DE3342378A1 - Messverfahren zur messung von induktivitaeten - Google Patents

Messverfahren zur messung von induktivitaeten

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DE3342378A1
DE3342378A1 DE19833342378 DE3342378A DE3342378A1 DE 3342378 A1 DE3342378 A1 DE 3342378A1 DE 19833342378 DE19833342378 DE 19833342378 DE 3342378 A DE3342378 A DE 3342378A DE 3342378 A1 DE3342378 A1 DE 3342378A1
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inductance
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time
inductances
series resistor
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DE19833342378
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English (en)
Inventor
Hermann 7143 Vaihingen Gässler
Hans Dipl.-Ing. 7015 Korntal Kubach
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Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2611Measuring inductance

Description

  • Meßverfahren zum Messen von Induktivitäten
  • Stand der Technik Die Erfindung geht aus von einem Meßverfahren nach der Gattung des Hauptanspruchs. Ein solches Meßverfahren ist aus der DE-OS 31 17 808 bekannt. Bei diesem Meßverfahren nach dem Kompensationsverfahren bildet in einer Schaltungsanordnung eine Referenzinduktivität zusammen mit einem Widerstand ein Zeitglied, das über einen Verstärker und einen Schmitt-Trigger zu einer Schwingschaltung geschaltet ist.
  • Weiter ist ein zweites Zeitglied vorgesehen, das die variable Induktivität erhält. Die variable Induktivität wird entweder mittels eines elektronischen Schalters statt der Referenzinduktivität rückgekoppelt oder aber von der ersten Schwingschaltung getriggert. Die Induktivitätsänderung wird durch eine Differenzbildung oder eine Quotientenbildung festgestellt.
  • Bei dem bekannten Verfahren wird jedoch die Taktzeit extern vorgegeben. Der erwähnte elektronische Schalter tastet unabhängig von den Werten der Induktivität die Spannungsverhältnisse an den beiden Induktivitäten ab.
  • Werden nicht die Impulse unmittelbar, sondern eine aus ihnen erzeugte Gleichspannung als Vergleichswert herangezogen, so werden die beiden Impulsreihen über einen gleichen Gleichrichter geführt.
  • Vorteile der Erfindung Das erfindungsgemäße Verfahren mit den kennzeichnenden Merkmalen des Hauptanspruchs hat demgegenüber den Vorteil, daß zum Bilden eines Zeitglieds mit der jeweiligen Induktivität nur ein einziger gemeinsamer Serienwiderstand vorgesehen ist. Dadurch spielen irgendwelche Toleranzen des Serienwiderstands keine Rolle. Weiter läßt sich die Zahl der Bauteile - insbesondere der Bauteile mit engen Toleranzen - stark reduzieren. Der Serienwiderstand liegt stets an der Versorgungsspannung, eine Umschaltrichtung schaltet einmal die feste Referenzinduktivität und einmal die zu messende variable Induktivität an den Serienwiderstand.
  • Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des im Hauptanspruch angegebenen Verfahrens möglich.
  • Besonders vorteilhaft ist, daß die Umschaltvorrichtung durch einen Schwellwertschalter steuerbar ist, der nach dem Erreichen eines vorgebbaren Schwellwerts des Spannungsabfalls über dem Serienwiderstand die gerade eingeschaltete Induktivität wieder abschaltet.
  • Der gleiche Schwellwertschalter dient dazu, nach dem Abklingen der Spannung über dem Serienwiderstand auf einen unteren Schwellwert die andere der beiden Induktivitäten an den Serienwiderstand anzuschließen.
  • Ein Überschneiden der Einschaltzeiten ist damit ausgeschlossen. Durch eine geeignete Mitkopplung wird in vorteilhafter Weise das Schalten des Umschalters schlagartig durchgeführt.
  • Von großem Vorteil ist weiter, daß alle Umschaltzeiten intern erzeugt werden. Ein externer Taktgeber ist nicht nötig. Die Meßvorrichtung kann somit mit höherer Genauigkeit und mit voller Sicherheit arbeiten.
  • In vorteilhafter Weise werden die Meßergebnisse, die die Referenzinduktivität und die zu messende variable Induktivität liefern, in getrennten Kanälen gleichgerichtet, wenn ein analoges Signal gewünscht wird.
  • Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen, insbesondere in Bezug auf die Schaltungsanordnung, ergeben sich aus der Beschreibung.
  • Zeichnung Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Figur 1 zeigt das Prinzip des Meßverfahrens anhand eines Blockschaltbilds, Figur 2 ist der Stromlaufplan eines ersten Ausführungsbeispiels und Figur 3 der Stromlaufplan eines zweiten Ausführungsbeispiels.
  • Beschreibung der Ausführungsbeispiele Das Meßprinzip zeigt Figur 1. Eine Referenzinduktivität 11 und eine zu messende veränderliche Induktivität 12 sind innerhalb eines Gebers 13 angeordnet. Die beiden Induktivitäten 11 und 12 liegen mit ihrem einen Ende an Masse und mit ihrem'anderen Ende an jeweils einer Schalt strecke eines Umschalters 14. Der Umschalter 14 ist im Ausführungsbeispiel durch zwei Schalttransistoren 15 und 16 realisiert, der Transistor 15 ist der Referenzinduktivität 11 und der Transistor 16 der veränderlichen Induktivität 12 zugeordnet. Von den Emittern der beiden Transistoren 15 und 16 führt eine Leitung zu einem Serienwiderstand 17, der mit seinem anderen Ende an eine Versorgungsspannungsklemme 18 angeschlossen ist.
  • Weiter ist ein Schwellwertschalter 19 vorgesehen.
  • Zwei Eingänge des Schwellwertschalters sind an die beiden Anschlüsse des Serienwiderstands 17 angeschlossen. Ein Ausgang des Schwellwertschalters 19 ist mit einer Entkopplungsvorrichtung 21 verbunden, die zweckmäßigerweise zwei Dioden 22, 23 enthält. Am Eingang der Entkopplungsvorrichtung 21 und damit am Ausgang des Schwellwertschalters 19 liegen die Anoden der beiden Dioden 22 und 23, die Kathode der Diode 22 ist mit der Basis des Schalttransistors 15 und die Kathode der Diode 23 mit der Basis des Schalttransistors 16 der Umschaltvorrichtung i4 verbunden. Weiter ist eine Mitkopplungsvorrichtung 24 mit zwei Mitkopplungswiderständen 25 und 26 vorgesehen. Der Mitkopplungswiderstand 25 liegt zwischen dem heißen Anschluß der Referenzinduktivität 11 und der als Steueranschluß dienenden Basis des der variablen Induktivität zugeordneten Transistors 16, der andere Mitkopplun.wswiderstand 26 liegt zwischen dem heißen Ende der variablen Induktivität 12 und der als Steueranschluß dienenden Basis des der Referenzinduktivität 11 zugeordneten Transistors 15 der Umschaltvorrichtung 14.
  • Der Referenzinduktivität 11 ist eine Freilaufdiode 27 und der zu messenden variablen Induktivität 12 eine Freilaufdiode 28 parallelgeschaltet.
  • Die Zeitauswertung erfolgt mit Hilfe einer Zeitauswertungsvorrichtung 31, von der ein Eingang an das heiße Ende der Referenzinduktivität 11 und ein anderer Eingang an das heiße Ende der variablen Induktivität 12 angeschlossen ist. Diese Zeitauswertungsvorrichtung 31 wertet das Tastzeitverhältnis der Umschaltvorrichtung 14 aus und liefert an ihrem Ausgang ein digitales Signal, das für die Auswertung durch einen Zähler geeignet ist.
  • Eine nähere Beschreibung folgt weiter unten.
  • Soll ein analoges Signal zur Verfügung gestellt werden, so werden die über der Referenzinduktivität 11 und der variablen Induktivität 12 ablaufenden Spannungsvorgänge in einem Gleichrichter 32 gleichgerichtet, und zwar für jede der Induktivitäten 11 und 12 je für sich. Dem Gleichrichter 32 ist eine Auswertestufe 33 nachgeschaltet, die eine Anordnung zur Mittelwertbildung und einen Differenzverstärker enthält. Am Ausgang dieser Auswertestufe 33 steht dann beispielsweise das Integral der Spannung nach der Zeit zur Verfügung.
  • In der Meßvorrichtung nach Figur 2 besteht die Möglichkeit, die Versorgungsspannung 18 über den Serienwiderstand 19 alternativ auf die Referenzinduktivität 11 oder die variable Induktivität 12 durchzuschalten. Der Strom i durch den Serienwiderstand 17 nimmt solange zu, bis am Serienwiderstand eine Spannungsdifferenz &uUt7 =t Umax auftritt.
  • 17 Der Schwellwertschalter 19, der durch die Spannungsdifferenz 8 U17 gesteuert wird, schaltet dann über die Entkopplungsvorrichtung 21 und die beiden Dioden 22 und 23 die beiden Transistoren 15 und 16 des Umschalters 14 in ihren gesperrten Zustand. Wurde zum Beispiel zunächst die variable Induktivität 12 eingeschaltet, so wird jetzt dieser Induktivität 12 kein weiterer Strom mehr zugeführt. Aber auch die Referenzinduktivität 11 erhält noch keinen Strom.
  • Da durch den Serienwiderstand i7 nun kein Strom mehr fließt, sinkt auch die Spannungsdifferenz d U17 wieder ab. Sobald ein unterer Wert 8 U17 = Q imin unterschritten wird, verschwindet auch das Ausgangssignal am Schwellwertschalter 19. Nun fließt aber in der zuvor eingeschalteten variablen Induktivität 12 bis zum Abbau des aufgebauten Magnetfelds ein Strom weiter, obwohl ja der Schalttransistor 16 schon gesperrt ist. Der Strom aus der Induktivität 12 fließt über die Freilaufdiode 28. Über der variablen Induktivität 12 entsteht aber eine negative Spannungsspitze, die über den Mitkopplungswiderstand 26 der Mitkopplungsvorrichtung 24 an die Basis des Schalttransistors 15 geführt wird. Der Schalttransistor 15 ist aber der Referenzinduktivität 11 zugeordnet. Der Transistor 15 schaltet durch und legt damit die Referenzinduktivität 11 über den Serienwiderstand 17 an die Versorgungsspannung 18. Das Spiel beginnt mit der anderen Induktivität, also der Referenzinduktivität 11, von vorn. Mit Hilfe dieser Schaltungsanordnung ist die wechselweise Durchschaltung der beiden Induktivitäten 11, 12 sichergestellt.
  • In der Zeitauswertevorrichtung 31 wird gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren das Zeitverhältnis der Durchschaltung des Transistors 16 zu der Durchschaltung des Transistors 15 gemessen. Es kann aber auch genausogut das Zeitverhältnis der Sperrung des Transistors 16 des Umschalters 14 zu der Sperrung des Transistors 15 gewählt werden. Für den Fall, daß weniger hohe Anforderungen an die Genauigkeit der Messung gestellt werden, kann statt dessen das Zeitverhältnis von Sperrung zu Durchschaltung des Schalttransistors 15 oder 16 ausgewertet werden.
  • Legt man keinen Wert auf eine lineare Auswertung, so ist es möglich, das Verhältnis der Durchschaltzeit beispielsweise des Schalttransistors 16 des Umschalters 14 zur gesamten Zykluszeit der Auswertung zugrunde zulegen. Man kann auch das Verhältnis zwischen Startzeit und gesamter Zykluszeit des Schalttransistors 16 nehmen. Selbstverständlich kann man der Auswertung auch die Schaltimpulse des Transistors 15 des Umschalters 14 zugrundelegen. Obwohl diese Auswertung nicht linear ist, besteht bei einem kleinen Unterschied zwischen dem Wert der Referenzinduktivität 11 und dem Wert der variablen Induktivität 12 praktisch keine Abweichung gegenüber den bisher geschilderten Meßverfahren.
  • Die bis hierher geschilderte Auswertung ist für digitale Verfahren gedacht, bei denen die Impulslängen ausgewertet werden. Für eine analoge Auswertung sind der Gleichrichter 32 und die Auswertestufe 33 vorgesehen. Der Gleichrichter 32 richtet die Impulsspannungen, die über jeder der beiden Induktivitäten 11 oder 12 auftreten, gleich und mittelt sie über die Zeit, integriert sie also, und verstärkt sie.
  • Entsprechend dem Schaltzustand der Schaltertransistoren 15 oder 16 werden dazu zwei feste Spannungen präzise geschaltet. Näheres hierzu wird weiter unten ausgeführt.
  • Figur 2 zeigt eine erste praktische Verwirklichung einer analogen Spannungsauswertung. Der Schwellwertschalter 19 umfaßt zwei Transistoren 34, 35. An die Versorgungsspannungsquelle 18 ist ein Spannungsteiler mit den Widerständen 36 und 37 angeschlossen, an der Anzapfung liegt die Basis des Transistors 34. Die Basis des Transistors 35 liegt über einen Widerstand 38 an der Versorgungsspannung 18 und über eine Zenerdiode 39 am Kollektor des Transistors 34. Die Basis des Transistors 34 ist mit dem Kollektor des Transistors 35 über einen Widerstand 41 verbunden.
  • Der Kollektor des Transistors 35 liegt über einen Widerstand 42 und der Kollektor des Transistors 34 über einen Widerstand 43 an Masse.
  • Die Entkopplungsvorrichtung 14 enthält die beiden Dioden 22 und 23, die mit ihrer Anode an den Kollektor des Transistors 35 des Schwellwertschalters 19 angeschlossen sind. Die Kathode der Diode 22 liegt über einen Widerstand 44 an der Versorgungsspannung 18 und außerdem direkt an der Basis des Transistors 15 des Umschalters 14. Die Kathode der Diode 23 liegt an der Basis des Schalttransistors 16 des Umschalters 14 und außerdem über einen Widerstand 45 an der Versorgungsspannung 18.
  • Die Umschaltvorrichtung 14 enthält die beiden Transistoren 15 und 16, deren Emitter zusammengeschaltet sind und sowohl am Transistor 34 des Schwellwert schalters 19 als auch über eine Serienschaltung von zwei Widerständen 46, 47 an der Versorgungsspannung 18 liegen. Der Verbindungspunkt der beiden Widerstände 46, 47 ist mit dem Emitter des Transistors 35 des Schwellwertschalters 19 verbunden.
  • Der Kollektor des Schaltwiderstands 15 des Umschalters 14 ist über den Mitkopplungswiderstand 26 mit der Basis des Transistors 16 verbunden und liegt außerdem am heißen Ende der Referenzinduktivität 11. Der Kollektor des Schalttransistors 16 ist über den Mit-Kopplungswiderstand 25 mit der Basis des Schalttransistors 15 verbunden und liegt außerdem am heißen Ende der variablen Induktivität 12. Am heißen Ende der Referenzinduktivität 11 liegt die Kathode einer Freilaufdiode 29, am heißen Ende der variablen Induktivität 12 die Kathode einer Freilaufdiode 28.
  • Die Kathoden der beiden Freilaufdioden 28, 29 sind über eine Zenerdiode 48 an Masse geführt. Der Gleichrichter 32 umfaßt Dioden 51 und 52, von denen die Diode 51 mit ihrer Anode am heißen Ende der Referenzinduktivität 11 und die Diode 52 mit ihrer Anode am heißen Ende der variablen Induktivität 12 liegt.
  • Jeder der Dioden ist ein Integrationsglied nachgeschaltet, der Diode 51 ein Integrationsglied mit dem Widerstand 53, der Widerstand 54, dem Widerstand 55 und den Kondensatoren 56 und 57; das der Diode 52 zugeordnete Integrationsglied umfaßt die Widerstände 58, 59, 61 und den Kondensator 6 . Die Integrationsglieder sind bereits Bestandteile der Auswertestufe 33. Die Auswertestufe enthält weiter einen Operationsverstärker 62, dessen nichtinvertierender Eingang über das zugehörige Integrationsglied an der Gleichrichterdiode 51 und andererseits über einen Vorwiderstand 63 an der Anzapfung eines Spannungsteilers mit den Widerständen 64 und 65 liegt. Der invertierende Eingang des Operationsverstärkers 62 ist über das zugehörige Integrationsglied an die Gleichrichterdiode 52 angeschlossen und gleichzeitig mit dem Ausgang des Operationsverstärkers 62 über die Parallelschaltung eines Widerstands 65 mit einem Kondensator 66 verbunden.
  • Das Teilerverhältnis aus den Widerständen 36 und 37 bildet die Ansprechschwelle für den Transistor 34.
  • Erreicht der Strom über den Serienwiderstand diejenige Größe, die die Ansprechschwelle d U erzeugt, dann max wird sowohl der Transistor 34 als auch der Transistor 35 leitend. Über die Widerstände 44 und 45 werden damit die beiden Schalttransistoren 15 und 16 gesperrt. An der jetzt abgeschalteten Induktivität 11 oder 12 schaltet jetzt die hohe negative Spannung über der bisher stromführenden und jetzt abgeschalteten Induktivität denjenigen Transistor 16 oder 15 durch, der vor der anderen Induktivität 12 oder 11 liegt.
  • Die Widerstände 44 und 45 sorgen für die sichere Sperrung des gerade abgeschalteten Transistors 15 oder 16. Die negative Spannung über der jeweils gerade abgeschalteten Induktivität 11 oder 12 wird durch die Zenerdiode 48 begrenzt, dadurch werden Schäden an den Schalttransistoren 15 oder 16 vermieden. Parallel zu der Zenerdiode 48 kann ein Widerstand geschaltet sein. Statt der Zenerdiode 48 läßt sich auch ein Widerstand allein oder eine Kombination aus einem Widerstand und einem Kondensator einsetzen.
  • Der Gleichrichter 32 mit den Dioden 51 und 52 arbeitet symmetrisch, sodaß auch hier kaum Fehler durch Toleranzen entstehen. Sind die beiden Widerstände 54 und 59 klein gegen die Spannungsteilerwiderstände 64 und 54, so wird hauptsächlich der arithmetische Mittelwert und weniger der Spitzenwert der Spannung über den Induktivitäten 11 und 12 ausgewertet.
  • Es ist zweckmäßig, zur Mittelwertbildung die beiden Eingangskanäle des Operationsverstärkers 62 in gleicher Weise zu filtern. Die Kombination aus den Widerständen 54 und 59 und dem Kondensator 62 dient dabei als Vorfilter 67. Weiter ist es zweckmäßig, den Kanal am invertierenden Eingang des Operationsverstärkers mit Kondensatoren 56 und 57 zu versehen, deren Kapazitätswerte das gleiche Teilerverhältnis haben wie die Spannungsteilerwiderstände 65 und 64. Damit wird die Versorgungsspannung 18 am invertierenden Eingang des Operationsverstärkers 62 im wesentlichen immer gleich geteilt, auch wenn auf der Versorgungsspannung 18 Spannungsspitzen auftreten. Dies ist nämlich bei allen denjenigen Schaltungen wichtig, die nicht auf absolute Spannungswerte, sondern auf Verhältnisse von Spannungen zur Versorgungsspannung 18 ansprechen.
  • Figur 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel mit einem einfacheren Schwellwertschalter, aber sonst gleichen Bauelementen. Gleiche Bauelemente sind wieder mit gleichen Bezugszeichen versehen. Die Zenerdiode 39 ist durch einen Widerstand 139 ersetzt. Die Funktion des einfacheren Ausführungsbeispiels nach Figur 3 ist die gleiche wie im vorhergehenden Ausführungsbeispiel.

Claims (10)

  1. Meßverfahren zum Messen von Induktivitäten Patentansprüche Oi Meßverfahren zum Messen von Induktivitäten mittels einer Schaltungsanordnung mit einer festen Referenz-Induktivität und einer zu messenden variablen Induktivität, mit einem jeder der Induktivitäten vorgeschalteten, an einer Spannungsquelle liegenden, Serienwiderstand, der mit der Induktivität zusammen ein Zeitglied bildet, mit einem Schwellwertschalter, der zusammen mit dem Zeitglied eine Schwingschaltung bildet, und mit einer Vergleichseinrichtung zum Vergleichen der von den Zeit gliedern jeweils gebildeten Impulse, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß für beide Induktivitäten (11, 12) nur ein einziger Serienwiderstand (17) vorgesehen und der Serienwiderstand (17) mit Hilfe einer Umschaltvorrichtung (i4) wahlweise der Referenz-Induktivität (11) oder der variablen Induktivität (12) vorschaltbar ist.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Umschaltvorrichtung (14) durch den Schwellwertschalter (19) steuerbar ist.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Umschaltvorrichtung (14) durch die an wenigstens einer der Induktivitäten (11, 12) anliegenden Spannung steuerbar ist.
  4. 4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, gekennzeichnet durch folgende Merkmale: - eine der Induktivitäten (11, 12) wird mit Hilfe der Umschaltvorrichtung (14) an den Serienwiderstand (17) gelegt, - nach Erreichen eines vorgebbaren oberen Schwellwerts ( A U=ax) über dem Serienwiderstand (17) wird die max eingeschaltete Induktivität (ii, 12) vom Serienwiderstand (17) mit Hilfe der Umschaltvorrichtung (14) getrennt, - nach dem Abklingen der Spannung über dem Serienwiderstand (17) auf einen unteren Schwellwert ( & Umin) wird die andere der Induktivitäten (12, 11) an den Serienwiderstand (17) gelegt.
  5. 5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die über der jeweils einen Induktivität (11, 12) liegende Spannung über einen zugehörigen Mitkopplungswiderstand (25, 26) demjenigen Steueranschluß (16, 15) des Umschalters (14) zugeführt wird, der die jeweils andere Induktivität (12, 11) einschaltet.
  6. 6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zur Auswertung der Meßung das Verhältnis der Durchschaltzeit/Sperrzeit der der Referenz-Induktivität (11) zugeordneten Schaltstrecke (15) der Umschaltvorrichtung (4) zu der Durchschaltzeit/Sperrzeit der der variablen Induktivität (12) zugeordneten Schaltstrecke (16) der Umschaltvorrichtung (14) ermittelt wird.
  7. 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß zur Auswertung der Messung das Verhältnis von Sperrzeit zu Durchschaltzeit einer der Schaltstrecken (15, 16), die einer der Induktivitäten (11, 12) zugeordnet sind, ermittelt wird.
  8. 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß zur Auswertung der Messung das Verhältnis der Durchschaltzeit/Sperrzeit zur gesamten Zykluszeit einer der Schaltstrecken (15, 16), die einer der Induktivitäten (11, 12) zugeordnet sind, ermittelt wird.
  9. 9. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitwerte mit Hilfe von Zählern gemessen und durch digitale Werte wiedergegeben werden.
  10. 10. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zur Messung der Zeitwerte die über den Induktivitäten (11, 12) stehenden Spannungen jeweils für sich und symmetrisch gleichgerichtet (32) und integriert (33) und so durch analoge Werte wiedergegeben werden.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3636837A1 (de) * 1986-10-29 1988-05-11 Dietrich Luederitz Induktivitaets-messgeraet
EP0288704A1 (de) * 1987-04-29 1988-11-02 WABCO Vermögensverwaltungs-GmbH Einrichtung zur Messung einer Induktivität
EP2101404A3 (de) * 2008-03-14 2015-12-16 ZF Friedrichshafen AG Verfahren zur Ermittlung und Korrektur des von einem Elektromotor abgegebenen Drehmomentes

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR909641A (fr) * 1945-03-10 1946-05-14 Procédé de mesure des éléments d'une self ou d'une capacité
DE3117808A1 (de) * 1981-05-06 1982-11-25 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Schaltungsanordnung zur messung von induktivitaetsaenderungen

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR909641A (fr) * 1945-03-10 1946-05-14 Procédé de mesure des éléments d'une self ou d'une capacité
DE3117808A1 (de) * 1981-05-06 1982-11-25 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Schaltungsanordnung zur messung von induktivitaetsaenderungen

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3636837A1 (de) * 1986-10-29 1988-05-11 Dietrich Luederitz Induktivitaets-messgeraet
EP0288704A1 (de) * 1987-04-29 1988-11-02 WABCO Vermögensverwaltungs-GmbH Einrichtung zur Messung einer Induktivität
EP2101404A3 (de) * 2008-03-14 2015-12-16 ZF Friedrichshafen AG Verfahren zur Ermittlung und Korrektur des von einem Elektromotor abgegebenen Drehmomentes

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