DE3311302A1 - Hf-schaltungsanordnung mit integriertem kondensator - Google Patents

Hf-schaltungsanordnung mit integriertem kondensator

Info

Publication number
DE3311302A1
DE3311302A1 DE19833311302 DE3311302A DE3311302A1 DE 3311302 A1 DE3311302 A1 DE 3311302A1 DE 19833311302 DE19833311302 DE 19833311302 DE 3311302 A DE3311302 A DE 3311302A DE 3311302 A1 DE3311302 A1 DE 3311302A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
plate
field effect
effect transistor
semiconductor circuit
circuit arrangement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19833311302
Other languages
English (en)
Inventor
Bernard Cuvilliers
Philippe Jourdain
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE3311302A1 publication Critical patent/DE3311302A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/642Capacitive arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
    • H01L23/5384Conductive vias through the substrate with or without pins, e.g. buried coaxial conductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/095Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
    • H01L2924/097Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
    • H01L2924/09701Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19102Disposition of discrete passive components in a stacked assembly with the semiconductor or solid state device
    • H01L2924/19103Disposition of discrete passive components in a stacked assembly with the semiconductor or solid state device interposed between the semiconductor or solid-state device and the die mounting substrate, i.e. chip-on-passive
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)
  • Microwave Amplifiers (AREA)

Description

• Ο 9
PHF 82 52Α / 21.3.1983
HF—Schaltungsanordnung mit integriertem Kondensator
Die Erfindung bezieht sich auf eine HF-Schaltungsanordnung- -mit mindestens einem Halbleiterschaltungselement, das auf der Seite einer ersten Fläche eines isolierenden Substrates angeordnet ist, wobei eine zweite Fläche dieses Substrates, die der ersten Fläche gegenüberliegt, mindestens teilweise metallisiert ist um eine Erdungsfläche zu bilden und das Halbleiterschaltungselement mit Elektroden versehen ist, mit mindestens je einer Ausgangsklemme, wobei eine der Elektroden, als erste Elektrode bezeichnet, dazu bestimmt ist, mit der Erdungsfläche über ein kapazitives Element elektrisch verbunden zu werden und wobei eine elektrische Verbindung mit der Erdungsfläche mittels eines metallisierten Loches durch das isolierende Substrat hindurch verwirklicht wird.
Die Erfindung eignet sich zum Gebrauch auf dem Gebiet der Schaltungsanordnungen, die in dem HF-Bereich arbeiten und insbesondere Schaltungsanordnungen mit Feldeffekttransistoren .
In den zur Zeit bekannten Schaltungsanordnungen vom Typ der eingangs beschriebenen Art, wird im allgemeinen das Halbleiterschaltungselement unmittelbar auf der leiten» den Fläche, die auf der ersten Fläche des isolierenden Substrates verwirklicht ist, angebracht. Die Ausgangsklemme der Elektroden des Halbleiterschaltungselementes werden daraufhin durch Drähte mit den anderen Schaltungselementen der Schaltungsanordnung verbunden5 dies ist insbesondere der Fall mit der elektrischen Verbindung zwischen der ersten Elektrode und dem kapazitiven Element. Das Anbringen der Verdrahtung ist dabei eine sorgfältig durchzuführende Bearbeitung, die, namentlich wenn die Ausgangsklemmen zahlreich sind, aufwendig ist. Andererseits sorgt diese begrenzte Technologie nicht immer für eine gute Reproduzierbarkeit der elektrischen Verbindungen.
PHF 82 52'» χ?(f> 21.3.1983
Die vox'ii elende Erfindung hat nun zur Aufgabe, diesen Nachteil auszuschaI ten und nwar dadurch, dass die Verwendung von Verdrahtung bei den Ausgangsklemmen des Halbleitereleinentes möglichst unterlassen wird.
Nach der vorliegenden Erfindung weist eine derartige HF-Schaltungsanordnung das Kennzeichen auf, dass das Halbleiterschaltungselement auf einem zwischenliegenden Verbindungselement befestigt ist, das mit einer Platte aus einem dielektrischen Material versehen ist, mit auf einer ersten Fläche herausragenden Teilen aus leitendem Material, worauf unmittelbar die Ausgangsklemmen der Elektroden des Halbleiterschaltungselementes festgelötet sind, wobei jeder herausragende Teil, der mit Ausgangsklemmen der ersten Elektrode verbunden ist, leitend verbunden ist mit einer leitenden Fläche, die auf der ersten Fläche der Platte angebracht ist und eine erste Platte des kapazitiven Elementes bildet, während eine zweite Fläche der Platte, die der ersten Fläche gegenüberliegt, auf mindestens einer auf der ersten Fläche des isolierenden Substrates angebrachten leitenden Fläche befestigt ist, die mindestens ein metallisiertes Loch kontaktiert und eine zweite Platte des kapazitiven Elementes bildet.
Auf diese Weise kann durch direkte Befestigung des Halbleiterschaltungselementes durch Verlöten der Ausgangsklemmen mit den herausragenden Teilen des zwischenliegenden Verbindungselemente« das Anbringen von Verdrahtung durch Drähte vermieden werden. Andererseits bietet die Erfindung die Möglichkeit einer leichteren Handhabung des Halbleiterschaltungselementes, so dass es auf einem zwischenliegenden Verbindungselement befestigt werden kann, dessen Abmessungen wesentlich grosser sein können als die des Schaltungseleirientes selbst; dadurch kann insbesondere das Prüfen des Schaltungselementes bevor das Verbindungselement auf dem isolierenden Substrat befestigt wird, leichter durchgoführt werden. Zum Schluss macht es die Erfindung ebenfalls möglich, da.s kajjtizi tive Element völlig zu integrieren, wobei dati zwischenliegende Element gleichzeitig als Dielektrikum für das kapazitive 'Element wirksam ist.
PHF 82. 52'+ £jf 21.3.1983
In einem günstigen Ausftlhrungsbeispiel der Erfindung ist das Halblei terschaltungsel einen t ein Feldeffekttransistor und die genannte erste,Elektrode kontaktiert die Source-Zone des Feldeffekttransistors. Durch Fortlasaung von Verdrahtungsdrähten zwischen der Source-Zone und der Erdungsfläche kann nämlich die immer schädliche Impedanz, die durch die genannten Drähte eingeführt wird, ausgeschaltet werden. In einer bestimmten Anzahl von Anwendungsmöglichkeiten kann es von Bedeutung sein, dass das kapazitive Element eine hohe Kapazität hat; das dielektrische Material der zwischenliegenden Verdrahtungsplatte hat dann vorzugsweise eine Dielektrizitätskonstante zwischen 6OO und 2000.
Zur Verringerung der Kapazität der Zuführungsleitungen wird eine Einsparung in der leitenden Fläche gegenüber dem Halbleiterschaltungselement vorgesehen.
Wenn das Halbleiterschaltungselement ein Feldeffekttransistor ist, ist durch die Möglichkeit, die Source-Zone über ein kapazitives Element mit hoher Kapazität mit der Erdungsfläche zu verbinden, eine HF-Schaltungsanordnung nach der Erfindung möglich, die das Kennzeichen aufweist, dass die Source-Zone des Feldeffekttransistors für die hohen Frequenzen durch das genannte zwischenliegende Element mit Erde kapazitiv verbunden wird und ein· Widerstand mit festen Werten parallel zu dem kapazitiven Element die Source-Zone für niedrige Frequenzen mit Erde verbindet, während über eine Stabilisierungsschaltung der Strom und die Spannung des Feldeffekttransistors derart eingestellt wird, dass der Arbeitspunkt von dem Feldeffekttransistor unabhängig ist.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher beschrieben. Es zeigen
Fig. 1 einen Schnitt durch eine HF-Schaltungsanordnung nach der Erfindung,
Fig. 2 eine Draufsicht des zwischenliegenden Elementes einer erfindungsgemassen Schaltungsanordnung,
Fig. 3 einen Schnitt durch ein Axisführungsbeispiel der metallisierten Fläche und dei~ metallenen "Burnps" die
■ ---; O O I > O UZ.
PHF 82 52·'4 / 21.3.1983
auf der ersten Fläche des zwischenliegenden Elementes niedergeschlagen sind,
Fig. 4 den Schaltplan einer· Verwendung einer HF-Schal tungsanordnung nach der Erfindung, wobei ein Feldeffekttransistor verwendet wird.
Fig. 1 zeigt im Schnitt eine HF-Schaltungsanordnung 11 mit einem Halbleiterschaltungselement 12, das in der Ausführungsform nach Fig. 1 ein Feldeffekttransistor ist, der beispielsweise aus Galliumarsenid hergestellt ist.
Dieser Transistor 12 ist auf der Seite einer ersten Fläche eines isolierenden Substrates 14 aus beispielsweise Aluminiumoxid angeordnet. Eine zweite Fläche 15 dieses Substrates, die gegenüber der ersten Fläche 13 liegt, ist mindestens teilweise metallisiert um eine Erdungsfläche zu bilden. Der Feldeffekttransistor 12 ist mit Elektroden versehen, die die Drain-Zone, die Gate- und Source-Zone kontaktieren und die mit Ausgangsklemmen 17» 18a, i8b, 19a, 19b versehen sind. In dem Beispiel nach Fig. 1 kontaktiert die Klemme 17 die Drain-Zone des Transistors, kontaktieren die Klemmen 18a und 18b das Gate und die Klemmen 19a und 19b die Source-Zone. Eine der Elektroden des Transistors, im Falle der Fig. 1 die der Source-Zone, ist bestimmt, mit der Erdungsfläche 16 über ein kapazitives Element 20 elektrisch verbunden zu werden, wobei die Verbindung mit der Erdungsfläche 16 teilweise durch zwei metallisierte Löcher 21, 22 durcli das isolierende Substrat i4 hindurch verwirklicht ist. Wie aus Fig. 1 ersichtlich, ist der Feldeffekttransistor 12 auf einem zwischenliegenden Element befestigt, das aus einer Platte 24 aus einem dielektrischon Material besteht, die auf nur einer Fläche 25 mit leitenden "Bumps" 27, 28a, 28b, 29a, 20b versehen ist, mit denen direkt die Ausgangsklemmen 17» 18a und I8b, 19a und 1'.)b der Elektroden des Feldeffekttransistors verlötet sind. Jeder "Bump" 2<)a und 29b, der jeder der Ausgangs-
3^ klemmen 19a und 10b der Source-Zone entspricht, ist mit einer· metallisierten Fläche 30a, 3Ub, die auf der ersten Fläche 2 "3 der Platte 24 niedei-gebrhlagen ist und eine eryto Platte des kapazitiven Ji Leinen tes 2(J bildet, leitend
*■ ♦ « «At» Β β a
• η β« ο B α » ♦ * ο ο
PHF 82 52-Ί ^ ?" .'2 1.3.1(ίβ3
verbunden, während eLne zweite Fläche 26 der Platte, die gegenüber der ersten Fläche 25 angeordnet ist, auf einer Leiterfläche 31 , die auf der ersten Fläche 13 des isolierenden Substrates 1'4 angebracht ist, befestigt ist. Die leitende Fläche 3I grenzt derart an die metallisierten Löcher 21 und 22, dass die elektrische Kontinuität mit der Erdungsfläche 16 gewährleistet ist. Wie aus Fig. 1 ersichtlich, bildet die leitende Fläche 3I eine zweite Platte des kapazitiven Elementes 20. Eine Ausnehmung 32 ist in der leitenden Fläche 3I gegenüber dem Halbleiterschaltungselement 12 vorgesehen um die Kapazität der Source-Leitungen zu verringern.
Fig. 2 ist eine Draufsicht der Platte 2k und zeigt die Gliederung der leitenden "Bumps" 27, 28a, 28b, 29a, 29b ebenso wie die metallisierten Flächen 30a und 30b. Wie Fig. 2 zeigt, setzt sich der "Bump" 27 in einer metallisierten Spur 37 fort, während die "Bumps"28a, 28b mit einer anderen Metallspur 38 verbunden sind. Durch diese Spuren 37» 38 können die Drain-Zone bzw. das Gate des Feldeffekttransistors 12 mit anderen Schaltungselementen über die Drähte kj und kS verbunden werden.
Fig. 3 ist ein teilweiser Schnitt durch das zwischenliegende Element 23, das eine Ausführungsform der metallisier Leu Flächen 3Oa und 30b und der leitenden "Bumps" 29a und 29b zeigt, die deutlichkeitshalber allein dargestellt, sind. Auf der Platte 2k werden zunächst im Photoätzverfahren die Flächen 30a und 30b verwirklicht ebenso wie die Spuren kl, k8 nach Niederschlag einer ersten Schicht kla, k1b, die durch Kathodenzerstäubung von Nickelchrom und Gold erhalten wird, danach zum Bilden einer zweiten Schicht 42a, <*2b und Gold das auf elektrolytischem Wege niedergeschlagen wird. Während einer zweiten Photoätzbearbeitung werden die "Bumpy" 29a und 29b erhalten und zwar nach galvanischem Niederschlag von Voi'sprüngen k'}a. und ^3b aus Kupfer und von Schichten Zinn-Lötzinn kka, kkh.
Fig. k zeigt schematisch eine A-Hwendungsmöglichkeit der HF-Schultungsnnordnimg 11 nach der Erfindung zum Einstellen des Feldeffekttransistors 12. In dieser· Anwendungs-
ι ι ο υ
PJlF «2 ·}2'ι
;J i dike i. t. wi.rd die Soai'i'c-Zuiii; y des Ti'auäistors für die hohen Frequenzen durch da.-, kapaz.L Li ve Element 20, das dUlm eine hohe Kapazität, haben muss, an Erde 16. gelegt. Aus diesem Grund LsL es guns t Lg, dass das dielektrische Material ilux· zw i sehen! Legenden Verdrah I ungspla t te eine hohe J)J <· J ek l.ri zi ta Lskons (-.«in te aufweist, die zwischen üOÜ und '2(JOO liegt.. Ujit.er deji Material Leu, die benutzt werden können, s Lud Glas, Keramik und liariiimt iLaiiat. Ein Wider— y Land R1) kann derart parallel, zu dem kapazitiven Element angebraeh t werden, dass in Zusammenarbeit mit der Stabilis LerimgssrJui 1 Lung 50 in Strom und i.ji Spannung ein Ai beiih-])UJikL definiert worden kajin, dür von dem Feldeffekttransistor unabhängig ist.
I3e i m Vorhandensein des bi pol ai'fri Transistors T hält die S tabl 1 i.sieruji,";.ss<'hal tun£'; "3Ο jiäinl LcJl den Strom In durch den Feldeffekttransistor 12 nahezu 1-constant. Weil das Dx'aiji-Zoneiipo ten Lial fest ist, ist der· Potentialunterschied V. , zwischen del· Drain-Zone und der Source-Zone also ebenl'al I s prak L iscli konstant.. Der Arbe i t spunk t in dem Strom ly
ujkI Ln diM· Sjjannun^ v n^ des Fu J deI f ek t t ransos tors wird also unabhäxi,",i ^ von dvr Sti'c'iiuiif;, die es zwischen den Transistoren derselben Art gj'ibt und insbesondere von der manchmal ,",rossen Streuung; des Po tentia 1 im Ler-schiedes V zwiseilen dem C^ate G und der· Source-Zone b festgestellt. Als Aus füiirunf.sbelspiel sind die Zahlenwert.e der wichtigsten Paraine ter der Schal tun,",sanoi'dnun^ nacli Fig. 4 wie folgt: V _ ö Volt R 1ÖU 0hm
R I = 27OO Ohm R!\ = 2200 Ohm
R2 .-. ()20(J (JJnii 1Π 330 0hm
J)Le Ei· f ijuliuifj beschi-änkL sich nicht auf das in den Fi,",. I und 2 dar,",es LeJ 1 te Ueispiel eines Feldeffekt-LriUi.s i s l.ors . Si..· 1 bs t.vers Ländi i ch Jcaim die Erfindung ebenf a I Is m L I HLJ. ft? anderer ScJu'i 1 tuii^se.L omen Le , wie bipolarer Trans i s l ο run oder Dioden verwirklicht, werden.
Leerseite

Claims (4)

  1. β η β 1
    ff * · A · 6 «
    PHF 82 524 X 21.3.1983
    Patentansprüche
    HF-Schaltungsanordnung mit mindestens einem HaIbleiterschaltungselement, das auf der Seite einer ersten Fläche eines isolierenden Substrates angeordnet ist, wobei eine zweite Fläche dieses Substrates, die der ersten Fläche gegenüberliegt, mindestens teilweise metallisiert ist um eine Erdungsfläche zu bilden und das Halbleiterschaltungselement mit Elektroden mit mindestens je einer Ausgangsklemme versehen ist, wobei eine der Elektroden, als erste Elektrode bezeichnet, dazu bestimmt ist, mit der Erdungsfläche über ein -kapazitives Element elektrisch verbunden zu werden und wobei eine elektrische Verbindung dieser Erdungsfläche mittels eines metallisierten Loches durch das isolierende Substrat hindurch verwirklicht ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Halbleiterschaltungselement auf einem zwischenliegenden Element befestigt ist, das mit einer Platte aus dielektrischem Material versehen ist, mit auf einer ersten Fläche herausragenden Teilen aus leitendem Material, worauf unmittelbar die Ausgangsklemmen der Elektroden des Halbleiterschaltungselernentes festgelötet sind, wobei jeder herausragende Teil, der mit Ausgangsklemmen der ersten Elektrode verbunden ist, mit einer leitenden Fläche verbunden ist, die auf der ersten Fläche der Platte angeordnet ist und eine erste Platte des kapazitiven Elementes bildet, während eine zweite Fläche der Platte, die der- ersten Fläche gegenüberliegt, auf mindestens einer auf der ersten Fläche des isolierenden Substrates angebrachten leitenden Fläche angeordnet ist, die mindestens ein metallisiertes Loch kontaktiert und eine zweite Platte des kapazitiven Elementes bildet.
  2. 2. HF-Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Halbleiterschaltungselement ein Feldeffekttransistor ist und die genannte erste Elektrode die Source-Zone des Feldeffekttransistors kontaktiert.
    PHF 82 52^ jgO 21.3.19Ö3
  3. 3. HF-Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das dielektrische Material., das die Platte der zwi.schenliegenden Verdrahtungsplatte bildet, eine Dielektrizitätskonstante aufweist, die zwischen öOO und 2000 liegt.
  4. 4. HF-Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass in der leitenden Fläche gegenüber dorn nicht verkleideten Halbleiter schaltungselement eine Ausnehmung vorgesehen ist.
    5· HF-Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Source-Zone des Feldeffekttransistors i'ür hoho Frequenzen durch das kapazitive Element kapazitiv mit Erde verbunden ist und ein Widerstand mit einem festen Wert parallel zu dem kapazitiven Element die Sourco-Zone für niedrige Frequenzen mit Erde verbindet, während über eine S Labilisierurigs^ehal tung der Strom und die Spannung des Feldeffekttransistors derart eingestellt wird, dass der Arbeitspunkt von dem Feldeffekttransistor unabhängig ist.
DE19833311302 1982-03-31 1983-03-28 Hf-schaltungsanordnung mit integriertem kondensator Withdrawn DE3311302A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8205551A FR2524712B1 (fr) 1982-03-31 1982-03-31 Circuit hyperfrequence a condensateur integre et application a un circuit d'alimentation

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3311302A1 true DE3311302A1 (de) 1983-10-06

Family

ID=9272608

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19833311302 Withdrawn DE3311302A1 (de) 1982-03-31 1983-03-28 Hf-schaltungsanordnung mit integriertem kondensator

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4617586A (de)
JP (1) JPS58182308A (de)
DE (1) DE3311302A1 (de)
FR (1) FR2524712B1 (de)
GB (1) GB2118371B (de)
NL (1) NL8301073A (de)

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2519508A1 (fr) * 1981-12-31 1983-07-08 Thomson Csf Dispositif de refroidissement pour carte de circuit imprime et procede de fabrication d'un tel dispositif
JPS61203695A (ja) * 1985-03-06 1986-09-09 シャープ株式会社 片面配線基板の部品実装方式
FR2587844B1 (fr) * 1985-09-20 1987-11-20 Thomson Csf Circuit hyperfrequence a faibles capacites parasites
US4890157A (en) * 1986-01-31 1989-12-26 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit product having a polyimide film interconnection structure
US4768004A (en) * 1986-10-09 1988-08-30 Sanders Associates, Inc. Electrical circuit interconnect system
US4906957A (en) * 1986-10-09 1990-03-06 Sanders Associates, Inc. Electrical circuit interconnect system
US4922324A (en) * 1987-01-20 1990-05-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit device
US4901136A (en) * 1987-07-14 1990-02-13 General Electric Company Multi-chip interconnection package
FR2621174B1 (fr) * 1987-09-25 1991-06-14 Thomson Hybrides Microondes Capacite integree dans un circuit hyperfrequence
US5210599A (en) * 1988-09-30 1993-05-11 Fujitsu Limited Semiconductor device having a built-in capacitor and manufacturing method thereof
US5134247A (en) * 1989-02-21 1992-07-28 Cray Research Inc. Reduced capacitance chip carrier
US4967258A (en) * 1989-03-02 1990-10-30 Ball Corporation Structure for use in self-biasing and source bypassing a packaged, field-effect transistor and method for making same
US4951014A (en) * 1989-05-26 1990-08-21 Raytheon Company High power microwave circuit packages
JPH0383381A (ja) * 1989-08-28 1991-04-09 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体装置
US5049979A (en) * 1990-06-18 1991-09-17 Microelectronics And Computer Technology Corporation Combined flat capacitor and tab integrated circuit chip and method
US5404265A (en) * 1992-08-28 1995-04-04 Fujitsu Limited Interconnect capacitors
US5307237A (en) * 1992-08-31 1994-04-26 Hewlett-Packard Company Integrated circuit packaging with improved heat transfer and reduced signal degradation
US5493259A (en) * 1992-10-13 1996-02-20 The Whitaker Corporation High voltage, low pass filtering connector with multiple ground planes
US5510758A (en) * 1993-04-07 1996-04-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Multilayer microstrip wiring board with a semiconductor device mounted thereon via bumps
US6265937B1 (en) 1994-09-26 2001-07-24 Endgate Corporation Push-pull amplifier with dual coplanar transmission line
US5623231A (en) * 1994-09-26 1997-04-22 Endgate Corporation Push-pull power amplifier
US5698469A (en) * 1994-09-26 1997-12-16 Endgate Corporation Method of making a hybrid circuit with a chip having active devices with extra-chip interconnections
US5528203A (en) * 1994-09-26 1996-06-18 Endgate Corporation Coplanar waveguide-mounted flip chip
US5942957A (en) * 1994-09-26 1999-08-24 Endgate Corporation Flip-mounted impedance
DE19601650A1 (de) * 1996-01-18 1997-07-24 Telefunken Microelectron Anordnung zum Schutz elektrischer und elektronischer Bauelemente vor elektrostatischen Entladungen
US5736913A (en) * 1996-02-14 1998-04-07 Anadigics, Inc. Method and apparatus for providing grounding to microwave circuit by low impedance means
US5981988A (en) * 1996-04-26 1999-11-09 The Regents Of The University Of California Three-dimensional charge coupled device
US6072211A (en) * 1998-08-03 2000-06-06 Motorola, Inc. Semiconductor package
US6794743B1 (en) * 1999-08-06 2004-09-21 Texas Instruments Incorporated Structure and method of high performance two layer ball grid array substrate
GB2356737A (en) 1999-11-26 2001-05-30 Nokia Mobile Phones Ltd Ground Plane for a Semiconductor Chip
JP3585796B2 (ja) * 1999-12-17 2004-11-04 新光電気工業株式会社 多層配線基板の製造方法、及び半導体装置
DE10158185B4 (de) * 2000-12-20 2005-08-11 Semikron Elektronik Gmbh Leistungshalbleitermodul mit hoher Isolationsfestigkeit
US7733106B2 (en) * 2005-09-19 2010-06-08 Formfactor, Inc. Apparatus and method of testing singulated dies
EP2722880B1 (de) 2012-10-16 2018-02-28 Ampleon Netherlands B.V. Verpackte RF Verstärkerschaltung
EP2722981A1 (de) 2012-10-16 2014-04-23 Nxp B.V. Verstärkerschaltungen

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3591839A (en) * 1969-08-27 1971-07-06 Siliconix Inc Micro-electronic circuit with novel hermetic sealing structure and method of manufacture
US4183041A (en) * 1978-06-26 1980-01-08 Rca Corporation Self biasing of a field effect transistor mounted in a flip-chip carrier
US4376287A (en) * 1980-10-29 1983-03-08 Rca Corporation Microwave power circuit with an active device mounted on a heat dissipating substrate
US4396936A (en) * 1980-12-29 1983-08-02 Honeywell Information Systems, Inc. Integrated circuit chip package with improved cooling means
US4451845A (en) * 1981-12-22 1984-05-29 Avx Corporation Lead frame device including ceramic encapsulated capacitor and IC chip
DE3231118C1 (de) * 1982-08-20 1983-11-03 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Kombinierte Schaltungsanordnung mit Varistor und Verfahren zu ihrer Herstellung

Also Published As

Publication number Publication date
GB2118371A (en) 1983-10-26
NL8301073A (nl) 1983-10-17
GB8308495D0 (en) 1983-05-05
US4617586A (en) 1986-10-14
GB2118371B (en) 1985-05-22
FR2524712A1 (fr) 1983-10-07
JPS58182308A (ja) 1983-10-25
FR2524712B1 (fr) 1985-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3311302A1 (de) Hf-schaltungsanordnung mit integriertem kondensator
DE3000890C2 (de)
DE3301648A1 (de) Misfet mit eingangsverstaerker
DE1956679A1 (de) Vorrichtung zum Einbau eines Transistors in eine Mikrowellen-Stripline-Schaltung
DE2800304A1 (de) Halbleiter-baugruppe
DE3013196A1 (de) Halbleiteranordnung
DE1564420B2 (de) Symmetrisch schaltendes Halbleiterbauelement
DE1764567A1 (de) Integrierte Schaltung mit Auflagen auf unbenutztem,aktiven Flaechenschaltelementen
EP0282617A1 (de) Integrierte Schaltung mit einer elektrisch leitenden Trägerplatte
DE10230716A1 (de) Leistungsmodul
DE112017007145T5 (de) Zwischenplattenverbindungsstruktur
DE69728648T2 (de) Halbleitervorrichtung mit hochfrequenz-bipolar-transistor auf einem isolierenden substrat
DE3309223A1 (de) Halbleiterelement mit integrierter schaltung
DE2514012B1 (de) Monolithisch integrierte halbleiterschaltungsanordnung, insbesondere fuer koppelbausteine von vermittlungssystemen
DE2837433C2 (de) Flüssigkristall-Anzeigetafel in Matrixanordnung
DE2248419C3 (de) Festkörper-Elektronenröhrenersatz
DE1614858C3 (de) Halbleiteranordnung
DE10335336B4 (de) Feldeffektbauelemente und Kondensatoren mit Elektrodenanordnung in einer Schichtebene
DE3328958C2 (de)
DE1514228C3 (de) Feldeffekttransistor
DE2160687C3 (de) Halbleitervorrichtung
EP0075331B1 (de) Anordnung zur Kompensation von Korrosionseffekten in integrierten Halbleiterschaltkreisen
DE2212196A1 (de) Kondensator für monolithische Halbleiterschaltungen
EP0156022B1 (de) Durch Feldeffekt steuerbares Halbleiterbauelement
DE2009358A1 (de) Halbleiterbauelement mit einer integrierten Impulstorschaltung und Verfahren zur Herstellung dieses Bauelements

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee