) einen oberen Rand (15) aufweist, in welchem die Deckplatte (12) abdichtend befe-

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stigt ist, und daß die Seitenwandung sich um den äußeren Umfang des Randes (16) erstreckt und dichtend an der Platte (22) gehalten ist, wobei der obere Rand (16) mit der elastischen Vorrichtung versehen ist.

4. Prüfhalterung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet , daß die elastische Vorrichtung mindestens ein Paar von Nuten (26a,26b oder 28a,28b) aufweist, die auf der oberen (26a oder 28a) und der unteren (26b oder 28b) Oberfläche des Randes (16) sich gegenüberliegen, wobei sich jedes Paar von gegenüberliegenden Nuten (26a,26b oder 28a,28b) parallel zu und gänzlich um den Umfang des Randes (16) erstreckt.

5. Prüfhalterung nach Anspruch 3, dadurch g e k e η η ζ eichnet , daß die elastische Vorrichtung zwei Paare von Nuten (26,28) aufweist, die auf der oberen (26a,28a) und unteren (26b,28b) Oberfläche des Randes (16) sich gegenüberliegen, daß ein Paar (26a,26b) der sich gegenüberliegenden Nuten sich in der Nähe, parallel zu und völlig um den äußeren Umfang des Randes (16) erstreckt, und daß das andere Paar (28a,28b) der sich gegenüberliegenden Nuten sich nahe, parallel zu und völlig um den inneren Umfang des Randes (16) erstreckt.

6. Prüfhalterung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet , daß die elastische Vorrichtung
ein Paar von sich gegenüberliegenden Nuten (52) ist, die
sich diagonal von jeder Außenecke (54) des Randes (16)

zur nächstliegenden Innenecke (56) des Randes (16) erstrecken.

7. Prüfhalterung nach einem der vorangegangenen Ansprüche/
dadurch gekennzeichnet , daß das Gehäuse (18)
aus einem halbflexiblen Plastikmaterial besteht.

8. Prüfhalterung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet , daß das Gehäuse (18) aus einem Polyolefinplastik besteht. . \

9. Eine Führungsvorrichtung für die Bewegung einer Schal- ^: tungsplatte in einer Prüfhalterung für das elektrische

Testen von gedruckten Schaltkreisplatten (10) von dem Typ,

bei welchem die Schaltungsplatte (10) auf einer Platte (22) ■ abgestützt wird, die ein Feld von elektrischen Testsonden (30)

trägt, und bei welchem die Schaltungsplatte (10) in elektri- j

i schem Kontakt mit den Sonden (30) bewegt wird, um die Prü- j

fung durchzuführen, wobei die Führungsvorrichtung sicher- j

stellt, daß jede Testsonde (30) einen vorbestimmten entspre- ί

chenden Testpunkt auf der Schaltungsplatte (10) berührt, }

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dadurch gekennzeichnet , daß eine Trägervorrichtung für die Schaltungsplatte mit einer elastischen Vorrichtung versehen ist, die eine Bewegung der Schaltungsplatte (10) erlaubt und die Bewegung der Schaltungsplatte (10) so führt, daß jede Prüfungssonde (30) einen vorbestimmten entsprechenden Prüfungspunkt auf der Schaltungsplatte (10) berührt.

10. Führungsvorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet , daß das Trägergehäuse (18) an der Platte (22) befestigt ist und die Schaltungsplatte (10) über der Platte (22) hält, wobei das Gehäuse (18) einen oberen Rand (16) aufweist, der abdichtend mit einer Vorrichtung verbunden ist zum Tragen der Schaltungsplatte (1O)₇ und wobei eine Seitenwandung sich um den Außenumfang des Randes (16) erstreckt und an der Platte (23) befestigt werden kann, wobei der obere Rand (16) mit der elastischen Vorrichtung versehen ist.

11. Führungsvorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet , daß die elastische Vorrichtung mindestens ein Paar von Nuten (26a,26b oder 28a,28b) aufweist, die auf der oberen (26a oder 28a) und der unteren (26b oder 28b) Oberfläche des Randes (16) sich gegenüberliegen, wobei sich jedes Paar von gegenüberliegenden Nuten (26a,26b

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oder 28a,28b) parallel zu und gänzlich um den Umfang des Randes (16) erstreckt.

12. Führungsvorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet , daß die elastische Vorrichtung zwei Paare von Nuten (26,28) aufweist, die auf der oberen (26a,28a) und unteren (26b,28b) Oberfläche des Randes (16) sich gegenüberliegen; daß ein Paar (26a,26b) der sich gegenüberliegenden Nuten sich in der Nähe, parallel zu und völlig um den äußeren Umfang des Randes (16) erstreckt, und daß das andere Paar (28a,28b) der sich gegenüberliegenden Nuten sich nahe, parallel zu und völlig um den inneren Umfang des Randes (16) erstreckt.

13. Führungsvorrichtung nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet , daß die elastische Vorrichtung ein Paar von sich gegenüberliegenden Nuten (52) ist, die sich diagonal von jeder Außenecke (54) des Randes (16) zur nächstliegenden Innenecke (56) des Randes (16) erstrecken

14. Führungsvorrichtung nach Anspruch 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet , daß das Gehäuse (18) aus einem halbflexiblen Plastikmaterial besteht.

15. Führungsvorrichtung nach Anspruch 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet , daß das Gehäuse (18) aus einen Polyolefinplastik besteht.