DE3417075A1 - Mikroskop mit beleuchtungseinrichtung fuer auflichtuntersuchungen - Google Patents
Mikroskop mit beleuchtungseinrichtung fuer auflichtuntersuchungenInfo
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- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/082—Condensers for incident illumination only
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Description
3300 Braunschweig
Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit Beleuchtungseinrichtung für
Auflichtuntersuchungen, bei welchem durch starke Vergrößerung ein kleiner
Arbeitsabstand zwischen dem Objektiv und der Objektebene vorgegeben ist.
Bei den als Forschungsmikroskop bezeichneten Geräten sind meistens Be*·
leuchtungseinrichtungen für Auflicht- und Durchlichtuntersuchungen vorhanden.
Die Beleuchtungseinrichtungen für Auflichtuntersuchungen umfassen üblicherweise eine im Mikroskopstativ gehaltene Lichtquelle, einen Illuminator
mit Blenden und Reflektor sowie ein Auflichtobjektiv. Sowohl bei Untersuchungen
im Hell feld als auch im Dunkel feld ist durch sorgfältiges Zentrieren
von Blenden und Kondensor eine einseitige Objektbeleuchtung bei den bekannten Anordnungen zu vermeiden.
Bei der Betrachtung unregelmäßiger und stark lichtstreuender Oberflächen,
beispielsweise rauher technischer Oberflächen, mit den bekannten Geräten werden die räumliche Struktur und die Farben der Oberflächen unzureichend
und meistens unnatürlich wiedergegeben. Oxydationen, Lackeinschlüsse und weitere Rauhigkeiten an metallischen Oberflächen können von einem Tastschnittgerät
nicht vollständig erfaßt werden, so daß zur vollständigen Beurteilung der Oberfläche eine mikroskopische Aufnahme erforderlich ist,
welche insbesondere die räumliche Gestalt zerklüfteter Oberflächen zu erkennen gibt. Diese Anforderungen können von den bekannten Mikroskopen mit
deren Beleuchtungseinrichtungen nicht erfüllt werden. Stereomikroskope ermöglichen
zwar eine verbesserte räumliche Wiedergabe technischer Oberflächen,
jedoch reichen deren Vergrößerungen zur Beurteilung feinerer Strukturen nicht aus.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Forschungsmikroskop der einleitend
genannten Art so weiterzubilden, daß eine detaillierte räumliche Wiedergabe unregelmäßiger Oberflächen möglich ist.
Die Lösung der Aufgabe kennzeichnet sich erfindungsgemäß dadurch, daß
der Beleuchtungsstrahlengang etwa tangential zur Objektebene einstellbar ist und sämtliche Teile der Beleuchtungseinrichtung exzentrisch zur optischen
Achse des Objektivs angeordnet sind. Hierbei handelt es sich um eine Auflicht/Dunkelfeld-Beleuchtung, bei der das Licht schräg von nur
einer Seite unter einem sehr kleinen Einfallswinkel auf das Objekt fällt.
Wegen des nahezu tangentialen Lichteinfalls können sehr kleine Arbeitsabstände zwischen Objektiv und Objekt gewählt werden, wie sie üblicherweise
bei Untersuchungen an technischen Oberflächen erforderlich sind. Während die bekannten Auflicht-Beleuchtungen die Entstehung von Konturenschatten
zu vermeiden versuchen, werden bei der Erfindung gezielt ein* seitige Schatten erzeugt, wodurch sich bei geeigneter Einstellung von
Einfallswinkel und Helligkeit ein räumliches Bild der Oberflächenstruktur ergibt. Gegenüber den bekannten Anordnungen ergibt sich der weitere Vorteil,
daß die Farben der Objekte natürlicher wiedergegeben werden.
Vorteilhaft ist es, wenn der von dem Beleuchtungsstrahlengang und der
Objektebene eingeschlossene Lichteinfallswinkel α kleiner als etwa 15° ist. Der zweckmäßige Einfallswinkel ist vom Objekt und der jeweiligen Vergrößerung
abhängig und muß im Einzelfall experimentell festgelegt werden.
Eine zweckmäßige Ausführungsform ergibt sich, wenn zur Strahlenführung in
der Beleuchtungseinrichtung ein Lichtleiter vorgesehen ist, welcher an seinem der Objektebene zugekehrten Ende mit einer optischen Einrichtung
zur Leuchtfeldbegrenzung ausgerüstet ist. Ziel dieser Einrichtung ist es, möglichst nur den abgebildeten Bereich des Objekts auszuleuchten, um dadurch
in das Objektiv einfallendes Streulicht aus den Randbereichen des Objektes zu vermeiden.
Es ist möglich, daß die optische Einrichtung zur Leuchtfeldbegrenzung
wenigstens eine Linse aufweist. Durch die dem Objekt zugekehrte Linse kann ein dem Gesichtsfeld entsprechender Leuchtfleck eingestellt werden. Durch
axiale Verschiebung der Linse ist eine Fokussierung des Leuchtflecks möglich, wobei eine zusätzliche Blende zu einer weiter verbesserten Objektbeleuchtung beitragen kann.
Vorteilhaft und zugleich sehr einfach ist es, wenn die optische Einrichtung
zur Leuchtfeldbegrenzung im wesentlichen aus einem Lichtleiterlängsabschnitt besteht, dessen der Objektebene zugekehrtes Ende eine das Leuchtfeld
bestimmende Querschnittsform aufweist. Wegen der aus der Lichtaustrittsöffnung des Lichtleiterlängsabschnittes austretenden divergierenden
Lichtstrahlen wird die Lichtaustrittsöffnung in unmittelbarer Objektnähe angeordnet, so daß in vielen Anwendungsfällen auf Linsen und Blenden verzichtet
werden kann. Durch die geringen Querschnittsabmessungen des freien Endes des Lichtleiterlängsabschnittes kann dieser auch bei kleinem Arbeitsabstand zwischen dem Objektiv und dem Objekt gehalten werden.
Besonders günstig ist es, wenn die Lichtaustrittsöffnung des Lichtleiterlängsabschnittes
einen etwa rechteckigen Querschnitt aufweist. Hierbei kann der Lichtleiterlängsabschnitt ein Obergangsstück bilden, bei welchem die
Ankopplungsstelle für den Lichteintritt einen kreisförmigen Querschnitt
zeigt, so daß nahezu sämtliche Lichtstrahlen für die Objektbeleuchtung zur
Verfügung stehen. Wegen des kleinen Einfallswinkels der Beleuchtungsstrahlen zur Objektebene, können die zur Objektebene parallelen Breitseiten des
Rechteckquerschnitts der Lichtaustrittsöffnung erheblich länger als die dazu senkrechten Schmalseiten ausgebildet sein. Hierdurch ergibt sich eine
sehr wirksame Beleuchtung, die ohne Blenden und Linsen kostengünstig herstellbar
ist.
Weiterhin ist es möglich, die optische Einrichtung zur Leuchtfeldbegrenzung
als an den Lichtleiter angekoppelten Acryl glaskörper auszubilden, dessen
Lichtaustrittsöffnung eine das Leuchtfeld bestimmende Querschnittsform aufweist und dessen Umfangsfläche lichtundurchlässig beschichtet ist. Hierbei
steht nur ein Teil des vom Lichtleiter geführten Lichts für die Objektbeleuchtung
zur Verfugung, da die Lichtaustrittsöffnung so geformt ist, daß zur Vermeidung von störendem Streulicht im wesentlichen nur der abgebildete
Objektbereich ohne zusätzliche Verwendung von Blenden oder Linden beleuchtet wird. Der Acrylglaskörper ist so geformt, daß er mit seinem dem
Objekt zugekehrten Ende zwischen dem Objektiv und dem Objekt in dess unmittelbarer
Nähe gehalten werden kann.
Zweckmäßig ist es, wenn die Lichtquelle der Beleuchtungseinrichtung am
Mikroskopstativ gehalten ist. Auf diese Weise kann das Mikroskop mit einem an die Lichtquelle ankoppelbaren Lichtleiter einfach und kostengünstig hergestellt
werden.
Außerdem ist es günstig, wenn die Winkellage des Beleuchtungsstrahlenganges
im Abstand zur Objektebene sowie senkrecht dazu einstellbar ist. Sofern der Lichtaustritt der Beleuchtungseinrichtung längs einer oberhalb
der Objektebene parallel dazu verlaufenden Kreisbogenabschnittes verändert werden kann, lassen sich die abgeschatteten Bereiche des Objekts verändern.
Eine Veränderung des Lichteinfallswinkels bei gleichzeitiger Betrachtung
des Objektes läßt dessen Oberflächenrauhigkeiten besonders deutlich
erscheinen.
Die Erfindung wird anhand der in der Zeichnung schematisch dargestellten
Ausführungsbeispiele nachstehend näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine ausschnittsweise Seitenansicht «ines Mikroskops mit der neuen
Beieuchtungseinrichtung,
Fig. 2 eine ebenfalls ausschnittsweise Seitenansicht eines Mikroskops mit
einer gegenüber Fig. 1 veränderten Beleuchtungseinrichtung mit einem
Lichtleiter und
Fig. 3 die teilweise Seitenansicht einer weiterhin veränderten Ausführungsform eines Mikroskops mit einem im Stativ gehaltenen Lichtleiter.
Das neue Mikroskop ist im Unterschied zum Stereomikroskop für eine starke
Vergrößerung bei kleinem Arbeitsabstand zwischen dem Objektiv 3 und der
Objektebene 5 vorgesehen, wie Fig. 1 zeigt. Die Beleuchtung des senkrecht zur optischen Achse 2 angeordneten Objekts 5a erfolgt mittels einer Beleuchtungseinrichtung 1, deren Beleuchtungsstrahlengang 4 einen gegenüber
der Objektebene 5 sehr kleinen Winkel α aufweist. Der Winkel α ist größer
als 0° jedoch kleiner als etwa 15° und muß in Abhängigkeit vom Objekt und der Vergrößerung festgelegt werden. Zur Fokussierung des Lichts ist im Beleuchtungsstrahlengang
4 eine Linse 21 vorgesehen, so daß nur der im Mikroskop
abgebildete Objektbereich erhellt wird. Die wesentliche Wirkung des kleinen Lichteinfallswinkels α besteht in der Erzeugung von Schatten der
Oberflächenrauhigkeiten des Objekts 5a, so daß ein räumlicher Eindruck der
Oberfläche in bislang nicht bekanntem Maße bei gleichzeitig verbesserter
Farbwiedergabe erreicht wird.
In Fig. 2 ist zur StrahlenfUhrung einer Beleuchtungseinrichtung 9 ein Lichtleiter
10 vorgesehen, welcher an seinem der Objektebene 8 zugekehrten Ende
einen Lichtleiterabschnitt 11 aufweist. Eine rechteckige Querschnittsform des Lichtleiterabschnitts Π bestimmt die Größe des ebenfalls rechteckigen
Leuchtfeldes 20 in der Objektebene 8. Auch bei dieser Ausführungsform ist ein sehr kleiner Arbeitsabstand zwischen dem Objekt 8a und dem Objektiv 6
möglich, da der Beleuchtungsstrahlengang 12 in einem sehr kleinen Winkel
zur Objektebene 8 verläuft. Der Lichtleiter 10 ist in ein Lampengehäuse 9a geführt, in welchem sich eine Lichtquelle befindet.
Fig. 3 zeigt teiltweise ein Mikroskop mit einer im Stativ 18 gehaltenen
Lichtquelle einer Beleuchtungseinrichtung 22. Mit der Lichtquelle 17 ist ein Lichtleiter 15 verbunden, der am freien Ende mit einem Acrylglaskörper
16 ausgerüstet ist, welcher zur Erzeugung eines begrenzten Leuchtfeldes in der Objektebene 19 dient. Auch hier ist bei kleinem Arbeitsabstand zwischen
dem Objektiv 13 und dem Objekt 19a ein kleiner Lichteinfallswinkel gegeben,
so daß der Acrylglaskörper 16 teilweise unter das Objektiv 13 geführt werden
kann, um ohne aufwendige Fokussierungseinrichtung ein begrenztes Leuchtfeld in der Objektebene 19 zu erzeugen. Die Umfangsfläche des Acrylglaskörpers
16 ist lichtundurchlässig beschichtet, so daß kein störendes Streulicht entsteht.
g-
- Leerseite -
Claims (9)
1. Mikroskop mit Beleuchtungseinrichtung für Auflichtuntersuchungen, bei
welchem durch starke Vergrößerung ein kleiner Arbeitsabstand zwischen dem Objektiv und der Objektebene vorgegeben ist, dadurch gekennzeichnet
, daß der Beleuchtungsstrahlengang (4, 12, 23) etwa tangential zur Objektebene (5, 8, 19) einstellbar ist und sämtliche
Teile der Beleuchtungseinrichtung (1, 9, 22) exzentrisch zur optischen Achse (2, 7, 14) des Objektivs (3, 6, 13) angeordnet sind.
2. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der von dem Beleuchtungsstrahlengang (4, 12, 23) und der Objektebene (5, 8, 19) eingeschlossene Lichteinfallswinkel α kleiner als etwa 15° ist.
3. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Strahlenführung in der Beleuchtungseinrichtung (9) ein Lichtleiter
(10, 15) vorgesehen ist, welcher an seinem der Objektebene (8, 19) zugekehrten Ende mit einer optischen Einrichtung zur Begrenzung des
Leuchtfeldes (20, 24) ausgerüstet ist.
4. Mikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Einrichtung zur Leuchtfeldbegrenzung wenigstens eine
Linse (21) aufweist.
5. Mikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Einrichtung zur Leuchtfeldbegrenzung im wesentlichen aus
einem Lichtleiterlängsabschnitt (11) besteht, dessen der Objektebene (8) zugekehrtes Ende eine das Leuchtfeld (20) bestimmende Querschnittsform
aufweist.
6. Mikroskop nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtaustrittsöffnung des Lichtleiterlängsabschnittes (11) einen etwa rechteckigen Querschnitt aufweist.
7. Mikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Einrichtung zur Leuchtfeldbegrenzung als an den Lichtleiter (15) angekoppelter Acrylglaskörper (16) ausgebildet ist, dessen Lichtaustrittsöffnung
(16a) eine das Leuchtfeld bestimmende -Querschnittsform
aufweist und dessen Umfangsflache lichtundurchlässig beschichtet ist.
8. Mikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (17) der Beleuchtungseinrichtung (22) am Mikroskopstativ (18) gehalten ist.
9. Mikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Winkellage des Beleuchtungsstrahlenganges
(4, 12, 23) im Abstand zur Objektebene (5, 8, 19) sowie senkrecht dazu einstellbar ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19843417075 DE3417075A1 (de) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | Mikroskop mit beleuchtungseinrichtung fuer auflichtuntersuchungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19843417075 DE3417075A1 (de) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | Mikroskop mit beleuchtungseinrichtung fuer auflichtuntersuchungen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3417075A1 true DE3417075A1 (de) | 1985-11-14 |
Family
ID=6235308
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19843417075 Ceased DE3417075A1 (de) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | Mikroskop mit beleuchtungseinrichtung fuer auflichtuntersuchungen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3417075A1 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE102008028490A1 (de) * | 2008-06-16 | 2009-12-17 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Beleuchtungsanordnung für die TIRF-Mikroskopie |
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1984
- 1984-05-09 DE DE19843417075 patent/DE3417075A1/de not_active Ceased
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Legal Events
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8131 | Rejection |